pn结二极管课件
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
电子电流和空穴电流的分布图
23
8.1.2 理想的电流-电压关系
24
8.1.2 理想的电流-电压关系
(1)正向偏置:
J
qV A
J s ( e kT
ln(
J)
ln(
Js)
e kT
Va
( 2 )反向饱和电流
Js
( eD p Lp
n
2 i
Nd
Dn Ln
n
2 i
()
Ge
管比硅管的饱和电流大
Na
Js
q
Dp Lp
通解
满足边界条件的特解
0
DP
d 2 p n dx 2
pn p
(x
xn)
pn(xn W n) 0
eV a
p ( x n ) p n 0 ( e kT 1 )
x
x
p ( x ) A1e LP A 2e Lp
pn(x)
eV a
p n 0 ( e kT
sinh[( 1)
xn W n x) Lp]
eV a
)( e kT
1)
Lp
Ln
eV a
J s ( e kT 1)
Js
eD (
p
pn0
Lp
eD n n po Ln
)
随温度的升高,本征 载流子浓度升高,饱 和电流增加,二极管 的正向电流和反向电 流都会随温度增加而 升高。
21
8.1.2 理想的电流-电压关系
正偏时的过剩少子浓度分布
22
8.1.2 理想的电流-电压关系
满足边界条件的特解 p n ( x ) p n 0 ( e kT 1 ) e L P
电子的扩散电流密度
J P (xn)
eD
p
dpn dx
eD
p pn0
eV a
( e kT
1)
x xn
Lp
20
8.1.2 理想的电流-电压关系
J J ( xp) J (xn)
eD (
p pn0
eD
n n po
sinh[ W n L p ]
eV a
p n 0 ( e kT
正偏时的能带/电路混合图
7
3.反向偏置:
势垒高度变高,n型一侧几乎 没有电子能越过势垒进入p区, p区一侧有相同数目的电子进 入耗尽层扫入n区,形成少子 漂移流,同理n区的空穴漂移 形成IP,因与少子相关,所以 电流很小,又因为少子的漂移 与势垒高度无关,所以反向电 流与外加电压无关。
8
反偏时的能带/电路混合图
14
Figure 8.3
15
8.1.2 理想的电流-电压关系
pn结定律:
EFnEFp
eV a
npni2e k T ni2ek T
边界条件:在空间耗尽层边界:
eVa
np(xp) pp(xp) ni2e kT
np (xp )
ni2 Na
eVa
e kT
eVa
np0e kT
eVa
nn(xn) pn(xn) ni2e kT
第八章 pn结二极管
1
第八章pn结二极管
8.1 pn 结二极管的I-V特性 8.2 pn 结的小信号模型 8.3 产生-复合流(与理想I-V特性的偏离) 8.4 pn 结的击穿 8.5 pn结的瞬态特性 8.6 隧道二极管
2
8.1 pn 结电流
将二极管电流和器件内部的工作机理,器件参数 之间建立定性和定量的关系。 1.定性推导: 分析过程,处理方法 2.定量推导: 建立理想模型-写少子扩散方 程,边界条件-求解 少子分布函数-求扩散电流-结果分析。 3.分析实际与理想公式的偏差,造成偏差的原因
n
dn p (x) dx
eD n n p 0
qV a
( e kT
1)
x xp
Ln
19
n区
扩散方程
Baidu Nhomakorabea
0
DP
d 2p n dx 2
pn p
(x
xn)
边界条件
pn(x ) 0
p(xn)
n
2 i
Nd
eV a
( e kT
1)
通解
x
x
p ( x ) A1e LP A2e Lp
eV a
xn x
5
2.加正偏电压
势垒高度降低, n型一侧有更多的 电子越过势垒进入p区,形成净电 子扩散电流IN,同理可分析空穴形 成扩散电流IP。 流过pn结的总电流I=IN+IP。 因为势垒高度随外加电压线性下降, 而载流子浓度随能级指数变化,所 以定性分析可得出正偏时流过pn结 的电流随外加电压指数增加。
6
9
10
8.1.2 理想的电流-电压关系
理想p-n结,满足以下条件的p-n结 (1)杂质分布为非简并掺杂的突变结
p=n0 -xp<x<xn (耗尽层近似) (x)= -qNA -xp<x<0
qND 0<x<xn (2)小注入条件:p区:n<<pp0
n区:p<<nn0 (3)pn结内电子电流和空穴电流为连续函数
3
0偏
反偏
正偏
4
8.1 pn 结电流
1.热平衡状态
电子从n区扩散到p区需有足够 的能量克服“势垒”。只有少 数高能量的电子能越过势垒到 达P区,形成扩散流。
P区的电子到达n区不存在势垒, 但是少子,少数电子一旦进入 耗尽层,内建电场就将其扫进n 区,形成漂移流。
空穴的情况与电子类似
热平衡:电子的扩散流=漂移流
n
2
i(
p
n
二极管)
Nd
Js
q
Dn Ln
n
2
i(
pn
二极管)
Na
10 6 倍)
25
Figure 8.8
26
27
28
反向偏置下p-n结费米能级
29
短二极管
n区或p区的宽度远小于 少子的扩散长度的二极 管叫短二极管 P区的扩散方程,边界 条件和求解结果与前面 的完全一致。
30
n区
扩散方程 边界条件
n p n
(x
xp)
边界条件
n p ( x ) 0
eV a
n p ( x p ) n p 0 ( e kT 1)
通解
x
x
n p ( x ) A1e Ln A2e Ln
特解
eV a
xpx
n p ( x ) n p 0 ( e kT 1) e Ln
电子电流
J n(xp
)
eD
pn结内的总电流处处相等(稳态)
11
8.1.2 理想的电流-电压关系
(4) 忽略耗尽区内的产生与复合,即认为 电子、 空穴通过势垒区所需时间很短,来不及产生与 复合,故通过 势垒区的电子电流和空穴电流
为恒定值。
12
Figure 8.3
13
8.1.2 理想的电流-电压关系
方法步骤: (1)边界条件 (2)扩散方程 (3)求解方程得到少子分布函数表达式 (4)由少子分布函数求出流过pn结的电流
pn(xn)
ni2 Nd
eVa
e kT
eVa
pn0e kT
16
Figure 8.4
8.1.2 理想的电流-电压关系
17
(1)边界条件:
p区
ea V
npnp(xp)np0np0(ekT1)
np(x)0
n区
ea V
pnpn(xn)pn0pn0(ekT1)
pn(x)0
18
P区
扩散方程
0
Dn
d 2n p dx 2
23
8.1.2 理想的电流-电压关系
24
8.1.2 理想的电流-电压关系
(1)正向偏置:
J
qV A
J s ( e kT
ln(
J)
ln(
Js)
e kT
Va
( 2 )反向饱和电流
Js
( eD p Lp
n
2 i
Nd
Dn Ln
n
2 i
()
Ge
管比硅管的饱和电流大
Na
Js
q
Dp Lp
通解
满足边界条件的特解
0
DP
d 2 p n dx 2
pn p
(x
xn)
pn(xn W n) 0
eV a
p ( x n ) p n 0 ( e kT 1 )
x
x
p ( x ) A1e LP A 2e Lp
pn(x)
eV a
p n 0 ( e kT
sinh[( 1)
xn W n x) Lp]
eV a
)( e kT
1)
Lp
Ln
eV a
J s ( e kT 1)
Js
eD (
p
pn0
Lp
eD n n po Ln
)
随温度的升高,本征 载流子浓度升高,饱 和电流增加,二极管 的正向电流和反向电 流都会随温度增加而 升高。
21
8.1.2 理想的电流-电压关系
正偏时的过剩少子浓度分布
22
8.1.2 理想的电流-电压关系
满足边界条件的特解 p n ( x ) p n 0 ( e kT 1 ) e L P
电子的扩散电流密度
J P (xn)
eD
p
dpn dx
eD
p pn0
eV a
( e kT
1)
x xn
Lp
20
8.1.2 理想的电流-电压关系
J J ( xp) J (xn)
eD (
p pn0
eD
n n po
sinh[ W n L p ]
eV a
p n 0 ( e kT
正偏时的能带/电路混合图
7
3.反向偏置:
势垒高度变高,n型一侧几乎 没有电子能越过势垒进入p区, p区一侧有相同数目的电子进 入耗尽层扫入n区,形成少子 漂移流,同理n区的空穴漂移 形成IP,因与少子相关,所以 电流很小,又因为少子的漂移 与势垒高度无关,所以反向电 流与外加电压无关。
8
反偏时的能带/电路混合图
14
Figure 8.3
15
8.1.2 理想的电流-电压关系
pn结定律:
EFnEFp
eV a
npni2e k T ni2ek T
边界条件:在空间耗尽层边界:
eVa
np(xp) pp(xp) ni2e kT
np (xp )
ni2 Na
eVa
e kT
eVa
np0e kT
eVa
nn(xn) pn(xn) ni2e kT
第八章 pn结二极管
1
第八章pn结二极管
8.1 pn 结二极管的I-V特性 8.2 pn 结的小信号模型 8.3 产生-复合流(与理想I-V特性的偏离) 8.4 pn 结的击穿 8.5 pn结的瞬态特性 8.6 隧道二极管
2
8.1 pn 结电流
将二极管电流和器件内部的工作机理,器件参数 之间建立定性和定量的关系。 1.定性推导: 分析过程,处理方法 2.定量推导: 建立理想模型-写少子扩散方 程,边界条件-求解 少子分布函数-求扩散电流-结果分析。 3.分析实际与理想公式的偏差,造成偏差的原因
n
dn p (x) dx
eD n n p 0
qV a
( e kT
1)
x xp
Ln
19
n区
扩散方程
Baidu Nhomakorabea
0
DP
d 2p n dx 2
pn p
(x
xn)
边界条件
pn(x ) 0
p(xn)
n
2 i
Nd
eV a
( e kT
1)
通解
x
x
p ( x ) A1e LP A2e Lp
eV a
xn x
5
2.加正偏电压
势垒高度降低, n型一侧有更多的 电子越过势垒进入p区,形成净电 子扩散电流IN,同理可分析空穴形 成扩散电流IP。 流过pn结的总电流I=IN+IP。 因为势垒高度随外加电压线性下降, 而载流子浓度随能级指数变化,所 以定性分析可得出正偏时流过pn结 的电流随外加电压指数增加。
6
9
10
8.1.2 理想的电流-电压关系
理想p-n结,满足以下条件的p-n结 (1)杂质分布为非简并掺杂的突变结
p=n0 -xp<x<xn (耗尽层近似) (x)= -qNA -xp<x<0
qND 0<x<xn (2)小注入条件:p区:n<<pp0
n区:p<<nn0 (3)pn结内电子电流和空穴电流为连续函数
3
0偏
反偏
正偏
4
8.1 pn 结电流
1.热平衡状态
电子从n区扩散到p区需有足够 的能量克服“势垒”。只有少 数高能量的电子能越过势垒到 达P区,形成扩散流。
P区的电子到达n区不存在势垒, 但是少子,少数电子一旦进入 耗尽层,内建电场就将其扫进n 区,形成漂移流。
空穴的情况与电子类似
热平衡:电子的扩散流=漂移流
n
2
i(
p
n
二极管)
Nd
Js
q
Dn Ln
n
2
i(
pn
二极管)
Na
10 6 倍)
25
Figure 8.8
26
27
28
反向偏置下p-n结费米能级
29
短二极管
n区或p区的宽度远小于 少子的扩散长度的二极 管叫短二极管 P区的扩散方程,边界 条件和求解结果与前面 的完全一致。
30
n区
扩散方程 边界条件
n p n
(x
xp)
边界条件
n p ( x ) 0
eV a
n p ( x p ) n p 0 ( e kT 1)
通解
x
x
n p ( x ) A1e Ln A2e Ln
特解
eV a
xpx
n p ( x ) n p 0 ( e kT 1) e Ln
电子电流
J n(xp
)
eD
pn结内的总电流处处相等(稳态)
11
8.1.2 理想的电流-电压关系
(4) 忽略耗尽区内的产生与复合,即认为 电子、 空穴通过势垒区所需时间很短,来不及产生与 复合,故通过 势垒区的电子电流和空穴电流
为恒定值。
12
Figure 8.3
13
8.1.2 理想的电流-电压关系
方法步骤: (1)边界条件 (2)扩散方程 (3)求解方程得到少子分布函数表达式 (4)由少子分布函数求出流过pn结的电流
pn(xn)
ni2 Nd
eVa
e kT
eVa
pn0e kT
16
Figure 8.4
8.1.2 理想的电流-电压关系
17
(1)边界条件:
p区
ea V
npnp(xp)np0np0(ekT1)
np(x)0
n区
ea V
pnpn(xn)pn0pn0(ekT1)
pn(x)0
18
P区
扩散方程
0
Dn
d 2n p dx 2