JTAG及JTAG接口简介
AVR单片机JTAG接口的使用方法
AVR单片机JTAG接口的使用方法AVR单片机JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于单片机的调试和编程工具。
它提供了一种高效的方式来进行硬件调试、固件编程和软件调试。
在本文中，我将详细介绍AVR单片机JTAG接口的使用方法。
1.JTAG接口简介JTAG接口由四条线组成，分别是TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
它是一种串行接口，用于与其他外设进行通信。
JTAG接口能够通过硬件调试、固件编程和软件调试来提高系统调试的效率。
2.JTAG接口的初始化在使用JTAG接口之前，需要对其进行初始化。
首先，需要确定使用的JTAG接口类型，然后根据类型选择与之匹配的调试工具和软件。
接下来，需要连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上。
通常，这些引脚在单片机的数据手册中有详细的说明。
3.JTAG接口的连接连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上，确保连接正确无误。
通常，TCK（时钟线）和TMS（状态线）引脚是共享的，它们分别连接到单片机的相应引脚上。
TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）引脚则是分别连接到单片机的相应引脚上。
请务必根据单片机的数据手册正确连接JTAG接口引脚。
4.JTAG接口的编程在使用JTAG接口进行编程之前，需要确保已经安装了合适的调试工具和软件。
这些工具和软件可以帮助我们完成对单片机的编程操作。
通常，这些工具和软件提供了一些简单的命令和接口，用于与单片机进行通信。
通过这些命令和接口，我们可以读取和写入单片机的内部寄存器，从而实现对单片机的编程操作。
5.JTAG接口的调试使用JTAG接口进行调试可以帮助我们找到系统中的错误和问题。
通过读取和写入单片机的内部寄存器，我们可以查看程序的执行状态、输入和输出数据、栈的使用情况等信息。
通过这些信息，我们可以判断程序中的错误和问题，并进行调试操作。
6.JTAG接口的注意事项在使用JTAG接口之前-确保JTAG接口的引脚连接正确无误，避免引脚连接错误导致的通信问题。
jtag接口是什么
jtag 接口是什么
JTAG（JointTestAcTIonGroup，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种
嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （TestAccessPort，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
如今大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM、DSP、FPGA 器件等。
标准的JTAG 接口是4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
如今JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。
14 针JTAG 接口
1、13VCC 接电源。
jtag工作原理详解 (2)
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。
它提供了一种简单而有效的方法来访问和控制芯片内部的信号和电路。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本概念、信号架构、操作流程和应用场景。
1. JTAG的基本概念JTAG是由国际电子工程师学会（IEEE）创建的一组标准，旨在为集成电路的测试和调试提供一种统一的接口。
它定义了一组标准信号和协议，使得测试和调试工具可以通过这些信号与芯片进行通信。
2. JTAG的信号架构JTAG使用四个主要信号线来实现通信：TCK（Test Clock）、TMS（TestMode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
其中，TCK是一个时钟信号，用于同步数据传输；TMS是一个控制信号，用于控制状态转换；TDI是测试数据输入信号，用于向芯片发送测试数据；TDO是测试数据输出信号，用于从芯片读取测试结果。
3. JTAG的操作流程JTAG的操作流程主要包括两个阶段：测试模式和用户模式。
在测试模式下，JTAG可以通过TMS和TCK信号来控制芯片进入不同的状态，如测试、重置和配置状态。
在用户模式下，芯片可以正常运行，并通过JTAG接口与外部设备进行通信。
4. JTAG的应用场景JTAG广泛应用于集成电路的测试和调试领域。
它可以用于测试芯片的功能和性能，并检测潜在的故障和缺陷。
此外，JTAG还可以用于芯片的调试和修复，通过读取和修改内部寄存器的值，以及观察和控制芯片的内部信号，来分析和解决问题。
5. JTAG的工作原理JTAG的工作原理可以简单概括为以下几个步骤：a. 初始化：JTAG控制器发送一系列的TMS和TCK信号，将芯片置于测试模式。
b. 测试模式选择：JTAG控制器通过TMS信号控制芯片进入特定的测试模式，如测试、重置或者配置模式。
jtag接口原理
jtag接口原理JTAG接口原理是一种基于IEEE Std 1149.1标准的测试和调试接口，用于在集成电路（IC）中进行电气测试、故障诊断和编程操作。
该接口是由四根线（TCK、TMS、TDI、TDO）和一根地线（GND）组成，可以通过这些线连接到目标IC的测试端口。
TCK（Test Clock）线提供时钟信号，用于同步数据的传输和操作的执行。
TMS（Test Mode Select）线用于控制JTAG状态机的状态转换，包括从一个状态进入另一个状态。
TDI（Test Data Input）线用于向目标IC发送测试数据或编程数据。
TDO （Test Data Output）线用于从IC中读取测试数据或编程数据。
在JTAG接口中，目标IC被组织成一系列的“链”或“路径”，每个路径上可能包含一个或多个JTAG设备。
这些设备通过将TDO线接到下一个设备的TDI线来实现级联连接。
这样，通过JTAG接口，可以从一个设备向另一个设备传递数据。
JTAG接口的工作原理基于状态机，在每个时钟周期，TMS线的状态决定当前的JTAG状态。
状态机根据状态，决定执行相应的操作，例如向目标IC发送指令、读取/写入数据、控制目标IC的输入/输出引脚等。
使用JTAG接口，可以进行多种功能，如电路故障诊断、芯片级别的板级测试和编程操作。
在调试过程中，JTAG接口可以用于读取目标IC中的内部寄存器值、存储器数据等，帮助分析程序执行状态和故障定位。
总之，JTAG接口是一种强大的测试和调试工具，通过发送和接收数据，在目标集成电路中实现测试、故障诊断和编程操作。
它提供了一种方便、高效的方式来访问目标IC的内部结构和状态，对于电子产品的开发、制造和维修具有重要意义。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种通用的、标准化的方法来访问集成电路内部的信号和寄存器，以便进行测试、调试和编程操作。
本文将详细介绍JTAG工作原理，包括JTAG的基本原理、信号传输方式、测试模式和操作流程等。
一、JTAG的基本原理JTAG是一种串行接口，它使用了四根信号线（TCK、TMS、TDI、TDO）来实现与目标芯片的通信。
其中，TCK（Test Clock）是测试时钟信号，用于同步数据传输；TMS（Test Mode Select）是测试模式选择信号，用于控制JTAG状态机的状态转换；TDI（Test Data Input）是测试数据输入信号，用于向目标芯片发送测试数据；TDO（Test Data Output）是测试数据输出信号，用于从目标芯片读取测试结果。
二、信号传输方式JTAG使用的是一种称为“链式扫描”（Scan Chain）的方式来传输数据。
在链式扫描中，所有的目标芯片连接成一个长链，每个芯片都有一个扫描链（Scan Chain）用于传输数据。
通过控制TMS信号，可以选择要操作的芯片，并将数据从一个芯片传递到下一个芯片。
三、测试模式JTAG定义了多种测试模式，包括测试、调试和编程模式等。
其中，测试模式用于对芯片进行功能测试和故障诊断；调试模式用于对芯片进行调试和性能分析；编程模式用于对芯片进行编程操作。
在测试模式下，可以通过JTAG接口对芯片内部的寄存器进行读写操作，以验证芯片的功能是否正常。
通过设置不同的测试模式，可以选择要测试的功能模块，并将测试数据传递到目标芯片进行测试。
四、操作流程JTAG的操作流程通常包括以下几个步骤：1. 初始化：将JTAG状态机设置为测试模式，并将目标芯片复位到初始状态。
2. 选择目标芯片：通过控制TMS信号，选择要操作的目标芯片。
3. 设置测试模式：通过控制TMS和TDI信号，设置目标芯片的测试模式。
什么是JTAG？JTAG是什么意思？
通过JTAG的读芯片ID子程序如下：
void id_command(void){
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle;使JTAG复位
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
JTAG芯片的边界扫描寄存器
JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。图2为具有JTAG口的IC内部BSR单元与引脚的关系。
通过使用TAP状态机的指令实行对Flash的操作
通过TCK、TMS的设置，可将JTAG设置为接收指令或数据状态。JTAG常用指令如下：
SAMPLE/PRELOAD——用此指令采样BSC内容或将数据写入BSC单元；
EXTEST——当执行此指令时，BSC的内容通过引脚送到其连接的相应芯片的引脚，我们就是通过这种指令实现在线写Flash的；
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：
TCK——测试时钟输入；
TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；
JTAG接口介绍
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。
14针JTAG接口定义：14针JTAG接口定义引脚名称描述1、13VCC接电源2、4、6、8、10、14GND接地3nTRST测试系统复位信号5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11TDO测试数据串行输出12NC未连接20针JTAG接口定义引脚名称描述1VTref目标板参考电压，接电源2VCC接电源3nTRST测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11RTCK测试时钟返回信号13TDO测试数据串行输出15nRESET目标系统复位信号17、19NC未连接下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于集成电路测试和调试的标准接口。
它提供了一种快速、可靠的方法来测试和调试芯片的内部电路。
本文将详细解释JTAG的工作原理。
一、JTAG的基本概念1.1 JTAG的定义和发展历史JTAG是一种由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的标准接口，最早是为了解决集成电路测试的问题而提出的。
它的发展历史可以追溯到20世纪80年代，现在已成为一种广泛应用于各种芯片的测试和调试接口。
1.2 JTAG的组成部份JTAG接口由四个主要部份组成：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。
这四个信号线构成为了JTAG接口的核心，通过它们可以实现对芯片内部电路的测试和调试。
1.3 JTAG的工作原理JTAG的工作原理是通过在芯片内部插入一组特殊的测试逻辑电路（Test Access Port，TAP）来实现的。
TAP是一个状态机，通过TMS信号的控制，可以进入不同的状态，如测试模式、数据移位等。
通过TAP，可以将测试数据输入到芯片内部电路中，然后通过TDO信号输出测试结果。
二、JTAG的测试模式2.1 JTAG的测试模式概述JTAG接口支持多种测试模式，常见的有测试模式、数据移位模式和配置模式。
测试模式用于测试芯片内部电路的功能，数据移位模式用于读取或者写入芯片内部的寄存器，配置模式用于加载或者读取芯片的配置信息。
2.2 测试模式的使用在测试模式下，可以对芯片内部电路进行功能测试。
通过设置TMS信号的状态，可以进入测试模式，并通过TDO信号输出测试结果。
测试模式可以匡助检测芯片内部电路的故障和错误。
2.3 数据移位模式的使用数据移位模式用于读取或者写入芯片内部的寄存器。
通过设置TMS信号的状态，可以进入数据移位模式，并通过TDO信号读取或者写入寄存器的数据。
jtag的工作原理
jtag的工作原理
JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子
设备的接口标准。
其工作原理如下：
1. 链接：JTAG接口通常由四个引脚组成，分别是TCK（测试时钟）、TMS（测试模式选择）、TDI（测试数据输入）和TDO（测试数据输出）。
这四个引脚通过线路与芯片内部的
测试逻辑连接起来。
2. 测试模式选择：在测试之前，需要将JTAG接口设置为测试模式。
通过在TMS引脚上输入一系列控制位，可以实现
JTAG接口的状态切换和操作控制。
例如，可以将JTAG设置
为测试模式、诊断模式或者配置模式。
3. 测试数据输入：测试数据可以通过TDI引脚输入到被测试
的设备中。
这些测试数据可以是测试模式命令、配置数据或者其他需要进行测试的输入信号。
4. 测试数据输出：被测试设备的测试逻辑会产生一些输出信号，这些信号可以通过TDO引脚输出到JTAG接口。
这样，测试
人员可以读取和分析这些信号，并判断设备的状态和运行情况。
5. 时序控制：测试过程中，TCK引脚提供一个时钟信号，控
制JTAG接口的状态转换和数据传输。
测试人员可以通过调整时钟频率来控制测试速度和数据传输的稳定性。
总的来说，JTAG接口利用TCK、TMS、TDI和TDO引脚之
间的通信，实现了对电子设备的测试和调试。
通过该接口，测试人员可以控制设备的状态，输入测试数据，并读取设备的输出信号，从而验证设备的正确性和性能。
jtag接口
JTAG接口1. 简介JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）接口是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
它可以提供对设备内部的信号和状态进行非侵入性访问，方便测试和调试工作的进行。
2. JTAG接口的原理JTAG接口基于IEEE 1149.1标准而设计，通常由以下几个主要部分组成：2.1 TAP控制器TAP（Test Access Port，测试访问端口）控制器是JTAG接口的核心部分，它负责控制JTAG链上的各个设备进行测试和调试操作。
TAP控制器包含四个主要状态：Test-Logic-Reset （测试逻辑复位）、Run-Test/Idle（运行测试/空闲）、Select-DR-Scan（选择数据寄存器扫描）和 Select-IR-Scan（选择指令寄存器扫描）。
2.2 数据寄存器和指令寄存器JTAG接口通过数据寄存器和指令寄存器实现对设备内部信息的读取和写入。
数据寄存器用于存储设备内部的数据，指令寄存器用于存储控制设备的指令。
2.3 JTAG链JTAG链是由多个设备连接在一起形成的链路，每个设备都有一个JTAG接口用于进行测试和调试操作。
通过JTAG链，可以对所有设备进行统一的控制和访问。
3. JTAG接口的应用JTAG接口广泛应用于电子设备的测试和调试领域。
它可以用于以下几个主要方面：3.1 片上自检（BIST）JTAG接口可以用于进行片上自检（Built-In Self-Test，BIST）操作，通过读取和分析测试模式下设备内部的信号和状态，检测设备是否正常工作。
3.2 调试模式JTAG接口可以进入设备的调试模式，可以对设备进行单步调试、断点调试等操作，方便开发人员进行程序调试和故障排查。
3.3 仿真和验证JTAG接口还可以用于仿真和验证工作。
通过JTAG接口，可以将外部测试模式下的信号加载到设备内部进行仿真和验证工作。
4. JTAG接口的优势与其他调试和测试接口相比，JTAG接口具有以下几个显著的优势：4.1 非侵入性访问JTAG接口可以在不破坏原有电路功能的情况下，对设备内部信号进行读取和分析。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解标题：JTAG工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口，它可以提供对芯片内部结构的访问。
在现代集成电路设计中，JTAG已经成为一种必不可少的工具。
本文将详细解释JTAG的工作原理，帮助读者更好地理解这一技术。
一、JTAG接口概述1.1 JTAG接口定义JTAG接口是一种标准的硬件接口，用于连接测试设备和被测试设备。
它由四个信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
1.2 JTAG接口的作用JTAG接口可以实现对芯片内部结构的访问和控制，包括测试、调试、编程等功能。
通过JTAG接口，可以实现对芯片的全面测试和故障排查。
1.3 JTAG接口的应用领域JTAG接口广泛应用于集成电路的测试和调试领域，包括芯片设计、生产测试、故障排查等方面。
二、JTAG的工作原理2.1 TAP控制器JTAG的核心是TAP（Test Access Port）控制器，它负责控制JTAG接口的操作。
TAP控制器包括状态机和寄存器，通过TMS信号控制状态机的状态转换。
2.2 TAP状态机TAP状态机包括Test-Logic-Reset、Run-Test/Idle、Select-DR-Scan、Capture-DR、Shift-DR、Exit1-DR、Pause-DR、Exit2-DR、Update-DR等状态，通过这些状态实现对芯片内部结构的访问。
2.3 寄存器链JTAG接口通过寄存器链实现对芯片内部寄存器的访问。
寄存器链包括数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR），通过JTAG接口可以实现对这些寄存器的读写操作。
三、JTAG的应用3.1 芯片测试JTAG接口可以实现对芯片的功能测试和边界扫描测试，帮助检测芯片中的故障和缺陷。
jtag接口标准
jtag接口标准一、JTAG简介JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部和板级测试。
它定义了一种用于访问芯片内部节点进行边界扫描和在系统编程的标准。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，但现在已经扩展到了包括编程和调试等应用。
二、JTAG接口标准JTAG接口标准通常由以下四个信号线组成：1.TCK（Test Clock）：测试时钟信号，用于驱动测试逻辑。
2.TMS（Test Mode Select）：测试模式选择信号，用于选择测试模式。
3.TDI（Test Data Input）：测试数据输入信号，用于输入测试数据。
4.TDO（Test Data Output）：测试数据输出信号，用于输出测试数据。
此外，还有可选的 TRST（Test Reset）信号，用于测试复位。
三、JTAG接口的信号线1.TCK：这是必需的信号，用于驱动测试逻辑。
2.TMS：这是必需的信号，用于选择测试模式。
3.TDI：这是必需的信号，用于输入测试数据。
4.TDO：这是必需的信号，用于输出测试数据。
5.TRST：这是可选的信号，用于测试复位。
四、JTAG接口的设备类型JTAG接口设备分为两种类型：内建JTAG（Build-In JTAG）和外挂JTAG（Plug-In JTAG）。
内建JTAG将JTAG接口集成在芯片内部，主要用于芯片内部测试和编程。
外挂JTAG将JTAG接口集成在外部设备中，主要用于板级测试和调试。
五、JTAG接口的测试方式JTAG接口支持以下几种测试方式：1.边界扫描测试：通过扫描芯片管脚的状态来检测和定位故障。
2.在系统编程：通过JTAG接口对芯片进行编程和配置。
3.调试：通过JTAG接口进行硬件调试和软件调试。
4.仿真：通过JTAG接口进行仿真和模拟。
5.烧录：通过JTAG接口将程序烧录到芯片中。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口协议。
它提供了一种简单、高效的方式来访问和控制芯片内部的功能和信号，以便进行测试、调试和编程操作。
本文将详细解释JTAG的工作原理，并介绍其在集成电路测试和调试中的应用。
1. JTAG的基本原理JTAG接口由四根线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。
这四根线通过一个状态机来控制芯片内部的测试和调试操作。
状态机有四个状态，分别是Test-Logic-Reset （TLR）、Run-Test/Idle（RTI）、Select-DR-Scan（SDR）和 Capture-DR-Scan （CDR）。
2. JTAG的工作模式JTAG有两种工作模式，分别是Boundary-Scan Mode和Non-Boundary-Scan Mode。
Boundary-Scan Mode是JTAG最主要的应用模式，它可以通过扫描链（Scan Chain）来测试和调试芯片的引脚。
Non-Boundary-Scan Mode则是用于访问和控制芯片内部的逻辑电路。
3. JTAG的测试和调试流程JTAG测试和调试的流程通常包括以下几个步骤：a. 进入Test-Logic-Reset状态：通过将TMS线拉低，将状态机切换到Test-Logic-Reset状态，以确保芯片内部的逻辑电路处于初始状态。
b. 进入Run-Test/Idle状态：通过将TMS线拉高，将状态机切换到Run-Test/Idle状态，以准备进行后续的测试和调试操作。
c. 选择扫描链：通过将TMS线切换到Select-DR-Scan状态，选择需要测试和调试的扫描链。
d. 扫描链操作：通过将TMS线保持在Select-DR-Scan状态，将测试和调试数据从TDO线输入或者输出。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。
它是由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的一种通信协议，用于在芯片设计和创造过程中进行测试、调试和编程。
JTAG接口通常由四个或者更多的引脚组成，包括TMS（Test Mode Select）、TCK（Test Clock）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
这些引脚允许测试设备与被测试芯片进行通信，并在测试模式下对芯片进行控制和数据传输。
JTAG工作原理如下：1. 测试模式选择（TMS）：TMS引脚用于选择测试模式。
通过在TMS引脚上输入不同的测试模式序列，可以控制芯片进入不同的测试模式，如测试模式、编程模式、调试模式等。
2. 测试时钟（TCK）：TCK引脚提供测试时钟信号，用于同步测试设备和被测试芯片之间的数据传输。
测试时钟的频率可以根据需要进行调整，通常在几百kHz 到几十MHz之间。
3. 测试数据输入（TDI）：TDI引脚用于向被测试芯片输入测试数据。
测试设备可以通过TCK引脚提供的时钟信号，将测试数据逐位地输入到被测试芯片中。
4. 测试数据输出（TDO）：TDO引脚用于从被测试芯片输出测试数据。
被测试芯片通过TCK引脚提供的时钟信号，将测试数据逐位地输出到TDO引脚上，供测试设备读取。
在JTAG测试过程中，测试设备通过TMS引脚控制芯片进入测试模式，并通过TCK引脚提供时钟信号。
测试设备可以通过TDI引脚向芯片输入测试数据，并通过TDO引脚从芯片输出测试数据。
通过这种方式，测试设备可以对芯片进行各种测试操作，如扫描路径测试（Scan Path Test）、逻辑状态分析（Logic State Analysis）等。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它可以通过一系列的信号线与目标芯片进行通信，实现对芯片内部的测试、调试和编程操作。
本文将详细介绍JTAG的工作原理。
一、JTAG接口结构JTAG接口由四个主要的信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。
这些信号线通过一个JTAG端口与目标芯片相连。
1. TCK（Test Clock）信号线：用于提供时钟信号，控制JTAG通信的速度。
2. TMS（Test Mode Select）信号线：用于控制JTAG状态机的状态转换。
3. TDI（Test Data In）信号线：用于向目标芯片发送测试数据。
4. TDO（Test Data Out）信号线：用于从目标芯片接收测试数据。
二、JTAG状态机JTAG状态机是JTAG的核心部份，它定义了JTAG通信的各个状态和状态之间的转换关系。
JTAG状态机包括以下几个状态：1. Test-Logic-Reset（TLR）状态：在该状态下，目标芯片的逻辑电路被复位，JTAG接口初始化。
2. Run-Test/Idle（RTI）状态：在该状态下，目标芯片处于正常工作状态，等待进行测试和调试操作。
3. Select-DR-Scan（SDRS）状态：在该状态下，目标芯片的数据寄存器（Data Register）可被访问。
4. Capture-DR（CDR）状态：在该状态下，目标芯片的数据寄存器被捕获，准备进行数据传输。
5. Shift-DR（SDR）状态：在该状态下，数据从TDO线进入目标芯片的数据寄存器，或者从目标芯片的数据寄存器输出到TDO线。
6. Exit1-DR（EDR1）状态：在该状态下，完成数据传输后，目标芯片的数据寄存器将退出Shift-DR状态。
关于I2C、UART、SPI、RS232、JTAG,ISP、DEBUG神马的一些概念和理解
一、UART总线和硬件结构-----------Universal Asynchronous Receiver/TransmitterUART是一种通用异步串行数据总线，该总线双向通信，可以实现全双工传输和接收。
因为计算机内部采用并行数据，不能直接把数据发到Modem，必须经过UART整理才能进行异步传输。
串行的两条线TXD --- UART数据发送，RXD --- UART数据接收UART通用异步接收/发送装置,是一个并行输入成为串行输出的芯片，它是用于控制计算机与串行设备的芯片，通常集成在主板上，多数是16550AFN芯片。
，有一点要注意的是,它提供了RS-232C数据终端设备接口 ,这样计算机就可以和调制解调器或其它使用RS-232C接口的串行设备通信，所以说UART是一种异步串行全双工总线，硬件映射为一个芯片，可以与使用RS-232接口的设备直接通信二、I2C总线和硬件结构------------Inter-Integrated CircuitI2C,由PHILIPS公司1992 年开发的,I2C串行总线一般有两根信号线，一根是双向的数据线SDA，另一根是时钟线SCL。
所有接到I2C总线设备上的串行数据SDA都接到总线的SDA上，各设备的时钟线SCL接到总线的SCL上，用于连接微控制器及其外围设备，一般在对芯片进行扩展中是使用，通用I/O端口也可以作为I2C 总线接口。
所以说I2C是一种同步串行半双工总线，硬件映射为一个两个接口电路，对于没有I2C总线接口的，可以使用通用I/O端口来实现I2C的功能与其他设备进行通信（根据协议编写程序）三、SPI总线和硬件结构--------------Serial Peripheral Interface高速同步串行口，是一种标准的四线同步双向串行总线，一种四线同步总线系统,一种同步串行外设接口，为全双工通信，是Motorola公司推出的一种同步串行通讯方式，它可以使MCU与各种外围设备以串行方式进行通信以交换信息在主器件的移位脉冲下,数据按位传输,高位在前,低位在后,该接口一般使用4条线：（1 ）MOSI –主器件数据输出,从器件数据输入（2）MISO –主器件数据输入,从器件数据输出（3）SCLK –时钟信号,由主器件产生（4）/SS –从器件使能信号,由主器件控制(有的SPI接口芯片带有中断信号线INT、有的SPI接口芯片没有主机输出/从机输入数据线MOSI)所以说，SPI是同步串行全双工总线，硬件映射为四个接口四、RS-232接口（DB9）是现在主流的串行通信接口之一,传输速率较低，在异步传输时，波特率为20Kbps.接口硬件为9针功能如下：1 DCD 载波检测2 RXD 接收数据3 TXD 发送数据4 DTR 数据终端准备好5 SG 信号地6 DSR 数据准备好7 RTS 请求发送8 CTS 允许发送9 RI 振铃提示还有两个接地线10、11（不是针）串口通信一般用2、3、7、8通信，5、（10、11）接地，其他不用，特别的作为debug口7、8也不用五、COM接口即串行通讯端口。
JTAG及JTAG接口简介
JTAG及JTAG接口简介1、JTAG（Joint Test Action Group；联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable;在线编程），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
2、JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
JTAG接口定义相关知识汇总
JTAG接口定义相关知识汇总一、什么是jtag接口JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM 、DSP 、FPGA 器件等。
标准的JTAG 接口是 4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG 测试允许多个器件通过JTAG 接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG 接口还常用于实现ISP（In-System Programmable 在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。
在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的TMS 、TCK 、TDI 、TDO 信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B 的nEWAIT 引脚（Pin71 ）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108 ）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B 不能正常工作或无法与JTAG 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B 对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B 已正常工作，在使能片内PLL 电路的情况下，SDCLK/MCLKO 引脚（Pin77 ）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC 引脚（Pin50 ）和其他一些引脚也应有波形输出。
JTAG接口介绍
JTAG接口介绍JTAG接口用途介绍JTAG就是一个通信/调试的接口，即便在操作系统损坏了或未安装的情况下，也可以直接访问flash芯片。
如果你的flash烧录了不当固件，或中断烧录过程等，导致该设备报销了，可以通过JTAG使你的设备起死回生！还可以通过JTAG来备份现存flash中的内容。
这对移植大有裨益。
所需要的仅仅是一条短短的接口电缆，一段软件，当然您设备的电路板上还要具有一个JTAG接头。
这个JTAG接头一般距离flash芯片很近。
多数情况下JTAG接头有12-14个插脚孔位，插脚之间的间距一定是2.54mm自制接口电缆相当的容易。
需要些备件，都可以在当地电子商店买到，还需要些锡焊技术和一个万用表。
备件：4个100欧姆电阻1个25针D型插头（PC并口插头）1个D型插头用的外壳12-14股的排线或单线。
1个合适的JTAG插座（将焊在电路板的）1个合适的JTAG插头（插在焊接在电路板上的插座）电路图：25针D型插头 JTAG插头Pin 2 -------[100欧姆]------- Pin 3(D0) ( TDI)Pin 3 -------[100欧姆]------- Pin 9(D1) ( TCK)Pin 4 -------[100欧姆]------- Pin 7(D2) ( TMS)Pin 13 -------[100欧姆]------- Pin 5(Select) (TD0)Pin 20 ---+------------------ Pin 6(GND) | ( GND)|Pin 25---+100欧姆的电阻在这里的主要作用应该是限流的，如果实在没有100欧姆的电阻，这种的情况可以省略：JTAG接口已经配置了4.7 K 欧姆电阻。
注意，JTAG的接口位置的丝印字样可能有所不同，甚至没有。
某些板上的JTAG标记是“ JP1 ”而COM端口的标记是“ JP2 ”。
从针脚上和COM端口区分有点困难，但是JTAG有12个接点，COM 端口有10个接点。
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JTAG及JTAG接口简介
1、JTAG（Joint Test Action Group；联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable;在线编程），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：
TCK——测试时钟输入；
TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；
TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；
TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
2、JTAG芯片的边界扫描寄存器
JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
这个串联的BSC在IC 内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。
3、JTAG在线写Flash的硬件电路设计和与PC的连接方式
以含JTAG接口的StrongARM SA1110为例，Flash为Intel 28F128J32 16MB容量。
SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分别接PC并口的2、3、4、11线上，通过程序将对JTAG 口的控制指令和目标代码从PC的并口写入JTAG的BSR中。
在设计PCB时，必须将SA1110的数据线和地址线及控制线与Flash的地线线、数据线和控制线相连。
因SA1110的数据线、地址线及控制线的引脚上都有其相应BSC，只要用JTAG指令将数据、地址及控制信号送到
其BSC中，就可通过BSC对应的引脚将信号送给Flash，实现对Flash的操作。
4、通过使用TAP状态机的指令实行对Flash的操作
通过TCK、TMS的设置，可将JTAG设置为接收指令或数据状态。
JTAG常用指令如下：SAMPLE/PRELOAD——用此指令采样BSC内容或将数据写入BSC单元；
EXTEST——当执行此指令时，BSC的内容通过引脚送到其连接的相应芯片的引脚，我们就是通过这种指令实现在线写Flash的；
BYPASS——此指令将一个一位寄存器轩于BSC的移位回路中，即仅有一个一位寄存器处于TDI和TDO之间。
在PCB电路设计好后，即可用程序先将对JTAG的控制指令，通过TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中。
再通过TDI将要写Flash的地址、数据及控制线信号入BSR中，并将数据锁存到BSC中，用EXTEST指令通过BSC将写入Flash。
5、软件编程
在线写Flash的程序用Turbo C编写。
程序使用PC的并行口，将程序通过含有JTAG的芯片写入Flash芯片。
程序先对PC的并口初始化，对JTAG口复位和测试，并读Flash，判断是否加锁。
如加锁，必须先解锁，方可进行操作。
写Flash之前，必须对其先擦除。
将JTAG 芯片设置在EXTEST模式，通过PC的并口，将目标文件通过JTAG写入Flash，并在烧写完成后进行校验。
6、电路设计和编程中的注意事项
①Flash芯片的WE、CE、OE等控制线必须与SA1110的BSR相连。
只有这样，才能通过BSR控制Flash的相应引脚。
②JTAG口与PC并口的连接线要尽量短，原则上不大于15cm。
③Flash在擦写和编程时所需的工作电流较大，在选用系统的供电芯片时，必须加以考虑。
④为提高对Flash的编程速度，尽量使TCK不低于6MHz，可编写烧写Flash程序时实现。