半导体物理_第七章
半导体物理_第七章
2. 反偏状态下的肖特基结 对于上述金属和N型半导体材料相接触所形成的 肖特基结,当我们在半导体材料一侧外加一个相对于 金属材料为正的电压,此时的肖特基结即处于反偏状 态。
上图为处于反偏状态下的肖特基结能带示意图, 从图中可见,电子从半导体材料一侧到金属材料一侧 所需越过的势垒高度增加了,增加的幅度就是外加的 反向偏置电压VR,而从金属材料一侧到半导体材料一 侧所需越过的势垒高度фB0仍然保持不变。外加电压 使得肖特基结的空间电荷区(也就是耗尽区)宽度增 加,肖特基结界面处的最大电场强度也相应地大大增 强。
与反向偏置的PN结情况类似,我们可以对反向偏 置的肖特基结空间电荷区应用泊松方程,由此可以求 得肖特基结空间电荷区的宽度为:
§9.2 正偏状态下的PN结与肖特基结 在本节中,我们将对PN结和肖特基结在正向偏置 条件下的空间电荷区,能带图做以介绍,至于I-V分析 我们将在第九章中再做进一步的讨论。 在前面的分析讨论中,我们看到,无论是处于热 平衡的零偏状态,还是有外加反向电压的反偏状态, PN结中都存在一个势垒,这个势垒阻挡了N型区中的 电子向P型区中的进一步扩散,同时这个势垒也阻挡 了P型区中的空穴向N型区中的进一步扩散。因此在零 偏或反偏状态下,PN结中基本没有电流流过。 类似地,在零偏或反偏状态下,肖特基结中基本 上也没有电流流过。
第九章 金属半导体和半导体异质结
§9.1金属-半导体接触的整流特性 所谓整流特性,理想情况下指的就是单向导电特性, 广义上说,凡是正反向非对称的I-V特性,都可以在一 定意义上称之为整流特性。众所周知,最早的半导体整 流器就是采用金属-半导体接触形成的,例如早期的矿 石检波器,就是采用一根金属触针与一块半导体硒矿石 晶体相接触而制作的。 目前,各种金属-半导体接触大多采用在半导体晶 体材料的表面淀积一层金属薄膜的方式来制备,例如可 以在硅晶体材料的表面淀积一层金属铝膜,从而形成金 属-半导体之间的整流接触。这种类型的半导体整流结 通常称为肖特基势垒结,有时也简称为肖特基结。
半导体物理第七章金属与半导体的接触
eV kT
⎞ ⎟⎠
J
V<0 当e|V|>>kT J = − J ST
V
-J0
反向饱和电流JsT与外加电压无关,强烈依赖温度
热场发射理论:
适用于平均自由程较长,迁移率较高材料,如硅锗等
半导体物理
25
三. 镜像力(image force)的影响
理论与实际的偏差
当半导体中的电子到达金属-半导体的界面附近时,该 电子将在金属表面感生正电荷。由于金属表面的电力线 必须垂直于表面,因此该电子在金属表面感生电荷的总 和必定等价于金属内部与该电子镜面对称处的一大小相 等的正电荷。
P
E0
E0
型
半
Wm
导
EC
Ws
Wm
EC
Ws Ef
体
Ef
EV
EV
反阻挡层
半导体物理
阻挡层
8
表面态对接触势垒的影响
理想肖特基势垒接触: qΦB = Wm − χ
金属与半导体接触是否形成接触势垒,取决于它们的功函 数大小。
同一种半导体与不同金属接触时,形成的势垒高度同金属 的功函数成正比。
实际金-半接触: 90%的金属和半导体接触形成势垒,与功函数关系不大。
2o Wm < Ws 时仍有肖特基势垒
半导体物理
肖特基势垒
Φ BN
=
EC
− EFs =
2 Eg 3
13
势垒区的电势分布
假设: (耗尽层近似) 空间电荷区载流子全耗尽;
d 2V dx 2
=
⎪⎧− ⎨ ⎪⎩
qN D
ε 0ε r
0
0≤ x≤d x>d
E( x) = − dV = qN D (x − d )
半导体物理 第七章 电荷转移器件 图文
国家级精品课程——半导体器件物理与实验
第七章 电荷转移器件
§7.1 电荷转移
❖ 小结:
体表面形成由电离受主构成的负的空间电荷区。空间电荷区为耗
尽层。由于不是处于热平衡状态,耗尽层不受热平衡时的最大厚
度的限制,而直接由栅压VG的大小来决定。这时表面势也不受形 成强反型层时ψs=2φf的限制,也直接由VG 的大小来决定。在深 耗尽状态,耗尽层厚度Xd>Xdm,表面势ψs>2φf ,所以称之为深 耗尽状态。
CTD的核心是MOS电容的有序阵列(arrays)加上输 入与输出部分。在栅电极加上时钟脉冲电压时,在 半导体表面就形成了能存储少数载流子的势阱。用 光或电注入的方法把代表信号的少数载流子注入势 阱中。通过时钟脉冲的有规律变化,使势阱的深度 发生相应的变化,从而使注入势阱中的少数载流子 在半导体表面内作定向运动,再通过对少数载流子 的收集和再生得到信号的输出。
国家级精品课程——半导体器件物理与实验
第七章 电荷转移器件
§7.1 电荷转移
二、电荷耦合器件——CCD
图7-2 三相CCD动作, p+扩散用来限制沟道 1. 若在图7-2a中,电极2偏置在10V,比它附近两个电极的偏置电压(5V)高,
这样就建立了用虚线描绘的势阱,电荷存储在这个电极下边。 2. 现在让电极3偏置在15V,在电极3下边于是就建立起一个更深的势阱
第七章 电荷转移器件
Charge-Transfer Devices—CTD
半导体物理第7章概要
加反向电压时,势垒增高,从半导体到金属的电子数目 减少,金属到半导体的电子流占优势,形成一股半导体 到金属的反向电流。 由于金属中的电子要越过相当高的势垒才能到达半导体 中,因此反向电流是很小的。 金属一边的势垒不随外加电压变化,所以从金属到半导 体的电子流是恒定的。 当反向电压提高,使半导体到金属的电子流可以忽略不 计时,反向电流趋于饱和。 以上的讨论说明这样的阻挡层具有类似pn结的伏—安特 性,即有整流作用
功函数越大,电子越不容易离开金属。 金属的功函数约为几个电子伏特。 铯的功函数最低,为1.93eV 铂的最高.为5.36eV。
功函数的值与表面状况有关
金属功函数随原子序数的递增呈现周期性变化。
半导体功函数
半导体功函数
Ws E0 ( EF ) s 电子亲合能,它表示要使半导体导带底的电子逸 出体外所需要的最小能量。
1 * 2 E E c mn v 2 * dE mn vdv
带入上式,并利用 Ec E F n0 N c exp( ) k 0T
可得
* * 2 3 mn m nv 2 2 dn 4n0 ( ) v exp( )dv 2k 0T 2k 0T
7.2.2热电子发射理论
当n型阻挡层很薄,电子平均自由程远大于势垒 宽度。
起决定作用的是势垒高度而不是势垒宽度。
电流的计算归结为超越势垒的载流子数目。
由于越过势垒的电子数只占半导体总电子数很 少一部分,故半导体内的电子浓度可以视为常 数。 讨论非简并半导体的情况。
半导体单位体积能量在E~E+dE范围内的电子数
但绝大多数所处的能级都低于体外能级。要使电子从金 属中逸出,必须由外界给它以足够的能量
半导体物理_第七章_金属和半导体的接触
电流很小,为反向偏置
3. V>0
金属接正极,半导体接负极
外加电压削弱了内建电场的作用,势垒降低;
金属一侧的势垒高度没有变化;
电流很大,为正向偏置
7.2.1 扩散理论
1.扩散理论的适用范围:
适用于厚阻挡层; 势垒宽度比载流子的平均自由程大得多,即
势垒区是耗尽区; ——半导体是非简并的
2.扩散理论的基本思想
扩散方向与漂移方向相反
无外加电压: 扩散与漂移相互抵消——平衡; 反向电压: 漂移增强——反偏;
正向电压:
扩散增强——正偏
3.势垒宽度与外加电压的关系
势垒的高度和宽度都随外加电压变化:
4.势垒区的伏安特性
根据扩散理论,势垒区的电流是由半导体一侧电子的扩散和 漂移运动形成的:
该理论是用于迁移率较小,平均自由程较短的半导体, 如氧化亚铜。
(2)波长为185 nm的紫外光光子的能量为
3 108 34 19 E hv h 6.62 10 1.6 10 6.7eV 9 185 10 c
发射出来的电子能量: E=E0-W=6.7-2.5=4.2 eV
习题
习题
7.2.2 热电子发射理论
1.热电子发射理论的适用范围:
——适用于薄阻挡层 ——势垒高度 >>k0T ——非简并半导体 ln >> d
2.热电子发射理论的基本思想:
薄阻挡层,势垒高度起主要作用。 能够越过势垒的电子才对电流有贡献 ——计算超越势垒的载流子数目,从而求出电流密度。
3.势垒区的伏安特性
1、什么是欧姆接触?
欧姆接触应满足以下三点:
1、伏安特性近似为线性,且是对称的; 2、接触引入的电阻很小(不产生明显的附加阻抗);
半导体物理第七章
1、金属半导体接触及其能级图 (1)金属和半导体的功函数
在绝对零度时,金属中的电子填满了EF以下所有能 级,而高于EF的能级则全空, 在一定温度下,只有EF附 近的少数电子受热激发,由低于EF的能级跃迁到高于 EF的能级上,但绝大部分电子仍不能脱离金属而逸出 体外。 这说明金属中的电子虽然能在金属中自由运动,但绝 大多数所处的能级都低于体外能级,要使电子从金属中 逸出,必须由外界给它足够能量。所以,金属内部电 子是在势阱中运动。
χ
Ws
En (EF)s Ep Ev
Ec
E0
p型半导体:
χ
Ws
Ep ( EF )s Ev
Ws Eo (EF )s Eg Ep
En (EF)s Ep Ev
Ec
n型半导体: Ws Ec EF s En p型半导体: Ws Eo (EF )s Eg Ep
金属的功函数Wm
E0
Wm (EF)m
金属的功函数表示一个起始能量等于费米能级 的电子,由金属内部逸出到表面外的真空中所 需要的最小能量。
Wm E0 ( EF )m
E0为真空中电子的能量,又称为真空能级。
半导体的功函数Ws
E0与费米能级之差称为半导体的功函数。
Ws E0 ( EF )s
若Wm<Ws
Wm (EF)m
E0
χ Ws E c En (EF)s
Ev
金属与n型半导体接触时
qVD X-Wm
En
Ec (EF)s
Ev
能带向下弯曲。这里电子浓度比体内大得多, 因而是一个高电导的区域,称之为反阻挡层。
金属与p型半导体接触时,若Wm<Ws,形成空穴的表面势 垒。在势垒区,空间电荷主要由电离受主形成,空穴浓 度比体内小得多,也是一个高阻区域,形成P型阻挡层。
半导体物理_第七章_金属和半导体接触
2、如何实现欧姆接触?
总结
总结
总结
总结
总结
需修正:①镜像力;②隧道效应
总结
习题
习题
习题
Ehvhc6.62103470301100891.61019 1.78eV Ehvhc6.621034 40301100891.61019 3.10eV
实质上是半导体价带顶部附近的电子流向金属,填充金 属中EF以下的空能级,而在价带顶附近产生空穴。
加正向电压时,少数载流子电流与总电流值比称为少数 载流子的注入比,用 表示。对n型阻挡层而言:
7.3.2 欧姆接触
1、什么是欧姆接触?
欧姆接触应满足以下三点: 1、伏安特性近似为线性,且是对称的; 2、接触引入的电阻很小(不产生明显的附加阻抗); 3、不会使半导体内部的平衡载流子浓度发生显著改变。
空间电荷区 电子从体内到表面,势能增加,表面能带向上弯曲
2、WS >Wm 电子系统在热平衡状态时应有统一的费米能级
电子反阻挡层;低阻 ——欧姆接触
考虑价带的电子转移,留下更多的空穴,形成空间 电荷区。空穴从体内到表面,势能降低,能带向上 弯曲。
7.1.3 表面态对接触势垒的影响
金属和半导体接触前
7.2.2 热电子发射理论
1.热电子发射理论的适用范围:
——适用于薄阻挡层 ——势垒高度 >>k0T ——非简并半导体
lபைடு நூலகம் >> d
2.热电子发射理论的基本思想:
薄阻挡层,势垒高度起主要作用。 能够越过势垒的电子才对电流有贡献 ——计算超越势垒的载流子数目,从而求出电流密度。
半导体物理第七章金属和半导体的接触
半导体的导电性能介于金属和绝缘体 之间。其内部存在一个或多个能隙, 使得电子在特定条件下才能跃迁到导 带。常见的半导体材料有硅、锗等。
接触的物理意义
01
金属和半导体的接触在电子器件 中具有重要应用,如接触电阻、 欧姆接触等。
02
理解金属和半导体的接触性质有 助于优化电子器件的性能,如减 小接触电阻、提高器件稳定性等 。
03
肖特基结模型适用于描述金属 和p型半导体之间的接触。
06
金属和半导体的接触实验 研究
实验设备和方法
实验设备
高真空镀膜系统、电子显微镜、 霍尔效应测量仪等。
实验方法
制备金属薄膜,将其与半导体材 料进行接触,观察接触表面的形 貌、电子输运特性等。
实验结果分析
接触表面的形貌分析
通过电子显微镜观察接触表面的微观结构, 了解金属与半导体之间的相互作用。
详细描述
当金属与半导体相接触时,由于金属和半导体的功函数不同,会产生电子的转移。这种电子的转移会 导致在接触区域形成一个势垒,阻碍电子的流动,从而产生接触电阻。接触电阻的大小与金属和半导 体的性质、接触面的清洁度、温度等因素有关。
热导率
总结词
热导率是指材料传导热量的能力,金属 和半导体的热导率差异较大,这会影响 它们之间的热交换效率。
详细描述
欧姆接触的形成需要满足一定的条件,包括金属与半导体之间要有良好的化学相容性和冶金相容性,以及半导体 内部载流子浓度要足够高。欧姆接触在集成电路和电子器件中具有广泛应用。
隧道结
总结词
隧道结是指金属和半导体之间形成的 具有隧道传输特性的结,当外加电压 达到一定阈值时,电流可以通过隧道 效应穿过势垒。
2
这个接触势垒会影响金属和半导体之间的电流传 输和热传导,进而影响电子器件的性能。
半导体物理(第七章)
亲和能χ是固定 的,功函数与掺 杂有关。
其中
7.1.2 接触电势差
金属与 n 型半导体接触为例(假设 Wm>Ws ) , 假 设有共同的真空静止电子能级。 接触前
接触前: ( EF ) s ( EF ) m
金属和半导体间距离D远大于原子间距,电势 差主要落在界面间隙中。
7.1.1 金属和半导体的功函数
半导体功函数 Ws E0 EF s
电子亲和能 (指将一个电子从导带
底转移到真空能级所需的能量。它因 材料的种类而异,决定于材料本身的 性质,和其它外界因素无关)
E0 Ec
故
Ws [ Ec ( EF ) s ] En 对半导体,电子
平衡时,空穴的扩散运动和由于内电场产生的漂 移运动相等,净电流为零。
加正压时,势垒降低,除了前面所提到的电子形 成的电子流以外,空穴的扩散运动占优,形成自金 属向半导体内部的空穴流,形成的电流与电子电流 方向一致,因此总的正向电流包含电子流和少数载 流子空穴流。 空穴电流大小,取决于阻挡层的空穴浓度和空穴 进入半导体内扩散的效率。
电场
Ws Wm Vms Vs q
VS是半导体表面与内部之间存 在的电势差,即为表面势。
半导体表面 出现空间电 荷区
若D小到可以与原子间距相比较,电势差全部落在半 导体表面的空间电荷区内。
Ws Wm Vs VD q
电场 VS<0
(一) 金属与n型半导体接触的情形
1. n型(或电子)阻挡层的形成 (Wm Ws )
平衡时,如果接触面处有
[ EF Ev (0)] ( Ec EF )
半导体物理 第七章
四、肖特基势垒二极管
(一) 概念 一 肖特基势垒:势垒宽度依赖于外加电压的势垒; 肖特基势垒 肖特基势垒二极管:利用金属-半导体整流接触特性制成的 肖特基势垒二极管 二极管。
25
(二)肖特基势垒二极管与 结二极管的异同点 二 肖特基势垒二极管与pn结二极管的异同点 肖特基势垒二极管与 1. 相同点 具有类似的电流—电压关系,即它们都有单向导电性。 2. 区别点 就载流子的运动形式 运动形式而言,pn结正向导通时,由p区注入n 运动形式 区的空穴或由n区注入p区的电子,都是少数载流子 少数载流子,它们 少数载流子 先形成一定的积累,然后靠扩散运动形成电流。这种注入 的非平衡载流子的积累称为电荷存贮效应 电荷存贮效应,它严重地影响 电荷存贮效应 了pn结的高频性能。而肖特基势垒二极管的正向电流,主 要是由半导体中的多数载流子 多数载流子进入金属形成的。它是多数 多数载流子 载流子器件。因此,肖特基势垒二极管比pn结二极管有更 好的高频特性 高频特性。 高频特性
指阻挡层的整流理论。
一、外加电压对n型阻挡层的影响 外加电压对 型阻挡层的影响
(一) 处于平衡态的 型阻挡层 一 处于平衡态的n型阻挡层 对于处于平衡态的阻挡层,从半导体进入金属的电子 流和从金属进入半导体的电子流大小相等,方向相反,构 成动态平衡,因此阻挡层中没有净电流流过 阻挡层中没有净电流流过。 阻挡层中没有净电流流过 对于n型阻挡层,其表面势:
(Vs ) 0 > 0
23
三、整流理论的种类
扩散理论(肖特基提出):对于n型阻挡层,当势垒的宽度比 电子的平均自由程大得多时,电子通过势垒区要发生多次 碰撞,这样的阻挡层称为厚阻挡层 厚阻挡层。扩散理论正是适用于 厚阻挡层 厚阻挡层理论; 热电子发射理论(贝特提出):当n型阻挡层很薄,以至于电 子平均自由程远大于势垒宽度时,电子在势垒区的碰撞可 以忽略,因此,势垒的性质不重要,起决定作用的是势垒 高度,扩散理论不再适用,适用的是热电子发射理论; 热电子发射与扩散的综合理论(施敏提出) 考虑镜像力与隧道效应的影响来修正整流理论。 考虑镜像力与隧道效应的二、外加电压对p型阻挡层的影响 外加电压对 型阻挡层的影响
半导体物理学第七章
J = J m → s + J s →m
qφns qV = A T exp(− )[exp( ) − 1] k0T k0T
∗ 2
qV = J sT [exp( ) − 1] k0T
与扩散理论得到的J-V形式上是一样的,所不同的是JsT与外加电压无 关,却是一个更强烈依赖于温度的函数。
3、镜像力和隧道效应的影响
接触电阻定义为零偏压下的微分电阻,即
∂I Rs = ∂V V =0
−1
下面估算一下以隧道电流为主时的接触电阻。讨论金属和n型半导体接触的 势垒贯穿问题。将导带底选为电势能的零点。
qN D V ( x) = − ( x − d0 )2 2ε r ε 0
电子的势垒为:
q2 ND −qV ( x) = ( x − d0 )2 2ε r ε 0
2
半导体内电场为零,因而
E ( xd ) = − dV dx
x = xd
=0
金属费米能级除以-q作为电势零点,则有 势垒区中
V (0) = −φns
dV ( x) qN D E ( xd ) = − = ( x − xd ) dx ε rε 0 1 2 V ( x) = ( xxd − x ) − φns ε rε 0 2 qN D
2、接触电势差
设想有一块金属和n型半导体, 它们有共同的真空静止能级。 假定
Wm > Ws
接触前,未平衡的能级
平衡状态的能级
q(Vs' − Vm ) = Wm − Ws Ws − Wm Vms = Vm − V = q
' s
接触电势差
紧密接触
忽略间隙 当 Vms 很小时,接触电势差绝大部分 落在空间电荷区。 金属一边的势垒高度是
半导体物理第七章
反向击穿电压较低,反向漏电较高. ⓒ肖特基势垒二极管具有制备上的优势.
2021/2/6
33
2021/2/6
34
7.3少数载流子的注入和欧姆接触
★欧姆接触
欧姆接触是金属-半导体接触的另一个重 要应用—作为器件引线的电极接触(非整 流接触).
欧姆接触的要求: 接触电阻应小到与半导 体的体电阻相比可以忽略(不影响器件的 电学特性).
2021/2/6
24
★ I-V特性的定性图象
①定性图象--阻挡层的整流作用: (仍讨论M/n-S 形成电子势垒) M/S接触是多子器件. 对M/n-S 形成的 电子势垒, 其输运特性主要由电子决定. ♦ 正向偏置, 半导体一侧电子势垒降低, 可 形成较大的正向电流. ♦ 反向偏置, 半导体一侧电子势垒升高, 反 向电流很小. 当反向偏置加大,反向电流可 趋于饱和.
2021/2/6
25
2021/2/6
图7-10
26
1938年,W. Schottky提出了基于整流二极 管的理论,称为肖特基二极管理论。这 一理论以金属和半导体功函数差为基础。
要定量讨论I-V特性,必须讨论电子是怎样 越过势垒的. 两种近似模型:
♦扩散理论—势垒区较厚,制约正向电流的 主要是电子在空间电荷区的扩散过程
欧姆接触的实现: 主要方法是对接触处的
半导体高掺杂, 利用隧道效应, 得到很小
的接触电阻
2021/2/6
35
2021/2/6
36
2021/2/6
37
2021/2/6
38
2021/2/6
39
两种接触的伏安特性:
I
1:整流接触(肖特基接触)
2021/2/6
半导体物理学第七章知识点
第7章 金属-半导体接触本章讨论与pn 结特性有很多相似之处得金-半肖特基势垒接触。
金-半肖特基势垒接触得整流效应就是半导体物理效应得早期发现之一:§7、1金属半导体接触及其能级图一、金属与半导体得功函数1、金属得功函数在绝对零度,金属中得电子填满了费米能级E F 以下得所有能级,而高于E F 得能级则全部就是空着得。
在一定温度下,只有E F 附近得少数电子受到热激发,由低于E F 得能级跃迁到高于E F 得能级上去,但仍不能脱离金属而逸出体外。
要使电子从金属中逸出,必须由外界给它以足够得能量。
所以,金属中得电子就是在一个势阱中运动,如图71所示。
若用E 0表示真空静止电子得能量,金属得功函数定义为E 0与E F 能量之差,用W m 表示:它表示从金属向真空发射一个电子所需要得最小能量。
W M 越大,电子越不容易离开金属。
金属得功函数一般为几个电子伏特,其中,铯得最低,为1、93eV;铂得最高,为5、36 eV 。
图72给出了表面清洁得金属得功函数。
图中可见,功函数随着原子序数得递增而周期性变化。
2、半导体得功函数与金属类似,也把E 0与费米能级之差称为半导体得功函数,用W S 表示,即因为E FS 随杂质浓度变化,所以W S 就是杂质浓度得函数。
与金属不同,半导体中费米能级一般并不就是电子得最高能量状态。
如图73所示,非简并半导体中电子得最高能级就是导带底E C 。
E C 与E 0之间得能量间隔被称为电子亲合能。
它表示要使半导体导带底得电子逸出体外所需要得最小能量。
利用电子亲合能,半导体得功函数又可表示为式中,E n =E C -E FS 就是费米能级与导带底得能量差。
表71 几种半导体得电子亲与能及其不同掺杂浓度下得功函数计算值 材料 (eV) W S (eV)图71 金属中得电子势阱图7-2 一些元素得功函数及其原子序数 图73 半导体功函数与电子亲合能二、有功函数差得金属与半导体得接触把一块金属与一块半导体放在同一个真空环境之中,二者就具有共同得真空静止电子能级,二者得功函数差就就是它们得费米能级之差,即W M-W S =E FS-E FM。
半导体物理第七章
E0
E Fs
Ec
Ev
假设金属和 n型半导体相接触且 Wm Ws
接触中 :
Wm
EFm
接触后:
E0
Ws
Ec EFs
qm
EF
qVD
Ec EF
Ev xD Ev
≌- qVs 接触势垒 Wm-Ws=-q(Vms+Vs)
导带底电子向金属运动时必须越过的 势垒的高度: qVD=Wm-Ws
金属一边的电子运动到半导体一边也需要 越过的势垒高度:
(b) Wm<Ws
E0 Ec EFs
电子反阻挡层:
Wm
EFm
Ws
Ec EF
Ev
qVD Ws Wm
Ev
(2)金属-p型半导体接触 (1)Ws>Wm 空穴阻挡层:
E0 Wm
EFm
Ec Ws
EFs
Ev
接触后:
Ec
EF Ev
qVD=Ws-Wm xD
半导体一边的势垒 qVD Ws Wm
–具有受主表面态的n型半导体与金属接触
• 平衡时费米能级达到同一水平,半导体的费米能级EFs相对 于金属的费米能下降了(Wm—Ws)。在间隙D中,从金属到 半导体电势下降 -(Wm—Ws)/q。空间电荷区的正电荷等于 表面受主态上留下的负电荷与金属表面负电荷之和。紧密 接触时电子可自由地穿过,极限情形下的能带如图(c)
电子依旧与金属保持平衡状态 而与近似等于平衡状态电子浓 度
已接近半导体体内电子浓度
于是
J
xd 0
q[ns (Vs )0 ] qV ( x) qV exp[ ]dx qDn n0 exp{ }[exp[ ] 1] k0T k0T k0T
半导体物理第七章课件
半导体器件物理
© Dr. B. Li
CTD分类
戽链器件-BBD(1969)
CTD 电荷耦合器件CCD 表面CCD-SCCD
(1970) 体内CCD-BCCD
(埋沟)
半导体器件物理
© Dr. B. Li
7.1 CCD工作原理
• 电荷耦合器件(Charge Coupled Device,简称 CCD):70年代初由美国贝尔实验室研制成功的一 种新型半导体器件。
Wm
( 后,再增加的VG主要降在SiO2层上,而s基 本不变,Wm基本不变。
❖反型层电子来源主要由耗尽层复合中心产生电子-空
穴对提供。强反型所需驰豫时间为:
半导体器件物理
© Dr. B. Li
2 ni
NA
❖用脉冲突然给栅极加上+VG(且VG >VT),耗尽层来 不及反型—非平衡状态。
© Dr. B. Li
7.2 CCD物理性能
一、信息处理能力(最大电荷容量) 1. 理想的最大信号容量(势阱消失的值)
QpACoVp AVp d11
1:SiO2介电常数 d1: SiO2厚度
当d1一定,提高Vp(VG)可提高Qp。但是提高Vp受两个限制: A)半导体雪崩击穿限制 B)SiO2层击穿电场的限制
❖ 电子势阱的物理模型:
表面处电势s 很高,电子静电势能(-qs)很低,形成电 子势阱。
对一定器件,耗尽层越宽,则电子势能值也越大,即势阱 越深。
随时间,产生的电子-空穴对,在电场作用下,电子被 扫向表面处形成反型层,空穴扫向内部填充(中和)固 定 电 荷 区 , 使 WWm , 即 势 阱 变 浅 。 s 2F(bulk),SiO2层分压。
31_半导体物理学(第四版)第七章(教材)
–若
,金属和n型半导体接触可形成反阻挡层;
–
时,金属和p型半导体接触也能形成反阻挡层,
反阻挡层没有整流作用,可实现欧姆接触
– 实际生产中利用隧道效应的原理,把半导体一侧重掺杂 形成金属—n+n或金属—p+p结构,从而得到理想的欧姆 接触
27
28
29
30
31
pn结一般为0.7V
7.3 少数载流子的注入和欧姆接触
23
24
欧姆接触应满足一下三点: 1.伏安特性近似为线性,且是对称的 2.接触引入的电阻很小 3. 在接触区附近,载流子浓度等于热 平衡的值,即,没有少子注入
25
欧姆接触
• 欧姆接触
– 不产生明显的附加阻抗,而且不会使半导体内部的平衡 载流子浓度发生显著的改变,为非整流接触
10
表面态密度极高,半导体和 金属接触时,只转移表面态 中的电子就可以使整个系 统达到平衡. 即接触前后,半导体一侧的 空间电荷不发生变化,表面 势垒不变,称为钉扎效应或 锁定效应
11
12
7.2 M—S接触的整流理论
13
14
15
16
17
极管的比较
第七章金属和半导体的接触
7.1 M—S接触的势垒模型 7.2 M—S接触的整流理论 7.3 少数载流子的注入和欧姆接触
本章重点: 势垒模型, 整流理论的概念 欧姆接触的性质及特点
1
为什么研究金属与半导体接触? 什么是M-S接触?
2
7.1 M—S接触的势垒模型
3
E0:真空能级
4
5
6
7
8
9
• 相同点
– 单向导电性
• 不同点
– 正向导通时,pn结正向电流由少数载流子的扩散运动 形成,而肖特基势垒二极管的正向电流由半导体的多数 载流子发生漂移运动直接进入金属形成,因此后者比前 者具有更好的高频特性
半导体物理第七章金属和半导体接触
§7.2 金属-半导体接触整流理论
Rectification Theory of Metal-Semiconductor Contact
学习重点:
• 阻挡层的整流特性和整流理论 • 欧姆接触
哈尔滨工业大学微电子科学与技术系
1、阻挡层的整流特性
—— 外加电压对阻挡层的作用
I
0
V
• 接触前
• 接触后(V=0)
金属与半导体材料紧密接触。
热平衡条件下,两种材料具有统 一的费米能级,同时真空能级具 有连续性。金属-半导体接触能 带结构如图所示。
Wm
qφns = Wm -χ
EFm
Ws En
E0 χ
Ec EFs
Ev
导带底电子向金属运动时必 须越过的势垒高度:
qVD = Wm – Ws 金属一侧的电子运动到半导
E0
0 xd E(x)
x
• 空间电荷区电势分布
0 xd
x
V(x)2qrN D 0(x22xdxxd2) 0xxd
V(x) 0
xd
x
V(x)0 xxd
qVD
• 空间电荷区宽度
xd
2r0VD qND
ND n(x)
ni2/ND
p(x) 0 xd
n0
p0 x
• 空间电荷区载流子分布
qV ( x ) n ( x ) N D exp k 0T x 0:
学习重点:
• 功函数 • 电子亲和势 • 接触电势势垒 • 阻挡层与反阻挡层
哈尔滨工业大学微电子科学与技术系
Metal Insulator Semiconductor
(a) 基于平面工艺的金属-半导体接触结构透视图 Metal
半导体物理学第七章知识点
第7章 金属-半导体接触本章讨论与pn 结特性有很多相似之处的金-半肖特基势垒接触。
金-半肖特基势垒接触的整流效应是半导体物理效应的早期发现之一:§7.1金属半导体接触及其能级图一、金属和半导体的功函数1、金属的功函数在绝对零度,金属中的电子填满了费米能级E F 以下的所有能级,而高于E F 的能级则全部是空着的。
在一定温度下,只有E F 附近的少数电子受到热激发,由低于E F 的能级跃迁到高于E F 的能级上去,但仍不能脱离金属而逸出体外。
要使电子从金属中逸出,必须由外界给它以足够的能量。
所以,金属中的电子是在一个势阱中运动,如图7-1所示。
若用E 0表示真空静止电子的能量,金属的功函数定义为E 0与E F 能量之差,用W m 表示:FM M E E W -=0它表示从金属向真空发射一个电子所需要的最小能量。
W M 越大,电子越不容易离开金属。
金属的功函数一般为几个电子伏特,其中,铯的最低,为1.93eV ;铂的最高,为5.36 eV 。
图7-2给出了表面清洁的金属的功函数。
图中可见,功函数随着原子序数的递增而周期性变化。
2、半导体的功函数和金属类似,也把E 0与费米能级之差称为半导体的功函数,用W S 表示,即FS S E E W -=0因为E FS 随杂质浓度变化,所以W S 是杂质浓度的函数。
与金属不同,半导体中费米能级一般并不是电子的最高能量状态。
如图7-3所示,非简并半导体中电子的最高能级是导带底E C 。
E C 与E 0之间的能量间隔C E E -=0χ被称为电子亲合能。
它表示要使半导体导带底的电子逸出体外所需要的最小能量。
利用电子亲合能,半导体的功函数又可表示为)(FS C S E E W -+=χ式中,E n =E C -E FS 是费米能级与导带底的能量差。
图7-1 金属中的电子势阱图7-2 一些元素的功函数及其原子序数图7-3 半导体功函数和电子亲合能表7-1 几种半导体的电子亲和能及其不同掺杂浓度下的功函数计算值二、有功函数差的金属与半导体的接触把一块金属和一块半导体放在同一个真空环境之中,二者就具有共同的真空静止电子能级,二者的功函数差就是它们的费米能级之差,即W M -W S =E FS -E FM 。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
这使得VBi变成了一个与半导体材料掺杂浓度 相关的函数,因为:
2. 反偏状态下的肖特基结 对于上述金属和N型半导体材料相接触所形
成的肖特基结,当我们在半导体材料一侧外加 一个相对于金属材料为正的电压,此时的肖特 基结即处于反偏状态。
从图中可见,电子从半导体材料一侧到金 属材料一侧所需越过的势垒高度增加了,增加 的幅度就是外加的反向偏置电压VR,而从金属 材料一侧到半导体材料一侧所需越过的势垒高 度фB0仍然保持不变。
外加电压使得肖特基结的空间电荷区(也 就是耗尽区)宽度增加,肖特基结界面处的最 大电场强度也相应地大大增强。
§7.1 PN结的基本结构 1. PN结的构造
从原理上说,PN结就是由一个N型掺杂区 和一个P型掺杂区紧密接触所构成的,其接触 界面称为冶金结界面。
2. 制造PN结的方法: (1)外延方法:突变PN结; (2)扩散方法:缓变PN结; (3)离子注入方法:介于突变结与缓变结之间;
3.PN结空间电荷区的形成: 由于PN结两侧存在电子和空穴的浓度梯度,
外加电场的存在将会使得能带图中N型区的费 米能级往下拉,下拉的幅度等于外加电压引起的 电子势能变化量。
此时,PN结上总的势垒高度增大为:
当PN结两侧外加反向偏压VR时,PN结内部 空间电荷区中的电场将增强,因此PN结界面两 侧的空间电荷区宽度将会进一步展宽。
利用前面已经推导出的空间电荷区宽度公式, 只需将公式中的PN结内建势垒代换为反偏PN结上 总的势垒高度,即:
1. 肖特基势垒 我们以金属和N型半导体材料接触为例来讨
论肖特基结,首先看零偏置状态下的结特性。 功函数:金属或者半导体内的电子克服原子
核的束缚,逸出体外(真空)所需要的功(平 均值,定义为E0-E F)。
亲和能:χ=E0-Ec eфm是金属材料的功函数,eфS是半导体材 料的功函数,χ是半导体材料中电子的亲和势
2、隧道穿透势垒 在金属-半导体整流接触中,半导体材料
中的空间电荷区宽度是与其掺杂浓度的平方根 成反比的,当半导体材料的掺杂浓度非常高时, 空间电荷区的宽度就会变的非常薄,此时电子 就会通过隧道穿透效应越过势垒,从而形成欧 姆接触,例如金属与重掺杂N型半导体外延材料 之间所形成的欧姆接触就是通过隧道穿透效应 实现的。
上述PN结电容,通常也称为耗尽层电容。如果 将其与表示耗尽区宽度的公式做对比:
此式与单位面积的平行板电容公式完全相同。 只是这里需要注意的是,电容是随着反向偏置 电压的改变而不断变化的。
3. 单边突变PN结 假定PN结两侧的掺杂
浓度相差很大(称之为 单边突变PN结),例如 P型区的掺杂浓度远远 大于N型区的掺杂浓度 (称之为P+N结),即 Na>>Nd,则有:
本章作业题
7.1 7.16 7.18 7.32
与反向偏置的PN结情况类似,可以对反向偏 置的肖特基结空间电荷区应用泊松方程,求得 肖特基结空间电荷区的宽度为:
§9.2 正偏状态下的PN结与肖特基结 前面的分析讨论中,无论是处于热平衡的
零偏状态,还是有外加反向电压的反偏状态, PN结中都存在一个势垒,这个势垒阻挡了N型区 中的电子向P型区中的进一步扩散,也阻挡了P 型区中的空穴向N型区中的进一步扩散。因此在 零偏或反偏状态下,PN结中基本没有电流流过
当фm>фS时,金属和P型半导体材料形成 接触之后的能带图,二者具有统一的费米能级,
此时半导体材料表面空穴的浓度增加,形成了
一层空穴的积累层。
从肖特基接触上分析对n型半导体只
要 m s ,对P型半导体只要 m s 即可
获得欧姆接触。
但是,肖特基接触仅仅是一种理想的接触, 只考虑了功函数的影响,没有考虑表面态(界 面态),对于实际的半导体材料Si,Ge等,表 面态的影响比功函数的影响还要大,这需要利 用巴丁模型来解释。
第七章 PN结与金属-半导体接触 本章学习要点: 1. 了解PN结的构成及空间电荷区的概念; 2. 掌握零偏状态下PN结偏状态下PN结的空间电荷区宽度、内建电场
以及PN结电容特性; 4. 掌握金属-半导体接触的整流特性; 5. 了解正偏条件下PN结与肖特基接触的电流-电压特性 6. 理解金属-半导体欧姆接触的形成机理;
各种不同金属材料的功函数,电子亲和势则如 下表所示。
在下图所示的实例中,我们假设了фm>фS,因 此当形成金属-半导接触之后,电子将从N型半导 体材料一侧流向金属材料一侧,最终使得整个系 统具有统一的费米能级。
下图所示是未形成金属-半导体接触之前,金 属材料和半导体晶体材料各自的能带示意图,其 中E0为真空能级,也就是能带图的参考能级。
由于空间电荷区中的可动载流子相对于体 区的多子来说基本处于耗尽状态,因此空间电 荷区也称作耗尽区。
空间电荷区及内建电场的形成过程示意图
平衡状态的PN结能带图具有统一的费米能级
§7.2 零偏状态下的PN结 1. 内建势垒:
在达到平衡状态的PN结空间电荷区中存在 一个内建电场,从能带图的角度来看在N型区和 P型区之间建立了一个内建势垒,该内建势垒的 高度为:
Vt 称为热电压
w
§7.3 反偏状态下的PN结 当在PN结的两边外加一个电压时,此时整个
PN结就不再处于热平衡状态,因此整个PN结系 统中也就不再具有统一的费米能级。
在PN结的N型区上相对于P型区外加一个正电 压VR时(这种情形称为反向偏置)
零偏
w
1. 势垒高度、空间电荷区宽度与PN结中的电场
可见,PN结电容倒数的平方与反向偏置电压 VR成线性关系。
利用此线性关 系可外推出PN结的 内建电势。也可以 通过直线的斜率求 出PN结低掺杂一侧 的掺杂浓度。
第九章 金属半导体和半导体异质结
§9.1金属-半导体接触的整流特性 所谓整流特性,理想情况下指的就是单向导
电特性,广义上说,凡是正反向非对称的I-V特 性,都可以在一定意义上称之为整流特性。
类似地,在零偏或反偏状态下,肖特基结 中基本上也没有电流流过。
1. 正偏状态下的PN结特性 当我们在PN结的P型区一侧外加一个相对于N
型区的正电压时,PN结即处于正向偏置状态,此 时外加电压所形成的电场与内建电场方向相反。
由于外加电场削弱了内建电场的作用,PN 结中的势垒高度也相应降低,因此漂移电流与 扩散电流不再保持平衡,同时PN结两边也不再 具有统一的费米能级。
由此可见,PN结中总的空间电荷区宽度随着外 加反向偏置电压VR的增大而不断增大。
同样,空间电荷区在PN结两侧的扩展宽度也可 以分别求得,其中在N型区一侧的扩展宽度为:
2.PN结的电容效应(耗尽电容)
当PN结反向偏压 改变时,PN结中耗 尽区的宽度也发生 变化,因此PN结两 侧耗尽区中的电荷 也会随之而发生改 变,这种充放电作 用就是PN结的电容 效应
因此电子和空穴将分别由N型区和P型区向对方 扩散,同时在N型区中留下固定的带正电荷的施 主离子,在P型区中则留下固定的带负电荷的受 主离子。
这个固定的正负电荷区即为空间电荷区,空 间电荷区中将形成内建电场,内建电场引起载 流子的漂移运动,载流子的漂移运动与载流子 的扩散运动方向相反,最后二者达到平衡。
当外加反偏电压时,即金属材料为正,N型 半导体材料为负时,金属和N型半导体材料系统 的能带弯曲情况如下图所示,此时N型半导体材 料中的电子可以毫无阻碍地流向金属材料,因 此呈现出正向导通特性。
E
当外加正偏电压时,即金属材料为负,N型 半导体材料为正时,金属和N型半导体材料系统 的能带变化则如下图所示,此时金属材料中的电 子只需越过一个很低的势垒就可以流向半导体材 料,因此同样也呈现出反向的导通特性。
对于前面所讨论过的金属和N型半导体材 料之间形成的肖特基接触势垒,当фm<фS时, 实际所形成的就是一种非整流接触势垒,即欧 姆接触。此时,没有形成接触之前,金属材料 的费米能级要高于N型半导体材料的费米能级。
1、非整流接触势垒
当фm<фS时,金属和N型半导体材料形成 接触之后的能带图,二者具有统一的费米能级, 此时半导体材料表面电子浓度增加,形成一层 电子的积累层。
众所周知,最早的半导体整流器就是采用金 属-半导体接触形成的,例如早期的矿石检波器, 就是采用一根金属触针与一块半导体硒矿石晶体 相接触而制作的。
目前,各种金属-半导体接触大多采用在半 导体晶体材料的表面淀积一层金属薄膜的方式 来制备(溅射工艺)。例如可以在硅晶体材料 的表面淀积一层金属铝膜,从而形成金属-半 导体之间的整流接触。这种类型的半导体整流 结通常称为肖特基势垒结,有时也简称为肖特 基结。
下图所示为金属与重掺杂的N型半导体外 延材料之间通过隧道穿透效应实现的欧姆接触。
本章小结
1.掌握零偏状态下PN结的特性,例如内建势垒 高度Vbi、内建电场以及空间电荷区宽度,面密 度等; 2.掌握反偏下PN结的空间电荷区宽度、内建电 场以及PN结电容特性(耗尽电容);
3.掌握零偏,反偏,正偏下的能带图 4.理解金属-半导体接触的整流特性; 5.掌握金属-半导体欧姆接触的形成机理;
电子由N型半导体材料一侧流向金属材料一 侧之后,将在N型半导体材料中留下带正电的固 定施主离子电荷,并在N型半导体材料表面形成 一个空间电荷区(耗尽区),同时形成一个由 半导体材料指向金属材料的内建电场。
金属材料和半导体接触,达到平衡之后整 个系统具有统一的费米能级。
达到平衡状态时的能带图:
从上图可见,金属材料中的电子要进入N 型半导体材料,必须越过的势垒高度为фB0, 这个势垒高度就是所谓的肖特基势垒:
2. 正偏状态下的肖特基结特性
§9.2 金属-半导体欧姆接触 各种半导体器件和集成电路最后都需要通
过金属引线将其与外部世界相连接,这种连接 就必须是欧姆接触。