XRF操作指导卡
XRF(SOP操作指导书)
置狀態轉至ON位置狀態。
7.X-RAY鑰匙向右旋轉後，軟體的左下方會出現可以測量，此時X射線到達安
定狀態需等待約30分鐘。
二．量测：
1.点击應用選单，再选择金属为塊體分析(FP)，塑胶为塊體分析（检量线）。
2.点影像视窗。
XRF仪器操作作业指导书
仪器名称
桌上型X射线荧光光谱仪（XRF）
厂商/型号
Seiko / SEA1000A
操作步骤
一.开机：
1.打開位於儀器測量系統主機右後方的電源開關ON。
2.請按在測量系統的右下方的Power綠色開關，請確認開關確實變成綠色。
3.打開電腦螢幕和電腦的電源。
4.打開印表機的電源。
5.啟動X-ray軟體。
線關閉）訊號，此時X射線已關閉。
2.按測量系統的右上角的（結束軟體）按鈕，關閉X-ray軟體。
3.關閉電腦主机電源。
四.维护与保养：
1.每周进行对过滤棉清洗，能量校正，強度校正，分辨率校正。
2.每天进行对第二片塑胶标准片校正，误差应在范围内（“Cd、Pb 100正负15，Hg、Br、Cr 100正负30”）如超出此范围内，就必须对四片塑胶标准片重新校正。
3.按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕)Байду номын сангаас以打開樣品室蓋。
4.將樣品放置在測量區域的中央位置，然后用手將台蓋往下壓，直到台蓋聽到卡的一声為止。
5.点击开始进行测试。
6.测试完后左下角会出现可以进行量测时，点击分析报告就会出现成份的数据作成Word档案，并且保存。
三.關機：
1.X-ray鑰匙向左旋轉後，使其成縱方向狀態OFF，軟體的左下方會出現（X射
xrf作业指导书
xrf作业指导书1.在成品出货前建立某RF测试规程，确保产品符合欧盟包装指令和RoHS指令，以及其它国家或地区的类似RoHS指令。
2.成品及其包装材料。
3.3.1欧盟(Eu)成员国目前欧盟成员国包括27个国家：比利时、赛普勒斯、捷克、丹麦、德国、希腊、西班牙、爱沙尼亚、法国、匈牙利、爱尔兰、意大利、拉脱维亚、立陶宛、卢森堡、马尔他、荷兰、奥地利、波兰、葡萄牙、斯洛伐克、斯洛文尼亚、芬兰、瑞典、英国、罗马尼亚及保加利亚。
3.2欧盟包装指令(PPWD)包装及包装废弃物指令(PackagingandPackagingWateDirective)94/62/EC及其增订指令2004/12/EC分别于1994.12.31与2004.02.18经欧盟公告。
PPWD要求：包装中重金属浓度总和不超过100ppm。
3.3欧盟RoHS指令RetrictionofHazardouSubtance电子电气设备中有害物质的限制使用指令自2006年7月1日起，禁止进入欧盟市场的电子电器产品中含有超过设定水平的下列3.4均匀材质(HomogeneouMaterial)是指各部分的成分均匀，不可以旋开、切断、压碎、磨碎和研磨等机械的方法进一步拆分的材料。
3.5某RF：某-rayFluorecence荧光某射线法3.6ICP：InductivelyCoupledPlama电感耦合等离子体法3.7SpotTet：用化学反应液定性检验Cr6+的化学试验3.8PE：Polyethylene,[化]聚乙烯LDPE：Low-DenityPolyethylene,[化]低密度聚乙烯3.9PVC：[化]聚氯乙烯454.1Innov某某RF仪使用说明书5.1QA部客户要求，在成品出货前抽取样品进行某RF检测；在发现可疑品时作进一步验证分析，有必要时可停止产品出货，直到问题澄清或提供必要的技术支持和测试标准，协助验证分析可疑品。
6某RF测试人员必须接受相关培各抽取2台，需拆开后壳进行测试，测试结果记录在《某RF每周测试出货检查成绩书》上。
X射线荧光分析仪操作流程
X射线荧光分析仪（XRF9）操作流程
1．开机：打开XRF9总电源，打开电脑；
2．打开软件：从桌面打开XRF9软件（普通用户密码：123456（自动保留）；高级用户密码：62133636）
3．点击软件界面“设置—仪器维护”，进行系统设置、仪器设置、仪器初始化启动，进行X射线管预热(20min)；
重元素为2；
4
轻元素为
4．预热结束后，进行仪器校正（长时间不用才进行校正）
5．样品定位：关闭高压—打开复位机构——样品室—放置样品——打开复位机构—侧视调节样品高度—俯视调节样品水平位置——光阑滤片——视频放大——保存视频；
6．样品测定：打开高压——开始采样——输入文件名——确定
7．定性分析：在经过能量刻度过后，点击谱分析菜单，在下拉菜单中选择定性分析，出现元素周期表形式的元素选取窗口，如下图所示，点击元素符号，根据要求选取分析元素，点击确定按钮。
8．定量分析（外标法）
8．1标准曲线创建：
点击，单击菜单栏中的创建外标曲线，出现：
8．2元素定量分析
具体操作步骤为：
点击谱分析菜单中定量中的外标法，弹出如下图外标法窗口，在文件菜单中选择*.spcj 类型打开需要定量的未知样品文件，再打开已保存的*.es 类型所需定量元素的标准曲线，如图所示，点击工具菜单内的“定量”，得出定量结果并选择保存。
9．测量结束后，依次关闭高压开关、软件、仪器总电源安全锁、计算机打印机、总电源开关。
XRF 操作指引
设置标准中，本公司按
照客户指令要求设置各
3).
个元素的限值，而并非
RoHS指令的限值。
2).
1).测试员按照相关要求 制作各部门的测试报 14 表，并装订好交由管理 员审核数据、判定结果 。
1).测试完毕，关闭流 15 程为：关软件 → 关
仪器 → 关电脑
2).
1).
1).打开仪器门，放入标
样EC681，选择曲线CrCl
。
2).点击
3
参数设置，选择测量时 间，将测量时间设定为
1000S。 3).点击开
始测试按钮，在测试过
程中对仪器进行预热。
预热仪器对于刚开启的
仪器是必不可少的。预
1).
热可以让仪器更好的进
入工作状态，从而保证
仪器测量状态的稳定
性，测量结果的可靠性
2).
3).点击参数设置，选择
测量时间，输入200S。
10 4).点击开始测试按钮开
始测试。
5).测试完成后，比对Sb
、Ba、Se的结果与标准
5).
值的偏差。 如偏差小于
±5％，则OK，打印出结
果保存。反之再次进行9
、10步骤。
1).将需要测试的样品放
入仪器内，通过视频图
像摆正位置。
2).根据所测样品的材质
。
1).预热完成后，点击分 析报告，会出现分析报 4 告保存路径对话框，输 入相关信息，选择当日 的保存文件夹。
按照当日的实际情况输 入操作员姓名、并选择 正确的分析报告保存路 径。
3).
1).打开仪器门，放入纯 银片，从视频中对准测 试部位。关好机仓门。 5 2).选择曲线：测塑胶及 其它。 3).点击参数设置，选择 初始化，点击OK。
XRF仪器操作指导书
XRF仪器操作指导书1.目的规范我司所有进料、制程、出货的产品或交付给最终客户产品，均被确认为满足RoHS要求。
2.适用范围适用于本公司BXR-606型号的XRF仪器的RoHS检测操作。
3. 权责3.1 检测人员：仪器保养,维护；产品RoHS含量检测；产品检测结果的知会；3.2 QE工程师：各自所负责客户产品检测结果的确认；超RoHS含量产品的标识／隔离／处置；3.3 品保部经理：测量作业的有效运行，不符合RoHS含量标准产品异常追溯和跟进预防。
4.操作内容4.1 操作准备4.1.1测试样品，纯银片，样品杯，测试薄膜及其他相关工具。
4.2启动系统4.2.1电脑处于开机状态下按主机电源（见图一），指示灯亮后双击桌面上打开BXR-606程序，按程序提示进行登录；4.2.2在软件界面中点击：设置弹出高压电源使能，并在高压电源使能小框前打上“√”，点击确定，高压指示灯将自动打开（见图二）。
管压管流数据自动上升，当管压数据接近45KV，管流数据接近50UA时，可以进行下一步操作；4.2.3仪器校验：将纯银片放入样品腔窗口正中央（也可从电脑监视眼中显示被测样品是否置于正中央）点击左边的“峰位微调”工具栏，再点击“确定”机器将进行自动校验；4.2.4自动校验结束后，用鼠标将坐标图上方的浅色方形图拖至与中间深蓝色图形重叠，图形将超出整个画面，再用鼠标右键单击图形，选择“适合屏幕”，图形将完整现与画面。
移动坐标的Z轴至图形中间最高点，左上方的数据前四位显示为1110或1111时校验完成。
4.3测试作业:4.3.1将样品杯或者样品的平整面向下放至样品腔正中位置（见图三），可打开工具栏中的监视系统摄影画面将显示样品是否放正——点击工具栏中的“Mea sure”——选择工作区相对应的“塑料类”（或其它项目）工作曲线——输入样品名称——点击“开始”，按提示进行操作；4.3.2再次选择工作区的“塑料中的Cr”工作曲线对同一种样品进行第二次测量；4.3.3大样品测试方法：打开大样品盖将样品放于测试平台正中央，按前面的程序进行测量（见图四）.注意测试过程中，样品盖不可以处于打开状态。
XRF仪器操作作业指导书V1.0
其发给京国艺公司请求协助;
7.4在测试时请选取与待检测物品的材质相符合的测试方法;
7.5 确保准直器通道与所你选中的测试方法相对应;
7.6确保计数率在100以上;
7.7在打开测试仪盖子前请务必确保高压灯关闭,停止检测;
7.8 有效的拆分原则 (指将物料拆分为均质材料)保证XRF测试值的准 确性。
计数率、道址、计数率
图七 测试方法 选择区域
图八 软件计数 率观察区
图九 中途查 阅报告格式
6.3预热完毕后先对仪器进行校正,一般采用银样自检（如图四）银样放 在测试窗的正中央，选择M准直器进行测试，在检测前查看端口及准
预热按钮
直器设置是否正确(从”系统”下下推子目录查看，观察测试图谱与
样本分析图谱是否一致)。
图三 软件画 面预热按钮
图四 自检 样品
北京京国艺二代 GY-MARS/T型X荧光光谱分析仪作业指导 部门
高压指示
量是否满足受限要求。
2 适用范围
适用于AVA有ROHS要求的原材料、辅耗料、包材以及外协加工之物料。
3 测试工具
3.1主要工具：北京京国艺二代 GY-MARS/T型X荧光光谱分析仪
3.2辅助工具：电脑,打印机,手套,镊子,符合ROHS要求的物料拆分工具。
开关机指示
4 测试要求
测试仪应存放在: 10℃≤温度≤28℃; 湿度≤80%的房间内;
北京京国艺二代 GY-MARS/T型X荧光光谱分析仪作业指导 部门
文件编号 工序编号
对应产品书
（型号）
T01
工序名称
ROHS物料 高分基本板
生产
日期 页码
作业步骤和要求
1 目的
编制 刘亿华
XRF--操作步骤--2009-12-17(SOP操作指导书)
3.皮革或布料样品，样品厚度或密度不够时，可以将几块订起来测试。
4.样品应置于样品腔的正中间，样品杯不够时，可以用小的无污染的PE样品袋代替。在排除干扰因素的前提下，测试结果异常时，应采用化学方法分析，或送第二方或第三方实验室检测。测试完每份样品，需对测试区进行无污染清洁。
3.按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕)，以打開樣品室蓋。
4.將樣品放置在測量區域的中央位置，然后Байду номын сангаас手將台蓋往下壓，直到台蓋聽到卡的一声為止。
5.点击开始进行测试。
6.测试完后左下角会出现可以进行量测时，点击分析报告，就会出现成份的数据作成Word档案，并且保存。
三．注意事项
1.金属和塑料样品，样品厚度最好为1-2mm。塑胶颗粒最好是放在样品杯中测试。
XRF操作指导书
仪器名称
桌上型X射线荧光光谱仪（XRF）
厂商/型号
Seiko / SEA1000A
操作步骤
一.开机操作
1.打開位於儀器測量系統主機右後方的電源開關ON。
2.請按在測量系統的右下方的Power綠色開關，請確認開關確實變成綠色。
3.打開電腦螢幕和電腦的電源。
4.打開印表機的電源。
5.啟動X-ray軟體。
5.测试结束后，需参考《干扰元素分析表》，排除外界混入的理论上讲不该含有的元素后，方可输出报告。
四.關機程序
1.X-ray鑰匙向左旋轉後，使其成縱方向狀態OFF，軟體的左下方會出現（X射線關閉）訊號，此時X射線已關閉。
2.按測量系統的右上角的（結束軟體）按鈕，關閉X-ray軟體。
XRF光谱仪检测作业指导书2019
设 备页 码版 本1
编 号
保养
版本编制日期01
审核日期批准
日期
参考图片
操作步骤
作业内容及注意事项
重庆xx包装印刷有限公司光谱仪XRF光谱仪检测作业指导书
第 1 页 共 1 页
剪成30.30mm的小块，除去底纸再将材料叠加直至厚度超过3.5mm；3.放入测试样品测试，将光皮衣外盖打开，将我们准备的样品放入到检测台上
关上光谱仪外盖，录入原材料各项参数，点击软件检测按钮开始检测。
4.生成报告，光谱仪自动生成检测报告将报告稿重命名存入指定目录。
将电子版报告存入电脑
有纸质报告需求的要打印签名后外发。
防尘定期清洁，注意用电安全。
记录测量准备
打开光谱仪电源开关，检查启动是否正常
准备好待测试样，剪刀，标准银校片
测量步骤
1.设备校准，将标准银小片至于设备检测台上，合上设备外盖，打开计算机
桌面的操作软件，确保设备通信正常，预热15分钟之后点击校准，完成弹出
对话框，取出标准银校片。
2.制备测试样品，由于不干胶材料厚度不足最低
3.5mm的要求，所以我们需要将
不干胶材料叠加至3.5mm以上的厚度才能包装测试效果，用剪刀将不干胶材料
版本： 1
修改内容生效日期
首次发行
1
2
3
4
5
6。
XRF结构与操作2012年课件
DUT LOGO
DUT LOGO
XRF－标准工作曲线定量分析
需标准样品 制作标准工作曲线（元素质量百分数与强度值的 关系曲线） 测量待测样品（待测样品必须与标准样品同类） 需考虑以下影响 基体效应（物理化学状态不同） 粒度效应（对X射线的吸收） 谱线干扰
DUT LOGO
DUT LOGO
DUT LOGO
样品的保存-粉末样品
1.表面沾污 大气浮游物中的Si, Ca, Al等会沾污样品。 2.吸附和吸潮 石灰质样品会吸附CO2， SO2等气体，引起X射线强度变化。CaO含 量高的样品又极易吸潮引起重量变化和组分变化。 3.破损 粉末压片试样受到撞击或摩擦都会引起破损，尤其是没加粘结剂内 聚力又较差的样品 4.氧化 粉末样品最好以粉末的形式保存，在干燥器中存放，需要时再压片 如：在塑料样品袋中存放3个月的铜精矿，由于氧化，铜的含量可 从30.05%降到29.48%
如在高温合金中，测量NiKβ 对CuKα 重叠校正系数K时，若 用纯镍测量,无其他元素干扰。而在系统中含有Co、Fe、Cr等， 它们对λ CuKα （0.1542nm）和λ NiKα （0.1659nm）的质量吸 收系数与纯金属相比相差很大，其中Co的吸收限（λ =0.1608nm ）正好处在这两个元素特征波长之间。此时用纯镍测得的K值不 能用。
DUT LOGO
谱线重叠的实验测量
图1 Ti对V的重叠干扰
P1是待分析元素V的Kα线,2θ角位于θ1; P3是干扰元素Ti的Kβ线，它的一部分 强度贡献给了P1; P2是Ti的Kα线，2θ角位 于θ2;因此有
Iθ1 = I1 + I1′ + B1
K= I1′ / I2
Iθ1：在θ1处测得的总强度； I1：在θ1处的待测元素的净强度； I1′：干扰线P3在θ1处测得的净强度； B1：在θ1处的背景强度。
xrf操作规程
xrf操作规程XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的无损分析技术，可以用于快速、准确地分析各种材料的元素成分。
为了保障操作的安全性和分析结果的准确性，使用XRF仪器的操作人员需要遵守一定的操作规程。
以下是XRF操作规程的一些建议，供参考。
1. 实验前准备：- 确保工作区域整洁，无杂物和尘土。
- 检查XRF仪器的运行状态，确保其正常工作。
- 确保配备必要的安全设施，如防护眼镜、手套、防护衣等。
2. 样品准备：- 根据实验需求，选择适当的样品制备方法，并确保样品制备过程符合标准操作规程。
- 严格控制样品的尺寸和形状，以确保分析结果的准确性。
- 要小心处理易燃、易爆和有毒物质，采取相应的安全措施。
3. 仪器操作：- 按照仪器的使用说明书进行仪器开启和关闭的步骤和操作。
- 仪器操作人员应接受专业培训，熟悉XRF仪器的操作系统和各项功能。
- 在操作过程中，要轻拿轻放，避免对仪器造成不必要的损害。
- 严禁操作人员以外的人员接触X射线仪器，并确保工作区域的人员安全。
4. 标样校准和质量控制：- 使用标准测试样品进行校准，确保分析结果的准确性和可靠性。
- 定期检查和校正仪器的校准曲线，以确保其准确性和稳定性。
- 使用定期检测的质量控制样品进行仪器性能验证，以确保仪器处于良好状态。
5. 分析操作：- 根据实验需求选择适当的分析模式和参数设置，确保分析结果的准确性。
- 保持仪器和样品的稳定温度和湿度，以减少因环境因素引起的测试结果误差。
- 仔细记录和标记每个样品的相关信息，以便后续的数据分析和处理。
6. 实验后处理：- 在实验结束后，彻底清洁和维护XRF仪器，确保其正常工作和寿命。
- 保存样品数据和分析结果，进行数据分析和比较。
- 及时处理发现的问题和异常情况，如仪器故障或测试结果异常，确保问题得到妥善解决。
总之，遵守XRF仪器的操作规程是确保实验结果准确性和人员安全的重要措施。
操作人员应严格按照规程要求进行操作，并在操作过程中保持高度的警惕性和责任心，以确保实验的顺利进行和结果的可靠性。
WinXRF实用操作手册
ARL X荧光光谱仪实用操作手册北京办事处序言为帮助用户能够尽快掌握ARL X荧光光谱仪操作软件的用法，编者根据英文版的ARL X荧光光谱仪的用户手册编写了这本《ARL X荧光光谱仪实用手册》。
由于编写人员的知识水平和理解能力有限，手册中错误之处在所难免。
因此，真诚地希望读者能提出意见和批评，以便改正和改进。
目录第一章 WinXRF3.0软件的安装与重新安装 (1)1．WinXRF3.0的卸载2．WinXRF3.0基本系统的安装3．WinXRF3.0可选软件的安装4．IIS安装与卸载5．IIS的备份与恢复6．数据库的备份与恢复第二章 WinXRF3.0软件初始化菜单的说明 (26)第三章日常分析 (32)一、标准化二、浓度分析第四章分析结果的检索和处理 (41)一、分析结果的检索二、分析结果的处理第五章QuantAS的使用方法 (48)1．QuantAS的漂移校正2．未知样的分析3．分析数据的处理4．QuantAS标准的建立第六章 UniQuant的基本用法 (59)一、UniQuant的安装二、UniQuant的漂移校正三、未知样的分析四、分析数据的处理第七章扫描 (75)一、编制程序进行扫描1．编制程序2．运行扫描3．查看扫描结果二、利用分析助手进行扫描第八章能量描迹 (84)一、编制程序进行能量描迹1．编制程序2．运行能量描迹3．查看能量描迹结果二、利用分析助手进行能量描迹第九章位置校准和高压校准 (92)一、测角仪校准1．测角仪各晶体探测器组合角度位置校准曲线的再校准2．测角仪各晶体探测器组合高压校准曲线的再校准二、固定道高压的再校准第十章用WinXRF3.0建立工作曲线 (96)第一节建立工作曲线第二节MVR中干扰校正的简单应用第三节理论α系数计算程序的使用方法第四节利用分析助手建立分析程序第五节校准标样工具的用法第十一章用WinXRF3.0建立类型标准校正程序 (164)1．建立类型标准校正程序2．建立利用类型标准校正程序的浓度分析任务3．建立类型标准初始化任务4．建立类型标准更新任务5．运行类型标准初始化任务6．运行类型标准更新任务7．利用类型标准分析试样第十二章自动操作 (174)一、批操作的编制二、自动操作的运行1．Unattended Analysis自动分析的运行2．Batch Operation批操作的运行3．自动操作的中断和恢复第十三章分析结果的远程传送 (184)一、Utilities部分中的设置二、Preparation部分中的设置三、测试工具第十四章R&R Report程序的基本用法 (206)第十五章 SPC的简单使用说明 (209)第一章WinXRF3.0软件的安装与重新安装WinXRF3.0运行于Windows2000 Professional操作系统之上（WinXRF3.1-2以后的版本支持WinXP Professional操作系统），首次安装WinXRF3.0时，要求Windows2000 Professional 系统中必须先装好IE（Internet Explorer浏览器）和IIS（Internet Information Services因特网信息服务）。
XRF操作指引
XRF操作指引X射线荧光光谱仪（XRF）是一种非破坏性的分析仪器，广泛应用于材料分析、环境检测、地质勘探、工业生产等领域。
本文将为您介绍XRF 操作指引，以帮助您正确、高效地操作这一仪器。
一、准备工作1.确认XRF仪器的工作状态，检查电源和仪器各部件是否正常。
2.准备待分析的样品，并将其拆解成小颗粒。
如果样品是固体，可使用研磨机对其进行研磨；如果样品是液体，可进行溶解处理。
3.初始化仪器并校准。
校准仪器前需要使用标准样品进行测试，确保仪器能够准确分析样品。
二、操作步骤1.打开XRF仪器电源，等待仪器初始化完成后，将待测试样品放入样品槽中。
2.选择合适的分析程序，不同样品需要选择不同的程序，确保分析的元素和参数正确。
3.根据样品类型和尺寸，调整XRF仪器的参数，如电压、电流、分析时间等。
确保参数的选择足够精确，以保证测量结果的准确性。
4.点击“开始测量”按钮，仪器开始工作。
这个过程中需要保持样品的稳定性，避免样品的颗粒移动或高温熔化等情况发生。
5.等待测量过程完成，仪器会自动显示分析结果，包括样品中各元素的含量及相对误差。
根据实际需要，可将结果存储到计算机或打印出来。
三、注意事项1.在操作XRF仪器前，必须佩戴防护眼镜、手套等个人防护设备，以确保使用安全。
2.仪器需要定期维护和保养，及时清理样品槽和探测器表面等部件，防止杂质积聚影响测量结果。
3.在使用XRF仪器时，应避免将样品暴露在高温、高湿度等环境下，以免对样品造成损害。
4.样品的制备过程需要注意，避免样品中掺杂杂质对测量结果的干扰。
若样品复杂，建议进行预处理，如溶解、稀释等。
5.长时间连续使用仪器会产生一定的热量，为避免过热，应定时进行冷却、休息。
四、故障处理1.若XRF仪器出现异常，如无法正常启动、测量结果异常等，应首先检查仪器电源、参数设置等是否正确。
总结：通过正确操作XRF仪器，我们可以得到准确的样品分析结果，为科研、生产等领域提供有力的数据支持。
EDX2800 XRF仪器作业指导书
编制人
罗磊
审核人
批准人
日期
2011.10.21
日期
日期
文件修改记录
文件编号
修改版本
修改页数
修改内容描述
修改人
批准人
生效日期
SOP-QR-079
AO
/
首次发行
一、目的：
为了控制有害物质的采购，及确保本公司生产及交付的产品不受有害物质的污染，符合RoHS及SONY SS-00259管控标准（包括客户的特殊性要求）的目的。
4.5.5样品放入后，选左边工具栏，选择相应测量曲线，点击开始进行测量，XRF曲线分类如下：
4.5.5.1测塑胶中CrCl
4.5.5.2测钢铁中CrCdPbHg
4.5.5.3测有色金属中CrCdPbHg
4.5.5.4测焊锡中CrCdPbHg
4.5.5.5测塑胶及其它
4.5.5.6测镁铝中CrCdPbHg
4.5.3仪器初始化
4.5.3.1放入银校正片，用鼠标点击参数设置栏，双击初始化按照提示，点击OK即可，初始化过程要持续几秒到几十秒时间。
4.5.3.2初始化成功后，状态栏的峰通道将显示为1105道，否则需要重新进行化直至显示1105方可。
4.5.4初始化完毕后，取出银校正片，放入需检测之样品，样品测量部位可点击样品观察栏进行观察。
4.2检验设备：
EDX2800检测仪器
4.3实验方式：
以X光管激活元素进行分解的一种方式。
4.4实验条件：
4.4.1高压5KV-50KV
4.4.2温度适应范围15℃~30℃
4.4.3电源交流220±5V
4.5实验步骤：
4.5.1检查各连接是否正常
XRF-Wintrace 中文操作手册2
ARL QUANT’X 型荧光能谱仪定性，定量操作中文说明(第一版)（以原英文版为准）Thermo Fisher Scientific (Shanghai) Co.Ltd.赛默飞世尔科技（上海）有限公司2007年一定性分析1.采谱1) 打开采谱管理器(Acquisition manager)出现表示仪器工作正常表示连接异常表示采谱正在正常进行2) 击File, 击New, 出现定性盘表(Qualitative Tray List),定量盘表(Quantitative Tray List)和参考盘表(Reference Tray List).根据需要选择.(1) 定性盘表(Qualitative Tray List)用于定性分析.(2) 定量盘表(Quantitative Tray List)用于建立分析方法和样品分析(3) 参考盘表(Reference Tray List)用于採集参考谱 3) 定性盘表(Qualitative Tray List)的使用:我们以随机附带的Ti&Zn氧化物为例在sample 处 输入样品名, 点击旁边文件名空格,将自动显示将自动存入的文件名.再逐次点击其右边的三个空格.完成后点该样品名再击, 击Condition Property采谱条件, 出现采谱条件表,点击根据需要选择采谱条件,（绿色表示条件最适合做这种元素，黄色表示还可以，红色表示不适合）确认. 将样品放在样品测试位, 盖好盖子. 击采集, 开始采谱,仪器盖子自动锁上显示红色 直至完成.如果中途想停止点击，采谱完成后将自动存入谱文件位. 以后可以击Spectrum读取.一旦采谱开始就会有谱峰出现在屏幕上，为判断你的样品中有何元素点工具栏中 ，这时会有一条标有Na 的黄线出现在谱图的左边，这条线叫 KLM 标记线，你可以按住Ctrl键并拖动鼠标或按住Ctrl键并按箭头键，当谱峰和黄线完全重合是表明有这种元素存在。
XRF光谱分析仪作业指导书
制訂日期：2008/08/08 版本：AXRF光譜分析儀作業指導書一．目的：為了使操作人員更好的了解掌握XRF光譜分析儀的使用方法，對有害物質做到有效的的監測，防止含有HS的外購成品、半成品、原材料流入工廠和防止制程中的半成、成品受到污染流入客戶端。
二.范圍：XRF系列光譜分析儀均適用之三.權責：1.本文件制定與修訂:品管部2.本文件執行: 品管部3.本文件需經本公司環境管理物質技術委員會核準四.術語和定義：4.1. X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。
这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。
该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。
4.2.X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。
4.3X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。
X-射线荧光光谱仪用的探测器必须满足所有波长谱线的需要才能达到表1中列出的测量样品的极限。
4.4XRF谱图的推荐分析谱线表1：单个分析物的特性X-射线五.校驗及點檢設備：5.1.打開XRF光譜分析儀，先熱機30分鐘，按《Xlt-797Wz重金屬元素分析儀操作手冊》對設備進行自檢，然後使用塑膠標準片點檢設備，並把測試數據記錄與“點檢記錄表”，對比測試數據是否在可接受范圍內。
5.2.若測試數據超過標準范圍，用酒精清洗設備測試窗口，然後再測試塑膠標準件。
5.3.設備測試窗口要定期(1禮拜/次)使用酒精清洗，使窗口保持清潔，以免影響設備的準確性。
審核：制訂：22mm12mm圖1：測量窗口圖2：樣品杯。
XRF光谱仪操作指导书
2）、单击菜单“参数设置”中的“初始化”。系统会自动提示“请放入Ag校正片，换好后按确定”，放入银校正片，点击“确定”。初始化成功后，状态栏的峰通将显示1105道，否则，重新进行初始化。
3）、为了保证测量的效果，一般将初始化的过程进行2至3遍。
4、设置测量时间
2、使用、保存和搬动中，要特别小心，以免磕碰、损伤外表、损坏内部线路。
3、为使仪器能长期工作正常，需定期对各项参数进行测试，并进行调整。
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三、操作使用方法：
1、首先确定仪器和计算机以及电源之间的边线正确无误。
2、开机预热
打开总电源后，先开光谱仪主机电源，然后打开计算机主机电源。预热30分钟或任意放入一个样品，将测量时间设定为2000秒。（刚打开仪器状态还不稳定，测量的结果不可靠）。
预热完之后，仪器即可正常工作。
3、初始化Байду номын сангаас
初始化可以让仪器的各方面的设置都恢复到位，各元素回到正确轨道上。下面介绍自动初始化：
选择菜单“参数设置”下的“测量时间”项，在出现的对话框中输入预时间，按下“OK”即可。根据经验，RoHS测试时间一般设置为：200秒。
5、选择测量曲线（测试类型）
点击“工作曲线”中的“选择工作曲线”，在出现的对话框中进行选择，然后“确定”即可。
6、测量开始
点击工具栏的开始图标，会弹出一个提示窗口：“请更换X号准直器”按照这个提示换上合适的准直器。（准直器的选定，由选择工作曲线确定）点击“OK”即可。
然后，系统会出现提示“请输入样品名称”的窗口，输入样品名称，点击“OK”即可。（样品名称可以为空格，但不要选择“cancel”，因为这样系统会拒绝测量）此时系统即开始自动按照选定的工作曲线测试样品。（样品名称不能与已存在的谱线重名，否则会覆盖）
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3.3.3.3.按『影像視窗』按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將塑膠樣品放置在測量區域的中央位置.用手將樣品臺蓋往下壓,直到樣品臺蓋蓋上為止.(蓋好時會聽到蓋合聲:卡).
3.3.3.4.請從樣品觀察視窗確認樣品的放置狀態.(樣品應置於樣品臺的中央位置).
3.2.5.6.待所有的標準物質都測量完成后,按保存按鈕,將分析條件儲存.
3.3.分析方法標準程序:
3.3.1.金属樣品選擇塊體分析(檢量線)標準程序
3.3.1.1.請按『應用選擇』,再按『塊體分析(檢量線)』按鈕.
3.3.1.2.請按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕),以打開樣品室蓋.
3.3.1.3.按『影像視窗』按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將金属樣品放置在測量區域的中央位置.用手將樣品臺蓋往下壓,直到樣品臺蓋蓋上為止.(蓋好時會聽到蓋合聲:卡).
3.2.2.3.按『強度校正』按鈕.
3.2.2.3.按『開始測量』按鈕,拉著會出現「校正強度」按鈕,選擇所有的管電壓,按「確定」.
3.2.2.4.校正終了即會出現『強度校正正常完成』的訊息,按「確定」即可.從樣品室取出『強度校正板』,放回抽屜.
3.2.3.解析度校正(頻率:一次/周)
3.2.3.1.從抽屜取出黑色的『解析度校正』,將解析度校正片的黑色面朝下,放置在樣品臺上,關閉樣品臺蓋.
3.3.1.4.請從樣品觀察視窗(CCD畫像)確認樣品的放置狀態.(樣品應置於樣品臺的中央位置).
3.3.1.5.按「開啟分析條件檔案」,選擇符合目的分析條件,按『確定』.分析塑膠及Al,Mg合金的情況請選擇『P-1000』檔案.
3.3.1.6.按『開始測量』按鈕,系統即會自動開始進行測量.
3.3.1.7.按『分析報告』按鈕,將分析條件、標準樣品、樣品影像、樣品分析能譜及測試結果一并
3.2.1.2.按『能量校正』按鈕.
3.2.1.3.按『開始測量』按鈕.
3.2.1.4.等待能量校正正常完成,按『確定』.
3.2.2.強度校正(頻率:一次/周)
3.2.2.1.從抽屜取出白色塑膠狀的『強度校正板』,將強度校正片的白色面朝下,放置在樣品臺上,關閉樣品臺蓋.
3.2.2.2.按『應用選擇』按鈕.按『維修』按鈕.
3.2.4.照射口徑校正(頻率:一次/年)
3.2.4.1.從抽屜取出『照射口徑校正板』,放置在樣品臺上,關閉樣品臺蓋.
3.2.4.2.按『照射口徑校正』按鈕.
3.2.4.3.按『開始測量』按鈕.
3.2.4.4.校正終了即會出現『照射口徑校正正常結束』的訊息,按「確定」.從樣品室取出『照射口徑
校正板』,并放回抽屜.
置狀態,使其成水平狀態.
3.1.6.『X-RAY』鑰匙向右旋轉后,軟體的左下方會出現「可以測量」,此時X射線到達安定狀態需等待約30分鐘.
3.2.校正程式:
3.2.1.能量校正(頻率:一次/周)
3.2.1.1.從抽屜取出粉紅色的『能量校正板』,將能量校正片的粉紅色面朝下,放置在樣品臺上，關
閉樣品臺蓋.
3.2.5.5.若Cd,Pb定量結果与『標準物質(PE-100)』表示值之間的差異在「15%」以上的話,請按照3.2.5.6-3.2.5.16的步驟進行標準曲線的更新,如果不需要的話,請直接跳到步驟3.2.5.13;關於Hg,Br,Cr偏差稍大些,界限值設定為20%,如果測量值超出20%時,請反復測量3次,以進行確認,若平均值超出界限時,標準曲線必需進行更新,若在界限內標準曲線沒有進行更新的必要.若3次測量結果的偏差異常大時,可能是儀器發生問題,請聯系厂商處理.
3.4.關機標準程式:
3.4.1.『X-RAY』鈅匙向左旋轉后,使其成縱方向狀態「OFF」,軟體的左下方會出現『X射線關
閉』訊號,此時X射線已關閉.
3.4.2.按測量系統的右上角的『結束軟體』按鈕,關閉X-ray軟體.
3.4.3.按電腦視窗左下角的『開始』按鈕,按『關機』按鈕,關閉電腦螢幕的電源.
3.4.4.關閉印表機的電源.
核准:審核:制Βιβλιοθήκη :蔡求香文件編號:QAD-F35B
XRF操作指導書
儀器名稱
桌上型X射線熒光光譜儀（XRF）
廠商/型號
Seiko / SEA1000A
XRF測試規範
傳送到WORD軟體中輸出.
3.3.3.塑膠樣品選擇塊體分析(FP)標準程式
3.3.3.1.請按『應用選擇』,再按『塊體分析(FP)』按鈕.
XRF操作指導書
儀器名稱
桌上型X射線熒光光譜儀（XRF）
廠商/型號
Seiko / SEA1000A
XRF測試規範
1.目的:為確保本公司購買材料及生產後的成品符合創盟環保要求,特定此標准作業規範.
2.適用範圍:凡本公司購買材料(客供材料)及生產環保產品之輔料均適用之, XRF分析儀可檢測总溴(Br)&总铬(Cr)和ROHS中鉛(Pb)&鎘(Cd)&汞(Hg)的含量.
核准:審核:制作:蔡求香
文件編號:QAD-F35B
XRF操作指導書
儀器名稱
桌上型X射線熒光光譜儀（XRF）
廠商/型號
Seiko / SEA1000A
XRF測試規範
3.2.3.2.按『解析度校正』按鈕.
3.2.3.3.按『開始測量』按鈕.
3.2.3.4.等待解析度校正正常完成,按「確定」,從樣品室取出『解析度校正板』,并放回抽屜.
3.操作步驟:
3.1.開機標準程式:
3.1.1.打開位於儀器測量系統主機右后方的電源開關「ON」.
3.1.2.請按在測量系統的右下方的「Power」開關(綠色).
3.1.3.打開電腦電源和印表機電源.
3.1.4.啟動『X-ray軟體』.
3.1.5.X-ray軟體啟動后,將測量系統右下方的『X-RAY』鑰匙向右旋轉,由OFF位置狀態轉至ON位
3.3.3.5.按「開啟分析條件檔案」,選擇符合目的分析條件,按『確定』.分析金屬的情況請選擇『M1000』檔案.
3.3.3.6.按『開始測量』按鈕,系統即會自動開始進行測量.
3.3.3.7.按『影像視窗』按鈕,調整明亮度及呈現比例,以利觀察樣品.
3.3.3.8.按『分析報告』按鈕,將分析條件、標準樣品、樣品影像、樣品分析能譜及測試結果一并傳送到WORD軟體中輸出.
3.4.5.請按測量系統的右下方的『POWER』開關(綠色),使綠燈熄滅.
3.4.6.關閉位於儀器測量系統主機右后方的電源開關「OFF」.
4.注意事项
4.1.1測試前样品应放置于样品腔的正中间，溶劑必須用樣品杯盛裝，以防污染測試平台.
4.1.2测试卤素样品时要戴手套作业，防止手掌出汗（人体汗水主要成分是氯化钠）对样品造成污染，
5.保養內容:
5.1儀器表面要保持清潔.
5.2儀器周圍及表面禁放任何物品,以防物品掉入儀器內部造成儀器短路損壞.
5.3.儀器底部的濾風板在關機狀態下取出每周用風槍吹洗一次.
核准:審核:制作:蔡求香
文件編號:QAD-F35B
4.2.當用XRF測試發生異常時，先对测试区進行清潔(包括用酒精擦拭測試平台或更換保護膜)，再用干扰元素分析法(参考《干扰元素分析表》)進行分析，當测试结果仍异常时，實驗人員應核對此材料的MSDS或成份表,重新找送樣單位再次取樣兩次重測，如果仍異常則采用化学方法分析.
4.3每天首件测试前及测试完每份样品，需对测试平台用酒精擦拭.测试人员在测试时，需穿防辐射的工作外衣.
3.2.5.標準曲線的確認及更新(頻率:一次/周)
3.2.5.1.按『應用選擇』按鈕,再按『塊體分析(檢量線)』按鈕.
3.2.5.2.按『開啟分析條件檔案』選擇『P1000』檔案.
3.2.5.3.按『未知樣品測量』模式.
3.2.5.4.將『標準物質(PE-100)』放置在樣品臺上,按『開始測量』按鈕.