介电常数和介质损耗角正切
介电常数和损耗角正切的关系
介电常数和损耗角正切的关系介电常数和损耗角正切是电磁学中两个重要的物理量,它们之间存在一定的关系。
本文将对介电常数和损耗角正切的概念进行解释,并探讨它们之间的关系。
介电常数是一个衡量物质对电场响应的物理量。
它定义为物质中电场强度与电位移之比。
介电常数越大,说明物质对电场的响应越强,即物质在电场中的极化程度越高。
常见的介电常数有真空的介电常数ε0和其他物质的相对介电常数εr。
损耗角正切是衡量介质对电磁波的吸收和能量损耗能力的物理量。
它是介质中电场的相位差与介质中电场的衰减之比。
损耗角正切越大,说明介质对电磁波的吸收和能量损耗能力越强。
介电常数和损耗角正切之间的关系可以通过介电常数复数形式来描述。
介电常数可以分为实部和虚部,分别表示介质的极化能力和能量损耗能力。
虚部越大,说明介质对电磁波的吸收能力越强,即损耗角正切越大。
在介质中,电磁波的传播速度取决于介质的介电常数。
当电磁波通过介质时,会与介质中的分子或原子相互作用,导致电磁波的能量损耗。
这种能量损耗会引起电磁波的相位差,进而导致损耗角正切的增加。
需要注意的是,介电常数和损耗角正切并不是相互独立的物理量。
介质的极化程度越高,介质对电磁波的吸收能力越强,损耗角正切也越大。
因此,介质的介电常数和损耗角正切之间存在一定的正相关关系。
在实际应用中,我们经常需要了解介质的介电常数和损耗角正切的数值。
通过测量和实验,可以得到不同介质的介电常数和损耗角正切。
这些数据对于电磁场的分析和设计具有重要的意义。
介电常数和损耗角正切是电磁学中两个重要的物理量,它们描述了介质对电场的响应和能量损耗能力。
介质的介电常数和损耗角正切之间存在一定的关系,通过测量和实验可以得到它们的数值。
对于电磁场的分析和设计,这些数据具有重要的应用价值。
电介质材料的介电常数和损耗的频率特性
〈一〉实验目的 〈二〉实验仪器 〈三〉实验原理 〈四〉操作步骤 〈五〉数据处理
〈一〉实验目的
1.熟练掌握MODEL TH2816型宽频LCR数字电桥的使用;
2.测量几种介质材料的介电常数 和介质损耗角正切 (tan)与频率的关系,从而了解它们的 、tan 的频
原因,并分析产生误差的可能性; 4. 比较不同偏压下的ε , tg δ与频率关系曲线的异同,
并分析原因。
知识回顾 Knowledge Review
放映结束 感谢各位的批评指导!
谢 谢!
让我们共同进步
介电损耗值,即 tan /, 又称介质损耗因数。δ是电 介质的电位移D由于极化弛豫而落后电场E的一个相位角。 由于介质的各种极化机构在不同的频率范围有不同的响应和
不同频率下产生不同的电导率,所以介质的介电常数和介电
损耗都是随频率的变化而变化。如不考虑边缘效应,平板试
样的电容量可用下式表示:
(5)选择不同的测量频率,测出不同频率下的电容C和损 耗tg δ的值。(可设置的频率范围为:20 Hz — 150 kHz)
(6)再分别将内偏调到5V, 10V重复测量。
〈五〉数据处理
1. 由测量数据,进行转换:C→ε'; 2. 用origin软件绘图,绘出 ε'~ f和 tg δ ~ f关系曲线; 3. 对所得曲线进行分析:分析,tan与频率变化的
电介质的介电损耗一般用损耗角正切tan 表示,并定义
为: 介质损耗的功率(即有功功率)
tan
无功功率
。在直流电场下,电介质内只有
泄漏电流所产生的电导损耗;但在交变电场中,除电导损耗
外还存在着各种形式的极化所产生的损耗,即松弛极化损耗。
介质损耗正切角tanδ
介质损耗正切角tanδ
介质损耗正切角tanδ是指介质在交流电场作用下的能量损耗,是介质的一项重要物理参数。
在电气工程、电子工程、通信工程等领域中,tanδ是评价材料电性能的重要指标之一。
介质损耗正切角tanδ与材料的电阻率、介电常数、介电损耗因子等密切相关。
介质的导电性和介电性都会影响tanδ的大小。
在电子元器件中,材料的tanδ值越小,元器件的性能越好,损耗也越小。
因此,控制和降低介质的tanδ值是提高电子元器件性能的关键之一。
介质损耗正切角tanδ与介质的分子结构、杂质、分子运动等因素有关。
在高频电场下,分子之间的相互作用会导致介质内部的分子运动,进而产生能量损耗。
此外,杂质和缺陷也会影响介质的tanδ值。
因此,通过改变材料的分子结构、纯度和形态等因素,可以调控介质的tanδ值。
在通信工程中,介质损耗正切角tanδ也是一项重要的参考指标。
在信号传输过程中,介质会吸收部分能量,导致信号衰减。
通过对不同材料的tanδ值进行比较,可以选择合适的介质材料,提高信号传输的质量和效率。
介质损耗正切角tanδ是一项重要的物理参数,在电气工程、电子工程、通信工程等领域都有广泛的应用。
通过控制和调控介质的
tanδ值,可以提高电子元器件的性能和信号传输的质量,具有重要的实际应用价值。
介质损耗因数 介电损耗角正切
介质损耗因数与介电损耗角正切一、引言在电介质物理学和电气工程领域,介质损耗因数和介电损耗角正切是两个关键的参数,用于描述电介质在交流电场下的电气性能。
介质损耗因数用于衡量电介质在交流电场作用下的能量损耗程度,而介电损耗角正切则反映了能量的损耗与存储之间的平衡关系。
这两个参数在评估电介质材料性能、优化电气设备和改善电力传输效率等方面具有重要意义。
本文将详细介绍介质损耗因数和介电损耗角正切的基本概念、测量方法及其在实践中的应用。
二、介质损耗因数介质损耗因数,也称为介质损失角正切,是用于描述电介质在交流电场下能量损耗程度的参数。
该参数是通过比较电介质中能量损耗与无损理想介质的能量损耗得到的。
在交流电场作用下,电介质内部的束缚电荷将被迫移动,并在电场反复变化时与自由电荷相互碰撞,导致能量的损失。
这种能量损耗表现为介质中的热能生成。
介质损耗因数越小,说明电介质在交流电场下的能量损耗越低,其电气性能越好。
三、介电损耗角正切介电损耗角正切是用来描述电介质在交流电场下能量损耗与存储之间平衡关系的参数。
它定义为介质电导率与介质电容率之比的反正切,即:tanδ= δ′/δ″。
其中,δ′和δ″分别为电介质的实部和虚部。
介电损耗角正切反映了电介质在交流电场下能量转换为热能、光能等其他形式的能量的程度。
在实际应用中,介电损耗角正切的测量对于评估绝缘材料性能、预防电气设备过热等方面具有重要意义。
四、介质损耗因数和介电损耗角正切的关系介质损耗因数和介电损耗角正切之间存在密切的关系。
在理想情况下,当电介质没有能量损失时,其介电常数为实数,不存在虚部,因此tanδ= 0。
然而,在实际的电介质材料中,由于能量的损失,介电常数存在虚部,因此tanδ≠0。
介质损耗因数和介电损耗角正切之间的这种关系反映了电介质在交流电场下能量转换的平衡状态。
五、实验测量与应用实验测量是获取介质损耗因数和介电损耗角正切的关键手段。
常用的测量方法包括西林电桥法、变频变压器法和Q表法等。
rf4基材资料[指南]
、我们常用的PCB介质是FR4材料的,相对空气的介电常数是4.2-4.7。
这个介电常数是会随温度变化的,在0-70度的温度范围内,其最大变化范围可以达到20%。
介电常数的变化会导致线路延时10%的变化,温度越高,介电常数越大,延时也越大。
介电常数还会随信号频率变化,频率越高介电常数越小。
100M以下可以用4.5计算板间电容以及延时。
2、一般的FR4材料的PCB板中内层信号的传输速度为180ps/inch(1inch=1000mil=2.54cm)。
表层一般要视情况而定,一般介于140与170之间。
3、实际的电容可以简单等效为L、R、C串联,电容有一个谐振点,在高频时(超过这个谐振点)会呈现感性,电容的容值和工艺不同则这个谐振点不同,而且不同厂家生产的也会有很大差异。
这个谐振点主要取决于等效串联电感。
现在的比如一个100nF的贴片电容等效串联电感大概在0.5nH左右,ESR(等效串联电阻)值为0.1欧,那么在24M左右时滤波效果最好,对交流阻抗为0.1欧。
而一个1nF的贴片电容等效电感也为0.5nH(不同容值差异不太大),ESR为0.01欧,会在200M左右有最好的滤波效果。
为达好较好的滤波效果,我们使用不同容值的电容搭配组合。
但是,由于等效串联电感与电容的作用,会在24M与200M之间有一个谐振点,在这个谐振点上有最大阻抗,比单个电容的阻抗还要大。
这是我们不希望得到的结果。
(在24M到200M这一段,小电容呈容性,大电容已经呈感性。
两个电容并联已经相当于LC并联。
两个电容的E SR值之和为这个LC回路的串阻。
LC并联的话如果串阻为0,那么在谐振点上会有一个无穷大的阻抗,在这个点上有最差的滤波效果。
这个串阻反倒会抑制这种并联谐振现象,从而降低LC谐振器在谐振点的阻抗)。
为减轻这个影响,可以酌情使用ESR大些的电容。
ESR相当于谐振网络里的串阻,可以降低Q值,从而使频率特性平坦一些。
增大ESR会使整体阻抗趋于一致。
介电常数和介质损
不允许的。因而试验时,电极和样品系统放在一个密封罩内进行.
介电常数和介质损耗角正切
介电常数和介质损耗角正切
在电场作用下,能产生极化的一切物质又被称之为电介质。电介 质在电子工业中用来做集成电路的基板、电容器等。如果将一块 电介质放入一平行电场中,则可发现在介质表面感应出了电荷, 即正极板附近的电介质感应出了负电荷,负极板附近的介质表面 感应出正电荷。这种电介质在电场作用下产生感生电荷的现象, 称之为电介质的极化。 感应电荷产生的原因在于介质内部质点 (原子、分子、离子)在电场作用下正负电荷重心的分离,变成了偶 极子。不同的偶极子有不同的电偶极矩,电偶极矩的方向与外电 场方向一致。
高分子材料的ε由主链结构中的键的性能和排列所决定。
• 分子结构极性越强, ε和tg越大. 非极性材料的极化程度小,ε和tg都较小.
• 极性取代基团影响更大,其数目越多, ε和tg越大
介电性的应用
tg 大,损耗大,材料发热。 • 电容介质 大,tg 小
作绝缘材料或电容器材料的高聚物,介电损耗越小越好
• 试样发生以下两种情况之一视为破坏: (1)试样表面两电极间的导电通路电流达0.5A以上,且过流继电 器延时2s发生动作; (2)虽过流继电器未发生动作,但试样燃烧了
影响因素
(1)试样表面状态 表面应清洁,无灰尘、脏物、指印、油脂、脱模剂或
其他影响结果的污物。表面污染极易使电极间的试样产生漏痕,因此试
验前应对试样表面进行清洁处理。
(2)试验点间距选择 如果在同一片试样上做多点试验,则应注意试验点之
间要有足够的距离。该间距的大小应选在前一次试验后飞溅出的污物所
污染的部分以外,否则使结果发生偏差。
(3)环境条件的影响
除保持温度在23±1℃条件下试验外,还应注意周
介电材料的性质及应用
介电材料的性质及应用介电材料是电子学领域中非常重要的一类材料,具有一些独特的物理和化学性质,因此在多个领域得到了广泛的应用。
本文将介绍介电材料的性质及其应用。
一、介电材料的定义及分类介电材料也叫绝缘体,是指在电场作用下,在其内部不会通过电流的半导体材料。
它们属于非金属材料,具有高电阻、低导电率、不导电和电介质性质。
根据Dielectric Constant的数值大小,介电材料可以分为高介电常数介电材料和低介电常数介电材料。
通常来说,介电常数大于10的材料属于高介电常数介电材料,介电常数小于10的材料属于低介电常数介电材料。
二、介电材料的性质介电材料的性质是其被应用的重要因素,以下是一些重要的介电性质。
1. 介电常数介电常数是介电材料最重要的性质之一,定义为在介电材料中测量两个金属电极间的电容时,在真空电容下测得的电容与介电材料电容之比。
介电常数较高的介电材料可以在电容器中存储更多的电荷,具有更大的储能能力。
2. 损耗角正切介电材料的损耗角正切(TAN)是指材料中电流与电场之间的相位差。
通常来说,TAN越小,说明介电材料越适合高频应用,因为它的信号传输衰减更小。
3. 介电强度介电强度是介电材料所能承受的最大电压,超过这个电压材料会失去绝缘能力而烧毁。
介电强度越大,材料的耐压能力更强。
4. 抗弯曲和力学强度某些介电材料需要具有非常高的机械强度以便应对各种形式的机械应力。
这个性质通常被称为抗弯曲和力学强度。
三、介电材料的应用介电材料被广泛应用于电子学、电力学和通讯学等领域。
1. 电容器电容器是电子器件中广泛使用的元器件之一,介电材料在其中的应用非常重要。
介电常数高的介电材料可以在电容器中存储更多电荷,提高储能能力,因此,介电常数大的介电材料通常用作高容量电容器。
2. 电缆在现代电信和信息技术应用中,信号的传输质量对网络性能有很大影响。
使用低损耗的介电材料可以尽量减少信号传输信号弱化。
一些低损耗介电材料,如聚四氟乙烯(PTFE)和聚酰亚胺(PI),被广泛应用于微波传输和通信电缆中。
常用绝缘材料的电性能
常用绝缘材料的电性能1.介电常数介电常数是绝缘材料表征其存储能力的重要参数。
它是绝缘材料中电场与介质中本身极化所产生的电场之比。
介质的介电常数一般大于真空介电常数1,在绝缘应用中,常用绝缘材料的介电常数通常在2到15之间。
较高的介电常数意味着绝缘材料可以存储更多的电荷,具有较高的电容性能。
在常用绝缘材料中,空气的介电常数接近于真空的介电常数,约为1、聚乙烯的介电常数约为2.2,聚氯乙烯的介电常数约为3,聚酰亚胺的介电常数约为3.4,云母的介电常数约为6-7,而玻璃的介电常数较高,通常达到9-112.介质损耗角正切介质损耗角正切是绝缘材料中电能转换为热能损耗的参数。
它与介质的损耗性能密切相关。
较低的损耗角正切表示绝缘材料更能有效地存储电能而不产生大量的热能损耗。
在常用绝缘材料中,空气和聚乙烯的损耗角正切非常低,常常小于0.0001、而聚氯乙烯的损耗角正切较高,一般在0.01左右。
聚酰亚胺的损耗角正切约为0.006,云母的损耗角正切为0.002-0.007,玻璃的损耗角正切在0.001-0.01范围内。
3.绝缘电阻绝缘电阻是衡量绝缘材料导电性能的参数。
它表示绝缘材料对电流的阻碍能力,越高则表示绝缘材料的导电性能越差。
常见绝缘材料的绝缘电阻在不同条件下可能有所不同。
例如,在标准温度和湿度条件下,聚氯乙烯的绝缘电阻通常在10^12 Ω·cm以上,聚酰亚胺的绝缘电阻可达10^14 Ω·cm,而云母的绝缘电阻通常在10^12-10^15 Ω·cm范围内。
4.耐电压耐电压是指绝缘材料能够承受的最大电压,它衡量了绝缘材料对电压的耐受能力。
高耐电压意味着绝缘材料能在高电场强度下仍能保持绝缘状态。
综上所述,介电常数、介质损耗角正切、绝缘电阻和耐电压是常用绝缘材料的主要电性能指标。
不同绝缘材料在这些指标上存在差异,需根据具体应用需求选择合适的材料。
绝缘材料的电气性能
绝缘材料的电气性能绝缘材料的电气性能主要表现在电场作用下材料的导电性能、介电性能及绝缘强度。
它们分别以绝缘电阻率ρ(或电导γ)、相对介电常数εr、介质损耗角tanδ及击穿强度EB四个参数来表示。
(1)绝缘电阻率和绝缘电阻任何电介质都不行能是肯定的绝缘体,总存在一些带电质点,主要为本征离子和杂质离子。
在电场的作用下,它们可作有方向的运动,形成漏导电流,通常又称为泄漏电流。
电阻支路的电流Ii即为漏导电流;流经电容和电阻串联支路的电流Ia称为汲取电流,是由缓慢极化和离子体积电荷形成的电流;电容支路的电流IC称为充电电流,是由几何电容等效应构成的电流。
①在正常工作时(稳态),漏导电流打算了绝缘材料的导电性,因此,漏导支路的电阻越大,说明材料的绝缘性能越好。
②温度、湿度、杂质含量、电磁场强度的增加都会降低电介质材料的电阻率。
(2)介电常数介电常数是表明电介质极化特征的性能参数。
介电常数愈大,电介质极化力量愈强,产生的束缚电荷就愈多。
束缚电荷也产生电场,且该电场总是减弱外电场的。
现用电容器来说明介电常数的物理意义。
设电容器极板间为真空时,其电容量为Co,而当极板间布满某种电介质时,其电容量变为C,则C与Co的比值即该电介质的相对介电常数,即:在填充电介质以后,由于电介质的极化,使靠近电介质表面处消失了束缚电荷,与其对应,在极板上的自由电荷也相应增加,即填充电介质之后,极板上容纳了更多的自由电荷,说明电容被增大。
因此,可以看出,相对介电常数总是大于1的。
绝缘材料的介电常数受电源频率、温度、湿度等因素而产生变化。
频率增加,介电常数减小。
温度增加,介电常数增大;但当温度超过某一限度后,由于热运动加剧,极化反而困难一些,介电常数减小。
湿度增加,电介质的介电常数明显增加,因此,通过测量介电常数,能够推断电介质受潮程度。
大气压力对气体材料的介电常数有明显影响,压力增大,密度就增大,相对介电增大。
(3)介质损耗在沟通电压作用下,电介质中的部分电能不行逆地转变成热能,这部分能量叫做介质损耗。
介电常数与损耗角正切间的关系
介电常数与耗散因数间的关系介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。
介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数。
其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。
介电常数愈小绝缘性愈好。
如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。
介电常数还用来表示介质的极化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的极化现象的强弱。
气体电介质的极化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关有些物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。
通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。
例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。
介质损耗是指置于交流电场中的介质,以内部发热的形式表现出来的能量损耗。
介质损耗角是指对介质施加交流电压时,介质内部流过的电流相量与电压向量之间的夹角的余角。
介质损耗角正切是对电介质施加正弦波电压时,外施电压与相同频率的电流之间相角的余角δ的正切值--tgδ. 其物理意义是:每个周期内介质损耗的能量//每个周期内介质存储的能量。
介电损耗角正切常用来表征介质的介电损耗。
介电损耗是指电介质在交变电场中,由于消耗部分电能而使电介质本身发热的现象。
原因是电介质中含有能导电的载流子,在外加电场作用下,产生导电电流,消耗掉一部分电能,转为热能。
任何电介质在电场作用下都有能量损耗,包括由电导引起的损耗和由某些极化过程引起的损耗。
用tgδ作为综合反应介质损耗特性优劣的指标,其是一个仅仅取决于材料本身的损耗特征而与其他因素无关的物理量,tgδ的增大意味着介质绝缘性能变差,实践中通常通过测量tgδ来判断设备绝缘性能的好坏。
电介质材料的介电常数及损耗的温度特性
式如下:
r
dC 14.4100D2
— 其所用单位d ——米, C pF , D ——米。
〈四〉操作步骤
(1)在LCR数字电桥的控制面板上选择合适的内容;
(2)使用按键[显示A]、[显示B]在LCR上选择测试参数;如果 需要测量的是电容C和损耗tan,则不需要另外选择。等 待仪器稳定20 分钟后,对仪器进行清 “0”;
〈五〉数据处理
1. 由测量数据,进行转换:C→ε';ห้องสมุดไป่ตู้
2. 用origin软件绘图,绘出 ε‘~ T和 tg δ ~ T关系曲
线; 3. 对所得曲线进行分析:分析,tan随T变化的原
因,并分析产生误差的可能性;
(3)将被测圆形陶瓷片接在电炉子中的测试夹具上,并将样品 由测试架引出的两极接入LCR数字电桥。接通电源,电桥 开始自检。自检结束后,面板显示其值;
(4)选择合适的等效方式;
(5)对样品升温(实验温区:室温 ~ 250 ℃)。温度相对恒定 后,依据具体情况记录电容C和损耗tg δ的值:
如果温度的变化比较大,则可以每间隔 1 ℃ 记录一次电容 C和损耗tg δ的值,如果温度变化不大,可以每间隔 2 ℃ 甚至是 3℃ 记录一次。
电介质材料的介电常数及损耗 的温度特性
〈一〉实验目的 〈二〉实验仪器 〈三〉实验原理 〈四〉操作步骤 〈五〉数据处理
〈一〉实验目的
1.熟练掌握MODEL TH2816型宽频LCR数字电桥的使用;
2.测量几种介质材料的介电常数 和介质损耗角正切 (tan)与温度的关系,从而了解它们的 、tan 的温
如不考虑边缘效应,平板试样的电容量可用下式表示:
C 0rs (F)
d
式中 s —— 电极的面积,米2;d —— 介质的厚度,米;εr— — 介质材料的相对介电常数。
介电常数和介质损耗角正切
材料极化
四、介电常数和介质损耗角正切
基本概念: 基本概念:
• 介电常数:以绝缘材料为介质与以真空为介质制成同尺寸电 介电常数: 容器的电容量之比值。 容器的电容量之比值。 表示在单位电场中,单位体积内积蓄的静电能量的大小。 表示在单位电场中,单位体积内积蓄的静电能量的大小。 是表征电介质极化并储存电荷的能力,是个宏观物理量。 是表征电介质极化并储存电荷的能力,是个宏观物理量。 • 介质损耗 置于交流电场中的介质,以内部发热(温度升高) 置于交流电场中的介质,以内部发热(温度升高) 形式表现出来的能量损耗。 形式表现出来的能量损耗。
相比漏电起痕指数测定
相比漏电起痕指数测定
相比漏电起痕指数测定
• 试样应水平放置在支撑板上,按图将电极装好,并施加1N的 试样应水平放置在支撑板上,按图将电极装好,并施加1N的 1N 压力,用量规检查两电极间的距离为4.0土0.1mm。先对两电极 压力,用量规检查两电极间的距离为4.0土0.1mm。 4.0 25v倍数的适当电压 调整可变电阻,使电极短路电流为1.0 倍数的适当电压, 1.0+ 加25v倍数的适当电压,调整可变电阻,使电极短路电流为1.0+0.1 在两电极供电下, 30+5s的时间间隔下将电解液液滴滴入 A。在两电极供电下,以30+5s的时间间隔下将电解液液滴滴入 两电极间的试样上,直到试样发生破坏或滴下50滴为止。 50滴为止 两电极间的试样上,直到试样发生破坏或滴下50滴为止。 • 试样发生以下两种情况之一视为破坏: 试样发生以下两种情况之一视为破坏: (1)试样表面两电极间的导电通路电流达0.5A以上 试样表面两电极间的导电通路电流达0.5A以上, (1)试样表面两电极间的导电通路电流达0.5A以上,且过流继电 器延时2s发生动作; 2s发生动作 器延时2s发生动作; (2)虽过流继电器未发生动作 虽过流继电器未发生动作, (2)虽过流继电器未发生动作,但试样燃烧了
介电常数和介电损耗测量 2
介电常数和介电损耗测量一.背景介电特性是电介质材料极其重要的性质。
在实际应用中,电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。
例如,制造电容器的材料要求介电系数尽量大,而介质损耗尽量小。
相反地,制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。
而在某些特殊情况下,则要求材料的介质损耗较大。
所以,通过测定介电常数及介质损耗角正切(tg),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。
按照物质电结构的观点,任何物质都是由不同的电荷构成,而在电介质中存在原子、分子和离子等。
当固体电介质置于电场中后会显示出一定的极性,这个过程称为极化。
对不同的材料、温度和频率,各种极化过程的影响不同。
在绝缘技术中,特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时,都需要考虑电介质的介电常数。
此外,由于介电常数取决于极化,而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。
所以,通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究,还可以推断绝缘材料的分子结构。
二.基本原理电子材料与元件的电学性能参数的测量是一项基本而重要的工作。
这些电学参数包括不同频率、不同温度下的电阻、电容、阻抗、介电常数、损耗角正切值等特性测量。
全面而准确地掌握这些特性,对分析、改进电子材料与元件的性能十分重要。
数字式LCR 测量仪(数字电桥)是随着数字测量技术发展而出现的新型智能化材料和元件参数测量仪器,具有使用简便、效率高、测量精度高等优点,在电子材料与元件特性参数测量和研究中获得了极其广泛的应用。
数字式LCR 测量仪以微处理器为核心、通过采集给定激励下被测样品和标准元件的电压、电流信号并按照—定的数学模型进行被测样品的参数计算。
数字式LCR 测量仪测量原理以阻抗参数的数字化测量为基础,典型测量方法为矢量电流—电压法。
测量电路原理如图1 所示,其中R s 为标准电阻值,Z x 为待测样品的阻抗。
图 1 测量电路原理图2 数字式LCR 测量仪原理框图阻抗参数的测量可首先转化为电压测量及电压分量的计算,最终可得到复阻抗的电阻参数和电抗参数,并可间接计算其他参数,如损耗参数、不同等效模式下的阻抗参数等。
电介质材料的介电常数及损耗的频率特性
原因,并分析产生误差的可能性; 4. 比较不同偏压下的ε , tg δ与频率关系曲线的异同,
率特性。
〈二〉实验仪器
TH2816型宽频LCR数字电桥、样品
〈三〉实验原理
介电常数,又称电容率,是电位移D与电场强度E之比 = D/E ,其单位为F/m ,真空的介电常数 F/m ,而相对介电 常数为同一尺寸的电容器中充入电介质时的电容和不充入电 介质时真空下的电容之比。介电常数小的电介质,其分子为 非极性或弱极性结构,介电常数大的电介质,其分子为极性 或强极性结构。在交变电场作用下,电介质的介电常数为复 数,复介电常数的实部与上述介电常数的意义是一致的,而 虚部表示损耗。介质的介电损耗是指由于导电或交变电场中 极化弛豫过程在电介质中引起的功率损耗。这一功率损耗是 通过热耗散把电场的电能消耗掉的结果。
(3)将被测圆形陶瓷片接在测试夹具上,并将样品由测试 架引出的两极接入LCR数字电桥。
(4)选择合适的等效方式:按“等效”键即可选择串、并 联或自动等效方式(即将被测器件看作是串联或并联的 等效方式),当选择“自动”时,仪器将自动选择。
(5)选择不同的测量频率,测出不同频率下的电容C和损 耗tg δ的值。(可设置的频率范围为:20 Hz — 150 kHz)
d
(1)
式中 s —— 电极的面积,米2;d —— 介质的厚度,米;εr— — 介质材料的相对介电常数。
将ε0的值代入(1)式,得到:
C100rs (pF) 3.6d
由此得
r
3.6dC
100s
电滞回线参数物理意义
电滞回线参数物理意义
电滞回线参数是描述电介质材料性质的重要参数,它包括介电常数、介质损耗角正切、极化强度和压电系数等。
这些参数都具有一定的物理意义。
介电常数是电介质材料的电极化程度的量度,它反映了材料对电场的响应能力。
介质损耗角正切则反映了材料中能量的损耗程度,通常用来描述材料的耗散性能。
极化强度是材料被极化的最大电场强度,它反映了材料的极化能力。
压电系数则是描述材料在机械应力下的电极化程度的量度,它反映了材料的机电耦合性能。
这些电滞回线参数的物理意义对于在电子工程、通信工程、材料科学等领域中设计和优化电器元件以及开发新型电介质材料具有重
要意义。
- 1 -。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
其它电性能指标
• 相比漏电起痕指数(CTI) 材料表面能经受住50滴电解液而没有形成漏电痕迹的最高 电压值,以伏(v)为单位。 • 耐漏电起痕指数(PTI) 材料表面能经受住50滴电解液而没有形成漏电痕迹的耐电 压值,以伏(v)为单位。
相比漏电起痕指数测定
相比漏电起痕指数测定
相比漏电起痕指数测定
介电常数和介质损耗角正切
介电常数和介质损耗角正切
在电场作用下,能产生极化的一切物质又被称之为电介质。 电介质在电子工业中用来做集成电路的基板、电容器等。如果将 一块电介质放入一平行电场中,则可发现在介质表面感应出了电 荷,即正极板附近的电介质感应出了负电荷,负极板附近的介质 表面感应出正电荷。这种电介质在电场作用下产生感生电荷的现 象,称之为电介质的极化。 感应电荷产生的原因在于介质内部 质点(原子、分子、离子)在电场作用下正负电荷重心的分离,变 成了偶极子。不同的偶极子有不同的电偶极矩,电偶极矩的方向 与外电场方向一致。
材料极化
四、介电常数和介质损耗角正切
基本概念:
• 介电常数:以绝缘材料为介质与以真空为介质制成同尺寸电 容器的电容量之比值。 表示在单位电场中,单位体积内积蓄的静电能量的大小。 是表征电介质极化并储存电荷的能力,是个宏观物理量。 • 介质损耗 置于交流电场中的介质,以内部发热(温度升高) 形式表现出来的能量损耗。
基本概念:
• 介质损耗角 对电介质施加交流电压,介质内部流过的电流 相量与电压相量之间的夹角的余角。 • 介质损耗角正切 对电介质施以正弦波电压,外施电压与相 同频率的电流之间相角的余角δ的正切值--tgδ. 其物理意义是:
一些材料的ε 数值:
石英 — 3.8;绝缘陶瓷 — 6.0; 耐热玻璃 3.8 — 3.9; 纸 — 70 PE — 2.3; PVC — 3.8 有机玻璃 — 2.63 高分子材料的ε 由主链结构中的键的性能和排列所决定。 • 分子结构极性越强, ε 和tg越大. 非极性材料的极化程度小,ε 和tg都较小. • 极性取代基团影响更大,其数目越多, ε 和tg越大
影响因素
(1)试样表面状态 表面应清洁,无灰尘、脏物、指印、油脂、脱模剂或 其他影响结果的污物。表面污染极易使电极间的试样产生漏痕,因此 试验前应对试样表面进行清洁处理。 (2)试验点间距选择 如果在同一片试样上做多点试验,则应注意试验点 之间要有足够的距离。该间距的大小应选在前一次试验后飞溅出的污 物所污染的部分以外,否则使结果发生偏差。 (3)环境条件的影响 除保持温度在23±1℃条件下试验外,还应注意 周围的空气尽量不要流动。空气的流动导致液滴落点的偏离,这是试 验所不允许的。因而试验时,电极和样品系统放在一个密封发热。 • 电容介质 大,tg 小
作绝缘材料或电容器材料的高聚物,介电损耗越小越好
•
•
航空航天材料 小,tg 大,静电小 高频焊接:薄膜封口,tg 大
需要通过高频加热进行干燥,模塑或对塑料进行高频焊接时,要求 高聚物的介电损耗越大越好.
•
高频电缆—用PE(非极性)而不用PVC (极性)
(1)湿度
(2) 温度
影响因素
(3)测试电压
板状试样:电压2KV影响不大,过高则增加附加损耗. 薄膜:电压低于500V.过大使tgδ明显增加. (4) 测试用接触电极 高频下,电极的附加损耗变大,因而电极材料本身的电阻一定要小.
高聚物的介电性能
高聚物 ρv体积电阻率 (.m) 击穿强度 (MV/m) 介电常数 (60Hz) 介电损耗角正 切值 (60Hz)
聚乙烯 (高密度) 聚丙烯 聚苯乙烯 聚氯乙烯 尼龙6 尼龙66 涤纶 聚甲醛 聚碳酸酯 聚四氟乙烯 聚砜 丁苯橡胶
1014 >1014 1014 1012-1015 1012-1015 1012 1012-1016 1012 1014 1016 1014 1013
26-28 30 24 15-25 22 15-19 18-6 17-22 25-40 16-20 20
影响因素
材料的极性越强受湿度的影响越明显。 主要原因是高湿的作用,使水分子扩散到高分子的分 子间,使其极性增加;同时,潮湿的空气作用于塑料表 面,几乎是在几分钟内就使介质表面形成一个水膜层,它 具有离子性质,增加表面电导. 因此,材料的介电常数和 介质损耗角正切tgδ都随之增加. 试样的状态调节和测试都应在标准环境.
2.2-2.4(1016Hz) 2.0-2.6(1016Hz) 2.5(1016Hz) 3.2-3.6(1016Hz) 4.1 4.0 3.4 3.7 3.0 2.0-2.2 2.9-3.1 2.2
<0. 05 0. 001 <0. 005 0.040.08(1016Hz) 0. 01 0. 014 0.021 0.005 0.006 0. 0002 0.01-0.006 0.004
• 试样应水平放置在支撑板上,按图将电极装好,并施加1N的 压力,用量规检查两电极间的距离为4.0土0.1mm。先对两电极 加25v倍数的适当电压,调整可变电阻,使电极短路电流为1.0+0.1 A。在两电极供电下,以30+5s的时间间隔下将电解液液滴滴入 两电极间的试样上,直到试样发生破坏或滴下50滴为止。 • 试样发生以下两种情况之一视为破坏: (1)试样表面两电极间的导电通路电流达0.5A以上,且过流继电 器延时2s发生动作; (2)虽过流继电器未发生动作,但试样燃烧了