质量一致性检验

摘要：产品标准规定了各种试验项目和所采用的试验方法及检测技术，从而为产品质量一致性和稳定性提供保证。逐批检验的抽样检验方式在电子元器件产品生产检验中广泛采用，正确掌握和使用抽样检验技术，对生产实际过程的产品质量控制有很直接明显的作用。

0 引言

电子元器件质量一致性检验是指我国按国际电工委员会电子元器件质量评定体系（简称IECQ）适用标准的规定，开展对电子元器件产品质量认证所进行的鉴定批准程序中的一种检验方式。

电子元器件质量一致性检验包括：对每个检验批进行A组（包括元器件的目检和尺寸检验以及元器件的主要特性试验）和B组（包括其他重要特性试验）以及在固定的时间间隔内从已通过逐批检验的诸批中抽取样品进行周期检验。周期检验通常为C组检验，有时也分出一个D组进行检验。

本文根据国家标准的规定，结合检验工作的实际情况，对元器件一致性检验技术及有关事项综述如下：

一、电子元器件逐批检验技术

逐批检验是对每个提交的检验批的产品批质量，通过全检或抽检，判断其生产批是否符合规定要求而进行的一种检验。其主要内容包括：检验批的构成与抽样要求；逐批检验项目和方法方式；抽样检验方案的选择和确定；逐批检验结果判定及处置。

1.检验批的构成与抽样要求

（1）批的构成：在逐批检验中，检验批是一组依据一个或多个样本而确定是否接收的单位产品的集合。它不一定等于生产批、购置批或者为其它目的而组成的批。通常每个检验批应由同型号、同等级、同种类、同尺寸、同结构且生产时间和生产条件大体相同的产品组成。

（2）抽样的随机性和代表性：从提交检验批的产品中，抽样应是随机的，应使提交检验批中每单位产品被抽到的可能性都相等。且应注意样本的代表性，当提交检验批分若干层（或分装于若干箱等）时，就应分层（或分箱、分袋）抽取样本。

2.逐批检验项目和方法方式

（1）逐批检验主要项目：

（A）外观检验；

（B）尺寸检验；

（C）电特性检验；

（D）可焊性；

（E）其他检验。

（2）检验方法方式：对具体元器件产品，按照其详细规范，分规范，总规范，基础规范及相关标准中规定的检查方法进行检验。逐批检验按检验方式可分为全数检验和抽样检验，全数检验即对一批待检产品进行100%的检验，抽样检验是根据预先确定的抽样方案，从一批产品中随机抽取一部分样品进行检验。在电子元器件产品逐批检验过程中，广泛使用的常为抽样检验。

3.抽样检验方案的选择和确定

逐批检验分A组和B组。电子器件的抽样检验方案，A组选择AQL方案或LTPD方案，B组选择LTPD方案。电子元件（电阻器、电容器、电感器）的抽样检验方案，A组、B组均选择AQL 方案。其中AQL为接收质量限，LTPD为批允许不合格品率。

（1）AQL抽样方案的确定方法：根据产品标准规定的检查水平IL{ GB/T 2828.1-2003 给出了三个一般检验水平，分别是水平Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ；还有四个特殊检验水平，分别是S-1、S-2、S-3、S-4。检验水平规定了批量与样本量之间的关系。

相同N下分别采用Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ水平，n（样本量）的大致比例关系：一般检查水平＞特殊检查水平；Ⅰ＜Ⅱ＜Ⅲ；S-1＜S-2＜S-3＜S4}

和接收质量限AQL值，由GB/T2828.1-2012《计数抽样检验程序第一部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划》中规定的检索方法，对逐批检验的批量数N,查出A组和B组逐批检验项目的合格判定数Ac、不合格判定数Re和检验样品量n.简言之，根据给出检查水平IL和AQL值，和批量数N,就可确定一个抽样方案，以正常检查一次抽样为例，可得出抽样方案（n,Ac,Re）。

（2）LTPD抽样方案的确定方法：根据产品标准规定的LTPD值，每个分组的样品量，由

GB/T4589.1-2006《半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范》附录A的表中查得，可

以根据规定或实际需要选取多个规定数量的样品量，但允许的不合格品数，不得超过表A.1或表A.2所规定的样品量相应的合格判定数。

表A.2中确定样品量的LTPD列，应是最接近实际提交批量栏中的那一列，如果实际批量是介于表中两栏之间，可根据需要在两栏中选一栏。如果在表A.2相应的批量栏中，找不到等于或小于规定的LTPD值时，应用表A.2中相应批量栏中最接近的LTPD值确定样品量。

4.逐批检验结果判定及处理

（1）对AQL抽样方案，以一次抽样正常检查水平Ⅱ级为例，根据对样本实施的检验结果，若样本n中的不合格品数d小于或等于合格判定数Ac,即：d≤Ac时，判该检验批合格，若d≥Re 时，则判该检验批不合格。

在产品标准规定的检验周期内，周期检验合格的情况下，经逐批检验合格的产品，可作为合格产品交付给订货方；对初次检验不合格的批，一般退回制造部门进行全数检查，剔除不合格品后，再重新提交逐批检验，对再次提交检验的批，使用的抽样方案的严酷度和检验项目，应在产品技术标准中或合同中明确规定，对再次提交检验仍不合格的批，除非有特别规定，一般不允许再次提交检验。

（2）对LTPD抽样方案，第一次抽样时选定一个合格判定数，并根据规定的LTPD值确定相应的样品量n进行检验，如果样品中出现的不合格品数d不超过预先选定的合格判定数C,即：d≤C 则判该批产品检验合格；如果出现的不合格品数超过预选的合格判定数，即：d>C时可确定一个追加样品量，即在原有的样品的基础上追加一定的样品量，但每一检验分组只能追加一次，且追加的样品应经受该分组所包括的全部试验。总的样品量（最初的加上追加的样品量）应根据

GB4589.1-2006标准表A.1和A.2中新选定的合格判定数确定，如果总的不合格数（最初样品加上追加样品中的不合格数）不超过新确定的合格判定数，则判该检验批合格，否则判该检验批不合格。

不符合A组和B组检验要求的检验批，不得作为合格批。如果对此不合格批未被重新提交检验，则该批判为拒收批。

二、电子元器件周期检验技术

周期检验是在规定的周期内，从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本，并施加各种应力的各项试验，然后检测产品判断其是否符合规定要求的一种检验。其主要内容包括：周期规定、检验分组和样品；检验项目和程序；周期检验缺陷分类和失效判据；周期检验结果判定和处置。

1.周期规定、检验分组和样品

（1）检验周期规定：根据产品的特性及生产过程质量稳定的情况，再综合考虑其他的因素，适当地规定检验周期。产品标准中一般都给出了该产品在正常稳定生产情况下进行周期检验的时间间隔（如三个月，六个月，一年等），但对不同的检验组，规定不同的检验周期。

（2）检验分组与样品：电子元器件周期检验分为C组和D组，C组为环境试验，D组为耐久性寿命试验。周期检验的样品，应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数，从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取，加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。

2.检验项目

（1）常温性能检查：试验前在正常工作的条件下，对被试样品进行定性和定量检查，判断产品质量是否全面符合产品技术标准和国家标准要求，或符合订货合同的规定。由于电子产品种类多，用途广，表征产品特性的技术参数很多，常温性能检测时，应严格按照技术标准规定，进行全部指标或部分指标检测，检测合格的产品方可进行周期检验项目中的其他项目的试验。

（2）环境试验：为了评价在规定周期生产批的产品的环境适应能力，将经过性能检测合格的产品，在人工模拟的环境条件下试验，以此评价产品在实际使用、运输和贮存环境条件下的性能是否满足产品定型鉴定检验时达到的环境适应能力。