X射线衍射方法残余应力的原理与方法stress

X射线衍射方法残余应力的原理与方法stress
X射线衍射方法残余应力的原理与方法stress

X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法

什么是残余应力?

外力撤除后在材料内部残留的应力就是残余应力。但是,习惯上将残余应力分为微观应力和宏观应力。两种应力在X射线衍射谱中的表现是不相同的。微观应力是指晶粒内部残留的应力,它的存在,使衍射峰变宽。这种变宽通常与因为晶粒细化引起的衍射峰变宽混杂在一起,两者形成卷积。通过测量衍射峰的宽化,并采用近似函数法或傅立叶变换方法来求得微观应力的大小。宏观应力是指存在于多个晶体尺度范围内的应力,相对于微观应力存在的范围而视为宏观上存在的应力。一般情况下,残余应力的术语就是指在宏观上存在的这种应力。宏观残余应力(以下称残余应力)在X射线衍射谱上的表现是使峰位漂移。当存在压应力时,晶面间距变小,因此,衍射峰向高度度偏移,反之,当存在拉应力时,晶面间的距离被拉大,导致衍射峰位向低角度位移。通过测量样品衍峰的位移情况,可以求得残余应力。

X射线衍射法测量残余应力的发展

X射线衍射法是一种无损性的测试方法,因此,对于测试脆性和不透明材料的残余应力是最常用的方法。20世纪初,人们就已经开始利用X射线来测定晶体的应力。后来日本成功设计出的X射线应力测定仪,对于残余应力测试技术的发展作了巨大贡献。1961年德国的

E.Mchearauch提出了X射线应力测定的sin2ψ法,使应力测定的实际应用向前推进了一大步。

X射线衍射法测量残余应力的基本原理

X射线衍射测量残余内应力的基本原理是以测量衍射线位移作为

原始数据,所测得的结果实际上是残余应变,而残余应力是通过虎克定律由残余应变计算得到的。

其基本原理是:当试样中存在残余应力时,晶面间距将发生变化,发生布拉格衍射时,产生的衍射峰也将随之移动,而且移动距离的大小与应力大小相关。用波长λ的X射线,先后数次以不同的入射角照射到试样上,测出相应的衍射角2θ,求出2θ对sin2ψ的斜率M,便可算出应力σψ。

X射线衍射方法主要是测试沿试样表面某一方向上的内应力σφ。为此需利用弹性力学理论求出σφ的表达式。由于X射线对试样的穿入能力有限,只能探测试样的表层应力,这种表层应力分布可视为二维应力状态,其垂直试样的主应力σ3≈0(该方向的主应变ε3≠0)。由此,可求得与试样表面法向成Ψ角的应变εΨ的表达式为:

εψ的量值可以用衍射晶面间距的相对变化来表示,且与衍射峰位移联系起来,即:

式中θ0为无应力试样衍射峰的布拉格角,θψ为有应力试样衍射峰位的布拉格角。

于是将上式代入并求偏导,可得:

其中K是只与材料本质、选定衍射面HKL有关的常数,当测量的样品是同一种材料,而且选定的衍射面指数相同时,K为定值,称为应力系数。M是(2θ)-sin2ψ直线的斜率,对同一衍射面HKL,选择一组ψ值(0°、15°、30°、45°),测量相应的(2θ)ψ以(2θ)-sin2ψ作图,并以最小二乘法求得斜率M,就可计算出应力(φ是试样平面内选定主应力方向后,测得的应力与主应力方向的夹角)。由于K<0,所以,M<0时,为拉应力,M>0时为压应力,而M=0时无应力存在。

样品与衍射面之间的关系

衍射仪测量测量残余应力的实验方法

在使用衍射仪测量应力时,试样与探测器θ-2θ关系联动,属于固定ψ法。通常ψ=0°、15°、30°、45°测量数次。

当ψ=0时,与常规使用衍射仪的方法一样,将探测器(记数管)放在理论算出的衍射角2θ处,此时入射线及衍射线相对于样品表面法线呈对称放射配置。然后使试样与探测器按θ-2θ联动。在2θ处附近扫描得出指定的HKL衍射线的图谱。当ψ≠0时,将衍射仪测角台的θ-2θ联动分开。先使样品顺时针转过一个规定的ψ角后,而探测器仍处于0。然后联上θ-2θ联动装置在2θ处附近进行扫描,得出同一条HKL衍射线的图谱。

最后,作2θ-sin2ψ的关系直线,最后按应力表达σ=K·Δ2θ/Δsin2ψ= K·M求出应力值。

残余内应力测试的数据处理

由布拉格方程可知,θ角越大则起测量误差引起△d/d的误差越小,所以测量时应选择θ角尽量大于衍射面。取n个不同的ψ角度进行测定2θi(i=1,2,3,…,n),一般可取n≥4,采用数据处理程序对2θΨ的原始测量数据进行扣除背底、数值平滑、确定峰位等处理后给出2θΨ值然后采用最小二乘法将各数据点回归成直线:设直线方程为:其中:

式中n为测量数据的数目。由上式可求得直线斜率M。

查出弹性模量E和泊松比υ,可计算出K,然后由σ=K·M求出应力。

衍射峰位的确定

在宏观应力测量中,准确地测定衍射峰的位置是极其重要的。常用的定峰方法很多,如半高宽法、1/8高度法、峰顶法、切线法等,三点抛物线拟合定峰法等。

最常用的是三点抛物线法,这是一种较为精确而不过于繁杂的定峰位法。即:在衍射峰顶附近取以等角度间隔Δ2θ分开的三个数据点,求得其抛物线顶点。

利用MDI Jade,确定峰位的方法很多。寻峰是最简单的峰位确定方法,寻峰报告中显示了衍射峰的峰位、强度等相关的数据;计算峰面积命令也不失为一种好的方法,峰位精确性应在寻峰方法之上;第三种方法就是对峰进行拟合,通常采用抛物线拟合方法(Jade中有多种函数拟合法,详见《X射线衍射数据软件JADE的中文操作手册》,拟合时不需要扣除背景和Kα2,Jade会自动扣除其影响,但需要适当平滑。

另外,JADE6.5中有应力计算功能,但发现JADE5无此功能,但可以进行峰的拟合。

其它软件也可以完成峰的拟合,计算出峰的位置。

用X射线法测定应力中存在的问题

在平面应力的假定下,由2θ-sin2ψ直线的斜率来求测宏观应力,

是常规的应力测定方法。但在测量中往往发现其2θ-sin2ψ关系偏离线性,呈曲线、分裂或波动现象,这表明在材料中存在应力梯度、垂直表面的切应力或织构。“ψ分裂”是指在ψ和-ψ方向测定得到不同的2θ(ε)值,使2θ-sin2ψ曲线分成两支。我们知道,这是垂直于表面的切应力σ13、σ23≠0的结果。对此问题的粗略处理是取±ψ测量值的平均,计算平均的应力值。在应力的X射线测定中,还可能存在2θ-sin2ψ关系的“振荡”现象,表明材料中存在明显的织构。在实验过程中可选用高衍射角,低对称性的高指数衍射面衍射线,这样的衍射线较少受织构的影响。

残余应力测量实验方法的发展

X射线的穿透深度较小,只能测量材料表面的残余应力,如果需要测量材料内部的残余应力,或者测量应力梯度,其能力则显得有些苍白。通常解决的办法是需要采用剥层法。即对样品逐层剥离,测量每层表面的应力,然后采用一定的算法扣除因为剥层造成的应力松弛,换算成各层真实的应力。

近年来,有人采用中子衍射法和同步辐射X射线透过法来测量材料深度的残余应力。

中子衍射法是一种测量结构内部应力的常用方法。中子衍射法以中子流为入射束,照射试样,当晶面符合布拉格条件时,产生衍射,得到衍射峰。该方法的原理与普通X射线衍射方法类似,也是根据衍射峰位置的变化,求出应力。但与普通X射线衍射法相比,中子衍射法利用中子能穿透试样较大深度的特性,可以测得样品内部残余应力,且适于对大块试样进行测定。因此,中子衍射法对测定样品内部平均残余应力具有很大的优越性。

因为同步辐射X射线的强度高可以透过样品,国外已有学者采用透过法测量金刚石与硬质合金复合层的内部残余应力。

残余应力计算软件的使用

1 数据测量

先对样品作一个70-140°范围内的扫描,观察样品的衍射峰情况,选择一个强度较高,不漫散,衍射面指数较高的衍射峰作为研究对象峰。按照残余应力测量的要求,设置不同的ψ(0°,15°,30°,45°)角,以慢速扫描方式测量不同ψ角下的单峰衍射谱。每个ψ角的测量数据保存为一个文件,如00,10,20,30,40等。

值得注意的是,通常高角度衍射峰都是很漫散的,对精确地确定峰位有困难,但是,如果所选衍射峰的角度太低,在ψ=45°时,可能不出现衍射峰或者峰强极低而漫散,同样带来计算误差。这时只能选择ψ较小的数据,如ψ=0°,10°,20°,30°,40°)并且尽量地多选择几个ψ角来测量,使实验数据更加密集,减小实验误差,还有就是选择ψ角时,

尽量使sin2ψ取点均匀而不是选择ψ的取值均匀,因为ψ-sin2ψ不呈线性关系。

2 确定峰位

本软件可以接受多种方式计算出来的拟射峰位数据。如键盘输入,读拟合文件等。

3 输入峰位

打开软件,输入峰位数据。

4 计算sin2ψ

根据测量使用的ψ角,重新计算窗口中的sin2ψ

5 绘图-计算M、标注

按窗口中的按钮排列顺序,先绘图,然后计算直线斜率M,如果需要,也可以标注数据。

6 计算应力

先要根据材料不同,查阅文献,获得所测物相的弹性模量和泊松比并输入到窗口中相应的文本框中。

按下计算应力,应力常数K值、应力值就显示在窗口中的文本框中。

7 保存

“保存结果”——保存结果为文本文件。“保存图象”——保存结果为图片文件。

X射线衍射分析法原理概述

第十四章 X射线衍射分析法 14.1概述 X射线衍射法是一种研究晶体结构的分析方法,而不是直接研究试样内含有元素的种类及含量的方法。当X射线照射晶态结构时,将受到晶体点阵排列的不同原子或分子所衍射。X射线照射两个晶面距为d的晶面时,受到晶面的反射,两束反射X光程差2dsinθ是入射波长的整数倍时,即 2dsinθ=nλ (n为整数) 两束光的相位一致,发生相长干涉,这种干涉现象称为衍射,晶体对X 射线的这种折射规则称为布拉格规则。θ称为衍射角(入射或衍射X射线与晶面间夹角)。n相当于相干波之间的位相差,n=1,2…时各称0级、1级、2级……衍射线。反射级次不清楚时,均以n=1求d。晶面间距一般为物质的特有参数,对一个物质若能测定数个d及与其相对应的衍射线的相对强度,则能对物质进行鉴定。 X射线衍射分析方法在材料分析与研究工作中具有广泛的用途。在此主要介绍其在物相分析等方面的应用。 14.1.1 物相定性分析 1.基本原理 组成物质的各种相都具有各自特定的晶体结构(点阵类型、晶胞形状与大小及各自的结构基元等),因而具有各自的X射线衍射花样特征(衍射线位置与强度)。对于多相物质,其衍射花样则由其各组成相的衍射花样简单叠加而成。由此可知,物质的X射线衍射花样特征就是分析物质相组成的“指纹脚印”。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化(1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”,由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”,称PDF卡片),将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,这就是物相定性分析的基本原理与方法。 2.物相定性分析的基本步骤 (1) 制备待分析物质样品,用衍射仪获得样品衍射花样。 (2) 确定各衍射线条d值及相对强度I/I1值(Il为最强线强度)。 (3) 检索PDF卡片。 PDF卡片检索有三种方式: 1)检索纸纸卡片 物相均为未知时,使用数值索引。将各线条d值按强度递减顺序排列;按三强线条d1、d2、d3的d—I/I1数据查数值索引;查到吻合的条目后,核对八强线的d—I/I1值;当八强线基本符合时,则按卡片编号取出PDF卡片。若按d1、d2、d3顺序查找不到相应条目,则可将d1、d2、d3按不同顺序排列查找。查找索引时,d值可有一定误差范围:一般允许

X射线衍射仪的原理

X射线是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X 射线的波长和晶体内部原子间的距离(10-8cm)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体

时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布喇格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布喇格定律: 2d sinθ=nλ 式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。 当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时(图1),在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布喇格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布喇格条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法(图2a)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中(图2b)所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布喇格条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。

x射线衍射仪原理

x射线衍射仪原理及应用 课程名称材料分析测试技术 系别金属材料工程系 专业金属材料工程 班级材料**** 姓名______ * *_ 学号******** 化学工程与现代材料学院制

x射线衍射仪原理及应用 基本原理: x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子,在劳厄发现的基础上,不仅成功的测定了NaCl,KCl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。 基本特征: X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料,由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰 基本构成: 1,高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

X射线衍射仪工作原理

X射线衍射仪工作原理-标准化文件发布号:(9556-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII

一 X射线衍射仪工作原理 X射线是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力。对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。 特征X射线是一种波长很短(约为20~0.06nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W. H. Bragg, W. .L Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律: θn λ 2, sin d= 式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。 二,X射线衍射的应用 1、当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后,利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型; 2、利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础,测定衍射线的强度,就可进一步确定晶胞内原子的排布。 3、而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件,故选用连续X射线束。再把结构已知晶体(称为分析晶体)用来作测定,则在获得其衍射线方向θ后,便可计算X射线的波长λ,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分 4、X射线衍射在金属学中的应用: X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 (1)物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较,以确定材料中存在的物相;定量分析则根据衍射花样的强度,确定待测材料中各相的比例含量。 (2)精密测定点阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数,从而可确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。

X射线衍射分析原理及其应用

X射线衍射分析原理及其应用 X射线及XRD 1.1 X射线 是由高能电子的减速运动或原子内层轨道电子的跃迁产生的短波电磁辐射。X射线的波长在10-6 ~10nm,在X射线光谱法中常用波长在0.01~2.5nm范围内。 1.2 X射线的产生途径有四种 1)高能电子束轰击金属靶即在一个X射线管中,固体阴极被加热产生大量电子,这些电子在高达100KV的电压下被加速,向金属阳极轰击,在碰撞过程中,电子束的一部分能量转化为X射线; 2)将物质用初级X射线照射以产生二级射线—X射线荧光; 3)利用放射性同位素衰败过程产生的发射,人工放射性同位素为为某些分析应用提供了非常方便的单能量辐射源; 4)从同步加速器辐射源获得。 1.3 X射线的吸收 当一束X射线穿过有一定厚度的物质时,其光强和能量会因吸收和散射而显著减小。物质的原子序数越大,它对X射线的阻挡能力越大,X射线波长越长,即能量越低,越容易被吸收[1] 。 1.4 XRD X射线衍射分析(XRD)是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在

某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。X射线衍射法是目前测定晶体结构的重要手段,应用极其广泛。在实际的应用中将该分析方法分3为多晶粉末法和单晶衍射法。多晶粉末法常用来测定立方晶系的晶体结构点阵形式、晶胞参数及简单结构的原子坐标,还可以对固体式样进行物相分析等。 衍射X射线满足布拉格(W.L.Bragg)方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射线的长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。X射线束入射到样品表面后产生衍射,检测器收集衍射X射线信息。当入射波长λ、样品与X射线束夹角θ及样品晶面间距d满足布拉格公式时,检测器可以检测到最强的信息。因此采集入射和衍射X射线的角度信息及强度分布,可以获得晶面点阵类型、点阵常数、晶体取向、缺陷和应力等一系列有关材料结构信息[2],确定点阵参数的主要方法是多晶X射线衍射法[3]。 二、X射线衍射仪的结构 分析物质X射线衍射的仪器,形式多种多样,用途各异,但仪器构成皆如下图所示,其硬件主要有X射线光源、衍射信号检测系统及数据处理和打印图谱系统等几部分构成。 图1.X射线衍射仪

X射线衍射分析原理及其应用

X射线衍射分析 摘要: X射线衍射分析是一种重要的晶体结构和物相分析技术,广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。本文简要介绍X射线衍射原理,X射线衍射仪器的结构、原理,及其在地质学、医学等自然科学领域中的应用。 前言: 1895年伦琴发现X射线,又称伦琴射线。德国科学家劳厄于1912年发现

了X射线衍射现象,并推导出劳厄晶体衍射公式。随后,英国布拉格父子又将此衍射关系用简单的布拉格方程表示出来。到上世纪四、五十年代,X射线衍射的原理、方法及在其他各方面的应用逐渐建立。在各种测量方法中,X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。X射线衍射技术可以探究晶体存在的普遍性和特殊性能,使得其在冶金、石油、岩石矿物、科研、航空航天、材料生产等领域的被广泛应用。 关键词:方法,衍射,原理,应用 X射线衍射仪的原理 1.X射线衍射原理 当X射线沿某方向入射某一晶体的时候,晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉。当每两个相邻波源在某一方向的光程差等于波长λ的整数倍时,它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强,这种波的加强叫做衍射,相应的方向叫做衍射方向,在衍射方向前进的波叫做衍射波。光程差为0的衍射叫零级衍射,光程差为λ的衍射叫一级衍射,光程差为nλ的衍射叫n级衍射。n不同,衍射方向的也不同。 由于常用的X射线波长约在2.5A~0.5A之间,与晶体中的原子间距(1A)数量级相同,因此可以用晶体作为X射线的衍射光栅,这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。 在晶体的点阵结构中,具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果,决定了X射线在晶体中衍射的方向,所以通过对衍射方向的测定,可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。 晶体结构=点阵+结构基元,点阵又包括直线点阵,平面点阵和空间点阵。在x 射线作用下晶体的散射线来自若干层原子面,除同一层原子面的散射线互相干涉外,各原子面的散射线之间还要互相干涉。 光栅衍射 当光程差(BD+BF)=2dsinθ等于波长的整数倍nλ时,相邻原子面散射波干涉加强,即干涉加强条件为: 2dsinθ=nλ 一、X射线衍射法

X射线衍射的基本原理

三.X 射线衍射的基本原理 3.1 Bragg 公式 晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平面点阵,两相邻点阵平面的间距为d hkl 。晶体的外形中每个晶面都和一族平面点阵平行。 当X 射线照射到晶体上时,每个平面点阵都对X 射线射产生散射。取晶体中任一相邻晶面P 1和P 2,如图3.1所示。两晶面的间距为d ,当入射X 射线照射到此晶面上时,入射角为θ,散射X 射线的散射角也同样是θ。这两个晶面产生的光程差是: θsin 2d OB AO =+=? 3.1 当光程差为波长λ 的整数倍时,散射的X 射线将相互加强,即衍射: λθn d hkl =sin 2 3.2 上式就是著名的Bragg 公式。也就是说,X 射线照射到晶体上,当满足Bragg 公式就产生衍射。式中:n 为任意正整数,称为衍射级数。入射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹角为2θ(衍射角)。为此,在X 射线衍射的谱图上,横坐标都用2θ 表示。 图3.1 晶体对X 射线的衍射 由Bragg 公式表明:d hkl 与θ 成反比关系,晶面间距越大,衍射角越小。晶面间距的变化直接反映了晶胞的尺寸和形状。每一种结晶物质,都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞大小等。晶体的衍射峰的数目、位置和强度,如同人的指纹一样,是每种物质的特征。尽管物质的种类有成千上万,但几乎没有两种衍射谱图完全相同的物质,由此可以对物质进行物相的定性分析。

3.2 物相分析 物相的定义是物质存在的状态,如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。除了单质元素构成的物质如铜、银等以外,X射线衍射分析的是物相(或化合物),而不是元素成分。 对于未知试样,为了了解和确定哪些物相时,需要定性的物相分析。 正如前述,晶体粉末衍射谱图,如人的指纹一样,有它本身晶体结构特征所决定。因而,国际上有一个组织——粉末衍射标准联合会(JCPDS)后改名为JCPDS-衍射数据国际中心专门负责收集、校订、编辑和发行粉末衍射卡片(PDF)的工作。自1941年以来,共发行衍射卡片近20万个。为了使大量的卡片方便进行人工物相鉴定,还出版了对这些卡片进行检索的索引。PDF卡片的标准形式如图3.2所示,对应此图编号的内容说明如表3.1所示。 图 图3.2 PDF卡片的标准形式 每一张卡片上不一定包括表3.1所述的所有内容,但有效数据都将一一列出。 物相分析的方法就是将未知试样与标准卡片上数据进行对比,由此来确定物相。先测试未知试样,然后按图3.3所示的步骤从PDF索引中查找。找出该物相的卡片号后,按卡片号查该物相的卡片,仔细核对后再判定该物相。

X射线衍射分析

X射线衍射分析 1 实验目的 1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的; 2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别; 3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。 2 实验原理 1、晶体化学基本概念 晶体的基本特点与概念:①质点(结构单元)沿三维空间周期性排列(晶体定义),并有对称性。②空间点阵:实际晶体中的几何点,其所处几何环境和物质环境均同,这些“点集”称空间点阵。 ③晶体结构=空间点阵+结构单元。非晶部分主要为无定形态区域,其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。 对于大多数晶体化合物来说,其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响,晶格易发生畸变。分子链段的排列与缠绕受结晶条件的影响易发生改变。晶体的形成过程可分为以下几步:初级成核、分子链段的 图1 14种Bravais 点阵 表面延伸、链 松弛、链的重吸收 页脚内容1

结晶、表面成核、分子间成核、晶体生长、晶体生长完善。Bravais提出了点阵空间这一概念,将其解释为点阵中选取能反映空间点阵周期性与对称性的单胞,并要求单胞相等棱与角数最多。满足上述条件棱间直角最多,同时体积最小。1848年Bravais证明只有14种点阵。 晶体内分子的排列方式使晶体具有不同的晶型。通常在结晶完成后的晶体中,不止含有一种晶型的晶体,因此为多晶化合物。反之,若严格控制结晶条件可得单一晶型的晶体,则为单晶。 2、X衍射的测试基本目的与原理 X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向。衍射方向取决于晶体的周期或晶胞的大小,衍射强度是由晶胞中各个原子及其位置决定的。由倒易点阵概念导入X射线衍射理论, 倒易点落在Ewald 球上是产生衍射必要条件。 1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示: θn λ d= 2 sin 式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。 X 射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质结构表征,以性能为导向研制与开发新材料,宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。其主要分 页脚内容2

X射线衍射仪工作原理

一X射线衍射仪工作原理 X射线是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力。对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。 特征X射线是一种波长很短(约为20~0.06nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X 射线的波长和晶体内部原子间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W. H. Bragg, W. .L Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律: θn λ 2, sin d= 式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。 二,X射线衍射的应用 1、当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后,利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型; 2、利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础,测定衍射线的强度,就可进一步确定晶胞内原子的排布。 3、而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件,故选用连续X射线束。再把结构已知晶体(称为分析晶体)用来作测定,则在获得其衍射线方向θ后,便可计算X射线的波长λ,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分 4、X射线衍射在金属学中的应用: X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 (1)物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较,以确定材料中存在的物相;定量分析则根据衍射花样的强度,确定待测材料中各相的比例含量。(2)精密测定点阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数,从而可确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 (3)取向分析包括测定单晶取向和多晶的结构(如择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。

x射线衍射仪原理

标准实用 x射线衍射仪原理及应用 课程名称材料分析测试技术 系别金属材料工程系 专业金属材料工程 班级材料**** 姓名______ * *_ 学号********

化学工程与现代材料学院制

x射线衍射仪原理及应用 基本原理: x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子,在劳厄发现的基础上,不仅成功的测定了NaCl,KCl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。 基本特征: X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在XRD 图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料,由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰 基本构成:

1,高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 X射线管利用高速电子撞击金属靶面产生X射线的真空电子器件,又称X光管。分为充气管和真空管两类。1895 年W.K.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了X射线。克鲁克斯管就是最早的充气X射线管,其功率小、寿命短、控制困难,现已很少应用。1913年W.D.库利吉发明了真空X射线管。管内真空度不低于10-4帕。阴极为直热式螺旋钨丝,阳极为铜块端面镶嵌的金属靶。阴极发射出的电子经数万至数十万伏高压加速后撞击靶面产生X射线。以后经过许多改进,至今仍在应用。现代出现一种在阳极靶面与阴极之间装有控制栅极的X 射线管,在控制栅上施加脉冲调制,以控制X射线的输出和调整定时重复曝光。X射线管用于医学诊断、治疗、零件的无损检测,物质结构分析、光谱分析、科学研究等方面。X射线对人体有害,使用时须采取防护措施。 简单的说,它包括四个部分: (1).产生电子的阴极,一般是螺旋形状的钨丝,加热后可以发射电子。 (2).阳极靶,它用来吸收阴极电子,通过这些高速电子的撞击,产生X射线(X射线的产生原理~你应该知道吧?赘述),撞击会产生大量热(主要的能

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