加工对高频性能的影响因素及不同加工方式极限长度验证HDMI 2.1
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3.2.差分阻抗：
在具有电阻、电感和电容的电路里，对电路中的电流所起的阻 碍作用叫做阻抗；在差分对线中，两条芯线同时输入数值相同、方 向相反的信号时，两芯线的阻抗和称为差分阻抗。
3.3.差分对内延时差：
在差分对线内，两芯线同时输入数值相同、方向相反的信号， 由输入端到达接收端所需的时间差值，称为差分对内延时差。
长度越一致，对内延时差越小； 3).芯线损伤；组件加工制作时，芯线压扁或者割伤，对内延时
差会轻微变差。
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来自百度文库
2.1高频
48G眼图
NG
NG
NG
NG
NG
NG（1PCS OK，3PCS NG）
NG
OK
6
一.线夹模及排线夹极限长度验证
3.30AWG极限长度测试： 3.1.30AWG线夹模工艺极限长度测试 总结：30AWG线夹模工艺（48G眼图）极限长度为3M
长度（M)/测试项目 3
30AWG排线模工艺极限长度测试 2.1高频 NG
28AWG线夹模工艺极限长度测试
长度（M)/测试项目
2.1高频
48G眼图
5
NG
NG
4.5
NG
NG
4
NG
OK
5
一.线夹模及排线夹极限长度验证
2.2.28AWG排线夹工艺极限长度测试 总结：28AWG排线夹工艺（48G眼图）极限长度为3.5M
长度（M)/测试项目 5
4.5 4
3.5
28AWG排线夹工艺极限长度测试
号反射损失，从而导致衰减量增加；
18
二. HDMI加工工艺对高频性能的影响
2.2.影响差分阻抗的主要因素： 1).包带张力；裸线材制作时，对绞及总绞包带张力越大，两芯
线距离越紧密且包带内电容增大，阻抗值越小； 2).对绞绞距；裸线材制作时，对绞绞距越小，两芯线距离越紧
密，阻抗值越小； 3).剥铝箔长度；组件加工制作时，剥铝箔越长（焊点距剥铝箔
做HDMI 2.1高频测试； 1.2.测试完成后砍头（砍头尽可能的短），用同4PCS线材，排线
夹工艺至内膜，做高频测试； 2.实验目的：验证线夹模工艺和排线夹工艺两种加工对衰减、连
接器阻抗、对内延时差高频性能的影响。
9
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
3.加工要点： 3.1.对线剥铝箔口到焊点距离尽量短：≦3mm
3
一.线夹模及排线夹极限长度验证
④30AWG取3米4PCS（排线夹工艺至内模）测试2.1高频及眼图：以 0.5M为单位依次裁短测试 验证目的：验证每款线规，排线夹工艺和线夹模工艺过48G眼图的极 限长度
4
一.线夹模及排线夹极限长度验证
2.28AWG极限长度测试: 2.1.28AWG线夹模工艺极限长度测试 总结：28AWG线夹模工艺（48G眼图）极限长度为4M
切口越大），连接器差分阻抗值越大；
注：以上三点可以归纳为，在导体及绝缘材质相同情况下，两芯线 导体中心距与阻抗值成正比，两导体间电容与阻抗值成反比。
19
二. HDMI加工工艺对高频性能的影响
2.3.影响差分对内延时差的主要因素： 1).对绞线两芯线的对称性；两芯线对称性越高，传输信号的速
率越接近，对内延时差越小； 2).对绞工序芯线张力；两芯线张力一致性越高，对绞线内芯线
30AWG
1.2.①28AWG取5米4PCS（线夹模工艺至内模）测试2.1高频及眼图, 以0.5M为单位依次裁短测试。
②28AWG取5米4PCS（排线夹工艺至内模）测试2.1高频及眼图： 以0.5M为单位依次裁短测试。
③30AWG取3米4PCS（线夹模工艺至内模）测试2.1高频及眼图： 以0.5M为单位依次裁短测试
48G眼图 OK
7
一.线夹模及排线夹极限长度验证
3.2、30AWG排线夹工艺极限长度测试 总结：30AWG排线夹工艺（48G眼图）极限长度为3M
长度（M)/测试项目 3
30AWG排线夹工艺极限长度测试 2.1高频 NG
48G眼图 OK
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
加工工艺对比实验： 1.实验内容： 1.1.取4PCS 4.0米28AWG HDMI线材，线夹模工艺加工至内膜，
HDMI 2.1极限长度验证及加工 对高频的影响验证
王勋 2019.08.08
1
内容
1 线夹模及排线夹工艺极限长度验证 2 两种加工工艺对高频及眼图的影响 3 总结+拓展
2
一.线夹模及排线夹极限长度验证
极限长度验证：
1.验证内容： 1.1.验证前裸线高频测试OK（以下所有测试线材与此同卷）
28AWG
11
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
4.衰减（0~12GHz）性能对比：
4.1. 由于排线夹工艺焊点到铝箔口的距离较长，及每对信号两芯线
由线夹隔开距离增大，导致连接器阻抗过大，又由于阻抗不匹配，
导致反射衰减增大，故从3GHz起排线夹工艺衰减明显比线夹模工艺
要大。3GHz相差0.3dB、6GHz相差2.1dB、 12GHz相差0.5dB 。
线夹模：
排线夹
12
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
总结：此两种工艺衰减性能0~3GHz相差较小，3GHz以后相差 较大
13
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
5.链接器阻抗性能对比：
5.1由于排线夹工艺焊点到铝箔口的距离较长，及每对信号两芯线由 线夹隔开距离增大，导致连接器阻抗增大（已超标准），阻抗比线 夹模偏高7.26欧姆。 总结：排线夹工艺对连接器阻抗影响较大
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
7.眼图：
7.1 由下图可以看出，线夹模工艺眼图余量，明显优于排线夹工 艺。
线夹模工艺
排线夹工艺
16
三.总结+拓展
1.总结：排线夹工艺对高频性能影响较大，主要影响连接器差分 阻抗，造成阻抗不匹配进而影响衰减，做高性能线材，建议用线 夹模工艺，对高频影响较小。
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三.总结+拓展
线夹模工艺：
排线夹工艺
14
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
6.差分对内延时差：
6.1 由下图数值可以看出，线夹模工艺（5.536ps）、排线夹工艺 （8.308ps）。（此取值偏大，经过大量的数据测试加工工艺对此项 性能影响较小）
总结：此两种加工工艺对差分对内延时差影响较小。
线夹模工艺
排线夹工艺
15
①线夹模工艺铝箔口到焊点距离：≦3mm
②排线夹工艺铝箔口到焊点距离：≦3+3.5mm(线夹宽度3.5mmK40100G）
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
3.高频性能主要参数概念：
3.1.衰减：
信号在传输介质中传播时，将会有一部分能量转化成热能或者 被传输介质吸收，从而造成信号强度不断减弱，这种现象称为衰减。
2.拓展影响高频性能的主要因素 2.1.影响衰减的主要因素： ①.线缆使用长度；相同规格的线材，随着使用长度增加，固有
电阻值增加，被转化成热能的信号增加，衰减量与之成正比增加； ②.线缆导体截面积；相同使用长度的线材，差分对导体截面积
越大，衰减量越小； ③.阻抗不匹配；线缆组件与设备的差分阻抗值不匹配，造成信
在具有电阻、电感和电容的电路里，对电路中的电流所起的阻 碍作用叫做阻抗；在差分对线中，两条芯线同时输入数值相同、方 向相反的信号时，两芯线的阻抗和称为差分阻抗。
3.3.差分对内延时差：
在差分对线内，两芯线同时输入数值相同、方向相反的信号， 由输入端到达接收端所需的时间差值，称为差分对内延时差。
长度越一致，对内延时差越小； 3).芯线损伤；组件加工制作时，芯线压扁或者割伤，对内延时
差会轻微变差。
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2.1高频
48G眼图
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
3.30AWG极限长度测试： 3.1.30AWG线夹模工艺极限长度测试 总结：30AWG线夹模工艺（48G眼图）极限长度为3M
长度（M)/测试项目 3
30AWG排线模工艺极限长度测试 2.1高频 NG
28AWG线夹模工艺极限长度测试
长度（M)/测试项目
2.1高频
48G眼图
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
2.2.28AWG排线夹工艺极限长度测试 总结：28AWG排线夹工艺（48G眼图）极限长度为3.5M
长度（M)/测试项目 5
4.5 4
3.5
28AWG排线夹工艺极限长度测试
号反射损失，从而导致衰减量增加；
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二. HDMI加工工艺对高频性能的影响
2.2.影响差分阻抗的主要因素： 1).包带张力；裸线材制作时，对绞及总绞包带张力越大，两芯
线距离越紧密且包带内电容增大，阻抗值越小； 2).对绞绞距；裸线材制作时，对绞绞距越小，两芯线距离越紧
密，阻抗值越小； 3).剥铝箔长度；组件加工制作时，剥铝箔越长（焊点距剥铝箔
做HDMI 2.1高频测试； 1.2.测试完成后砍头（砍头尽可能的短），用同4PCS线材，排线
夹工艺至内膜，做高频测试； 2.实验目的：验证线夹模工艺和排线夹工艺两种加工对衰减、连
接器阻抗、对内延时差高频性能的影响。
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
3.加工要点： 3.1.对线剥铝箔口到焊点距离尽量短：≦3mm
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
④30AWG取3米4PCS（排线夹工艺至内模）测试2.1高频及眼图：以 0.5M为单位依次裁短测试 验证目的：验证每款线规，排线夹工艺和线夹模工艺过48G眼图的极 限长度
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
2.28AWG极限长度测试: 2.1.28AWG线夹模工艺极限长度测试 总结：28AWG线夹模工艺（48G眼图）极限长度为4M
切口越大），连接器差分阻抗值越大；
注：以上三点可以归纳为，在导体及绝缘材质相同情况下，两芯线 导体中心距与阻抗值成正比，两导体间电容与阻抗值成反比。
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二. HDMI加工工艺对高频性能的影响
2.3.影响差分对内延时差的主要因素： 1).对绞线两芯线的对称性；两芯线对称性越高，传输信号的速
率越接近，对内延时差越小； 2).对绞工序芯线张力；两芯线张力一致性越高，对绞线内芯线
30AWG
1.2.①28AWG取5米4PCS（线夹模工艺至内模）测试2.1高频及眼图, 以0.5M为单位依次裁短测试。
②28AWG取5米4PCS（排线夹工艺至内模）测试2.1高频及眼图： 以0.5M为单位依次裁短测试。
③30AWG取3米4PCS（线夹模工艺至内模）测试2.1高频及眼图： 以0.5M为单位依次裁短测试
48G眼图 OK
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
3.2、30AWG排线夹工艺极限长度测试 总结：30AWG排线夹工艺（48G眼图）极限长度为3M
长度（M)/测试项目 3
30AWG排线夹工艺极限长度测试 2.1高频 NG
48G眼图 OK
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
加工工艺对比实验： 1.实验内容： 1.1.取4PCS 4.0米28AWG HDMI线材，线夹模工艺加工至内膜，
HDMI 2.1极限长度验证及加工 对高频的影响验证
王勋 2019.08.08
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内容
1 线夹模及排线夹工艺极限长度验证 2 两种加工工艺对高频及眼图的影响 3 总结+拓展
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一.线夹模及排线夹极限长度验证
极限长度验证：
1.验证内容： 1.1.验证前裸线高频测试OK（以下所有测试线材与此同卷）
28AWG
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
4.衰减（0~12GHz）性能对比：
4.1. 由于排线夹工艺焊点到铝箔口的距离较长，及每对信号两芯线
由线夹隔开距离增大，导致连接器阻抗过大，又由于阻抗不匹配，
导致反射衰减增大，故从3GHz起排线夹工艺衰减明显比线夹模工艺
要大。3GHz相差0.3dB、6GHz相差2.1dB、 12GHz相差0.5dB 。
线夹模：
排线夹
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
总结：此两种工艺衰减性能0~3GHz相差较小，3GHz以后相差 较大
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
5.链接器阻抗性能对比：
5.1由于排线夹工艺焊点到铝箔口的距离较长，及每对信号两芯线由 线夹隔开距离增大，导致连接器阻抗增大（已超标准），阻抗比线 夹模偏高7.26欧姆。 总结：排线夹工艺对连接器阻抗影响较大
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
7.眼图：
7.1 由下图可以看出，线夹模工艺眼图余量，明显优于排线夹工 艺。
线夹模工艺
排线夹工艺
16
三.总结+拓展
1.总结：排线夹工艺对高频性能影响较大，主要影响连接器差分 阻抗，造成阻抗不匹配进而影响衰减，做高性能线材，建议用线 夹模工艺，对高频影响较小。
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三.总结+拓展
线夹模工艺：
排线夹工艺
14
二.两种加工工艺对高频眼图的影响
6.差分对内延时差：
6.1 由下图数值可以看出，线夹模工艺（5.536ps）、排线夹工艺 （8.308ps）。（此取值偏大，经过大量的数据测试加工工艺对此项 性能影响较小）
总结：此两种加工工艺对差分对内延时差影响较小。
线夹模工艺
排线夹工艺
15
①线夹模工艺铝箔口到焊点距离：≦3mm
②排线夹工艺铝箔口到焊点距离：≦3+3.5mm(线夹宽度3.5mmK40100G）
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二.两种加工工艺对高频眼图的影响
3.高频性能主要参数概念：
3.1.衰减：
信号在传输介质中传播时，将会有一部分能量转化成热能或者 被传输介质吸收，从而造成信号强度不断减弱，这种现象称为衰减。
2.拓展影响高频性能的主要因素 2.1.影响衰减的主要因素： ①.线缆使用长度；相同规格的线材，随着使用长度增加，固有
电阻值增加，被转化成热能的信号增加，衰减量与之成正比增加； ②.线缆导体截面积；相同使用长度的线材，差分对导体截面积
越大，衰减量越小； ③.阻抗不匹配；线缆组件与设备的差分阻抗值不匹配，造成信