分析正电子的湮没寿命或者电子的动量分布
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正电子二维关联谱
正电子进入材料后经过热化、扩散和捕获等过程与 材料中的电子发生湮没而放出γ光子，通过测量产生 的γ光子的时间，能量，角度，分析正电子的湮没寿 命或者电子的动量分布，从而得到材料内部缺陷的 信息。
• 封装：石英玻璃
• 尺寸：φ25*16-18
光产额 Photons/kev
衰减时间 τ /ns
支出科目 1、科研业务费 2、实验材料费
3、仪器设备费 经费支出合计
预算
购LaBr晶体4万元 数据采集系统的元器件及制
板费用
购光电倍增管4万人民币 高压电源
累计支出
1万元 1万元
5万2千元 4千元 7万6千
结论
• 测量得到正电子二维关联谱 • 在提高计数率方面的改进
谢谢！
University of Science and Technology of China
抗混叠滤波 （Antialiasing）
ADCa
125M
ADCb
DSP FPGA
输出到PC USB
线性测量
测试结果
时间分辨
187.5ps
数据获取系统三
• 实物图
测量装置
AD
3.5 x 104
3
2.5 8ns
2
1.5
1
0
50 100 150 200
Time(ns)
应用程序用户界面
时间分辨及正电子二维谱
1.28MeV
2.6% 2.9%
1.18MeV
4.2% 4.4%
1.33MeV
3.1% 3.3%
数据获取系统一
时间测量精度小于64ps
测试结果
பைடு நூலகம்
时间精度测试
时间线性测试
数据获取系统二
核信号输 入
预放处理 （Preamplifier
）
触发输入
预放处理 （Preamplifier
）
抗混叠滤波 （Antialiasing）
时间优值 τ /(photons/keV)
BaF2
1.8
BrilLanCe380 63
LSO
27
NaI(Tl)
38
GSO
8
BGO
9
0.8*
0.44
16
0.25
40
1.48
250
6.58
60
7.50
300
33.3
能量
能量分辨率% 样品
1# φ25*18
2# φ25*15
0.511MeV
3.9% 4.3%
正电子进入材料后经过热化、扩散和捕获等过程与 材料中的电子发生湮没而放出γ光子，通过测量产生 的γ光子的时间，能量，角度，分析正电子的湮没寿 命或者电子的动量分布，从而得到材料内部缺陷的 信息。
• 封装：石英玻璃
• 尺寸：φ25*16-18
光产额 Photons/kev
衰减时间 τ /ns
支出科目 1、科研业务费 2、实验材料费
3、仪器设备费 经费支出合计
预算
购LaBr晶体4万元 数据采集系统的元器件及制
板费用
购光电倍增管4万人民币 高压电源
累计支出
1万元 1万元
5万2千元 4千元 7万6千
结论
• 测量得到正电子二维关联谱 • 在提高计数率方面的改进
谢谢！
University of Science and Technology of China
抗混叠滤波 （Antialiasing）
ADCa
125M
ADCb
DSP FPGA
输出到PC USB
线性测量
测试结果
时间分辨
187.5ps
数据获取系统三
• 实物图
测量装置
AD
3.5 x 104
3
2.5 8ns
2
1.5
1
0
50 100 150 200
Time(ns)
应用程序用户界面
时间分辨及正电子二维谱
1.28MeV
2.6% 2.9%
1.18MeV
4.2% 4.4%
1.33MeV
3.1% 3.3%
数据获取系统一
时间测量精度小于64ps
测试结果
பைடு நூலகம்
时间精度测试
时间线性测试
数据获取系统二
核信号输 入
预放处理 （Preamplifier
）
触发输入
预放处理 （Preamplifier
）
抗混叠滤波 （Antialiasing）
时间优值 τ /(photons/keV)
BaF2
1.8
BrilLanCe380 63
LSO
27
NaI(Tl)
38
GSO
8
BGO
9
0.8*
0.44
16
0.25
40
1.48
250
6.58
60
7.50
300
33.3
能量
能量分辨率% 样品
1# φ25*18
2# φ25*15
0.511MeV
3.9% 4.3%