实验一 薄片粒度分析X

细砂
0.80~1.40 1.40~2.00 中砂 2.00~2.60 >2.60 0.50~0.80 0.80~1.40 粗砂 1.40~2.00 2.00~2.60 >2.60
五、作业
1、粒度分析原始纪录（含初步计算）表格； 2、图件： （1）直方图、频率图、累积曲线图（合为 1张；米格纸） （2）概率累积曲线图（概率纸） 3、实验报告： （1）实验目的及意义 （2）实验内容及要求 （3）参数计算与环境图件解释； （4）沉积环境判别与分析（手写）
2、筛析法 3、沉降法
4、显微镜法（薄片粒度分析）
5、比表面积法
6、图像分析法
其他
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
1、采样、切片要求
垂直层理方向采样； 间距：层厚在3m一下10cm；层厚在3m～ 10cm时20cm； 碎屑含量大于70%； 次生加大越弱越好； 切片方向垂直层理。
Hale Waihona Puke Baidu
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
浅海Y<-7.4190 河流Y>-7.4190 河流Y<9.8433 浊流Y>9.8433
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
分选性等级和相应的标准偏差值
标准偏差 分选等级 分选极好 分选好 标 准 偏 差 （Φ） 据福克和沃德 （ 1957 ） <0.35 0.35~0.50
mm 4.000－3.363 3.363－2.828 2.828－2.378 2.378－2.000 2.000－1.683 ……
0.019－0.016
Φ -2.00－-1.75 -1.75－-1.50 -1.50－-1.25 -1.25－-1.00 -1.00－-0.75 ……
5.75－6.00
颗粒计数 X1 X2 X3 X4 X5 …… Xn
Y海滩：浅海 15 .6534 M z 65 .7001 2 海滩Y<65.3650 浅海Y>65.3650 18 .1071 SK 18 .5053 K G Y海滩：河流 0.2852 M z 8.7604 2 4.8932 SK 0.0482 K G Y河流：浊流 0.7215 M z 0.4030 2 6.7322 SK 5.2927 K G
沉积学基础
实验一 粒度分析 （薄片粒度分析）
一、实验目的
1、学会并掌握薄片粒度分析、数据处理 及相关图件编绘的方法； 2、初步掌握粒度分析的地质意义。
二、实验内容、要求
1、完成薄片粒度测量、认真填写原始纪 录表； 2、完成粒度数据处理和相关图件的编绘， 并分析沉积环境意义。
三、粒度分析的方法
1、直接测量法
海滩砂 砂丘砂 冈成坪地砂
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
标准偏差与沉积环境
标准偏差 <0.35 微砂 0.35~0.50 0.50~0.80 分选性等级 分选很好 分选好 分选较好 分选中等 分选差 分选很差 分选极差 分选较好 分选中等 分选差 分选很差 分选极差 沉积环境 多数海岸、河口砂坝和湖滩、砂丘砂、很多海 滨砂，浪基面以上的海砂、很多泻湖砂 海滨砂最多，较多的浪基面以上的海砂，许多 泻湖砂、许多内陆砂丘砂，某些河流砂 河流砂最多，很多海滨砂（0.80为其近似上限） 受限制的泻湖中的泻湖砂，浪基面以下的陆棚 砂，多数内陆砂丘砂 许多河流砂（1.40为其近似上限），某些受限 制的泻湖中的砂，某些浪基面以下的陆棚砂 很多冰川砂 很多冰川砂 某些冰川砂 很多海滨砂， 河流砂最多，较多的海滨砂，多数陆棚砂 很多冰川砂 很多冰川砂
合计
碎屑含量： 检测人：
％
杂基含量：
％ 日期：
累 积 数 杂基校正值Δ ＝
抽样方式：
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
4、数据处理
（2）粒度校正
① 薄片粒度“视直径”与筛析直径之间的校正
薄片粒度分析所测为“视直径”，与筛析直径间偏 差可达0.25φ或更大。Friedman（1958，1962）提出了 任意粒度的回归校正方程：
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
6、参数计算
偏度：
16 84 50 95 5 250 S1 84 16 ) 2(95 5 )
福克和沃德指数：
极负偏： 负偏： 正偏： 极正偏： -1~-0.3 -0.3~-0.1 +0.1~+0.3 +0.3~+1.0
>3.00
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
7、粒度分析与沉积环境
沉积环境的判别函数
沉积环境鉴别
风成砂丘与海滩 海滩与浅海 浅海与河流（三 角洲） 河流(三角洲)与 浊流
判别公式
Y 风成：海滩 3.5688 M z 3.7016 2 2.0766 SK 3.1135 K G
鉴别值
几种不同环境沉积物的粒度参数特征
沉积环境
河流砂
粗 ∣ ∣ ∣ ↓ 细
特
粒度 分选性 频率曲线形态
点
偏 度 峰 度
正偏为主，也 常见双峰或多峰不 数值多 有负偏态SK1变 中-差 对称曲线 低 化大 好 极好 好 多对称，偶有 单峰、对称正态曲 负偏态SK1为0 线为主 至负值 单峰曲线，稍不对 正偏态，SK1为 正值 称 双峰曲线，不对称 正偏态，SK1为 正值 中等至 微尖 中等 尖锐
Φ84 Φ75
Φ50
Φ25 Φ16
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
6、参数计算
标准偏差：
84 16 95 5 1 4 6.6
福克和沃德指数：
分选极好： <0.35
分选好： 0.35~0.50 分选较好： 0.50~0.71
分选中等： 0.71~1.00
分选较差： 1.00~2.00 分选差： 2.00~4.00 分选极差： >4.00
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
3、抽样统计方法——线计法
（5）颗粒大小测量 注意：测量颗粒的长轴、并剔除次生加大
边！
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
3、抽样统计方法——线计法
薄 片 号： 剖面（钻孔）： 目 镜 微尺格数 180.0－134.5 134.5－113.1 113.1－95.1 95.1－80.0 80.0－67.3 …… 岩石名称： 层 位： 微尺格值：0.025mm/格 要求：测300-500粒，以保证精度。 沉积构造： 放大倍数：10×4 显微镜型号： 粒度区间 mm 4.000－3.363 3.363－2.828 2.828－2.378 2.378－2.000 2.000－1.683 …… Φ -2.00－-1.75 -1.75－-1.50 -1.50－-1.25 -1.25－-1.00 -1.00－-0.75 …… 颗粒统计数 颗粒计数 X1 X2 X3 X4 X5 …… Xn 合计 频率 (％) 累积频率 (％) 校正累积 频率(％)
据弗里德曼 （ 1962 ） <0.35 0.35~0.50
分选较好
分选中等 分选差 分选很差 分选极差
0.50~0.71
0.71~1.00 1.00~2.00 2.00~4.00 >4.00
0.50~0.80
0.80~1.40 1.40~2.00 2.00~2.60 >4.00
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
D=0.3815+0.9027d（φ单位）
D-校正后的筛析直径值； d-薄片中测定的视直径值
校正后的值同实际筛析值平均直径最大偏差一般不 超过1/4φ，可满足一般沉积学研究。
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
4、数据处理
（2）粒度校正
② 切片“视直径”与真直径之间的校正-“切片 效应” Robert（1971）、布拉特（1978）根据实验， 等大球状集合体的切面所测的视直径平均值为真直 径的0.765倍，即颗粒直径平均值小于真直径。
近于对称： -0.1~+0.1
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
6、参数计算
峰度：
95 5 G 2.44(75 25 )
福克和沃德指数：
很平坦： 平坦： 尖锐： 很尖锐： <0.67 0.67~0.90 1.11~1.56 1.56~3.00
中等（平坦）：0.90~1.11
非常尖锐：
S1 16 84 50 95 5 250 84 16 ) 2(95 5 )
平均粒径： 标准偏差： 偏度：
峰度：
95 5 G 2.44(75 25 )
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
Φx：累积
曲线上x% 处对应的 颗粒直径， 以Φ值为 单位
（6）纪录。按出现的粒度区间，按“正”记。 薄片粒度分析原始记录
0.76－0.64
碎屑含量：? ％ 检测人： ？？
0.019－0.016
5.75－6.00
累 积 数 杂基含量： ? ％ 杂基校正值Δ ＝ ? 日期：？
抽样方式：线计法
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
4、数据处理 （1）初步计算
薄片粒度分析原始记录
风成Y<-2.7411 海滩Y>-2.7411
函数平均值
Y 风成 -3.0973 Y 海滩 -1.7824 Y 海滩 51.9536 Y 浅海 104 .7536 Y 浅海 -5.3167 Y 河流 -10.4418 Y 河流 10 .7115 Y 浊流 7.9791
薄 片 号： 剖面（钻孔）： 目 镜 微尺格数 180.0－134.5 134.5－113.1 113.1－95.1 95.1－80.0 80.0－67.3 …… 0.76－0.64 岩石名称： 沉积构造： 粒度区间 层 位： 放大倍数：10×4 颗粒统计数 微尺格值：0.025mm/格 显微镜型号： 频率 (％) 累积频率 (％) 校正累积 频率(％)
实验一
2、抽样统计方法——点计法、线计法、带计 法
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
3、抽样统计方法——线计法
（1）固定薄片至载物台；
（2）纵横旋钮固定一个，保证薄片直线移动
（3）移动另一旋钮，凡过十字丝处颗粒均读
其值；
（4）浏览整个薄片。
——主要碎屑颗粒类型 ——胶结物类型、有无次生加大？杂基含量 ——岩石定名
校正方法：截点位移法。
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
4、数据处理
（2）粒度校正
③ 杂基校正-“截尾效应”
主要是4～7φ细粒被测机会增多，跳跃总体无转折、 与悬浮总体无法区分，在中细砂岩中常见。
校正方法：取杂基含量的1/2～1/3为校正值“Δ ”， 将累积频率乘以（100-Δ ），重绘一条曲线。
可先做杂基校正，绘出概率曲线再做弗里德曼校正 对若固结的岩石，既可以做筛析，也可以做薄片粒 度分析，也可得出（100-Δ ）值。
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
5、相关图件编绘
① 粒度直方图
② 频率图
③ 累积曲线图
④ 概率累积曲
线图
四、薄片粒度分析步骤及主要问题
6、参数计算
粒度中值：
Md Φ50
Φ16 Φ 50 Φ 84 Mz 3
84 16 95 5 1 4 6.6