【CN109855750A】一种温度测量装置及测量方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910261701.3

(22)申请日 2019.04.02

(71)申请人 深圳市思坦科技有限公司

地址 518000 广东省深圳市龙华区大浪街

道同胜社区工业园路1号1栋凯豪达大

厦十三层1309

(72)发明人 刘召军　刘弈镈　张珂　闫思吴　

(74)专利代理机构 北京品源专利代理有限公司

11332

代理人 孟金喆

(51)Int.Cl.

G01K 7/01(2006.01)

(54)发明名称

一种温度测量装置及测量方法

(57)摘要

本发明实施例公开了一种温度测量装置及

测量方法。其中温度测量装置包括恒流电路、

M i c ro -LE D以及电压检测电路；恒流电路与

Micro -LED电连接，用于向Micro -LED输入恒定的

第一电流，其中，第一电流小于Micro -LED发光时

的电流阈值；电压检测电路与Micro -LED电连接，

用于测量Micro -LED的两个电极之间的电压，并

输出检测温度。本发明实施例的技术方案，解决

温度测量的问题，

实现快速高精度的温度测量。权利要求书1页 说明书5页 附图2页CN 109855750 A 2019.06.07

C N 109855750

A

权　利　要　求　书1/1页CN 109855750 A

1.一种温度测量装置，其特征在于，包括恒流电路、Micro-LED以及电压检测电路；

所述恒流电路与所述Micro-LED电连接，用于向所述Micro-LED输入恒定的第一电流，其中，所述第一电流小于所述Micro-LED发光时的电流阈值；

所述电压检测电路与所述Micro-LED电连接，用于测量所述Micro-LED的两个电极之间的电压，并输出检测温度。

2.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述电压检测电路包括电压放大子电路与电压检测子电路，所述电压放大子电路与所述Micro-LED电连接，用于放大所述Micro-LED的两个电极输出的电压；

所述电压检测子电路与所述电压放大子电路电连接，用于测量所述电压放大子电路输出电压，并输出检测温度。

3.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，包括多个Micro-LED串联。

4.根据权利要求3所述的温度测量装置，其特征在于，多个所述Micro-LED以阵列形状排列。

5.根据权利要求3所述的温度测量装置，其特征在于，所述恒流电路还用于向多个所述Micro-LED输入恒定的第二电流，以使多个所述Micro-LED发光。

6.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述Micro-LED包括：

衬底；

设置于所述衬底，并沿远离所述衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层以及设置于所述n型层上的n型电极和设置于所述p型层上的p型电极。

7.根据权利要求6所述的温度测量装置，其特征在于，所述Micro-LED的p型层和n型层包括氮化镓基材料或砷化镓基材料；

所述有源层包括多个量子阱周期结构，每个所述量子阱周期结构包括层叠设置的氮化镓层与铟镓氮层。

8.一种温度测量方法，其特征在于，通过权利要求1～7任一所述的温度测量装置执行，该温度测量方法包括：

所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第一电流；

所述电压检测电路检测所述Micro-LED的两个电极之间的电压；

所述电压检测电路根据所述电压，输出检测温度；

其中，所述第一电流小于所述Micro-LED发光时的电流阈值。

9.根据权利要求8所述的温度测量方法，其特征在于，在所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第一电流之前，还包括：

在预设温度范围内，标定所述Micro-LED的两个电极之间的电压与温度的对应曲线。

10.根据权利要求8所述的温度测量方法，其特征在于，还包括：

所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第二电流，以使所述Micro-LED发光。

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