光电直读光谱仪培训资料
岛津直读光谱仪培训讲义 100
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2.9 时间分解分析法
元素在激发时，由于元素的性质不同，其发光 相位的状态和强度特征是不同的。 时间分解测光法是利用微秒级的高速快门，按 照不同的相位段截取最佳的脉冲信号。 经过PDA的处理，从而提高了多种元素同时分 析的范围，提高了分析的灵敏度、精度和分析 速度。 能够进行某些元素的状态分析。
Ct
D1 D2
D1 D2
D1 D2 Ct C0 d
—下限管理值 —上限管理值 —控制样品目标含量值 —控制样品由工作曲线测定的分析值 —工作曲线表达式中的常数项
计算修正系数AC，MC：
当|Ct-C0|≤D1时，AC=0，MC=1。 当D1<|Ct-C0|≤D2时，AC=Ct-C0，MC=Ct/C0或MC=(Ct-d)/(C0-d)。 当|Ct-C0|>D2时，不计算系数，此时AC，MC仍然应用原来的数值 。
如何进行控样修正：
C≥Ct时，用CAC=C+AC计算。 C<Ct时，用CMC=C×MC或CMC=(C-d)×MC+d计算。 可以强制系统采用CAC=C+AC或CMC=C×MC（或CMC=(C-d)×MC+d）的 方式计算。
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1.12 含量分析计算流程
开始测定
强度测定
强度计算 标准化 含量转换 工作曲线选择 共存元素修正 100%修正 控样校正 特殊公式计算 结果输出
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3.7 氩气管路图
①氩气瓶 ②压力表 ③减压阀 ④电磁阀 ⑤分析流量调节阀 ⑥待机流量调节阀 ⑦流量计 ⑧激发台 ⑨氩气增压器
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3.8 氩气流量的调整
旋转氩气待机流量控 制盘，调节氩气待机 流量，PDA-5500Ⅱ型 为1L/min，PDA-7000、 PDA-5500Ⅲ、PDA5500Ⅳ型为0.5L/min。 在分析时旋转氩气分 析流量控制盘，调节 分析流量氩气分析流 量，PDA-5500Ⅱ型为 10L/min，PDA-7000、 PDA-5500Ⅲ、PDA5500Ⅳ型为8L/min。
光电直读光谱仪培训资料
光电直读光谱仪培训资料一、光电直读光谱仪的基本原理光电直读光谱仪是一种用于光谱分析的仪器，通过测量不同波长下样品吸光度的变化来确定样品的化学成分。
其基本原理是利用光电二极管（photodiode）或者CCD（Charge-coupled device）等光敏器件实现光线的接收和处理，然后通过信号放大和数字化转换，最终得到样品在不同波长下的吸光度数据。
二、光电直读光谱仪的操作步骤1. 打开光电直读光谱仪的电源，并等待仪器初始化。
2. 调节仪器的波长范围和分辨率，根据样品的特性选择合适的测量条件。
3. 准备好待测样品，将其置于样品室内，并关闭样品室的盖子。
4. 点击仪器上的测量按钮，开始进行样品的光谱测量。
5. 测量完成后，保存测量数据，并对数据进行分析和处理。
三、光电直读光谱仪的应用领域光电直读光谱仪主要应用于化学、生物、药物、环境等领域的光谱分析。
它可以用于快速测定样品的成分、浓度、纯度等参数，广泛应用于科研、实验室分析、工业生产等领域。
四、光电直读光谱仪的优势1. 高灵敏度：光电直读光谱仪采用高灵敏的光敏器件，具有较高的信噪比和测量精度。
2. 宽波长范围：光电直读光谱仪可以覆盖较宽的波长范围，适用于不同波长下的光谱分析。
3. 快速测量：光电直读光谱仪可以在较短的时间内完成样品的光谱测量，提高工作效率。
五、光电直读光谱仪的注意事项1. 在使用光电直读光谱仪之前，需要对仪器进行校准和标定，以确保测量结果的准确性。
2. 使用过程中要注意样品的处理和准备，避免对仪器产生污染或损坏。
3. 定期对光电直读光谱仪进行维护和保养，延长仪器的使用寿命。
光电直读光谱仪是一种非常重要的光谱分析仪器，具有高灵敏度、快速测量和宽波长范围等优点，广泛应用于科研、实验室分析和工业生产中。
掌握光电直读光谱仪的操作技能和注意事项，对于准确、高效地进行光谱分析具有重要意义。
六、光电直读光谱仪的实验操作示例为了更好地了解光电直读光谱仪的实验操作，下面以测量DNA溶液的光谱为例进行详细的实验操作步骤：1. 准备工作a. 打开光电直读光谱仪的电源，等待仪器初始化完成。
ARL3460直读光谱仪基础知识培训.
直读光谱仪分析环境
仪器的周围环境：尽量防尘
防震。 温度允许范围：16-30摄氏 度,每小时变化不超过5摄氏 度。 湿度允许范围：20-80%。 鉴于温湿度的要求，直读光 谱室就要求有空调及除湿机 （南方比较潮湿，空调可能 达不到除湿要求）。 光谱分析室还需要有温湿度 计，用来测室内温湿度是否 达到要求。
了一种完善的分光装置，这个装置就是世界上第一台实用的 光谱仪器，从而建立了光谱分析的初步基础。 1882年，罗兰发明了凹面光栅，即是把划痕直接刻在凹球面 上。凹面光栅实际上是光学仪器成象系统元件的合为一体的 高效元件，凹面光栅的问世不仅简化了光谱仪器的结构，而 且还提高了它的性能。 1928年以后，由于光谱分析成了工业的分析方法，光谱仪 器得到迅速的发展，一方面改善激发光源的稳定性，另一方 面提高光谱仪器本身性能。 六十年代由于计算机技术的发展，电子技术的发展，电子计 算机的小型化及微处理机的出现和普及，成本降低等原因、 于上世纪的七十年代光谱仪器几乎100％地采用计算机控制， 这不仅提高了分析精度和速度，而且对分析结果的数据处理 和分析过程实现自动化控制。
我国光谱仪发展历程
1958年开始试制光谱仪器，生产了我国第一
台中型石英摄谱仪，大型摄谱仪，单色仪等。 59年上海光学仪器厂，63年北京光学仪器厂 开始研究刻制光栅，63年研制光刻成功。 1966—1968年北京光学仪器厂和上海光学仪 器厂先后研制成功中型平面光栅摄谱仪和一 米平面光栅摄谱仪及光电直读头。1971— 1972年由北京第二光学仪器厂研究成功国内 第一台WZG—200平面光栅光量计，结束了 我国不能生产光电直读光谱仪的历史。
光谱仪的ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ本结构
光谱仪的基本结构
光谱仪的基本结构
直读光谱仪原理学习手册
直读光谱仪原理学习手册第一章光电光谱分析的基本原理一、光谱分析简介1、电磁辐射的基本特征光谱是按照波长（或波数、频率）顺序排列的电磁辐射。
天空的彩虹、自然界的极光等均是人们早期观察到的光谱，但它们仅是电磁辐射的很小的一部分可见光谱。
还有大量的不能被人们直接看到的和感觉到的光谱，如γ射线、x射线、紫外线、红外线、微波及无线电波等，这些也都是电磁辐射，它们只是频率或波长不同而已。
电磁辐射实际是一种以巨大速度通过空间而传播的能量（光量子流），具有波动性和微粒性。
就波动性而言，电磁辐射在空间的传播具有波的性质，如同声波、水波的传播一样，可以用速度、频率、波长和振幅这样一些参数来描述，并且传播时不用任何介质，且易于通过真空。
在真空中所有电磁辐射的速度相同，常用光速（c）来表示，c的数值为：2.99792*103米/秒。
在一定的介质中，它们之间的关系为δ＝V/C=1/λ式中：V-------频率，单位时间内的波数；λ…………波长，为沿波的传播方向、相邻两个波间相位相同的两点之间的距离；δ…………波数，单位长度内波长的个数。
C是光速。
就电磁辐射的微粒性来说，每个光量子均有其特征的能量ε，它们与波长或频率之间的关系可以用普朗克（Planck）公式表示：ε＝hv＝h（c/λ）波长是相邻间相位相同的两点之间的距离式中：h是普朗克常数，其值为6.626*10-34 焦耳/秒2、电磁波谱区域电磁辐射按波长顺序排列称磁波谱。
他们是物质内部运动的一种客观反映，也就是说任一波长的光量子的能量ε与物质的内能变化△E=E2-E1=ε＝hv＝h（c/λ）如果已知物质由一种状态，E2过渡到另一种状态E1时，其能量差为△E=E2-E1便可按照公式计算出相应的光量子的波长。
下表列出了各辐射区域、波长范围及相应的能及跃迁类型。
对于成分分析主要应用近紫外及可见光区。
表一电磁波谱区域辐射区域波长范围跃迁类型γ射线区5－140皮米核能级跃迁Х射线区0.01－10.0纳米内层电子能跃迁远紫外区10－200纳米原子及分子近紫外区200－380纳米外层电子可见区380－780纳米能级跃迁近红外区0.78－3微米分子振动中红外区3－30微米能级跃迁远红外区30－300微米分子转动能级跃迁微波区0.3毫米－1米电子自旋和核子旋射频区1－1000米能级跃迁注：1米＝103毫米＝106微米＝109纳米＝1012皮米3、光谱分析内容光谱分析是根据物质的特征光谱来研究化学组成、结构和存在状态的一类分析领域。
岛津直读光谱仪培训讲义100
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1.2 特征光谱的产生
? 通常情况下，原子处于基态，在激发光源作用下，原子获得 足够的能量，外层电子由基态跃迁到较高的能量状态即激发 态。处于激发态的原子是不稳定的，外层电子就从高能级向 较低能级或基态跃迁。多余能量以电磁辐射的形式发射出去， 这样就得到了发射光谱。原子发射光谱是线状光谱。
? 用100％修正制作的工作曲线，横轴为化学分析值和内标元素 含量的比值。
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1.10 控样校正
? 由于共存元素的原因，化学分析值和分析结果产生偏差，控 样校正就是为修正此影响，测定与分析样品组成相似的控制 样品（已知精确化学分析值的样品），得到分析结果和化学 分析值的关系，以分析未知样品的含量。
共存元素修正 100%修正 控样校正
特殊公式计算 结果输出
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1.13 样品分析流程
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1.14 分析流程
标准化分析
控样校正
确认分析 OK
样品分析
X ? Xt ? 3?
X ? Xt ? 3?
确认分析
NO
OK
样品分析
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第2章 岛津光电发射光谱简介
2.1 PDA-7000型光电发射光谱分析仪
? 采用时间分解 PDA（Pulse Distribution Analysis Method， 脉冲分布分析法）测光法。
? 用接近上限和下限的两个标准样品标准化称为两点标准化。用接近上限的 一个标准样品标准化称为一点标准化。
? 当条件或环境发生较大变化时，应进行标准化。另外，经过规定的时间或 分析了规定数量的样品后，应进行标准化。
? 标准化修正公式：
光电直读光谱仪培训资料(ppt 33页)
类型标准化
类型标准化流程： 1、在主菜单中选择“Opertion Setup”中的 “Methods”； 2、在右图中选择类型程序所对应的分析方法， 点击“Type Standards”然后在右下角点击 “Creat Type Standards From Methods”系统会提示 建立新的类型程序，点击“OK”确认； 3、在此界面中重新命名新建“Type Standards”的名称，在“Default Paraments Options”中选择“Full Update irrespactive of sigma”或者 “Plsusibility chect with nominal value” 在“Matrix Correction Mode”中选择“Type Correction”在Type中选择Variabl或Fixed来 规定类表更新是非固定时间或是固定时间，在 后面的Max和Min输入类型更新的最短时间和最 长时间，在后面的Fix中输入数字，如果数字 为0，就不会出现过起提示。
类型标准化
4、点击类标前面的加号，如图所示： 在Element栏前面的勾选框中选择类型校正的元素， 在Nonimal栏中输入元素的标准含量，在 “Correction Type”中选择每个校正元素的类型 （旋转或平移）。 （一般元素含量大于3%的选择“Rotional”元素含 量小于3%的选择）（Sigmal是类标初始化时产生的 标准偏差，Sigmal Factor：标准偏差系数，默认 值为6；Current：类标更新时的测量含量值）完成 后点击“Save”保存； 5、在主菜单中选择“Analysis And Date”“Manage SCT Samples”打开Manage SCT 对话框； 6、在“Select SCT Display”下拉菜单中选择 “Type Standerds”； 7、在“Select Item”下拉菜单中选择需要进行初 始化的类型程序所对应的方法； 8、点击“Batch-sample not OK”创建批处理，进 行类标初始化操作，确定进入批处理界面并操作操
ARL 直读光谱仪培训资料-WINOE
ARL直读光谱仪培训资料狭缝校正（描迹、定位）由于环境参数的变化，入射狭缝与出射狭缝的相对位置发生变化，可以通过转动扫描刻度盘进行校正。
仪器的狭缝漂移很小，但新机器建议用户每周检查一次，旧机器可以更长时间，一个月或更长。
当数据不稳定时,尤其是在刚做完飘移校正几个小时之内很快又飘移的情况下,我们强烈建议您做飘移校正前先做狭缝校正。
通常我们推荐用户使用integrated profile。
操作过程：从主菜单中Initialisation 中选择Integrated Profile。
出现下列界面。
从Analytical condition中选择一个分析条件（例如：FEGEN）。
从Available channel中选择通道，1至10个，最少1个最多10个通道。
选择时注意两条原则：1）所选通道尽量覆盖光谱仪所用波长范围。
2）所选元素在样品中的含量尽量高。
Selected Channel为选中的通道。
Start Dial Position(0-100): 90 ，设定描迹盘的起始描迹位置，以仪器的正确描迹位置为中心设置，例如如果中心位置在100，可以从90开始。
Step Dial Division: 2 ，描迹时刻度盘每次转动的距离。
设定为1，每次转动1格。
设定为2，每次转动2格。
设定为3，每次转动3格。
Maximum Number of Step[5-50]: 15 ，软件可以自动执行该步骤的最大次数。
可以在5-50之间选择。
设定好以上参数后，可以执行Start Profile。
根据提示设定好描迹盘的位置，摆放好样品，执行Start Next Step。
等相应元素的描迹位置在Profile Positions中出来后，点击Average Now。
记下Average Profile Position，将描迹盘位置设定在相应位置。
点击Exit退出。
软件将提示是否需要保存，根据具体情况确定是否保存。
在下列情况下需要进行狭缝校正（描迹、定位）：1）仪器运输、搬动后。
ARL3460直读光谱培训课件
直读光谱仪培训教材一直读光谱仪的工作原理仪器的工作原理是基于原子发射光谱分析的基本原理:组成物质的各种元素被光源激发，会发射出各自的特征光谱，光谱线的强度与所属元素的含量有一定的函数关系，如果测量出各元素谱线的强度值，即可计算出该元素在物质中的含量。
样品经激发产生的谱线，经出射狭缝照在其对应光电倍增管电阴极上，在高压电源作用下，将光信号转换成电信号——光电流，光电流强度和光谱强度成正比，积分电压与光电流的大小成正比，因此检测出积分电压的大小，就可表达出光谱强度的大小，并由工作曲线换算出元素的含量。
当某一能量施加到一个原子上时,一些电子就改变其轨道。
当这些电子返回到原来的轨道时,以某一一定波长的光形式恢复到精确的能量。
这是一种原子现象,因此它实际上不受原子化学或者结晶形式的影响。
举个例子, 这表示用仪器可以测定钢中的含硅量；但是在发现粗略表示出这种激发。
硅时不能得到硅形态的任何信息。
图2.1波长为λ的光子发射:供给能量+AEE2-E1 =h·v=h·c/ λ初始能量 E1 能量E2返回到能量E1图２.１ 激发原理图于是,一个含有几种不同元素的试样将产生由每种元素的特定波长所组成的光。
通过用一个色散系统将这些波长分开,我们可以测定存在哪一种元素和这些波长中每一种波长的强度,这些强度与这些元素的浓度成函数关系。
（用光电倍增管）测量这种发光强度，再用计算机处理这种信息 .我们就能决定有关元素的浓度。
二直读光谱仪的结构1）激发光源，给试样提供能量2）色-散装置，分离开不同的波长3） 电子装置，测量每一波长的发光强度4）计算机，处理测量值和控制仪器1 激发有2部份组成，光源和激发台光源是用于通过在样品表面和电极之间产生一个低压电弧进行分析时提供能量的。
激发台的用途是相对光谱仪中的光学设备可以重现的方式（同样的位置）来放置样品。
氩气激发台：为了避免空气与试样表面发生各种反应，因此在氩气气氛保护下在火花室内进行放电。
arl3460直读光谱仪基础常识培训
目录
• 引言 • ARL3460直读光谱仪简介 • ARL3460直读光谱仪工作原理 • ARL3460直读光谱仪操作流程 • ARL3460直读光谱仪维护与保养 • 培训总结与展望
01 引言
培训目的和背景
培训目的
使学员掌握ARL3460直读光谱仪的基本原理、操作方法、维 护保养以及常见问题处理，提高分析测试质量和效率。
培训背景
随着科技的发展，直读光谱仪在金属材料分析领域的应用越 来越广泛，而ARL3460作为一款高性能的直读光谱仪，具有 高精度、高稳定性等优点，因此需要专业的培训来确保用户 能够充分发挥其性能。
培训对象和目标
培训对象
实验室分析人员、技术支持人员以及相关管理人员。
培训目标
通过本次培训，学员能够全面了解ARL3460直读光谱仪的原理、操作技巧和维 护保养知识，提高实际操作能力和问题解决能力，为后续的实验测试和分析工 作提供有力支持。
光谱的强度反映了样品中元素的含量，通过测量不同波长下的光谱强度，可以确 定样品中各种元素的含量。
ARL3460直读光谱仪的数据处理系统
ARL3460直读光谱仪的数据处理系统负责采集、处理、存储 和输出光谱数据，能够快速准确地分析样品中的元素含量。
数据处理系统通常采用计算机技术，通过软件对光谱数据进 行处理和分析，最终以图表或数值形式输出结果。
料的开发。
环境监测
化学分析
用于检测空气、水体、 土壤中的有害元素和污
染物。
用于实验室的化学分析， 以及产品质量控制和生
产过程监控。
03 ARL3460直读光谱仪工 作原理
光谱仪的基本工作原理
01
光谱仪是一种将物质与辐射能相 互作用后，按照波长顺序将辐射 能分解并记录每种波长成分的仪 器。
直读光谱仪培训教程
直读光谱仪培训教程直读光谱仪（Direct-Reading Spectrometer）是一种测量光谱的仪器，它能够在一定范围内获取样品所发射或吸收的光谱信息，并将其转化为可见的光谱图。
本文将介绍直读光谱仪的基本原理、使用方法以及常见应用领域。
一、直读光谱仪的基本原理直读光谱仪由光源、光栅、光电倍增管等组成。
当样品受到光的照射后，会发生吸收或发射现象，这些光通过光栅的衍射作用后进入光电倍增管，最终转化为可见的光谱图。
光栅的作用是将不同波长的光谱区分开，从而得到不同波长的光谱信息。
二、直读光谱仪的使用方法1.仪器准备：将直读光谱仪放置在平稳的实验台上，确保仪器稳定，无明显晃动。
检查设备是否连接正常，并进行仪器的预热和校准，确保仪器工作正常。
2.样品准备：准备好待测物质的样品，并将其放置到测量室中。
为了保证准确性，样品应该是纯净的，并避免灰尘等杂质。
3.选择所测波长范围：根据需要选择测量的波长范围，然后调整直读光谱仪的参数，使其工作在所需的波长范围内。
4.开始测量：按下启动按钮，仪器开始工作。
仪器会测量样品吸收或发射的光谱，并将结果显示在仪器的显示屏或计算机上。
可以根据需要进行多次测量和平均，以提高测量的准确性。
5.结果分析：根据测量结果，可以得到样品的光谱信息。
可以通过比较不同样品的光谱差异来进行分析，也可以将测量结果与已知光谱数据进行比对，以确定样品的成分或性质。
三、直读光谱仪的应用领域1.化学分析：直读光谱仪可以用于化学物质的定性和定量分析。
通过比对样品的光谱信息，可以确定样品中所含化学物质的种类和浓度。
2.材料研究：直读光谱仪可以用于研究材料的光学特性。
通过测量材料在不同波长下的吸收或发射光谱，可以分析材料的表面特性、电子结构等。
3.环境监测：直读光谱仪可以用于环境中有害物质的检测。
例如，可以通过测量水中的污染物光谱，判断水质是否合格。
4.生命科学：直读光谱仪可以用于生物领域的研究。
例如，可以测量生物体的荧光光谱，以研究生物体的代谢过程。
光电光谱分析专业技术资格培训班讲义
光电光谱分析专业技术资格培训班讲义李春普第一章绪论光电光谱仪又称光电直读光谱仪、光量计，是集多学科、大精尖的现代化测试仪器。
光电光谱仪可分为大型、台式、便携式三种。
光电光谱分析技术现已广泛应用于机械、冶金工业理化检测工作中。
一、分析化学、化学分析法与仪器分析法1、分析化学分析化学是化学学科的重要分支之一。
它是研究物质的化学组成，测定其有关成分的相对含量，检测物质的化学结构，研究并发展其相关理论的一门科学。
分析化学已渗透到整个国家建设、国防以至人民生活各个方面，并广泛得到应用。
2、化学分析法与仪器分析法分析化学按其含义不同有不同的分类，如定性分析与定量分析；化学分析法与仪器分析法等。
化学分析法是依据化学反应及其计量关系为基础，而仪器分析法是依据物质的物理和化学性质为基础。
二、光谱分析1、光谱分析通过测量用适当的激发方法产生和用适当的光学装置色散的光谱线的波长和强度的办法来定性、半定量和定量测定样品中的化学元素的分支学科和技术。
2、发射光谱分析和吸收光谱分析因为物质光谱分为发射和吸收光谱两大类，所以光谱分析也可分为发射光谱分析和吸收光谱分析两大类。
样品在原子化器中形成元素的基态原子对用被测元素纯金属制成阴极的空心阴极灯发出特征波长的光的吸收程度来进行待测元素浓度的分析，就是原子吸收光谱分析。
定量公式：A=kcl这和化学分析法中分光光度法分析原理非常相似，因此该测试仪器也称为原子吸收分光光度计。
该分析方法在机械工业中应用较少（少数用于有色金属成分分析上），但在地质、环保、化工等领域中应用较为广泛。
关于发射光谱分析以后将详细介绍。
3、发射光谱分析的分类用于发射光谱分析的光谱仪均由光源、狭缝、色散系统、成像系统和光谱记录装置等部分组成。
由于光谱记录方式不同，光谱仪有看谱仪（用人眼观察光谱）、摄谱仪（用照像乳剂记录光谱）和光电光谱仪（用光电转换元件观测记录光谱）之分。
因此光谱分析方法也就可分为看谱法、摄谱法和光电光谱法三种。
ARL直读光谱仪培训资料
ARL直读光谱仪培训资料狭缝校正（描迹、定位）由于环境参数的变化，入射狭缝与出射狭缝的相对位置发生变化，可以通过转动扫描刻度盘进行校正。
仪器的狭缝漂移很小，但新机器建议用户每周检查一次，旧机器可以更长时间，一个月或更长。
当数据不稳定时,尤其是在刚做完飘移校正几个小时之内很快又飘移的情况下,我们强烈建议您做飘移校正前先做狭缝校正。
通常我们推荐用户使用integrated profile。
操作过程：从主菜单中Initialisation 中选择Integrated Profile。
出现下列界面。
从Analytical condition中选择一个分析条件（例如：FEGEN）。
从Available channel中选择通道，1至10个，最少1个最多10个通道。
选择时注意两条原则：1）所选通道尽量覆盖光谱仪所用波长范围。
2）所选元素在样品中的含量尽量高。
Selected Channel为选中的通道。
Start Dial Position(0-100): 90 ，设定描迹盘的起始描迹位置，以仪器的正确描迹位置为中心设置，例如如果中心位置在100，可以从90开始。
Step Dial Division: 2 ，描迹时刻度盘每次转动的距离。
设定为1，每次转动1格。
设定为2，每次转动2格。
设定为3，每次转动3格。
Maximum Number of Step[5-50]: 15 ，软件可以自动执行该步骤的最大次数。
可以在5-50之间选择。
设定好以上参数后，可以执行Start Profile。
根据提示设定好描迹盘的位置，摆放好样品，执行Start Next Step。
等相应元素的描迹位置在Profile Positions中出来后，点击Average Now。
记下Average Profile Position，将描迹盘位置设定在相应位置。
点击Exit退出。
软件将提示是否需要保存，根据具体情况确定是否保存。
在下列情况下需要进行狭缝校正（描迹、定位）：1）仪器运输、搬动后。
贝尔德直读光谱仪培训题材
贝尔德直读光谱仪培训题材一．光电直读光谱分析的应用现状及新进展DV4-1000型光电直读光谱仪，1964年美国贝尔德公司开始生产光谱仪持续生产了DV二、DV4、DV6，从70年代进入中国，直读其实确实是直观可见数据的意思。
此刻市专场上的光谱有德国的OBLF、斯派克，美国的ARL,国产的瑞利（但国产的缺点是高合金钢和极低含分析误差大）。
DV4-1000 中1000是指焦距，曲率半径为1000mm的凹球面镜，光源：KH-3/5型，重复频率100周（此刻新产光源都在400周以上），频率低的缺点：峰压不稳固，随交流供电的电压和频率的波动造成份析数据的漂移，严峻阻碍分析的精度和准确度。
二．光电光谱分析的原理．（光谱光室散布图）试样通过激发时，不同元素的原子，在火焰、电弧、火花等光源激发下，由于原子能级跃迁发射出特有的谱线，即“特点谱线”，能通过入射光学系统到光栅上，光栅将光分解成光谱，这些光谱线代表样品中的各个元素，各元素光谱线的强度与样品中元素的含量成比例，每一元素至少有一条光谱线通过出口狭缝，射到光电倍增管的光阴极上，当元素的浓度转变光阴谱线的强度也转变，光电倍增管的输出电流也随之转变，除元素光谱线之外，用一条或更多的光谱线作为内标线它将与元素线相较，通过测量板将从元素电容器送来的模拟分析数据转换成数字信号，然后运算机进行计算元素的含量。
三．光电光谱的光学系统及光转换1．罗兰圆（270个出射狭缝），凹面光栅光学系统（其实与咱们的光盘CD相适），要紧起到光谱线的分散和折射。
使各元素的谱线别离射信对应的光电倍增管的光阴上。
2．光电倍增管的光电转换（能将光谱线射至光阴上产生的光电，放大到几百万倍，以达到测量系统所要求的电流值，此电流可通过同轴电缆送到元素板上进行换算。
）四．用好光电光谱仪的操作要点及注意事项1．光谱仪的外围条件1)．仪器的周围不该有振动，不受阳光的直接照射，散热（风扇），机房温度操纵在23±2℃，温度（有除湿器，<60，不然会引发一些电器元件短路烧坏），应有良好的地线越小越好，接地电阻<4Ω（本公司是车间绕一圈），室温的转变速度，仪器周围无强电磁场干扰，2)。
M9直读光谱仪操作手册
直读光谱仪操作手册第一章光电光谱分析的基本原理一、光谱分析简介1、电磁辐射的基本特征光谱是按照波长（或波数、频率）顺序排列的电磁辐射。
天空的彩虹、自然界的极光等均是人们早期观察到的光谱，但它们仅是电磁辐射的很小的一部分可见光谱。
还有大量的不能被人们直接看到的和感觉到的光谱，如γ射线、x射线、紫外线、红外线、微波及无线电波等，这些也都是电磁辐射，它们只是频率或波长不同而已。
电磁辐射实际是一种以巨大速度通过空间而传播的能量（光量子流），具有波动性和微粒性。
就波动性而言，电磁辐射在空间的传播具有波的性质，如同声波、水波的传播一样，可以用速度、频率、波长和振幅这样一些参数来描述，并且传播时不用任何介质，且易于通过真空。
在真空中所有电磁辐射的速度相同，常用光速（c）来表示，c的数值为：2.99792*103米/秒。
在一定的介质中，它们之间的关系为δ＝V/C=1/λ式中：V-------频率，单位时间内的波数；λ…………波长，为沿波的传播方向、相邻两个波间相位相同的两点之间的距离；δ…………波数，单位长度内波长的个数。
C是光速。
就电磁辐射的微粒性来说，每个光量子均有其特征的能量ε，它们与波长或频率之间的关系可以用普朗克（Planck）公式表示：ε＝hv＝h（c/λ）波长是相邻间相位相同的两点之间的距离式中：h是普朗克常数，其值为6.626*10-34 焦耳/秒2、电磁波谱区域电磁辐射按波长顺序排列称磁波谱。
他们是物质内部运动的一种客观反映，也就是说任一波长的光量子的能量ε与物质的内能变化△E=E2-E1=ε＝hv＝h（c/λ）如果已知物质由一种状态，E2过渡到另一种状态E1时，其能量差为△E=E2-E1便可按照公式计算出相应的光量子的波长。
下表列出了各辐射区域、波长范围及相应的能及跃迁类型。
对于成分分析主要应用近紫外及可见光区。
表一电磁波谱区域注：1米＝103毫米＝106微米＝109纳米＝1012皮米3、光谱分析内容光谱分析是根据物质的特征光谱来研究化学组成、结构和存在状态的一类分析领域。
矿产
矿产资源开发利用方案编写内容要求及审查大纲
矿产资源开发利用方案编写内容要求及《矿产资源开发利用方案》审查大纲一、概述
㈠矿区位置、隶属关系和企业性质。
如为改扩建矿山, 应说明矿山现状、
特点及存在的主要问题。
㈡编制依据
(1简述项目前期工作进展情况及与有关方面对项目的意向性协议情况。
(2 列出开发利用方案编制所依据的主要基础性资料的名称。
如经储量管理部门认定的矿区地质勘探报告、选矿试验报告、加工利用试验报告、工程地质初评资料、矿区水文资料和供水资料等。
对改、扩建矿山应有生产实际资料, 如矿山总平面现状图、矿床开拓系统图、采场现状图和主要采选设备清单等。
二、矿产品需求现状和预测
㈠该矿产在国内需求情况和市场供应情况
1、矿产品现状及加工利用趋向。
2、国内近、远期的需求量及主要销向预测。
㈡产品价格分析
1、国内矿产品价格现状。
2、矿产品价格稳定性及变化趋势。
三、矿产资源概况
㈠矿区总体概况
1、矿区总体规划情况。
2、矿区矿产资源概况。
3、该设计与矿区总体开发的关系。
㈡该设计项目的资源概况
1、矿床地质及构造特征。
2、矿床开采技术条件及水文地质条件。
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品质管理部2014年第1版
襄阳美利信科技有限责任公司
光谱仪培训
一 光谱仪基本原理
二 基本操作
狭缝定位 标准化 类型标准化 定量分析
三 设备日常维护保养
检查和添加循环水 氩气过滤桶的清理 除尘网的清理 真空泵油的添加和更换 样品激发台的清理
光谱仪原理
试样在高压作用下形成的原子蒸气经激发后产生发射光谱，,由 于每种元素的发射光谱线强度正比于样品中该元素的含量,经光导纤 维进入分光室色散成各种光谱波段，根据各种元素的特征光谱线， 通过出射狭缝进入各自的光电倍增管中，光信号转换为电信号，经 仪器控制测量系统，将电信号进行积分并进行模数转换，由计算机 处理检测出各自的元素含量。
标准化二
4、点击“Batch-Samples Not OK”将所选方法相应的所有标 准化样块中状态为“OUTDATE”（过期的样品）； 5、点击“Batch”“All-Samples”选择“Creat Batch”建立 批处理并立即测量所有样品； 6、第一个提示框显示已经存在一个命名为“SUS”并自动进入 下一个界面； 7、点击“ManageBatches”弹出对话框可以创建批处理，，重 命名批处理；
狭缝定位有：直接描迹和积分描迹。
一般情况下选用积分描迹。
பைடு நூலகம்
光谱仪基本操作——狭缝定位
1、 在OXSAS主界面点击“工具”“光学检 查”“积分描迹”在描迹界面中选择； 2、点击“名称”下拉菜单，选择描迹的分 析方法，如PROFILE，点击Sample ID，选 择样品标识，点击SAMPLE ID 输入样品名 称和描迹名称； 3、在起始位置文本框输入起始位置，建议 从平均位置减去10个位置作为起始位置， 如平均位置为100，则起始刻度输为10010=90，即从90的刻度进行扫描； 4、在结束位置文本框输入终止位置，建议 从平均位置加16个刻度作为终止刻度，， 如平均位置为100，终止刻度输入 100=16=116，即116的刻度结束描迹； 5、步长文本框输入步长，，一般设为2， 即每步扫描刻度盘顺时针旋转的刻度为2选 择需要描迹的元素通道，，容易受影响的 且低含量的元素一般不作为描迹元素，如 Al、Pb、S、Ca、N、O。
标准化二
与上一种方法不同的是通过批处理的方法进行标准化。（先创 建再执行批处理） 1、点击“分析和数据”“管理SCT样品”； 2、在“Select SCT Display”中选择“Setting-up”； 3、在“Select Item”下拉菜单中选择“All methods”对所 有的方法进行标准化
进行类型标准时需要一块类型标样，它的成分甚至生产工艺要与需 要的位置样接近，这种类型标样可以选用生产中的未知样进行化学法 定值，但需要它有很好的均匀性。我们建议定期进行漂移校正，而在 定量分析之前进行类型标准化的漂移校正。
光谱仪基本操作——狭缝定位
6、设置完毕以后，将样品放在激发台上，关好激发台门，将扫描刻 度定位在90刻度上，为补偿螺旋的游记，建议补偿20个刻度左右， 即先反时针方向将刻度盘转到70左右，然后再顺时针定位于90， （起始位置不一定必须是90，每台仪器可能有所不同，需要灵活设 置） 7、第一次激发完后更换激发点，点击“测量下一步”直到所有被选 元素的描迹的最大位置出现，点击峰值，选择Show half peak position （显示半峰高位置）显示最佳位置平均值，如平均位置为 97.9. 8、点击“文件”“保存”保存描迹。
光谱仪原理
光谱仪的整个激发过程由四种系统组成：
1、激发系统：人物是通过各种方式是固态样品充分原子化， 并放出各元素的的发射光谱光； 2、光学系统：对激发系统产生的复杂光信号进行处理（整 理、分离、筛选、捕捉） 3、测控系统：测量代表各元素的特征谱线强度，通过各种 手段，将谱线的强度信号转化为电脑能够识别的数字电信号， 控制整个仪器正常运转； 4、计算机中的软件数据处理系统，对电脑接收到的个通道 的光电强度数据，进行各种算反运算，得到稳定，准确的样 品含量。
漂移校正/标准化
标准化也叫做漂移校正更新，是日常分析中 最常用的分析操作。是对各个分析程序进行操作， 提高测量的准确性。通常标准化可以定期来做， 频次可有操作着而定。
注：漂移校正的初始化测量（SUS init）在不做 曲线的时候禁止操作）
标准化一
实验方法一： 1、选择“分析和数据”“标准化（F3） 2、在分析任务中选择“Task”，选择“SUS”，在“Setting-up Sample”漂移校准样选择一个样品，将相应的样品放入激发台， 点击“SID OK+START”开始激发； 3、更换激发态，点击“继续”激发下一个激发点，保留测量结果 中重现性较好的4到5个有效点，完成此样快的测试，点击“完成” 开始下一个样快的测试； 4、继续如上实验。
光谱仪基本操作
二 基本操作
狭缝定位 标准化 类型标准化 定量分析
光谱仪基本操作——狭缝定位
定义：光电直读光谱仪是非常稳定的仪器，迹 线漂移很慢，但受环境因素的影响，如温度的急 剧变化，振动等，描迹位置会发生很小的变化， 因此需要用户根据自己的情况定期对设备进行描 迹检查，描迹检查元素通道出射狭缝与入射狭缝 的相对机械位置，入射狭缝是用户仪器上所设置 的全部元素所共用的。出射狭缝的位置是由扫描 刻度盘的刻度来给出的。
类型标准是一个已知成分的标样，这个标样的成分以及其他的状态 要与检测的位置样接近。类型标准校正就是将类型标准的标定成分输 入到类型标准校正程序中，并用相关的分析程序测试该标样，类型标 准校正程序会自动记录该标样的分析结果并比较标定值与分析值之间 的差异，然后在采用类型标准校正的分析任务中，利用指定的校正模 式对分析结果进行补偿，使得到的分析结果更接近于实际值，类型标 准校正是对浓度数值的校正。
标准化二
8、点击“Duoliucate Batch”复制当前批处理； 9、点击“Start Batch of Analysis”开始执行批处理。
类型标准化
日常中，我们分析一块标样，得到的结果和标样的标定值之间存在 一定的差异，造成这种差异的原因来自多方面，如表面状态的差异、 晶体结构的差异、工艺流程的差异。为了在分析过程中对这种差异进 行自动补偿，我们建议类型标准校正程序来达到这一目的。