平面度定义及测量方法
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图1
塞尺
判定标准：
间隙处使用塞尺，尺寸0.3以 上不可塞入为合格
例如： 塞尺尺寸为0.3可以塞入 超过0.3不可塞入， 产品OK 若塞尺尺寸0.4可塞入 则产品NG 细节图 图2
下表面为待测平面， 要求公差为0.3，测 量时，此面向下贴 合平台放置
平面度测量方法② 测量工具：百分表 测量方法： 1、将产品固定在基准平台的垫块上。如图1所示 2、将百分表在A点调0沿路径到B点。记录过程中 显示数据大小。取最大值和最小值。 判定标准： 测定值=最大值-最小值 测定值≤要求公差值
测量实例： 要求：用百分表测量平面度， 公差值为30m 图2
图1
步骤： 1、在图2第一点处将百分表调零。 2、分别测量图中九个点的数据并记录。 3、根据判定标准确定产品是否合格。
0 -7
+8 +18
-7 -5
经分析得出: 最大测量值为：18 最小值为：-7 因此实际公差值为： 18-(-7)=25<要求公差值30 根据结果产品合格
+15 -7
-2
此图为九个点测定结果
图1
0.1
｝
公差带 虚拟平面（容许在两实际平面浮动）
图2
实际平面Leabharlann Baidu
公差带：是距离为公差值 t的 两平行平面之间的区域。
平面度测量方法①
测量工具：塞尺 测量要求：产品平面度公差值为0.3 如图1所示 测量方法： 1、将待测产品固定在基准平台， 待检测面向下放置，贴合平台 表面。如图2 2、在产品边缘插入塞尺， 如细节图所示。
定义：
平面度： 是指基片具有的宏观凹凸高度相对 理想平面的偏差。表示符号：“ ”
例1：
100:0.1
图中符号含义：
表面任意100x100的范围，必 须位于距离为公差值0.1mm的 两平行平面内。
平面度公差实例
例2：
0.1
符号含义：图1上表面必须位于距离为公差值 0.1mm的两平行平面内。 细节解释如图2所示：
塞尺
判定标准：
间隙处使用塞尺，尺寸0.3以 上不可塞入为合格
例如： 塞尺尺寸为0.3可以塞入 超过0.3不可塞入， 产品OK 若塞尺尺寸0.4可塞入 则产品NG 细节图 图2
下表面为待测平面， 要求公差为0.3，测 量时，此面向下贴 合平台放置
平面度测量方法② 测量工具：百分表 测量方法： 1、将产品固定在基准平台的垫块上。如图1所示 2、将百分表在A点调0沿路径到B点。记录过程中 显示数据大小。取最大值和最小值。 判定标准： 测定值=最大值-最小值 测定值≤要求公差值
测量实例： 要求：用百分表测量平面度， 公差值为30m 图2
图1
步骤： 1、在图2第一点处将百分表调零。 2、分别测量图中九个点的数据并记录。 3、根据判定标准确定产品是否合格。
0 -7
+8 +18
-7 -5
经分析得出: 最大测量值为：18 最小值为：-7 因此实际公差值为： 18-(-7)=25<要求公差值30 根据结果产品合格
+15 -7
-2
此图为九个点测定结果
图1
0.1
｝
公差带 虚拟平面（容许在两实际平面浮动）
图2
实际平面Leabharlann Baidu
公差带：是距离为公差值 t的 两平行平面之间的区域。
平面度测量方法①
测量工具：塞尺 测量要求：产品平面度公差值为0.3 如图1所示 测量方法： 1、将待测产品固定在基准平台， 待检测面向下放置，贴合平台 表面。如图2 2、在产品边缘插入塞尺， 如细节图所示。
定义：
平面度： 是指基片具有的宏观凹凸高度相对 理想平面的偏差。表示符号：“ ”
例1：
100:0.1
图中符号含义：
表面任意100x100的范围，必 须位于距离为公差值0.1mm的 两平行平面内。
平面度公差实例
例2：
0.1
符号含义：图1上表面必须位于距离为公差值 0.1mm的两平行平面内。 细节解释如图2所示：