现代测试技术-地质选修2006-1-概论
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前
言
一、《现代测试技术》课程简介 二、《现代测试技术》课程要求 三、讲授内容及课时安排 四、课程选用教材及参考书籍 五、网上资源利用
《现代测试技术》课程简介
讲述大型物理分析仪器及利用上述仪器进行物质的物理性质或物理 化学性质分析测试的主要技术和方法； 仪 器 方 法 学 习 重 点 分析方法原理 仪器结构及关键部件 仪器主要应用及发展方向 重要实验技术
B
A
C
X射线荧光光谱技术
原子发射光谱技术
X射线光电子/俄歇电子 能谱分析技术
电子探针技术 原子吸收光谱技术
成分分析仪器及方法应用领域
现代分析测试技术主要应用领域
一、基本资料的建立：化学组成、化合物结构、晶体结构、微观形态学 信息等→基础理论研究，材料、化工产品、矿物岩石、生物、医学 等基本数据建立； 二、微量及痕量物质分析：环境监测，食品检验，刑侦、商检、失效分 析，工业在线分析； 三、国家标准及行业标准的制定：标准分析方法、标准分析样品；
分析仪器
按仪器探测及发射粒子分类
一、发射粒子： 1、电子束-SEM、TEM、EPMA、AES、LEED、HREED； 2、X射线-XPS、XRF、XRD； 3、离子源-SIMS、ISS； 4、特殊光源-IR、LR、UPS、AAS、ICP-AES、ICP-MS； 二、探测粒子： 1、电子谱—探测粒子或发射粒子是电子； 2、光谱—探测粒子及发射粒子都是光子； 3、离子谱：探测粒子及发射粒子都是离子； 4、光电子谱—探测粒子是光子，发射粒子是电子；
绪论
现代测试技术概论
第一节 现代分析测试仪器基本特征及技术与方法分类 第二节 现代分析测试方法与技术应用领域
现代分析测试仪器基本工作模式
离子
离子
声波
一、用一束“粒子”或某种手段作为探针来探测、激发物质—入射粒子或激发源主要有电 子、离子、光子、中性粒子、电场、磁场、热场和声波； 二、在探针的作用下，入射粒子与物质相互作用，从样品中出射、带有物质信息的粒子 （发射谱）—电子、离子、中性粒子、光子； 三、检测这些粒子的能量、动量、质荷比、束流强度等特征，或出射波的频率、方向、强 度、偏振等—记录、处理、分析，获得有关物质的信息；
ຫໍສະໝຸດ Baidu
按仪器检测性能分类
一、物理化学性质测试： 1、成分分析 2、化合物结构分析 3、表面原子动态和受激态分析 二、物理性质测试： 1、微观形貌分析 2、晶体结构分析 3、表面电子结构分析
分析测试仪器的选择和使用
1、物理性质/物理化学性质分析 2、定性/半定量/定量分析 3、非破坏/破坏分析 4、金属/非金属样品分析 5、固体/粉末/液体试样分析 6、表面/表层/体相分析 7、微区/深度分析
《现代测试技术》课程要求
一、了解和掌握主要分析仪器的分析方法原理及所提供的物理、化学信息； 二、通过仪器测试技术的详细介绍，了解仪器结构、主要应用技术及发展方向； 三、通过实验技术的学习及操作，解读四种电子光学仪器的输出结果；
讲授内容及课时基本安排
绪论 第一章 第二章 第三章 第四章 第五章 第六章 第七章 第八章 现代分析测试技术概论 X射线荧光光谱分析技术-XRF X射线衍射分析技术-XRD X射线光电子能谱分析技术-XPS 电子显微分析技术-SEM/TEM/EPMA 扫描探针显微分析技术-SPM 原子发射/原子吸收光谱分析技术-AES/AAS 红外光谱分析技术-IR 质谱分析技术-MS
网上资源利用
JEOL---日本电子株式会社.htm http://www.shimadzu.co.jp/(日本岛津) 开放实验室、理化检测中心 科技期刊（光谱分析、质谱分析、电子显微学报等）
课程考核方法
1、开卷考试；占总成绩70%； 2、作业及随堂作业；占总成绩15%； 3、实验及实验报告；占总成绩15%；
课程选用教材及参考书籍
1、现代分析测试技术（重点：XRF/XRD/SEM/TEM/EPMA/IR/MS/色谱类） 祁景玉(同济大学工科类使用教材) 2、现代仪器分析实验与技术（重点：XRF/XPS/AES/MS/IR/色谱类） 陈培榕等 (清华大学化学类使用教材) 3、扫描力显微术/扫描隧道显微术（重点：STM/AFM） 白春礼等 (中科院理科类研究生使用教材) 4、材料分析测试技术（重点：XRD/SEM/TEM/EPMA） 周玉等(哈尔滨工业大学工科类使用教材) 5、仪器分析 （重点：XPS/IR/MS/色谱类） 邓勃等(北京大学/清华大学化学类使用教材)
言
一、《现代测试技术》课程简介 二、《现代测试技术》课程要求 三、讲授内容及课时安排 四、课程选用教材及参考书籍 五、网上资源利用
《现代测试技术》课程简介
讲述大型物理分析仪器及利用上述仪器进行物质的物理性质或物理 化学性质分析测试的主要技术和方法； 仪 器 方 法 学 习 重 点 分析方法原理 仪器结构及关键部件 仪器主要应用及发展方向 重要实验技术
B
A
C
X射线荧光光谱技术
原子发射光谱技术
X射线光电子/俄歇电子 能谱分析技术
电子探针技术 原子吸收光谱技术
成分分析仪器及方法应用领域
现代分析测试技术主要应用领域
一、基本资料的建立：化学组成、化合物结构、晶体结构、微观形态学 信息等→基础理论研究，材料、化工产品、矿物岩石、生物、医学 等基本数据建立； 二、微量及痕量物质分析：环境监测，食品检验，刑侦、商检、失效分 析，工业在线分析； 三、国家标准及行业标准的制定：标准分析方法、标准分析样品；
分析仪器
按仪器探测及发射粒子分类
一、发射粒子： 1、电子束-SEM、TEM、EPMA、AES、LEED、HREED； 2、X射线-XPS、XRF、XRD； 3、离子源-SIMS、ISS； 4、特殊光源-IR、LR、UPS、AAS、ICP-AES、ICP-MS； 二、探测粒子： 1、电子谱—探测粒子或发射粒子是电子； 2、光谱—探测粒子及发射粒子都是光子； 3、离子谱：探测粒子及发射粒子都是离子； 4、光电子谱—探测粒子是光子，发射粒子是电子；
绪论
现代测试技术概论
第一节 现代分析测试仪器基本特征及技术与方法分类 第二节 现代分析测试方法与技术应用领域
现代分析测试仪器基本工作模式
离子
离子
声波
一、用一束“粒子”或某种手段作为探针来探测、激发物质—入射粒子或激发源主要有电 子、离子、光子、中性粒子、电场、磁场、热场和声波； 二、在探针的作用下，入射粒子与物质相互作用，从样品中出射、带有物质信息的粒子 （发射谱）—电子、离子、中性粒子、光子； 三、检测这些粒子的能量、动量、质荷比、束流强度等特征，或出射波的频率、方向、强 度、偏振等—记录、处理、分析，获得有关物质的信息；
ຫໍສະໝຸດ Baidu
按仪器检测性能分类
一、物理化学性质测试： 1、成分分析 2、化合物结构分析 3、表面原子动态和受激态分析 二、物理性质测试： 1、微观形貌分析 2、晶体结构分析 3、表面电子结构分析
分析测试仪器的选择和使用
1、物理性质/物理化学性质分析 2、定性/半定量/定量分析 3、非破坏/破坏分析 4、金属/非金属样品分析 5、固体/粉末/液体试样分析 6、表面/表层/体相分析 7、微区/深度分析
《现代测试技术》课程要求
一、了解和掌握主要分析仪器的分析方法原理及所提供的物理、化学信息； 二、通过仪器测试技术的详细介绍，了解仪器结构、主要应用技术及发展方向； 三、通过实验技术的学习及操作，解读四种电子光学仪器的输出结果；
讲授内容及课时基本安排
绪论 第一章 第二章 第三章 第四章 第五章 第六章 第七章 第八章 现代分析测试技术概论 X射线荧光光谱分析技术-XRF X射线衍射分析技术-XRD X射线光电子能谱分析技术-XPS 电子显微分析技术-SEM/TEM/EPMA 扫描探针显微分析技术-SPM 原子发射/原子吸收光谱分析技术-AES/AAS 红外光谱分析技术-IR 质谱分析技术-MS
网上资源利用
JEOL---日本电子株式会社.htm http://www.shimadzu.co.jp/(日本岛津) 开放实验室、理化检测中心 科技期刊（光谱分析、质谱分析、电子显微学报等）
课程考核方法
1、开卷考试；占总成绩70%； 2、作业及随堂作业；占总成绩15%； 3、实验及实验报告；占总成绩15%；
课程选用教材及参考书籍
1、现代分析测试技术（重点：XRF/XRD/SEM/TEM/EPMA/IR/MS/色谱类） 祁景玉(同济大学工科类使用教材) 2、现代仪器分析实验与技术（重点：XRF/XPS/AES/MS/IR/色谱类） 陈培榕等 (清华大学化学类使用教材) 3、扫描力显微术/扫描隧道显微术（重点：STM/AFM） 白春礼等 (中科院理科类研究生使用教材) 4、材料分析测试技术（重点：XRD/SEM/TEM/EPMA） 周玉等(哈尔滨工业大学工科类使用教材) 5、仪器分析 （重点：XPS/IR/MS/色谱类） 邓勃等(北京大学/清华大学化学类使用教材)