声发射材料检测

(1-10)通道声发射仪——SAEU2S

声发射基本原理

从声发射源发射的弹性波最终传播到达材料的表面，引起可以用声发射传感器探测的表面位移，这些探测器将材料的机械振动转换为电信号，然后再被放大、处理和记录。固体材料中内应力的变化产生声发射信号，在材料加工、处理和使用过程中有很多因素能引起内应力的变化，如位错运动、孪生、裂纹萌生与扩展、断裂、无扩散型相变、磁畴壁运动、热胀冷缩、外加负荷的变化等等。人们根据观察到的声发射信号进行分析与推断以了解材料产生声发射的机制。

（1-10）通道声发射仪基本技术指标：

•10通道声发射机箱，通道数客户选定（1-10个）

•USB2.0声发射数据采集卡与计算机通讯

•1—10个独立声发射参数和波形通道

•实时连续声发射参数组通过率大于40万组/秒

•实时连续声发射波形数据通过率大于30MB/秒

•最大波形采样率： 3M/5M/10M/-Samples/sec(可选)

•采样精度：16位

•波形连续采集功能（连续采集时间仅受数据通过率和硬盘容量限制）

•512kB波形前采与后采功能

•实时连续硬件数字滤波器：0-3MHz频率范围内任意频率数值设置数字滤波器窗口直通，高通，低通，带通，带阻

•实时连续硬件数字信号处理：FFT功率谱输出，滤波后的波形重构和输出，重构波形的声发射参数产生和输出

•模拟滤波器：低通（100kHz、400kHz、1200kHz），高通（20kHz、100kHz、400kHz），带通（低通高通组合），直通

•自动传感器测试（AST）

•工作温度：-10℃～45℃

•外参数量：12个

•模拟外参A/D：12bit

•模拟外参采样率：最大可达625k-Samples/sec

•模拟外参输入范围：±10V

•定位功能：球面/柱面/平面/立体/线定位/罐底

•声发射参数：到达时间/幅度/计数/能量/上升计数/持续时间/上升时间/RMS/ASL/4个外接参数/质心频率/峰值频率/5个局部谱参数

•FFT、小波及神经网络模式识别等多种信号分析功能

（产品图片）