现代检测技术考试必背

第一章

一、选择题

1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）

A.Kα；

B. Kβ；

C. Kγ；

D. Lα。

2. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）

A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。

3. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ A ）

A.短波限λ0；

B. 激发限λk；

C. 吸收限；

D. 特征X射线

4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ D ）

A.光电子；

B. 二次荧光；

C. 俄歇电子；

D. （A+C）

二、正误题

1. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（√）

2. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（√）

3. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√）

4. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（×）

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续 X射线和标识 X射线。

2. 当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。

3. 特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称Kα射线和Kβ射线。

4. X射线的本质既是光也是电磁波，具有波粒二象性。

5. 短波长的X射线称硬X射线，常用于金属部件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于医学透视上。

6.连续谱短波限只与管电压有关。

7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。

四、问答题

1.什么叫“相干散射”、“短波限”？

答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。

短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。

2.特征x射线谱的产生机理。

答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量升高，处于激发态。为趋于稳定，原子系统自发向低能态转化：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因而λ固定，所以辐射出特

征X射线谱。

第二章

一、选择题

1.最常用的X射线衍射方法是（ B ）。

A. 劳厄法；

B. 粉末法；

C. 周转晶体法；

D. 德拜法。

2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ）

A、劳埃法

B、周转晶体法

C、平面底片照相法

D、 A和B

3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（ B）

A、(364)

B、(234)

C、(213)

D、(468)

4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ）

A、相互平行

B、相互垂直

C、成一定角度范围

D、无必然联系

5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。

A. 垂直；

B. 平行；

C. 不一定。

6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（ B ）。

A. 6；

B. 4；

C. 2

D. 1；。

7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（ B ）

A.X射线透射学；

B.X射线衍射学；

C.X射线光谱学；

D.其它

二、判断题

1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（×）

2.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（√）

3.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（√）

三、填空题

1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。

2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。

3.粉末法中晶体为多晶体，λ不变化，θ变化。

4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。

5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。

四、问答题

1．布拉格方程 2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？

答：d HKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与

面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。

2．某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？

答：背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ，对于背射区属于2θ高角度区，根据d=λ/2sinθ，θ越大d越小。

3.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？

答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。

X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。

X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。

X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。

第三章

一、填空题

1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ）

A、不存在系统消光

B、h+k为奇数

C、h+k+l为奇数

D、h、k、l为异性数

2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（ D ）

A、2

B、3

C、4

D、6

3、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ）

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）

A、112

B、113

C、101

D、111

7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）

A、200

B、220

C、112

D、111

8、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E ）

A、温度升高引起晶胞膨胀

B、使衍射线强度减小

C、产生热漫散射

D、改变布拉格角

E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小

9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ）

A、结构因子

B、角因子

C、多重性因子

D、吸收因子

二、判断题

1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距（√）

2、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（√）

3、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息，峰越宽说明晶粒越大（×）

4、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（×）

5、温度一定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）

6、布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度（√）

7、衍射角一定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（√）

8、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（×）