TEM ppt

二次衍射的基本条件是：
g1 + g 2 = g 3
即：
000 111
h1k1l1 + h2 k2l2 = h3k3l3
金刚石结构中，002 是禁止衍射，因二 次衍射使 002 衍射斑点通常出现。
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六角密堆晶系中由二次衍射产生的附加斑点
01 2 01 1 01 0 01 1 01 2
00 2 00 1 00 0 00 2
排的电子衍射，有可能对应晶 体的单胞参数
*
旋转角的确定 在电镜中使 用双倾台，旋转角由两个方向 倾转角合成得到
β 2 − β1 cosθ = cos ∆α cos ∆β + 2 sin α1 sin α 2 sin ( ) 2
2
其中
∆α = α 2 − α 1
∆β = β 2 − β 1
近似处理为：
11
B
φ
2
O
A
3
4
d值比较法运用实例：a-Fe电子衍射谱标定
1 选择 A 和 B，测量 r1≈9.9mm， r2≈17.2mm，φ ≈74o 2 计算 d 值，Lλ = 20.08mmA， 与α−Fe JCPDF卡数据比较，找出 {hkl}1 和{hkl}2
r1
A
r2
φ
B
r1 d计 d卡 {hkl} 2.028A 2.027A {110}1
cos θ ≈ cos ∆α cos ∆β
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α、β分别为双倾台记录的试样倾转角
一个新的Bi基超导相的结构确定
在Bi系氧化物超导体的研究中，发现一个新的物 相。经EDS成分分析，该物相为 Bi4(SrLa)8Cu5O7)。下面是在电 镜中绕C*轴倾转晶体获得的一套电子衍射图谱，其倾转角分别标在 每张衍射谱左下端。
4
新型TEM主体结构
为了获得更高的性 能，目前生产的新型 TEM的结构 更加复杂，如透镜有：聚光镜两 个、汇聚小透镜、物镜、物镜小 透镜、三个中间镜、投影镜等。 这样的结构可以在很大范围内改 变像的放大倍数，并被用来实现 扫描透射成像（需要利用偏转线 圈）、微衍射和微分析（加上 X 射线能谱仪）
5
0. 0
12. 9
24. 7
100
008
080
34. 6
49. 0
b*c
*
21
按照前述方法构造a*b*倒易平面如下图所示
b* ° 14.4 14.4° ° 9.9 9.9° ° 11.8 11.8°
12.9 ° 12.9° a*
所有衍射谱都 构成正交网格，且无四方点 阵，故此晶体的最高对称性只 能是正交晶系。
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等价晶面的指数变换
采用d值比较法标定电子衍射谱，要使用 JCPDS或 JCPDF数据，但对等价晶面只列出一个面指数，而如何确定其他等价晶 面，标定电子衍射谱时尤显重要。 等价晶面指数变换的依据，即各晶系晶面间距公式。
a 立方
48种 变换可能。
d =a
h2 + k 2 + l 2
指数变换规则为：h、k、l的位置和符号可任意变化，共有
15
f
六方 d = 1
4 h 2 + hk + k 2 l 2 ( + 2) 2 3 a c
由公式可见，h、k的次序可变，h、k的符号需同时改变；l的符号可随意改变。 另外，四指数h、k、i中可任选两个作为三指数的h、k， 于是变化规则可归纳为如下两点：
从四指数中的h、k、i中可任选两个作为三指数的h、k。 三指数中的h、k位置顺序可变动，符号可一起改变；l可任意改变符号，共有24种变
g1 + g 2 = g 3 图 a 和 c 中，因为存在 的条件，300、003等禁止衍射都出现了。
h+l=2n+1
b 四方
d =a
h2 k 2 l 2 + 2+ 2 2 a b c
式中，h、k、l均为平方项，故三指数符号可任意变化；h、k相 关项具有相同系数，故h、k位置可互换。共有 16种 变换可能。
14
c
正交
d =a
h2 k 2 l 2 + 2+ 2 2 a b c
式中，h、k、l均为平方项，故三指数符号可任意 变化。三指数相关系数不同，指数顺序和位置必须固定，共 8种 变换 可能。
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旋转晶体重构三维倒易点阵法
通过绕晶体某一特定 晶轴旋转试样，获得一系 列电子衍射花样，根据这 些电子衍射花样和旋转角 度，重构三维倒易点阵， 可确定未知结构所属晶系 及点阵参数。 试用简单立方晶体予 以说明。
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c*
c*
θ1
c*
c*
θ2
θ3
b*
b*
b*
b*
1 1
1
5
1
2
1
5
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两个需要说明的问题 * 特定晶轴的选择 应选择最密
电子衍射图谱解析
中国科学技术大学
张庶元
1
内容提要
TEM成像原理 电子衍射谱的标定 未知结构的衍射分析 多次衍射效应 孪晶的电子衍射谱 孪晶面与电子束平行 任意取向的孪晶电子衍射 孪晶的迹线 长周期结构（调制结构）电子衍射谱 有序长周期结构 密堆长周期结构 缺陷引起的超结构 菊池衍射谱 织构衍射谱
2
r2 1.167 A 1.170 A {112}
2
12
标定一套指数 取(110) 3 为A点指 数，根据立方晶系晶面夹角公 h1h2 + k1k 2 + l1l2 式 cos ϕ = h12 + k12 + l12 h22 + k 22 + l22
110 211 000 φ 121 A 110 121 B 211
TEM成像原理和电子衍射的获得
物 物镜
（焦平面） （物镜光阑） 衍射谱
TEM成像过程符合Abbe成像原理 平行电子束入射到周期结构物样 时，便产生衍射现象。 经物镜聚焦，其后焦面上形成衍 射极大。 每个衍射极大值发出的次级波在 像平面上相干成像。
一次像 中间镜
（视场光阑）
二次像 投影镜
像平面上的像经过中间镜组，投 影镜组再作二次放大投射到荧光 屏上，称为物的三级放大。 改变中间镜电流，即改变中间镜 焦距，使中间镜物平面移到物镜 后焦面，便可在荧光屏上看到像 变换成衍射谱的过程。
3
TEM电子衍射的特点：
电子能量高，波长短，衍射角小，因而单晶的电 子衍射斑点坐落在一个二维网格的格点上，相当于一个二维 倒易点阵平面的投影，非常直观地显示出晶体的几何特征， 使晶体几何关系的研究变得简单方便。 原子对电子散射能力强（比X射线散射强度高 104倍）。 一方面，高的散射强度可以实现微 小区域（几个纳米）的衍射花样的观测，适合于微晶、表面 和薄膜的晶体结构研究； 另一方面，强衍射束在晶体内易产 生二次衍射，甚至多次衍射，导致衍射强度分析困难。在电 子衍射图谱的分析中也往往要考虑二次衍射效应。
d
单斜 d = a
h2 k2 l2 2hl cos β + 2+ 2 2 − 2 2 a sin β b c sin β ac sin 2 β
变换规则：指数位置不能改变，三指数符号可一起变； k 的符号可单独变，共 4种 变换可能。
e
三斜
d公式复杂，略。 变换规则：h、k、l只能一起改变符号，2种 变换可能。
i = −(1 + 2) = 3 如（123）晶面的等价晶面共有24个， 123 123 123 123 213 213 213 213 133 133 133 133 313 313 313 313 233 233 233 233 323 323 323 323
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未知结构的衍射分析
不同结构晶体的 电子衍射谱具有不同 的对称特征。利用电 子衍射谱的对称性， 往往可迅速判断其所 属的晶系。
计算{112}中所有指数与(110) 的夹角，结果 (121)， (211)，(121)，(211) 四个等价指数与(110)成 73.23o， 与实测角74o基本相符。取 (211)为B点指数，按矢量叠加原 [uvw] → [110] × [2 1 1 ] = [ 1 1 3 ] 理，标定如图。 4 晶带轴指数
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电子衍射几何的基本公式
晶体对电子衍射的布拉格(Bragg)定律
2d hkl Sinθ = nλ 或 1d Sinθ = 2λ
R = Ltg 2θ ≈ 2 LSinθ = Lλ
即
d
Rd = Lλ
L：相机长度 λ：电子波长 （Lλ : 相机常数） R：衍射斑距透射斑长度 d: 衍射斑对应的晶面间距
8
6
三次像
电子显微图象
电子衍射花样
显微像和选区电子衍射花样
TEM一大优点是可以获得对应的显微图象和选区电子衍射 (SAED) 图样。在200kv的加速电压下，改变选区光阑的直径，可以得到尺寸小到 0.1 微米样品的TEM像和SAED图样。
(a)
(b)
(a)、(b)是选区光阑直径为1.0微米时得到的碳化硅多晶样品的 TEM像和同心圆环组成的选区电子衍射(SAED)图样。 (c)、(d)是选区光阑直 径为0.1微米时碳化硅单晶颗粒(即(a)中用A标记的颗粒）样品的TEM像和二维 点阵组成的选区电子衍射图样，图样中的平行细条纹来自薄片状孪晶。仔细观察 可见，(b)中电子衍射图样包含(d)中的单晶电子衍射图样。
Miller指数的符号应满足右手螺旋法则，该法则决定了两基本矢量与晶带 轴之间的关系。 两个基本矢量的线性组合，一定能标出属于相同Laue区的所有衍射斑 点的指数。
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多晶电子衍射谱标定
多晶电子衍射谱由一系列同心圆环 组成，每个环对应一组晶面。ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
d = Lλ/R，可求得各 根据 衍射环对应的晶面间距d。
经测量计算，其晶胞参数为
a≈5.39 A b≈23.5 A c≈34.0 A
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超高压榴辉岩中绿辉石的电子衍射分析
为了确定安徽碧溪岭和石马地区绿辉石有序结构究竟是 P2还是 P2/n，在电镜下对绿辉石晶体试样进行了电子衍射分析。 绕b*轴倾转晶体获得了8张电子衍射花样，如下是其中的4张。 根据8张电子衍射图的实际倾转角，构造了(010)*倒易面上的取向分布。
1927年，戴维孙、革末和汤 姆孙的电子衍射实验证明了电子的波动性， 为电子显微镜的诞生创造了条件。
20世界30年代，德国 E.Ruska教授与其导师研制出世界上第一 台电子显微镜，为开展多种电子衍射实验 提供了保证。 70余年来，依托TEM的电子衍 射实验，为材料结构的研究发挥了难以估量 的作用。电子衍射与电子显微图象，以及成 分分析结合，对固体微观形貌、晶体结构以 及化学组成进行的研究，极大地丰富了固体 物理、物体化学、材料科学、地质矿物等学 科的相关知识，有力地促进了这些学科深入 发展。
电子衍射谱的标定
电子衍射谱的标定是确定材料显微结构的重要步 骤。一般地，这一过程应遵循如下原则：
二维倒易平面中的任意倒易矢量 g 均垂直于晶带轴[uvw]方向（电子束反方向）
[uvw] • g hkl = uh + vk + wl = 0
若已知两倒易矢量 g1，g2，则晶带轴方向为
[uvw] = g 1 × g 2 = [k1h2 − h1k 2 , h1l2 − l1k 2 , l1 k 2 − k1l2 ]
绕 0k0 点列旋转得到的的4张不同晶带的电子衍射图 根据(010)*面上的 h0l(h+l=2n+1)斑点的分布特征，001， 102，201等斑点未有消光，表明晶体不存在n 滑移面，可确定此绿辉石晶体为有序结构P2。 由8张电子衍射图 构造的(010)*倒易面上的取 向分布
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多次电子衍射谱
晶体对电子的散射能力强，衍射束往往可视为晶体内新的入 射束而产生二次或多次 Bragg反射。这种现象称为二次衍射或多次衍射 效应。 111 002
与JCPDF卡（多晶粉末衍射卡） 中的d值对照比较便可标定每个衍射 环的指数（hkl）。
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单晶电子衍射谱标定的d值比较法
1 选择衍射斑A、B，使 r1 和 r2 为 最短和次 短长度，测量 r1、r2 和夹角φ值 根据 rd = Lλ ，求A、B衍射斑 对应的面间距 d1 和 d2 , 与物样 JCPDF数据比较，找出与 d1、d2 相吻合的面指数 {hkl}1 和 {hkl}2 在 {hkl}1 中，任选 (h1k1l1) 为 A点指数，从 {hkl}2 中，试探计算 确定B点指数(h2k2l2)，使 (h1k1l1) 和 (h2k2l2) 的夹角计算值与实测值 φ相符 按矢量叠加原理，标定其它衍射斑指 数，并求出晶带轴指数 [u v w]
01 2 01 1 01 01 0 1 01 2
11 2 11 0 112
002 00 0 00 2
11 2 110 11 2
(100)*
(110)*
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Nd2Fe14B晶体的二次衍射
下图是Nd2Fe14B晶体的三个晶带轴的电子衍射谱。
020 002 200 200 002 110
按系统消光规律，该晶体的 h0l 衍射的消光条件是：