电气开关相关技术参数
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表9-1 极数和额定值的优选组合
额定电流
A
极数
额定电压
120V~250V
额定电压
>250V
1、2和4 1 ~
6 1
2 1 2
10 1
2 1 2
3 4
16、20、25、32、40和63
1
2
3
4
1
2
3
4 表9-2 验证绝缘电阻的试验电压施加点
代号连接图位置
在下列两栏所示位置施加电压a
端子号与端子在一起的本体(B)
1 断
1
2
B+2
B+1 通1-2 B
2 断
1+3
2+4
B+2+4
B+1+3 通
1-2
1-2+3-4
B+3-4
B
3 断
1+3+5
2+4+6
B+2+4+6
B+1+3+5 通
1-2
3-4
5-6
B+3-4+5-6
B+1-2+5-6
B+1-2+3-4
03 断
1+3+5+7
2+4+6+8
B+2+4+6+8
B+1+3+5+7 通
1-2+5-6
1-2+7-8
B+3-4+7-8
B+3-4+5-6
4
断 1 B+2+3
通1-2
1-3
B+3
B+2
5 断
2+3
1
B+1
B+2+3 通
1-3
1-2-3
B+2
B
6 ——1-3
1-2
B+2
B+3
6/2 ——1-3+2-4
1-5+2-6
B+5+6
B+3+4
7 ——1-2
3-4
1-4
2-3
B+3-4
B+1-2
B+2-3
B+1-4
a - 指原有的电气连接
+ 指为试验而进行的电气连接
表9-3 验证介电强度用的试验电压、试验电压施加点和绝缘电阻最小值
待试绝缘部位绝缘电阻
最小值
MΩ
试验电压
V
额定电压不超过
130V的开关
额定电压超过
130V的开关
1 连接在一起的所有极与本体之间,开关要处于“通”位置 5 1 250
2 000
2 依次在每个极与连接到本体的所有其他极之间,开关要处于
“通”位置
2 1 250 2 000
3 开关处于“通”位置时,电气上连接在一起的端子之间,开
关要处于“断”位置;
——正常/小间隙结构;——微间隙结构;——半导体开关装置
2
2
(注3)
1 250
500(注2)
(注3)
2 000
1 250(注2)
(注3)
4
与带电部件绝缘时,开关机构的金属部件与下列部位之间:——带电部件;
——与旋钮或类似的起动元件的表面接触的金属箔;——要求绝缘的钥匙操作开关的钥匙;
——要求绝缘的用以操作开关的拉线、链条或杆等的固定点;
——要求绝缘的底座的易触及金属部件,包括固定螺钉;5
5
5
5
1 250
1 250
1 250
1 250
2 000
2 000
2 000
2 000
5 如有绝缘衬垫,任何金属外壳与绝缘衬垫内表面接触的金属
箔之间(注4)
5 1 250 2 000
6 如果开关机构的金属部件不与带电部件绝缘,带电部件与易
触及金属部件之间
5 1 250 3 000
7 带电部件与开关机构的部件之间,如果:
——开关机构的部件不与易触及金属部件绝缘;
——开关机构的部件不与可取下的钥匙或操作用的拉线、链条或杆等的接触点绝缘;——
——
2 000
2 000
3 000
3 000
8
带电部件与金属旋钮、按钮和类似零部件之间—— 2 000 4 000 注1:此值亦可用正常操作后的电气强度试验。
注2:额定电压不超过250V的开关要将此值降至:
——750V来进行防潮试验后的电气强度试验;
——500V来进行正常操作试验后的电气强度试验。
注3:用以验证第3项中半导体开关装置断开位置的试验正在考虑中。
注4:在必须有绝缘时才进行本试验。
表9-4 温升试验电流和铜导线的横截面积
额定电流
A 试验电流
A
导线标称横截面积
mm2
1 2 4 6 10 16 20 25 32 40 63 1.5
3
5
8
13.5
20
25
32
38
46
75
0.5
0.75
1.0
1.5
2.5
4.0a
4.0
6.0
10.0
16.0
25.0
a额定电压不超过250V的除代号为3和03以外的开关在使用额定电流为10A的端子时要接上横截面积为2.5mm2的导线来进行试验。
注2:其他额定电流的开关的试验电流,从邻近的较低和较高的两个额定值之间用插值法确定。
表9-5 总操作次数的比例
代号开关类型开关S的操作次数比例
1、2、4或5 双向旋转开关其他开关
3或03 双向旋转开关其他开关
6、6/2或7
双向旋转开关1/4和3/4
其他开关1/2
表9-6 正常操作试验用的操作次数
额定电流开关的操作次数
≤16 A,适用于额定电压不大于交流250V的开关,但代号为3和03的开关除外。40 000 ≤16 A,适用于额定电压不大于交流250V的开关和代号为3和03的开关。20 000 >16~40 A 10 000 >40 A 5 000