现代分析测试技术--期末复习题
材料现代分析试方法复习题
《材料现代分析测试方法》习题及思考题一、名词术语波数、原子基态、原子激发、激发态、激发电位、电子跃迁（能级跃迁）、辐射跃迁、无辐射跃迁，分子振动、伸缩振动、变形振动（变角振动或弯曲振动）、干涉指数、倒易点阵、瑞利散射、拉曼散射、反斯托克斯线、斯托克斯线、 X射线相干散射（弹性散射、经典散射或汤姆逊散射）、X射线非相干散射（非弹性散射、康普顿-吴有训效应、康普顿散射、量子散射）、光电效应、光电子能谱、紫外可见吸收光谱（电子光谱）、红外吸收光谱、红外活性与红外非活性、弛豫、K系特征辐射、L系特征辐射、Kα射线、Kβ、短波限、吸收限、线吸收系数、质量吸收系数、散射角（2θ）、二次电子、俄歇电子、连续X射线、特征X射线、点阵消光、结构消光、衍射花样的指数化、连续扫描法、步进扫描法、生色团、助色团、反助色团、蓝移、红移、电荷转移光谱、运动自由度、振动自由度、倍频峰（或称泛音峰）、组频峰、振动耦合、特征振动频率、特征振动吸收带、内振动、外振动（晶格振动）、热分析、热重法、差热分析、差示扫描量热法、微商热重（DTG）曲线、参比物（或基准物、中性体）、程序控制温度、（热分析曲线）外推始点、核磁共振。
二、填空1.原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
2.电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为( )跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为( )跃迁。
3.多原子分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
4.伸缩振动可分为( )和( )。
变形振动可分为( )和( )。
5.干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识。
6.晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为( )和( ).7. 倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度|r*HKL|等于(HKL)之晶面间距dHKL的( )。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案一、选择题（每题2分，共20分）1. 下列哪一项不是材料现代测试分析方法？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 光学显微镜（OM）C. 质谱仪（MS）D. 能谱仪（EDS）2. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的晶体结构？A. X射线衍射（XRD）B. 原子力显微镜（AFM）C. 扫描隧道显微镜（STM）D. 透射电子显微镜（TEM）3. 下列哪种测试方法主要用于分析材料的表面形貌？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 透射电子显微镜（TEM）C. 原子力显微镜（AFM）D. 光学显微镜（OM）4. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的磁性？A. 振动样品磁强计（VSM）B. 核磁共振（NMR）C. 红外光谱（IR）D. 紫外可见光谱（UV-Vis）5. 下列哪种测试方法可以同时提供材料表面形貌和成分信息？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 原子力显微镜（AFM）C. 能谱仪（EDS）D. 质谱仪（MS）二、填空题（每题2分，共20分）1. 扫描电子显微镜（SEM）是一种利用_____________来扫描样品表面，并通过_____________来获取样品信息的测试方法。
2. 透射电子显微镜（TEM）是一种利用_____________穿过样品，并通过_____________来观察样品内部结构的测试方法。
3. 原子力显微镜（AFM）是一种利用_____________与样品表面相互作用，并通过_____________来获取表面形貌和力学性质的测试方法。
4. 能谱仪（EDS）是一种利用_____________与样品相互作用，并通过_____________来分析样品成分的测试方法。
5. 振动样品磁强计（VSM）是一种利用_____________来测量样品磁性的测试方法。
三、简答题（每题10分，共30分）1. 请简要介绍扫描电子显微镜（SEM）的工作原理及其在材料测试中的应用。
材料现代测试分析方法期末考试卷加答案
江西理工大学材料分析测试题（可供参考）一、名词解释（共20分，每小题2分.)1.辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。
2.俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子）处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程,此过程发射的电子。
3.背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子.4.溅射:入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子(原子、离子、原子团等）的发射,这种现象称为溅射。
5.物相鉴定:指确定材料（样品）由哪些相组成。
6.电子透镜：能使电子束聚焦的装置。
7.质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。
8.蓝移:当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（λ最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝")。
9.伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
10.差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术.二、填空题（共20分，每小题2分。
）1.电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括( 红外线）、（可见光）和(紫外线），统称为光学光谱。
2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。
光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续 )光谱、（带状 )光谱和（线状）光谱3类。
3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射.分子散射包括（瑞利散射）与(拉曼散射）两种。
4.X射线照射固体物质(样品），可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子5.多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X射线衍射仪法）。
测试技术复习题及参考答案
一、选择题1、描述周期信号的数学工具是 B 。
A 相关函数B 傅里叶级数C 傅里叶变换D 拉氏变换2、傅里叶级数中的各项系数是表示各谐波分量的 C 。
A 相位B 周期C 振幅D 频率3、复杂周期信号的频谱是 A 。
A 离散的B 连续的C δ函数D sinc 函数4、下列表达式中， C 是周期信号。
A.. ⎪⎩⎪⎨⎧≥<=T t T t t t x 0cos )(0ω B. ⎪⎩⎪⎨⎧><=T t T t t w 01)(C. )45100cos(2.010cos 5.0)(︒-+=t t t xD. ()()t x t x t x 21)(+=5、将时域信号进行时移，则其频域信号将会 D 。
A 扩展B 压缩C 不变D 仅有相移6、线性度是表示静态标定曲线 A 的程度。
A 接近理想直线B 偏离其拟合直线C 正反行程的不重合7、若测试系统由两个环节串联而成，且两个环节的传递函数分别为()s H 1、 ()s H 2，则该系统总的传递函数为 B 。
A ()s H 1+ ()s H 2B ()⨯s H 1 ()s H 2C ()s H 1- ()s H 2D ()s H 1/ ()s H 28、线性系统的叠加原理表明 A 。
A 施加于线性系统的各个输入量所产生的响应过程互不影响B 一定倍数的原信号作用于系统所产生的响应，等于原信号的输出乘以该倍数C 系统的输出响应的频率等于系统的输入激励信号的频率D 系统的输出响应的频率为输入信号频率的总和9、对于理想的定常线性系统，其灵敏度是 B 。
A 随机变量B 常数C 时间的线性函数10、为消除压电传感器电缆分布电容变化时对输出灵敏度的影响，可采用B 消除影响。
现代分析测试技术复习题答案篇
现代分析测试技术复习题答案篇⼀、问答题：1、试述塔板理论的基本关系式及理论要点。
2、利⽤范⽒⽅程说明HPLC中如何选择实验条件？①采⽤粒径⼩⽽均匀的球形固定相,⾸选化学键合相,⽤匀浆法装柱.②采⽤低黏度流动相,低流量(1mL/min),⾸选甲醇.③采⽤柱温箱,避免室温波动,增加实验重复性,柱温以25～30℃为宜.3、⾼效液相⾊谱仪包括哪些主要部件？各部件的作⽤是什么？⾼效液相⾊谱仪由五⼤部分组成：⾼压输液系统，进样系统、分离系统、检测系统和⾊谱⼯作站。
由于⾼效液相⾊谱所⽤固定相颗粒极细，因此对流动相阻⼒很⼤，为使流动相较快流动，必须配备有⾼压输液系统。
⾼压输液系统由储液罐、过滤器、⾼压输液泵、梯度洗脱装置等组成。
流动相在进⼊⾼压泵之前，应先进⾏过滤和脱⽓处理。
⾼压输液泵是核⼼部件，其密封性好，输出流量恒定，压⼒平稳，可调范围宽，便于迅速更换溶剂及耐腐蚀等。
进样系统是将被分离的样品导⼊⾊谱柱的装置。
要求密封性、重复性好，死体积⼩，便于实现⾃动化。
进样系统包括取样、进样两个功能。
分离系统主要是指⾊谱柱，⾊谱柱是⾼效液相⾊谱仪的核⼼部件，要求分离度要⾼、柱容量⼤、分析速度快。
检测器是HPLC仪的三⼤关键部件之⼀。
⽤来连续监测经⾊谱柱分离后的流出物的组成和含量变化的装置。
其作⽤是把洗脱液中组分的量转变为电信号。
并由⼯作站（或记录仪）绘出谱图来进⾏定性、定量分析。
⾊谱⼯作站是⾊谱仪的⾃动化控制包括⾃动进样系统的进样⽅式、输液泵系统中的溶剂流速、梯度洗脱程序、检测系统的各项参数、数据记录和处理等。
4、什么是锐线光源？为什么空⼼阴极灯发射线是锐线？答：锐线光源是能发射出谱线半宽度远⼩于吸收线半宽度的光源。
锐线光源发射线半宽度很⼩，并且发射线与吸收线中⼼频率⼀致。
锐线光源需要满⾜的条件：a.光源的发射线与吸收线的ν0⼀致。
b.发射线的Δν1/2⼩于吸收线的Δν1/2。
空⼼阴极灯是⼀个封闭的⽓体放电管。
⽤被测元素纯⾦属或合⾦制成圆柱形空⼼阴极，⽤钨或钛、锆做成阳极。
现代分析测试技术考试题
一、解析题（每小题15分, 共计30分）1.根据该化合物的1H核磁共振图谱推测其结构, 写出推测依据和过程。
并根据不饱和度计算公式f＝1＋n4＋1/2（n3－n1）计算某化合物C9H10O2的不饱和度。
（15分）答: 根据公式f＝1＋n4＋1/2（n3－n1）, 得到此化合物的不饱和度为1+9-(10-0)/2=5, 该化合物的1H核磁共振图谱中主要有三个峰, 所以推断此化合物主要有三种H质子, 由δ=7.38可以推断出此化合物含有苯环结构, 由δ=5.12可以推断出此化合物含有-CH2-O-, 由δ=2.11可以推断出此化合物含有-CO-CH33.分析下列X射线衍射图, 并根据scherrer公式计算（110）晶面的晶粒大小。
其中衍射角2θ为27.5度, 波长为0.154nm, 半峰宽为0.375。
答: 从XRD图可以看出的TiO2衍射峰非常尖锐, 且杂峰较少, 在27.28°, 35.58°, 41.26°, 54.66°和55.08°的位置出现明显特征峰, 分别对应的晶面为(110)、(101)、(111)、(211)和(220), 与PDF(#06-0416)卡片标准锐钛矿型TiO2的特征衍射峰吻合。
Scherrer公式: D=kλ/βcosθ其中, D为沿垂直于晶面（hkl）方向的晶粒直径, k为Scherrer常数（通常为0.89）, λ为入射X射线波长（Cuka 波长为0.15406nm）。
晶粒直径为:β=0.375°=0.375*π/180=0.0065θ=27.5°/2=13.75°=13.75*π/180=0.24D=0.89*0.154/(0.0065*0.97)=21.75二、简述题（每小题8分, 共计40分）1.电子跃迁有哪些种类？哪些类型的跃迁可以在紫外光谱中得到反映？一般紫外光谱谱带中分为哪几种类型？答：（1）电子跃迁的种类有：n→σ*, n→π*, π→π*, σ→σ*。
《现代分析测试技术》复习知识点答案
一、名词解释1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到0.0044的吸光度的某元素的浓度称为特征浓度。
计算公式： S=0.0044×C/A （ug/mL/1%）S——1％吸收灵敏度 C——标准溶液浓度 0.0044——为1％吸收的吸光度A——3次测得的吸光度读数均值2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量。
通常以产生空白溶液信号的标准偏差2～3倍时的测量讯号的浓度表示。
只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。
计算公式： D＝c Kδ/A mD——元素的检出限ug/mL c——试液的浓度δ——空白溶液吸光度的标准偏差 A m——试液的平均吸光度 K——置信度常数，通常取2~3 3．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化，以I F—λ激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱4．紫外可见分光光度法：紫外—可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱区的辐射来进行分析测定的方法。
这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。
5．热重法：热重法（TG）是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。
TG基本原理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。
热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。
检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。
6．差热分析；差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。
现代测试技术课后习题及答案
复习（重点）一、中期考试题（含第一、二、三章） 重点习题：二、填空选择题：第五、九、十章。
如： 1. ±1误差称为最大量化误差2.直接数字合成（DDS ）技术的优缺点。
三、判断题第四、九章。
四、简答题：1.简单电路原理分析，如P155图4-6；锁相环倍频分频2.框图分析（简述） ：测频、测周及时间间隔原理；示波器扫描发生器环组各部份的组成及作用；外差式频谱分析仪组成框图原理；逻辑分析仪 五、计算题:1.（含中期考试计算题）及第九章2.累进性系统误差、周期性误差的判别，简述测量数据处理的步骤（要求给出相应的公式及判据），例3-4。
3．计算由±1误差所引起的测周误差。
付加：1.现代自动测试系统特点2. PXI 总线的特点及应用领域？第一章一、填空题1.相对误差定义 与 的比值。
通常用百分数表示。
2.广义测量是指为了获得对被测对象 而进行的实验过程。
3.狭义测量测量是为了确定被测对象的 而进行的实验过程。
4.测量误差主要的来源 、 、 、 和 。
5.仪表的准确度越高，测量结果越 。
6.信息的的获取的过程是由 和 两大环节组成。
二、计算题1、用量程为10V 、1.5级的电压表分别测量3V 和8V 的电压，试问哪一次测量的准确度高?为什么?解：xm=10V,A1=3V ,A2=8V2、某被测电压为3.50V ，仪表的量程为5V ，测量时该表的示值为3.53V ，求：⑴ 绝对误差与修正值各为多少？%5.1%100=⨯∆=XmXm γ%5.110⨯=∆X %5%10011=⨯∆=A XA γ◆⑵实际相对误差及引用误差各为多少？◆⑶该电压表的精度等级属哪一级别？第二章◆一、选择题：◆ 1.从基本的测量对象来看，电子测量是对( ) 的测量。
◆ A.电信号 B. 电路Ｃ．电系数Ｄ．电参数◆ 2.测量系统的理想静态特性为（）．◆Ａ．y=Sx+S0 B.y=Sx C.y=S D.y=Sx+S0+x2◆ 3. 电子信息技术应用在电子测量中的优点有（）。
现代材料测试技术期末测试题
材料现代分析测试技术思考题1.电子束与固体物质作用可以产生哪些主要的检测信号这些信号产生的原理是什么它们有哪些特点和用途(1)电子束与固体物质产生的检测信号有：特征X射线、阴极荧光、二次电子、背散射电子、俄歇电子、吸收电子等..(2)信号产生的原理：电子束与物质电子和原子核形成的电场间相互作用..(3)特征和用途：①背散射电子：特点：电子能量较大;分辨率低..用途：确定晶体的取向;晶体间夹角;晶粒度及晶界类型;重位点阵晶界分布;织构分析以及相鉴定等..②二次电子：特点：能量较低;分辨率高..用途：样品表面成像..③吸收电子：特点：被物质样品吸收;带负电..用途：样品吸收电子成像;定性微区成分分析..④透射电子：特点：穿透薄试样的入射电子..用途：微区成分分析和结构分析..⑤特征X射线：特点：实物性弱;具有特征能量和波长;并取决于被激发物质原子能及结构;是物质固有的特征..用途：微区元素定性分析..⑥俄歇电子：特点：实物性强;具有特征能量..用途：表层化学成分分析..⑦阴极荧光：特点：能量小;可见光..用途：观察晶体内部缺陷..①电子散射：当高速运动的电子穿过固体物质时;会受到原子中的电子作用;或受到原子核及周围电子形成的库伦电场的作用;从而改变了电子的运动方向的现象叫电子散射②相干弹性散射：一束单一波长的电子垂直穿透一晶体薄膜样品时;由于原子排列的规律性;入射电子波与各原子的弹性散射波不但波长相同;而且有一定的相位关系;相互干涉..③不相干弹性散射：一束单一波长的电子垂直穿透一单一元素的非晶样品时;发生的相互无关的、随机的散射..④电子衍射的成像基础是弹性散射..3.电子束与固体物质作用所产生的非弹性散射的作用机制有哪些非弹性散射作用机制有：单电子激发、等离子激发、声子发射、轫致辐射①单电子激发：样品内的核外电子在收到入射电子轰击时;有可能被激发到较高的空能级甚至被电离;这叫单电子激发..②等离子激发：高能电子入射晶体时;会瞬时地破坏入射区域的电中性;引起价电子云的集体振荡;这叫等离子激发..③声子发射：入射电子激发或吸收声子后;使入射电子发生大角度散射;这叫声子发射..④轫致辐射：带负电的电子在受到减速作用的同时;在其周围的电磁场将发生急剧的变化;将产生一个电磁波脉冲;这种现象叫做轫致辐射..材料检测中有何应用1二次电子产生：单电子激发过程中;被入射电子轰击出来并离开样品原子的核外电子..应用：样品表面成像;显微组织观察;断口形貌观察等2背散射电子：受到原子核弹性与非弹性散射或与核外电子发生非弹性散射后被反射回来的入射电子..应用：确定晶体的取向;晶体间夹角;晶粒度及晶界类型;重位点阵晶界分布;织构分析以及相鉴定等..3成像的相同点：都能用于材料形貌分析成像的不同点：二次电子成像特点：1分辨率高2景深大;立体感强3主要反应形貌衬度..背散射电子成像特点：1分辨率低2背散射电子检测效率低;衬度小3主要反应原子序数衬度..5.特征X射线是如何产生的;其波长和能量有什么特点;有哪些主要的应用特征X-Ray产生：当入射电子激发试样原子的内层电子;使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态;外层的电子会迅速填补到内层电子空位上;并辐射释放一种具有特征能量和波长的射线;使原子体系的能量降低、趋向较稳定状;这种射线即特征X射线..波长的特点：不受管压、电流的影响;只决定于阳极靶材元素的原子序..应用：物质样品微区元素定性分析6. 俄歇电子是怎样产生的 对于孤立的原子来说;能够产生俄歇效应的最轻元素是什么俄歇电子的产生：当入射电子激发试样原子的内层电子;使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态;外层的电子会迅速填补到内层电子空位上;原子从激发态转变到基态释放的多余能量传给另一外层电子;使其脱离原子系统;成为二次电子;这种二次电子称为俄歇电子..能够产生俄歇效应的最轻元素是铍..7. 特征X 射线的波长与阳极靶材的原子序数有什么关系 K α谱线的强度与K β谱线的强度哪一个大一些① 莫塞莱定律得到关系式：)(12σλ-=z K ;这定律表明;阳极靶材的原子序数越大;相应于同一系的特征谱波长越短.. ②K α谱线是电子从L 层跃迁到K 层所发射的;K β谱线是M 层电子向K 层空位补充所发射的..由莫塞莱定律可以得出;K α波长比K β波长大;但由于在K 激发态下;L 层电子向K 层跃迁的几率远大于M 层跃迁的几率;所以K α谱线的强度约为K β的五倍..8. X 射线的强度和硬度通常用什么表达 有什么物理含义硬度表达：习惯上;用管电压的KV 数表示X 射线的硬度；物理含义：表示X 射线的贯穿本领..强度表达：习惯上;用一定管电压下的管电流mA 数表示X 射线的强度..物理意义：单位时间内通过与射线方向的单位面积上的辐射能量..9. α-Fe 体心立方;点阵参数a=2.866 à;如果用Cr K α X 射线λ=2.291à照射;如果110发生衍射;其掠射角是多少由布拉格公式：2dsin θ=γ;及晶面夹角公式222l k h a d hkl ++=;计算得θ=34.42°据图可知: 826545321===θθθ，，由布拉格方程:λθ=sin 2d可得晶面间距为：nm d nm d nm d 0777.00851.01090.0321≈≈≈，，晶面夹角公式:222l k h ad hkl ++=可算得晶格参数为:1903.01702.01541.0321≈≈≈a a a ；；11. 简述从X 射线衍射图谱中可以知道被检测样品那些结构信息X 射线衍射图谱具有3要素;衍射线的位置、强度以及线型;从这些要素中我们可以获得以下关于晶体信息：物相分析；点阵参数;膨胀系数测定；晶体取向和点阵畸变；多晶材料中的层错几率；晶粒尺寸和多晶织构；残余应力测定等信息..12. 如果一个样品的X 射线衍射图谱中某个晶面衍射峰的2θ角比卡片值偏低;而衍射峰强度比卡片值明显偏高;说明该样品就有什么样的结构特征2dsin θ= λ;由于2θ值下降;因而晶面间距增大;原子固溶度增大;晶格发生畸变..晶粒生长发生择优取向..射峰强度比卡片值明显偏高说明样品内存在宏观应力;晶格点阵发生畸变..13. 如果要对样品中一块微区微米量级进行物相分析;可以采用哪些测试方法 如果对该微区进行化学成分分析;可用那些测试方法微区物相分析：采用透射电子显微镜选区电子衍射分析方法；微区进行化学成分分析：可采用电子探针EPMA 和俄歇电子能谱仪来进行测试分析..14. 透射电镜的中间镜的作用有哪些①成像作用：如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合;在荧光屏上得到一放大像； ② 衍射作用：如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合;在荧光屏上得到一电子衍射花样..由于电子波长比X 射线波长小;由布拉格方程可知;电子的衍射角比X 射线的衍射角小;电子波波长很短;一般只有千分之几纳米;电子的衍射角θ很小一般只有几度..由于物质对电子的散射作用很强主要来源于电子的散射作用;远强于物质对X 射线的散射作用;因而电子束穿进物质的能力大大减弱;电子衍射只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析..X 射线衍射能准确的测定晶格常数;透射电子衍射的优势在于微区结构的测量..16. 爱瓦尔德球是如何建立的 用爱瓦尔德球说明电子束uvw 对于晶体hkl 晶面发生衍射的充分必要条件..爱瓦尔德球的建立：以晶体内一点O 为中心;以1/ λ为半径在空间画一个球;令电子束沿AO 入射到达O ’点;在球上取一点G;使O ’G=1/d;若AO ’与AG 的夹角为θ;则满足布拉格衍射公式2dsin θ=λ;入射束用矢量k 表示;衍射束用矢量k ’表示;则有布拉格方程的倒易矢量形式g hkl =k ’-k;k ’与k 满足布拉格衍射方程； 晶面发生充分必要条件： ①满足倒易矢量方程g hkl = k ’-k ； ②矢量g hkl // N hkl ； ③AO ’=2/λ;O ’G=1/d 17. X 射线衍射与电子衍射有何异同点不同点：a 、X 射线波长大;衍射角大;可接近90°;电子束波长小;衍射角通常小于90°；b 、电子衍射采用薄晶样品;会使点阵在倒易空间里沿厚度方向拉伸成杆状;增加倒易点阵与反射球相交的机会;使略偏离布拉格衍射角的电子束也能发生衍射；c 、电子波长较小;反射球半径很大;在衍射角范围内的球面可看成平面；d 、晶体对电子的散射能力强于对X 射线的散射能力;衍射强度高；e 、电子衍射只使用非常薄或微细粉末样品;而X 射线衍射对样品的要求较低、相同点：都需要满足布拉格衍射条件才能发生衍射;都可以进行物相的鉴定;电子衍射的精度更高..18. 什么是晶带轴定理 求002和1-10晶面的晶带轴uvw晶带轴定理：在统一晶带uvw 中;各晶面HKL 中的法线及各晶面对应的倒易矢量'hkl g 与晶带轴hklg 垂直;即：0'=++=⋅Lw Kv Hu g g hkl hkl 19. 倒易点阵与正点阵之间存在何种关系;倒易点阵与晶体电子衍射斑点之间有何对应关系 倒易点阵与正点阵之间的关系：a、正基矢与倒易基矢处于完全对称的地位;因此正空间与倒易空间是互为倒易关系;有下式：b、正空间和倒易空间的单晶胞体积也互为倒数;那么有V=1/V’c、倒易矢量垂直于对应指数的晶面;d、倒易矢量的模等于1/d hkl;晶面间距等于倒易矢量的倒数d hkl=g hkl倒易点阵与晶体衍射斑点之间的对应关系：电子衍射斑点是与晶体相对应的倒易点阵中某一截面上阵点排列的像;倒易矢量投影后的之间的夹角、对称性、比例都保持不变;且存在关系Rd=Lλ20.分析倒易点阵为面心立方和体心立方;其对应的正点阵的晶体结构点阵类型是什么倒易空间为面心立方对应正点阵为体心立方；倒易点阵为体心立方对应的正点阵的晶体结构为面心立方..21.下图是单晶体、多晶体和非晶体的电子衍射花样;选择对应结构类型的电子衍射花样;并说明原因..a b ca、多晶体..多晶体中包含了众多的晶粒;结晶学取向在三维空间是随机分布的;同名晶面族对应的倒易点阵在倒易空间中的分布是等几率的;无论电子束沿任何方向入射;同名晶面族对应的倒易点阵与反射球面相交的轨迹都是一个圆环形;由此产生的衍射束均为圆形环线..b、非晶体..由于单个原子团或多面体的尺度非常小;其中包含的原子数目非常少;倒易球面也远比多晶材料的厚..所以;非晶态材料的电子衍射图只含有一个或两个非常弥散的衍射环..c、单晶体中晶体学取向是固定的;每个晶面族对应的倒易点阵在倒易空间中的都有对称的点阵;与反射球面相交后的轨迹都是有规则的点;因此产生的衍射束为花样斑点..;从初始状态As-prepared到温度800℃一20. 下图是用熔胶-凝胶法制备的二氧化钛薄膜TiO2金红石结构个小时保温处理后的X射线衍射图;分析二氧化钛薄膜结构随温度变化的规律..TiO2锐钛矿结构--- anatase---rutile;TiO2薄膜为非晶状态;X射线衍射表现出馒头状的衍射分析：初始状态下溶胶-凝胶法制备的TiO2开始峰;300℃时仍然为非晶状态；400℃保温1小时后出现了轻微的衍射峰;说明非晶态的TiO2结晶；500℃保温后锐钛型TiO2相应晶面的衍射峰以开始形成；600℃保温后;锐钛型TiO2衍射峰型已基本形成;但并未出现金红石结构TiO2；700℃后形成了尖锐的锐钛型TiO2衍射峰型;非晶型TiO2已全部转化完毕;并出现金红石结构TiO2的衍射峰；800℃热处理后;锐钛型TiO2全部转化为金红石结构TiO2;使得其结构排列越来越规整;X射线衍射显示为全部的金红石结构TiO2的衍射峰..aX射线衍射分析b透射电镜分析c扫描电镜分析dX射线光电子能谱分析法XPS不确定也有说电子探针显微镜分析EPMA22.用已学过的实验方法设计试验方案;说明晶化点为300℃的非晶块体样品的结构变化规律..方案设计：a、将若干样品在300℃下保温不同时间;得到不同晶化程度的试样b、将这些试样做成符合X射线衍射要求的粉末;把这些试样粉末在低于300℃退火后进行XRD衍射实验;并与100%结晶度的样品的衍射谱线进行对比;计算出在结晶度、拟合出结晶度与保温时间之间的关系曲线..c、将一定结晶度的试样减薄后进行TEM分析;观察结晶区与非结晶区的界面;分析结晶区与非结晶区的关系;并对结晶区进行电子衍射..23.能谱仪和波普仪工作原理是什么在做成分分析的时候哪一种测试方法的分辨率高一些①能谱仪工作原理：能谱仪是利用不同X射线光子能量特征能量不同这一特点来进行成分分析、具体工作原理如下：能谱仪主要器件为锂漂移硅SiLi检测器;当X光子进入检测器后;在SiLi晶体内激发出一定书目的电子-空穴对..产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的;因此由一个X射线光子造成电子-空穴对的数目为N;N=△E/ε;X射线光子能量不同;N也不同;再利用偏压收集电子-空穴对;并转换成电流脉冲;把脉冲电流分类计数;这样形成特征的脉冲对应特征能量的X射线;就可以描出一张特征X射线按能量大小分布的图谱..②波谱仪工作原理：特征X射线具有特征的波长;照射到分光晶体上时;不同波长的特征X射线将在各自满足布拉格方程的2dsinθ=γ条件下发生衍射;接收器接受后便可记录下不同种类的特征X射线参数..③做成分分析时：波谱仪的分辨率要高一些;能谱仪给出的波峰比较宽;容易产生重叠24.透射电镜的衍射衬度原理是什么作图分析明场像与暗场像的原理..P169衍射衬度原理：由于各处晶体取向不同和晶体结构不同;满足布拉格条件的程度不同;使得对应试样下面有不同的电子束强度;从而在试样之下形成一个随位置而异的衍射衬度..图1 明场像图2暗场像明场成像是投射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到的图像衬度的方法;而暗场成像就是把入射电子束方向倾斜2θ角度;使B晶粒的hkl晶面组处于强烈衍射的位向;而物镜光阑仍在光轴位置;此时只有B晶粒的hkl的衍射束正好通过光阑孔;而投射束被挡掉..光电子的能量分布曲线：采用特定元素某一X光谱线作为入射光;实验测定的待测元素激发出一系列具有不同结合能的电子能谱图;即元素的特征谱峰群；应用：1元素定性分析2元素定量分析3固体化合物表面分析4化学结构分析X射线荧光分析：X射线照射下脱离原子的束缚;成为自由电子;原子被激发了;处于激发态;这时;其他的外层电子便会填补这一空位;也就是所谓跃迁;同时以发出X射线的形式放出能量..应用：1定性分析；2定量分析；3可测原子序数5~92的元素;可多元素同时测定；原子光谱分析：由原子外层或内层电子能级的变化产生的;它的表现形式为线光谱..分子光谱分析：由分子中电子能级、振动和转动能级的变化产生的;表现形式为带光谱..吸收光谱分析：当物质所吸收的电磁辐射能与该物质的原子核、原子或分子的两个能级间跃迁所需的能量满足△E = hv的关系时;将产生吸收光谱..发射光谱分析：通过测量物质的发射光谱的波长和强度来进行定性和定量分析的方法叫做发射光谱分析法..两者的本质区别是：红外是吸收光谱;拉曼是散射光谱;拉曼光谱与红外光谱两种技术包含的信息量通常是互补的..此外;两者产生的机理不同;红外容易测量;而且信号好;而拉曼的信号很弱..有机化合物的结构鉴定常用红外光谱;通过分析试样的谱图以及与标准谱图对照;就可以准确地确定化合物的结构..通常拉曼光谱可以进行半导体、陶瓷等无机材料的分析..如剩余应力分析、晶体结构解析等..28.原子力显微镜AFM和隧道扫描显微镜STM的工作原理有什么不同AFM的工作原理是利用原子之间的范德华力的作用来呈现样品的表面特征;而STM的工作原理是基于量子力学的隧道电流效应;通过一个由压电陶瓷驱动的探针在物体表面作精确的二位扫描;通过隧道电流的变化来得到表面起伏情况..29.在微米或纳米量级上观察样品的表面形貌可以用什么方法在微米量级省可采用SEM和光学显微镜观察..在纳米量级可采用SEM、TEM、AFM、STM等方法进行观察30.两块不锈钢板A和B用亚弧焊焊接在一起;A为1Cr18Ni9Ti;B为1Cr18Ni9;在使用了一段时间后;发现某一块板离焊缝一段距离处出现锈迹..1设计试验方案分析不锈钢板失效的原因说明实验方法;基本步骤;拟得到的实验结果及分析2提出解决方案1设计试验方案分析不锈钢板失效的原因说明实验方法;基本步骤;拟得到的实验结果及分析a、仔细取样a、b、c和d点;磨制金相试样；观察金相试样a、b和d点相差不大;但c点金相观察中在晶界出现析出物..b、用电子探针显微分析EPMA对析出物和基体进行成分定点分析；结果表明a处的Cr百分含量为18.6%;略有上升；b处的Cr百分含量为17.4%;略有下降；C处的Cr百分含量为12.5%;明显下降；d处的Cr为18.3%;略有上升；晶界析出物Cr 百分含量高达86.5%..c、用透射电镜TEM对析出物进行选区电子衍射分析确定析出物的类型和结构..d、分析晶间腐蚀的原因综合前三个步骤的结果得出;两块不锈钢利用氩弧焊后在焊缝的附近均出现了析出物;由成分检测可以推知;a处的析出物有可能是TinCm;而c点析出物是CrmCm..由于c点处于热影响区;大量析出了含Cr的碳化物所以Cr含量大大下降;因而不满足Tammann定律即n/8定律;因而集体较其他化合物的电极电位低;在腐蚀过程中;基体中作为阳极被腐蚀..对于a点;由于含有稳定化元素Ti;因而TimCm首先析出;从而减少了Cr的析出;保证了耐腐蚀性能..e、确立腐蚀类型可以推知;在热影响区附近腐蚀模型为晶间腐蚀;在焊接后冷却过程中在晶界中析出大量含有Cr的碳化物;形成贫铬区;从而引起晶界的电位下降;晶界、境内的电位差增大;因而引起晶间腐蚀..2提出解决方案对于不锈钢板B;加热到1000~900℃之间进行淬火;然后在950~850℃之间进行退火处理;退火后需要快速冷却；对于不锈钢板A;加热到1100~1000℃之间进行淬火;然后在950~850℃之间进行退火处理;退火后缓慢冷却..X射线衍射仪可以对材料进行物相分析;确定其晶体学参数;但无法对材料进行含量及显微组织形貌的测定；扫描电镜可以测定材料的显微组织形貌;但无法进行物相分析；透射电镜可以对材料的界面进行分析;但无法对材料的结合组态进行测试分析..改正：对材料AmBn的研究方法是：用扫面电镜并配上能谱仪对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用X射线衍射仪对材料进行物相分析;确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面进行测试分析；采用X射线光电子能谱分析法对材料的结合组态进行测试分析..a差示扫描热议：定量测定多种热力学和动力学参数；b透射电镜：目的是对材料的晶体结构进行分析；cX射线衍射仪：目的是确定其晶体学参数..无损验证真伪：电子探针面扫描、波谱仪、JF330固体材料密度测量仪①用电子探针对样品表面做光栅式面扫描;以金元素为特定元素的X射线的信号强度;以阴极射线荧光屏的亮度;获得该元素的质量分数分布的扫描图像..②用波谱仪做定量分析;被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光;即相同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收..③用固体材料密度测量仪测样品的密度;在已知蒸馏水密度的条件下;根据浮力定律能够测量该固体材料的密度..实验过程：用超声波清洗机除去样品表面杂质后;使用波谱仪定量分析获得样品表面金的百分含量;再用密度法检测样品的密度;从而估计内部金的纯度以防该样品是镀金制品..1根据检测样品的要求：定性检测or定量检测2根据结构特点：物相组成or相结构or晶格参数or晶格位向or晶粒尺寸or晶体取向or晶格畸变or固溶程度3根据成分特点：元素相对成分or物相相对成分or元素的点、线、面分布or价态成分4根据研究目的：相变or扩散or过程or模型or组态。
现代分析测试技术复习题教案
现代分析测试技术练习题一、判断题：1、色谱定量时，用峰高乘以半峰宽为峰面积，则半峰宽是指峰底宽度的一半。
（）2、使用气相色谱仪在关机前应将汽化室温度降低至50℃以下,在封闭电源。
（）3、氢焰检测器是一种通用型检测器，既能用于有机物分析，也能用于检测无机化合物。
（）4、依照分别原理的不同样，液相色谱可分为液固吸附色谱，液液色谱法，离子互换色谱法和凝胶色谱法四各样类。
（）5、在色谱分别过程中，单位柱长内组分在两相间的分派次数越多，则相应的分别收效也越好。
（）6、色谱外标法的正确性较高，但前提是仪器的牢固性高且操作重复性好。
（）7、只若是试样中不存在的物质，均可选作内标法中的内标物。
（）8、进样时进样阀手柄位于load地点时载样，位于inject地点时进样。
（）9、紫外分光光度计的光源常用碘钨灯。
（）10、红外光谱法最大的特点是其高度的特点性。
（）二、选择题：1、人眼能感觉到的可见光的波长范围是（）。
A．400nm~760nm C．200nm~600nmB．200nm~400nm D．360nm~800nm2、红外光谱法中的红外吸取带的波长地点与吸取谱带的强度，能够用来（）。
A．判断未知物的构造组成或确定其化学基团及进行定量分析与纯度判断B．确定配位数C．研究化学位移D．研究溶剂效应3、紫外-可见吸取光谱主要决定于（）。
A．分子的振动、转动能级的跃迁B．分子的电子构造C．原子的电子构造D．原子的外层电子能级间跃迁4、双波长分光光度计的输出信号是（）A．试样吸取与参比吸取之差B．试样λ1和λ2吸取之差C．试样在λ1和λ2吸取之和D．试样在λ1的吸取与参比在λ2的吸取之和5、原子吸取光谱产生的原因是（）。
A．分子中电子能级跃迁B．转动能级跃迁C．振动能级跃迁D．原子最外层电子跃迁6、荧光分析法和磷光分析法的敏捷度比吸取光度法的敏捷度（）。
A．高B．低C．相当D．不用然谁高谁低7、红外分光光度计使用的检测器是（）。
材料现代分析测试技术试卷
期末考试试卷课程名称：材料现代分析技术 闭卷 A 卷 120分钟一、选择题（每小题2分，共20分）1、下列材料现代分析方法中能进行局部点的微结构分析的是（ ）A ）X 射线衍射分析B ）扫描电子显微镜C ）透射电子显微镜D ）热重分析法 2、X 射线衍射分析是近代材料微观结构与缺陷分析必不可少的重要手段之一，以下哪个选项不是X 射线衍射分析的应用 （ ）A ）晶体结构研究 B) 物相分析 C ）精细结构研究 D ）表面元素分析 3、X 射线管所产生的特征谱的波长受以下哪种因素所影响（ ）A ）管电压 B) 管电流 C ）阳极靶材的原子序数 D ）电子电荷4、利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点，可制作X 射线滤波片，滤波片材料是根据靶材元素确定的，根据滤波片材料选择规律，当阳极靶材料为元素Mo 时，选择的滤波片材料应该是下列选项中的（ ）A ）FeB ）CoC ）NiD ）Zr5、X 射线衍射定量分析中，如待测样品中含有多个物相，各相的质量吸收系数又不同，常常采用下列哪种方法（ ）A ）外标法B ）内标法C ）参比强度法D ）直接对比法6、透射电子显微镜成像系统中通常包含三级放大系统，下列选项中不是其三级放大系统的是（ ）A ）物镜B ）中间镜C ）目镜D ）投影镜7、利用透射电子显微镜观察纳米二氧化钛形态，通常采用下列哪种制样方法（ ）A ）支持膜法 B) 超薄切片法 C ）复型法 D ）晶体减薄法8、扫描电子显微镜观察中，二次电子像的衬度主要受以下哪个因素所影响（ ）A ）形貌B ）成分C ）电压D ）电磁9、采用X 光电子能谱分析Be 的化学状态，根据影响其化学位移的规律，下列选项中Be 的1s 电子结合能排列正确的是（ ）A ）BeO > BeF 2 > Be B) BeF 2 > Be > BeO C) BeF 2 > BeO > Be D) Be > BeF 2 > BeO 10、根据差热曲线方程，为了提高仪器的检测灵敏度，采用如下哪种方法（ ）二、填空题（每空1分，共20分） 1、X 射线管发出的X 射线，其波长并不相同，根据其波长变化的特点可分为 和 。
期末考试：现代材料测试分析方法及答案
期末考试：现代材料测试分析方法及答案一、引言本文旨在介绍现代材料测试分析方法，并提供相关。
现代材料测试分析方法是材料科学与工程领域的重要内容之一，它帮助我们了解材料的性质和特性，为材料的设计和应用提供依据。
本文将首先介绍几种常见的现代材料测试分析方法，然后给出相应的。
二、现代材料测试分析方法1. 机械性能测试方法机械性能是材料的重要指标之一，它包括材料的强度、硬度、韧性等方面。
常见的机械性能测试方法包括拉伸试验、压缩试验、冲击试验等。
这些测试方法通过施加外力或载荷，测量材料在不同条件下的变形和破坏行为，从而评估材料的机械性能。
2. 热性能测试方法热性能是材料在高温或低温条件下的表现，它包括热膨胀性、热导率、热稳定性等方面。
常见的热性能测试方法包括热膨胀试验、热导率测试、热分析等。
这些测试方法通过加热或冷却材料，测量其在不同温度下的性能变化，从而评估材料的热性能。
3. 化学性能测试方法化学性能是材料在不同化学环境中的表现，它包括耐腐蚀性、化学稳定性等方面。
常见的化学性能测试方法包括腐蚀试验、酸碱浸泡试验等。
这些测试方法通过将材料置于不同的化学介质中，观察其在化学环境下的变化，从而评估材料的化学性能。
三、1. 机械性能测试方法的应用机械性能测试方法广泛应用于材料工程领域。
例如，在汽车工业中，拉伸试验可以评估材料的抗拉强度和延伸性，从而选择合适的材料制造汽车零部件。
在建筑工程中，压缩试验可以评估材料的抗压强度，确保建筑结构的稳定性和安全性。
在航空航天领域，冲击试验可以评估材料的抗冲击性能，确保飞机在遭受外力冲击时不会破坏。
2. 热性能测试方法的意义热性能测试方法对于材料的设计和应用非常重要。
通过热膨胀试验，我们可以了解材料在高温条件下的膨胀性，从而避免热膨胀引起的构件变形和破坏。
通过热导率测试，我们可以评估材料的导热性能，为热传导设备的设计提供依据。
通过热分析，我们可以了解材料在不同温度下的热行为，为材料的热稳定性评估提供依据。
(完整版)现代分析测试技术期末考试复习题
期末考试复习题绪论1.熟悉丙纶、涤纶、尼龙的化学组成、分子式。
2.高分子材料的分子量有哪几种表示方式？怎样计算分子量多分散系数（分子量分布）D？Mw＝96835，Mn＝95876，D＝Mw/Mn分子量表示方法：数均分子量(Mn)、重均分子量（Mw)、粘均分子量（Mη）和Z均分子量（Mz)3.什么是高分子材料的玻璃化转变温度？什么是玻璃态,什么是高弹态？玻璃化转变温度：高聚物由高弹态转变为玻璃态的温度,指无定型聚合物（包括结晶型聚合物中的非结晶部分）由玻璃态向高弹态或者由后者向前者的转变温度，是无定型聚合物大分子链段自由运动的最低温度，通常用Tg表示。
在此温度以上,高聚物表现出弹性;在此温度以下，高聚物表现出脆性。
玻璃态：－整个分子链和链段松弛时间很长，在短时间内无法观察到，只有小运动单元（如支链、侧基等）的运动才能观察到高弹态（rubbery state）：链段运动但整个分子链不产生移动。
此时受较小的力就可发生很大的形变（100~1000％），外力除去后形变可完全恢复,称为高弹形变。
4.熟悉各种测试技术的类型和类别。
紫外1.电子跃迁有哪些种类?哪些类型的跃迁可以在紫外光谱中得到反映？、有机分子电子跃迁类型有σ→σ*跃迁,n→σ*跃迁，π→π*跃迁，n→π＊跃迁,π→σ*跃迁，σ→π*跃迁。
其中π→π*跃迁、n→π*跃迁、n→σ＊跃迁对应的波长在紫外光区，能在紫外光谱上反映2.双酚A聚砜标样的分子量为153246g/mol，将其配制成不同浓度的溶液，一定波长下作紫外光谱分析，得到吸光度A-浓度C曲线如图所示。
现有一未知分子量的双酚A聚砜,取0。
002克配制成1L溶液，测得吸光度A＝0.565,则其分子量为多少？（答案116622）A＝Cεt,C注意换算成摩尔浓度mol/L,摩尔数(mol）＝重量（g）/分子量红外1。
分子有哪些振动形式？每种振动形式都有对应的振动频率，为什么有的振动并不能产生红外吸收?分子振动有伸缩振动和弯曲振动两种基本类型。
现代检测技术试卷及答案
现代检测技术试卷及答案一、填空（填在试卷上，共25分，每空1分）1.测量系统的静态特性是。
2.电阻应变效应是指金属导体在外力作用下发生机械变形时，的现象。
3.测量误差按性质分为误差、误差和误差。
4.在光照作用下，物体内电子逸出物体表面，在回路中形成光电流的现象称为效应；在光照作用下，物体导电性能发生改变的现象称为效应。
5.在图像处理中有两种常见的颜色模型，分别是和。
6.现代测试系统基本型结构包括、、数据采集、及输出显示、打印等环节。
7.常用的位移传感器有和。
8.一阶系统的动态参数是，二阶系统的动态参数是和。
9.光栅的位移放大作用可以用栅距W、主光栅和指示光栅夹角θ以及莫尔条纹间距B表示为。
10.在工程应用中，常用检测淹没在随机噪声中的周期信号，用检测两个信号在时移中的相关性。
11.请列举2个超声波传感器可以测量的物理量：。
12.面积变化型电容传感器的优点是输出与输入成关系，但与极板变化型相比，灵敏度较低，适用于测量。
13.为利用电桥的和差特性，提高系统的灵敏度，应使相邻桥臂上电阻应变极性，相对桥臂上电阻应变极性。
二、选择题（共10分，每题1分）1.准周期信号的频谱是（）。
A.离散的B.连续的C.不确定的2.概率密度函数是（）域上来描述随机信号的。
A.时间B.空间C.幅值D.频率3.减小随机误差影响的主要办法是（）。
A.采取恒温B.改换测量仪器C.增加测量次数4.电涡流传感器是利用（）材料的电涡流效应工作的。
A.金属导体B.半导体C.非金属材料5.压电材料按一定方向放置在交变电场中，其几何尺寸将随之发生变化，这称之为（）效应。
A.压电B.压阻C.压磁D.逆压电6.为消除压电传感器联接电缆分布电容变化对输出灵敏度的影响，可采用（）。
A.电压放大器B.电荷放大器C.相敏检波器7.下列传感器中，能量转换型传感器是（）和（）。
A.光电式B.应变片C.电容式D.压电式8.（）材料适合于作霍尔元件。
A.金属B.半导体C.绝缘体9.测量熔化的铁水的温度可以使用（）。
《现代分析测试技术》考试题A (1)
《现代分析测试技术》试题A卷开卷（）闭卷（ ）适用专业年级：化生、应化2008级姓名学号专业班级座位号本试题一共三道大题，共4页，满分100分。
考试时间120分钟。
1A2、应用5、在气A6A7、空心阴极灯的主要操作参数是（C）P238A内充气体的压力B阴极温度C灯电流D灯电压8、衡量色谱选择性指标的是（D）A理论塔板数B容量因子C相对保留值D分配系数9、下列化合物1H-NMR吸收峰δ值最高的是（A）A、CH3FB、CH3ClC、CH3BrD、CH3I10、原子吸收光谱分析仪中单色器位于（B）P236A空心阴极灯之后B原子化器之后C原子化器之前D空心阴极灯之前11、检测器的“线性”范围是指（C）P46A标准曲线是直线部分的范围B检测器响应呈线性时最大和最小进样量之比C最大允许进样量与最小检测量之差D检测器响应呈线性时最大和最小进样量之差12、某化合物的MS谱分析结果如下，其基峰的核质比为（C）A、55B、59C、73D、8713、在原子吸收中，要求被测元素（A）P228在（1该此法的优点是操作简单，因而适用于工厂控制分析和自动分析；但结果的准确度取决于进样量的重现性和操作条件的稳定性．?（2）．内标法：当只需测定试样中某几个组份．或试样中所有组份不可能全部出峰时，可采用内标法．具体做法是：准确称取样品，加入一定量某种纯物质作为内标物，然后进行色谱分析．根据被测物和内标物在色谱图上相应的峰面积(或峰高)]和相对校正因子．求出某组分的含量．?内标法是通过测量内标物与欲测组份的峰面积的相对值来进行计算的，因而可以在—定程度上消除操作条件等的变化所引起的误差．内标法的缺点是在试样中增加了一个内标物，常常会对分离造成一定的困难。
?（3）．归一化法：归一化法是把试样中所有组份的含量之和按100％计算，以它们相应的色谱峰面积或峰高为定量参数．通过下列公式计算各组份含量：P52?由上述计算公式可见，使用这种方法的条件是：经过色谱分离后、样品中所有的组份都要能产生可测量的色谱峰．?该法的主要优点是：简便、准确；操作条件(如进样量，流速等)变化时，对分析结果影响较小．这解：5化学位移3.6：峰面积为2，则有两个氢，为连有氯的次甲基上氢震动具体请参考邹老师发给我们的那张核磁试卷三、计算题及推断题（每题10分，共30分）1、测定血浆试样中锂的含量，将三份0.500mL血样分别加至5.00mL水中，然后分别加入0μL、10.0μL、20.0μL 浓度为0.0500mol/L的LiCl标准溶液，在原子吸收分光光度计上测得其读数（任意单位）依次为23.0、45.3、68.0。
现代测试技术复习题有答案
填空题1、示值误差定义为( 绝对误差)与( 测量值)的比值，通常用百分数表示。
2、为保证在测量80V电压时，误差≤±1%，应选用等于或优于( )级的100V量程的电压表。
3、用四位半的DVM测量15V的稳压电源电压为15.125V，取四位有效数字时，其值为( )。
4、某DVM的最大读数容量为19999，则该表属于( )位表，在0.2V 量程的分辨力为( )µV。
5、用电子电压表测量一个稳定电压，得到下列数列： 90.1，90.2，90.0，90.4，90.6(V) 则：(1)算术平均值=（）V；(2)数列标准偏差=（） V；（3）算术平均值的标准偏差=( )V。
6、图所示电路，R11 = R12 = R2 = R。
求运算关系式：υO = f (υI1，υI2)。
7、在测量数据为正态分布时，如果测量次数足够多，习惯上取作为判别异常数据的界限，这称为莱特准则。
8、相对真误差定义为 ________ 与 ________ 的比值，通常用百分数表示。
9、随机误差的大小，可以用测量值的 ________ 来衡量，其值越小，测量值越集中，测量的 ________ 越高。
10、测量值的数学期望 M( x ) ，就是当测量次数 n 趋近无穷大时，它的各次测量值的_______ 。
11、随机误差的特点有 ___________、____________、___________。
12、将 15.35保留 3 位有效数字后为 __________。
13、将 362.500000000000001 保留 3 位有效数字后为___________。
14、用一只 0.5 级 50V 的电压表测量直流电压，产生的绝对误差≤ __ 伏。
15、设，且各分项的相对误差分别为，则 y 的相对误差 =____ 。
16、调节示波器“水平位移”旋钮，是调节___ _的直流电位。
17、根据测量误差的性质和特点，可将它们分为 ________ 、 ________ 、 ________ 。
2022级分析测试技术复习题
2022级分析测试技术复习题第 1 部分：单选题(100.00)1、样品预处理的原则是()( 2.00 分 )A. 消除干扰因素;完整保留被测组分;使被测组分浓缩B. 便于检测;完整保留被测组分;使被测组分浓缩C. 消除干扰因素;完整保留被测组分;分离被测组分D. 完整保留被测组分;使被测组分浓缩正确答案：选项A2、吸收光谱曲线的纵坐标为吸收度，横坐标为（)( 2.00 分 )A. 浓度B. 波长C. 时间D. 温度正确答案：3、在食品安全检测分析中，准确度高的检测数据，精密度肯定（）( 2.00 分 )A. 高B. 低C. 不变D. 以上不是正确答案：选项A4、样品的制备是指对样品的（）等过程( 2.00 分 )A. 粉碎B. 混匀C. 缩分D. 以上三项都正确正确答案：选项D5、在原子吸收分光光度法中，使用预混型火焰原子化器测定试样时，在安全上应注意的是(）( 2.00 分 )A. 排液管的液封B. 灯电流的选择C. 燃气的种类选择D. 狭缝的选择正确答案：选项A6、原子吸收光谱分析中，乙炔是（)( 2.00 分 )A. 燃气-助燃气B. 载气C. 燃气D. 助燃气正确答案：选项C7、石墨炉原子吸收光度法测定水中CD.时，试样消解过程中通常不能使用( 2.00 分 )A. 硝酸B. 高氯酸C. 过氧化氢D. 盐酸正确答案：8、下列说法错误的是(）( 2.00 分 )A. 气相色谱法能分离组分极为复杂的混合物B. 气相色谱的分离检测过程通常是在常温下进行的C. 正常色谱峰为对称的正态分布曲线D. 色谱峰的峰高和峰面积是色谱定量分析的依据正确答案：选项B9、可见分光光度分析中，为了消除试剂所带来的干扰，应选用（)( 2.00 分 )A. 溶剂参比B. 试剂参比C. 样品参比D. 褪色参比正确答案：选项B10、称量时样品吸收了空气中的水分会引起(）( 2.00 分 )A. 系统误差B. 偶然误差C. 过失误差D. 试剂误差正确答案：11、小包装食品应根据批号，连同包装一起随机取样同一批号采样件数250g以上的包装，不得少于(）( 2.00 分 )A. 3件B. 4件C. 5件D. 6件正确答案：选项A12、不使被测物质受到损失，如在测定食品中的磷时，不能单独用HCI或H2SO4分解试样，而应当用(）的混合酸，避免部分磷生成挥发性的磷化氢（PH3）而损失( 2.00 分 )A. HCI十HNO3B. HCI十H2SO4C. HNO3D. 以上不是正确答案：选项A13、为了判断某分析方法的准确度和分析过程中是否存在系统误差，应采取（)( 2.00 分 )A. 空白试验B. 回收试验C. 对照试验D. 平行测定正确答案：14、残留检测结果计算时，需要用本实验室获得的平均回收率折算的是(）( 2.00 分 )A. 有残留限量的药物B. 禁用药C. 不得检出的药物D. 不需要制定最高残留限量的药物正确答案：选项A15、与有机物接触或易氧化的无机物接触会发生剧烈爆炸的酸是(）( 2.00 分 )A. 热的浓高氯酸B. 硫酸C. 硝酸D. 盐酸正确答案：16、紫外-可见分光光度计的光源一般是( ）( 2.00 分 )A. 氘灯与卤钨灯B. 氢灯与氘灯C. 钨灯与汞灯D. 氢灯与汞灯正确答案：选项A17、试指出下述说法中，哪一种是错误的?（）( 2.00 分 )A. 根据色谱峰的保留时间可以进行定性分析B. 根据色谱峰的面积可以进行定量分析C. 色谱图上峰的个数一定等于试样中的组分数D. 色谱峰的区域宽度体现了组分在柱中的运动情况正确答案：18、食品中铜的检验方法可用（)( 2.00 分 )A. 离子选择电极法B. 原子吸收光谱法C. KMnO1滴定法D. 银盐法正确答案：19、按照NY/T761—2008方法进行农药残留检测，测定甲拌磷和毒死蜱应使用（)检测器( 2.00 分 )A. 火焰光度检测器B. 氢火焰离子化检测器C. 氮磷检测器D. 热导检测器正确答案：选项A20、用马弗炉灰化样品时，下面操作不正确的是(）( 2.00 分 )A. 用坩埚盛装样品B. 将坩埚与样品在电炉上小心炭化后放入C. 将坩埚与坩埚盖同时放入灰化D. 关闭电源后,开启炉门,降温至室温时取出正确答案：选项D21、用马弗炉灰化样品时，下面操作不正确的是()( 2.00 分 )A. 用坩埚盛装样品B. 将坩埚与样品在电炉上小心炭化后放入C. 将坩埚与坩埚盖同时放入灰化D. 关闭电源后,开启炉门,降温至室温时取出正确答案：选项D22、扣除试剂不纯而引起的误差的方法是()( 2.00 分 )A. 空白试验B. 对天平砝码进行校正C. 加强工作责任心D. 正确选取样品量正确答案：选项A23、食品中重金属测定时，排除干扰的方法有：(）( 2.00 分 )A. 改变被测原子的化合价B. 改变体系的氧化能力C. 调节体系的PH值D. 加入掩蔽剂正确答案：选项C24、用硝酸—硫酸法消化处理样品时，不能先加硫酸是因为（)( 2.00 分 )A. 硫酸有氧化性B. 硫酸有脱水性C. ,硫酸有吸水性D. 以上都是正确答案：25、采用直接法配制标准溶液时，一定要使用（)试剂( 2.00 分 )A. 化学纯B. 分析纯C. 基准D. 以上都是正确答案：选项B26、吸光光度计充分预热后，光量器仍调不到100%的原因最有可能的是（)( 2.00 分 )A. 比色皿被污染B. 比色槽及比色架管腐蚀C. 光电管受潮D. 波长选择不当正确答案：27、在标准加入法测定水中铜的实验中用于稀释标准的溶剂是( ）( 2.00 分 )A. 蒸镏水B. 硫酸C. 浓硝酸D. (2+100)稀硝酸正确答案：选项D28、甲.乙.丙.丁测定同一试样中的含铁量（真实值37.40%），四人四次的测定结果分别为：上述结果准确度和精确度均好，结果可靠的是(）( 2.00 分 )A. 甲B. 乙C. 丙D. 丁正确答案：选项A29、实验结束后用甲醇冲洗色谱柱是为了（)( 2.00 分 )A. 保护进样器B. 保护色谱柱C. 保护检测器D. 保护色谱工作站正确答案：30、食品中微量砷（As）的测定，应采用(）分析法( 2.00 分 )A. 化学B. 滴定C. 色谱D. 光度正确答案：选项D31、在食品卫生标准中，检测重金属指标时，最常见的是()( 2.00 分 )A. 砷、铅、铜B. 金、银、铜C. 镉、铬、汞D. 铜、钼、锌正确答案：32、原子吸收法测定大米中的铜时，灰化后应将样品制成()( 2.00 分 )A. 体积分数为1%的HCl溶液B. 体积分数为5%的HCl溶液C. 体积分数为1%的硝酸溶液D. 体积分数为5%的硝酸溶液正确答案：选项D33、固相萃取装置在使用时，具有以下哪些作用(）( 2.00 分 )A. 浓缩、净化B. 干燥、净化C. 提取、干燥D. 浓缩、干燥正确答案：选项A34、以下哪种萃取机理与液相色谱分离机理相似：(）( 2.00 分 )A. 固相萃取B. 液液萃取C. 加速溶剂萃取D. 凝胶净化正确答案：35、定量分析中用于准确测量溶液体积的是(）( 2.00 分 )A. 量筒B. 烧杯C. 锥形瓶D. 滴定管正确答案：选项D36、分光光度法检测食品中亚硝酸盐时选择最适宜的测量条件，应注意以下几点：（)( 2.00 分 )A. 入射光波长的选择B. 控制适当的吸光度范围C. 选择适当的参比溶液D. 以上全是正确答案：选项D37、原子吸收法测定铜的分析线为()( 2.00 分 )A. 324.8nmB. 248.3nmC. 285.0nmD. 283.3nm正确答案：选项D38、 Na.Mg.Al.Si.P.S.Cl七种元素，其非金属性自左到右(）( 2.00 分 )A. 金属性逐渐减弱B. 逐渐减弱C. 逐渐增强D. 无法判断正确答案：选项C39、在食品安全检测分析中，精密度高的检测数据，准确度肯定（)( 2.00 分 )A. 高B. 低C. 不变D. 不一定高正确答案：选项D40、原子吸收光度法测定锌时，(）处理的样品测得的锌含量较低( 2.00 分 )A. 硫酸—硝酸法B. 硝酸—高氯酸法C. 灰化法D. 硝酸—硫酸—高氯酸法正确答案：41、农产品中重金属铅和汞的测定应使用（）测定(）( 2.00 分 )A. 石墨炉原子吸收.原子荧光分光光度计;B. 火焰原子吸收.原子荧光分光光度计C. 火焰原子吸收.石墨炉原子吸收D. 石墨炉原子吸收.气相色谱法正确答案：选项A42、气相色谱中与含量成正比的是（)( 2.00 分 )A. 保留值B. 保留时间C. 相对保留值D. 峰面积.峰高正确答案：选项D43、以下哪个不是破乳的方法:()( 2.00 分 )A. 在水相中加入盐B. 离心后放置C. 用玻璃棒搅拌D. 冰浴正确答案：44、样品在转移、蒸发过程中发生物理变化而引起的干扰是（)( 2.00 分 )A. 光谱干扰B. 基体干扰C. ,化学干扰D. 背景吸收正确答案：选项B45、标准物质的有效期应由(）( 2.00 分 )A. 标准物质证书给出B. 实验室内部确定C. 供应商指定D. 供应商指定,并经实验室确定正确答案：选项A46、新鲜水果和蔬菜等样品的采集，无论进行现场常规鉴定还是送实验室做品质鉴定，一般要求（）取样(）( 2.00 分 )A. 随机B. 选择C. 任意D. 有目的性正确答案：选项A47、甲乙二人同时分析一矿物试样中含硫量，每次称取试样3.5g，分析结果报告为：甲：0.042%和0.041%；乙：0.04099%和0.04201%哪一个报告的结果合理（)( 2.00 分 )A. 乙B. 均合理C. 甲D. 均不合理正确答案：选项C48、在食品样品预处理时，应能使被测定物质（）到最低检出限以上浓度，使测定能得到理想的效果( 2.00 分 )A. 浓缩B. 稀释C. 混匀D. 以上不是正确答案：选项A49、气相色谱仪的核心元件是(）( 2.00 分 )A. 检测器B. 色谱柱C. 进样器D. 记录器正确答案：选项B50、新鲜水果和蔬菜等样品的采集，无论进行现场常规鉴定还是送实验室做品质鉴定，一般要求（）取样( 2.00 分 )A. 随机B. 选择C. 任意D. 有目的性正确答案：。
分析技术测试题及答案
分析技术测试题及答案一、选择题1. 分析化学中，常用的定量分析方法不包括以下哪一项？A. 重量分析法B. 滴定分析法C. 光谱分析法D. 热分析法答案：D2. 在进行化学分析时，以下哪种误差是可以通过增加测定次数来减少的？A. 系统误差B. 随机误差C. 方法误差D. 仪器误差答案：B二、填空题1. 滴定分析中的“滴定终点”是指______与______相等的点。
答案：待测物质的量；标准溶液的量2. 光谱分析中，原子吸收光谱分析法的基本原理是______。
答案：基态原子吸收特定波长的光三、简答题1. 简述重量分析法的基本原理及其应用范围。
答案：重量分析法是通过测定沉淀的质量来确定试样中某成分的含量。
它适用于不挥发性物质的定量分析，常用于沉淀的纯度检验和含量测定。
2. 描述原子吸收光谱分析法的实验步骤。
答案：原子吸收光谱分析法的实验步骤包括：样品制备、原子化、测量吸收光谱、数据处理和结果分析。
四、计算题1. 某学生在进行滴定实验时，使用了25.00 mL的0.1000 mol/L标准溶液来滴定未知浓度的溶液。
若滴定后消耗了20.00 mL标准溶液，试计算未知溶液的浓度。
答案：首先，根据C1V1=C2V2的滴定关系，可以计算未知溶液的浓度：\[ C_2 = \frac{C_1 \times V_1}{V_2} = \frac{0.1000 \times 25.00}{20.00} = 0.1250 \text{ mol/L} \]五、实验题1. 设计一个实验方案，用于测定水样中的溶解氧含量。
答案：实验方案包括：样品采集、样品处理、使用碘量法测定溶解氧含量、数据记录和分析。
具体步骤如下：- 采集一定体积的水样，并记录水样的温度和pH值。
- 向水样中加入已知量的酸性碘化钾溶液。
- 加入硫酸锰溶液，使溶解氧与碘化钾反应生成碘。
- 用标准溶液滴定生成的碘，记录滴定体积。
- 根据滴定体积和化学方程式计算溶解氧的含量。
仪器分析现代分析测试技术复习题
仪器分析/现代分析测试技术复习题一选择题（其中第3、7、8、14、15小题为多重选择题，其余为单选题）1．下列说法中正确的是（）。
A．Beer定律，浓度c与吸光度A之间的关系是一条通过原点的直线；B．Beer定律成立的必要条件是稀溶液，与是否单色光无关；C．%1E称比吸光系数，与吸光度A成正比，与溶液浓度c和吸收池厚度l成反比；1cmD．同一物质在不同的波长处吸光系数不同，不同物质在同一的波长处吸光系数相同。
2．某有色溶液，当用1cm吸收池时，其透光率为T，若改用2cm吸收池，则透光率应为（）。
A．2T；B．2lg T；C．T；D．T2。
3．下列叙述中正确的是（）。
A．受激分子从激发态的各个振动能级返回到基态时所发射的光为荧光；B．荧光发射波长大于荧光激发波长；C．磷光发射波长小于荧光激发波长；D．溶液中存在顺磁性物质可使荧光减弱。
4．用波长为320nm的入射光激发硫酸奎宁的稀硫酸溶液时将产生320nm的（）。
A．荧光；B．磷光；C．Rayleigh光；D．Raman光。
5．有三种化合物：甲R－COCH2CH3、乙R－COCH＝C(CH3)2、丙R－COCl，问其νC=O波数大小次序为（）A．丙＞甲＞乙；B．乙＞甲＞丙；C．丙＞乙＞甲；D．甲＞乙＞丙。
6．同一分子中的某基团，其各振动形式的频率大小顺序为（）A．γ＞β＞ν；B．ν＞β＞γ；C．β＞ν＞γ；D．β＞γ＞ν。
7．两组分在分配色谱柱上分离的原因是（）。
A．结构上有差异；B．在固定液中的溶解度不同；C．相对校正因子不等；D．极性不同。
8．Van Deemter方程中，影响A项的主要因素是（）。
A．固定相颗粒大小；B．载气流速；C．载气相对分子质量；D．柱填充的均匀程度。
9．衡量色谱柱选择性的指标是（）。
A．理论塔板数；B．容量因子；C．相对保留值；D．分配系数。
10．在一定柱长条件下，某一组分色谱峰的宽度主要取决于组分在色谱柱中的（）。
A．保留值；B．扩散速率；C．分配系数；D．容量因子。
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2.何谓连续X射线和特征X射线？试解释产生的原因。
答：连续X射线：从X射线管中发出的X射线也不是单一波长（单色）的，而是包含有许多不同波长的X射线。这些波长构成连续的光谱，且是从某一最小值开始的一系列连续波长的幅射。它与可见光中的白光相似，故称白色X射线或称连续X射线
连续X射线产生机理：连续X射线光谱(或称白色X射线)是由于快速移动的电子在靶面突然停止而产生的。每一个电子，由于突然停下来的结果，它把它的动能的一部分变为热能，一部分变为一个或几个X射线量子。由于电子的动能转变为X射线能量的有多有少，所放出的X射线的频率有所不同。因此，由此产生的X射线谱是连续的，但是有一个最短波长的极限，这相当于某些电子把其全部的能量转变为X射线能量时，频率最大的情况。
1:分析测试技术
答：现代分析测试技术----用现代分析测试仪器对物质的组成、含量、结构、形态、形貌以及变化过程的技术和方法
2：晶体的性质
答：自限性（自范性）：晶体在一定条件下能自发形成几何多
面体的形状。
•结晶均一性：同一晶体的不同部分具有相同的性质。
•各向异性：晶体性质随方位不同而有差异的特性。
•对称性：晶体中的晶面、晶棱、角顶、结点及物理化学性
–晶棱符号只涉及方向,不涉及具体位置。
–为晶棱上某点在结晶轴上所截截距系数的比，表达为[u
v w]
•面网符号是面网在三晶轴
上的分数截距系数的倒数。
•若仅考虑面网的空间方
位，均以面网指数（010）标识，但若进一步考虑二者面网间
距的不同，则可分别用（010）和（020）标识，此即为面网指数，干涉指数或衍射指数
7.何谓相干散射、不相干散射和特征散射？
答：相干散射：当入射X射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹
性碰撞时，X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚，电子的散射线波长与入射线波长相同，有确定的相位关系。这种散射称相干散射。
非相干散射：当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子（如外层电子）发生非弹性碰撞时，光子消耗一部分能量作为电子的动能，于是电子被撞出原子之外，同时发出波长变长、能量降低的非相干散射
8.何谓光电效应和俄歇效应？二者是如何产生的？有何区别？
答：光电效应：当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子（如K层电子）被激发，并使高能级上的电子产生跃迁，发射新的特征X射线。
俄歇效应：当高能级的电子向低能级跃迁时，能量不是产生二次X射线，而是被周围某个壳层上的电子所吸收，并促使该电子受激发逸出原子成为二次电子。
4.获得衍射花样的几种方法。
答：（1）劳厄法：用连续X射线谱作为入射光源，单晶固定不动，入射线与各衍射面的夹角也固定不动，靠衍射面选择不同波长的X射线来满足布拉格方程
（2）旋转晶体法：旋转单晶法是用单色X射线照射单晶体，并且使晶体不断地旋转。即固定X射线的波长，不断改变θ角，使某些面网在一定的角度时，能满足布拉格方程，而产生衍射。
质等在不同方向作有规律地重复。
•最小内能性：在相同热力学条件下，与同种成分的非晶体、
液体、气体相比，其内能最小。
•稳定性。
3,等轴晶系的晶面间距的计算。
答； l
4：核外电子运动状态描述。
答：①主量子数n：确定原子轨道能级的主要因素
②角量子数l：决定电子运动的角动量
③磁量子数m：决定电子云在空间的伸展方向，即表示同一
2. X射线物相分析的概念。
答：Ｘ射线照射到晶体所产生的衍射具有一定的特征，可用衍射线的方向及强度表征，根据衍射特征来鉴定晶体相的方法称为物相分析法。
特征x射线：不同的原子具有不同的结构，电子跃迁所释放的能量不同，不同元素有具有的特定波长的的x光，称为特征x射线或标识x射线。
特征x射线产生原因：由阴极飞驰来的电子，在其与阳极的原子相作用时，把其能量传给这些原子中的电子，把这些电子激发到更高一级的能级上，此时原子过渡到不稳定的受刺激的状态。外层的电子立即
1. X射线衍射的概念?
答：一束波长为λ的Ｘ射线透过晶体时，某一特定方向上的散射X射线发生叠加，这种现象称为X射线衍射
2.布拉格方程的推导。
答：
3.布拉格方程的应用。
答：（1）已知晶体的d值，通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。
（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求面网间距。并通过面网间距，测定晶体结构或进行物相分析。
（3）粉末法：粉末法是通过单色X射线照射多晶体样品，入射X射线波长固定。通过无数取向不同的晶粒来获得满足布拉格方程的θ角。
1. X射线分析有哪些应用？
答：物象分析，定量分析，晶胞参数的精确测定，衍射线的指标化，晶粒尺寸和比表面积，介孔材料、长周期材料的低角度区衍射，薄膜的物相鉴定及取向测定，薄膜的反射率、厚度、密度及界面粗糙度测定
亚层中原子轨道的数目
④自旋量子数ms：决定电子自旋方向
7.晶面、晶棱、面网符号的计算及表示方法。
答：晶面符号:
–它是根据晶面与各结晶轴的交截关系，用简单的数字符
号形式来表达它们在晶体上方位的一种晶体学符号。
–晶面符号的具体数值等于该晶面在结晶轴上所截截距系
数的倒数比，表达为（h k l）。
晶棱符号：
6.电子波有何特征?与可见光有何异同?
答：
答：
1. X射线的本质是什么？
答：X射线的本质是一种电磁波，它具有波粒二象性。即它
既具波动性，又具有粒子性。X射线的波动性表现在它以一定的波长和频率在空间传播。X射线的波长范围为0.01～100Å，介于γ射线和紫外线之间。X射线的粒子性表现在它是由大量的不连续的粒子流构
落到内层填补空位。当发生这种过渡时，原子的能量重新减少，多余的能量就作为X射线量子发射出来。
3.连续X射线的短波限取决于什么？
答：管电压
4.试述莫塞来定律。
答：
5.特征X射线的波长取决于什么？
答：特征X射线的波长是由阳极靶物质的原子序数决定
6. X射线与物质相互作用有哪三种情形？
答：X射线与物质相互作用时，产生各种不同的和复杂的过程。就其能量转换而言，一束X射线通过物质时，可分为三部分：一部分被散射，一部分被吸收，一部分透过物质继续沿原来的方向传播。