汽车电子控制单元测试系统设计

汽车电子控制单元测试系统设计

SAE 预测，到2010 年，汽车中的电子设备平均将占到总价格的40%!以美元为单位，2008 年独立半导体器件的销售额约为200 亿(源自Databeans 公司的市场调查)。这一数字因为众所周知的原因在2009 年将有所下降，但这是暂

时性的，因为汽车里面已经再也不能没有电子设备了。喷射系统，燃油控制，

导航，安全系统全部在由电子设备控制。

所以，作为测试工程师，我们该如何处理下一代汽车电子控制单元(ElectronicControl Unit，ECU)装配之前的复杂测试呢?什么样的测试系统我要强调的是系统，没有任何单一的ATE 平台能够完成所有的测试工作是最合适的。在这篇短文中，我将努力使您更加了解各种应用与测试策略。至少我希望帮助

您理清思路，这样您可以更加准确地向系统集成商和/或ATE 供应商提问，并

帮助您作出正确的选择。

产品开发

当然，所有新设计的产品在发布之前都要经过验证与测试。在实验室测

试策略中HILs(Hardware In the Loop)越发显得重要。一般来讲，这是主要用于测试ECU 在遇到外部故障情况时的响应，一般故障包括：丢失信号，短路到

地或Vbat，或是错误数据。在ATE 行业中通常选择故障注入开关系统(Fault Insertions switching system)实现这种测试。有几家公司提供我上面提到的故障生成/注入的硬件设备。因为在汽车中ECU 的安全性至关重要，所以高水平的

此类测试也同样非常重要。

过程测试

在装配和品质测试的过程中，汽车工业在引进新技术方面显得有些保守。