催化剂表征方法
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表征方法仪器设备规格及使用条件在课题中的作用
物相分析（XRD）X光衍射仪采用D/Max2500VB2+/PC型X光衍射
仪，工作电流为200mA，工作电压40
kV，Cu靶。
1.在不同焙烧温度下（如550、800℃）对新鲜催化剂进行晶相分析，
对不同的新鲜催化剂进行晶相分析。
2.对添加了不同助剂的催化剂进行晶相分析。
3.根据其晶相衍射峰，衍射峰越窄，催化剂的结晶度越大。
新鲜催化剂的晶粒分
析(TEM) 透射电子显微镜
(TEM)在日立H-800型透射电子显微
镜下进行，新鲜催化剂首先在
50%H2/N2气氛下，800℃温度下还原
3小时后在透镜下直接观察催化剂的
表面镍晶粒，随机测量数百颗镍晶粒
最大直径，用统计的方法算出算术平
均直径作为镍晶粒的平均粒径。
对新鲜催化剂金属镍粒径大小进行分析。较小的镍粒径，有利于提
高催化剂的分散度，减少积碳的形成。
比表面分析(BET) 比表面分析仪(BET)在mireomerities-Tristar3000型
表面分析仪进行，采用液氮温度下N2
吸附法测得表面积。
采用BET对不同的新鲜催化剂（不同温度下的同种催化剂、不同种
类的催化剂、是否添加助剂）的比表面积进行表征，催化剂的比表
面积越大，其催化反应的活性就越高。
表面分析(XPS) X射线光电子能谱仪采用ESCALAB 250型X 射线光电子
能谱仪上进行，AlKα射线为激发源，
以污染碳C1s 电子结合能(E b=284.8
eV)为内标进行校正。
对不同焙烧温度下（主要为550、370、570℃）的催化剂进行扫描，
知道催化剂表面的主要组成元素，对照相应的TPO图，根据催化剂
表面C1s的XPS谱，可得出其电子结合能，以此分析催化剂表面的
积碳组成成分。
升温氧化/积碳差热分析（TPO/DTA）TGA-2050型热分析
仪、DTAS型热分析
仪
（TPO）在TGA–2050型热分析仪进行，
测定时样品在空气氛围中以10 ℃
/min 速率升温至920 ℃。
(DTA)在DTAS型热分析仪进行，测定
时样品在空气/氮气氛围中以10℃
/min的速率升温至800℃。
对反应30min后的催化剂（不同温度下的同种催化剂、不同种类的
催化剂、是否添加助剂）表面进行TPO实验，根据催化剂的TPO
曲线和在空气/氮气下的DTA曲线，对照其DTG曲线，研究积碳的
形成机理。
热重分析(TG-DTG) 热重分析仪通过热重分析可得到催化剂（不同温度下的同种催化剂、不同种类的催化剂、是否添加助剂）反应后的烧炭失重及失重微分曲线。从而分析催化剂表面积碳的形成机理。