MEMS键合工艺简介
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
键,使之转换为非桥接氧原子,使键合面带负电荷 HOH+ Si-O-Si——2H++2Si-O-
• 800度以上:水扩散显著,间隙和空洞中的水扩散到氧化 硅中,产生局部真空空洞,硅片发生塑性形变消除空洞。 SiO2产生粘滞流动,消除微间隙。大于1000度后,临近 原子相互反应产生共价键,键合完成
工艺及参数影响
静电键合
工艺及工艺参数的影响
•温度: 低温:没有导电电流,键合无法进行 高温:玻璃软化,无法键合 一般:180~500度
•电压: 低压;静电力减弱,
无法键合 高压:击穿玻璃 一般:200~1000伏
静电键合
• 键合产生的应力:热膨胀系数相近、热匹配 • 电极形状:点接触、平行板电极 • 非导电绝缘层的影响;减弱静电力,460nm后,键合失效 • 表面粗糙度的影响 • 极化区中残余电荷的作用;键合完成后在极化区内残余的
划片
SEM观察
•
1、有时候读书是一种巧妙地避开思考 的方法 。20.1 2.1220. 12.12Sa turday, December 12, 2020
•
2、阅读一切好书如同和过去最杰出的 人谈话 。10:5 9:0610: 59:0610 :5912/ 12/2020 10:59:06 AM
•
•
6、意志坚强的人能把世界放在手中像 泥块一 样任意 揉捏。 2020年 12月12 日星期 六上午 10时59 分6秒1 0:59:06 20.12.1 2
•
7、最具挑战性的挑战莫过于提升自我 。。20 20年12 月上午 10时59 分20.1 2.1210: 59Dece mber 12, 2020
2020 10:59:06 AM10:59:062020/12/12
• 11、自己要先看得起自己,别人才会看得起你。12/12/
谢 谢 大 家 2020 10:59 AM12/12/2020 10:59 AM20.12.1220.12.12
• 12、这一秒不放弃,下一秒就会有希望。12-Dec-2012 December 202020.12.12
• 13、无论才能知识多么卓著,如果缺乏热情,则无异 纸上画饼充饥,无补于事。Saturday, December 12, 2020
12-Dec-2020.12.12
• 14、我只是自己不放过自己而已,现在我不会再逼自 己眷恋了。20.12.1210:59:0612 December 202010:59
Biblioteka Baidu足够清洗、超净环境、平整表面、高温处理、
低温键合:在小于500度下完成键合
复合键合
“复合”键合
原理利用中间层之间的反应完成键合
• 带硅化物的键合:NiSi,PtSi,TiSi2等 • 金硅键合:利用金硅互熔点低的特点(400度左右) • 非晶硅
金硅共晶键合
键合技术比较
键合对准
键合质量检测
红外检测
内容
• 晶片制备 • 光刻 • 淀积 • 掺杂 • 键合 • 刻蚀
键合
键合
键合工艺
键合:静电键合、热键合、“复合”键合 键合的目的是通过外界作用将多个基片“粘接” 不同的键合方式,键合原理不同
静电键合
静电键合:Wallis和Pomerantz于1969年提出,静电键合可把金属、 合金、半导体与玻璃键合
电荷形成静电力,加强键合
例子
键合工艺
热键合:高温处理后,硅片直接键合在一起。Lasky提出 硅直接键合(SDB) 硅熔融键合(SFB) 直接样品键合(DWB)
工艺: • 表面处理 • 表面帖合 • 高温处理
对键合面要求: • 平整度:无凸起 • 粗糙度:Ra<0.6nm • 清洁度:无沾污
原理:三个阶段
• 表面处理的作用:吸附OH根很关键 NH4OH、H2SO4、等离子体处理
• 温度的影响; • 与温度有关的孔洞;沾污碳氢化合物随温度生高 (200~800度)释放产生孔洞,大于1100高温退 火或先800度退火处理可消除 • 键合强度:随温度生高增加 • 界面氧化层的稳定:三种机制解释
• 表面平整度: • 沾污粒子:1微米粒子产生4.2mm孔洞
•
8、业余生活要有意义,不要越轨。20 20年12 月12日 星期六 10时59 分6秒1 0:59:06 12 December 2020
•
9、一个人即使已登上顶峰,也仍要自 强不息 。上午 10时59 分6秒 上午10 时59分1 0:59:06 20.12.1 2
• 10、你要做多大的事情,就该承受多大的压力。12/12/
原理: • 硼硅玻璃、磷硅玻璃在一定
温度下软化,行为类似电解 质,外加电压下,正离子 (Na)向阴极漂移,在阳极形成空间电荷区, 外加电压落于空间电荷区,漂移停止 • 如硅接阳极,玻璃接阴极,硅玻璃接触, 在界面形成的负空间电荷区与硅发生化学 反应,形成化学键Si-O-Si,完成键合 • 可通过检测电流监测键合 是否完成
3、越是没有本领的就越加自命不凡。 20.12.1 210:59: 0610:5 9Dec-20 12-Dec-20
•
4、越是无能的人,越喜欢挑剔别人的 错儿。 10:59:0 610:59: 0610:5 9Saturday, December 12, 2020
•
5、知人者智,自知者明。胜人者有力 ,自胜 者强。 20.12.1 220.12. 1210:5 9:0610: 59:06D ecembe r 12, 2020
• 室温~200度:表面吸附的OH根在接触区产生氢键,随温 度增高,OH根得到热能增大迁移率,氢键增多,硅片产 生弹性形变,键合强度增加。在200~400度间,形成氢键 的两硅片的硅醇键聚合反应,产生水合硅氢键,键合强度 迅速增大
Si-OH+HO-Si——Si-O-Si+H2O • 500~800度:水基本不扩散,OH根破坏桥接氧原子的一个
• 800度以上:水扩散显著,间隙和空洞中的水扩散到氧化 硅中,产生局部真空空洞,硅片发生塑性形变消除空洞。 SiO2产生粘滞流动,消除微间隙。大于1000度后,临近 原子相互反应产生共价键,键合完成
工艺及参数影响
静电键合
工艺及工艺参数的影响
•温度: 低温:没有导电电流,键合无法进行 高温:玻璃软化,无法键合 一般:180~500度
•电压: 低压;静电力减弱,
无法键合 高压:击穿玻璃 一般:200~1000伏
静电键合
• 键合产生的应力:热膨胀系数相近、热匹配 • 电极形状:点接触、平行板电极 • 非导电绝缘层的影响;减弱静电力,460nm后,键合失效 • 表面粗糙度的影响 • 极化区中残余电荷的作用;键合完成后在极化区内残余的
划片
SEM观察
•
1、有时候读书是一种巧妙地避开思考 的方法 。20.1 2.1220. 12.12Sa turday, December 12, 2020
•
2、阅读一切好书如同和过去最杰出的 人谈话 。10:5 9:0610: 59:0610 :5912/ 12/2020 10:59:06 AM
•
•
6、意志坚强的人能把世界放在手中像 泥块一 样任意 揉捏。 2020年 12月12 日星期 六上午 10时59 分6秒1 0:59:06 20.12.1 2
•
7、最具挑战性的挑战莫过于提升自我 。。20 20年12 月上午 10时59 分20.1 2.1210: 59Dece mber 12, 2020
2020 10:59:06 AM10:59:062020/12/12
• 11、自己要先看得起自己,别人才会看得起你。12/12/
谢 谢 大 家 2020 10:59 AM12/12/2020 10:59 AM20.12.1220.12.12
• 12、这一秒不放弃,下一秒就会有希望。12-Dec-2012 December 202020.12.12
• 13、无论才能知识多么卓著,如果缺乏热情,则无异 纸上画饼充饥,无补于事。Saturday, December 12, 2020
12-Dec-2020.12.12
• 14、我只是自己不放过自己而已,现在我不会再逼自 己眷恋了。20.12.1210:59:0612 December 202010:59
Biblioteka Baidu足够清洗、超净环境、平整表面、高温处理、
低温键合:在小于500度下完成键合
复合键合
“复合”键合
原理利用中间层之间的反应完成键合
• 带硅化物的键合:NiSi,PtSi,TiSi2等 • 金硅键合:利用金硅互熔点低的特点(400度左右) • 非晶硅
金硅共晶键合
键合技术比较
键合对准
键合质量检测
红外检测
内容
• 晶片制备 • 光刻 • 淀积 • 掺杂 • 键合 • 刻蚀
键合
键合
键合工艺
键合:静电键合、热键合、“复合”键合 键合的目的是通过外界作用将多个基片“粘接” 不同的键合方式,键合原理不同
静电键合
静电键合:Wallis和Pomerantz于1969年提出,静电键合可把金属、 合金、半导体与玻璃键合
电荷形成静电力,加强键合
例子
键合工艺
热键合:高温处理后,硅片直接键合在一起。Lasky提出 硅直接键合(SDB) 硅熔融键合(SFB) 直接样品键合(DWB)
工艺: • 表面处理 • 表面帖合 • 高温处理
对键合面要求: • 平整度:无凸起 • 粗糙度:Ra<0.6nm • 清洁度:无沾污
原理:三个阶段
• 表面处理的作用:吸附OH根很关键 NH4OH、H2SO4、等离子体处理
• 温度的影响; • 与温度有关的孔洞;沾污碳氢化合物随温度生高 (200~800度)释放产生孔洞,大于1100高温退 火或先800度退火处理可消除 • 键合强度:随温度生高增加 • 界面氧化层的稳定:三种机制解释
• 表面平整度: • 沾污粒子:1微米粒子产生4.2mm孔洞
•
8、业余生活要有意义,不要越轨。20 20年12 月12日 星期六 10时59 分6秒1 0:59:06 12 December 2020
•
9、一个人即使已登上顶峰,也仍要自 强不息 。上午 10时59 分6秒 上午10 时59分1 0:59:06 20.12.1 2
• 10、你要做多大的事情,就该承受多大的压力。12/12/
原理: • 硼硅玻璃、磷硅玻璃在一定
温度下软化,行为类似电解 质,外加电压下,正离子 (Na)向阴极漂移,在阳极形成空间电荷区, 外加电压落于空间电荷区,漂移停止 • 如硅接阳极,玻璃接阴极,硅玻璃接触, 在界面形成的负空间电荷区与硅发生化学 反应,形成化学键Si-O-Si,完成键合 • 可通过检测电流监测键合 是否完成
3、越是没有本领的就越加自命不凡。 20.12.1 210:59: 0610:5 9Dec-20 12-Dec-20
•
4、越是无能的人,越喜欢挑剔别人的 错儿。 10:59:0 610:59: 0610:5 9Saturday, December 12, 2020
•
5、知人者智,自知者明。胜人者有力 ,自胜 者强。 20.12.1 220.12. 1210:5 9:0610: 59:06D ecembe r 12, 2020
• 室温~200度:表面吸附的OH根在接触区产生氢键,随温 度增高,OH根得到热能增大迁移率,氢键增多,硅片产 生弹性形变,键合强度增加。在200~400度间,形成氢键 的两硅片的硅醇键聚合反应,产生水合硅氢键,键合强度 迅速增大
Si-OH+HO-Si——Si-O-Si+H2O • 500~800度:水基本不扩散,OH根破坏桥接氧原子的一个