Agilent HP3070 ICT培训教材-1
Agilent 3070
Agilent 3070 Operator Training
第一章 系統管理
第一節 如何開啟 Agilent 3070? 1. 打開空壓機的電源。 2. 打開 Agilent 3070 硬體的電源。﹙開關位置如下圖所示﹚
按下綠色按鈕
3. 打開工作站及螢幕的電源。
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Agilent 3070 Operator Training
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Agilent 3070 Operator Training
範例. $ll drwxrwxr-x 1 user1 drwxr-x--- 2 user1 $ls class_bd Data $lsf class_bd\ Data
hp3070 hp3070
1024 2048
第四章 實驗 .........................................................53
實驗一 Software Configure 設定 ................................................................................ 53 實驗二 使用線上手冊................................................................................................ 56 實驗三 Find Pins 及 Verify Node 練習 ..................................................................... 58
1. 在擁有控制權的 BT-BASIC 輸入 testhead power off, 按下鍵盤上的 Enter 鍵, 關閉 testhead 電源。
HP3070操作教学讲解0001
HP3070 ICT 操作训练教学大纲及要求一、ICT 设备基本认识1、ICT 设备的整体结构每一台HP3070测试机都包括两大部分: 测试控制电脑(Controller )和测试机本体(Testhead)。
测试控制电脑包括电脑主机、显示器、打印机、键盘、鼠标、扫描器等。
它们主要完成测试的软 件支援、程序的提供和人工控制。
现大部分HP3070的测试控制电脑所装的都是 HP-UX 操作系统,最新的装的是 Windows2000操作系统。
而测试软件是 BT-BASIC ( Board Test Basic )语言。
测试机本体则有电源供应器(Support Bay )和测试头(Testhead)。
3070系列产品不同它的电源供应器 和测试头都是不一样的(以下说明都是以3073为例)。
电源供应器由部电源(Ma in P ower )、电源分配器(P ower Distribution Un it )和测试电源供应器(DUT Supply )组成。
这些都存在一个大 箱子里,由专用的电缆线和固定的形式连在一起。
测试头是测试机的主体,它由四个测试模组 (Module )组成(我们公司现每台机只有两个模组)。
它们被安置在一个可以旋转的箱子里,通过测试系统卡(System Card )连接到测试控制电脑,每一个电源供应器对应一个测试模组,从而 构成了整个HP3070测试机。
2、 ICT 附属设备HP3070的附属设备有四组真空气压( Vacuum )、一组压缩空气(Com press Air )、自检盒(Diagnostics Box )、找点笔(Probe Finder )、脚踏开关(Foot Switch )和一些测试备件 (Spare Parts ) 等。
二、ICT 治具的基本结构现代ICT 治具各式各样,以下以本公司现有治具为例介绍。
一台ICT 治具包括一套针床、一个载板、上盖、下盖、真空口、多工卡( 探针(Probe)、P-Pins 、定位柱(Tolling Pins)、绕线等组成。
安捷伦液质联用培训教材(中文版)
=安捷伦 G6300 系列LC/MSD Trap现场培训教材质谱数据系统毛细管电泳液相色谱气相色谱注意包含在该文件中的信息将可能在未通知的情况下改变。
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安捷伦科技有限公司售后服务电话:800-8203278手机用户:400-8203278中文网站:/chem/cn2007年6月G6300A 系列离子阱软件概述以及开机关机操作仪器硬件概述1.1典型配置1.2仪器原理简介1.2.1离子阱的主体包含一个环电极和两个端电极,环电极和端电极都是绕Z轴旋转的双曲面,并满足r20=2Z20( r0为环形电极的最小半径,Z0为两个端电极间的最短距离)。
射频电压V rf加在环电极上,两个端电极都处于零电位。
1.2.2与四极杆分析器类似,离子在离子阱内的运动遵循马修方程,也有类似四极杆分析器的稳定图。
在稳定区内的离子,轨道振幅保持一定大小,可以长时间留在阱内,不稳定区的离子振幅很快增长,撞击到电极而消失。
离子阱的操作只有射频RF电压,没有直流DC电压,因此离子阱的操作只对应于稳定图上的X轴。
对于一定质量的离子,在一定V rf下,不同质量数的离子按照m/z由小到大在稳定图的X轴上自右向左排列。
当射频电压从小到大扫描时,排在稳定图上的离子自左向右移动,振幅逐渐加大,依次到达稳定图右边界,从离子阱中抛出,经过高能打拿极然后由电子倍增器检测。
1.3仪器硬件概述1.3.1离子源1.3.2离子源原理1.3.3仪器构造-示意图1.3.4 仪器构造-实物离子阱整体离子阱分解图1.3.5 LC-MSD Trap 的典型操作模式(以MS2为例):首先样品组分通过LC 进行分离,然后通过大气压电离源电离产生离子,离子阱在电场作用下,通过离子电荷控制(ICC )在阱中进行离子累积存储一定数量的离子,然后通过扫描隔离掉低于目标离子质量数的离子,通过在端电极上施加附加电场排除掉阱中高于目标质量数的离子,这个过程为Isolation ,接下来通过在端电极上施加特定离子的共振波形,使其与He 碰撞导致离子内能增加而使离子碎裂,此过程称之为Fragmenation 或CID ,最后在离子阱上扫描Rf 电压得到二级质谱。
ICT HP3070维修人员基本培训讲义
ICT HP3070 维修人员基本培训讲义课程内容 ( 大纲 ) :1. ICT HP3070 机台介绍2.程序的测试顺序3.测试的原理4. 如何由打印机出来的不良报表分辨出机器或治具误测?5.遇到机器不良及治具测试误测过多要如何动作?6.判断组件或PCB 为厂商责任的流程为何?7.遇到大量相同不良问题时 : 1. 如何反应及处理 2.如何确认是否错件 .8.遇到不良组件如何确认 ?9.电阻或电容的单位 .10.写出 ICT测试不良后至维修人员再到 ICT测试之间SHOPFLOOR 的流程11.Q&A版本:1.0 日期 :2003/2/26 Carl Lee , Wendy Tai 编写( 维修人员线上维修学习比例较为重 , 本章只能够讲解基本观念及理论 )( 每一单元的红字为是提示老师讲解重点 , 非介绍内容 )一 . ICT HP3070 机台介绍:( 介绍内容: 由讲师介绍HP3070 的机器型;模块 , 及各操作功能 , 维修人员也要了解才能对维修工作有帮助 )ICT 的HP3070 是由美商 Agilnet 公司制造的电路板测试机台 , 目前可说是同业中价钱最贵, 但也是功能最强大的机台 ;因为功能强大 , 操作上也相对有些复杂 ; 对新人来说是要更专心学习才能担负起测试的工作 .目前的机台有二代及三代的机台 , 外观上大致相同 ; 而且二代机台也有进行升级 , 所以功能和三代一样 ; 不同地方为操作系统的不一样 , 三代中有些操作系统为WIN 2000 , 其它为UNIX 操作系统 ; 但测试操作接口是相同的 , 不会有太大差异 .ICT 测试机器分为三大部份:▲Testhead : 测试机台部份▲Computer :电脑部份▲Support Bay:电源箱部份测试机台架有测试治具 , 由气压(air)阀把治具锁在机台上 ; 测试时由使用真空( Vacuum )抽取治具内的空气 ; 使治具上下板的测试针,扎到板上的测试点上 ; 由机台内的控制卡在控制测试 .其测试功能有如使用数千个三用电表在测试,但不同处在于使用OP Amp反相放大电路来量测,除open、short testing外并且可测试电路板上单一零件;另外可以由电源箱提供电源, 上电至待测板上 ; 进行数字测试 .( 完整的HP3070 三代测试机台正面图 )( HP3070 三代测试机台背面图 ) 测试机台 电脑 电源箱 Bar code GUN Monitor and KeyboardVacuum PortsAir port( 放在电脑箱中的电脑 )( 架在机台上的治具 , 可看到放好待测的待测板 )shop floor 电脑打印机( shop floor 电脑及打印机 )常用ICT 英文单字 :组件方面 : ICT 方面 :Capacitor 电容 Device 组件Connector 连接器 Node 节点Diode 二极管 Testhead ICT测试机台 Fuse 保险丝 Probe 测试针Inductor 电感 Fixture 测试治具Jumper 跳线 Test Pad 测试点Resistor 电阻Transistor 晶体管Switch 调整开关二. 程序的测试顺序 :( 一般测试分为此几大项 , 老师讲解重点 : 测试顺序, 测试内容 , 而维修人员也要了解才能使工作上维修方便 ) ▲ Pins test: 测试探针接触待测板是否良好▲ Shorts test: 测试open及shorts▲ Unpower analog: 不上电的模拟组件测试,像拿电表量组件一样▲ Testjet: 利用电容原理,测试组件或connect开路▲ Auto inster: 用来测试无法使用Testjet 测试的connect,例如:横向开口connect▲ On power: 由power supply供电至待测板▲ Digital test: 数字组件或IC组件测试▲ A nalog function: 一些必须上电测试的大电压 , 模拟组件三 . 测试的原理 :( 介绍 Pins test , Shorts test , Testjet test 的基本测试原理 ,而且了解不良报表如何看出不良问题点 )•pins testing : 是在测试探针扎在板上的测点 , 它的接触是否良好 ;因为有关接下来的任何一项测试的准确性 ,所以工程师会把pins testing 排在第一项测试 .它的测试原理为 , 当治具吸下而测试探针扎在测点上 ;由测试机台送上( +2.5v ,-2.5v)的电压至待测点 , 电压由待测点分压至板上的线路上 ; 由其它在板上相通线路的探针接收电压 , 如果有接收到则会形成一个电压回路 , 我们可以视为此探针有接触正常 ; 然后依序测试其它的探针 .如果有接触不良发生 ; 则会打印出不良讯息的纸条给测试人员 , 然后中断测试待维修人员处理完不良问题 ;后由测试人员重测 ; 而上( +2.5v ,-2.5v)的电压 , 是要导通线上也许有存在的二极管 , 必免发生不正确的接触不良 ,pins test 的不良讯息大致如下:-----------------------------------------CHEK-point report for “ 1:pins “ ←--- 测试不良项Fri jan 24 19:18:09 2003 目, 日期 ,机NE5MB-C 种-----------------------------------------Failed Open #1() 1: n54268 ←-- 不良测试点名称1:d22.2 ←-- 线路上相关元 1:u1.1 件1:u26.3------ End, 1 problem reported -----serial # AA -1 ←-- 不良板的条形码•shorts testing : 分为二大测试部份--- 开路测试( open test ) , 短路测试 ( shorts test )( open test ) : 测试已经知道的短路线路 ( 通常为低电阻组件跨接二条线路所发生的短路 ) , 测试针由二端的测点其中一端送上0.1v 电压 ; 由另一端接收电压 , 如果有形成一个电压回路;则表示线路正常, 没有开路或低电阻组件缺件 .( shorts test ) : 测试未知的的短路 , 由其中一端的测点送0.1v电压 , 任由其它测试针试着接收电压 ; 理论上二线路不短路, 就不因该有任何一个探针接受到电压 ; 如果有接受到电压可视为二线路短路 . 没有接收到则可视为PASS ;依循测试其它的测试点是否短路 .shorts 上0.1v 的电压是怕导通线上也许有存在的二极管 , 造成假像的短路 ; 而二种测试有一定的测试顺序 , 先由开路测试开始测试, 确认没有任何线路断线再由短路测试 . shorts test 的不良讯息大致如下:-----------------------Shorts ReportWed, Jul 27, 1988 03:32:22 PMPower Supply Board-----------------------Open #1 Thresh 6, Delay 50usOhmsFrom:M_+20V 11310 OpenTo: +20V 11466 Message is:None.-----------------------Open #2 Thresh 6, Delay 50usOhmsFrom:R1-1 1141120To: R1-2 20837 Message is:None.-----------------------Short #1 Thresh 6, Delay 50usOhmsFrom:R2-1 116112To: R2-2 20825Message is:None.-------End, 3 Problems Reports------•testjet testing :TestJet技术用于侦测Device pin有无open,TestJet利用存在零件脚与覆盖在零件表面之感应器间的微电容量( fF= 10 负15次方 Farad )。
Agilent3070_ICT简介
目錄壹、前言 (3)貳、Testhead介紹 (4)參、Workstation之介紹 (9)肆、治具簡介 (12)附錄一:各卡片實際內容 (13)附錄二:BT-BASIC之使用說明 (20)壹、前言ICT (In Circuit Test)或是ATE (Auto Test Equipment) 為Board Test系統。
硬體設備如下圖所示。
3070系列包含數種機型:HP3X7YX:0Maximum 4 module1Maximum 2 module2Maximum 1 moduleY:2 analog only3analog + digital5 Functional TestAgilent 3070主要可分為兩大主要系統,testhead及workstation。
Testhead是用來測試的機台,而Workstation則是主控程式部分。
但因Unix介面不易教學,現在新出的系統均使用PC-NT介面。
貳、Testhead介紹Pin Card的種類=>每個module至多9片。
_ HybridPlus Card _ AccessPlus Card_ Hybrid32 Card _ ChannelPlus Card_ AnalogPlus Card _ Serial Test Card (STC)其它:_ Mother Card_ ASRU Card_ Control CardBus Structure這些卡片都扮演著不同的角色,各有不同的功能,分述如下。
Pin CardASRU Card-必在slot 1整個系統放大由上圖可看出analog所要切換的relay較多,因此在有數位測點方法時,不建議使用analog方法,如電晶體的測試等等。
Control Card必在slot 6在測試程式中所需要的source和detector會在執行測試時,從System Card傳到Control Card上,每一片Control Card會控制其所在之module中的resource。
ICT Agilent3070_Update_Manual
USB/GPIB 轉接器 3. 拆下原有主機 注意分清網綫: Testhead LAN (一般爲藍色), Network LAN
4. 按圖示接駁 HP 主機 注意區分 Testhead 網綫与外部網綫., 注意接驳 USB/GPIB 转换器到新更换上的 GPIB Cable
Foxconn DSD L6 TEST ICT
Agilent3070 7.0PF System Update manual
Ben Hsu 2007‐8‐16
1. 備份 UNIX 系統文件 /hp3070/diagnostics/th1/config /hp3070/diagnostics/th1/config.o /hp3070/diagnostics/th1/ASRU_References /etc/bootptab /lib/.enable 2. 拆下原有 GPIB Cable,更換爲新的 GPIB Cable(已配送). DUT 到主機的連接 并將 GPIB 線接駁到 USB/GPIB 轉接器(主機端的位置)
顯示器請用 該轉接器轉接 外部網綫
Testhead 網綫
USB/GPIB 轉換器需接駁 GPIB Cable, USB 插頭插入主機標識 GPIB 的 USB 口
5. VNC 安裝 安裝 VNC 軟件,并設置.
設置密碼 不需ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ擇
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三、 ICT单的击按钮此功处能编辑母版标题样式
黄色TEST测试按钮
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试界面
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针床单的结击构此处编辑母版标题样式
弹簧
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探针
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轴承
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连接线
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牛角
结构架
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ICT-HP3070维修人员基本培训讲义
一 . ICT HP3070 机台介绍:ICT 的HP3070 是由美商 Agilent 公司制造的电路板测试机台 , 目前可说是同业中价钱最贵, 但也是功能最强大的机台 ;因为功能强大 , 操作上也相对有些复杂 ; 对新人来说是要更专心学习才能担负起测试的工作 .目前的机台有二代及三代的机台 , 外观上大致相同 ; 而且二代机台也有进行升级 , 所以功能和三代一样 ; 不同地方为操作系统的不一样 , 三代中有些操作系统为WIN 2000 , 其它为UNIX 操作系统 ; 但测试操作接口是相同的 , 不会有太大差异 .ICT 测试机器分为三大部份:▲Testhead : 测试机台部份▲Computer :电脑部份▲Support Bay:电源箱部份测试机台架有测试治具 , 由气压(air)阀把治具锁在机台上 ; 测试时由使用真空( Vacuum )抽取治具内的空气 ; 使治具上下板的测试针,扎到板上的测试点上 ; 由机台内的控制卡在控制测试 .其测试功能有如使用数千个三用电表在测试,但不同处在于使用OP Amp反相放大电路来量测,除open、short testing外并且可测试电路板上单一零件;另外可以由电源箱提供电源, 上电至待测板上 ; 进行数字测试 .ICT 方面 :Capacitor 电容 Device 组件Connector 连接器 Node 节点Diode 二极管 Testhead ICT测试机台Fuse 保险丝 Probe 测试针Inductor 电感 Fixture 测具Jumper 跳线 Test Pad 测试点Resistor 电阻Transistor 晶体管Switch 调整开关二. 程序的测试顺序 :Pins test: 测试探针接触待测板是否良好▲Shorts test: 测试open及shorts▲Unpower analog: 不上电的模拟组件测试,像拿电表量组件一样▲Testjet: 利用电容原理,测试组件或connect开路▲Auto inster: 用来测试无法使用Testjet 测试的connect,例如:横向开口connect▲On power: 由power supply供电至待测板▲Digital test: 数字组件或IC组件测试▲ A nalog function: 一些必须上电测试的大电压 , 模拟组件三 . 测试的原理 :pins testing : 是在测试探针扎在板上的测点 , 它的接触是否良好 ;因为有关接下来的任何一项测试的准确性 , 所以工程师会把pins testing 排在第一项测试 .它的测试原理为 , 当治具吸下而测试探针扎在测点上 ;由测试机台送上( +2.5v ,-2.5v)的电压至待测点 , 电压由待测点分压至板上的线路上 ; 由其它在板上相通线路的探针接收电压 , 如果有接收到则会形成一个电压回路 , 我们可以视为此探针有接触正常 ; 然后依序测试其它的探针 .如果有接触不良发生 ; 则会打印出不良讯息的纸条给测试人员 , 然后中断测试待维修人员处理完不良问题 ;后由测试人员重测 ; 而上( +2.5v ,-2.5v)的电压 , 是要导通线上也许有存在的二极管 , 必免发生不正确的接触不良 ,pins test 的不良讯息大致如下:-----------------------------------------CHEK-point report for “ 1:pins “ --- 测试不良项Fri jan 24 19:18:09 2003 目, 日期 ,机NE5MB-C 种-----------------------------------------Failed Open #1(209135) 1: n54268 ←-- 不良测试点名称 1:d22.2 ←-- 线路上相关元 1:u1.1 件1:u26.3------ End, 1 problem reported -----serial # A8067876A 7045180-1 ←-- 不良板的条形码•shorts testing : 分为二大测试部份--- 开路测试( open test ) , 短路测试 ( shorts test )( open test ) : 测试已经知道的短路线路 ( 通常为低电阻组件跨接二条线路所发生的短路 ) , 测试针由二端的测点其中一端送上0.1v 电压 ; 由另一端接收电压 , 如果有形成一个电压回路;则表示线路正常, 没有开路或低电阻组件缺件 .( shorts test ) : 测试未知的的短路 , 由其中一端的测点送0.1v电压 , 任由其它测试针试着接收电压 ; 理论上二线路不短路, 就不因该有任何一个探针接受到电压 ;如果有接受到电压可视为二线路短路 . 没有接收到则可视为PASS ;依循测试其它的测试点是否短路 .shorts 上0.1v 的电压是怕导通线上也许有存在的二极管 , 造成假像的短路 ; 而二种测试有一定的测试顺序 , 先由开路测试开始测试, 确认没有任何线路断线再由短路测试 .shorts test 的不良讯息大致如下:-----------------------Shorts ReportWed, Jul 27, 1988 03:32:22 PMPower Supply Board-----------------------Open #1 Thresh 6,Delay 50us OhmsFrom:M_+20V 11310OpenTo: +20V 11466Message is:None.-----------------------Open #2 Thresh 6,Delay 50usOhmsFrom:R1-11141120To: R1-2 20837Message is:None.-----------------------Short #1 Thresh 6,Delay 50us OhmsFrom:R2-111611 2To: R2-220825Message is:None.-------End, 3 Problems Reports------•testjet testing :TestJet技术用于侦测Device pin有无open,TestJet利用存在零件脚与覆盖在零件表面之感应器间的微电容量( fF= 10 负15次方 Farad )。
Agilent3070ICT培训教材
目录第一章:如何开关机 (2)第二章:U N I X简介 (5)第三章:大体接口介绍 (8)第四章:B T-B a s i c接口简介 (11)第五章:改换治具 (13)第六章:F i x t u r e C o n s u l t a n t (14)第七章:E r r o r M e s s a g e (16)第八章:利用Operator Mode (18)附件附件一:HP3070软件安装程序 (21)附件二:关于Error Message (24)附件三:如何调整analog组件(OPTIONAL) (26)附件四:board configuration第一章:如何开关机A:HP 3070 Series 3开机程序1.将治具放在 HP 3070 testhead 上。
2.打开空压机的电源。
3.打开 HP 3070 硬件的电源。
(开关位置如以下图所示)按下绿色按钮4.感动工作站及屏幕的电源。
5.直到Login窗口显现后,输入 user1,按下窗口中的OK按钮或是按下键盘上的Enter 键。
(*:注意:自打幵工作站电源到屏幕显示Login窗口这段时刻系统会自检程序,现在手指不要敲击键盘任何键)6.再输入Password,按下窗口中的OK按钮或是按下键盘上的Enter 键。
7.利用鼠标右键,开启一个BT-BASIC 窗口。
8.6在BT-BASIC 窗口的命令列上(command line)输入testhead power on 再按下键盘上的Enter 键9.利用MSI命令打开测式程序,测式程序途径为”/HP3070/boards/pab model/pca ver /program name”如8826—160(ECN为007)的SMT 半成品板测式程序名称为502—8826—160—007—01,打开程序的命令为msi”/hp3070系统测试完后显示: press F2 to continue,F3 to ignore record and re-test.ICT待测板正常测试完后键F2,ICT维修OK 板键F3, 功能测试不良板维修OK后要回测ICT ,ICT测试OK 后要加盖ICT OK 章。
HP3070 Training Material
2、关机(SHUTDOWN) 假设HP3070处于开机状态,松开夹具(如果测试头上 放有测试夹具),在BT-BASIC窗口输入testhead power off, 再关闭所有窗口。然后点击exit图标,在出现的输入用户名 窗口中输入shutdown,此用户无密码,可直接在输入密码 窗口中按enter键,此时也不要去碰鼠标和键盘,直到有提 示可以关闭电源后再关闭主机电源,然后是绿色按钮开关 和红色旋钮开关。机器这时已正常关机。
首先确认要测试的是那种线路板,然后 选择相应的夹具放到测试头上吸合夹具。点 击鼠标右键弹出右图所示菜单,拖动鼠标选 择New BT-BASIC Window 命令,此时会弹出 BT-BASIC窗口,用 msi命令进入相应的程序 目录后,输入命令get’testplan’或输入 load’testplan’,引号要同时为单引号或同时为 start start 双引号.此时点击按钮START或在BT-BASIC 窗口中输入命令run后就可以开始测试线路板 了。 开始测试按钮 停止测试按钮
Example: Shorts Test file
!!!! 9 0 1 !IPG: rev B.03.42 S threshold settling delay 50.0 short "#:N6" to "#: short "#:2V5" to "# short "#:N9" to "#: short "#:3V3" to "# !short "#:N213" to !short "#:-48V" to report phantoms threshold 10 nodes "#:-48V" nodes "#:N7" nodes "#:N213" nodes "#:N254" nodes "#:N143" !nodes "#:N146" settling delay 3.74 nodes "#:5V" settling delay 50.0 nodes "#:N10" !nodes "#:N11" nodes "#:N13"
Agilent_i3070_Operator_基本操作
Version
測試停止鍵
測試結果
良率
具體測試流程如下圖:
Version
• Medalist i3070 測試流程:
未上電測試
上電測試
Version
Version
未上電測試
1.ins):
測試待測板跟治具間的接觸是否良好(並沒有測試元件的好壞).這個 測試並不一定需要,可視廠內製程來決定.可用testplan的 “Set_Custom_Options”副程式中 “Chek_Point_ Mode”旗標來控制,有 Off(不測),Pretest(每一次測試都先測),Failure(若有其他測試不良再測), 這三種選擇可用。
利用Testjet來檢查IC的pin 腳是否有開路.
6. Testing Polarity Check:
檢查極性電容是否反向.
7. Testing Connect Check:
Version
利用量測IC I/O pin的clamping diode(保護二極體),來檢查IC pin 腳是 否開路.
上電測試
測試上電狀 態
Version
方法二: 在Windows操作界面下,打開agilent i3070軟件, 出現如下畫面
雙擊電腦桌 面上此圖標
執行power on指令后在執行IS1指令獲取控制權.
Version
B.関機程序
方法一:
1. 在BT-BASIC窗口輸入Fixture unlock命令松開治具. 2. 再輸入testhead power off, 按下enter鍵, 關閉所有窗口,具體動作如下:
2. Testing Preshorts:
測試Jumper, Fuse, Switch可變電阻等元件.
HP3070 ICT软件培训
6
04/29/2014
© Continental AG
Zhao Longfei
FTP和rlogin的使用
ftp命令主要用于取送文件,也就是说本地的文件一旦损坏可以去另外 一台机器取得文件,应用方法:在本机的shell窗口下输入ftp空格+需 要获取文件机台的ip地址,如图。
回车进入之后输入用户名+密码,跟正常的一样,之后就可以进入到 目标文件位置获取文件,命令:get空格+文件名,成功后,文件就 被抓取到本地,这里必须特别注意一点,ftp之前在哪个文件夹,抓取 回来的文件就在哪个文件夹,最好走之前就准备省得回来时麻烦, 还有一点,结束时输入bye,不识别exit。
msi相当于shell中的cd例msihp3070进入hp3070目录msi显示当前路径cat相当于shell中的ll列目录get打开一个文件例如gettestplanfindfindn在打开的文件中进行查找find是查找全部文档的第一个findn是从当前行查找下一个save另存为例savetestplan2另存为testplan2resave修改之后以原文件名存盘即覆盖慎用testheadis1建立btbasic窗口与testhead之间的关系使btbasic命令可以控制testheadfixturelock夹具与测试头吸合fixtureunlock夹具与测试头分离faonfaoff开启真空阀使夹具上盖吸合boardconsultant调出元件位置图主要用于查找器件fixtureconsultant调出夹具相关的位置图主要用于查找针点debugboard调出调试窗口basic命令042920144?continentalagzhaolongfei在basic窗口中最下面一排对应的快捷键如下
3070 Training Level 2-1英
2013-7-4
Wang Kai / iNETest
16
Overdriving
Driving each input pin with a high current, narrow pulse
Overcoming the influence from the upstream devices Pulse can prevent the heat damage to the DUT Can be used in cluster testing and device testing Build-in timeout mechanism can guarantee the safety issue
2013-7-4
Wang Kai / iNETest
2
Section 1 Setup Power Supply
Overview Routine Syntax
2013-7-4
Wang Kai / iNETest
3
An Overview of Powered Test
2013-7-4
Wang Kai / iNETest
Safeguard all
Safeguard none
19
Digital Test Overview
2013-7-4
Wang Kai / iNETest
20
Digital Test Overview (Cont.)
Try to test each digital device Exercise each pin of digital device Each pin should can be in two states, and tri-state as well Function could be tested also Safeguard should be involved for protection
Agilent_3070_系统介绍(共69张PPT)
1296 nodes
Agilent 3x7y 系列(xìliè)
3X73
3X72
Test Capabilities & Standard Products: ✓ Shorts ✓ Analog ICT ✓ Quick70 ✓ Short-wire fixturing ✓ Panel Test ✓ TestJet
精品文档
Hybrid Double Density Card
Two sides: Side A, Side B
MUX ratio (MINT pins : D/R lines): 9:2 16 channels x 9 pins = 144 MINT pins
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Hybrid32 Card
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Anatomy of Agilent 3070
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Anatomy of Agilent 3070 (Cont.)
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DUT Power Supplies
Agilent 6621A
Agilent 6624A
Agilent 6634A
Agilent 6642A
Current
High Medium
4.
Control XTP
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ASRU Card
提供正确的激励信号 Applies the appropriate stimulus
使用(shǐyòng)测量运算放大器进行电压信号的测量 Makes a voltage measurement with MOA
(Measuring Operational Amplifier) 提供直流点信号和波形发生器 Provides DC source and a waveform generator 分配在1号槽 Resides in slot 1 有 A, B, C 三个版本
HP3070介绍总纲
安捷伦3070路径限制解决方案
动态测试路径组合
DFT 工具: 路径导向器 魔术测试
DriveThru
InterconnectPlus Boundary Scan
Agilent 3070 路径咨询器
Smart !
! W D!! NO DE LU NC I
决定哪一个节点 可以删除
确定哪一个动态测试 通道工具可以选用以 提高故障覆盖率
独特的快速测试方案
Agilent 产量倍增器
测试一块巨大的PCBA板,或 并联同时测试4块PCBA板 节省地方,工人,经费。
HP 3060
HP 3070 Agilent 3070PC HP 3065 Agilent 3070 Series 3
ICT市场的世界第一(2000 年占有市场的43%) OEMs & CEMs 使用 Agilent 3070 的详情 全球最大的25家OEM厂家中的20家 全球最大的10家 CEM厂家中的9家 超过150家CEM厂家 全球共有将近4000态3070系列ICT机
向量数字测试基础
In_1 Out In_2 In_1 3070 Drive In_2 3070 Drive Out 3070 Receive In_1 0 0 1 1 In_2 0 1 0 1 Out 0 0 0 1
3070 Sample Point
A Vector
全面取代TestJet的VTEP技术
ster ce Te an rform Pe High 试能力
字测 进的数 先
de pgra U
ter t Tes cui 力 In-cir 测试能
数字 全部的
安捷伦气质联用仪培训教材培训课件
常见问题一及解决方案
仪器无法启动
检查电源连接是否正常,仪器是 否处于休眠状态,以及仪器前面 板上的电源开关是否已打开。
真空系统故障
检查真空泵是否正常工作,真空 管道连接处是否有漏气现象,以 及仪器是否需要更换真空泵油。
仪器基线漂移
检查仪器基线是否稳定,仪器是 否需要重新校准,以及进样口和 色谱柱是否需要更换。
气质联用仪的故障排除
电源故障
仪器泄漏
检查电源插头、电源线和保险丝是否完好, 排除电源故障。
检查气体管路、密封圈和接口是否泄漏,及 时排除泄漏问题。
仪器移动
仪器报警
检查仪器是否稳定固定在实验室台面上,排 除因移动或振动对分析结果的影响。
根据仪器报警提示,及时排查问题并解决, 确保仪器正常运行。
04
它能够将气相色谱仪分离的复杂化合物逐一送 入质谱仪中进行检测,从而获得各组分的分子 量、分子式、官能团等详细信息。
气质联用仪主要用于混合物中各组分的定性和 定量分析,广泛应用于化学、医药、环保等领 域。
气质联用仪基本原理
气质联用仪的核心是接口技术,它将气相色谱仪与 质谱仪连接起来。
接口的作用是将气相色谱仪分离的化合物逐一引入 质谱仪中进行检测。
常见问题二及解决方案
要点一
峰形异常
要点二
定量不准确
检查进样口是否堵塞,进样方式是否 正确,以及色谱柱是否需要更换。
检查标准曲线是否正确,进样量是否 准确,以及仪器是否需要重新校准。
要点三
响应值低
检查样品浓度是否过低,进样量是否 过小,以及仪器是否需要更换部件。
常见问题三及解决方案
01
灵敏度低
02
Agilent ICT培训教材
- 19 -
• 5、模拟元件上电测试 power analog • ---------------------------------------• u17 HAS FAILED • Subtest: output • Measured: 17.168m ������ 量测到之电压 • High Limit: 5.5000 ������ 电压上限 • Low Limit: 4.5000 ������ 电压下限 • Direct Current VOLTS • ---------------------------------------• 没有测量到电压,检查U17的电源回路。
- 22 -
Agilent 3070 ICT测试机台维护
• • 保养内容 • 1、机器表面,工作台,显示器,键盘和鼠标清洁 • 2、打开测试头保护盖,检查并清洁测试头排针 • 3、检查测试头上治具锁扣是否完好,工作是否正常 • 4、检查真空管,压缩空气管接头是否正常 • 5、检查气压表并确认读数在0.4MPa到0.6MPa之间 • 6、检查真空表读数在-0.08MPa到-0.1MPa之间
15 NOV. 2009
- 20 -
ICT不良分析流程
• 电路板(PCBA)不良分析流程 • 如果测试中发现有不良电路板,则Agilent 3070 ICT 测试机台会自动打印出不良记录单,此时要将打印出 的不良记录单按要求付在电路板上,放在标有不良品 区的静电托盘或传移支架内送到在线修理站。 • 修理人员根据所附的不良记录单,找出不良元件位置 并进行维修。对于看不出问题的不良电路板,对照测 试点的投影片或电路图查找不良原因并修理,将修理 完的电路板送回生产线再次ICT测试。
15 NOV. 2009
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ll file1 = -rwxrwxrwx ll file2 = -rwxrwxrwx ll file3 = -rwxrwxrwll file4 = -rwxrwxrwll file5 = -rwx-wxr-ll file6 = -rwx-wxr-ll file7 = -rwxrw-r- ll file8 = -rwxrw-r- ll file9 = - - - - - - - - - ll fileA = - - - - - - - - - -
按 F3.
系統測試完後顯示: press F2 to continue,F3 to ignore record and re-test. ICT 待測板正常測試完后鍵 F2,ICT 維修 OK 板鍵 F3, 功能測試不良板維修 OK 后
要回測 ICT ,ICT 測試 OK 后要加蓋 ICT OK 章。.
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10.輸入 get ‘testplan’ 按下鍵盤上的 Enter 鍵。 11.輸入 run 按下鍵盤上的 Enter 鍵 12. 屏幕顯示
=========
[1]:test board 1 [2]:test board 2 [3]:test board dual boards ============= [4]:back up and creat a new qstat record [5]:print out current qstat record
7. 關閉 HP 3070 硬體電源以及空壓機電源。
PS.如何建立 shutdown user?(optional)
1.開啓一個 shell window,輸入#sam
=>必須爲 super user
2.按下 Accounts for Users and Groups,再按下 Users。
3.在新出現的窗口上按下 Actions => add。
✓ bdf
列出目前各個logic volume的使用情形。
✓ du –s folder_name 顯示目錄的大小(一個bolck=512k bytes)。
✓ ll (List Long)列出目前工作目錄下所有檔案的詳細資料。
例如:
srwxrwxrwx
1 owner group size
date
name
B:HP 3070 Series 3 關機程式__by shutdown user
1. 在 BT-BASIC 視窗輸入 fixture unlock 按下鍵盤上的 Enter 鍵 2. 再輸入 testhead power off 按下鍵盤上的 Enter 鍵。 3. 按下 EXIT 的按鈕,離開 CDE 介面。
delete duplicate Edit fetch find findn get list load merge mov msi msi$ number scratch save re-save unlink
✓ tar xvf filename.tar
將.tar檔還原。
PS:請試試$man tar
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第三章:基本介面介紹
➢ long in 的介面:
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✓ Icon 的說明:
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Analog Clock Date & Day File Manager interface HP-UX terminal Access to all the HP3070 functi:
fixture/
‘/’表示這是一個目錄。
Testplan
表示這是一個檔案。
Sorter*
表示這是一個執行檔。
➢ chmod:更改檔案的使用模式
ll file1 = -rw-rw-rw ll file2 = -rw-rw-rw ll file3 = -rwxrwxrwx ll file4 = -rwxrwxrwx ll file5 = -rwxr- -r- ll file6 = -rwxr- -r- ll file7 = -rw-rw-r- ll file8 = -rw-rw-rll file9 = -rw-rw-r- ll fileA = -rw-rw-r- -
✓ 在系統上的硬體也是視爲一個檔案。
Printer或是其他周邊元件都是以檔案存在。 Testhead也是以檔案存在。
➢ 常用的UNIX指令:
✓ cd (Change Directory)更改工作目錄。 cd /home/user1/class_bd
✓ pwd
(Present Working Directory)列出目前的工作路徑。
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的 Enter 鍵。(*:注意:自打幵工作站電源到螢幕顯示 Login 視窗這段時間系統 會自檢程式,此時手指不要敲擊鍵盤任何鍵 )
6. 再輸入 Password,按下視窗中的 OK 按鈕或是按下鍵盤上的 Enter 鍵。
7. 利用滑鼠右鍵,開啓一個 BT-BASIC 視窗。
man <command> who whoami hostname wc <file> mkdir rmdir rm –r folder
線上使用手冊(manual)。 LOGIN的使用者 目前是那一個使用者 顯示出HOSTNAME。 顯示出檔案含有多少行、字、位。 産生新的目錄。 將空目錄移除。 將整個目錄移除,包含子目錄。
chmod +x file1 chmod 777 file2 chmod o-x file3 chmod 776 file4 chmod g=wx file5 chmod 734 file6 chmod u+x file7 chmod 764 file8 chmod = file9 chmod 000 fileA
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第一章:如何開關機
A:HP 3070 Series 3 開機程式
1. 將治具放在 HP 3070 testhead 上。
2. 打開空壓機的電源。
3. 打開 HP 3070 硬體的電源。(開關位置如下圖所示)
按下綠色按鈕
4. 打開工作站及螢幕的電源。 5. 直到 Login 視窗出現後,輸入 user1,按下視窗中的 OK 按鈕或是按下鍵盤上
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➢ Directory Backups
✓ tar cv
將程式tar到帶子中。
✓ tar xv
將程式由帶子tar到機器中。
✓ tar rv
將程式tar到帶子上,但是會接在帶子原有的程式後面。
✓ tar tv
列出帶子所tar的程式,但是不tar到機器上。
✓ tar –cvf filename.tar filename 將檔案壓縮成.tar檔。
表示這個檔案會連結到某一個路徑。
這九個字母分別代表了owner,group以及other有關Read,Write,eXecute的許可權。
✓ ls ✓ lsf
(List Short)列出目前工作目錄下的檔案名稱(只有檔案名稱)。
(Lost Short, File of the directory specified)列出目前工作目錄下的
➢ changing Ownership ✓ 更改owner: chown new_owner path/file ✓ 更改group: chgrp new_group path/file ✓ 同時更改: chown new_owner:new_group path/file
➢ 常用指令:
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常用指令如下:
cat change changem copy to creat dir
列出目前所在路徑下的檔案以及目錄。 將指定的字串以新的字串取代。 在 marked 的區間內,將指定的字串以新的字串取代。 將檔案複製到新的路徑下。 産生新的目錄。
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8. 6 在 BT-BASIC 窗口的命令列上(command line)輸入
testhead power on
再按下鍵盤上的 Enter 鍵
9.利用 MSI 命令打開測式程式,測式程式路徑為”/HP3070/boards/pab model/
pca ver /program name”如 8826—160(ECN 為 007)的 SMT 半成品板測式程式名稱
定義owner group other的使用權限,其中第一個英文字母可以爲:
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s - symbolic link 允許檔案可以有不同的檔名。
d = directory
表示這是一個目錄。
c = character device 週邊元件,如螢幕。
l = link
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4. 在 Login 視窗輸入 shutdown,按下視窗上的 OK 按鈕。
5. 在 Login 視窗輸入 Password ,按下視窗上的 OK 按鈕。
6. 當畫面出現以下訊息時:
system has halted OK to turn off power or reset system UNLESS “WAIT for UPS to turn off power “ message was printed above 此時即可關閉工作站及螢幕電源。
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