射线衍射分析原理

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x-ray衍射仪工作原理

x-ray衍射仪工作原理

x-ray衍射仪工作原理
X射线衍射仪是一种利用X射线与晶体相互作用产生衍射现象,从而得到物质的结晶结构信息的仪器。

其工作原理如下:
1. X射线产生:X射线衍射仪中有一个X射线发生器,通常采用高压电极发射电子来轰击阳极材料,产生高速电子流。

这些高速电子与阳极材料的原子相互作用,产生X射线。

2. X射线入射:X射线由发射器产生后,通过准直装置使其成为平行光束,然后射向待测物质。

这些入射的X射线束可以通过调整入射角度控制和调节。

3. 晶体衍射:当X射线束与晶体相互作用时,其中的光子会与晶体的原子发生相互散射。

这种散射现象称为衍射。

晶体的晶格结构决定了衍射的结果。

不同晶体结构的物质会产生不同的衍射模式。

4. 衍射图样记录:晶体衍射的结果会通过检测器接收并记录下来。

检测器可以是铟镓锗等材料制成的能够测量光强度的闪烁晶体。

根据衍射的角度和强度,可以绘制出衍射图样。

5. 结晶结构分析:根据衍射图样,可以使用衍射方程和晶体学原理来计算和推断物质的晶体结构信息。

包括晶胞参数、晶体对称性、原子排列等。

通过上述步骤,X射线衍射仪可以用来研究和分析固体物质的
晶体结构,对于材料科学、化学、生物科学等领域都具有重要的应用价值。

x-射线衍射原理

x-射线衍射原理

x-射线衍射原理
射线衍射原理是一种通过将电磁波(一般为X射线)通过晶
体或物体的结构进行衍射,从而获得物体结构信息的方法。

射线衍射原理是基于波动理论的一个重要应用,它利用射线的相交和衍射现象来研究物体内部的晶格结构、原子间距等参数。

射线衍射实验通常使用单晶体作为衍射物,因为单晶体具有长程的周期性结构。

在实验中,将单晶体置于射线束的路径上,当射线通过单晶体时,会根据晶体结构的周期性,经历衍射现象。

根据布拉格定律,当入射射线的波长与晶格间距等条件满足时,会出现相干衍射峰。

在射线衍射实验中,探测器会检测到一系列的衍射峰,这些峰代表了不同衍射角度的衍射波。

通过测量衍射峰的位置以及强度,可以得到一些重要的信息。

首先,由布拉格定律可得,衍射峰的位置与晶胞的尺寸及结构有关。

这种方法可以用于确定晶体的晶胞参数,如晶格常数、晶胞体积等。

其次,衍射峰的强度与晶体内部的原子排列、晶格缺陷等因素密切相关。

通过分析衍射峰的强度分布,可以研究晶体的有序性、晶格缺陷的性质等。

射线衍射原理广泛应用于材料科学、晶体学、结构生物学等领域。

利用射线衍射原理,人们可以研究材料的内部结构,揭示物质的微观性质,为新材料的设计与合成提供理论指导。

同时,射线衍射还在药物研发、蛋白质结构解析等领域发挥着重要作用。

总之,射线衍射原理是一种通过射线的相交和衍射现象来研究物体结构的方法。

通过测量衍射峰的位置和强度,可以获得物体的晶格参数、结构信息等。

射线衍射原理在材料科学和生物科学等领域有着广泛的应用。

xrd的工作原理及使用方法

xrd的工作原理及使用方法

xrd的工作原理及使用方法
X射线衍射(X-ray Diffraction,XRD)是一种常用的材料分析技术,用于研究晶体结构、晶体学和非晶态材料的结构特征。

下面是XRD的工作原理和使用方法的概述:
工作原理:XRD利用入射X射线与样品中的原子发生衍射现象,通过测量衍射图样来推导出样品的晶体结构、晶格常数、晶格畸变等信息。

其基本原理可以概括为布拉格定律,即入射X射线在晶体中的衍射现象遵循2d sinθ = nλ,其中d是晶面间距,θ是衍射角度,n是整数倍数,λ是入射X射线的波长。

使用方法:
1.准备样品:需要准备一定数量的样品,可以是晶体样品或
非晶态材料样品。

晶体样品必须具有规则的晶体结构,而
非晶态材料样品则可以是无定型的或非晶结构的材料。

2.调节仪器参数:根据样品的特性和研究目的,调整XRD仪
器的参数,如X射线管的电流和电压、入射角范围、衍射
角范围等。

选择合适的参数可以获得更准确的结果。

3.扫描样品:将样品放置在XRD仪器中的样品台上,通过控
制仪器进行扫描。

仪器将采集到的衍射数据转换为衍射图
样或衍射强度图像。

4.分析数据:根据获得的衍射图样或衍射强度图像,使用专
业的XRD分析软件对数据进行处理和分析。

这可以包括通
过模拟与标准数据的比对来确定样品的晶体结构或晶格常
数,通过解析峰的位置和形状来研究晶体的畸变等。

XRD技术可应用于多个领域,如材料科学、地球科学、生物化学等。

它可以帮助研究者了解材料的结构和性质,发现新的材料性质,并优化材料的制备和加工工艺。

x射线衍射仪的工作原理

x射线衍射仪的工作原理

x射线衍射仪的工作原理X射线衍射仪的工作原理是基于X射线的散射现象。

当X射线通过物质时,会与物质的原子产生相互作用,通过散射来改变其传播方向和能量。

具体工作原理如下:1. 产生X射线:X射线衍射仪使用X射线管产生X射线。

X射线管中有一个阴极和阳极,当高压施加在两个电极之间时,阴极上的电子会被加速,击中阳极,从而产生X射线。

2. 照射样品:产生的X射线通过选择性选择性照射到待测样品上。

样品中的原子核和电子会与X射线发生相互作用。

3. 散射现象:当X射线与样品中的原子相互作用时,会发生散射现象。

主要有两种类型的散射,即弹性散射和无弹性散射。

- 弹性散射(Rayleigh散射):在弹性散射中,X射线与样品中的原子表面相互作用,改变传播方向,但不改变能量。

这种散射通常被忽略,因为它对X射线衍射仪的结果没有贡献。

- 无弹性散射(Compton散射):在无弹性散射中,X射线与样品中的原子内部相互作用,改变了X射线的能量。

这种散射是X射线衍射仪中非常重要的现象,因为它提供了有关样品内部结构和晶体学信息的重要数据。

4. 衍射现象:当经过样品后的X射线进入到探测器时,会发生衍射现象。

衍射是由于入射X射线在样品中被散射后,不同方向上的散射波相互叠加形成的相干波的干涉现象。

5. 探测与记录:探测器将衍射产生的干涉图案转化为电信号,并通过信号处理和记录设备将其转化为可见图像或X射线衍射图谱。

这些图像或图谱可以用于分析样品的晶体结构、晶胞参数、晶体定向和有序结构等信息。

总的来说,X射线衍射仪的工作原理是通过利用X射线与样品中原子的相互作用和散射现象,来获取样品的晶体学信息和结构参数。

衍射图案的形状和强度可以提供关于样品原子排列和晶格结构的重要信息。

X射线衍射分析原理

X射线衍射分析原理

X射线衍射分析原理X射线衍射分析是一种重要的材料表征技术,其原理基于X射线与晶体相互作用时发生的衍射现象。

这种技术可以用来确定物质的结晶结构、晶体畸变、晶粒尺寸、相对结晶取向以及晶体缺陷等信息。

下面我将详细介绍X射线衍射分析的原理。

1.X射线衍射的基本原理X射线是一种电磁波,其波长比可见光短得多,因此它能够穿透晶体射出到另一侧。

当X射线穿过晶体时,会与晶体内的原子相互作用,发生散射。

如果晶体具有周期性排列的原子结构,那么经过散射后的X射线将会发生衍射现象。

2.布拉格衍射原理布拉格衍射原理是X射线衍射分析的基础。

根据布拉格方程,当入射光束与平行晶面之间的入射角等于出射角时,X射线会以构成等边三角形的一系列角度散射出来。

这些出射角对应的散射光将相干地叠加在一起,形成衍射图样。

布拉格方程可以表示为:n·λ = 2d sinθ其中,n为衍射级别,λ为入射X射线的波长,d为晶体面间的距离,θ为入射角。

根据布拉格方程,通过测量入射角和衍射角的大小,可以计算出晶格的间距d。

3.X射线衍射仪器为了进行X射线衍射分析,需要使用特殊的仪器。

其中最常见的是X射线粉末衍射仪(X-ray powder diffraction, XRD)。

它通过将样品制成粉末并均匀散布在载体上,然后用X射线照射样品,测量出射的衍射波,进而得到衍射图案。

X射线衍射仪由X射线管、样品支架、光学系统、检测器和计算机等组成。

X射线管产生X射线,经过光学系统聚焦后通过样品。

样品中的晶体结构会散射入射的X射线,散射波经过光学系统再次聚焦到检测器上,通过检测器的信号可以得到衍射图案。

根据衍射图案,可以通过相关数据分析获得样品的结晶结构和特征。

4.衍射图案分析衍射图案是X射线衍射分析的核心结果。

通过衍射图案的分析,可以获取材料的晶格常数、晶体结构、晶格取向和晶体畸变等信息。

衍射图样的主要特征是峰(peak),峰对应于衍射波的散射角度。

每个峰的位置、强度和形状都包含了样品的结构信息。

X射线衍射分析

X射线衍射分析

X射线衍射分析X射线衍射分析是一种广泛应用于材料科学和固态物理领域的实验技术。

通过照射物质样品,利用X射线在晶体中的衍射现象,可以获得有关物质结构和晶体学信息的重要数据。

本文将介绍X射线衍射分析的原理、应用和发展。

一、X射线衍射分析原理X射线衍射分析的基本原理是X射线的衍射现象。

当X射线照射到晶体上时,晶体中的原子会对X射线产生散射,形成一种有规律的衍射图样。

这个衍射图样会显示出晶体的结构信息,包括晶体的晶格常数、晶胞形状和晶体的定向等。

X射线衍射实验一般使用Laue方法或布拉格方法。

Laue方法是在一束平行的X射线照射下,观察其经过晶体后的衍射图样,通过分析该图样可以得到晶体的结构信息。

布拉格方法则是通过将一束X射线通过晶体,利用布拉格方程进行衍射角度的计算,从而确定晶体的晶格常数和定向。

二、X射线衍射分析应用X射线衍射分析被广泛应用于材料科学和固态物理领域。

它可以用来研究晶体的结构和晶体学性质,例如晶格参数、晶胞参数和晶体定向。

此外,X射线衍射还可以用于材料的质量控制和表征、相变研究、晶体缺陷分析等。

在材料科学领域,X射线衍射分析常用于矿物学、金属学和半导体学的研究。

例如,在矿物学中,通过X射线衍射分析可以确定矿石中的不同晶型矿物的比例和结构信息。

在半导体学中,X射线衍射分析可以帮助研究晶体管的晶格结构和界面形态。

三、X射线衍射分析的发展X射线衍射分析作为一种实验技术,随着科学研究的深入不断发展。

在仪器设备方面,X射线源的进步使得可以获得更高分辨率的衍射图样;探测器的改进使得观测和数据分析更加准确和高效。

同时,随着计算机技术的发展,数据处理和分析的速度大大提高,使得研究人员可以更直观、更准确地分析X射线衍射图样。

此外,X射线衍射分析的理论研究也在不断深入,衍射峰的定性和定量分析方法得到了大量改进,使得X射线衍射分析在材料科学研究中的应用更加广泛。

总结:X射线衍射分析是一种重要的实验技术,在材料科学和固态物理领域具有广泛的应用价值。

x射线衍射 原理

x射线衍射 原理

x射线衍射原理x射线衍射是一种重要的物理现象,它在材料科学、结构分析和晶体学等领域具有广泛的应用。

本文将介绍x射线衍射的原理及其在科学研究和工程应用中的重要性。

一、x射线衍射的原理x射线衍射是指当x射线通过物质时,由于物质中的原子或分子对x 射线的散射作用,使得x射线在特定角度下发生衍射现象。

这种衍射现象是由于x射线与物质中的电子发生相互作用而产生的。

具体来说,当x射线通过物质时,它会与物质中的电子发生相互作用。

这种相互作用导致x射线的波长发生改变,从而使得x射线在特定角度下发生衍射。

根据衍射的特点,我们可以通过测量衍射角度和衍射强度来研究物质的结构和性质。

二、x射线衍射的应用1. 材料科学:x射线衍射在材料科学中具有重要的应用。

通过测量材料的衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶格常数和晶体缺陷等信息。

这对于材料的设计和性能优化非常关键。

2. 结构分析:x射线衍射在结构分析中也起着重要的作用。

通过测量物质的衍射图样,可以确定物质的分子结构、晶体结构和晶体取向等信息。

这对于研究分子和晶体的性质以及化学反应机理具有重要意义。

3. 晶体学:x射线衍射是研究晶体学的重要工具。

通过测量晶体的衍射图样,可以确定晶体的空间群、晶胞参数和晶体结构等信息。

这对于研究晶体的对称性和性质具有重要意义。

4. 工程应用:x射线衍射在工程领域也有广泛的应用。

例如,在材料加工过程中,通过测量材料的衍射图样,可以评估材料的晶粒尺寸和应力状态,从而指导工艺优化和质量控制。

三、x射线衍射的发展和挑战随着科学技术的不断发展,x射线衍射技术也在不断进步。

例如,近年来,高分辨率x射线衍射技术的发展使得我们能够更加准确地研究物质的微观结构和性质。

此外,结合计算模拟和数据处理技术,可以进一步提高衍射数据的分析和解释能力。

然而,x射线衍射技术也面临一些挑战。

例如,对于非晶态材料和纳米材料等复杂体系,衍射图样的解析和解释更加困难。

此外,x 射线衍射技术在实际应用中还存在成本高、设备复杂等问题,限制了其在一些领域的推广和应用。

x射线衍射工作原理

x射线衍射工作原理

X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射和干涉现象来研究晶体结构的技术。

其工作原理可以描述如下:
1.X射线源:首先需要一个产生高能X射线的源,通常使用X射线管或放射性同位素。


些X射线源会产生一束高能X射线。

2.射线入射:产生的X射线束被定向照射到待测物质(通常是晶体)上。

X射线的波长与
晶格间距的数量级相当,所以它们可以与晶体中的原子发生散射现象。

3.散射过程:当X射线束穿过晶体时,它们会与晶体中的原子发生散射。

根据布拉格法则,
当入射X射线的波长与晶格间距匹配时,会发生构造性干涉,形成衍射图样。

4.衍射图样:被散射的X射线会以不同的角度和强度散射出去,形成特定的衍射图样,可
以通过探测器捕捉到。

5.分析和解读:通过分析衍射图样,可以确定晶体中的原子排列和晶格结构。

根据衍射图
样中出现的衍射点的位置和强度,使用数学方法进行解析,推断晶体的结构和晶胞参数。

总之,X射线衍射利用X射线与晶体中原子的相互作用,通过测量和分析产生的衍射图样来研究晶体的结构。

这种技术在材料科学、固态物理、化学等领域有广泛应用,并为了解晶体的性质和结构提供了重要手段。

第五章 X射线衍射原理

第五章 X射线衍射原理
行光照射到晶体中各平行原子面上,各原子面各自产
生的相互平行的反射线间的干涉作用导致了“选择反 射”的结果.
据此,导出布拉格方程
如图5-2所示,设一束平行的X射线(波长λ)以θ角照射到
晶体中晶面指数为(hkl)的各原子面上,各原子面产生反射.
任选两相邻面(A1与A2),反射线光程差 δ=ML+LN=2dsinθ;
有机化学家豪普物曼和卡尔勒在50年代后建立了应用X射线 分析的以直接法测定晶体结构的纯数学理论,特别对研究大分 子生物物质结构方面起了重要推进作用,他们因此获1985年诺 贝尔化学奖
第一节 衍射方向
一.Braag方程
1.布拉格实验(现代X射线衍射仪的原型) •在满足反射定律的方向设置反射线接收(记录)装 置 •记录装置与样品台以2∶1的角速度同步转动 得到了“选择反射”的结果.即当X射线以某些角度入射时,记录到 反射线(以CuKα射线照射NaCl表面,当θ=15°和θ=32°时记录到反 射线);其它角度入射,则无反射
每一个可能产生反射的(HKL)晶面均有各自的衍射矢量三
角形.各衍射矢量三角形的关系如图5-6所示.
s0为各三角形之公共边;若以s0矢量起点(O)为圆心,|s0|为半 径作球面(此球称为反射球或厄瓦尔德球),则各三角形之另一
腰即s的终点在此球面上;因s的终点为R*HKL之终点,即反射晶 面(HKL)之倒易点也落在此球面上
. X射线发展史:
•1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X射线 (1901年获得首届诺贝尔奖)
•1912年,德国的Laue第一次成功地进行X射线通过晶体发生衍 射的实验,验证了晶体的点阵结构理论。并确定了著名的晶体 衍射劳埃方程式。从而形成了一门新的学科—X射线衍射晶体 学。 (1914年获得诺贝尔奖)

XRD衍射仪的工作原理

XRD衍射仪的工作原理

XRD衍射仪的工作原理XRD(X射线衍射)仪是利用X射线与物质相互作用的现象来研究物质的结构和性质的仪器。

其工作原理可以简单地描述为:入射X射线束照射到样品上,被样品中的原子核和电子散射,产生散射波。

这些散射波经过改变入射角度的X射线检测器的检测,得到衍射图样,通过对衍射图样的分析,可以获得物质的晶体结构、晶格常数和相对原子位置等信息。

1.X射线的生成:X射线由X射线管产生,X射线管由一个阴极和一个阳极组成。

在阴极上加高电压,使阴极表面的电子高速运动并撞击到阳极上。

撞击过程中,电子从一个能位较低的级别跃迁到能位较高的级别,撞击电子的能量以X射线的形式释放出来。

2.X射线的选择:X射线管产生的X射线包括连续的白线辐射和特征X射线。

为了减少背景噪声,通常通过使用滤光器来选择特定的X射线能量范围。

3.X射线的照射:样品需要制备成粉末状,然后利用样品舱将样品放置在X射线束前。

入射的X射线束穿过样品,并与样品中的原子核和电子相互作用。

这些相互作用会散射出去,并以特定的角度散射回来。

4.散射波的检测:为了测量散射的X射线,衍射仪上配备了一个X射线检测器,例如固态探测器或闪烁计数器。

这些检测器可以测量X射线的强度和能量,形成衍射图样。

5.衍射图样的分析:通过对衍射图样的分析,可以确定物质的晶体结构、晶格常数和相对原子位置等信息。

常用的分析方法包括布拉格方程和倒易空间图。

XRD衍射仪的工作原理基于X射线与样品中原子核和电子的相互作用。

入射的X射线与样品中的原子核和电子散射,形成散射波。

通过检测和分析散射回来的X射线,可以得到衍射图样,并从中获得物质的结构和性质信息。

这使得XRD成为一种非常重要和广泛应用于材料科学、地球科学、生物学等领域的研究工具。

05-X射线衍射分析原理

05-X射线衍射分析原理

布拉格方程是X射线在晶体中衍射必须满
足的基本条件。它反映了衍射线的方向(用θ表 示)与晶体结构(用d代表)之间的关系。可通 过θ的测定,在λ已知的情况下,解出d。或者d已 )选择反射 X射线从原子面的反射与可见光的镜面反射 不同,前者是有选择的反射,其选择条件为布拉格 定律;而一束可见光以任意角度投射到镜面上时都 可以产生反射,即反射不受条件限制。 因此,X射线的晶面反射称为选择反射。
衍射方向决定于:
晶胞大小、形状及位向等因素。 衍射强度决定于: 晶胞中的原子种类、数量及其具体分布排列。 X射线的衍射方向描述方法:
劳埃方程、布拉格方程和衍射矢量方程。
二、布拉格方程式(Bragg) 晶体对X射线的衍射在形式上可看成是在 特定条件下晶体的面网对X射线的“反射”。 将衍射成反射,是导出布拉格方程的基 础。1912年,由英国物理学家布拉格提出。
C
O
1/λ
O*
可将上述描述拓宽至三维空间,假设存在 一个半径为1/λ的球面,令X射线沿球面的直径 方向入射,则球面上所有点均满足布拉格条件, 该球被命名为反射球。
该法由厄瓦尔德提出,故称为厄瓦尔德球, 该作图方法被称为厄瓦尔德图解。
四、劳埃方程式(Laue)
1、一维原子列对X射线的衍射 一维原子列的衍射线可看成一个行列对 X射线的衍射。如下图,点阵周期为a0
满足劳埃第一方程式,即可产生衍射, 衍射线与行列成αh角,即与行列夹角为αh的 方向都可产生衍射,因此衍射线的分布是 以原子列为轴、以αh为半径角的圆锥母线。
h每等于一个整数值(0,1, 2……),即形成一 个圆锥状衍射面。 因此一维原子列对X射线的的衍射为一套 圆锥。
如果用单色X射线垂直照射原子列 (α0=90)时: a0 cosα h = h, cosα h = h / a0

x射线衍射仪的原理

x射线衍射仪的原理

x射线衍射仪的原理
x射线衍射仪是一种用于观察物质内部结构的重要仪器,其原理基于x射线的衍射现象。

具体原理如下:
1. 产生x射线:在x射线衍射仪中,通常使用x射线管来产生x射线。

x射线管中有一个阴极和一个阳极,当阴极受到高电压激发时,会释放出高能电子。

这些电子在阳极上的金属靶上产生碰撞,从而产生x射线。

2. 准直:产生的x射线是一个由许多不同波长的电磁波构成的连续光谱。

为了让x射线能够射向样品并形成衍射图样,需要使用准直器来滤除非衍射光线,只保留所需的波长。

3. 衍射:经过准直后的x射线会照射到样品上。

样品中的原子和晶体结构会对x射线进行散射,这种散射就是衍射。

根据布拉格公式,衍射角与晶格间距和入射角度有关。

4. 探测器:x射线衍射仪上通常装有一种特殊的探测器,如闪烁屏幕或固态探测器。

这些探测器可以测量入射x射线和散射x射线之间的角度差,从而确定晶格间距。

5. 分析和解释:通过记录散射角和强度的数据,可以通过数学算法来解析和解释衍射图样。

根据不同晶体结构和晶格参数的特征,可以确定和确认样品的内部结构。

总结起来,x射线衍射仪的原理是利用x射线的衍射现象来观察并分析物质的内部结构。

通过产生x射线、准直、衍射、探
测和分析等步骤,可以获得有关样品晶格参数和晶体结构的重要信息。

XRD(3-衍射原理)

XRD(3-衍射原理)

→S0
(HKL)面
N

S
S - S0
S - S0// N
(衍射矢量图示)
31
B 衍射矢量方程
S- S0
2 sin
d HKL
→→
S - S0
1
d HKL
R*HKL//N且R*HKL=1/dHKL
( s - s0 )/ R *HKL
32
(s
-
s0
)
R
*HKL
若设,s / K ,s0 / K0 则上式可写为
例:一组晶面间距从大到
小的顺序:2.02Å ,1.43Å , 1.17Å,1.01 Å,0.90 Å, 0.83 Å,0.76 Å……当用
波长为λkα = 1.94Å的铁 靶照射时,因λkα/2 = 0.97Å ,只有四个d大于它,
故产生衍射的晶面组有四
个。如用铜靶进行照射,
因λkα/2 = 0.77Å, 故
➢ 相长干涉:当波程差△= nλ时,两个波相互加强。 ➢ 相消干涉:当波程差△= (2n+1) λ/2时,二者刚好
相互抵消。
相干散射是衍射的物理基础
确定衍射方向的基本原则:
光程差为波长的整倍数
= nλ
3
1912年劳厄(M. Van. Laue)用X射线照射五水硫酸 铜(CuSO4·5H2O)获得世界上第一张X射线衍射照片, 并由光的干涉条件出发导出描述衍射线空间方位与晶 体结构关系的公式(称劳厄方程组)。
(98.96,9.3)
10
0
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95

X射线衍射分析

X射线衍射分析

X射线衍射分析X射线衍射分析是一种用于研究材料晶体结构的重要技术。

通过利用X射线与晶体相互作用产生的衍射现象,可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体中原子的排列方式。

本文将介绍X射线衍射的原理、仪器设备以及应用领域。

一、X射线衍射的原理X射线衍射基于布拉格方程,该方程描述了X射线在晶体中的衍射现象。

布拉格方程可以表示为:nλ = 2dsinθ其中,n为整数,表示不同的衍射级别;λ为入射X射线的波长;d为晶面间的距离;θ为入射X射线与衍射晶面的夹角。

根据布拉格方程,当入射X射线的波长和入射角度确定时,可以通过测量衍射角来确定晶面间的距离,从而推断晶体结构的特征。

二、X射线衍射仪器设备X射线衍射分析通常使用X射线衍射仪器进行实验。

主要的仪器设备包括X射线发生器、样品台、衍射角度测量装置以及检测器等。

X射线发生器用于产生高能量的X射线,通常采用射线管产生连续谱的X射线。

样品台用于将待测样品放置在适当的位置,使得X射线能够与样品相互作用。

衍射角度测量装置用于测量入射X射线与衍射晶面之间的夹角。

检测器用于记录衍射信号,常见的检测器有点状探测器、平板探测器等。

三、X射线衍射分析的应用X射线衍射分析广泛应用于材料科学、地质学、化学等领域。

具体应用包括:1. 确定晶体结构:通过测量X射线衍射的角度和强度,可以反推晶体的晶格参数和原子排列方式,从而确定晶体结构。

2. 相变研究:X射线衍射可以用于研究材料的相变行为,包括晶体到非晶体的相变、晶体向其他晶体结构转变的相变等。

3. 晶体质量分析:X射线衍射可以用于评估晶体的质量,包括晶体纯度、晶体缺陷等。

4. 定量分析:通过测量不同晶面的衍射强度,可以进行成分定量分析,推断样品中各组分的含量。

5. 晶体学研究:X射线衍射在晶体学研究中有着重要的地位,可以用于确定晶体的空间群、晶格参数等。

四、总结X射线衍射分析是一种有效的研究材料晶体结构的方法。

凭借其高分辨率、非破坏性的特点,X射线衍射已经成为材料科学领域中不可或缺的技术手段。

X射线衍射分析

X射线衍射分析

X射线衍射分析X射线衍射是一种广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域的分析技术,它通过衍射现象来研究晶体结构和晶体取向。

本文将介绍X 射线衍射分析的原理、方法以及在不同领域中的应用。

一、X射线衍射原理X射线衍射是指X射线入射到晶体上,由于晶体的周期性结构,X 射线在晶胞中遇到原子核或电子时会发生衍射。

根据布拉格定律,衍射角度与晶格常数、入射波长之间存在特定的关系,通过观察衍射角度和强度可以推断出晶体结构的信息。

二、X射线衍射方法1. 粉末衍射:将样品粉碎成粉末状,通过X射线衍射仪器进行衍射分析,可以获得材料的晶体结构信息。

2. 单晶衍射:用单一晶体进行X射线衍射分析,可以得到更为详细的结构信息,包括原子间的位置和取向。

三、X射线衍射在材料科学中的应用1. 晶体学研究:通过X射线衍射可以确定晶体结构和晶体学参数,揭示材料的性质和相态变化。

2. 晶体生长:X射线衍射可以监测晶体的生长过程,帮助调控晶体的形貌和性能。

四、X射线衍射在生物学中的应用1. 蛋白质结构:X射线衍射被广泛用于解析蛋白质的晶体结构,揭示蛋白质的功能和作用机制。

2. 细胞成像:通过X射线衍射可以对细胞结构进行高分辨率成像,为细胞生物学研究提供重要依据。

五、X射线衍射在化学分析中的应用1. 晶体化学:X射线衍射可以确定晶体中元素的位置和化学键的性质,为化学合成提供参考。

2. 晶体衍射敏感性分析:X射线衍射可以用于检测材料中微观结构的变化,分析化学反应的过程和机制。

总结:X射线衍射作为一种强大的分析技术,不仅在材料科学、生物学和化学领域有着重要的应用,还在许多其他领域有着广泛的应用前景。

随着仪器技术的不断进步,X射线衍射分析将在更多研究领域展现其重要作用。

x射线 衍射原理

x射线 衍射原理

x射线衍射原理
X射线衍射原理,简称XRD(X-ray diffraction),是利用物
质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的一种实验方法。

X射线是一种电磁波,在物质中传播时会受到物质的排列方式和晶胞结构的影响,发生衍射现象。

由于晶体具有高度有序的排列,因此在晶体中衍射现象尤为明显。

X射线衍射原理主要包括布拉格定律和费尔南多原理。

布拉格定律是描述X射线衍射的基本定律,它是由马克斯·冯·拉格(Max von Laue)和布拉格父子共同提出的。

根据布拉格定律,衍射峰的出现是由于X射线与晶体中的晶面发生干涉所导致的。

布拉格定律的数学表达式为:
nλ = 2d sinθ
其中,n为衍射阶数,λ为X射线的波长,d为晶面间距,θ为衍射角。

费尔南多原理则描述了X射线在晶体中的衍射方式。

根据费
尔南多原理,晶体中的每个晶面都可以看作是由一系列原子或离子组成的平行于该晶面的晶胞构成。

当入射X射线照射到
晶胞上时,不同晶胞上的X射线波将起到干涉作用,形成衍
射峰。

通过X射线衍射实验,可以得到一些重要的信息,如晶体的
晶格常数、晶胞形状和大小、晶胞中原子的排列方式等。

这些信息对于理解物质的结构和性质具有重要意义。

X射线衍射方
法已被广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域,成为了研究物质微观结构的重要手段。

射线衍射的基本原理

射线衍射的基本原理

射线衍射的基本原理三.X 射线衍射的基本原理3.1 Bragg 公式晶体的空间点阵可划分为⼀族平⾏⽽等间距的平⾯点阵,两相邻点阵平⾯的间距为d hkl 。

晶体的外形中每个晶⾯都和⼀族平⾯点阵平⾏。

当X 射线照射到晶体上时,每个平⾯点阵都对X 射线射产⽣散射。

取晶体中任⼀相邻晶⾯P 1和P 2,如图3.1所⽰。

两晶⾯的间距为d ,当⼊射X 射线照射到此晶⾯上时,⼊射⾓为,散射X 射线的散射⾓也同样是。

这两个晶⾯产⽣的光程差是:θsin 2d OB AO =+=? 3.1当光程差为波长的整数倍时,散射的X 射线将相互加强,即衍射:λθn d hkl =sin 2 3.2上式就是著名的Bragg 公式。

也就是说,X 射线照射到晶体上,当满⾜Bragg 公式就产⽣衍射。

式中:n 为任意正整数,称为衍射级数。

⼊射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹⾓为2(衍射⾓)。

为此,在X 射线衍射的谱图上,横坐标都⽤2表⽰。

图3.1 晶体对X 射线的衍射由Bragg 公式表明:d hkl 与成反⽐关系,晶⾯间距越⼤,衍射⾓越⼩。

晶⾯间距的变化直接反映了晶胞的尺⼨和形状。

每⼀种结晶物质,都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞⼤⼩等。

晶体的衍射峰的数⽬、位置和强度,如同⼈的指纹⼀样,是每种物质的特征。

尽管物质的种类有成千上万,但⼏乎没有两种衍射谱图完全相同的物质,由此可以对物质进⾏物相的定性分析。

3.2 物相分析物相的定义是物质存在的状态,如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。

除了单质元素构成的物质如铜、银等以外,X射线衍射分析的是物相(或化合物),⽽不是元素成分。

对于未知试样,为了了解和确定哪些物相时,需要定性的物相分析。

正如前述,晶体粉末衍射谱图,如⼈的指纹⼀样,有它本⾝晶体结构特征所决定。

因⽽,国际上有⼀个组织——粉末衍射标准联合会(JCPDS)后改名为JCPDS-衍射数据国际中⼼专门负责收集、校订、编辑和发⾏粉末衍射卡⽚(PDF)的⼯作。

XRD衍射仪的工作原理

XRD衍射仪的工作原理

XRD衍射仪的工作原理
XRD (X射线衍射) 仪是一种用于物质的结构分析的工具,它能够通过测量材料的X射线衍射图谱来确定其结晶结构和晶格参数。

XRD仪器主要由X射线管、样品台、衍射器、探测器以及数据分析软件等部分组成。

其工作原理如下:
1. X射线管产生X射线
XRD仪器的X射线管采用钨靶、铜靶或铬靶,通过电子轰击靶材,靶材中的原子被高能电子击中,产生X射线。

2. X射线通过样品被衍射
产生的X射线经过样品时,被样品的原子散射或反射,形成衍射图案。

3. 衍射图案经过衍射器产生衍射峰
衍射器将衍射图案中的X射线进行分离,使X射线能够投射到探测器上,并将这些X射线转换为电信号。

4. 探测器将电信号转换为计数信号
探测器接收来自衍射器的X射线,将其转换为计数信号。

计数信号会随着X射线的强度而增加。

5. 数据分析软件处理计数信号
数据分析软件接收来自探测器的计数信号,将其转换为衍射图谱。

通过分析衍射图谱,可以确定样品的晶体结构和晶格参数。

综上所述,XRD仪器通过产生X射线、样品衍射、衍射峰计
数和数据分析等步骤来确定材料的结晶结构,是一种非常实用的分析工具。

射线衍射分析基础教程第3章射线衍射的几何原理

射线衍射分析基础教程第3章射线衍射的几何原理

N
m0
n0
p0
N1 1
N2 1
N3 1
G exp(ima k) exp(inb k) exp(ipc k)
m0
n0
p0
G
2
sin 2
1 2
N1a • k
sin 2
1 2
N2b • k
sin 2
1 2
N3c • k
sin 2 1 a • k sin 2 1 b • k sin 2 1 c • k
我们的任务是求出散射体外某一点 的相干散射振幅和强度。
任意两个阵点相干散射的示意图及简单推导方法
ON - MA r S - r S0 r(S S0 )
如图3-1,设有两个任意的阵点O、A,取O为 坐标原点,A点的位置矢量r=ma+nb+pc,即空 间坐标为(m,n,p),S0和S分别为入射线和散 射线的单位矢量,散射波之间的光程差为:图31 任意两阵点的相干散射
ON - MA r S - r S0 r(S S0 )……(3-1)
其位相差为:
2 2 S S0 r
k r k(ma nb pc)
……(3-2)
图3-1 任意两阵点的相干散射
A Ap exp(i)
p
N1 1
N2 1
N3 1
Ac Ap exp(i) Ap exp(ima k) exp(inb k) exp(ipc k) ApG
上都可以产生反射,而原子面对X射线的反射 并不是任意的,只有当、、d三者之间满足 布拉格方程时才能发生反射,所以把X射线这
种反射称为选择反射。
产生衍射的极限条件
根据布拉格方程 2d
2d 对衍射而言,n的最小值为1,所以 在任何可观测的衍射角下,产生衍射的 条件为<2d,这也就是说,能够被晶体 衍射的电磁波的波长必须小于参加反射 的晶面中最大面间距的二倍,否则不能 产生衍射现象。
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n2S+1LJ
1
第二章 衍射分析
(之一)、X射线衍射分析原理
第一节 衍射方向
布拉格方程**、衍射矢量方程、厄瓦尔德 图解*#、劳埃方程
第二节 X射线衍射强度
一个电子的散射强度、原子散射强度、晶胞 散射强度(结构因子**# )、影响衍射强度的 其它因素
2
参考文献
梁栋材著,
X射线晶体学基础,北京-科学出 版社,2006年 祁景玉主编,X射线结构分析,上海-同济大 学出版社,2003年 王培铭,许乾慰,材料研究方法,科学出版 社,北京,2005年
39
(三)一个晶胞对X射线的散射
1、晶胞散射波的合成与晶胞衍射强度
A (xj,yj,zj)

考虑O原子与A原子在(HKL)面 反射线方向上的散射线,则其干 涉相长条件应满足衍射矢量方程:
r

* HKL

s s0
则O原子与A原子在(HKL)面反 射方向上散射线位相差为

2OA r
OA= xja+yjb+zjc

=ML+LN=2dsin ;
2dsin=n
式中:n——任意整数,称反射级数,d为(hkl)晶面间距, 即dhkl

13
3.布拉格方程的讨论

(1)布拉格方程描述了“选择反射”的规律。产生 “选择反射”的方向是各原子面反射线干涉一致加强的 方向,即满足布拉格方程的方向。 (2)布拉格方程表达了反射线空间方位()与反射晶 面面间距(d)及入射线方位()和波长()的相互 关系。 (3)入射线照射各原子面产生的反射线实质是各原子 面产生的反射方向上的相干散射线,而被接收记录的样 品反射线实质是各原子面反射方向上散射线干涉一致加 强的结果,即衍射线。因此,在材料的衍射分析工作中, “反射”与“衍射”作为同义词使用。
22
按衍射矢量方程,晶体中每一个可能产生反射的
(HKL)晶面均有各自的衍射矢量三角形。
同一晶体各晶面衍射矢量三角形关系
脚标1、2、3分别代表晶面指数H1K1L1、H2K2L2和H3K3L3
23

由上述分析可知,可能产生反射的晶面,其倒易点必落 在反射球上。据此,厄瓦尔德做出了表达晶体各晶面衍 射产生必要条件的几何图解,如图所示。
P22课后习题3某原子的一个光谱项为45FJ
n=4,L=3,S=2,则J=5,4,3,2,1。 J=5时,MJ=0,1,2,3,4,5; J=4时,MJ=0,1, 2,3,4 ; J=3时,MJ=0 ,1, 2,3 ; J=2时,MJ=0,1, 2; J=1时,MJ=0 ,1;
厄瓦尔德图解
24

厄瓦尔德图解步骤为:
1.作OO*=s0,长度为1/ ; 2.作反射球(以O为圆心、OO*为半径作球); 3.以O*为倒易原点,做晶体的倒易点阵; 4. 若倒易点阵与反射球(面)相交,即倒易点落在反 射球(面)上(例如图中之 P 点),则该倒易点相应 之(HKL)面满足衍射矢量方程; 反 射 球 心 O 与 倒 易 点 的 连 接 矢 量 ( 如 OP) 即 为 该 ( HKL)面之反射线单位矢量 s,而 s 与 s0 之夹角( 2 ) 表达了该(HKL)面可能产生的反射线方位。
28

散射线干涉一致加强的条件为=H,即 a(cos-cos0)=H
式中:H——任意整数。 此式表达了单一原子列衍射线方向()与入射 线波长()及方向(0)和点阵常数的相互关系, 称为一维劳埃方程。 亦可写为

a· (s-s0)=H
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2. 二维劳埃方程
a(cos-cos0)=H b(cos-cos0)=K 或 a· (s-s0)=H b· (s-s0)=K
14

(4)布拉格方程由各原子面散射线干涉条件导出,即视原子面 为散射基元。同一原子面反射方向上的各原子散射线同相位。
பைடு நூலகம்
单一原子面的反射 (5)由(hkl)晶面的n级反射,可以看成由面间距为dhkl/n的 (HKL)晶面的1级反射,(HKL)即为干涉指数。
d hkl 2 sin n
2d HKL sin
15
(6)衍射产生的必要条件:
“选择反射” 即反射定律+布拉格方程是衍射产生的必要条 件。即当满足此条件时有可能产生衍射;若 不满足此条件,则不可能产生衍射。
16
Bragg衍射方程及其作用
n = 2d sin | sin | ≤1; n / 2d = | sin | ≤1, 当n = 1 时, 即: ≤ 2d ; d ≥ / 2
O原子与A原子散射波位相差为

30
衍射方向 小结
衍射矢量方程、布拉格方程+反射定律、厄瓦
尔德图解、劳埃方程+协调方程作为衍射必要 条件都是等效的。 衍射矢量方程更具有普遍性。
31
思考题:
α-Fe属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。如
用CrKα X射线(λ=0.2291nm)照射,试求 (110)、(200)及(211)可发生衍射的掠 射角。


d HKL
由倒易矢量性质可知, 则上式可写为
(s-s0)/=r*HKL (r*HKL=1/dHKL)

即称为衍射矢量方程。 若设R*HKL=r*HKL(为入射线波长,可视为比例系数),则上 式可写为 此式亦为衍射矢量方程。
s-s0=R*HKL
(R*HKL=/dHKL)
20

三、厄瓦尔德图解
3

X射线发展史:
•1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X射线(1901 年首届诺贝尔奖)
•1912年,德国的Laue第一次成功地进行X射线通过晶体发生衍射 的实验,验证了晶体的点阵结构理论。并确定了著名的晶体衍射 劳埃方程式。从而形成了一门新的学科—X射线衍射晶体学。 (1914年诺贝尔奖) •1913年,英国Bragg导出X射线晶体结构分析的基本公式,即著 名的布拉格公式,并测定了NaCl的晶体结构( 1915年诺贝尔奖) •巴克拉(1917年,发现元素的标识X射线),塞格巴恩(1924年, X射线光谱学),德拜,(1936年),马勒(1946年),柯马克 (1979年),等人由于在X射线及其应用方面研究而获得化学, 生理,物理诺贝尔奖。 •有机化学家豪普物曼和卡尔勒在50年代后建立了应用X射线分析 的以直接法测定晶体结构的纯数学理论,特别对研究大分子生物 4 物质结构方面起了重要推进作用,获1985年诺贝尔化学奖

讨论衍射矢量方程的几何图解形式。
s-s0=R*HKL
衍射矢量三角形——衍射矢量方程的几何图解
21
三、厄瓦尔德图解
晶体中有各种不同方位、不同晶面间距
的(HKL)晶面。当一束波长为的X 射线以一定方向照射晶体时,哪些晶面 可能产生反射?反射方向如何? 解决此问题的几何图解即为厄瓦尔德 (Ewald)图解。
broadening due to crystallite size
K depends on definition of t and B Within 20%-30% accuracy at best

Sherrer’s Formula References Corman, D. Scherrer’s Formula: Using XRD to Determine Average Diameter of Nanocrystals.
4 2
偏振因子或极化因子


Ie 一个电子散射的X射线的强度 I0 入射X射线的强度 R 电场中任一点P到发生散射电子的距离 2θ 散射线方向与入射X射线方向的夹角
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(二) 原子散射强度
和电子引起的X射线散射相比,原子核引起的散射强 度要弱得多,可以忽略不计,只需考虑核外电子对X 射线的散射。 为了评价一个原子对X射线的散射本领,引入一个参 量f, 称原子散射因子。
确定元素,X射线荧光分析的基础。
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二、衍射矢量方程
设s0与s分别为入射线与反射线方向单位矢量,s-
s0称为衍射矢量,则反射定律可表达为:s-s0//N
s-s0=2sinθ
s-s0=/d
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综上所述,“反射定律+布拉格方程”可用衍射矢量(s-s0)表示 为
s-s0//N
s s0
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2.布拉格方程的导出
正因为: ①晶体结构的周期性,可将晶体视为由许多相互平行且 晶面间距(d)相等的原子面组成; ②X射线具有穿透性,可照射到晶体的各个原子面上; ③光源及记录装置至样品的距离比d数量级大得多,故 入射线与反射线均可视为平行光。 可将布拉格X射线的“选择反射”现象解释为:
3. 三维劳埃方程
a(cos-cos0)=H b(cos-cos0)=K c(cos-cos0)=L 或 a· (s-s0)=H b· (s-s0)=K c· (s-s0)=L 劳埃方程的约束性或协调性 方程 cos20+cos20+cos20=1 cos2+cos2+cos2=1
入射的平行光照射到晶体中各平行原子面上,各
原子面各自产生的相互平行的反射线间的干涉作 用导致了“选择反射”的结果。
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(hkl)

设一束平行的X射线(波长)以 角照射到晶体中晶面指数为 (hkl)的各原子面上,各原子面产生反射。 任选两相邻面(A1与A2),反射线光程差 干涉一致加强的条件为=n,即

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四、劳埃方程
由于晶体中原子呈周期性排列,劳埃设想
晶体为光栅(点阵常数为光栅常数),晶 体中原子受X射线照射产生球面散射波并 在一定方向上相互干涉,形成衍射光束。
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