射线衍射仪原理及应用技术
X射线衍射仪原理与应用
Rietveld解析 通过X射线衍射谱图 点阵参数，结构含量，原子位置 的精密化
日本理学公司18KWX射线衍射仪
应用领域：
多功能测试装置
板材金属集合组 织评价，陶瓷、 大分子化合物取 向，薄膜晶体优 先方位评价，金 属陶瓷材料残余 应力测试，金属 氧化、氮化、表 面各种镀层表面 结构分析研究。
1、粉末衍射 2、极图衍射（反射法，透射法）
从x射线衍射散射可以得到下列信息衍射图形的特征相关信息衍射峰的位置强度定性分析衍射峰的宽度晶粒大小結晶的完整性原子晶格的配列原子的熱振動衍射峰强度与样品方向的关系結晶方位的偏差集合組織衍射峰角度与样品方向的变化残留应力測定非晶質图谱非晶質图谱的強度分布径向分布函数非晶的结构解析周期性峰的位置周期構造的周期方向性配向性展宽情况完全性直射峰的展宽強度分布颗粒尺寸分布分析x射线衍射的原理bragg的衍射条件2dsinx射线衍射图谱角度气体液体多晶的x射线衍射峰位置晶面間距d定性分析点阵参数d的变化残余应力固溶体的分析晶粒大小晶粒畸变角度2衍射峰的有無結晶态与非晶态的判定样品方向与強度変化配向集合組织纤维组织非晶态积分強度結晶态积分強度定量分析x射线衍射数据解析角度347682030296100283952548931icdd与数据库比较检索与衍射图谱一致的物质峰显示角度精密測量晶胞参数強度精密測量结构含量峰型精密測量結晶尺寸与畸变rietveld解析通过x射线衍射谱图点阵参数结构含量原子位臵的精密化多功能测试装臵1粉末衍射2极图衍射反射法透射法3应力测试并倾法侧倾法4薄膜测试样品面内旋转5定量测试样品面内旋转应用领域
样品：C20H32CUF6N4O8SI 样品尺寸：0.40X0.30X0.30mm 分子量：662.12 空间群：P4/mmm X射线源：MO靶 波长：0.71069
x射线衍射仪 工作原理
X射线衍射仪的工作原理是基于晶体对X射线的衍射效应。
当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线产生散射。
由于晶体内部原子面之间的间距与X射线的波长相近，这些散射波会互相干涉，从而产生衍射效应。
在X射线衍射仪中，当X射线照射到试样上时，试样会产生衍射效应。
衍射光束被辐射探测器接收，并经测量电路放大处理后，在显示或记录装置上给出精确的衍射峰位置、强度和线形等衍射信息。
这些衍射信息可作为分析各种应用问题的原始数据。
X射线衍射仪的基本组成包括：X射线发生器、衍射测角仪、辐射探测器、测量电路和控制操作、运行软件的电子计算机系统。
通过这些组件的协同工作，X射线衍射仪能够实现对试样的衍射分析，从而获得试样的晶体结构、晶格常数等信息。
以上信息仅供参考，如有需要，建议您咨询专业技术人员。
X射线衍射仪的原理与应用
X射线衍射仪的原理与应用X射线衍射仪是一种重要的科学仪器，广泛应用于材料科学、生命科学和物理学等领域。
它通过射入样品的X射线，利用衍射现象来研究物质结构，为科学研究和工程应用提供了重要的手段。
本文将介绍X射线衍射仪的原理，以及其在材料科学和生命科学中的应用。
一、X射线衍射仪的原理X射线衍射仪的基本原理是利用物质中的晶格结构对入射X射线发生衍射。
当X射线通过物质时，部分X射线会与物质中的原子核和电子云相互作用，形成散射波。
这些散射波相互干涉，形成衍射图样。
根据衍射图样的特征，可以得到物质的晶格结构和晶体学信息。
X射线衍射的原理基于布拉格方程，即nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶格常数，θ为入射角。
根据布拉格方程，可以通过测量衍射角θ和入射X射线波长λ的数值，在一定的条件下确定物质的晶格常数。
二、X射线衍射仪的应用1. 材料科学领域X射线衍射仪在材料科学领域有广泛的应用。
首先，它可以用于材料的结构分析。
通过测量物质的衍射图样，可以确定物质的晶体结构、晶格常数和晶面取向等信息。
这对于材料的研究和工程设计具有重要意义。
其次，X射线衍射仪还可以用于材料的质量检测和成分分析。
通过测量材料的衍射强度和位置，可以定量分析材料中的晶体相和非晶质相的含量，进而评估材料的质量和性能。
2. 生命科学领域X射线衍射仪在生命科学领域也有应用。
例如，它可以用于蛋白质晶体学研究。
蛋白质晶体学是研究蛋白质结构的重要手段。
通过将蛋白质溶液结晶，并利用X射线衍射仪测量蛋白质晶体的衍射图样，可以解析蛋白质的原子结构，从而揭示其功能和生理过程。
此外，X射线衍射仪还可以用于药物研究和生物医学领域。
通过测量药物晶体的衍射图样，可以确定药物的晶体结构和稳定性，为药物设计和制剂优化提供指导。
同时，X射线衍射仪还可以应用于X射线显像技术，用于肿瘤诊断和器官成像等医学应用。
三、总结X射线衍射仪是一种基于衍射原理的重要科学仪器，可以用于物质结构的研究和分析。
xrd测试原理及操作的基本流程
文章主题：xrd测试原理及操作的基本流程一、引言在材料科学与工程领域中，X射线衍射（XRD）是一种重要的分析技术，可用于对晶体结构、物相分析和晶体质量的表征。
本文将深入探讨XRD测试的原理和操作的基本流程，以便读者能够全面理解XRD 分析的重要性和实验方法。
二、XRD测试原理1. X射线衍射的基本原理X射线衍射是通过照射物质，观察衍射光的方向和强度来了解物质的结构性质。
当入射X射线与晶体的原子排列相互作用时，会出现衍射现象，从而得到关于晶体结构的信息。
2. 布拉格方程布拉格方程是描述X射线衍射条件的基本方程。
它表示为：nλ=2dsinθ，其中n为衍射级别，λ为入射X射线的波长，d为晶格间距，θ为衍射角。
3. 结晶衍射图样通过X射线衍射仪测得的数据可以绘制成结晶衍射图样，从中可以读取出晶面间距、晶格常数等信息。
三、XRD测试操作基本流程1. 样品制备与加载首先需要将待测样品研磨成粉末，并压制成均匀的薄片或圆盘。
然后将样品加载到X射线衍射仪的样品台上。
2. 仪器参数设置在进行XRD测试前，需要设置仪器的参数，包括X射线波长、入射角范围、扫描速度等。
3. 开始测试启动X射线衍射仪，开始进行测试。
X射线穿过样品，与晶体发生相互作用，产生衍射光，再由探测器接收并记录下来。
4. 数据分析与结果解读对从X射线衍射仪得到的数据进行分析与解读，可以得到有关样品晶体结构、晶胞参数等重要信息。
四、个人观点和理解作为X射线衍射技术的一种，XRD分析在材料研究和质量检测中起着关键作用。
通过XRD测试，不仅可以了解样品的晶体结构，还可以分析其中包含的物相。
掌握XRD测试的原理和操作流程对于科研工作者和工程师来说都是非常重要的。
五、总结与回顾通过本文的讨论，我们全面了解了XRD测试的原理及操作的基本流程。
X射线衍射技术的应用范围非常广泛，可以帮助我们更好地理解材料的性质和结构。
希望读者通过本文的介绍，能对XRD分析有更深入、全面和灵活的认识。
x射线衍射仪工作原理
x射线衍射仪工作原理
x射线衍射仪是一种常用的分析仪器，广泛应用于材料科学、
结构生物学等领域。
它的工作原理是基于x射线的衍射现象。
首先，x射线衍射仪会通过一个x射线管产生一束高能的x射线。
这束x射线会经过一个束限器，使得只有一束直线状的射线从出口射出。
接下来，这束x射线会进入一块晶体或者一束平行的晶体。
晶体的晶格结构会使得入射的x射线遇到晶格中的原子时发生衍射现象。
根据布拉格定律，x射线在晶体晶面上的散射角度与
晶面的间距有关。
这意味着，不同晶面的散射角度是不同的。
在x射线衍射仪中，会放置一个底片或者探测器来捕捉散射光的信息。
当散射光到达底片或者探测器时，会形成一种特殊的衍射图样，称为衍射图。
衍射图上的每个峰代表着不同的晶面。
通过测量、分析衍射图中的峰的位置、强度等参数，可以推算出晶体的晶格参数、晶面的间距、晶体的结构等信息。
需要注意的是，为了获得准确的衍射图，x射线衍射仪中各个
部件的位置、角度等参数要进行精确的调整。
并且，在实际应用中，也需要进行数据处理、解析等工作，以获得更详细的晶体结构信息。
总结起来，x射线衍射仪通过向晶体中发射高能的x射线，并
捕捉其衍射光的信息，利用衍射图来研究晶体的结构和性质。
这种衍射现象基于布拉格定律，因此可以通过衍射图的分析来推导晶体的晶格结构参数。
简述x射线衍射法的基本原理和主要应用
简述X射线衍射法的基本原理和主要应用1. 基本原理X射线衍射法是一种研究晶体结构的重要方法，它利用X射线的特性进行衍射分析。
其基本原理包括以下几个方面：•布儒斯特定律：X射线在晶体中发生衍射时，入射角、出射角和入射光波长之间满足布儒斯特定律，即$n\\lambda = 2d\\sin\\theta$，其中n为整数，$\\lambda$为X射线的波长，d为晶面间的间距，$\\theta$为入射角或出射角。
•薛定谔方程：晶体中的原子排列形成周期性结构，电子在晶格中运动的波动性质可以用薛定谔方程描述。
X射线被晶体衍射时，其波长与晶体中电子的波动性相互作用，形成了衍射波。
•动态散射理论：根据动态散射理论，晶体中的原子或离子吸收入射的X射线能量，并以球面波的形式发出，与其他原子或离子产生相互干涉，从而形成衍射图样。
2. 主要应用X射线衍射法广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域，具有以下主要应用：•晶体结构分析：X射线衍射法可以确定晶体的晶格常数、晶胞角度和晶体中原子的位置，通过分析衍射图样的强度和位置，获得晶体结构的信息。
•材料表征：X射线衍射法可用于分析材料的相变、晶体有序度、晶格缺陷和晶体生长方向等特征。
例如，在合金研究中，可以通过X射线衍射技术鉴定合金中出现的新相和晶格畸变。
•晶体品质评估：通过分析衍射峰的尺寸和宽度，可以评估晶体的品质，包括晶格结构的完整性、晶体中的位错和晶格缺陷等。
•结晶体制备与成分分析：利用X射线衍射法可以研究物质的结晶过程，了解晶体生长的动力学和晶体取向的控制方法。
此外，还可以使用X射线衍射方法对材料中的成分进行分析。
•衍射仪器的研发与改进：X射线衍射法的应用也推动了衍射仪器的研发与改进，包括X射线源、X射线衍射仪和探测器等，提高了测量精度和分辨率。
3. 总结X射线衍射法作为一种非破坏性的分析技术，通过衍射图样的分析，可以获得晶体结构和材料特性的信息。
其基本原理包括布儒斯特定律、薛定谔方程和动态散射理论。
X射线衍射分析原理
X射线衍射分析原理X射线衍射分析是一种重要的材料表征技术，其原理基于X射线与晶体相互作用时发生的衍射现象。
这种技术可以用来确定物质的结晶结构、晶体畸变、晶粒尺寸、相对结晶取向以及晶体缺陷等信息。
下面我将详细介绍X射线衍射分析的原理。
1.X射线衍射的基本原理X射线是一种电磁波，其波长比可见光短得多，因此它能够穿透晶体射出到另一侧。
当X射线穿过晶体时，会与晶体内的原子相互作用，发生散射。
如果晶体具有周期性排列的原子结构，那么经过散射后的X射线将会发生衍射现象。
2.布拉格衍射原理布拉格衍射原理是X射线衍射分析的基础。
根据布拉格方程，当入射光束与平行晶面之间的入射角等于出射角时，X射线会以构成等边三角形的一系列角度散射出来。
这些出射角对应的散射光将相干地叠加在一起，形成衍射图样。
布拉格方程可以表示为：n·λ = 2d sinθ其中，n为衍射级别，λ为入射X射线的波长，d为晶体面间的距离，θ为入射角。
根据布拉格方程，通过测量入射角和衍射角的大小，可以计算出晶格的间距d。
3.X射线衍射仪器为了进行X射线衍射分析，需要使用特殊的仪器。
其中最常见的是X射线粉末衍射仪（X-ray powder diffraction, XRD）。
它通过将样品制成粉末并均匀散布在载体上，然后用X射线照射样品，测量出射的衍射波，进而得到衍射图案。
X射线衍射仪由X射线管、样品支架、光学系统、检测器和计算机等组成。
X射线管产生X射线，经过光学系统聚焦后通过样品。
样品中的晶体结构会散射入射的X射线，散射波经过光学系统再次聚焦到检测器上，通过检测器的信号可以得到衍射图案。
根据衍射图案，可以通过相关数据分析获得样品的结晶结构和特征。
4.衍射图案分析衍射图案是X射线衍射分析的核心结果。
通过衍射图案的分析，可以获取材料的晶格常数、晶体结构、晶格取向和晶体畸变等信息。
衍射图样的主要特征是峰（peak），峰对应于衍射波的散射角度。
每个峰的位置、强度和形状都包含了样品的结构信息。
X射线衍射仪结构与使用
图1. X 射线衍射仪框图 X 射线衍射仪的结构与使用一、实验目的1．了解衍射仪的结构与原理。
2．掌握衍射样品的制备方法。
3．熟悉实验参量的选择和仪器操作，并通过实验得到一个XRD 图谱。
二、实验原理(一) 衍射仪的结构及原理1、衍射仪是进行X 射线分析的重要设备，主要由X 射线发生器、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。
新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。
图1给出了X 射线衍射仪框图。
2、 X 射线发生器主要由高压控制系统和X 光管组成，它是产生X 射线的装置，由X 光管发射出的X 射线包括连续X 射线光谱和特征X 射线光谱，连续X 射线光谱主要用于判断晶体的对称性和进行晶体定向的劳埃法，特征X 射线用于进行晶体结构研究的旋转单体法和进行物相鉴定的粉末法。
测角仪是衍射仪的重要部分，其光路图如图2。
X 射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上，样品位于测角仪圆的正中心。
在入射光路上有固定式梭拉狭缝和可调式发射狭缝，在反射光路上也有固定式梭拉狭缝和可调式防散射狭缝与接收狭 缝。
有的衍射仪还在计数管前装有单色器。
当给X 光管加以高压，产生的X 射线经由发射狭缝射到样品上时，晶体中与样品表面平行的面网，在符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。
当计数管在测角仪圆所在平面内扫射时，样品与计数管以1：2速度连动。
因此，在某些角位置能满足布拉格条件的面网所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号，经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。
(二) 衍射实验方法X 射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。
1、样品制备在衍射仪法中，样品制作上的差异对衍射结果所产生的影响，要比照相法中大得多。
因此，制备符合要求的样品，是衍射仪实验技术中的重要的一环，通常制成平板状样品。
衍射图2. 测角仪光路示意图 1、测角仪圆, 2、试样, 3、滤波片,S 光源, S1、S2梭拉狭缝,K 发散狭缝,L 防散射狭缝, F 接收狭缝,C 计数管。
x射线粉末衍射仪原理
x射线粉末衍射仪原理引言：x射线粉末衍射仪是一种常用的分析仪器，广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。
本文将介绍x射线粉末衍射仪的原理及其在科学研究中的应用。
一、x射线粉末衍射仪的原理x射线粉末衍射仪是通过照射样品后，测量样品中的晶体结构信息来进行分析的。
其原理主要包括两部分：x射线产生和衍射。
1. x射线产生x射线是一种高能电磁波，可以通过x射线发生器产生。
x射线发生器由阴极和阳极组成，阴极上通电产生电子，电子在阳极上撞击产生x射线。
x射线的能量和波长决定了它可以穿透的材料的性质。
2. 衍射当x射线照射到样品上时，如果样品中存在晶体结构，x射线会被晶体中的原子散射。
根据布拉格方程，散射光束在特定的角度和波长下会发生相长干涉，形成衍射图样。
通过测量衍射图样的强度和角度，可以得到样品中晶体的结构信息。
二、x射线粉末衍射仪的应用x射线粉末衍射仪在材料科学、化学、生物学等领域有着广泛的应用。
1. 材料科学x射线粉末衍射仪可以用于研究材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷等信息。
通过分析衍射图样，可以确定材料的晶体结构类型、晶胞参数以及晶体质量等。
这对于新材料的开发和优化具有重要意义。
2. 化学分析x射线粉末衍射仪可以用于分析化学物质的晶体结构和组成。
通过测量衍射图样的强度和角度，可以确定化合物的晶体结构和成分，从而帮助化学研究人员进行材料的合成和分析。
3. 生物学研究x射线粉末衍射仪在生物学研究中也有重要应用。
通过测量蛋白质的衍射图样，可以确定其晶体结构，从而帮助研究人员了解蛋白质的功能和作用机制。
这对于药物研发、生物工程等领域具有重要意义。
三、总结x射线粉末衍射仪是一种常用的分析仪器，通过测量样品中的晶体结构信息来进行分析。
其原理包括x射线产生和衍射两个过程。
x 射线粉末衍射仪在材料科学、化学、生物学等领域有广泛应用，可以用于研究材料的晶体结构、化学物质的组成以及蛋白质的结构等。
通过使用x射线粉末衍射仪，科研人员可以深入研究材料和生物体的结构与性质，推动科学的发展和技术的进步。
X射线衍射技术
X射线衍射技术X射线衍射技术是一种应用于材料科学、物理学和化学领域的重要分析方法。
它通过研究材料或化合物对X射线的衍射模式，来确定其晶体结构、晶体参数以及晶体中原子的排列方式。
X射线衍射技术不仅能够揭示物质的微观结构，还可以提供关于晶格应力、晶格畸变以及颗粒尺寸等详细信息。
本文将介绍X射线衍射技术的基本原理、应用领域以及相关仪器。
一、X射线衍射技术基本原理X射线衍射技术的基本原理源于布拉格方程。
布拉格方程表达了入射X射线与晶体晶面间距d、入射角度θ、以及衍射角度2θ之间的关系。
它的数学表达式为：nλ = 2d sinθ其中，n是一个整数，表示衍射过程中的编号，λ是X射线的波长。
通过测量X射线衍射的角度，可以根据布拉格方程计算出晶体晶面间距d，从而推断出晶体的结构特征。
二、X射线衍射技术的应用领域1. 材料科学研究：X射线衍射技术在材料科学中被广泛应用。
它可以帮助研究人员确定金属、陶瓷、玻璃等材料的晶体结构和晶格参数。
通过分析材料的衍射图像，可以评估材料的结晶度、晶体尺寸、晶格畸变以及晶格缺陷等信息，对材料的性能进行优化和改进。
2. 物理学研究：X射线衍射技术在物理学研究中有重要的应用。
例如，通过分析X射线衍射谱，物理学家可以研究晶体中电子行为、电子结构以及电子的自旋轨道耦合等性质。
这些信息对于理解材料的电学、磁学和光学性质具有重要意义。
3. 化学分析：X射线衍射技术也被广泛应用于化学分析领域。
通过对化合物的X射线衍射图谱进行定量分析，可以确定样品中不同的晶相含量、晶相纯度以及杂质的存在情况。
这对于研究样品的稳定性、反应活性以及化学反应机理等都具有重要意义。
三、X射线衍射仪器1. X射线发生器：X射线发生器是产生X射线的核心部件。
其原理基于电子注入金属靶材，当高速电子与靶材相互作用时，会产生X射线辐射。
发生器的性能直接影响到实验的分辨率和灵敏度。
2. X射线衍射仪：X射线衍射仪是对样品进行X射线衍射实验的装置。
x射线衍射技术的原理
x射线衍射技术的原理x射线衍射技术是一种非常重要的材料表征技术，它通过分析材料中的晶体结构和晶体中原子的排列方式来研究材料的性质。
这种技术可以应用于许多不同的领域，如材料科学、化学、生物学等。
本文将介绍x射线衍射技术的原理，并说明其在科学研究和工程应用中的重要性。
x射线衍射技术的原理主要基于x射线与晶体相互作用的特性。
当x 射线入射到晶体上时，会与晶体中的原子相互作用。
x射线的波长与晶体中原子的间距相当，因此x射线会被晶体中的原子散射。
根据散射的方向和强度，可以推断出晶体中原子的排列方式和晶体结构。
x射线衍射实验通常使用x射线衍射仪来进行。
x射线衍射仪由一个x射线源、一个样品台和一个衍射探测器组成。
x射线源产生高能量的x射线，样品台上放置待测样品。
当x射线照射到样品上时，会发生散射现象。
衍射探测器收集散射的x射线，并将其转化为电信号。
通过分析电信号的特性，可以得到样品的衍射图样。
样品的衍射图样是x射线衍射技术中重要的数据。
通过分析衍射图样，可以确定晶体中原子的排列方式和晶体结构。
在衍射图样中，不同的衍射峰对应着不同的散射方向和散射强度。
根据衍射峰的位置和强度，可以计算出晶体的晶格常数、晶格结构和晶体中原子的位置。
这些信息对于研究材料的性质和制备具有特定功能的材料非常重要。
x射线衍射技术在科学研究和工程应用中具有广泛的应用。
在材料科学中，它可以用于研究材料的晶体结构、相变行为和晶体缺陷。
在化学领域，它可以用于确定分子的结构和有机化合物的晶体结构。
在生物学中，它可以用于研究蛋白质的结构和DNA的结构。
除了用于基础科学研究，x射线衍射技术还具有许多工程应用。
在材料工程中，它可以用于研究材料的力学性能、热处理效果和材料的相变行为。
在电子工程中，它可以用于研究半导体材料的晶体结构和材料的电子性质。
在能源领域，它可以用于研究电池材料和催化剂的结构和性能。
x射线衍射技术是一种非常重要的材料表征技术，它通过分析材料中的晶体结构和晶体中原子的排列方式来研究材料的性质。
XRD衍射仪的工作原理(两篇)
引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的材料表征技术，广泛应用于材料科学、地球科学、化学等领域。
X射线衍射仪是实现XRD技术的关键设备，通过分析样本对X射线的衍射模式，可以得到材料的晶体结构、晶体相、晶体缺陷等信息。
本文将深入探讨XRD衍射仪的工作原理，主要包括光学系统、样品支架、X射线源、探测器等方面的内容。
概述：XRD衍射仪是一种光学与物理学结合的高精度仪器，它利用X 射线与晶体相互作用的特性，通过收集和分析衍射信号，确定晶体的结构信息。
通常，衍射仪包括光学系统、样品支架、X射线源、探测器等重要部分。
正文：一、光学系统1. 晶体取向器：晶体的取向对衍射图案的解析具有重要影响，晶体取向器可以调整晶体在仪器中的位置和方向，以获得理想的取向效果。
2. 光学准直器：光学准直器用于将来自X射线源的X射线束准直，以提高衍射信号的强度和清晰度。
3. 绕射器：绕射器用于将入射的X射线束转为平行的束流，以保证样品在绕射过程中的衍射效果准确可靠。
二、样品支架1. 固定性样品支架：用于固定单晶样品或固体材料，通常采用坚固且稳定的样品支架，以确保样品在测量过程中不发生移动或扭曲。
2. 旋转性样品支架：用于加工或测量多晶样品，旋转性样品支架可调整样品的旋转角度，以获得更全面的样品信息。
3. 温控样品支架：某些研究需要在不同温度下测量样品的衍射图案，温控样品支架可以在控制的温度范围内对样品进行加热或冷却。
三、X射线源1. XR-Tube：XR-Tube是使用最广泛的X射线源，其工作原理是通过将电子束击打在阳极上产生高能X射线。
2. 聚焦X射线源：聚焦X射线源通过使用聚焦花键来准直和聚焦X射线束，可以提高X射线的强度和空间分辨率。
3. 滑动X射线源：滑动X射线源具有可调节的出射角度，可以根据实验要求选择不同的入射角度，以获得更具信息量的衍射图案。
四、探测器1. 点式探测器：点式探测器具有高灵敏度和快速响应的特点，适用于快速数据采集和动态实时分析。
X射线衍射仪工作原理操作及其应用
X射线衍射仪工作原理操作及其应用（一）工作原理X射线是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力。
对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。
广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。
特征X射线是一种波长很短(约为20～0.06nm)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。
考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光，即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。
分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。
这一预见随即为实验所验证。
1913年英国物理学家布拉格父子在劳厄发现的基础上，不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构，并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律：式中λ为X射线的波长，n为任何正整数。
当X射线以掠角θ（入射角的余角，又称为布拉格角）入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时，在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。
（二）操作步骤2.1开机前的准备打开循环水，检查水温是否在20摄氏度左右，上下波动范围不超过3度；室内温度在20摄氏度左右，上下波动范围不超过3度；湿度小于80%；样品放置在样品台正中间；2.2开机检查记录检查情况，填写《仪器设备使用记录》；预热30分钟，加载高压；启动电脑，打开commander软件，点击init drives按钮进行初始化，然后点击Move drives按钮驱动各个轴转动到设定的角度处；在commander软件中将设备功率设定到额定功率，铜靶40KV，40mA；钴靶35KV，40mA；设定2thet角的范围（通常范围在20°到80°）。
xrd射线衍射仪布鲁克与理学参数
xrd射线衍射仪布鲁克与理学参数X射线衍射（XRD）是一种重要的材料结构表征技术，它通过测量材料对X射线的衍射模式来分析材料的结晶结构和晶体学参数。
布鲁克的X射线衍射仪是一种先进的X射线衍射仪器，具有高分辨率、高灵敏度和高精度的特点，能够对不同种类的材料进行结构表征和分析。
在本文中，我们将详细介绍布鲁克X射线衍射仪的原理、工作原理和应用，并探讨X射线衍射在材料科学和其他领域的重要性和作用。
布鲁克X射线衍射仪的原理基于布拉格定律和X射线的衍射原理。
布拉格定律是描述X射线在晶体中衍射的定律，它可以用来计算材料的晶格常数和晶体结构参数。
X射线衍射仪通过射入单色X射线束到样品表面，然后测量样品对X射线的衍射模式，从而分析材料的结晶结构和晶体学参数。
布鲁克X射线衍射仪采用先进的X射线光学系统和高性能探测器，能够实现高分辨率的衍射模式测量和高灵敏度的信号检测，可以对各种类型的材料进行准确的结构表征和分析。
布鲁克X射线衍射仪的工作原理是通过控制X射线的入射角度和探测器的位置来实现样品衍射模式的测量和分析。
X射线入射到样品表面后，根据布拉格定律，会发生衍射现象，产生一系列衍射峰。
通过调节X射线的入射角度和探测器的位置，可以实现对不同衍射峰的测量和分析。
通过对衍射模式的参数化处理和数据分析，可以得到材料的晶格常数、结晶结构、晶体形貌、晶体取向等重要信息。
布鲁克X射线衍射仪还可以实现全自动化的样品测量和数据处理，大大提高了实验效率和数据准确性。
布鲁克X射线衍射仪在材料科学和其他领域具有广泛的应用。
在材料科学领域，X射线衍射技术常用于研究金属材料、无机材料、生物材料、半导体材料等各种材料的晶体结构和晶体学参数，是分析材料性能和性质的重要手段。
在化学工程领域，X射线衍射技术可以用来研究催化剂、催化反应机理、化学结构、晶体生长过程等重要问题。
在生物医学领域，X射线衍射技术被应用于蛋白质晶体学、生物大分子结构和生物医学材料的表征，有助于理解生物分子的结构和功能。
X射线衍射分析
X射线衍射分析X射线衍射分析是一种用于研究材料晶体结构的重要技术。
通过利用X射线与晶体相互作用产生的衍射现象，可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体中原子的排列方式。
本文将介绍X射线衍射的原理、仪器设备以及应用领域。
一、X射线衍射的原理X射线衍射基于布拉格方程，该方程描述了X射线在晶体中的衍射现象。
布拉格方程可以表示为：nλ = 2dsinθ其中，n为整数，表示不同的衍射级别；λ为入射X射线的波长；d为晶面间的距离；θ为入射X射线与衍射晶面的夹角。
根据布拉格方程，当入射X射线的波长和入射角度确定时，可以通过测量衍射角来确定晶面间的距离，从而推断晶体结构的特征。
二、X射线衍射仪器设备X射线衍射分析通常使用X射线衍射仪器进行实验。
主要的仪器设备包括X射线发生器、样品台、衍射角度测量装置以及检测器等。
X射线发生器用于产生高能量的X射线，通常采用射线管产生连续谱的X射线。
样品台用于将待测样品放置在适当的位置，使得X射线能够与样品相互作用。
衍射角度测量装置用于测量入射X射线与衍射晶面之间的夹角。
检测器用于记录衍射信号，常见的检测器有点状探测器、平板探测器等。
三、X射线衍射分析的应用X射线衍射分析广泛应用于材料科学、地质学、化学等领域。
具体应用包括：1. 确定晶体结构：通过测量X射线衍射的角度和强度，可以反推晶体的晶格参数和原子排列方式，从而确定晶体结构。
2. 相变研究：X射线衍射可以用于研究材料的相变行为，包括晶体到非晶体的相变、晶体向其他晶体结构转变的相变等。
3. 晶体质量分析：X射线衍射可以用于评估晶体的质量，包括晶体纯度、晶体缺陷等。
4. 定量分析：通过测量不同晶面的衍射强度，可以进行成分定量分析，推断样品中各组分的含量。
5. 晶体学研究：X射线衍射在晶体学研究中有着重要的地位，可以用于确定晶体的空间群、晶格参数等。
四、总结X射线衍射分析是一种有效的研究材料晶体结构的方法。
凭借其高分辨率、非破坏性的特点，X射线衍射已经成为材料科学领域中不可或缺的技术手段。
X射线衍射分析
X射线衍射分析X射线衍射是一种广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域的分析技术，它通过衍射现象来研究晶体结构和晶体取向。
本文将介绍X 射线衍射分析的原理、方法以及在不同领域中的应用。
一、X射线衍射原理X射线衍射是指X射线入射到晶体上，由于晶体的周期性结构，X 射线在晶胞中遇到原子核或电子时会发生衍射。
根据布拉格定律，衍射角度与晶格常数、入射波长之间存在特定的关系，通过观察衍射角度和强度可以推断出晶体结构的信息。
二、X射线衍射方法1. 粉末衍射：将样品粉碎成粉末状，通过X射线衍射仪器进行衍射分析，可以获得材料的晶体结构信息。
2. 单晶衍射：用单一晶体进行X射线衍射分析，可以得到更为详细的结构信息，包括原子间的位置和取向。
三、X射线衍射在材料科学中的应用1. 晶体学研究：通过X射线衍射可以确定晶体结构和晶体学参数，揭示材料的性质和相态变化。
2. 晶体生长：X射线衍射可以监测晶体的生长过程，帮助调控晶体的形貌和性能。
四、X射线衍射在生物学中的应用1. 蛋白质结构：X射线衍射被广泛用于解析蛋白质的晶体结构，揭示蛋白质的功能和作用机制。
2. 细胞成像：通过X射线衍射可以对细胞结构进行高分辨率成像，为细胞生物学研究提供重要依据。
五、X射线衍射在化学分析中的应用1. 晶体化学：X射线衍射可以确定晶体中元素的位置和化学键的性质，为化学合成提供参考。
2. 晶体衍射敏感性分析：X射线衍射可以用于检测材料中微观结构的变化，分析化学反应的过程和机制。
总结：X射线衍射作为一种强大的分析技术，不仅在材料科学、生物学和化学领域有着重要的应用，还在许多其他领域有着广泛的应用前景。
随着仪器技术的不断进步，X射线衍射分析将在更多研究领域展现其重要作用。
x射线衍射法的原理及应用
x射线衍射法的原理及应用1. 引言x射线衍射法是一种重要的材料表征方法，广泛应用于材料科学、化学、物理等领域。
通过分析材料中x射线的衍射模式，我们可以了解材料的晶体结构、晶格参数以及原子排列方式等信息。
本文将介绍x射线衍射法的基本原理，并探讨其在材料科学领域的应用。
2. 基本原理x射线衍射法基于布拉格方程，布拉格方程表示为：nλ = 2d*sinθ其中，n为衍射阶次，λ为x射线的波长，d为晶面间距，θ为入射角。
利用布拉格方程，我们可以计算出不同衍射阶次的衍射角，从而得到不同晶面间距的信息。
3. 实验装置x射线衍射法的实验装置主要包括x射线源、样品支架、衍射仪和探测器等。
x 射线源可以产生足够强度的x射线，常用的有x射线管和同步辐射等。
样品支架用于固定待测试的材料样品。
衍射仪是一个重要的元件，它包括衍射光束的准直和入射角的调节等功能。
探测器主要用于测量衍射光强，在常见的x射线衍射实验中，探测器主要采用电子传感器。
4. 测量步骤进行x射线衍射实验时，我们需要按照以下步骤进行： 1. 确定合适的x射线源，并调节其参数，包括波长和强度等； 2. 准备待测试的材料样品，并固定在样品支架上；3. 调节衍射仪，使得x射线入射角和晶体的布拉格角匹配；4. 启动探测器，测量不同衍射角度下的衍射光强； 5. 分析并处理测量结果，得到材料的晶体结构和晶格参数等信息。
5. 应用领域x射线衍射法在材料科学领域有广泛的应用，具体包括以下几个方面： - 材料的晶体结构分析：通过测量材料的衍射图样，我们可以反推材料的晶体结构，包括晶胞大小、晶胞对称性等信息。
- 晶格参数测量：通过分析衍射图样中不同衍射峰的位置和强度，我们可以计算出材料的晶格参数，例如晶面间距、晶格常数等。
-相变与晶体缺陷研究：通过观察材料在不同条件下的衍射图样变化，我们可以研究材料的相变行为以及晶体缺陷的存在与分布情况。
- 薄膜表征：对于具有薄膜结构的材料，x射线衍射法可以提供薄膜的厚度、结晶度和晶面取向等信息。
x射线衍射仪在材料研究中的应用
一、概述随着科学技术的不断发展，材料研究逐渐成为科学研究的重要领域之一。
而在材料研究中，x射线衍射仪作为一种重要的分析仪器，发挥着重要作用。
本文将从x射线衍射仪的工作原理、应用范围、优势以及发展前景等方面进行深入探讨。
二、x射线衍射仪的工作原理1. x射线的发现与性质x射线是一种能够穿透物质的电磁辐射，具有波长短、能量高的特点。
1895年，康拉德·伦琴通过对阴极射线的研究发现了x射线，并对其性质进行了初步研究。
2. x射线的发射与衍射当x射线照射到晶体表面时，由于晶格结构的存在，x射线会发生衍射现象。
根据布拉格方程，可以计算出衍射角度和衍射强度，从而获取有关晶体结构的信息。
3. x射线衍射仪的基本构成x射线衍射仪由x射线源、样品台、衍射仪和探测器等部件组成。
x射线源发出x射线，照射到样品上后发生衍射，并由探测器检测衍射信号，从而得到样品的结构信息。
三、x射线衍射仪的应用范围1. 材料表征x射线衍射技术可以用于材料的晶体结构分析、晶粒尺寸测定、残余应力分析等方面，为材料研究提供了重要的实验手段。
2. 药物研究在药物研究领域，x射线衍射技术可以用于药物晶型的鉴定和结构分析，为药物的研发和生产提供了核心技术支持。
3. 矿物分析x射线衍射技术可以用于矿物的成分分析和晶体结构研究，为矿产资源的开发和利用提供了重要的技术手段。
四、x射线衍射仪的优势1. 高分辨率x射线衍射仪具有高分辨率的优势，可以对材料的微观结构进行准确测定，为材料研究提供了重要的数据支持。
2. 高灵敏度x射线衍射仪对样品的要求较低，可以对微量样品进行分析，提高了样品的利用率和分析效率。
3. 非破坏性x射线衍射技术是一种非破坏性分析方法，可以保持样品的完整性，适用于对珍贵样品的研究和分析。
五、x射线衍射仪的发展前景1. 多功能化随着材料研究领域的不断发展，人们对x射线衍射仪的功能要求也越来越高，未来的x射线衍射仪将向多功能化方向发展，包括晶体结构分析、表面形貌观测、残余应力分析等多种功能的集成。
xrd的原理与应用
XRD的原理与应用1. XRD的原理X射线衍射（XRD）是一种通过测量物质对入射X射线的衍射来分析样品晶体结构的技术。
其原理基于布拉格方程，即入射光与晶体晶面衍射时的相位条件。
XRD通过测量被物质表面反射或晶体内部散射的X射线来确定晶格参数、晶体结构和组分。
X射线通过物质时会与物质中的原子发生相互作用。
入射X射线进入晶体后，与晶体中的晶面发生散射，散射的X射线会在特定的角度下与入射X射线发生干涉，形成衍射曲线。
根据布拉格方程，衍射角度和晶格参数之间存在关系。
通过测量衍射角度，可以计算晶格参数，进而确定晶体结构。
2. XRD的应用X射线衍射广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域，可以用于以下方面的研究和分析：2.1 晶体结构分析X射线衍射可以用于确定物质的晶体结构。
通过测量衍射曲线，可以得到晶体的晶格参数、晶胞体积、晶胞对称性等信息。
这对于研究材料的物理性质、研发新材料具有重要意义。
2.2 相变研究XRD可以用于研究物质在不同温度、压力等条件下发生的相变过程。
例如，可以通过测量晶体的衍射图案随温度的变化来研究晶体的熔化、晶化过程，或者观察晶体的相变温度。
2.3 成分分析X射线衍射可以鉴定和分析物质的成分。
通过比较样品的衍射图案与数据库中已知的衍射图案，可以确定样品中的晶体相。
这对于材料的组分分析、控制品质具有重要意义。
2.4 晶体定向和纹理分析XRD可以用于表面薄膜、纳米颗粒等薄层材料的定向和纹理分析。
通过测量衍射强度和衍射角度的变化，可以推断薄层材料中晶体的定向关系和晶体取向的偏好方向。
2.5 应力分析通过测量样品的衍射曲线，可以分析晶格的畸变和晶体中的应力状态。
这对于材料的力学性能研究和工程应用具有重要意义。
3. XRD的优势和限制3.1 优势•非破坏性：XRD是一种非破坏性的分析技术，可以对样品进行非侵入性的测量。
•高分辨率：XRD具有很高的分辨率，可以解析出样品中微小晶体的衍射信号。
•多样性：XRD适用于各种材料，包括晶体、非晶体、液晶体等。
x射线衍射仪工作原理
x射线衍射仪工作原理X射线衍射仪是一种用于研究晶体结构的重要仪器，它利用X 射线照射晶体后产生的衍射现象来分析晶体的结构信息。
X射线衍射技术在材料科学、化学、生物学等领域都有着广泛的应用，因此了解X射线衍射仪的工作原理对于科研工作者和学生来说都是非常重要的。
X射线衍射仪的工作原理主要包括X射线的产生、衍射现象的发生和衍射图样的分析三个方面。
首先，X射线是通过X射线管产生的。
X射线管是由阴极和阳极组成的真空玻璃管，当阴极受到高压电场的激发时，释放出高速电子，这些电子击中阳极时会产生X射线。
这些X射线具有很高的穿透能力，能够穿透物质并产生衍射现象。
其次，当X射线照射到晶体上时，会发生衍射现象。
晶体的原子排列结构会对X射线产生衍射，形成一定的衍射图样。
这些衍射图样包含了晶体的结构信息，通过对衍射图样的分析可以推断出晶体的晶格常数、晶体结构和晶面取向等信息。
最后，X射线衍射仪通过检测和分析衍射图样来获取晶体的结构信息。
X射线衍射仪通常配备有X射线管、样品台、衍射角度测量装置和衍射图样检测器等部件，通过这些部件可以实现对衍射图样的精确测量和分析。
总的来说，X射线衍射仪的工作原理是利用X射线照射晶体后产生的衍射现象来分析晶体的结构信息。
通过X射线的产生、衍射现象的发生和衍射图样的分析三个方面的工作原理，我们可以更好地理解X射线衍射仪是如何工作的，以及它在科学研究和工程应用中的重要作用。
在实际应用中，人们可以根据X射线衍射仪的工作原理来设计实验方案，选择合适的衍射条件，获取准确的衍射图样，从而得到所需的晶体结构信息。
同时，也可以根据X射线衍射仪的工作原理来进行仪器维护和故障排除，确保仪器的正常运行和准确性分析。
总之，了解X射线衍射仪的工作原理对于科研工作者和学生来说都是非常重要的。
只有深入理解其工作原理，才能更好地应用X 射线衍射技术进行科学研究和工程实践，为人类社会的发展做出更大的贡献。
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应用软件功能
➢ Diffrac plus STRESS 用作试样和实物构件残余应力测定， 含有Omega模式和Psi模式，可给出选定方向的应力、切应 力和应力张量。
➢ Diffrac plus ODF 取向分布函数(ODF)织构定量分析软件是 在DiffracPlus TEXEDIT数据处理基础上,由完整极图或不完 整极图数据,用球谐级数展开法做ODF分析,计算了奇数项,载 尾项可任选,用Bunge符号绘出恒Phi1、Phi2和Φ的ODF截面 图,可回算绘制任意{hkl}完整极图和反极图。
Ni (311) Ni (222)
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常规测试实例
➢ FeNi非晶粉末试样
测试条件：Slits:2.0/1.0/0.2，start:10˚ to:100˚ increment:0.1˚/step Step time:0.8s
高温条件下的试样物相结构
直热式加热，升降温速度可达 200 ℃/min ；
温度最高可达1600 ℃ ； 样品平放，安全性能好；
高温测试样品要求
➢ 非液态（原则上）最好为粉末样 ➢ 高温下不与加热片（铂铑合金）发生反应 ➢ 加热后不产生腐蚀性气体
薄膜附件
衍射仪上加装一掠射附件 （0.35°平行光狭缝）
X射线衍射实验测试
制样要求： ➢ 粉末或块状样均可，表面平整 ➢ 粉末颗粒在5～15μm最佳 ➢ 块状样受夹方向50mm，平行射线出射方向(>20mm且
<60mm）
计数测量方法与测量参数选择
➢ 多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯) 扫描两种
➢ 测量参数包括狭缝光栏宽度、扫描速度、时间常数等。
膜及多层膜的物相分析 入射光束以较低掠射角入射，
可使薄膜衍射信息增大， 而衬底反射最小。
可实现功能
➢ 物相分析（物相鉴定与定量分析，结晶度测量） ➢ 晶体结构分析（晶粒大小、点阵参数测定、相结构等） ➢ 织构和残余应力分析 ➢ 高温条件下物相变化分析 ➢ 薄膜分析（薄膜的物相鉴定和定量分析）
应用软件功能
射振幅
强度比等于振幅的平方; | F | 2称为结构因子 | F | 2 =0 衍射线消光 | F | 2≠0 衍射线不消光
晶体X射线衍射充要条件
布拉格公式：晶体产生衍射的方向只与晶胞参数有关，与 晶体结构无关；
F2hkl：决定衍射强度的重要因素，决定衍射线的存在与否。
衍射充要条件：
2d hklsinθhkl = nλ
倒易性质： 倒易矢量H=H=ha*+kb*+llc*, h,k,l 均为整
数，则H⊥ (hkl), /Hhkl/ =1/dhkl 表示: a) 方向(hkl)的法线方向， b) b)倒易点阵每一结点的倒易矢量其长度为 (hkl)面间距倒数。
X射线物理学概要
➢ 1895年W.C.Roentgen研究阴极射线管时，发现一种有 穿透力的肉眼看不见的射线，称为X射线(伦琴射线)。
配置的附件
➢ 织构附件 ➢ 高温附件 ➢ 薄膜掠射附件
织构
单晶体金属材料：各向异性 多晶体金属材料：各向同性
织构：晶粒取向择优分布 ➢ 用冲床冲制金属零件时，往往会因择优取向造成废品 ➢ 高温超导体YBa2Cu3O7-x的超导特性 (001)面，也即ab
面能承载大的电流密度应制备这种(001)强织构超导材 料
数据谱采集
检索/匹配
在Search/Match框内点击“Search”,进行微机检索/匹配确认物相。
常规测试实例
➢ Ni44Fe56合金薄膜镀态和退火处理后微观结构对比
测试条件：Slits:1.0/1.0/0.2，start:10˚ to:100˚
increment:0.03˚/step Step time:0.8s
a = b = c , α=β=γ ≠90°
菱形晶系
a≠ b ≠ c , α=β=γ = 90°
单斜晶系 a≠b ≠ c , α= γ = 90° , β≠ 90°
三斜晶系
a≠ b≠c , α≠β≠γ
晶体学基础知识--晶面、晶向
➢ 晶向：一族具有等周期的点阵直线<uvw>。 ➢ 晶向指数[uvw]：原点与阵点相联在晶轴方向的投影。
50
40
30
20
10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
衍射角
I
谢 谢!
1600
Ni44Fe56 1400 as-deposit
Y-(Fe,Ni) (111) Ni (111)
6000
Y-(Fe,Ni) (111)
Ni44Fe56 as-deposit
Ni (111)
400oC 1h annealing
5000
Intensity/arb.unit Intensity/arb.unit
X射线衍射仪原理及应用技术交流
安泰科技研发中心 李艳萍
主要内容
➢ X射线衍射的晶体学知识简介 ➢ D8 discover XRD 主要结构 ➢ D8 discover XRD 主要功能及分析方法
晶体学基础知识—晶体
➢ 晶体基本特点：质点（结构单元）沿三维空间周期性 排列（晶体定义）并有对称性。
➢ 空间点阵：实际晶体中的几何点，其所处几何环境和 物质环境均同， 这些这些“点集”称空间点阵。
晶体中各个电子的散射波可相互干涉。散射波周相一致 相互加强的方向称衍射方向。
Bragg公式： 实质：光程差等于波长整数倍（周相一致）
晶体X射线衍射原理
厄瓦尔德（ Ewald）图解： 倒易点落在Ewald球上的晶面
多晶体衍射花样的形成
结构因子
X射线散射的强度与晶胞的结构有关 F为结构振幅， ︱ FHKL︱=一个晶胞的相干散射振幅/一个电子的相干散
➢ 晶面：互为平行、等距且面上点阵分布全同 {hkl}。 ➢ 晶面指数(hkl)：晶面截晶轴的倒数，乘以最小公倍数，
它表示晶面法向特征。
晶体学基础知识--晶面间距
晶面间距: 两个相邻的平行晶面间的垂直距离 立方晶系:
正方晶系:
斜方晶系:
晶体学基础知识—倒易点阵
➢ 晶体点阵的倒易，数学抽象。 ➢ 晶体点阵 晶面(hkl)对应倒易点阵一个倒易点Phkl。
1200 4000
1000
Y-(Fe,Ni) (200) 800
3000
Ni (200)
600
Y-(Fe,Ni) (200) 2000
Ni (200)
400
Y-(Fe,Ni) (311)
Ni (311) Y-(Fe,Ni) (220)
1000
200
Ni (220)
Ni (222)
Y-(Fe,Ni) (311)
织构的分析方法
描绘织构空间取向的极射赤面投影图：极图、反极图 极图表示出试样内各晶粒某一(hkl)晶面极点在外观坐标
系里的取向分布； 反极图表示晶粒的某一特定外观方向相对于晶体坐标系
的取向分布；
取向分布函数(ODF)法：将试样的轧面法向、轧向和横向 三位一体地在三维晶体学取向空间表示出来
高温附件
F2hkl ≠0
衍射仪法
➢ 方法实质：X射线与物质作用产生衍射花样。 ➢ 衍射花样三要素：峰位、峰强、峰形； ➢ 数据谱分析：开拓对粉末衍射数据处理的根本变革。
物像鉴定
物相鉴定原理： ➢ 衍射方向, 是晶胞参数的函数；衍射强度是结构因子
函数(取决于晶胞中原子的种类、数目和排列方式)。 ➢ 结晶物质均具有特定结晶结构（结晶类型，晶胞大小
产地：德国布鲁克（AXS)公司 型号：D8 discover
主要结构
➢ 光源：高压发生器与X光管 ➢ 精密测角仪 ➢ 光学系统 ➢ 探测器
光源－高压发生器与X光管
X射线产生条件：电子流、高压、真空室、靶面
阴极 X射线管
阳极 （对阴极）
104~150 V
+
封闭管光源
X光管：陶瓷X光管
靶面：Cu靶
应用软件功能
➢ Diffrac plus Dquant(包括在EVA软件中) 用作物相的 定量分析，包括多种常规定量分析方法，如内标法、 外标法、直接对比法，并可编程适用多种相定量分析，பைடு நூலகம்如铝电解槽分析等；
➢ Diffrac Plus TOPAS P 对X射线衍射线形进行函数模 拟和基本参数拟合，后者从仪器几何参数和试样性质 拟合线形，有确切物理意义，为无标样晶粒尺寸和微 观应变测定提供解决办法，可用作点阵参数精修和结 晶度测定等。
➢ 根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加， 其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的 数值可以确定对应物相的相对含量。
➢ 由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强 度与该物相的相对含量之间不成正比关系，必须加以 修正。
➢ 德拜法中由于吸收因子与2θ角有关，而衍射仪法的吸 收因子与2θ角无关，所以X射线物相定量分析常常是 用衍射仪法进行。
定量相分析方法
多种定量分析方法
➢ 内标法（待测样中加入一种含量固定的标准物质） ➢ K值法（基体冲洗法） ➢ 无标样法（试样中所有相均已知） ➢ 绝热法（试样中某一相作为内标物质，不能有非晶态
物质存在） ➢ 直接对比法（两相的衍射强度比为基，适用于淬火钢
中残余奥氏体测定）
D8 discover衍射仪
合），或试样不动，光管转θ，探测器转θ （ θ /θ偶合）
探测器
作用是接收样品衍射线(光子)信号转变为电(瞬时脉冲) 信号。