SEM李涛高等物化课件
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物化第十一章ppt课件
时，分析另一种离子对带异号电荷胶粒的聚沉能
力越强，则该电解质对带该电荷的胶粒的聚沉能
力越低；MgCl2、MgSO4对带负电的胶粒聚沉能力比较
上 下 回 返
11.11. AgNO3过量 ※溶液中的产物： AgCl溶胶+ AgNO3 稀溶液； ※稳定剂的确定： 应为AgNO3 ※固表吸附离子： 应为Ag +
3.沉降平衡：对于溶胶系统，在扩散和沉降两
散
种相反作用相近时会形成分散相粒子
受力平衡，从而形成粒子密度在高度
分布上呈现浓度梯度(下高上低)。
上 下 回 返
11.4 胶体系统的光学性质
一、光效应分析
1.入射光频率＝分子固有频率：光吸收； 2.入射光与分子无任何作用：光透过； 3 .入射光λ＜分散相分子直径d：光反射； 4.入射光λ＞分散相分子直径d：光散射。
(1)分析： ※溶液中的产物： KI稀溶液过量，反应完全后
得到(AgI溶胶+ KI稀溶液)；
※稳定剂的确定： 应为KI
※固表吸附离子： 应为I－+
※扩散层反离子： 应为K+
(2)解题：
[(Ag胶I)m核nI－
·(n－x)K+]
胶粒
x－
xK+
胶团
上 下 回 返
例3.写出Fe(OH)3溶胶的胶团结构(FeCl3为稳定剂)
※聚沉值：使溶胶发生明显聚沉所需电解质的cmin ； ※聚沉能力：聚沉值的倒数；聚沉值越小，该电解
质聚沉能力越大。
上 下 回 返
3 判断聚沉能力的原则
※ 与胶粒带相反电荷的离子起聚沉作用；
※ 聚沉离子的价数越高聚沉能力越强：一般可近似 表示为价数6次方之比---舒尔策-哈迪价数规则；
SEM基础知识培训PPT课件
sem基础知识培训
汇报人：可编辑
xx年xx月xx日
• SEM定义及概述 • 关键词选择与投放 • 数据分析与优化 • 广告创意与设计 • 竞价策略与技巧 • 案例分享与实战演练
目录
01
SEM定义及概述
SEM定义
01
搜索引擎营销（SEM）
是指利用搜索引擎平台的推广方式，通过优化关键词排名和网页内容，
关键词竞争度
评估关键词的竞争程度， 选择竞争程度适中的关键 词，避免过于激烈或冷门 。
关键词扩展
根据核心关键词，进行相 关词、同义词等扩展，增 加关键词覆盖面。
关键词投放技巧
关键词匹配方式
根据关键词的匹配程度， 选择精确、短语或广泛匹 配方式，以优化投放效果 。
关键词出价策略
根据关键词的价值和竞争 程度，合理设置出价，提 高投放效果和ROI。
数据转换
将数据从一种格式或结构转换为另 一种，以便于分析。
数据整合
将不同来源的数据进行整合，形成 统一的数据集。
数据分析方法
描述性分析
对数据进行描述，如平均值、中 位数、众数等。
推断性分析
通过样本数据推断总体特征，如 回归分析、方差分析等。
预测性分析
利用历史数据预测未来趋势，如 时间序列分析、机器学习等。
视频制作
通过视频制作技巧，如剪辑、特效、音效等，增强广告的视觉冲击力和吸引力 。
05
竞价策略与技巧
竞价原理与规则
竞价原理
搜索引擎营销（SEM）是一种通过购买搜索引擎广告位来提高网站流量的营销方 式。竞价是SEM的核心机制，通过竞争关键词的出价来获得广告位。
竞价规则
在竞价过程中，广告主根据关键词的出价和广告质量得分等因素，竞争广告展示 机会。出价越高，广告质量得分越高，获得展示机会的可能性越大。
汇报人：可编辑
xx年xx月xx日
• SEM定义及概述 • 关键词选择与投放 • 数据分析与优化 • 广告创意与设计 • 竞价策略与技巧 • 案例分享与实战演练
目录
01
SEM定义及概述
SEM定义
01
搜索引擎营销（SEM）
是指利用搜索引擎平台的推广方式，通过优化关键词排名和网页内容，
关键词竞争度
评估关键词的竞争程度， 选择竞争程度适中的关键 词，避免过于激烈或冷门 。
关键词扩展
根据核心关键词，进行相 关词、同义词等扩展，增 加关键词覆盖面。
关键词投放技巧
关键词匹配方式
根据关键词的匹配程度， 选择精确、短语或广泛匹 配方式，以优化投放效果 。
关键词出价策略
根据关键词的价值和竞争 程度，合理设置出价，提 高投放效果和ROI。
数据转换
将数据从一种格式或结构转换为另 一种，以便于分析。
数据整合
将不同来源的数据进行整合，形成 统一的数据集。
数据分析方法
描述性分析
对数据进行描述，如平均值、中 位数、众数等。
推断性分析
通过样本数据推断总体特征，如 回归分析、方差分析等。
预测性分析
利用历史数据预测未来趋势，如 时间序列分析、机器学习等。
视频制作
通过视频制作技巧，如剪辑、特效、音效等，增强广告的视觉冲击力和吸引力 。
05
竞价策略与技巧
竞价原理与规则
竞价原理
搜索引擎营销（SEM）是一种通过购买搜索引擎广告位来提高网站流量的营销方 式。竞价是SEM的核心机制，通过竞争关键词的出价来获得广告位。
竞价规则
在竞价过程中，广告主根据关键词的出价和广告质量得分等因素，竞争广告展示 机会。出价越高，广告质量得分越高，获得展示机会的可能性越大。
《tems基础知识》课件
磁场强度
TEMs设备的磁场强度是衡量其性能的 重要参数，直接影响探测深度和分辨率
。
探测深度和分辨率
TEMs设备的探测深度和分辨率与其 磁场强度和频率范围有关，是衡量其
性能的重是重要参数 ，不同频率适用于不同探测深度和分 辨率。
便携性和可靠性
TEMs设备的便携性和可靠性也是重 要的性能参数，影响着设备的实际应 用效果。
电磁波的频率
电磁波的频率决定了其波长和能量，频率越高，波长越短，能量 越大。
电磁波的极化
电磁波的电场矢量方向称为极化方向，不同极化方向的电磁波具 有不同的特性。
TEMs工作原理
1 2
传输线理论
TEM波在传输线中传播时，电场和磁场都沿着传 输方向，没有横向分量。
TEM波的产生
当电磁波在传输线中传播时，如果传输线的横截 面尺寸远大于波长，则可以产生TEM波。
雷达测速
利用TEM波的多普勒效应，实现对运 动目标的速度测量。
探测领域应用
气体探测
利用TEM波在气体中的传播特性，实现对气体成分和浓度的探测。
生物医学成像
将TEM波与医学成像技术结合，实现对生物组织的无损探测和成像。
其他领域应用
电子对抗
利用TEM波的特性，实现电磁干扰和电子欺骗等电子对抗手 段。
04
TEMs技术应用
通信领域应用
无线通信
利用TEM波的特性，实现高速、大容 量的无线通信，如移动通信网络、卫 星通信等。
微波传输
TEM波在波导中传输时具有低损耗、 低色散的特性，适用于长距离、高速 的微波信号传输。
雷达领域应用
雷达探测
利用TEM波的定向传播和反射特性 ，实现目标的探测和定位，广泛应用 于军事和民用领域。
TEMs设备的磁场强度是衡量其性能的 重要参数，直接影响探测深度和分辨率
。
探测深度和分辨率
TEMs设备的探测深度和分辨率与其 磁场强度和频率范围有关，是衡量其
性能的重是重要参数 ，不同频率适用于不同探测深度和分 辨率。
便携性和可靠性
TEMs设备的便携性和可靠性也是重 要的性能参数，影响着设备的实际应 用效果。
电磁波的频率
电磁波的频率决定了其波长和能量，频率越高，波长越短，能量 越大。
电磁波的极化
电磁波的电场矢量方向称为极化方向，不同极化方向的电磁波具 有不同的特性。
TEMs工作原理
1 2
传输线理论
TEM波在传输线中传播时，电场和磁场都沿着传 输方向，没有横向分量。
TEM波的产生
当电磁波在传输线中传播时，如果传输线的横截 面尺寸远大于波长，则可以产生TEM波。
雷达测速
利用TEM波的多普勒效应，实现对运 动目标的速度测量。
探测领域应用
气体探测
利用TEM波在气体中的传播特性，实现对气体成分和浓度的探测。
生物医学成像
将TEM波与医学成像技术结合，实现对生物组织的无损探测和成像。
其他领域应用
电子对抗
利用TEM波的特性，实现电磁干扰和电子欺骗等电子对抗手 段。
04
TEMs技术应用
通信领域应用
无线通信
利用TEM波的特性，实现高速、大容 量的无线通信，如移动通信网络、卫 星通信等。
微波传输
TEM波在波导中传输时具有低损耗、 低色散的特性，适用于长距离、高速 的微波信号传输。
雷达领域应用
雷达探测
利用TEM波的定向传播和反射特性 ，实现目标的探测和定位，广泛应用 于军事和民用领域。
SEM课件-第二部分
在扫描电镜中样品表面形状的变化和二次电子数量的变化
（二）成分衬度
• SE本身对原子序数(Z)不敏感，但其产额随η （BSE产额）增大而略有上升。 当入射电子的能量小于5kev时，电子在样品 中的射程已降到100nm，这时背散射电子的影响减 少，所得SE能反映出表面薄层中的成分变化。
（三）电压衬度
• 3．工作距离的选择
工作距离是指样品与物镜下端的距离，通常
其变动范围为：5－48mm。 形貌观察常用的工
作距离一般为25—35mm，兼顾景深和分辨率。
工作距离与图像质量的关系
工作距离 分辨率 景深 8 高 浅 48 低 深
d 0.61
n sin
d0 d 0 0.2m m F tg M
要求和观察倍率等来选择加速电压。
对于：
①金相试样、断口试样、电子通道试样等尽可能
用高的加速电压。
• ②如果观察的样品是凹凸的表面或深孔，为了减 小入射电子探针的贯穿和散射体积，采用较低 的加速电压可改善 图像的清晰度。 ③对于容易发生充电的非导体试样或容易烧伤的 生物试样，也应该采用低的加速电压。
• 2、阴影衬度 二次电子信号对样品表面法线的方位角（相
对与探测器的方位）有依赖关系，表面突起物背
后处或空洞内部位的SE信号将受到抑制，即阴影
衬度。
• 3、漫射衬度 通过样品表面积增大区（如突起物边缘）
可使BSE和由BSE激发的SE增多，这就是与背散
射有关的漫射衬度。 在样品表面上突起物或台阶边缘处表现出 明显的漫射衬度。
二次电子像是表面形貌衬度，它是利用
对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调 节信号得到的一种像衬度。它的强度与原子 序数没有明确的关系，但对微区表面相对于 入射电子束的方向却十分敏感，二次电子像
SEM讲稿PPT1-2
b) 携带信息：成分 成分 特征X射线能量＝ 特征X射线能量＝在跃迁过程中相关壳 层间的临界激发能Ec之差： Ec之差 层间的临界激发能Ec之差： 射线能量。 E= EK-EL，为Kα射线能量。 例如： 原子K层电子的Ec 7.11keV， Ec为 例如：Fe 原子K层电子的Ec为7.11keV，当Ec 为0.71keV的L层电子跃迁到K层空位时，发 0.71keV的 层电子跃迁到K层空位时， 射出Fe 射出FeKα光子 能量＝7.11－ FeKα能量＝7.11－0.71 = 6.40 keV 不同原子的K 层之间的能量差不同， 不同原子的K与L层之间的能量差不同， 所以这种X 所以这种X射线反映了不同元素原子内部壳 层结构的特征，因此称为特征X射线。 层结构的特征，因此称为特征X射线。
2. 二次电子 （Secondary electron，SE）
实验：
样品出射电子的全部能量分布图 II区为BSE区 III为SE区 区为BSE I和II区为BSE区，III为SE区
a) 起因：高能入射电子与核外电子相互作 起因： 使核外电子电离所造成。 用，使核外电子电离所造成。尤其是外层 电子与原子核结合力较弱， 电子与原子核结合力较弱，被大量电离形 成自由电子， 成自由电子，如果这种过程发生在样品表 自由电子离开样品，成为二次电子。 层，自由电子离开样品，成为二次电子。 SE定义 出射能量小于50eV 定义： 50eV的电子 SE定义：出射能量小于50eV的电子 b) 携带信息：表面形貌 表面形貌 c) 取样深度：< 10 nm
四.简史 简史
1965第一台SEM问世， Co. 1965第一台SEM问世，Cambridge Instrument Co 第一台SEM问世
常规扫描电镜
S550（日立）
物化ppt课件
§ 4.11 活度与活度因子
第四章 多组分系统热力学及其在溶液中的应用
*§ 4.12 渗透因子和超额函数 § 4.13 分配定律——溶质在两互不相溶液相中的分配 *§ 4.14 理想液态混合物和理想稀溶液的微观说明 *§ 4.15 绝对活度
§4.1 引言
多组分系统 两种或两种以上的物质（或称为组分）所形 成的系统称为多组分系统。 多组分系统可以是均相的，也可以是多相的。
第四章 多组分系统热力学及其在溶液中的应用
§4.1 引言 § 4.2 多组分系统的组成表示法 § 4.3 偏摩尔量 § 4.4 化学势 § 4.5 气体混合物中各组分的化学势 § 4.6 稀溶液中的两个经验定律 § 4.7 理想液态混合物 § 4.8 理想稀溶液中任一组分的化学势 § 4.9 稀溶液的依数性 *§ 4.10 Duhem-Margules公式
或在等温、等压、保持B物质以外的所有组分 的物质的量不变的有限系统中，改变 dnB 所引起广 度性质Z的变化值，
2. 只有广度性质才有偏摩尔量，而偏摩尔量是强度 性质。 3. 纯物质的偏摩尔量就是它的摩尔量。
4. 任何偏摩尔量都是T，p和组成的函数。
偏摩尔量的加和公式
按偏摩尔量定义,
Z ZB ( nB )T , p,nc (cB)
化学势的定义
U U (S,V , n1, n2, , nk )
其全微分为
dU
U ( S )V ,nB dS
(
U V
)
S
,nB
dV
k U B1 ( nB )S ,V ,nc(cB) dnB
定义化学势
B
def
U ( nB )S,V ,nc (cB)
第一个基本公式就可表示为：
第四章 多组分系统热力学及其在溶液中的应用
*§ 4.12 渗透因子和超额函数 § 4.13 分配定律——溶质在两互不相溶液相中的分配 *§ 4.14 理想液态混合物和理想稀溶液的微观说明 *§ 4.15 绝对活度
§4.1 引言
多组分系统 两种或两种以上的物质（或称为组分）所形 成的系统称为多组分系统。 多组分系统可以是均相的，也可以是多相的。
第四章 多组分系统热力学及其在溶液中的应用
§4.1 引言 § 4.2 多组分系统的组成表示法 § 4.3 偏摩尔量 § 4.4 化学势 § 4.5 气体混合物中各组分的化学势 § 4.6 稀溶液中的两个经验定律 § 4.7 理想液态混合物 § 4.8 理想稀溶液中任一组分的化学势 § 4.9 稀溶液的依数性 *§ 4.10 Duhem-Margules公式
或在等温、等压、保持B物质以外的所有组分 的物质的量不变的有限系统中，改变 dnB 所引起广 度性质Z的变化值，
2. 只有广度性质才有偏摩尔量，而偏摩尔量是强度 性质。 3. 纯物质的偏摩尔量就是它的摩尔量。
4. 任何偏摩尔量都是T，p和组成的函数。
偏摩尔量的加和公式
按偏摩尔量定义,
Z ZB ( nB )T , p,nc (cB)
化学势的定义
U U (S,V , n1, n2, , nk )
其全微分为
dU
U ( S )V ,nB dS
(
U V
)
S
,nB
dV
k U B1 ( nB )S ,V ,nc(cB) dnB
定义化学势
B
def
U ( nB )S,V ,nc (cB)
第一个基本公式就可表示为：
2019-材料分析教学课件-sem2014-PPT文档资料-文档资料
SEM的成像原理和光学显微镜 或透射电子显微镜是不同的，
2.电子束与固体样品相互作用产生的各种物理信号
SEM的成像信息来自电子与物质的相互作用而产生的 各种信号，因此首先讨论电子与物质的相互作用。
具有高能量的入射电子 束与固体物质表面的原 子核或核外电子发生作 用，产生如图所示的物 理信号。
2.1背散射电子（Backscattered Electron ，BE）
物镜结构 放大倍数越高，视野越暗
光学显微镜的放大倍数可以无限地增大？
1878年 阿贝-瑞利指出光学显微镜分辨本领受到光波衍射的 限制，给出了光学显微镜分辨本领极限公式。
D为恰能分辨两个物点的距离，������为波长，N为物质间 介质的折射系数，������物镜镜口角。
可见光的波长范围：390－760nm 相应的光色：红、橙、黄、绿、青、蓝、紫。
但仅有电子流辐射波还不行，因为没有解决电子流聚 焦成像的问题。
1926年，德国科学家Garbor和Busch发现用铁壳封闭的铜 线圈对电子流能折射聚焦，即可以作为电子束的透镜。
图为一台1933年制作的电镜，电子在1米多高的金属柱中加速，继而被 汇聚在一些小网格样品上，将小格放大了14.4倍。
它却标志人类首次以电代光 “照”出了物体的影像。
执行这项工程的德国科学家卢斯卡 也因此在55年后被颁予诺贝尔奖 。
透射电镜的工作原理图
电子Байду номын сангаас镜起到了和光学 透镜相似的作用，将电 子聚集成电子束。
在研究透射电镜的同时，人们 发现，高速的电子束打到物体 上时，会产生各种与试样性质 相关的电子信号，收集处理这 些电子信号成像，就得到了 SEM图像。
电子波长与加速电压V对应表：
加速 50
2.电子束与固体样品相互作用产生的各种物理信号
SEM的成像信息来自电子与物质的相互作用而产生的 各种信号，因此首先讨论电子与物质的相互作用。
具有高能量的入射电子 束与固体物质表面的原 子核或核外电子发生作 用，产生如图所示的物 理信号。
2.1背散射电子（Backscattered Electron ，BE）
物镜结构 放大倍数越高，视野越暗
光学显微镜的放大倍数可以无限地增大？
1878年 阿贝-瑞利指出光学显微镜分辨本领受到光波衍射的 限制，给出了光学显微镜分辨本领极限公式。
D为恰能分辨两个物点的距离，������为波长，N为物质间 介质的折射系数，������物镜镜口角。
可见光的波长范围：390－760nm 相应的光色：红、橙、黄、绿、青、蓝、紫。
但仅有电子流辐射波还不行，因为没有解决电子流聚 焦成像的问题。
1926年，德国科学家Garbor和Busch发现用铁壳封闭的铜 线圈对电子流能折射聚焦，即可以作为电子束的透镜。
图为一台1933年制作的电镜，电子在1米多高的金属柱中加速，继而被 汇聚在一些小网格样品上，将小格放大了14.4倍。
它却标志人类首次以电代光 “照”出了物体的影像。
执行这项工程的德国科学家卢斯卡 也因此在55年后被颁予诺贝尔奖 。
透射电镜的工作原理图
电子Байду номын сангаас镜起到了和光学 透镜相似的作用，将电 子聚集成电子束。
在研究透射电镜的同时，人们 发现，高速的电子束打到物体 上时，会产生各种与试样性质 相关的电子信号，收集处理这 些电子信号成像，就得到了 SEM图像。
电子波长与加速电压V对应表：
加速 50
扫描电镜原理-SEM剖析精品PPT课件
能清晰成像。
•
二次电子的强度主要与样品表面形
貌有关。二次电子和背散射电子共同用于扫描
电镜(SEM)的成像。
特征X射 线
如果入射电子把样品表面原子的内层电子撞 出，被激发的空穴由高能级电子填充时，能 量以电磁辐射的形式放出，就产生特征X射线 ，可用于元素分析。
如果入射电子把外层电子打进内层，原
俄歇 子被激发了．为释放能量而电离出次外层电
d 2a
△F——焦深； d ——电子束直径； 2a——物镜的孔径角
衬度
表面形貌衬度
原子序数衬度
衬度
表面形貌衬度
表面形貌衬度主要是样品表面的凹凸(称为表面地 理)决定的。一般情况下，入射电子能从试详表面 下约5nm厚的薄层激发出二次电子。
原子序数衬度
原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散 射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的 差异相当敏感，而二次电子不敏感。
低原子序 Z
高原子序 Z
高加速电压 kV
低加速电压 kV
1. 电子束斑大小基本不能影响分辨率 2. 而加速电压 kV 和平均原子序 Z 则起决定作用。
信号的方向性
SE 信号 – 非直线传播 通过探头前加有正电压的金属网来吸引
BSE 信号 – 直线发散传播 探头需覆盖面积大
X-射线信号 –直线发散传播
样品腔
SEM控制台
样品腔 样品台
OM & SEM
Comparison
显微镜类 型 OM
SEM
照明源 可见光 电子束
照射方式
成像信息
光束在试样上 以静止方式投
射
反射光/投射 光
电子束在试样 上作光栅状扫
描
材料微结构分析方法研究生SEMPPT课件
与样品相互作用，会产生二次电子、背散射电子、
俄偕电子以及特征X射线等一系列信号。所以需要不
同的探测器。
如二次电子吸收探测器、背散射电子吸收探测器、
X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的 信息。虽然X射线信号不能用于成象，但可用于测定 材料的化学组成。
有些探测器造价昂贵，这时，可以使用次级电子 探测器代替，但需要设定一个偏压电场以筛除次级 电子。
图像：立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标
本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷 涂上一层重金属微粒，重金属在电子束的轰击下发出 次级电子信号。
主要优点：景深长，所获得的图像立体感强，
可用来观察生物样品的各种形貌特征。
一些SEM图片
染色体
染色体
被精子包围的卵子
骨髓细胞
SARS
在样品上方装一个电子检测器来检测不 同能量的电子。二次电子的能量比较低， 一般小于50eV；背散射电子的能量比较高，
其约等于入射电子能量 E0。
吸收电子
它是被吸收电子是随着与样品中原 子核或核外电子发生非弹性散射次数 的增多，其能量和活动能力不断降低 以致最后被样品所吸收的入射电子。
透射电子
真空柱是一个密封的柱形容器。 真空泵用来在真空柱内产生真空。有机械
泵、油扩散泵以及涡轮分子泵三大类，机械泵 加油扩散泵的组合可以满足配置钨枪的SEM 的真空要求，但对于装置了场致发射枪或六硼 化镧枪的SEM,则需要机械泵加涡轮分子泵的 组合。
要用真空，主要基于以下原因： 电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速
当收集背散射电子时，由于背散射电 子能量比较高，离开样品后，受栅网 上偏压的影响比较小，仍沿出射直线 方向运动。收集器只能收集直接沿直 线到达栅网上的那些电子。
物理化学课件-物化上总复习31页PPT
(5)绝热过程(理想气体)
Q 0,ΔU
T2 T1
nCV ,mdT
W ,ΔH
T2 T1
nC
p,mdT
•可逆绝热过程
pV 常数,TV 1 常数, p1T 常数
W ΔU
T2 T1
nCV
,mdT
,
Cp CV
C p,m CV ,m
•不可逆绝热过程
W ΔU, p外 V2 V1 nCV ,m T2 T1
物理化学课件-物化上总复习
31、别人笑我太疯癫，我笑他人看不 穿。(名 言网) 32、我不想听失意者的哭泣，抱怨者 的牢骚 ，这是 羊群中 的瘟疫 ，我不 能被它 传染。 我要尽 量避免 绝望， 辛勤耕 耘，忍 受苦楚 。我一 试再试 ，争取 每天的 成功， 避免以 失败收 常在别 人停滞 不前时 ，我继 续拼搏 。
dp
•理想气体恒温膨胀或压缩 ΔS nRlnV2 nRln p1
V1
p2
•单元系平衡相变,系统恒温恒压下由相变为相 ΔS Δ H
T
•非平衡相变,需要设计绕道可逆相变化的过程进行计算。
(2)封闭系统恒容过程和恒压过程 •无相变化和化学变化的恒容过程 •无相变化和化学变化的恒压过程
ΔS n T2 CV,mdT T T1
33、如果惧怕前面跌宕的山岩，生命 就永远 只能是 死水一 潭。 34、当你眼泪忍不住要流出来的时候 ，睁大 眼睛， 千万别 眨眼!你会看到 世界由 清晰变 模糊的 全过程 ，心会 在你泪 水落下 的那一 刻变得 清澈明 晰。盐 。注定 要融化 的，也 许是用 眼泪的 方式。
35、不要以为自己成功一次就可以了 ，也不 要以为 过去的 光荣可 以被永 远肯定 。
ΔH Qp
SEM解析PPT学习教案
1 K(Z ) 特征X射线是进行微区成分分析的重要信息
第35页/共92页
6、俄歇电子
如果原子内层电子能级跃迁过程所释放的能量 不是以X射线形式而是将核外另一电子打出，脱离 原子变为二次电子，成为俄歇电子。适用于表面层 成分分析。 俄歇电子的能量与其发生过程相关的原子壳层能级 有关。而各能级仅与元素（原子序数）有关，所以 每一个俄歇电子的能量都有一个固定值，带有某种 元素原子的能量特征。
1982年，第一台扫描隧道显微镜（STM) 诞生； 1986年，Binnig，Quate和Gerber推出第一台原子
力显微镜（AFM)。
第5页/共92页
电子显微分析方法
扫描电子显微镜(SEM)可简称扫描电镜
电子探针X射线显微分析仪简称电子探针射电镜
第22页/共92页
基于背散射电子的产额与原子序数Z及倾斜角θ的 关系，以BSE信号调制图像的衬度可以定性地反映出 样品微区的成分分布和表面形貌。BSE一般来自表层 几百纳米的深度范围。
再者利用BSE的衍射信息还可以研究样品的结晶 学特征，这也是扫描电镜的一个重要发展方向。
第23页/共92页
2、二次电子(SE) 被入射电子轰击出来的样品核外电子，又称次
电子在样品中的弹性散射截面与其能量的平方 成反比，即：
Q
1 E2
第16页/共92页
(3)样品的倾斜角大小的影响： 当样品倾斜时，电子向前散射的趋势使其在表面 附近传播。从而减小了相互作用区的深度。当 垂直入射时（倾斜为0°），电子束向前散射的 趋势使大部分电子传播到样品深处。
第17页/共92页
三、电子束与固体样品作用时产生的信号
SEM解析
会计学
1
概述
光学显微镜可以分辨微米范围（10-6m）的物体； 电子显微镜和扫描探针显微镜可以分辨纳米
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6、俄歇电子
如果原子内层电子能级跃迁过程所释放的能量 不是以X射线形式而是将核外另一电子打出，脱离 原子变为二次电子，成为俄歇电子。适用于表面层 成分分析。 俄歇电子的能量与其发生过程相关的原子壳层能级 有关。而各能级仅与元素（原子序数）有关，所以 每一个俄歇电子的能量都有一个固定值，带有某种 元素原子的能量特征。
1982年，第一台扫描隧道显微镜（STM) 诞生； 1986年，Binnig，Quate和Gerber推出第一台原子
力显微镜（AFM)。
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电子显微分析方法
扫描电子显微镜(SEM)可简称扫描电镜
电子探针X射线显微分析仪简称电子探针射电镜
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基于背散射电子的产额与原子序数Z及倾斜角θ的 关系，以BSE信号调制图像的衬度可以定性地反映出 样品微区的成分分布和表面形貌。BSE一般来自表层 几百纳米的深度范围。
再者利用BSE的衍射信息还可以研究样品的结晶 学特征，这也是扫描电镜的一个重要发展方向。
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2、二次电子(SE) 被入射电子轰击出来的样品核外电子，又称次
电子在样品中的弹性散射截面与其能量的平方 成反比，即：
Q
1 E2
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(3)样品的倾斜角大小的影响： 当样品倾斜时，电子向前散射的趋势使其在表面 附近传播。从而减小了相互作用区的深度。当 垂直入射时（倾斜为0°），电子束向前散射的 趋势使大部分电子传播到样品深处。
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三、电子束与固体样品作用时产生的信号
SEM解析
会计学
1
概述
光学显微镜可以分辨微米范围（10-6m）的物体； 电子显微镜和扫描探针显微镜可以分辨纳米
李涛《Photoshop》中文版案例教程PPT第七章
7.1 标志设计的基础知识 标志是表明事物特征的记号，它以单纯、显著、易识别的物象、图形或文字符 号为直观语言，除可以标识什么、代替什么之外，还具有表达意义、情感和指 令行动等作用。
第七章 标志设计
7.1.1 标志的特点
功用性
识别性
显著性
多样性
艺术性
准确性
持久性
第七章 标志设计
7.1.2 标志设计的原则 ①标志在企业识别系统的各个要素展开设计中居于重要的地位； ②标志是通过整体的规划与精心设计所产生的造型符号，具有个性独特的造型
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计——案例
7.3 面包店标志设计
第七章 标志设计——案例
案例制作步骤： \Chapter7\7.3 面包店标志设计 素材与源文件
7.4 知识与技能梳理
第七章 标志设计
本章主要对标志设计进行介绍。通过对标志设计的基础知识及标志设计的 案例进行讲解，读者可了解标志的特点、标志的设计原则，以及设计时所需要 运用的工具。通过对实例制作的过程进行分析和讲解，读者会对Photoshop这 款软件有进一步的了解，从而为今后的设计工作打下良好的基础。
第七章 标志设计
重要工具：选择工具、“钢笔工具”、“套索工具”。 核心技术：通过已有的素材，综合利用选择、移动、复制、缩放和排列等工具 或命令，对图形进行合理的排列组合，并将其运用到实际项目当中。 实际运用：标志设计等。
第七章 标志设计——拓展练习：欧式风格标志设计
素材与源文件\Chapter7\7.5 拓展训练——欧式风格标志设计
第七章 标志设计
7.1.1 标志的特点
功用性
识别性
显著性
多样性
艺术性
准确性
持久性
第七章 标志设计
7.1.2 标志设计的原则 ①标志在企业识别系统的各个要素展开设计中居于重要的地位； ②标志是通过整体的规划与精心设计所产生的造型符号，具有个性独特的造型
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计
7.2 标志设计经典案例欣赏
第七章 标志设计——案例
7.3 面包店标志设计
第七章 标志设计——案例
案例制作步骤： \Chapter7\7.3 面包店标志设计 素材与源文件
7.4 知识与技能梳理
第七章 标志设计
本章主要对标志设计进行介绍。通过对标志设计的基础知识及标志设计的 案例进行讲解，读者可了解标志的特点、标志的设计原则，以及设计时所需要 运用的工具。通过对实例制作的过程进行分析和讲解，读者会对Photoshop这 款软件有进一步的了解，从而为今后的设计工作打下良好的基础。
第七章 标志设计
重要工具：选择工具、“钢笔工具”、“套索工具”。 核心技术：通过已有的素材，综合利用选择、移动、复制、缩放和排列等工具 或命令，对图形进行合理的排列组合，并将其运用到实际项目当中。 实际运用：标志设计等。
第七章 标志设计——拓展练习：欧式风格标志设计
素材与源文件\Chapter7\7.5 拓展训练——欧式风格标志设计
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三. 在金属材料方面的应用
一维氧化锌纳米结构的形貌与合成
ZnO纳米线 (PVD法)
一维氧化锌纳米结构的形貌与合成
ZnO纳米棒
J.-J. Wu, S.-C. Liu, Catalyst-Free Growth and Characterization of ZnO Nanorods, J. Phys. Chem. B 2002, 106, 9546-9551.
Account Chem Res., 35(11), 927-935, (2002)
SEM Micrographs of MCM-41 Hollow Sphere
Lin et al, Chem. Mater., 12, 3772 (1998)
Organic mesoporous materials
SEM and microtome TEM micrographs of microparticle MCM-41samples without defect
SEM micrographs of TWT MCM-41 materials
Lin et al, Science, 273, 765. (1996)
样品的表面形貌
SPS烧结的氧化锌陶瓷(550℃ 2 min)
80-120 nm
纳米碳管
纳米碳管阵列的发展
以热蒸镀法制备的 Si量子点的TEM影像
在GaSb基板以自组成法 制成的量子点SEM影像 直径大小约50nm
C/SiC纳米复合纤维 材料 具有优异机械强度及 导电特性
骨骼是天然的纳米复合材料 其中30%为胶原纤维 剩下的70%是纳米级的 磷酸钙晶体
Microphase separation of block copose separation Cross-linked lyotropic liquid crystal (LLC) assemblies Template synthesis
A. S. Zalusky, et al, J. Am. Chem. Soc. 123, 1519 (2001)
电子束稳定性及灯丝寿命（合轴） ①转动透镜旋钮，改变透镜电源时，只有显象管上亮度 变化，而图象不移动，则合轴效果良好。 ②在约5000倍放大倍数条件下，在显象管图象上选一细 节进行聚焦时，如合轴效果好，图象应不移动。如图象 出现较大移动，需对物镜光阑进行合轴。 2.物镜光阑合轴 在1000倍条件下，反复转动物镜聚焦旋钮，使显象管上 交替出现欠焦、过焦图象。同时调节光阑孔径器(xy方向)， 直至图象不移动为止。 再在5000~10000倍条件下重复①的操作。
八、SEM的应用
1. 在高分子方面的应用
聚丙烯腈（ PAN ）纳米纤维的侧面SEM图
Lin Feng et al. Angew. Chem. Int. Ed. 2002, 41(7), 1221
a
b
大 自 然 中 的 现 象
1mm
c
d
10μm e
10μm
f
10μm
200nm
2. 在催化剂方面的应用
3.校正象散与调整聚焦
4.图象拍照
七、SEM用途
几乎可以用在任何试样的表面或断面的研究： (1)观察小至几十纳米大小的微粒； (2)可观察物质的表面或断面形貌、结晶形态、粒度、表面
粗糙度和凹凸情况等；
(3)可观察结晶的表面缺陷、位错和台阶等的方向和种类： (4)弄清结晶的生长轨迹和方向等； (5)一般扫描电镜均配有能谱仪，可以在观察表面形貌的同 时进行选区成分分析；
一维氧化锌纳米结构的湿化学合成
微乳液法合成ZnO纳米棒
直径约为150 nm
L. Guo, Y. L. Ji, H. B. Xu, P. Simon, and Z. Y. Wu, Regularly Shaped, Single-Crystalline ZnO Nanorods with Wurtzite Structure, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 14864-14865.
扫描电子显微镜
Scanning electron microscope (SEM)
一、SEM简单介绍
SEM是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描 成像。 试样为块状或粉末颗粒，成象信号可以是 二次电子（主要的成象信号）、背散射电 子或吸收电子。
二、SEM系统构造图
电子光学系统
扫描系统示意图
电气系统示意图
六、操作步骤
1.发叉式热发射钨阴极电子枪 高压及灯丝加热 一般情况下，接通仪器主电源后，真空抽气系统自动完成各 步抽气程序，约 20 一 30min 之后，镜体达到工作真空 ( ～ 105Torr)，此时观察“OK”指示灯自动点亮。接通高压，根据观 察目的及试样特点，可在几 kv一 30kv之间任选。加热灯丝， 边观察发射电流表指针(或显象管亮度)，边顺时针转动灯丝加 热旋钮，直至稳定地达到某一饱和值后(如120μA)，从0～1２ 0μA再反复调两次。 发射电流选择 与透射电镜相比，扫描电镜所用发射电流较大，一般为 10~150μA。每次更换灯丝时，可通过改变Ｌ调节发射电流量。 改变阳极与韦氏极间距Ｌ，如减小Ｌ，提高加速电压，可显 著增加发射电流。
三、SEM的工作原理
二次电子检测原理图
背散射电子成像原理图
五、SEM的特点
可观察直径为10~30mm的大试样，试样制作简单。 适用于粗糙表面和断口的分析观察；图象有立体感、 真实感、易识别和解释。 放大倍数变化范围大（15~200000倍），对多相、 多组成材料便于观察分析。 有相当的分辨率，一般3~6nm，最高2nm。 可通过电子学方法有效控制和改善图象的质量。 可以进行多功能的分析。 可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验。