四探针操作规范
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编号:XN/WI021-ZG-2009
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生效日期:2009.08
版本/修改:A/0
四探针操作规程
1.目的
测试薄膜电阻率及方块电阻。
2.范围:
新能研发中心实验室
3.责任
实验室设备负责人,负责设备的使用及日常维护与点检并填写设备使用记录。4.操作流程
4.1 测试前的准备:
4.1.1将电源插头插入仪器背面的电源插座,电源开关置于断开位置;
4.1.2将手动测试架的插头与电气箱的输入插座连接好;
4.1.3将电源开关至开启位置,数字显示,仪器通电预热10分钟;
4.1.4对测试样品进行一定的处理;
4.1.5 测试样品置于样品架上,放下测试架使探针能与样品表面良好接触,并保持一定压力;
4.1.6调节室内温度及湿度使之达到测试要求。
4.2 测试:
4.2.1打开四探针仪,电脑开机,打开四探针操作软件RTS-9操作系统;
4.2.2放置样品在测试台,操作探针太下压探针和待测表面接触良好,使用过程中注意保护探头,样品接通后通电流;
4.2.3选择测试方阻还是电阻率,若是对样品电阻率以及方阻没有大致的估计,则进入自动测量;
4.2.4自动测量,按照提示调节界面上的电流量程为10μA,调节测试仪主机右上角旋钮,显示电流为10.000μA;
4.2.5点击【自动测量】进入测量,【统计测试数据】窗口显示样品测试点的测量数据;
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四探针操作规程
4.2.6手动测量,若是知道大致的数据或者已经进行了自动测量以后进行精确验证,可以进行手动测量,根据量程决定电流大小;
4.2.7点击【测量】开始输出结果,【统计测试数据】窗口显示样品测试点的测试数据;
4.2.8调整测试点的位置,重复测试步骤;
4.2.9然后对测量的数据进行打印,保存,生成EXCEL文件;
4.2.10测量完毕,升起测试架,套上探针保护套,关断电源,清洁整理。
5.注意事项:
5.1 电阻率、方块电阻测量时选择合适的电流量程。
5.2压下探头时,压力要适中,以免损坏探针。
5.3由于样品表面电阻可能分布不均,测量时应对一个样品多测几个点,然后取平均值。
5.4样品的实际电阻率还与其厚度有关,还需查附录中的厚度修正系数,进行修正。6.设备日常维护点检
按照《实验室设备周点检表》中的项目进行检查。
7.相关记录
《实验室设备周点检表》
拟制:审核:批准:
编号:XN/WI021-ZG-2009
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四探针操作规程
附图:四探针操作流程图