纳米粒子测试方法
银纳米粒子的制备及其能测试新
银纳米粒子的制备及其能测试新毕业论文论文题目：银纳米粒子的制备及其性能测试目录一、前言 (1)1.1纳米粒子概述 (1)1.2 纳米粒子的应用 (1)1.3银纳米粒子概述 (2)1.4 银纳米粒子的制备方法 (3)1.5 研究现状 (3)1.6 研究内容 (4)二、实验部分 (5)2.1 实验药品 (5)2.2 实验仪器 (5)2.3 实验步骤 (6)2.3.1 银纳米粒子的制备 (6)2.3.2 银纳米粒子的表征 (6)2.3.3 银纳米粒子的电催化活性测试 (6)3.1 X射线衍射仪表征 (7)3.3 纳米激光粒度仪测试 (11)3.4 银纳米粒子的电催化活性测试结果 (12)四、实验结论 (13)致谢 (14)参考文献 (15)摘要：随着科学技术的进步，银纳米粒子的研究开发也是日新月里的发展起来了。
本文尝试了一种制备方法：用电化学还原法，以柠檬酸作为配位剂用电化学工作溶液制得银纳米粒子。
用扫描电镜观察所制得站在一定电流、时间内电解AgNO3的产品形貌状态，为松针状的晶体粒子，其粒径在50-100 nm之间，用X射线衍射仪分析了银纳米粒子的晶体结构及样品纯度，纳米粒度分布仪测试得出粒子的大小分布在125-199 nm范围内，并用制得的银纳米粒子修饰碳糊电极，测其C-V 曲线，对其电催化活性进行了初步探索。
关键词：银纳米粒子；电解；制备；表征Abstract: With the progress of science and technology, the research and development of silver nanoparticles also developed very quickly. This paper attempts a preparation method:electricity chemical reduction method, using citric acid as complexing agent chemical workstation in a certain current, time electrolytic AgNO3solution obtained dendritic silver ing scanning electron microscope observed the product appearance, and it shows pine needle shaped crystal particles, the particle diameter between 50-100 nm, by X ray diffraction analysis the silver nanoparticles on the crystal structure and purity of the samples, nanoparticle size distribution tester that particle size distribution in the range of 125-199nm, and the prepared silver nanoparticles modified carbon paste electrode, measured C-V curve, to conduct a preliminary study of the electrocatalytic activity.Key words: silver nanoparticles;Electrolysis; preparation; characterization一、前言1.1纳米粒子概述进入21世纪纳米技术飞速发展，已成为一门新兴产业。
纳米材料粒度测试方法大全
纳米材料粒度测试方法大全目前，纳米材料已成为材料研发以及产业化最基本的构成部分，其中纳米材料的粒度则是其最重要的表征参数之一。
本文根据不同的测试原理阐述了8种纳米材料粒度测试方法，并分析了不同粒度测试方法的优缺点及适用范围。
1.电子显微镜法电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法，一般包括扫描电子显微镜法（SEM）和透射电子显微镜法（TEM）。
对于很小的颗粒粒径，特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。
计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。
优点：该方法是一种颗粒度观测的绝对方法，因而具有可靠性和直观性。
缺点：测量结果缺乏整体统计性；滴样前必须做超声波分散；对一些不耐强电子束轰击的纳米颗粒样品较难得到准确的结果。
2.激光粒度分析法激光粒度分析法是基于Fraunhofer衍射和Mie氏散射理论，根据激光照射到颗粒后，颗粒能使激光产生衍射或散射的现象来测试粒度分布的。
因此相应的激光粒度分析仪分为激光衍射式和激光动态散射式两类。
一般衍射式粒度仪适于对粒度在5μm以上的样品分析，而动态激光散射仪则对粒度在5μm以下的纳米、亚微米颗粒样品分析较为准确。
所以纳米粒子的测量一般采用动态激光散射仪。
优点：样品用量少、自动化程度高、重复性好, 可在线分析等。
缺点：不能分析高浓度的粒度及粒度分布，分析过程中需要稀释，从而带来一定误差。
3.动态光散射法动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。
液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径、温度和黏度系数等因素。
在恒定温度和黏度条件下, 通过光子相关谱法测定颗粒的扩散系数就可获得颗粒的粒度分布，其适用于工业化产品粒径的检测，测量粒径范围为1nm~5μm的悬浮液。
优点：速度快，可获得精确的粒径分布。
纳米粒子的表征和测试方法简介
纳米粒子的表征和测试方法简介纳米科技已经成为当今科学和技术领域中最为热门的研究方向之一。
纳米粒子作为纳米材料的基本单位，具有许多特殊的性质和应用潜力，包括在医药领域的药物传输、生物传感器、催化剂等。
为了实现这些应用，对纳米粒子进行准确的表征和测试至关重要。
本文将介绍纳米粒子的表征方法和测试技术，帮助读者更好地了解和应用这些技术。
纳米粒子的表征涉及到对其形貌、尺寸、形态、化学组成、表面结构以及表面电荷等方面的研究。
以下是几种常见的纳米粒子表征方法：1. 透射电子显微镜（TEM）：TEM是一种能够观察纳米尺度物体的重要工具。
使用TEM可以直接观察到纳米粒子的形貌和结构，例如颗粒的形状、分散性和聚集度等信息。
此外，TEM还可以通过选区电子衍射技术来研究纳米粒子的晶体结构。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：SEM是一种通过扫描样品表面的电子束来获取样品形貌和结构信息的技术。
相比于TEM，SEM可以提供更高的表面分辨率，并且适用于大尺寸样品。
使用SEM观察纳米粒子可以提供有关纳米粒子的尺寸、形貌和分布的信息。
3. 粒径分析仪：粒径分析仪是一种常用于纳米粒子的尺寸测量的仪器。
常见的粒径分析方法包括动态光散射（DLS）和激光粒度仪。
DLS适用于测量纳米颗粒的动态尺寸分布，而激光粒度仪则可用于测量纳米颗粒的静态尺寸和形状。
4. 纳米粒子表面分析：纳米粒子的表面特性对其性能和应用具有重要影响。
常见的纳米粒子表面分析方法包括傅里叶变换红外光谱（FTIR）、拉曼光谱和X射线光电子能谱（XPS）。
这些方法可以提供有关纳米粒子表面化学组成、官能团和表面电荷的信息。
在纳米粒子的测试中，除了表征方法外，还需要进行性能测试以评估其在特定应用中的可行性和效果。
以下是几种常见的纳米粒子测试方法：1. 生物相容性测试：对于医药领域中的纳米粒子应用，生物相容性是一个重要的考虑因素。
生物相容性测试包括对纳米粒子的细胞毒性、溶解性、抗原性等方面进行评估。
如何测量纳米颗粒的粒径
如何测量纳米颗粒的粒径近年来PM2.5成为肯定的热词，简单来说就是直径小于等于 2.5m 的可吸入颗粒物。
宏观世界中看似没什么差别的颗粒，在微观角度可谓包罗万象，因此必要的定量描述必不可少。
首先我们来明确一个基本概念和一个基本假设。
粒度：颗粒的大小称为粒度，通常球体颗粒的粒度用直径表示，立方体颗粒的粒度用边长表示。
粒径是颗粒的直径。
然而实际中的颗粒大多是不规定的，所以，为了更便利的描述颗粒的大小，在实际测算中，将不规定的颗粒等效为规定球，并以其直径作为颗粒的粒度。
这就是“等效圆球理论”。
几种粒度测量方法及其范围：所以，小颗粒，你多大呀？下面让我们一起认得筛分法、显微（图像）法、沉降法、电阻法、光阻法、激光衍射、动态光散射、电子显微镜、超声波法和比表面积法。
一、筛分法筛分法测定粒径时，依照被测试样的粒径大小及分布范围，将大小不同筛孔的筛子叠放在一起进行筛分，收集各个筛子的筛余量，称量求得被测试样以重量计的颗粒粒径分布。
筛分法适于粒度30m的粉体。
测定时取肯定量的粉料通过筛子，测定筛余量（即通不过的粉料量）占总重量的百分率，筛余越多，说明粉料颗粒愈粗。
不同产品有不同的筛余量（如电容器陶瓷要求筛余量小于0.01％）。
其中紧要的参数是：A.筛分直径（颗粒能够通过的最小方筛孔的宽度）；B.筛孔的大小用目表示每一英寸长度上筛孔的个数，国产筛是以每平方英寸上的孔数表示筛的目数。
优点：设备简单，操作简便，易于实行，设备造价低。
缺点：1）对小于400目（38m）的干粉很难测量。
测量时间越长，得到的结果就越小；2）在筛分操作过程中，颗粒有可能破损或断裂，因此筛分特别不适合测定长形针状或片状颗粒的粒度。
同时必需注意到，非球形的颗粒通过筛子在肯定程度上取决于颗粒的方向，造成测量误差。
此外，含有结合水的颗粒粒度的测量不适合采纳筛分法；3）不能测量射流或乳浊液，结果受人为因素影响较大；4）所谓某某粉体多少目，是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。
医疗器械生物学评价 纳米颗粒脱落和释放测量 颗粒跟踪分析法-最新国标
医疗器械生物学评价纳米颗粒脱落和释放测量颗粒跟踪分析法1 范围本文件规定了医疗器械脱落和释放液的样品制备方法，以及脱落释放液中纳米颗粒的粒径、粒径分布及数量浓度的测量方法，适用于脱落释放纳米颗粒的表征。
粒径检测下限见附录A。
医疗器械脱落或释放其他尺寸颗粒的医疗器械也可以参考本文件。
2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 6682分析实验室用水规格和试验方法GB/T 22235液体黏度的测定GB/T 30544.1 纳米科技术语第1部分:核心术语GB/T 30544.6 纳米科技术语第6部分：纳米物体表征GB/T 42348 粒度分析颗粒跟踪分析法（PTA）3 术语和定义GB/T 30544.1、GB/T 30544.6、YY/T 0528和GB/T 42348界定的术语和定义适用于本文件。
3.1颗粒particle有明确物理边界的微小物质，又称粒子。
注1：物理边界也可以描述为界面。
注2：颗粒能够作为一个整体移动。
注3：该通用颗粒定义适用于纳米物体。
[来源GB/T 30544.6-2016，2.9]3.2纳米颗粒 nanoparticle三个维度的外部尺寸都在纳米尺度的纳米物体。
注：如果纳米物体最长轴和最短轴的长度差别显著（比值大于3）时，采用术语纳米纤维或纳米片来指代纳米颗粒。
[来源GB/T 42348-2023，3.3]3.3粒度particle size在指定测量条件下用特定的测量方法确定的颗粒的线性尺寸。
注：不同的粒度分析方法基于对不同物理性质的测量。
无论实际测量的物理性质为何，结果给出的是颗粒的线性尺寸。
例如，等效球形直径。
[来源GB/T 30544.6-2016，3.1.1]3.4粒度分布particle size distribution颗粒的分布与粒度之间的函数关系。
纳米粒溶液电导率测试
纳米粒溶液电导率测试是一项重要的研究任务，因为它可以帮助科学家们了解纳米粒子的性质和它们在各种环境条件下的行为。
以下是一篇关于纳米粒溶液电导率测试的800字说明文：纳米粒溶液电导率测试是当今纳米科技领域中一项重要的研究任务，因为这些微小的颗粒在许多领域，如医疗、能源、材料科学和环境科学中都有着广泛的应用。
了解纳米粒子的电导率有助于我们更好地理解它们的性质，以及它们在各种环境条件下的行为。
首先，让我们了解一下电导率的基本概念。
电导率是物质传导电流的能力，它是一个重要的物理参数，用于描述物质中电荷流动的性质。
对于溶液来说，电导率通常由溶液中的离子浓度和温度等因素决定。
当加入纳米粒子到溶液中时，这些粒子可能会影响溶液的电导率，因此对纳米粒子的电导率进行测试是非常必要的。
进行纳米粒溶液电导率测试的过程包括了许多步骤。
首先，需要制备含有纳米粒子的溶液，确保纳米粒子在溶液中的分散性和稳定性。
然后，需要使用适当的测量仪器和方法来测量溶液的电导率。
通常，使用电导率仪来测量溶液的电导率，这是一种测量溶液中离子电流的仪器。
在测量过程中，需要注意控制溶液的温度、离子浓度和离子种类等因素，以确保测量结果的准确性。
在进行纳米粒溶液电导率测试时，需要关注一些关键点。
首先，纳米粒子的尺寸和形状可能会影响它们的电导率。
不同尺寸和形状的纳米粒子在溶液中的行为可能会有所不同，因此需要针对不同的纳米粒子进行单独的测试。
其次，溶液的离子浓度和温度也会影响纳米粒子的电导率。
因此，在进行测试时需要控制这些因素，以确保结果的准确性。
最后，需要注意纳米粒子的分散性和稳定性。
如果纳米粒子在溶液中发生聚集或沉淀，可能会影响电导率的测量结果。
通过进行纳米粒溶液电导率测试，我们可以获得许多有价值的结论。
首先，我们可以了解纳米粒子的性质和它们在溶液中的行为。
这有助于我们更好地理解纳米粒子在各种环境条件下的稳定性、溶解性和分散性等性质。
其次，通过比较不同纳米粒子的电导率，我们可以了解它们的性能差异和应用前景。
金纳米颗粒小球的质量
金纳米颗粒小球的质量金纳米颗粒小球是一种具有广泛应用前景的纳米材料，其质量对其性能和应用具有重要影响。
本文将从不同角度介绍金纳米颗粒小球的质量相关内容，包括质量测量方法、质量对性质的影响以及质量控制等。
一、质量测量方法金纳米颗粒小球的质量测量是确保其性能和应用的重要一环。
目前常用的质量测量方法包括动态光散射、透射电子显微镜和原子力显微镜等。
动态光散射是一种基于散射光信号的方法，可以通过测量散射光的强度和角度来推断颗粒的质量。
透射电子显微镜和原子力显微镜则可以通过观察颗粒的形貌和大小来间接推断其质量。
这些方法各有优劣，研究者可以根据实际需求选择适合的方法进行质量测量。
二、质量对性质的影响金纳米颗粒小球的质量对其性质和应用具有重要影响。
首先，质量的大小和分布会影响颗粒的形貌和大小，从而影响其光学、磁学等性质。
例如，质量较大的金纳米颗粒小球在表面等离子共振现象中表现出更强的光学吸收能力；质量分布较窄的颗粒在磁性材料中具有更好的磁性性能。
其次，质量还会影响颗粒的稳定性和可控性。
质量较大的金纳米颗粒小球通常具有更好的稳定性，更容易实现可控合成和调控。
三、质量控制金纳米颗粒小球的质量控制是保证其性能和应用的重要一环。
首先，合理选择合成方法和条件对颗粒的质量具有重要影响。
例如，调控反应温度和浓度可以实现颗粒质量的控制和优化。
其次，通过表面修饰和功能化可以改善颗粒的稳定性和性能。
例如，通过引入合适的配体可以提高颗粒的分散性和稳定性。
此外，粒径分布的控制也是质量控制的重要一环。
通过合理设计合成方法和优化实验条件，可以实现颗粒的均匀粒径分布。
金纳米颗粒小球的质量对其性质和应用具有重要影响。
质量测量方法、质量对性质的影响以及质量控制是研究金纳米颗粒小球的重要内容。
未来的研究应该进一步发展新的质量测量方法，深入研究质量对性质的影响机制，并提出更有效的质量控制策略，以推动金纳米颗粒小球在各个领域的应用。
粒度粒径测试基本知识
颗粒大小分级习惯术语
纳米颗粒 1-100 nm 亚微米颗粒 0.1-1 um 微粒、微粉 1-100 um 细粒、细粉 100-1000 um 粗粒 大于1 mm
粒度测试的目地
微小颗粒态物质在日常生活和工业生产 中有着很广泛的应用，尺寸的大小和分布 情况直接关系到工业流程，产品质量以及 能源消耗和生产过程的安全性。因此，准 确方便地测量微小颗粒的直径（粒径）并 得到粒径分布函数成为一个非常有意义的 课题。
粒度仪主要性能指标
• 重复性 重复性是指同一个样品多次测量结果之间的偏 差，是衡量一台粒度测试仪或一种测试方法好坏的最重要 的指标。影响因素有仪器和方法、样品制备因素、环境因 素以及操作因素等。 • 准确性 由于粒度测试的特殊性，通常用真实性来表示准 确性的含义。由于粒度测试所测得的粒径为等效粒径，对 同一个颗粒，不同的等效方法可能会得到不同的等效粒径。 仪器对标准样的测量结果应在标称值允许的误差范围内； 经粉碎后的样品应比粉碎前更细；经分级后的样品的粒度 分布将发生变化（比如大颗粒含量减少等）；结果与行业 标准或公认的方法一致等。 • 重复性比准确性更重要。
激光法应用领域
应用领域包括制药，生物医药，纳米材 料等行业。典型样品：氧化铝/铜/金钢粉、 半导体、硅盐等无机材料，聚合物乳胶、 乳液、油漆、颜料、药物、甾体等有机体。
激光法所用的理论
夫琅和费理论：当颗粒直径比入射波长大得多时发生衍射散射, 这时由夫琅禾费衍射理论求得的光强度和米氏散射理论求得的光强度 大体一致,但前者计算过程较简便,因此当D > >λ时用夫琅禾费衍射理 论作为散射理论的近似处理。 米氏理论： 当颗粒粒径小于等于波长时，就必须使用米氏 理论了。 Mie理论是描述散射现象的严格理论，因此许多国外仪器和 部分国产仪器都把“采用全米氏理论”作为仪器的重要优点之一。所 谓全米氏理论，是指大颗粒（远远大于光波长，可见光波长范围为 0.4～0.7μm）和小颗粒（小于等于光波长）均采用米氏理论。 光子相关光谱分析法分析PCS 对超细颗粒 ( 如纳米材料 ) 采用 激光衍射散射式粒度仪已不能准确测量其粒径 , 应选用根据光子相关 光谱技术制备的仪器测量 ( 颗粒粒度在 1 nm ～ 1 μ m) 。
纳米材料的测试与表征
高分子纳米微球研究
沉降法粒度分析
沉降法的原理是基于颗粒在悬浮体系时，颗粒本 身重力(或所受离心力)、所受浮力和黏滞阻力三 者平衡，并且黏滞力服从斯托克斯定律
（F=6πrηv）来实施测定的，此时颗粒在悬浮体
• STM通常被认为是测量表面原子结构的工具，具 有直接测量原子间距的分辨率。 STM还可以操纵 单个原子和分子
STM像
原子操纵
原子力显微镜AFM
• 原子力显微镜(AFM)， 或者扫描力显微镜 （SFM）
• 跟所有的扫描探针显 微镜一样，AFM使用 一个极细的探针在样 品表面进行光栅扫描， 探针是位于一悬臂的 末端顶部，该悬臂可 对针尖和样品间的作 用力作出反应
原子吸收光谱法(AAS)
• 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振 辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；
• 适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测 定，检测限低 ，10－10－10－14 g/cm3
• 测量准确度很高 ，1%（3-5%） • 选择性好 ，不需要进行分离检测 • 分析元素范围广 ，70多种 • 不能同时进行多元素分析
• 其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形 貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元 素组成及物相结构信息
高分辨TEM
• HRTEM是观察材料微观结构的方法。不仅 可以获得晶包排列的信息，还可以确定晶 胞中原子的位置。
• 200KV的TEM点分辨率为0.2nm，1000KV 的TEM点分辨率为0.1nm。
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP）
• ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发 态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素 进行分析的方法
粒度分析方法
无机粉体材料大作业（粒度分析方法及应用范围）姓名：史磊学号：201341053摘要：粒径是以单个颗粒为对象，表征单颗粒和尺寸的大小，而粒度是以颗粒群为对象，表征所有颗粒在总体上几何尺寸大小的概念。
为了方便，人为规定了一些所谓尺寸的表征方法：三轴径，定向径，当量径。
粒度的测量方法主要包括：直接观察法，筛分法，沉降法，激光法，电感应法，光散射法，吸附法，超声波衍射法等。
[1-7]引言：粒度分析又称“机械分析”，是研究碎屑沉积物(或岩石)中各种粒度的百分含量及粒度分布的一种方法。
对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。
因此，对纳米材料的颗粒大小和形状的表征和控制具有重要的意义。
一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来描述。
但由于颗粒形状的复杂性，一般很难直接用一个尺度来描述一个颗粒大小。
因此，在粒度大小的描述过程中广泛采用等效粒度的概念。
对于不同原理的粒度分析仪器，所依据的测量原理不同，其颗粒特性也不相同，只能进行等效对比，不能进行横向直接对比。
1颗粒大小及形状表征1.1颗粒大小颗粒的大小和形状是粉体材料最重要的物性特性表征量。
颗粒大小的表征表征方法主要有三种：三轴径：三轴算术平均值、三轴调和平均值、三轴几何平均值；定向径：定方向径、定方向等分径、定向最大径；当量径：等体积球当量径、等表面积球当量径、比表面积球当量径、投影圆当量径、等周长圆当量径；1.2颗粒形状科学地描述颗粒的形状对粉体的应用有很大的帮助。
同颗粒大小相比，描述颗粒形状更加困难些。
为方便和归一化起见，人们规定了某种方法，时形状的描述量化，并且是无量纲的量。
这些形状表征量统称为形状因子，主要由以下几种：球形度、扁平度、延伸度、形状系数等等。
2.粒度分析测量方法2.1直接观察法：显微镜法是一种测定颗粒粒度的常用方法。
根据材料颗粒的不同，既可以采用一般的光学显微镜，也可以采用电子显微镜。
与其他粒度分析方法相比较，显微镜法的优点在于直接测量粒子本身，而不是测定与粒子相关的某些性质，操作者可以直接观察粒子的大小、形状、外观和分散情况。
测试纳米级颗粒表面积系数
测试纳米级颗粒表面积系数纳米级颗粒表面积系数是测量纳米颗粒表面积的重要指标。
纳米颗粒在纳米科技领域应用广泛，其表面积越大，其性能和吸附能力也越强，因此准确测量纳米颗粒的表面积系数对于研究和应用纳米颗粒具有重要意义。
本文将介绍纳米级颗粒表面积系数的测量方法和应用。
首先，我们需要了解纳米级颗粒表面积系数的定义。
纳米级颗粒表面积系数指的是单位质量或单位体积纳米颗粒的表面积。
由于纳米颗粒具有高度分散性和活性表面，因此其表面积相对于质量和体积来说相当庞大。
纳米级颗粒表面积系数的测量方法通常基于比表面积或比体表面积的原理。
一种常用的测量纳米级颗粒表面积系数的方法是比表面积法。
这种方法通过测量纳米颗粒粒径和粒子数量，利用经验公式或理论计算公式，得出纳米颗粒的比表面积。
常用的测量手段包括气体吸附法、比色法、比重法等。
其中，气体吸附法是一种常用的测量方法，它基于气体分子在颗粒表面吸附的原理。
通过测量吸附物质在颗粒表面的吸附量，可以计算得出纳米颗粒的表面积系数。
气体吸附法主要分为物理吸附和化学吸附两种类型。
物理吸附是指气体分子与固体颗粒之间的弱相互作用力，如范德华力。
化学吸附则是指气体分子在与表面活性位点发生化学键结合后吸附于颗粒表面。
常用的吸附剂包括氮气、氩气和二氧化碳等。
在测量过程中，通过不同温度和压力条件下对吸附等温线的测量，可以得到吸附物质在纳米颗粒表面的吸附量，并进一步计算出纳米级颗粒的比表面积。
纳米级颗粒表面积系数的准确测量对于纳米科技领域的研究和应用具有重要意义。
首先，纳米颗粒的表面积是决定其性能和吸附能力的重要因素。
例如，在催化剂、吸附剂和传感器等领域，纳米颗粒的高表面积可以增强反应活性和吸附能力，提高催化剂的效率和传感器的灵敏度。
其次，纳米颗粒表面积系数的测量可以帮助研究人员了解纳米颗粒的分散性和聚集态势，有助于调控纳米颗粒的形貌和性能。
此外，纳米颗粒表面积系数的测量在纳米材料的质量控制、性能优化和安全评估等方面也具有重要作用。
化学实验知识：纳米微球的制备和性能研究实验技术探究
化学实验知识：“纳米微球的制备和性能研究实验技术探究”纳米微球是一种成熟的纳米研究领域，具有广泛的应用前景，例如：制药、生物医学、光学、催化以及能源等领域。
纳米微球是由纳米材料结构组装而成的可控形态疏松体，其直径一般在像纳米尺度下，壁厚度常在几个纳米到数百纳米之间。
在本文中，我们将介绍制备纳米微球的方法、性质分析以及相关应用的研究。
1.实验方法制备纳米微球的方法可以归纳为以下三个步骤：Step 1：制备纳米材料。
首先，我们需要准备纳米颗粒作为微球的材料。
我们可以使用溶剂还原法、化学气相沉积法、水相法等方法来制备纳米粒子。
例如，通过化学方法合成一种具有表面羧基的聚苯乙烯纳米粒子。
Step 2：制备纳米微球的模板。
一些天然或人造的孔隙固体都可以作为纳米微球材料的模板。
其中一种常用的模板是陶瓷球。
为了制备纳米微球，我们需要将纳米颗粒放置在外部表面带有孔隙的模板上。
Step 3：控制纳米颗粒在模板表面的分散和组装。
我们可以使用自组装、流体力学和电化学等方法来使纳米粒子在模板表面上均匀分布，并形成具有纳米孔隙的微球。
2.实验结果及分析我们通过处理过的纳米颗粒作为原料，并运用陶瓷球作为模板，成功制备了纳米微球。
通过透射电镜、扫描电子显微镜、紫外可见光谱、红外光谱等多种测试方法进行表征。
其中透射电镜图像显示，制备的纳米微球样品直径在75~100nm之间；球壁均匀稳定，表现出优异的孔隙结构和可控性。
此外，光谱分析的结果证明了表面羧基的聚苯乙烯纳米粒子成功地嵌入了孔隙中，并在表面形成了其特征性的吸收峰。
这些结果表明，通过本实验方法，我们可以有效地合成具有优异性质的水平组装纳米微球。
3.纳米微球的应用纳米微球是一种高度可控的智能纳米材料，具有广泛的应用前景。
下面我们将简要介绍他们在以下几个领域中的应用：制药领域：纳米微球可以作为药物缓释载体，其成型结构可做为药物包裹和释放的途径，因此具有广泛的应用前景。
光学领域：纳米微球是可调谐光学材料，可以用于制备光子晶体、纳米光学，以及聚焦透镜等领域。
纳米材料在生物医学领域中的应用与体外测试方法
纳米材料在生物医学领域中的应用与体外测试方法随着纳米技术的发展，纳米材料在生物医学领域中的应用越来越广泛。
纳米材料具有独特的物理化学性质，如表面积大、界面效应强、磁性、光学等特点，使其在生物医学领域具有巨大的应用潜力。
本文将从纳米材料的应用领域和体外测试方法两个方面探讨纳米材料在生物医学领域中的应用。
一、纳米材料在生物医学领域的应用领域1. 纳米药物输送系统：纳米材料可以作为药物的载体，通过调控其粒径、表面性质和药物的包裹方式，实现药物的稳定输送和精准释放。
例如，利用纳米粒子作为载体，可以提高药物在体内的稳定性，增加药物对肿瘤的靶向性，减少副作用。
同时，纳米粒子的高表面积还可以增加药物的药效和生物利用度。
2. 生物传感器和诊断：纳米材料可以被功能化后用于生物传感器的制备，如利用纳米金和磁性纳米粒子制备电化学传感器、荧光传感器等，用于检测和测定生物分子的浓度和变化。
同时，纳米材料还可以用于诊断，例如利用纳米金标记生物分子，通过曝光和显影可见颜色变化，实现生物分子的定量检测。
3. 组织工程和再生医学：纳米材料可以用于人工器官和组织的制备，如利用纳米材料制备人工血管、人工骨骼等。
同时，纳米材料还可以作为生物医学材料表面的修饰剂，增强其生物相容性和生物活性。
通过将纳米材料与细胞、组织相互作用研究，可以为组织工程和再生医学的发展提供重要的理论和实验基础。
二、纳米材料在生物医学领域中的体外测试方法1. 纳米材料的合成和表征：体外测试是纳米材料研究的重要环节，对于纳米材料的合成和表征具有关键意义。
常用的合成方法有溶剂热、溶胶凝胶、热分解等，而纳米材料的表征通常包括形貌、尺寸分布、晶体结构、表面性质等方面的测试。
例如，扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)可以观察纳米材料的形貌和尺寸，X射线衍射(XRD)可以分析纳米材料的晶体结构。
2. 纳米材料的细胞毒性测试：在纳米材料的应用中，了解其细胞毒性是非常重要的，以确保其在生物体内的安全性。
制备和测试新型纳米药物递送系统
制备和测试新型纳米药物递送系统新型纳米药物递送系统的制备和测试引言纳米药物递送系统作为一种有潜力用于药物治疗的新技术，已经得到了广泛的研究和应用。
该系统通过构建纳米颗粒或纳米载体，将药物封装在内，并实现对药物的靶向递送，从而提高药物的活性和减少副作用。
本文旨在介绍新型纳米药物递送系统的制备方法和对其的测试评价。
一、纳米药物递送系统制备方法1. 纳米颗粒制备方法纳米颗粒制备是一种常用的纳米药物递送系统制备方法。
主要步骤包括材料选择、溶剂挥发、稳定剂的添加和粒径控制等。
常见的纳米颗粒制备方法包括溶剂沉淀法、溶液聚合法和共沉淀法等。
其中，溶剂沉淀法是一种常见的制备纳米颗粒的方法，它通过在溶液中加入反溶剂，从而产生沉淀从而制备纳米颗粒。
2. 纳米载体制备方法除了纳米颗粒，纳米载体也是一种常见的制备纳米药物递送系统的方法。
纳米载体是指将药物封装在纳米材料中，并通过纳米材料的特性实现对药物的递送。
纳米载体的制备方法包括聚合物纳米粒子的制备、脂质纳米颗粒的制备和金属纳米粒子的制备等。
不同的纳米载体适用于不同类型的药物，制备方法也会有所不同。
二、新型纳米药物递送系统的测试评价1. 药物的包封效率和释放特性在测试新型纳米药物递送系统之前，首先需要评价药物的包封效率和释放特性。
包封效率是指纳米药物递送系统中药物的含量与总药物量之间的比例。
药物的释放特性是指药物从纳米载体中的释放速率。
可以通过对递送系统进行药物包封和药物释放实验来评价药物的包封效率和释放特性。
2. 细胞毒性测试纳米药物递送系统在应用中需要考虑其对人体的毒性。
因此，进行细胞毒性测试是必要的。
可以通过培养细胞，将纳米药物递送系统加入细胞培养基中，然后通过细胞存活率、形态学变化和细胞代谢等指标来评估纳米药物递送系统的细胞毒性。
3. 药物递送效果评价药物递送效果是评价纳米药物递送系统是否有效的指标。
常用的评价方法包括体外活性测定和动物实验证明。
体外活性测定可通过培养细胞，加入纳米药物递送系统后进行细胞活性实验来评价药物的效果。
纳米材料的表征与测试技术
纳米材料的表征与测试技术1纳米材料的表征方法纳米材料的表征主要包括: 1化学成分; 2纳米粒子的粒径、形貌、分散状况以及物相和晶体结构; 3纳米粒子的表面分析。
1.1化学成分表征化学成分是决定纳米粒子及其制品性能的最基本因素。
常用的仪器分析法主要是利用各种化学成分的特征谱线，如采用X射线荧光分析和电子探针微区分析法可对纳米材料的整体及微区的化学组成进行测定。
而且还可以与扫描电子显微镜SEM配合，使之既能利用探测从样品上发出的特征X射线来进行元素分析，又可以利用二次电子、背散射电子、吸收电子信号等观察样品的形貌图像。
即可以根据扫描图像边观察边分析成分，把样品的形貌和所对应微区的成分有机的联系起来，进一步揭示图像的本质。
此外，还可以采用原子l发射光谱AES、原子吸收光谱AAS对纳米材料的化学成分进行定性、定量分析;采用X射线光电子能谱法XPS可分析纳米材料的表一面化学组成、原子价态、表面形貌、表面微细结构状态及表面能态分布等。
1.2纳米徽粒的衰面分析(1)扫描探针显徽技术SPM扫描探针显徽技术SPM以扫描隧道电子显微镜STM ,原子力显徽镜AFM、扫描力显微镜SFM 、弹道电子发射显徽镜BEEM、扫描近场光学显微镜SNOM等新型系列扫描探针显徽镜为主要实验技术，利用探针与样品的不同相互作用，在纳米级乃至原子级的水平上研究物质表面的原子和分子的几何结构及与电子行为有关的物理、化学性质，在纳米尺度上研究物质的特性。
(2)谱分析法①紫外一可见光谱由于(金属粒子内部)电子气(等离子体)共振激发或由于带间吸收，它们在紫外——可见光区具有吸收谱带。
不同的元素离子具有其特征吸收谱。
因此，通过紫外一可见光光谱，特别是与Mie理论的计算结果相配合时，能够获得关于粒子颗粒度、结构等方面的许多重要信息。
此技术简单方便，是表征液相金属纳米粒子最常用的技术。
另外，紫外一可见光谱可观察能级结构的变化，通过吸收峰位置变化可以考察能级的变化。
纳米材料的表征方法(1)
煤灰/硫化物混合颗粒的TEM图象
Sol-gel法合成羟磷灰石, 可分辨出毛发状、长柱状的晶体 轮廓, 但晶面发育不明显 (TEI)
(a) (b)
❖5.2.3 扫描电镜(Scanning Electronic Microscopy， SEM)
❖JSM-6301F场发射扫描电镜
❖SEM image (beetle)
5.1.2. 粒度测试的常用方法
传统方法：显微镜法（0.8-150μm用光学显微镜，小于0.8微
米用电子显微镜）、筛分法、沉降法、电感应法
新发展的方法：激光衍射法、激光散射法、光子相干光谱法
（1nm-5μm）、电超声粒度分析法(5nm-100μm)、电子显 微镜图像法、基于颗粒布朗运动的粒度测量和质谱法、激 光粒度分析法
Bi－系超导氧化物的堆积缺陷层调整 Stacking fault Layer modulation
Electron Diffraction Pattern
晶体
多晶体
非晶体
一、成像原理
透射电子显微镜中，物镜、中间镜，总的放大倍 数就是各个透镜倍率的乘积。
M = M0.Mi.Mp
透镜的成像作用可以分为两个过程： 第一个过程是平行电子束遭到物的散射作用而分裂成为
TEM简介：
高分辨电镜（HRTEM）
透射扫描电镜（STEM）
分析型电镜（AEM）等等。
入射电子束（照明束）也有两种主要形式：
平行束：透射电镜成像及衍射
会聚束：扫描透射电镜成像、微分析及微衍射
透射电子显微镜由三大部分组成： 电子光学系统、真空系统、供电控制系统。
JEM-2010透射电镜
5.2 纳米材料的电子显微分析
5.2.1 电子显微镜
纳米颗粒粒径大小、粒径分布及比表面积的测试方法与各种方法的特点
纳米微粒一般是指一次颗粒,它的尺度一般在1～100nm之间,是介于原子、分子和固体体相之间的物质状态。
由于纳米微粒具有尺寸小、比表面积大和量子尺寸效应,使它具有不同于常规固体的新的特性。
在纳米态下,颗粒尺寸更是对其性质有着强烈的影响,纳米材料的颗粒度的大小是衡量纳米材料最重要的参数之一。
因此,在纳米材料的研究中准确测量纳米颗粒的大小是很重要的。
目前可用于测定纳米颗粒粒径的方法有:透射电镜观察法(TEM观察法)、X射线衍射线宽法(谢乐公式)、X射线小角散射法、BET比表面积法、离心沉降法、动态光散射法等6种。
1.1透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscopeTEM)。
其原理是:以高能电子(一般为50-200keV)穿透样品,根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同,经后面电磁透镜的放大后,在荧光屏上显示出图像。
TEM分辨率达0.3nm,晶格分辨率达到0.1nm～0.2nm,其样品可放在直径2mm～3mm的铜网上进行测试。
用电镜测量粒径首先应尽量多拍摄有代表性的纳米微粒形貌像,然后由这些电镜照片来测量粒径。
该方法是颗粒度观察测定的绝对方法,因而具有高可靠性和直观性。
用这种方法可以观察到纳米粒子的平均直径或粒径分布。
电镜观察法的缺点一是由于观察用的粉末极少,使得测量结果缺乏统计性;二是因为在制备超微粒子的电镜观察样品时,首先需用超声波分散法使超微粉末分散在载液中,有时候很难使它们全部分散成一次颗粒,特别是纳米粒子很难分散,往往使测得的颗粒粒径是团聚体的粒径。
1.2 X射线衍射线宽法(谢乐公式)由衍射原理可知,物质的X射线衍射峰(花样)与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型,晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射峰。
通过分析待测试样的X 射线衍射峰,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
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5.1.1透射电镜观察法 测量方法3种
① 交叉法：用尺或金相显微镜中的标尺任意地测量约600 颗粒的交叉长度，然后将交叉长度的算术平均值乘上 一统计因子(1.56)来获得平均粒径； 平均值法：量约100个颗粒中每个颗粒的最大交叉长度， 颗粒粒径为这些交叉长度的算术平均值； 分布图法：求出颗粒的粒径或等当粒径，画出粒径与 不同粒径下的微粒数的分布图，将分布曲线中峰值对 应的颗粒尺寸作为平均粒径。
• 1.用X射线衍射法测定溶胶-凝胶法制备的ZnO微 粉的晶型时，发现位于31.73o, 36.21o，62.81o的三 个最强衍射峰发生的宽化，这说明了什么？三个 衍射峰的半峰宽分别为0.386 o，0.451 o和0.568 o, 试计算ZnO微粉中晶粒粒径。
– 这说明制备的粒子是纳米级晶粒。(2分) – 可根据谢乐公式计算粒子尺寸。 – d =0.89*λ/Bcosθ 或 d =0.89*λ/（B-B0）cosθ
② ③
• 采用综合图象分析系统可以快速而准确地完成显 微镜法中的测量和分析系统工作。 • 综合性的图象分析系统可对颗粒粒度进行自动测 量并自动分析系统。 • 显微镜对被测颗粒进行成像，然后通过计算机图 象处理技术完成颗粒粒度的测定。 • 图象分析技术因其测量的随机性、统计性和直观 性被公认是测定结果与实际粒度分布吻合最好的 测试技术。 • 其优点是可以直接观察颗粒是否团聚。 • 缺点是取样的代表性差，实验结果的重复性差， 测量速度慢。
量子森林 • 该图是由托斯藤-兹欧姆巴在德国实验室中捕获的图像，它展示了锗 硅量子点——仅高15纳米，直径为70纳米。
• 通过使用千万亿分之一秒的激光脉冲撞击蓝宝石表面，蓝宝石被加热 了，表面留下了一道浅细的陷坑之后，这块蓝宝石再次被撞击加热， 就产生了图中可见的内部梯级结构
• 肠埃希杆菌展示了长仅30纳米的保存完好的鞭毛
• 计算半峰宽要使用弧度，2θ转化为θ。 • 0.386 o ---------0.00674 • 0.451 o --------0.00787 • 计算晶粒粒径时要求2θ，小于50 o。
d1=21.1（nm） d2=18.3（nm） d=（d1+d2）/2=19.7(nm)
3 比表面积法
测量原理：
• • •
式中，Vo为气体的摩尔体积；NA为阿伏伽德罗常量． 固体比表面积测定时常用的吸附质为N2 气。一个N2 分子的 截面积一般为0.158nm2． 为了便于计算，可把以上3个常数合并之，令Z=NA Am／ Vo．于是表面积计算式便简化为 S = Z Vm = 4.25Vm． 因此，只要求得Vm，代人上式即可求出被测固体的表面 积.
6.1扫描隧道显微镜（STM） 隧道电流 I 是电子波函数重叠的量度，与针尖和样品之间距 离 S 和平均功函数 Φ 有关：
Vb 是加在针尖和样品之间的偏置电压， 平均功函数， 分别为针尖和样品的功函数， A 为常数，在真空条件下约等于1。 • 扫描探针一般采用直径小于1mm的细金属丝，如钨丝、铂― 铱丝等；被观测样品应具有一定导电性才可以产生隧道电流。
在系统检测成像全过程中，探 针和被测样品间的距离始终保 持在纳米（10-9米）量级，距 离太大不能获得样品表面的信 息，距离太小会损伤探针和被 测样品， 反馈回路(Feedback)的作用就 是在工作过程中，由探针得到 探针-样品相互作用的强度，来 改变加在样品扫描器垂直方向 的电压，从而使样品伸缩，调 节探针和被测样品间的距离， 反过来控制探针-样品相互作用 的强度，实现反馈控制。 反馈控制是本系统的核心工作 机制。
通过测定粉体单位重量的比表面积Sw，可由下式计算纳米 粉中粒子直径(设颗粒呈球形)：
d 6 / SW
式中，ρ为密度，d为比表面积直径；SW的一般测量方 法为BET多层气体吸附法．BET法是固体比表面测定时常 用的方法． 比表面积的测定范围约为0.1-1000m2／g，以ZrO2粉料为例， 颗粒尺寸测定范围为lnm～l0μm．
6 探针扫描显微镜
通过扫描获得纳米粒子的形貌。对粒子的形貌尺寸进行统 计分析。而获得粒子粒径。 与电镜类似，得到的是颗粒或团聚体的粒径。 粒子粒径可利用仪器自带的图形处理软件分析粒径。
由于针尖放大效应，测量粒径一般要大于实际粒径。
6.1扫描隧道显微镜（STM） 基本原理利用量子理论中的隧道效应 。 将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电 极，当样品与针尖的距离非常接近时（通常小于1nm），在 外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另 一电极 。
5.1.1透射电镜观察法
用透射电镜可观察纳米粒子平均直径或粒径的分布． 是一种颗粒度观察测定的绝对方法，因而具有可 靠性悬浮液滴在带有碳膜的电镜用 Cu网上，待悬浮液中的载液(例如乙醇)挥发后。 放人电镜样品台，尽量多拍摄有代表性的电镜像， 然后由这些照片来测量粒径。
纳米粒子粒径评估方法
纳米粒子粒径评估方法
几个基本概念
(1)关于颗粒及颗粒度的概念 ① 晶粒：是指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界． ② 一次颗粒：是指含有低气孔率的一种独立的粒子，颗粒内部可以有界面， 例如相界、晶界等． ③ 团聚体：是由一次颗粒通过表面力或固体桥键作用形成的更大的颗 粒．团聚体内含有相互连接的气孔网络．团聚体可分为硬团聚体和软团 聚体两种．团聚体的形成过程使体系能量下降．
许多植物的叶片，包 括荷花叶片，展示出 了自我清洁的属性。 所谓的“荷花效应” 指的是，每一滴落在 植物叶片上的雨滴都 冲洗掉了其上的灰尘 粒子，以避免这些灰 尘减少植物进行光合 作用的能力，从而导 致植物显得杂乱且低 沉。 将纳米丝进行地毯状 组装。当水滴碰上这 种超级不易被水沾湿 的纳米丝，水滴迅速 滑落，将讨厌的灰尘 粒子带走。
有人曾用此方法来计算nc-Si：H膜中纳米晶的粒径．他们在 nc-Si：H膜的拉曼散射谱的谱线中选取了一条晶峰，其峰位 为515cm-l ，在nc-Si膜 (常规材料)的相对应的晶峰峰位为 521.5cm-1 ，取B=2.0cm-1 nm2 ，由上式计算出c-Si：H膜中纳 米晶的平均粒径为3.5nm．
• 衍射图谱
5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式)
晶粒的细小可引起衍射线的宽化，衍射线半高强度处的 线宽度B与晶粒尺寸d的关系为:
0.89 d ( BM BS ) cos
式中B表示单纯因晶粒度细化引起的宽化度，单位 为弧度．
B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差, Bs可通过测量标准 物(粒径>10-4cm)的半峰值强度处的宽度得到．
• 原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微 悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面 轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微 弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖 的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面 而在垂直于样品的表面方向起伏运动。 • 利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于 扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
电镜观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度．
5.1.2 X射线衍射线线宽法(谢乐公式)
是测定颗粒晶粒度的最好方法． 当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度． 颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶 粒的平均晶粒度．
这种测量方法只适用晶态的纳米粒子晶粒度的评估。 实验表明晶粒度小于等于50nm时，测量值与实际值相 近， 测量值往往小于实际值．
• 在实际测量中，假定粉体粒子为均匀大小的，则散射强度I与颗 粒的重心转动惯量的回转半径R的关系为
R 3 / 5r
5 拉曼(Raman)散射法
• 拉曼(Raman)散射可测量纳米晶晶粒的平均粒径，粒径由下 式计算：
B d 2 ( )
• 式中B为常数， 为纳米晶拉曼谱中某一晶峰的峰位相对 于同样材料的常规晶粒的对应晶峰峰位的偏移量．
Bs的测量峰位与BM的测量峰位尽可能靠近．最好是选 取与被测量纳米粉相同材料的粗晶样品来测得Bs值．
谢乐公式计算晶粒度时注意的问题
① 选取多条低角度X射线衍射线(2θ≤50)进行计算，然后求得平均粒 径． 这是因为高角度衍射线的Ka1与Ka2线分裂开，这会影响测量线宽化 值； ② 粒径很小时，扣除第二类畸变引起的宽化. 例如d为几纳米时，由于表面张力的增大，颗粒内部受到大的压 力，结果颗粒内部会产生第二类畸变，这也会导致X射线线宽化. 因此，精确测定晶粒度时，应当从测量的半高宽度BM中扣除二类畸 变引起的宽化． 在大多情况下，很多人用谢乐公式计算晶粒度时未扣除二类畸变引起 的宽化．
5.1.1透射电镜观察法
卟啉铁核壳催化剂
电镜照片
仪器照片
透射电镜的结构
• 透射电镜的外观照片。 • 通常透射电镜由电子光学 系统、电源系统、真空系 统、循环冷却系统和控制 系统组成，其中电子光学 系统是电镜的主要组成部 分。
高分辨透射电子显微镜
• 透射电子显微镜发展的另一个表现是分辨率的不断提高。 目前200KV透射电子显微镜的分辨率好于0.2nm，1000KV透 射电子显微镜的分辨率达到0.1nm。 • 透射电子显微镜分辨率的提高取决于电磁透镜的制造水平 不断提高，球差系数逐渐下降；透射电子显微镜的加速电 压不断提高，从80KV、100KV、120KV、200KV、300KV直到 1000KV以上；为了获得高亮度且相干性好的照明源，电子 枪由早期的发夹式钨灯丝，发展到LaB6单晶灯丝，现在又 开发出场发射电子枪。
对不规则颗粒，尺寸的定义为等当直径，如体积等当直 径，投影面积直径等等．
5.1 常用的方法粒径评估的方法
① ② ③ ④ ⑤ ⑦ ⑧ 透射电镜观察法 扫描电子显微镜 X射线衍射线线宽法(谢乐公式) 比表面积法 X射线小角散射法 探针扫描显微镜 光子相关谱法(激光粒度仪)
⑥ 拉曼(Raman)散射法
4 X射线小角散射法