压力管道无损检测1

c.透照距离的选择焦距在选择透照距离时，应将焦距选得大一 透照距离的选择焦距在选择透照距离时，
些。但是由于射线的强度工与焦距F的平方成反比，所以不能把焦 但是由于射线的强度工与焦距F的平方成反比， 距选得过大，不然透照时，射线强度将不够。 距选得过大，不然透照时，射线强度将不够。焦距应在满足几何不 清晰度j要求的前提下合理选择。一般在透照中，焦距选择在600～ 清晰度j要求的前提下合理选择。一般在透照中，焦距选择在600～ 800 mm。 mm。
图8—6焊缝透照方式示意图 a）纵缝透照法 b）环缝外透法 c）环缝内透法 d）双壁单影法 e）双壁双影 法
①照相规范的确定
为得到高灵敏度的底片，照相规范的选择应注意以下几点： 为得到高灵敏度的底片，照相规范的选择应注意以下几点： a.透照方式的选择 a.透照方式的选择： 有外透法、内透法。 透照方式的选择： 有外透法、内透法。 外透法的优点是操作比较方便， 外透法的优点是操作比较方便，内透法 的优点是透照厚度差小， 的优点是透照厚度差小，在满足透照厚度 值的情况下，一次透照长度较大。 比K值的情况下，一次透照长度较大。 b. K值控制透照厚度比K的含义见图8—8， K值控制透照厚度比 的含义见图8 值控制透照厚度比K 由图中关系可知射线源到胶片的距离F 由图中关系可知射线源到胶片的距离F愈大 射线源尺寸盔越小，工作表面到胶片的距离）越小，半影越小， ，射线源尺寸盔越小，工作表面到胶片的距离）越小，半影越小， 也就是说工件越薄，胶片贴得越紧，清晰度越好。标准规定， 也就是说工件越薄，胶片贴得越紧，清晰度越好。标准规定，锅炉 压力容器压力管道焊缝射线照相，纵缝的K值不得大于1.03， 压力容器压力管道焊缝射线照相，纵缝的K值不得大于1.03，环缝 值不得大于1.1。限制透照厚度比， 的K值不得大于1.1。限制透照厚度比，也就间接控制了横向裂纹检 出角口，使之不致过大。过大的角占有可能导致横向裂纹漏检。 出角口，使之不致过大。过大的角占有可能导致横向裂纹漏检。采 用源在中心的内透法，是最佳透照方式。 用源在中心的内透法，是最佳透照方式。
(2)、射线检测设备 (2)、
射线照相设备可分为：X射线探伤机；γ 射线照相设备可分为： 射线探伤机； 射线探伤机；高能射线探伤设备三大类。 射线探伤机；高能射线探伤设备三大类。X射 线探伤机管电压在450 kV以下 以下， 线探伤机管电压在450 kV以下，可分为携带 移动式两类。最大穿透钢铁厚度可达100 式，移动式两类。最大穿透钢铁厚度可达100 mm。γ射线探伤机的射线能量取决于放射性 mm。 同位素的种类，常用γ源有C060、Irl92、 同位素的种类，常用γ源有C060、Irl92、 Se75三种 最大穿透钢铁厚度可达200 mm。 Se75三种，最大穿透钢铁厚度可达200 mm。 三种， 高能射线探伤设备由电子加速器（ 高能射线探伤设备由电子加速器（包括直线 加速器、回旋加速器）产生能量为1 加速器、回旋加速器）产生能量为1～24 MeV射线 最大穿透钢铁厚度可达500 mm。 MeV射线。最大穿透钢铁厚度可达500 mm。 射线。
第四章 压力管道无损检测(1) 压力管道无损检测(1)
内容提要
本章主要介绍压力管道无损检测各种 方法的原理、特点、技术要求、应用等。 方法的原理、特点、技术要求、应用等。 具体内容如下： 具体内容如下： 各种无损检测方法的原理、 1、概述 各种无损检测方法的原理、 特点、技术要求； 特点、技术要求； 2、 压力管道元件制造的无损检测 3、 压力管道安装的无损检测 4、 在用压力管道的无损检测 5、 压力管道无损检测新技术
4.1.2 射线检测
射线的种类很多，其中易于穿透物质的有X射 射线的种类很多，其中易于穿透物质的有X 射线、中子射线三种。其中X射线和γ 线、γ射线、中子射线三种。其中X射线和γ射线常 应用于锅炉压力容器压力管道焊缝和其他工业产 结构材料的缺陷检测， 品、结构材料的缺陷检测，而中子射线仅用于一 些特殊场合。 些特殊场合。 射线检测最主要的应用是探测试件内部的宏观 几何缺陷（探伤）。按照不同特征（ ）。按照不同特征 几何缺陷（探伤）。按照不同特征（例如使用的 射线种类、记录的器材、工艺和技术特点等） 射线种类、记录的器材、工艺和技术特点等）可 将射线检测分为射线照相等多种不同方法。 将射线检测分为射线照相等多种不同方法。 射线照相法是指X射线或γ射线穿透试件， 射线照相法是指X射线或γ射线穿透试件，以 胶片作为记录信息器材的无损检测方法， 胶片作为记录信息器材的无损检测方法，该方法 是应用最广泛的一种最基本的射线检测方法。 是应用最广泛的一种最基本的射线检测方法。本 节主要介绍射线照相法。 节主要介绍射线照相法。
（3）射线照相工艺要点
一般把被检的物体安放在离X射线装置或γ 一般把被检的物体安放在离X射线装置或γ射线装置 50 cm到1 m的位置处，把胶片盒紧贴在试样背后，让射 cm到 m的位置处 把胶片盒紧贴在试样背后， 的位置处， 线照射适当的时问（几分钟至几十分钟）进行曝光。 线照射适当的时问（几分钟至几十分钟）进行曝光。把曝 光后的胶片在暗室中进行显影、定影、水洗和干燥。 光后的胶片在暗室中进行显影、定影、水洗和干燥。将干 燥的底片放在观片灯的显示屏上观察， 燥的底片放在观片灯的显示屏上观察，根据片的黑度和图 像来判断存在缺陷的种类、大小和数量。 像来判断存在缺陷的种类、大小和数量。随后按通行的标 对缺陷进行评定和分级。 准，对缺陷进行评定和分级。以上就是射线照相探伤的一 般步骤。 般步骤。 按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系， 按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系，透照方 式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、 式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影 法和双壁双影法五种，见图8—6。其中双壁单影法用于 法和双壁双影法五种，见图8 小直径的容器或大口径管子焊缝，双壁双影法用于Φ≤100 小直径的容器或大口径管子焊缝，双壁双影法用于Φ≤100 mm以下管子对接环焊缝。 mm以下管子对接环焊缝 以下管子对接环焊缝。
d.曝光量的选择曝光量E为射线强度j与曝光时间t的乘积，即 曝光量的选择曝光量E为射线强度j与曝光时间t的乘积，
E=jt。曝光量的j大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高， E=jt。曝光量的j大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高， 那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度， 那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度，但这样的底片灵敏度不 够好。所以，一般情况下X射线照相的曝光量选择15 mA.min以上 以上。 够好。所以，一般情况下X射线照相的曝光量选择15 mA.min以上。 通常照相时是将厚度 0.03～ mm的铅箔增感屏与非增感型胶片一起使用 的铅箔增感屏与非增感型胶片一起使用。 为0.03～0.2 mm的铅箔增感屏与非增感型胶片一起使用。而且由 于铅箔吸收散乱射线，能使散射比减小，从而提高底片的对比度。 于铅箔吸收散乱射线，能使散射比减小，从而提高底片的对比度。 非增感型胶片有多种，低感光度的胶片有较大的G 而且粒度细， 非增感型胶片有多种，低感光度的胶片有较大的G值，而且粒度细， 其底片对比度△ 也大。底片黑度D一般规定为1.5～4.0的范围内 的范围内， 其底片对比度△D也大。底片黑度D一般规定为1.5～4.0的范围内， 黑度D值增大，胶片G值也增大，因此一般来说，应使底片黑度D 黑度D值增大，胶片G值也增大，因此一般来说，应使底片黑度D大 但黑度大于4.0观片灯有时就不容易看清了 观片灯有时就不容易看清了， 些，但黑度大于4.0观片灯有时就不容易看清了，所以底片黑度也 不宜太大。 不宜太大。
材料中如有缺陷存在会影响射线 的吸收， 使透过射线强度发生变化， 的吸收 ， 使透过射线强度发生变化 ， 用胶片可测量出这一变化。 如图8 用胶片可测量出这一变化 。 如图 8— 5 所示 ， 厚度为 T 厘米的物体中有厚 所示， 厚度为T 度为△ 厘米的缺陷时， 度为 △ T厘米的缺陷时 ， 射线穿透无 缺陷部位，透过射线强度为J 缺陷部位 ， 透过射线强度为 J， 曝光 得到的底片的黑度为D 得到的底片的黑度为D，而射线穿透 有缺陷部位， 透过射线强度为J+△ 有缺陷部位 ， 透过射线强度为 J+△j ， 曝光得到的底片黑度应为D+△ 曝光得到的底片黑度应为 D+△D ， 把曝过光的胶片在暗室中经过显影、 把曝过光的胶片在暗室中经过显影 、 定影、 水洗和干燥。 定影 、 水洗和干燥 。 再将底片放在 观片灯上观察， 观片灯上观察 ， 根据底片上的黑度 变化所形成的图像， 变化所形成的图像 ， 就可判断出有 无缺陷， 以及缺陷的种类、 数量、 无缺陷 ， 以及缺陷的种类 、 数量 、 大小等， 这就是射线照相法的原理。 大小等 ， 这就是射线照相法的原理 。
4.1 概述
无损检测的定义： 无损检测的定义：无损检测是指在不损坏试件的前提 以物理或化学方法为手段， 下，以物理或化学方法为手段，借助先进的技术和设备器 对试件的内部及表面的结构，性质， 材，对试件的内部及表面的结构，性质，状态进行检查和 测试的方法。 测试的方法。 有射线检测（简称RT）、 ）、超声 常用的无损检测方法 ；有射线检测（简称RT）、超声 波检测（简称UT）、磁粉检测（简称MT） ）、磁粉检测 波检测（简称UT）、磁粉检测（简称MT）和渗透检测 简称PT），称为四大常规检测方法。 ），称为四大常规检测方法 （简称PT），称为四大常规检测方法。这四种方法是承 压类特种设备制造质量检验和在用检验最常用的无损检测 方法。其中RT UT主要用于探测试件内部缺陷 MT和 主要用于探测试件内部缺陷， 方法。其中RT 和UT主要用于探测试件内部缺陷，MT和 PT主要用于探测试件表面缺陷。其他用于承压类特种设 PT主要用于探测试件表面缺陷 主要用于探测试件表面缺陷。 备的无损检测方法有涡流检测（简称ET）、 ）、声发射检测 备的无损检测方法有涡流检测（简称ET）、声发射检测 简称AE） （简称AE）等。
4.1.1 无损检测目的及应用特点
（1）、无损检测目的 ）、无损检测目的 ① 保证产品质量 ② 保障使用安全 ③ 改进制造工艺 ④ 降低生产成本 (2 )、无损检测应用特点 )、 ① 无损检测要与破坏性检测相配合 ② 正确选用实施无损检测的时机 ③ 选用最适当的无损检测方法 ④ 综合应用各种无损检测方法来自(1). 射线照相法的原理