X-3000能量色散X荧光光谱仪解析
偏振能量色散型X-射线荧光光谱仪的主要特点解析
偏振能量色散型X-射线荧光光谱仪的主要特点1.采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术, 区别于其他X射线荧光仪, 仪器的背景最低, 信噪比最佳, 检出限最低.2.采用多靶转换技术, 对不同的分析元素采用不同的次级靶, 保证对元素周期表中Na – U的所有元素均有最佳的激发效果。
其中仪器所采用的晶体靶, 由于X射线衍射的原因, 其激发强度不仅不会下降, 反而会产生单色平行X光束, 大大提高激发元素的效率。
3.由于偏振X射线本身所具有的偏振性及单色性, 因此仪器无需选择滤光片。
避免了烦杂的滤光片的选择, 简化分析操作, 减少了X光的损失, 节约了分析时间。
可实现真正意义上的Na-U的全分析。
4.XEPOS型仪器配有无需液态氮冷却的Si计数器, 计数率高达100,000pcs. 可有效防止计数溢出。
不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比变差的情况。
5.仪器采用的方式于世界上最强的X射线发生源－同步加速器所采用的光源机制相似，X光极为纯净，减少了杂散光对分析结果的影响。
6.仪器可选择配置TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。
可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。
与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。
7.仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。
采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。
定性、定量功能强大。
仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。
8.仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。
方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别一．X射线荧光分析仪简介X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。
在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。
是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。
如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。
该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。
能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。
近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。
二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。
（一）原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。
波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
能量色散型X射线荧光分析仪(元素光谱分析仪)设备操作说明书
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商版本A2一﹑功能鍵說明主機﹕用于放置待測物計算機﹕用于控制周邊設備。
打印機﹕用于列印相關數據二﹑操作說明1.機器連接﹕將主機電源線插入穩壓器110V輸出端﹔將穩壓器輸出線插入UPS輸入端充電﹔將計算機電源線插入UPS輸出端﹔將打印機電源線插入主機輸出110V端﹔列印機﹑主機﹑鍵盤﹑鼠標與主機相連既可。
核准審核製作日期UPS﹕斷電后提供穩定的電源給計算機﹐避免計算機資料丟失。
穩壓器﹕用于提供110V電源給主機并提供給UPS充電。
設備型號EDX-720 廠商版本A22.開機﹕2.1確認連線無誤后﹐將穩壓器電源開關撥向“ON”狀況﹐且穩壓器指針指在110V時﹐既可按下圖步驟開啟設備。
2.3.按下計算機桌面上的“EDX Sofrware”圖標﹐計算機即出現下圖對話框。
2.4.按下上圖中的“維護”圖標﹐計算機彈出如下畫面。
點擊下圖“儀器初始化”圖標﹐可以聽到快門和瀘光片動作聲音。
校正正常“儀器狀態欄”均顯示OK﹐表示校正成功。
核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.5.按下上圖中的“儀器設置”圖標﹐計算機顯示儀器設置對話框如下畫面﹕按下下圖儀器設置對話框中的“執行啟動”圖標。
即對X光管進行預熱﹐此時需等待30分鐘。
以確保儀器工作于穩定狀態﹐否則測量值誤差大。
2.6.X光管預熱30分鐘后將樣品“A750”放入主機X光管窗口處﹐如下圖﹕2.7.點擊下圖“儀器校正”圖標﹐計算機顯示“儀器校正”對話框。
按下儀器校正對話框的“開始”圖標﹐儀器進行能量校正并顯示校正中﹐請稍等……核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.8. 校正完成后﹐在“分析組別”內選擇定性/定量easy組別測試A750﹐以判定校正是否成功。
若測試結果中AL>85%﹐且測出了Sn﹑CU﹑說明儀器校正OK。
已可以測待測物。
能量色散型x荧光光谱仪应用
能量色散型x荧光光谱仪应用
能量色散型x荧光光谱仪是一种用于分析各种样品的仪器。
它可以检测样品中的元素和化合物，以及它们的浓度和分布情况。
以下是能量色散型x荧光光谱仪的应用：
1. 材料分析：能量色散型x荧光光谱仪可用于分析各种材料，如金属、陶瓷、塑料和玻璃等。
它可以检测材料中的元素和化合物，以及它们的含量和分布情况。
2. 地质学研究：能量色散型x荧光光谱仪可以用于地质样品的分析，如矿物、岩石和土壤等。
它可以检测样品中的元素和化合物，以及它们的浓度和分布情况，从而帮助地质学家了解地球的构成和演化。
3. 生物医学研究：能量色散型x荧光光谱仪可以用于生物医学研究，如细胞和组织样品的分析。
它可以检测样品中的元素和化合物，从而帮助生物学家了解生物分子的组成和功能。
4. 环境监测：能量色散型x荧光光谱仪可以用于环境监测，如水、空气和土壤等的分析。
它可以检测样品中的污染物和有害物质，从而帮助环境学家了解环境污染的来源和影响。
总之，能量色散型x荧光光谱仪在各个领域都有广泛的应用，可以为科学研究和工业生产提供有效的分析手段。
能量色散x射线荧光光谱仪能量分辨率
能量色散x射线荧光光谱仪（EDXRF）是一种常用于分析材料成分的仪器。
其能量分辨率是衡量其性能优劣的重要指标之一。
下面我们将从以下几个方面来详细介绍EDXRF的能量分辨率。
一、能量分辨率的定义能量分辨率是用来描述仪器在测量样品时能够分辨出能量差异的能力。
在EDXRF中，能量分辨率通常指的是在接收x射线信号时，系统能够准确测量出相邻两个能量峰之间的能量差异程度。
能量分辨率越高，表示仪器能够更准确地分辨出样品中不同元素的成分，提高了分析的精度和可靠性。
二、影响能量分辨率的因素1. 探测器性能：EDXRF仪器中常用于探测x射线的探测器有Si-PIN探测器和硅漂移探测器等，探测器的能量分辨率直接影响了整个系统的性能。
探测器本身的能量分辨率越高，整个系统测量的能量分辨率也会相应提高。
2. 探测器冷却系统：探测器在测量过程中会产生一定的热量，如果没有有效的冷却系统来控制探测器温度，会影响探测器的性能，从而影响整个系统的能量分辨率。
3. 信号处理电子学：EDXRF系统中的信号处理电子学部分对于提高能量分辨率也起着至关重要的作用。
优质的信号处理电子学可以有效减小系统本身的噪音，提高信号的稳定性和准确性。
1. 选择优质的探测器：在购物EDXRF仪器时，应选择具有高能量分辨率的探测器，如硅漂移探测器。
2. 合理设计冷却系统：在安装EDXRF仪器时，应合理设计并严格控制探测器的冷却系统，确保探测器的温度稳定在合适的范围内。
3. 优化信号处理电子学：在仪器的使用过程中，可以对信号处理电子学进行适当的优化和调整，以确保信号的稳定和准确。
四、高能量分辨率的意义EDXRF仪器的能量分辨率是衡量其性能优劣的一个重要指标。
具有高能量分辨率的EDXRF仪器能够更准确地分辨出样品中不同元素的成分，提高分析的精度和可靠性。
特别是对于一些在样品中含量较低的元素，高能量分辨率的仪器往往能够得到更为准确的分析结果。
能量色散x射线荧光光谱仪的能量分辨率是影响其分析性能的重要因素之一。
能量色散x荧光光谱仪的检验范围
人教版（部编）语文五年级下册5《草船借箭》说课稿一. 教材分析《草船借箭》是人教版（部编）语文五年级下册的一篇课文。
这是一篇以历史故事为背景的叙事文章，讲述了三国时期曹操与诸葛亮之间的斗争。
课文通过描述诸葛亮利用智慧，借助草船向曹操借箭的故事，展现了诸葛亮的智谋和英勇。
这篇文章语言生动，情节紧凑，富有戏剧性，能够激发学生的兴趣和想象力。
二. 学情分析五年级的学生已经具备了一定的阅读理解能力和思维能力，他们对于历史故事和历史人物有一定的了解和兴趣。
但是，由于学生的个体差异，他们对课文的理解程度和阅读能力可能会有所不同。
因此，在教学过程中，需要关注学生的差异，因材施教，并通过引导和启发，帮助他们更好地理解和欣赏课文的内涵。
三. 说教学目标1.知识与技能目标：学生能够正确地朗读课文，理解课文的大意，掌握生字词的意思。
2.过程与方法目标：通过阅读和讨论，学生能够培养阅读理解和思维能力，提高语文素养。
3.情感态度与价值观目标：学生能够理解诸葛亮的智谋和英勇，激发对历史故事和人物的兴趣和热爱。
四. 说教学重难点1.重点：学生能够正确地朗读课文，理解课文的大意，掌握生字词的意思。
2.难点：学生能够理解诸葛亮的智谋和英勇，以及课文中所展现的价值观。
五. 说教学方法与手段1.教学方法：采用问题驱动法、讨论法和情境教学法，引导学生主动参与课堂，培养阅读理解和思维能力。
2.教学手段：利用多媒体课件和图片，生动展示课文中的情节和人物形象，帮助学生更好地理解和想象。
六. 说教学过程1.导入：通过多媒体展示三国时期的历史背景，引起学生对课文兴趣。
2.阅读理解：学生自主阅读课文，理解课文大意，教师提问引导学生深入思考。
3.生字词学习：学生自主学习生字词，教师通过举例和解释帮助学生掌握。
4.讨论与思考：学生分组讨论课文中的情节和人物，分享自己的观点和感受。
5.情境教学：教师创设情境，学生分角色扮演课文中的角色，进行表演和表达。
波长色散型x射线荧光光谱仪与能量色散型x射线荧光光谱仪的区别
波长色散型x射线荧光光谱仪与能量色散型x射线荧光光谱
仪的区别
波长色散型X射线荧光光谱仪的工作原理是利用入射的X射线与物质相互作用后产生的荧光X射线进行分析。
荧光X射线的波长由样品中的元素种类和化学状态决定。
波长色散型X射线荧光光谱仪通过选择特定波长的荧光X射线进行分析，得到元素的含量和比例。
该仪器具有分辨率高、准确性好等优点，但是需要大量的时间和劳动力进行样品制备和测试。
能量色散型X射线荧光光谱仪的工作原理是利用入射的X射线与物质相互作用后产生的荧光X射线的能量进行分析。
不同元素产生的荧光X射线能量不同，利用能量色散型X射线荧光光谱仪可以同时测出样品中多种元素的含量和比例。
该仪器具有速度快、测试简便等优点，但是分辨率和准确性不如波长色散型X射线荧光光谱仪。
总之，波长色散型X射线荧光光谱仪和能量色散型X射线荧光光谱仪在分析元素组成成分方面各有优缺点，使用时需要根据实际需要选择合适的仪器。
- 1 -。
能量色散x射线荧光光谱
能量色散x射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱学习资料一、基本原理1. X射线与物质的相互作用- 当一束高能X射线照射到样品上时，会与样品中的原子发生多种相互作用。
其中，光电效应是能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）的基础。
在光电效应中，原子中的内层电子吸收X射线光子的能量，克服其结合能而被激发逸出原子，从而在原子内层留下一个空穴。
- 外层电子会跃迁到这个空穴来填补，在这个过程中会释放出具有特定能量的特征X射线。
这个特征X射线的能量等于跃迁前后两个能级的能量差，它是元素的特征标识，不同元素的特征X射线能量不同。
2. 能量色散原理- 在EDXRF中，样品受激发产生的特征X射线进入探测器。
探测器将X射线光子的能量转化为电信号，这个电信号的幅度与X射线光子的能量成正比。
- 通过对电信号进行放大、处理和分析，可以得到X射线的能量分布谱图。
在谱图中，不同能量的特征X射线峰对应着不同的元素，峰的强度与该元素在样品中的含量有关。
二、仪器结构1. X射线源- 是产生激发X射线的部件。
常见的X射线源有放射性同位素源和X射线管。
- 放射性同位素源具有稳定、简单、不需要外部电源等优点，但能量不可调且存在放射性安全问题。
X射线管则可以通过调节管电压和管电流来改变X射线的能量和强度，应用更为广泛。
2. 样品室- 用于放置待分析的样品。
样品室的设计要考虑到对不同类型、形状和大小样品的适应性。
- 有些样品室还配备有样品旋转装置，可以使样品在分析过程中均匀受激，提高分析结果的准确性。
3. 探测器- 是仪器的核心部件之一。
常用的探测器有硅锂探测器（Si(Li)）和高纯锗探测器（HPGe）等。
- 硅锂探测器在室温下性能会下降，通常需要在液氮温度下工作，它对轻元素有较好的探测能力。
高纯锗探测器具有较高的能量分辨率，但也需要低温冷却，主要用于对能量分辨率要求较高的分析场合。
4. 信号处理与分析系统- 探测器输出的电信号经过前置放大器、主放大器等放大电路进行放大，然后通过多道脉冲幅度分析器（MCA）将不同幅度（对应不同能量）的脉冲信号进行分类和计数。
能量色散x射线荧光光谱仪特征强度_概述及解释说明
能量色散x射线荧光光谱仪特征强度概述及解释说明1. 引言1.1 概述能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）是一种广泛应用于材料分析的仪器，它通过测量材料中元素的特征X射线来确定样品的组成。
该技术具有快速、无损且非破坏性的优点，因此在金属、土壤、矿石等领域得到了广泛应用。
1.2 文章结构本文将首先对能量色散X射线荧光光谱仪的特征强度进行概述，并解释其原理和应用领域。
接着，我们将详细介绍特征强度的定义及计算方法，并给出实例说明以便读者更好地理解。
然后，文章将分析特征强度受到的影响因素，包括样品特性、仪器参数和实验条件等，并提供相应的分析解释。
最后，我们将对整篇文章进行总结，并展望能量色散X射线荧光光谱仪特征强度在未来的研究前景。
1.3 目的本文旨在通过对能量色散X射线荧光光谱仪特征强度进行概述和解释，以提供读者对该仪器技术的全面了解。
通过详细介绍特征强度的定义、计算方法和影响因素，我们希望能够帮助读者更好地理解该技术，并为进一步研究和应用提供参考。
同时，本文还将展望该技术在未来的发展前景，以推动相关领域的进一步研究和应用。
2. 能量色散x射线荧光光谱仪特征强度：2.1 仪器描述：能量色散X射线荧光光谱仪是一种用来分析样品中元素组成的仪器。
它主要由以下部分组成：X射线源、样品台、能量色散系统和探测器。
其中，X射线源产生高能X射线，照射到样品上并激发样品中的原子产生荧光信号。
样品台用于放置和固定待测样品，通常可以通过移动来调整位置。
能量色散系统由晶体和电子学器件组成，它的主要作用是将不同能量的荧光信号分离开来，使得探测器可以准确地测量每个能量上的荧光强度。
探测器则用于测量从样品中发出的荧光辐射，并将其转化为电信号。
2.2 原理解释：在能量色散X射线荧光光谱仪中，当高能X射线照射到样品上时，其中一部分X 射线会被吸收并激发了样品内部的原子。
被激发的原子在经过一段时间后会回到基态，并向外辐射出能量与特定原子构型相关的荧光信号。
能量色散x射线荧光光谱仪原理
能量色散x射线荧光光谱仪原理嗨，小伙伴们！今天咱们来唠唠一个超酷的仪器——能量色散X射线荧光光谱仪。
这玩意儿听起来是不是特别高大上？其实呀，它的原理也没有那么神秘莫测啦。
咱们先从X射线说起吧。
X射线就像是一群超级小的、能量满满的小精灵，它们特别调皮，到处跑。
当我们用这个光谱仪的时候呢，就会有一束X射线被发射出来，去照射我们想要检测的样品。
这个样品呢，可以是各种各样的东西，就像一个神秘的小盒子，里面藏着好多秘密等待我们去发现。
当X射线打到样品上的时候，就像一群小访客去敲样品这个小房子的门啦。
样品里的原子呢，可不会对这些小访客无动于衷哦。
原子里面有电子，这些电子平时就像住在小房子里的小居民，安安稳稳的。
但是X射线这个小访客一来，就把电子给打扰啦。
有些电子就像是被叫醒的小懒虫，它们吸收了X射线带来的能量，然后变得特别兴奋，就从自己原本的小房子（原子里的低能级轨道）一下子跳到了更高的小房子（高能级轨道）去了。
不过呢，这些兴奋的小电子在高能级轨道上可待不久，就像小朋友在一个很高的游乐设施上玩一会儿就会害怕一样。
它们很快就又想回到自己原来的小房子啦。
在这个回去的过程中呢，它们就会把之前吸收的多余能量释放出来。
这个释放出来的能量就以X射线荧光的形式出现啦。
而且呀，每个元素的原子就像有自己独特的小脾气一样，它们释放出来的X射线荧光的能量是不一样的哦。
这时候，能量色散X射线荧光光谱仪就开始发挥它的大作用啦。
它就像一个超级灵敏的小耳朵，专门去听这些X射线荧光的能量是多少。
它能把不同能量的X射线荧光区分开来，就像能听出不同音调的声音一样。
然后呢，根据这些不同的能量，就能知道这个样品里都有哪些元素啦。
你看啊，这整个过程就像是一场小小的魔法表演。
X射线是魔法棒，样品是魔法舞台，原子里的电子是小演员，而能量色散X射线荧光光谱仪就是那个聪明的小观众，能把这场表演里的各种细节都看清楚，然后告诉我们这个舞台上都有哪些独特的元素在参与表演呢。
能量色散x荧光光谱仪 上照式
能量色散x荧光光谱仪上照式
能量色散X荧光光谱仪是一种用于分析样品中元素的仪器。
它
通过激发样品中的原子或分子，使其产生荧光，然后利用能量色散
原理来分析荧光的能量和波长分布。
"上照式"通常指的是样品在光
谱仪中的放置方式，即样品位于光路上方，荧光光线从样品向上发射，经过光学系统后被分析和检测。
从技术角度来看，能量色散X荧光光谱仪上照式的设计可以提
供更高的灵敏度和分辨率。
这种设计可以减少背景干扰，并且允许
更好地控制样品的激发和检测过程，从而提高分析的准确性和精度。
从应用角度来看，能量色散X荧光光谱仪上照式的设计适用于
许多领域，包括环境监测、地质勘探、材料分析等。
它可以用于快速、准确地检测样品中的各种元素，包括重金属、稀土元素等，因
此在环境保护和资源勘探方面具有重要的应用前景。
总的来说，能量色散X荧光光谱仪上照式是一种高效、精密的
分析仪器，它在科学研究和工业生产中发挥着重要作用，为元素分
析提供了可靠的技术手段。
能量色散x射线光谱仪原理
能量色散x射线光谱仪原理宝子！今天咱们来唠唠能量色散X射线光谱仪的原理，可有趣啦！你知道吗？这个能量色散X射线光谱仪就像是一个超级侦探，能把物质的小秘密都给挖出来。
那它是怎么做到的呢？这就得从X射线说起啦。
X射线啊，它是一种很神奇的光线，就像那种有着特殊能力的小精灵。
当我们用X射线去照射一个样品的时候，就像是给这个样品来了一场特殊的“光照体验”。
这个时候呢，样品里的原子就开始有反应啦。
原子里面有电子，这些电子平常在自己的小轨道上待着，还挺安分的。
可是X射线一来，就像来了个调皮的捣蛋鬼，把一些电子给弄兴奋了。
那些内层的电子啊，就有可能被这个X射线的能量给打得飞出去了，这就产生了一个空位。
那这个空位可不能一直空着呀，就像房子不能一直没人住一样。
外层的电子就会赶紧跑来填补这个空位。
当外层电子往内层跑的时候呢，它会释放出能量。
这个能量是以X射线的形式放出来的哦。
而且不同的元素，它的原子结构不一样，电子的能量状态也不一样。
所以啊，当不同元素的原子释放出X射线的时候，这些X射线的能量是有差别的。
这就像是每个人都有自己独特的声音一样，每个元素也有自己独特的X射线能量“声音”。
那能量色散X射线光谱仪呢，它就像是一个超级灵敏的耳朵，专门来听这些不同元素的X射线“声音”。
它里面有个探测器，这个探测器可厉害了。
当那些不同能量的X射线打到探测器上的时候，探测器就能把这些X射线的能量信息给记录下来。
就好像是把不同的声音的高低、强弱都给记下来一样。
然后呢，这个探测器把这些信息传给电脑。
电脑就像一个聪明的大脑，它会根据这些能量信息来分析这个样品里都有哪些元素。
它能根据不同的能量值，准确地判断出是哪个元素在“唱歌”，也就是在释放特定能量的X射线。
这样一来，我们就能知道这个样品是由哪些元素组成的啦。
你看，这个能量色散X射线光谱仪是不是超级酷？它就像一个小小的魔法盒子，把物质里面的元素信息都给变出来了。
而且啊，它在很多地方都特别有用呢。
测金仪
检测系统介绍X-3000贵金属贵金属检测系统介绍X-3000是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。
它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。
任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格1．激发源：本机采用低功率X射线管（W靶），最高电压可达50KV，最大电流1mA2．高压电源：最大50W，50KV，1mA3．探测器：电制冷Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）4．多道分析器：2048道5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。
定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。
客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6．电源：交流220V50Hz7．体积：520mm x600mm x270mm8．重量：约42kg(主机)整机技术性能1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量2．可测量含量范围，从ppm至100%3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟4．多元素同时定性定量5．蜂位漂移：八小时小于1%进口探测器的性能指标1．探测器类型：电制冷Si-PIN2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）3．硅活化区厚度：300um4．探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV对于12us的形成时间，半高宽为149Ev 5．探测器窗口：铍窗，25um厚高压电源规格1．电压和电流从零至满量程连续可调，最大50KV，1mA2．电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的0.01%线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%3．电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%4．稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05% 5．温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%。
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别一．X射线荧光分析仪简介X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。
在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。
是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。
如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。
该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。
能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。
近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。
二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。
（一）原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。
波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪标定
操作规程一、样品准备用来标定仪器的样品称为标准样品。
本仪器采用的X射线荧光分析方法是一种相对测量方法，必须先分别对已知含量的样品进行测量，建立工作曲线，然后才能进行准确的仪器分析。
一台仪器标定一次便可长期工作。
因此标定工作正式进行之前，请按要求制备好标准样品：二、双击打开软件。
三、参数设置（注：参数设置设置好一般不用变化）1、设置测量窗口。
在“参数设置”下“设置分析测量窗口”中将已找好的测量道输入（注：如何找测量道？即电流电压设置好后随便测试一条待标定的样品。
以峰左右最低处为准）输入完毕，保存返回。
2、设置标定公式。
设置好标定待测元素及所用到的测量道符号（修整元素可在拟和曲线时随意搭配），输入完毕，保存返回。
3、设置分析参数。
将每种模式下的时间、管压、管流等设置好。
输入完毕，保存返回。
四、测试标定样品1、在软件中点击“分析样品”下“打开分析测量窗口2”，然后在下面的“模式选择”里，选择待测样品的模式，把样品的谱线名称保存正确。
在窗口中输入编号和对应元素的含量，点击2、在依次将所有样品测试完毕后点击3、在此窗口下，选择“保存文件”，把测试的样品谱线保存在该软件的操作系统内。
4．打开T e s t窗口，选择“专家测试”窗口，先把里面的数据库文件删除干净（直接用鼠标选中该谱线，然后单击两次E n t e r键，便可以删除谱线）5．选择“打开文件”，调出测试的谱线，单击鼠标右键，选择数据入库文件，依次把待测样品输入数据库，第一条谱线存为标样谱线。
如果输入的谱文件名称不对，修改名称（单击鼠标左键两次）6．输入样品含量，首先鼠标左键选中要修改的选项，单击鼠标右键，就可以输入样品含量。
7．选择“分析测量”中的“分析测量2”窗口，调出任何一个测试过的样品的谱线，点击“计算含量”，然后在数据管理中，找到“打开”，在里面找到r e l a t e d.s t d文件。
把里面的数据文件复制到S t a n d a r d.s t d文件里。
能量色散x荧光光谱仪的功能
能量色散x荧光光谱仪的功能
能量色散x荧光光谱仪是一种用于研究物质的化学成分和结构的仪器。
它具有以下主要功能：
1. 荧光信号检测: 荧光光谱仪可以测量物质在受到激发后发射的荧光信号强度
和波长分布。
通过分析荧光光谱特征，可以获得物质的信息，如元素组成、结构、分子间相互作用等。
2. 能量色散: 荧光光谱仪可以将荧光信号根据波长进行分散，从而实现不同波长的荧光信号的分离和测量。
这样可以得到更详细的关于物质荧光发射的信息，并提高测量的准确性。
3. 光谱扫描: 荧光光谱仪能够对不同波长范围内的荧光信号进行扫描，并记录下信号的强度和波长随时间的变化。
这种能力可以用于研究物质的动力学过程，如化学反应、分子间相互作用的变化等。
4. 构成分析: 荧光光谱仪可以通过测量荧光信号的强度和波长分布，来确定物质的化学成分。
通过与已知物质的光谱进行比较，可以实现物质的定性和定量分析。
5. 光谱图像获取: 荧光光谱仪可以获取整个荧光光谱的图像，并显示在显示器上。
这种图像可以提供更直观、详细的信息，帮助研究者更好地理解荧光信号的特征和变化。
总之，能量色散x荧光光谱仪具有测量荧光信号、分离荧光信号、扫描光谱、构成分析和图像获取等功能，用于研究物质的化学成分和结构。
ROHS色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的比较
ROHS设备波长型色散型X荧光光谱仪与能量型X射线光谱仪比较
X射线荧光分析仪(XRF)是可以对多元素同事测定的仪器。
在X射线激发下，能够发出二次X射线。
根据其波长和能量的不同实现两种理论的设备检测功能：
1)激发出的二次X射线通过晶体分光后，由探测器接受经过衍射的特征X射线信号，根
据检测出不同波长的二次X射强度分析，从而实现定量分析，这就是波长型XRF分析仪。
2)(ED-XRF)能量色散型X射线光谱仪：是通过检测器直接检测二次X射线的能量和强度，
从而分析出样品中所含有元素的种类和浓度。
两种设备的比较：。
波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪
波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪针对ROHS指令的应用比较随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近，国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案；X荧光分析技术（XRF）作为一种方便有效的快速分析手段，正迅速被业内人士所了解和应用。
目前在中国市场上，应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型；一般情况下，波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多；但应用于ROHS指令的场合时，波长色散和能量色散则各有优缺点，测量对象各有侧重；以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明：1、测量精度：尽管目前各家能量色散仪器（均为Si-Pin类型）生产商和销售商都给出了很高的技术指标，但在实际应用中（特别在被测样品不进行处理的情况下），真正可以期待的准确度都在200~300ppm 之间（测量塑料中有害元素时，准确度会好一些；对不规则样品，则精度会更差）；同时，对于同类型的仪器，进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别（基本配置），但进口仪器的价格却昂贵很多。
波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级，基本在20~50ppm左右。
2、测量时间：由于波长色散配备较大功率的X光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时间，便能达到较高的测量精度。
3、被测量样品的要求：由于技术特点的差异，波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。
能量色散型仪器最大的优势在于：可以对样品不作处理直接进行测量，对样品也没有任何损坏，直接用于生产的过程控制中；但需要强调指出的是：从荧光理论上讲，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。
浅谈能量色散X-荧光光谱仪在多金属低品位矿山的应用
浅谈能量色散 X-荧光光谱仪在多金属低品位矿山的应用摘要：近年来，铅锌铜铁等有色金属的品位分析方法在不断的改进创新。
低品位多金属矿元素的分析，追求便捷、准确。
文章对能量色散X-荧光光谱仪分析方法的应用前景与环境保护进行探讨，并分析了仪器检测方法对高产量、低品位有色金属铅锌铜铁品位分析的有利影响，以及发展前景和展望。
关键词：能量色散X-荧光仪；应用前景；环境保护；分析方法的调整与优化作者简介：郝卓（1980—）,女，本科，工程师，研究方向：高分子化学。
赤峰山金红岭是一个铜、铅、锌、铁多种元素有色金属矿山，是以锌、铜、铁为主的矽卡岩型多金属矿山。
文章探讨研究的成果，能够为同类低品位多种类有价金属的充分综合利用，以及如何调整提高低品位金属的分析方法做指导。
利用能量色散X-荧光光谱仪可以充分有效地回收利用低品位矿产资源，延长矿山的生产服务年限，提高矿山企业综合经济效益。
1能量色散X-荧光光谱仪元素分析的重要性及发展前景随着近年来我国有色金属矿山产业的不断发展，有价低品位金属矿山状态已经是目前矿山企业面临的难题。
采用能量色散X-荧光光谱仪分析检测技术的理论和实践也相应得到了广泛应用，尤其是近年来仪器分析技术的日趋完善，使得能量色散技术在分析实践中的地位越来越重要。
能量色散X-荧光光谱仪分析方法的产生，以其快速、对试样无损，可以同时测定多种元素等优点，能够适应不同矿山企业的作业条件与作业环境，使得低品位矿山的元素含量分析很多难题得到解决。
1.1红岭公司有价金属元素检测分析方法的概况及发展史赤峰山金红岭是铜、铅、锌、铁多金属矿山，年处理总矿石量达到165万t以上。
其中入选原矿金属锌品位大约在1.5-2.0%，铜品位在0.1-0.2%，铅品位在0.40-0.50%。
红岭矿含有多种低品位有价金属，个别有价金属含量低于0.10%。
随着矿山企业生产任务加重，采矿、选矿压力增加，地质采矿样品、选矿流程样品也随之剧增，人工溶样分析工作压力非常大。
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X-3000能量色散X荧光光谱仪
技术指标及其它相关说明
一、设备故障率
仪器设备功能完善、运行故障率低。
由于关键部位都采用了可靠的进口原件，仪器设备在正常使用条件下，故障率不高于5%。
二、设备校准
对于峰位校准，采用厂方提供的银铜校正块进行校准。
当铜峰位变化不超过±1道，银峰位变化不超过±2道时可以正常使用。
三、设备性能稳定性和误判率
以峰位稳定性作为整机性能稳定性的判定指标。
在正常工作条件下，铜峰位8小时的变化小于1%，仪器在正常使用条件下，采用正确的方法，仪器的误判率小于2% 。
四、仪器性能
按国标（黄金）测试合格，误差:含金量＞18K，误差＜±0.3%；含金量≤18K 误差＜±0.6%
五、仪器使用安全事项
仪器内部有高压电源，最高可达5万伏，因此严禁用户自行打开仪器，因此造成的后果，由用户自己负责。
六、仪器使用注意事项
1.仪器工作条件：
温度： 18℃ - 28℃
湿度： 35% -65%
电压： 220±10%
2．仪器开关顺序：
先开电源，后开高压电源；先关高压电源，后关电源。
3.样品室要注意小心开合，并注意快门灯的变化，开启时为绿灯，关闭后为红灯。
４．每次开机后要预热３０分钟。
５．仪器预热后，在测量样品前，首先必须要检测仪器校正块，在校正块峰位正常后，方可进行正常的检测。
６．注意不同材质的物品，选用不同的方法。
７．在仪器使用过程中有任何疑问，欢迎致电厂方，不建议自行打开仪器。
七、技术指标及其他说明
1. 探测器探测面积、分辨率：7mm2、300μm标准：［探测器号×××用1024道MCA,测量改放射源55Fe的能量为5.9keV的MnKα线。
使得计数率为2120，实时间3
2.53秒（死时间为9.02%）］情况下172eV 。
2. 设备能量探测范围：Na-U
3. 设备稳定性：24小时Cu峰飘移小于1%
4.数据处理能力：在通常情况下（计数率大于2500）测量时间为3分钟，若由于样品太小或太薄，测量时间将相应加长。
天津市搏智伟业科技有限公司
2007年9月17日。