二极管浪涌电流测试台
正向冲击电流浪涌电流试验标准
正向冲击电流(浪涌电流)试验标准Forward Surge Test一、目的：检验器件经正向大电流冲击而不失效的能力。
二、试验设备：浪涌电流测试仪（10~2000A）三、环境试验条件及判据:(1)标准状态标准状态是指预处理, 后续处理及试验中的环境条件。
论述如下:环境温度: 15~35℃相对湿度: 45~75%(2)判定状态判定状态是指初测及终测时的环境条件。
论述如下:环境温度: 25±3℃相对湿度: 45~75%四、操作规范:4.1要严格按照PFD - Ⅲ型高温反偏试验台“技术说明书”操作顺序操作。
4.2常规产品规定每季度做一次周期试验，试验条件及判据采用或等效采用产品标准；新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。
4.3采用LTPD的抽样方法，在第一次试验不合格时，可采用追加样品抽样方法或采用筛选方法重新抽样，但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。
4.4若LTPD=10％，则抽22只，0收1退，追加抽样为38只，1收2退。
抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。
五、操作规程：1.整流二极管1.1把被检测样品按二极管的极性正确地在夹具上固定好。
1.2测试台的黑色多路开关打在“0”位，切记不能打在“1~4”档的任何一档。
2.整流桥堆2.1 把被测样品整流桥堆放在夹具上夹好。
2.2 把多路黑色开关打向“1~4”任何一档，切记不能打在“0”档。
3.把充电/浪涌开关打在浪涌位置，浪涌/浪涌+反压大在浪涌位置，反向电压调节旋钮反时针调到零。
4.启动电源，此时，IFSM、VFM、浪涌次数、10个数码管显示全为零，10ms指示灯亮。
5.按一下薄膜面板上的SET键，此时，IFSM4个数码管闪烁，此时您可根据要求设置浪涌电流值了，设置数0~9自左向右切换，F1为10ms，F2为8.3ms，如有误操作可用Del键修改，当数值确定后，按ENT键确定，IFSM显示设置的浪涌电流值。
注意：1.在设置电流值时，最右边一位数码只有0、5有效，最左边一位数码管只有0、1、2有效，其余数不认。
浪涌测试的要求和方法
浪涌测试的要求和方法1 信号(通信)接口浪涌测试 1.1 测试目的和指标要求测试目的考察设备在实际使用过程中用户线接口受到浪涌电压冲击后，被测接口的损坏和设备性能下降的程度。
指标要求：对电话端口的浪涌测试分为类型A，和类型B两1 信号(通信)接口浪涌测试1.1 测试目的和指标要求测试目的考察设备在实际使用过程中用户线接口受到浪涌电压冲击后，被测接口的损坏和设备性能下降的程度。
指标要求：对电话端口的浪涌测试分为类型A，和类型B两种测试。
(1) 类型A(Class A)a) 波形。
差模干扰：电压波：10/560，电流波：10/560。
共模干扰：电压波：10/160，电流波：10/160。
b) 测试等级：差模：电压最小800V，电流最小100A。
共模：电压最小1500V，电流最小200Ac) 测试端口：差模：tip——ring ；tip-1 ——ring-1；对于单项通信的4线制电缆，tip——ring-1, ring——tip-1。
共模：tip-ring和tip-1——ring-1对地，或者对其他连接到未经认证的设备的线缆（拧到一起）。
d) 测试状态：设备的所有可能影响本标准要求的状态都要测试。
如果设备状态不能通过正常上电获得，需要通过人工干预获得；没有施加浪涌的端口（包括电话端口，辅助端口以及和未认证设备连接的端口），要用适当的方式端接并处于正常使用状态；如果设备的一次电源允许插拔，则设备带有电源线和断开电源线两种状态都要测试。
e) 判据允许起安全作用的电路出现开路，或者到地的短路，但在这种失效模式下，保证让用户不能使用设备，或设备具有明显失效指示（如告警），需要立即从网络上断开或需要维修。
对安全电路进行修复后，设备性能和功能恢复正常。
(2) 类型B (class B)a) 波形。
差模：电压波：9/720，电流波：5/320。
共模：电压波：9/720，电流波：5/320。
b) 测试等级：差模：电压最小1000V，电流最小25A。
浪涌能力测试标准
浪涌能力测试标准全文共四篇示例，供读者参考第一篇示例：浪涌能力测试标准是指对电子设备在发生浪涌电压或电流冲击时的抗干扰能力进行检测和评估的一套标准化方法和规范。
浪涌电压或电流是短时间内快速变化的电压或电流信号，通常由外部干扰或设备内部因素引起，可能会损坏设备的电气元件，导致设备故障，影响设备的正常运行。
对设备的浪涌能力进行测试是至关重要的。
浪涌能力测试标准主要包括IEC、ISO、IEEE等国际标准组织制定的相关标准，以及一些行业标准和企业标准。
这些标准通常会规定浪涌电压或电流的幅值、上升时间、波形等参数，以及测试设备和测试方法等具体要求，以确保测试的准确性和可靠性。
在浪涌能力测试中，常用的测试设备包括浪涌发生器、浪涌电压或电流传感器、示波器、数字电压表等。
通过对被测试设备施加特定的浪涌电压或电流冲击，然后观察被测试设备的响应情况，如电路是否烧毁、功能是否异常等，从而评估其浪涌抗干扰能力。
浪涌能力测试标准的制定和遵守对于保障设备的可靠性和稳定性具有重要意义。
在现代电子设备普及的背景下，各种电子设备在面临外部干扰时，容易受到浪涌电压或电流的影响，从而导致设备故障，给用户带来损失。
制定严格的浪涌能力测试标准，对于提高设备的品质和可靠性至关重要。
浪涌能力测试标准的制定应当考虑以下几个方面：第一，应合理确定浪涌电压或电流的参数。
浪涌电压或电流的幅值、上升时间、波形等参数对于评估设备的浪涌抗干扰能力至关重要，因此应根据实际情况进行合理确定。
第二，应明确测试设备和测试方法。
测试设备的选择和测试方法的确定直接影响浪涌能力测试的有效性和准确性，应明确规定相关要求，确保测试结果真实可靠。
应考虑不同设备的特殊要求。
不同类型的电子设备在面对浪涌电压或电流时可能存在不同的敏感度和抗干扰能力，因此在制定浪涌能力测试标准时应考虑到不同设备的特殊性，制定相应的测试要求。
第四，应强调标准的执行和监督。
制定了浪涌能力测试标准之后，需要加强对标准的执行和监督，确保各相关企业和机构遵守标准，提高设备的浪涌抗干扰能力。
可靠性测试标准
可靠性测试标准Q/GSXH.Q.质量管理体系第三层次⽂件1004.03-2001可靠性试验规范拟制：审核：批准：海锝电⼦科技有限公司版次：C版可靠性试验规范1. 主题内容和适⽤范围本档规定了可靠性试验所遵循的原则，规定了可靠性试验项⽬，条件和判据。
2. 可靠性试验规定2.1 根据IEC国际标准，国家标准及美国军⽤标准，⽬前设⽴了14个试验项⽬（见后⽬录〕。
2.2 根据本公司成品标准要求，⽤户要求，质量提⾼要求及新产品研制、⼯艺改进等加以全部或部分采⽤上述试验项⽬。
2.3 常规产品规定每季度做⼀次周期试验，试验条件及判据采⽤或等效采⽤产品标准；新产品、新⼯艺、⽤户特殊要求产品等按计划进⾏。
2.4 采⽤LTPD的抽样⽅法，在第⼀次试验不合格时，可采⽤追加样品抽样⽅法或采⽤筛选⽅法重新抽样，但⽆论何种⽅法只能重新抽样或追加⼀次。
2.5 若LTPD=10％，则抽22只，0收1退，追加抽样为38只，1收2退。
抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。
3．可靠性试验判定标准。
(1)标准状态标准状态是指预处理, 后续处理及试验中的环境条件。
论述如下:环境温度: 15~35℃相对湿度: 45~75%(2)判定状态判定状态是指初测及终测时的环境条件。
论述如下:环境温度: 25±3℃相对湿度: 45~75%4．试验项⽬。
⽬录4.1 ⾼温反向偏压试验 ------------------------------------ 第4页 4.2 压⼒蒸煮试验------------------------------------第6页 4.3 正向⼯作寿命试验 ------------------------------------ 第7页 4.4 ⾼温储存试验 ------------------------------------ 第8页 4.5 低温储存试验 ------------------------------------ 第9页 4.6 温度循环试验 ------------------------------------ 第10页 4.7 温度冲击试验 ------------------------------------ 第11页 4.8 耐焊接热试验 ------------------------------------ 第12页 4.9 可焊性度试验 ------------------------------------ 第13页 4.10拉⼒试验 ------------------------------------ 第14页 4.11 弯曲试验 ------------------------------------ 第15页 4.12 稳态湿热试验 ------------------------------------ 第16页 4.13 变温变湿试验------------------------------------第17页 4.14 正向冲击电流(浪涌电流)试验-------------------------- 第18页4.1 ⾼温反向偏压试验High Temperature Reverse Bias Test⼀、⼯作原理:整流⼆极管在⾼温下加上反向偏压是⼀种严酷的⼯作⽅式，由于⾼温下漏电流增加，在温度和电场的作⽤下，质量差的器件就会失效，⽤这种⽅法可以判断⽣产批的质量好坏。
浪涌形式实验报告
一、实验模块浪涌形式实验二、实验标题浪涌形式实验三、实验日期、实验操作者2023年10月26日，实验操作者：张三四、实验目的1. 了解浪涌现象及其产生原因；2. 掌握浪涌试验的方法和步骤；3. 分析浪涌试验结果，评估设备对浪涌的耐受能力。
五、实验原理浪涌现象是指电路在遭受雷击、接通、断开感性负载或大型负载时产生的超出正常工作的过电压或过电流。
这种过电压或过电流通常在微秒或纳秒时间内的剧烈脉冲，电压（或电流）通常超过正常值的2倍以上。
浪涌试验是为了模拟设备在正常工作过程中可能遭受的雷电或其他瞬态过电压冲击，以评估设备对此类冲击的耐受能力。
六、实验步骤1. 准备实验器材：浪涌发生器、被试设备、示波器、万用表、电源等；2. 将被试设备接入浪涌发生器，并连接示波器和万用表；3. 设置浪涌发生器的参数，如浪涌电压、浪涌时间等；4. 打开电源，进行浪涌试验；5. 记录示波器和万用表的数据；6. 关闭电源，对被试设备进行检查。
七、实验环境实验地点：实验室实验器材：浪涌发生器、被试设备、示波器、万用表、电源等实验环境：温度：25℃，湿度：50%八、实验过程1. 实验器材准备：将浪涌发生器、被试设备、示波器、万用表、电源等连接好，确保各部分正常工作；2. 设置浪涌发生器参数：根据实验要求，设置浪涌电压为1.5倍额定电压，浪涌时间为10μs；3. 进行浪涌试验：打开电源，对被试设备进行浪涌试验，观察示波器和万用表的数据；4. 记录实验数据：记录示波器和万用表的数据，包括浪涌电压、浪涌时间、被试设备的工作状态等；5. 关闭电源，对被试设备进行检查：观察被试设备的外观、功能是否正常，如有异常，记录下来。
九、实验结果与分析1. 浪涌电压：实验过程中，浪涌电压达到1.5倍额定电压，符合实验要求；2. 浪涌时间：实验过程中，浪涌时间为10μs，符合实验要求；3. 被试设备工作状态：实验过程中，被试设备在浪涌冲击下，外观、功能均正常，说明设备对浪涌的耐受能力较强。
二极管峰值检测器
二极管峰值检测器在电子技术中，二极管峰值检测器是一种常用的电路，用于检测输入信号的峰值。
它是由一个二极管和其他辅助元件组成的简单电路，可以在很多应用中起到重要的作用。
一、二极管峰值检测器的原理二极管峰值检测器利用二极管的非线性特性来实现对输入信号峰值的检测。
当输入信号的幅值较小时，二极管处于正向偏置状态，输入信号经过二极管后将近似等于输出。
而当输入信号的幅值较大时，二极管被反向偏置，无法导通，此时输出信号为零。
二、二极管峰值检测器的电路图二极管峰值检测器的电路图如下：[电路图]三、二极管峰值检测器的工作过程1. 当输入信号的幅值较小时，二极管处于正向偏置状态。
输入信号通过电容C1进入二极管，经过二极管后接地，此时输出信号近似等于输入信号。
2. 当输入信号的幅值较大时，二极管被反向偏置。
输入信号经过电容C1进入二极管，二极管无法导通，因此在电容C1上没有电压输出，输出信号为零。
四、二极管峰值检测器的应用1. 信号检测：二极管峰值检测器可用于检测输入信号的峰值，从而在接下来的电路中进行合适的处理和控制。
2. 电压测量：二极管峰值检测器可以用于测量输入信号的峰值电压，比如在示波器中使用该电路来测量波形信号的峰值。
3. 音频处理：二极管峰值检测器可以用于音频处理电路中，用于检测音频信号的峰值，从而实现音量控制和保护等功能。
五、二极管峰值检测器的优缺点1. 优点：二极管峰值检测器电路简单，成本低，可靠性高，适用于许多低频和中频应用。
2. 缺点：二极管峰值检测器只能检测正半波信号的峰值，对于负半波信号无法检测。
六、总结二极管峰值检测器是一种简单而实用的电路，用于检测输入信号的峰值。
它利用二极管的非线性特性实现了对信号峰值的有效检测，广泛应用于电子技术领域的各种应用中。
虽然二极管峰值检测器在一些方面存在一定的限制，但在许多实际应用中仍然表现出了良好的性能与可靠性。
参考文献：[参考文献1][参考文献2][参考文献3]。
浪涌测试原理
浪涌测试原理浪涌测试是一种常用于测试电气设备耐受瞬态电压的方法，以确保设备在电力系统中能够正常运行。
其原理主要包括以下几个方面：1.浪涌源产生：浪涌测试使用专门的浪涌发生器或浪涌电压发生器，通过充电、放电等过程产生高能量、短时间的电压浪涌波形。
这些发生器通常包括高压电容、放电开关和电阻等元件。
2.波形特征：浪涌源产生的电压浪涌波形具有快速上升、短暂高能量和衰减的特点。
通常采用标准的浪涌波形，如8/20微秒的波形，其中8微秒为上升时间，20微秒为时间至峰值下降到其10%的时间。
3.测试方法：在浪涌测试中，设备会与浪涌发生器连接，并施加高能量的瞬态电压浪涌。
可以通过直接连接或使用耦合装置（如耦合/解耦网络）将浪涌发生器的输出电压传递到被测试设备上。
4.测试过程：在测试过程中，浪涌源会按照事先设定的参数和波形特征产生浪涌电压，并将其施加到被测试设备上。
被测试设备需要在规定的条件下，如电压幅值、上升时间和波形形状下，经受住浪涌电压的影响而保持正常运行。
5.测试结果评估：根据测试结果，可以评估设备对浪涌电压的耐受能力。
通常会根据设备的性能特定要求或相关标准来判断其是否合格。
浪涌测试的目的是确保电气设备在面对瞬态电压干扰时能够保持可靠运行，以保护设备并保障电力系统的稳定性和安全性。
测试结果可用于设备设计验证、制造质量控制和系统调试等领域。
当进行浪涌测试时，测试设备将会遭受高能量的短暂电压脉冲，这些脉冲可能是由电力系统中的突变或故障引起的。
浪涌测试的目的是确保设备能够在这种突发电压情况下保持稳定运行，而不会受到损坏或故障。
浪涌测试通常在设备的输入端口进行。
为了产生浪涌脉冲，使用浪涌源或浪涌发生器，其基本原理是通过充电和放电过程来产生高能量的电压脉冲。
浪涌源通常包含一个高压电容器、一个放电开关和一个电阻。
测试过程中，浪涌源会按照预定的参数和浪涌波形特征来产生电压脉冲。
这些参数包括脉冲幅值、上升时间、脉冲宽度和再生时间等。
tvs二极管的浪涌负压是原理
tvs二极管的浪涌负压是原理
TVS二极管的浪涌负压原理主要是利用二极管的雪崩效应。
当TVS二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电子线路中的精密元器件免受各种浪涌脉冲的损坏。
TVS二极管与常见的稳压二极管的工作原理相似，如果高于标志上的击穿电压，TVS二极管就会导通，与稳压二极管相比，TVS二极管有更高的电流导通能力。
TVS二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，以10-12S量级速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，同时吸收高达数千瓦的浪涌功率。
使两极间的电压箝位于一个安全值，有效地保护电子线路中的精密元器件免受浪涌脉冲的破坏。
需要注意的是，浪涌电压和浪涌电流对电子设备有很大的损害，因此需要采取有效的措施进行保护。
TVS二极管作为一种瞬态电压抑制器件，能够有效地吸收浪涌电压和浪涌电流，保护电子设备免受损坏。
浪涌测试方法(1)
信息技术类，所用的标准是EN55022，第二 类是家用电器类，所用标准是EN55014， 第三类是灯具类，所用标准是EN55015， 第四类是音视频类，所用标准是EN55013。 按照标准规定进行测试，EUT离天线的距 离是3米，台式设备是放在0.8米的绝缘桌上， 落地式设备室放置在0.15的绝缘木板上，在 测试时，天线在对应 的1米、2米、3米、4 米高的地点，转台360度旋转，寻找辐射的 最大值点，观察它是否超过规定限值的范 围，天线的极化方向也对应的是分为水平 和垂直两个方向。
传导骚扰
• 传导骚扰是EMI测试的一个项目，传导骚扰 测试的是EUT在工作时产生的干扰信号， 通过电源线或者信号线对其他的设备的正 常工作产生影响，要进行一个传导骚扰的 测试，必须的设备包括：测试场地——屏 蔽室、接收机、同轴电缆、LISN，现在实 验室有2个LISN，LISN8127主要由于单项 的EUT测试，LISN8128主要用于3相供电 的EUT的测试，普通产品一共分为4类，
对接在同一网络的照明设备的亮度产生变化， 这种灯光的闪烁容易使人产生烦恼且对某 些人（如癫痫病人）的健康特别有害。这 个测试考核的标准有两个：电压波动和闪 烁，闪烁的测量能精确评定连续的电压波 动产生的影响，而电压波动的测量能更好 地反映突然的较大电压变化产生的影响， 这种突然的大的电压变化对闪烁的测量影 响很小，但也十分有害。
静电放电试验主要针对用户可以实施的维护。 正常使用中用户可以接触的区域，正常使 用的位置，分为直接放电和接触放电直接 放电模拟了操作人员对受试设备直接接触 时发生的静电放电情况。间接放电则是对 水平耦合板和垂直耦合板进行放电，模拟 了操作人员对放置于或安装在受试设备附 近的物体放电时的情况。其中接触放电是 优先选择的试验方法，间接放电只有在不 能使用接触放电的场合中。
正向冲击电流浪涌电流试验标准
德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 正向冲击电流(浪涌电流)试验标准
Forward Surge Test
一、 目的：检验器件经正向大电流冲击而不失效的能力。
二、 试验设备：浪涌电流测试仪（10~2000A ）
三、 环境试验条件及判据:
(1)标准状态
标准状态是指预处理, 后续处理及试验中的环境条件。
论述如下: 环境温度: 15~35℃
相对湿度: 45~75%
(2)判定状态
判定状态是指初测及终测时的环境条件。
论述如下:
环境温度: 25±3℃
相对湿度: 45~75%
四、 操作规范:
4.1要严格按照PFD - Ⅲ型高温反偏试验台“技术说明书”操作顺序操作。
4.2常规产品规定每季度做一次周期试验，试验条件及判据采用或等效采
用产品标准；新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。
4.3采用LTPD 的抽样方法，在第一次试验不合格时，可采用追加样品抽
样方法或采用筛选方法重新抽样，但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。
4.4若LTPD=10％，则抽22只，0收1退，追加抽样为38只，1收2退。
抽样必须在OQC 检验合格成品中抽取。
五、 操作规程：。
半导体 浪涌测试原理与功能-概述说明以及解释
半导体浪涌测试原理与功能-概述说明以及解释1.引言1.1 概述半导体浪涌测试是一项关键的电子测试技术，用于评估和验证半导体器件在电压耐受性和稳定性方面的性能。
浪涌测试通过模拟电路系统中的瞬态过电压事件，能够检测半导体器件对电压峰值和持续时间的响应能力。
随着电子设备的不断发展和普及，电力供应系统中的浪涌电压和电流事件也越来越普遍和严峻。
这些浪涌事件可能由雷击、开关操作、电源故障或其他原因引起，会对电子设备和半导体器件造成损害。
因此，对于电子设备和半导体器件来说，具备良好的浪涌耐受性是至关重要的。
半导体浪涌测试旨在模拟和重现这些浪涌事件，以验证半导体器件在这些情况下的工作性能和稳定性。
通过施加一系列高能量、高峰值的脉冲电压，浪涌测试可以评估半导体器件在不同电压下的响应和反应时间。
通过这些测试，可以确定器件的最大耐受电压和其它性能指标，确保器件在实际的工作环境中具备可靠的性能。
半导体浪涌测试功能主要包括以下几个方面：1. 评估器件的抗浪涌能力：通过浪涌测试，可以确定半导体器件在浪涌电压或电流冲击下的能力，从而确定其抗浪涌性能和耐受能力。
2. 检测器件的响应速度：浪涌测试可以模拟各种浪涌事件，测试器件在不同电压峰值和持续时间下的响应速度，以评估其电路保护能力。
3. 评估器件的稳定性：通过浪涌测试，可以判断器件在不同浪涌事件下的工作稳定性和可靠性，为电子设备的设计和工作提供更多的保障。
4. 提高产品质量：半导体浪涌测试可以帮助制造商提前筛选和测试半导体器件，以确保产品的质量和可靠性，减少因浪涌事件引起的损害和故障。
总之，半导体浪涌测试是一项重要的技术手段，可为电子设备和半导体器件提供必要的保护和评估。
通过对器件的浪涌耐受性进行测试，可以确保其在实际工作中具备良好的性能和稳定性，提高产品的可靠性和质量。
1.2 文章结构文章结构部分的内容可以包括以下信息：文章结构部分旨在介绍本篇长文的整体结构安排，让读者能够快速了解文章的组织和内容安排。
浪涌测试原理
浪涌测试原理浪涌测试是电气设备在正常工作环境下，由于外部原因（如雷电、电网突发故障等）而产生的瞬态过电压，它可能对设备的正常工作产生影响，甚至造成设备损坏。
因此，对电气设备进行浪涌测试显得尤为重要。
浪涌测试的原理主要是通过模拟或实际产生浪涌电压，对被测试设备的抗浪涌能力进行评估。
在测试中，通常会使用专门的浪涌发生器或者浪涌发生器模拟器来产生不同幅值和波形的浪涌电压，然后将其施加到被测试设备的电源线或信号线上，观察设备的工作状态及其是否能正常工作。
浪涌测试的原理包括以下几个方面：1. 浪涌发生器的原理，浪涌发生器是用来产生浪涌电压的设备，其工作原理是通过存储能量并在瞬间释放能量的方式来模拟浪涌电压。
在实际测试中，浪涌发生器会根据设定的参数产生特定幅值和波形的浪涌电压，以便对被测试设备进行评估。
2. 被测试设备的响应原理，被测试设备在受到浪涌电压的作用时，会产生电压或电流的变化，其响应原理是通过测量这些变化来评估设备的抗浪涌能力。
通常会使用示波器或数据采集设备来记录设备在浪涌测试过程中的电压或电流变化，并进一步分析设备的响应情况。
3. 抗浪涌元件的原理，在电路设计中，通常会采用各种抗浪涌元件（如浪涌保护器、浪涌吸收器等）来保护设备免受浪涌电压的影响。
这些抗浪涌元件的原理是通过吸收或削弱浪涌电压的能量，从而保护设备不受损坏。
在浪涌测试中，也需要对这些抗浪涌元件的性能进行评估，以确保其能够有效地保护设备。
综上所述，浪涌测试的原理主要包括浪涌发生器的工作原理、被测试设备的响应原理以及抗浪涌元件的原理。
通过对这些原理的理解，可以更好地进行浪涌测试，并评估设备的抗浪涌能力，从而保障设备在复杂电磁环境下的安全稳定运行。
浪涌测试原理
浪涌测试原理
浪涌测试原理是一种用于测试电子设备的抗浪涌能力的方法。
在电力系统中，经常会出现突发的电压脉冲，这些脉冲可以对电子设备产生严重的损害。
浪涌测试的目的是验证设备是否能够在这种突发情况下正常工作，以及能否承受足够高的电压差。
这种测试通常通过施加短暂而高能量的脉冲电压来完成。
浪涌测试原理基于以下几个方面：
1.施加脉冲电压：在测试中，需要使用特殊的设备产生一系列
脉冲，模拟实际电力系统中可能出现的浪涌情况。
这些脉冲通常具有高能量和短持续时间，以确保对设备的挑战性。
2.浪涌电流监测：测试中会监测设备上产生的浪涌电流。
这可
以通过在电路中插入电流传感器来完成。
通过监测浪涌电流的幅值和持续时间，可以评估设备对浪涌电压的响应能力。
3.分析和评估：根据浪涌测试的结果，可以对设备的抗浪涌能
力进行评估。
通常，设备需要能够承受特定幅值和持续时间的浪涌电压，并保持正常工作。
浪涌测试的结果对于保证设备的可靠性和稳定性非常重要。
它可以帮助制造商评估设备的质量，并确保在实际操作中不会出现故障。
为了满足各种标准和法规的要求，浪涌测试通常需要在特定的实验室环境中进行，并遵循相应的测试流程和标准。
二类浪涌实验波形 电压保护水平
二类浪涌实验波形及电压保护水平一、概述二类浪涌是指在工业用电系统中常见的一种瞬态电压过大的现象，通常是由于雷电、操作开关器件和电磁干扰等因素引起的。
这种突然的电压浪涌会对系统中的电子设备和电气设备造成损坏和故障，因此对于电力系统而言，二类浪涌的防护是十分重要的。
二、二类浪涌实验波形的特点1. 二类浪涌实验波形一般具有高峰值、快速上升和波形短暂等特点。
2. 二类浪涌实验波形的峰值电压一般在数千伏到数万伏之间，上升时间短暂，一般在几微秒到几毫秒之间。
3. 二类浪涌实验波形的具体参数是由相应的标准规定，如IEC xxx-4-5等。
三、电压保护水平的确定1. 对于电压保护水平的确定，通常是根据设备所处的环境和设备本身的耐压能力进行综合考虑的。
2. 对于二类浪涌实验波形的峰值电压，保护水平一般是设备能够承受的最大电压值。
3. 电压保护水平的确定需要结合相关的国家标准和产品标准进行参考，以保证设备在电压浪涌环境下的正常运行。
四、电压保护措施1. 选择合适的电压保护器件，如避雷器、浪涌保护器等，根据设备的具体工作环境和要求进行选择。
2. 设备的接地系统应该合理设计，确保接地电阻符合标准要求，避免因接地不良而导致的浪涌电压冲击。
3. 对于一些特殊的设备，如医疗设备、通信设备等，应该采取更加严格的电压保护措施，以保证设备的安全和稳定运行。
五、结论在电力系统中，二类浪涌实验波形的研究和电压保护水平的确定对于设备的安全运行和系统的稳定性至关重要。
通过合理选择保护措施和设备，可以有效地保护设备免受二类浪涌实验波形的影响，确保设备的正常运行和寿命。
希望通过本文的介绍，对于电压保护水平的确定和电压保护措施的选择有更深入的了解。
六、二类浪涌实验波形对设备的影响1. 由于二类浪涌实验波形具有高峰值和快速上升的特点，一旦电压浪涌进入系统，将对设备产生直接的影响。
在浪涌电压的冲击下，电子设备的内部元器件可能会受到击穿或烧毁，从而导致设备的损坏或故障。
二极管正向浪涌电流的测试
二极管正向浪涌电流的测试本文讲述了二极管正向浪涌电流测试的基本要求和标准测试方法，针对标准测试方法存在的缺陷，设计实现了采用信号控制、电容储能和大功率场效应管晶体管电流驱动的电路解决方案，简洁而又高效地实现了二极管正向浪涌电流的测试。
正弦半波脉冲电流的产生二极管的规格繁多，常见的额定通态电流从数百毫安到数百安培甚至更高，IFSM测试需要的峰值脉冲电流要求到达数十倍的额定通态电流值。
标准的测试方法是采用大容量工频变压器，截取市电交流波形来产生时间常数为10ms、导通角为0°～180°的正弦半波脉冲，如图1。
用这种方法产生几百上千安培的正弦脉冲电流，所用到的变压器体积重量都非常可观，安装与使用十分不便。
一些国外公司的产品对浪涌冲击电流波形有特殊要求，比方要求在正向整流电流的根底上再加一个时间常数为10ms或8.3ms、导通角为0°～180°的正弦半波脉冲电流，或者要求施加连续两个时间常数为10ms或8.3ms、导通角为0°～180°的正弦半波脉冲电流等。
显然再采用市电截取的方法，已经很难满足不同器件的测试要求了。
设计思路大功率场效应管晶体管是一类标准的电压控制电流器件，在VDMOS管的线性工作区内，漏极电流受栅极电压控制：IDS=GFS*VGS［2］。
给栅极施加所需要的电压波形，在漏极就会输出相应的电流波形。
因此，选用大功率VDMOS 管适合用于实现所需的浪涌电流波形，电路形式如图2所示。
运放组成基本的反向运算电路，驱动VDMOS管的栅极，漏源电流通过VDMOS管源极取样电阻，加到运放反向输入端，与输入波形相加形成反应，运放输出电压控制VDMOS 管的栅极电压VGS，进而控制漏极输出电流IDS［3］。
这个IDS就是施加给待测二极管（DUT）的正向浪涌电流。
单只VDMOS管的功率和电流放大能力是有限的，无法到达上千安培的输出电流能力，采用多只并联的方式可以解决这个问题，以到达所需要的峰值电流。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
DBC-101-IFSM
二极管浪涌电流测试台
使 用 说 明 书
襄樊荣恒电力电子有限公司
电话： ０ ７ １ ０ － ３ ５ ６ ０ ２ ６ １
传真：０７１０－３５６０７９２
网址： Email: info@
DBC-101-IFSM 二极管浪涌电流测试台使用说明书
三、使用方法： 1．设备到达后应进行检查，若无运输损坏，即可进行通电试运行。
2．将 IFSM 设定拨码开关拨为 000，将 IFSM 微调反时针旋到 0，按启动按钮，设备得
襄樊荣恒电力电子有限公司
电话：０７１０－３５６０２６１ 传真：０７１０－３５６０７９２
Email: info@
2．接被测管 A、K 的线不可太细太长，并应可靠旋紧接触良好。否则将造成打火或
测试重复性差。 3．测试中有响声和振动属于正常现象，但应定期对设备进行检查，看有关紧固螺丝
是否有松动，若有松动应进行重新拧紧，特别是固定电感的螺丝更应注意。
4．当测试小电流元件时，若 IFSM 已设定很大，机内储能电容的电压已充到很高，为
一、概述： 二极管元件在实际使用中，除了能长期通过额定通态平均电流外，还应能承受一定 倍数的浪涌过载电流而不致损坏，以便适应在各种应用中的要求。二极管的浪涌过载电流 如果超过其允许范围，轻者引起元件性能变坏（如伏安特性、通态峰值电压的变化），重 者造成烧毁穿通而失去反向阻断能力。通过浪涌过载电流测试合格的器件，可以大大提高 其在使用中的可靠性。
DBC-101-IFSM 二极管浪涌电流测试台使用说明书
电，面板上的三只表都为 0，若浪涌次数表不为 0，按计数复位即为 0。 3．将被测元件按 A、K 极性接好，注意要旋紧螺丝。将波形转换开关打向需要的底
宽（8.3 mS 或 10mS），将 IFSM 设定拨为需要浪涌的电流值（注意实际 IFSM 值 约为设定值×10A）。此时 VC 表将有指示，当 VC 表稳定后即可按一下测试按钮， 设备即放出浪涌电流，其峰值由 IFSM 表显示。若此值不为设定值，可通过调节 IFSM 微调进行修正，可反复几次到调准，再换测另一只同样大小的器件时，IFSM 微调
二、主要技术指标：
1. IFSM 测试范围：200A—2000A±3％ 2. IFSM 波形：分两档，分别为底宽 7.5—8.5mS 和 9.2—10.2mS 的近似正弦半波 3. ITSM 测试频率：单次波
4. 设有浪涌次数记录显示，为重复多次浪涌提供方便。
5. 设有 ITSM 存储波形观察接口，为维修调试提供方便。 6. 整机电源：AC220V、50Hz，平均功率小于 1KVA。 7. 整机外型：600×600×960 滚轮式落地机柜，可自由移动。
我们开发研制的 DBC-101-IFSM 二极管浪涌电流测试台，主要是依据 JB/T7624-94《整 流二极管测试方法》和 JB/T7626-94《反向阻断三极管测试方法》的有关规定而设计的。该设 备线路设计简洁精练，采用单片机控制，完成对电容自动充电、自动稳压，自动检测浪涌 电流的实际波形和峰值，并存储保持。浪涌电流峰值由数字表显示，浪涌电流波形由波形 接口输出供外接示波器观察分析。该设备具有技术先进、性能可靠、体积小、重量轻、操作简 单、测试重复性好、维修调试方便等特点，是电力半导体器件生产厂家必备的试验检测设 备。
就可不必再修正。每次测试结果可通过按面板上的复位按钮清除掉，也可每次不必 按复位按钮，设备在进行下一次测试时能自动进行刷新处理，存储保持新的测试 结果。 4．测试完毕按面板上的停止按钮，设备即断电停止工作，此时设备将自动接通放电 电阻放掉主回路电容器上的剩余电压，以确保安全。
四、使用注意事项： 1．设备三线电源插头的地端要可靠接地，以确保设备及操作人员的安全。
避免大电流损坏元件，可停机进行放电并改变设定后再进行测试。 5．当须打开机壳进行检修时，必须停机等待主回路储能电容上的电彻底放掉后，才
能动手进行检修，以确保安全。
襄樊荣恒电力电子有限公司
电话：０７１０－３５６０２６１ 传真：０７１０－３５６０７９２
www.xfronghenຫໍສະໝຸດ Email: info@