手机射频性能测试报告记录

手机射频性能测试报告记录
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技术文件
技术文件名称：ZTEA300GSM双频数字移动电话机
射频性能测试报告
技术文件编号：
版本：
共11 页
(包括封面)
拟制张惠德2002/11/12
审核
会签
标准化
批准
深圳市中兴通讯股份有限公司
目录
1 测试任务名称及内容 (2)
1.1 任务名称 (2)
1.2 测试任务版本情况 (2)
1.2.1 主板版本和测试状态 (2)
1.2.2 上次测试任务版本及遗留问题 (2)
1.3 测试目的 (2)
1.4 测试依据 (2)
1.5 测试内容和要求 (3)
2 测试环境与测试样机 (4)
2.1 测试环境 (4)
2.2 测试样机概况 (4)
2.3 测试样机版本验证 (5)
3 测试仪表和连接框图 (5)
4 测试结果及分析 (6)
4.1 测试结果 (6)
4.1.1 常温射频测试结果 (6)
4.1.2 高温+电源拉高射频测试结果 (6)
4.1.3 高温+电源拉低射频测试结果 (7)
4.1.4 低温+电源拉高射频测试结果....................................... 错误！未定义书签。

4.1.5 低温+电源拉低射频测试结果....................................... 错误！未定义书签。

4.1.6 天线耦合测试结果 (8)
4.1.7 人体感应测试结果......................................................... 错误！未定义书签。

4.1.8 校准数据分布测试......................................................... 错误！未定义书签。

4.2 结果分析 (9)
4.2.1 测试问题汇总 (9)
4.2.2 与上次测试对比 (9)
5 测试结论 (9)
5.1 测试对象评价 (9)
5.2 测试结论 (10)
5.3 测试结论评审 (10)
附录A (11)
1测试任务名称及内容
1.1任务名称
ZTEA300GSM双频数字移动电话机射频性能测试。

1.2测试任务版本情况
1.2.1主板版本和测试状态
本次测试用主板属表1中第 2 项版本。

表 1
版本号 1 2 3 4 5 6 7
主板状态主板Ⅰ版主板Ⅱ版主板Ⅲ版研发样机预中试样机中试样机批生产升级本次射频测试属表2中第 2 项测试。

表 2
版本号测试状态
1 主板版本升级测试
2 研发样机初测
3 预中试样机测试
4 研发样机硬件定版测试
5 研发样机中试鉴定测试
6 批生产抽样测试
7 物料确认测试
1.2.2上次测试任务版本及遗留问题
无。

1.3测试目的
本次测试的目的是：
a)根据产品的研制规范和相关射频技术标准，对样机的射频性能进行测试，
以验证样机的射频性能是否达到了预期的设计要求，是否满足GSM规范和相关标
准的要求。

b)验证经改进的升级版样机（主板）存在的问题是否解决。

c)验证样机在实验室条件下天线耦合性能。

d)检查人体感应对样机射频性能的影响。

1.4测试依据
GB 4943-2001 信息技术设备的安全
GB/T 18287-2000 蜂窝电话用锂离子电池总规范
YDN 055-1997 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术规范(暂行规定)
YD/T 884-1996 900MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术指标及测试方法
YD/T 998.1-1999 移动通信手持机用锂离子电源及充电器第一部分：电源
YD/T 998.2-1999 移动通信手持机用锂离子电源及充电器第二部分：充电器
YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其辅助设备
Q/SZX 026-2002 GSM数字移动电话机
Q/ZX 23.018.1-2001 可靠性试验要求--总则
Q/ZX D 23.001-2001 《GSM手机可靠性试验规范》
Q/ZX D 23.002-2001《移动台电磁兼容性试验规范》
ZX670.03.1001FA.A《ZTEA300研制规范》
ZX670.03.1001CA.A《ZTEA300系统测试方案》
ETSI EN 300 607-1 Version 8.1.1《数字蜂窝通信系统（第2+阶段）；移动台一致性规范；第1部分：一致性规范》
《GSM数字移动电话机进网检验实施细则》(信息产业部)
鉴于所有标准都可能被修订，在测试过程中必须尽可能使用以上标准的最新版本。

1.5测试内容和要求
根据测试任务不同，测试内容会有相应变动。

本次测试内容包括表4中以下项目：
a)常温常压射频指标测试；
b)常温高压射频指标测试；
c)常温低压射频指标测试；
d)天线耦合测试；
e)人体感应测试；
f)长时间大功率通话温升测试；
g)校准参数分布测试。

测试内容和指标如表3所示：
表 3
编号测试
项目
编号详细测试项目指标要求对应测试任务（见1.1节）备注
1 射频指
标测试
1.1 发射功率
用于主板版本升级测试、研发
样机初测、预中试样机测试、
研发样机硬件定版测试、研发
样机中试鉴定测试、批生产抽
样测试、物料确认测试
包括常温测
试、高温+电源
拉偏测试、低
温+电源拉偏
测试
1.2 频率误差
1.3 多径条件下的频率误差
1.4 峰值相位误差
1.5 均方相位误差
1.6 脉冲包络时间
1.7 调制谱
1.8 切换瞬态谱
1.9 坏帧指示性能
1.10 参考灵敏度
1.11 极限灵敏度
1.12 RSSI汇报值
1.13 接收机适用的输入电平
1.14 共信道抑制
1.14 邻信道抑制
1.16 互调抑制
1.17 阻塞与杂散响应
1.18 接收失真
1.19 杂散辐射
1.20 接收频率响应和强度等
2 天线耦
合测试
2.1 发射功率
同上
2.2 频率误差
2.3 峰值相位误差
2.4 均方相位误差
2.5 脉冲包络时间
2.6 调制谱
2.7 切换瞬态谱
2.8 参考灵敏度
2.9 RSSI汇报值
2.10 接收机适用的输入电平
2测试环境与测试样机
2.1测试环境
射频指标需在屏蔽环境中进行测试；样机测试前需通过校准和终测。

测试过程基本情况如表4所示。

表 4
编号测试项目测试人员测试地点开始日期结束日期备注
1 常温测试张惠德实验室2002/10/28 2002/11/05
2 高温+电源拉高测试同上同上同上同上
3 高温+电源拉低测试同上同上同上同上
4 低温+电源拉高测试同上同上同上同上
5 低温+电源拉低测试同上同上同上同上
6 天线耦合测试同上同上同上同上
7 人体感应测试同上同上同上同上
2.2测试样机概况
测试样机（品）情况如表5所示。

表 5
提交日期2002/10/28 样机数量10
主板生产厂/ 主板生产批号/
样机生产厂/ 测试属性样机测试
样机编号28#、29#、30#、68#、78#
硬件版本A300MB020901 软件版本A300V1.00.00
说明a)测试中每个样品只有一个代号，表格中带#代号即样品代号；
b)样机测试前需通过校准；
c)测试属性是指表2内容。

综测仪
PC机GPIB测
试
夹
具
MS
RF连接线
系统连接器
2.3测试样机版本验证
样机版本验证情况如表6所示。

表 6
序号样机号样机概况实际硬件版本实际软件版本
1 28# 50部样机A300MB020901 A300V1.00.00
2 29# 同上同上同上
3 30# 同上同上同上
4 68# 同上同上同上
5 78# 同上同上同上
3测试仪表和连接框图
测试需要的仪器和设备如表7所示：
表 7
仪器设备名称型号数量
综测仪CMU200或CMD55 1
数字电源HP66322或Agilient 1
PC机 1
GPIB卡 1
RS232数据线 1
平板天线 1
频谱仪 1
信号发生器 1
耦合器 1
高低温箱 1
数字表 1
假电池 1 射频指标的测试连接框图如图1所示。

图1 射频测试连接框图
4测试结果及分析
4.1测试结果
4.1.1常温射频测试结果
测试结果如表8所示。

测试样机编号：59、＃78＃
线损设置：0.5dB,0.7dB 电压：4.0V
表 8
测试项目
测试结果
测试结论备注28# 29# 30# 68# 78#
1.1发射功率OK OK OK OK OK P 1.2频率误差OK OK OK OK OK P
1.3多径条件下的频率误差/ / / / / /
不具备测
试条件
1.4峰值相位误差OK OK OK OK OK P 1.5均方相位误差OK OK OK OK OK P 1.6脉冲包络时间OK OK OK OK OK P 1.7调制谱OK OK OK OK OK P 1.8切换瞬态谱OK OK OK OK OK P
1.9坏帧指示性能/ / / / / / 不具备测试条件
1.10参考灵敏度OK OK OK OK OK P 1.11极限灵敏度OK OK OK OK OK P 1.12RSSI汇报值OK OK OK OK OK P 1.13接收机适用的输
入电平
OK OK OK OK OK P
1.14共信道抑制/ / / / / / 不具备测试条件
1.14邻信道抑制/ / / / / / 同上1.16互调抑制/ / / / / / 同上1.17阻塞与杂散响应/ / / / / / 同上1.18接收失真/ / / / / / 同上1.19杂散辐射/ / / / / / 同上1.20接收频率响应和
强度等
/ / / / / / 同上说明
结论：常温下的射频指标符合要求。

4.1.2常温高压射频测试结果
测试结果如表9所示。

测试样机编号：59、＃78＃
线损设置：0.5dB,0.7dB 电压：4.2V
表 9
测试项目
测试结果
测试结论备注59# 78#
1.1发射功率OK OK / / / P 1.2频率误差OK OK / / / P
1.3多径条件下的频率误差/ / / / / /
不具备测
试条件
1.4峰值相位误差OK OK / / / P 1.5均方相位误差OK OK / / / P 1.6脉冲包络时间OK OK / / / P 1.7调制谱OK OK / / / P 1.8切换瞬态谱OK OK / / / P
1.9坏帧指示性能/ / / / / / 不具备测试条件
1.10参考灵敏度OK OK / / / P 1.11极限灵敏度OK OK / / / P 1.12RSSI汇报值OK OK / / / P 1.13接收机适用的输
入电平
OK OK / / / P
1.14共信道抑制/ / / / / / 不具备测试条件
1.14邻信道抑制/ / / / / / 同上1.16互调抑制/ / / / / / 同上1.17阻塞与杂散响应/ / / / / / 同上1.18接收失真/ / / / / / 同上1.19杂散辐射/ / / / / / 同上1.20接收频率响应和
强度等
/ / / / / / 同上说明
a)结论：常温高压下的射频指标符合要求。

4.1.3常温低压低射频测试结果
测试结果如表10所示。

测试样机编号：59＃、78＃
线损设置：0.5dB，0.7dB 电源电压：3.4 V
表 10
测试项目
测试结果
测试结论备注# # / / /
1.1发射功率OK OK / / / P
1.2频率误差OK OK / / / P
1.3多径条件下的频率误差/ / / / / /
不具备测
试条件
1.4峰值相位误差OK OK / / / P 1.5均方相位误差OK OK / / / P 1.6脉冲包络时间OK OK / / / P 1.7调制谱OK OK / / / P 1.8切换瞬态谱OK OK / / /
1.9坏帧指示性能/ / / / / / 不具备测试条件
1.10参考灵敏度OK OK / / / P 1.11极限灵敏度OK OK / / / P 1.12RSSI汇报值OK OK / / / P 1.13接收机适用的输
入电平
OK OK / / / P
1.14共信道抑制/ / / / / / 不具备测试条件
1.14邻信道抑制/ / / / / / 同上1.16互调抑制/ / / / / / 同上1.17阻塞与杂散响应/ / / / / / 同上1.18接收失真/ / / / / / 同上1.19杂散辐射/ / / / / / 同上1.20接收频率响应和
强度等
/ / / / / / 同上说明
结论：常温低压下的射频指标符合要求
4.1.4天线耦合测试结果
测试结果如表11所示。

测试样机编号：30#
线损设置：5dB，15dB
表 11
测试项目
测试结果
测试结论备注30# # # # #
2.1发射功率GSM：功
率正常，
DCS：功
率较低
F
2.2频率误差OK P 2.3峰值相位误差OK P 2.4均方相位误差OK P
2.5脉冲包络时间OK P 2.6调制谱OK P 2.7切换瞬态谱超差 F
2.8参考灵敏度GSM:-98
dBm
DCS:-10
3dBm
F
说明
结论：a) GSM频段的参考灵敏度只有－98dBm
b)DCS频段的发射功率偏低
c)GSM和DCS频段的开关谱超差
以上主要原因是由于LCD由于屏蔽不好，对射频造成干扰造成。

4.2结果分析
4.2.1测试问题汇总
表 3
序号测试项目问题描述严重性评价原因分析解决方案建议
1 天线耦合
测试
耦合测试中，接收灵敏度、开关谱、
功率超差
严重
LCD的屏蔽
性能不好，对
射频由干扰
FPC增加上屏蔽
层
4.2.2与上次测试对比
表 4
序号测试内容本次情况上次情况评价备注
5测试结论
5.1测试对象评价
从测试结果看，A300在常温下和高低温下的射频指标基本正常，但通过天线耦合后，灵敏度有严重下降，影响接收和通话效果。

另外开关谱比较临界，容易超差。

5.2测试结论
射频性能没有通过测试。

测试主持人（签名）：张惠德日期：2002/11/12 5.3测试结论评审
表 5
产品名称型号
硬件版本软件版本
测试任务
名称
故障类型故障数故障现象简要描述解决时限A
B
C
D
故障统计
和
结论建议
签名：
测试部门
审核建议
签名：
项目经理
意见
下工序（质控
人员）评审意
见
签名：
附录A
本附录表20中所列文件为各项射频性能测试过程中测试PC 机所记录的数据文件。

表 6
序号
测试项目
文件名
文件粘结点击处
备注
1 常温射频性能测试
2 常温高压射频性能测试
3 常温低压射频性能测试
4 天线耦合测试。