march算法原理

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excel march 用法

Excel是一款功能强大的电子表格软件，广泛应用于各个行业的数据处理和分析工作中。

在Excel中，March函数是一种用于返回指定日期的月份的函数，可以帮助用户快速准确地处理日期数据。

本文将介绍Excel中March函数的用法，帮助读者更好地掌握这一功能，提高工作效率。

一、March函数的语法在Excel中，March函数的语法如下：=MARCH(serial_number, month, nearest)其中，各参数的含义如下：serial_number：需要处理的日期，可以是一个日期值，也可以是对日期值的引用。

month：指定返回的月份是哪个月，取值范围为1-12。

nearest：指定如果给定日期不在目标月份，返回最接近的日期。

取值为0或1。

0表示返回上一个月，1表示返回下一个月。

二、March函数的用法1. 返回指定日期的月份March函数主要用于返回指定日期的月份。

在实际工作中，我们经常需要处理大量的日期数据，用March函数可以快速准确地提取日期中的月份信息，方便后续的数据分析和统计工作。

我们有一个日期为2022年3月15日的数据，通过March函数可以轻松得到该日期的月份为3。

2. 处理日期不在目标月份的情况在实际数据处理中，有时候给定的日期可能不在目标月份，这时候可以使用March函数的nearest参数来处理。

nearest参数可以指定如果给定日期不在目标月份，返回最接近的日期。

这一特性在一些特定情况下非常有用，可以避免因为日期不在目标月份而导致的数据错误。

给定日期为2022年3月31日，并且指定要返回的月份为4月份，如果nearest参数设为0，那么March函数返回的结果将是2022年2月28日，如果nearest参数设为1，那么返回的结果将是2022年4月30日。

三、案例分析下面通过一个具体的案例来演示March函数的使用方法。

假设现在有一个表格，其中包含了一系列的日期数据，我们需要提取出每个日期的月份信息，并将结果填写在相邻的单元格中。

Marching_Cubes算法

Marching Cubes算法（医学图像三维绘制中的面绘制）2007-08-16 00:50建议要看的资料[1] Lorensen W E, Cline H E .Marching cubes: a high-resoulution 3D suface construction algorithm [J], Computer Graphics,1987, 21(4):163~169[2]集成化医学影像算法平台理论与实践田捷，赵明昌，何晖光清华大学出版社2004年10月[3]Polygonising a scalar field Also known as: "3D Contouring", "Marching Cubes", "Surface Reconstruction".au/~pbourke/geometry/polygonise/Marching Cubes；[4]Marching Cubes算法工作原理Marching Cubes算法是三维数据场等值面生成的经典算法，是体素单元内等值面抽取技术的代表。

等值面是空间中所有具有某个相同值的点的集合。

它可以表示为，，c是常数。

则称F(f)为体数据f中的等值面。

在MC算法中，假定原始数据是离散的三维空间规则数据场。

用于医疗诊断的断层扫描(CT)及核磁共振成像(MRI) 等产生的图像均属于这一类型。

MC算法的基本思想是逐个处理数据场中的体素，分类出与等值面相交的体素，采用插值计算出等值面与体素棱边的交点。

根据体素中每一顶点与等值面的相对位置，将等值面与立方体边的交点按一定方式连接生成等值面，作为等值面在该立方体内的一个逼近表示。

在计算出关于体数据场内等值面的有关参数后山常用的图形软件包或硬件提供的面绘制功能绘制出等值面。

图2.1 离散的三维空间规则数据场中的一个体素2.1.1 MC算法的主要步骤1．确定包含等值面的体素离散的三维空间规则数据场中的一个体素可以用图2.1表示。

基于March C+算法的RAM内建自测试设计

相邻单元其中的一个进行写操作时，导致ＮＰＳＦ算法可以ｔｉｏｎＤｅｌａｙＦａｕｌｔ，ＴＦ）
临近图形敏感故障（ＮｅｉｇｈｂｏｒｈｏｏｄＰａｔｔｅｒｎＳｅｎｓｉｔｉｖｅＦａｕｌｔｓ，ＮＰＳＦ）开路故障（ＳｔｕｃｋＯｐｅｎＦａｕｌｔ，ＳＯＦ）
在随机访问ＲＡＭ的时候，存储单元中的对每个存储单元进行１－０和０－１的读写，并且写入变数据会从０跳变成１，或者从１跳变成０．换值的时候要迅速地读出现在的数据，最后检查结果．
１故障模型
故障模型对于测试来说非常重要，一般故障模型与电路设计息息相关故障模型主要分为六类，分别是：单元固定故障、单元耦合故障、状态跳变故障、临近图形敏感故障、开路故障、地址译码故障．故障模型的描述以及故障检测方法如表１所示：
表１故障分类
故障名称
故障介绍
检测方法
单元固定故障（ＳｔｕｃｋＡｔＦａｕｌｔ，ＳＡＦ）
Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：Ｐｅｒｌｌａｎｇｕａｇｅ；ＭａｒｃｈＣ＋ａｌｇｏｒｉｔｈｍ；ＨＳＣ３２Ｋ１ｃｈｉｐ；ＢｕｉｌｔＩｎＳｅｌｆＴｅｓｔ
０引言
随着集成电路产业的飞速发展，片上系统（ＳｏＣ，Ｓｙｓｔｅｍｏｎｃｈｉｐ）的集成度变得越来越高，电路设
收稿日期：２０１８－０３－２１基金资助：辽宁省教育厅研究生教育教学改革项目（辽教函［２０１７］２４号）作者简介：孙守英（１９９２－），辽宁东港人，硕士研究生，从事集成电路测试研究．
Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＩｎｏｒｄｅｒｔｏｓｏｌｖｅｔｈｅｓｈｏｒｔｃｏｍｉｎｇｓｏｆｔｒａｄｉｔｉｏｎａｌｔｅｓｔｉｎＨＳＣ３２Ｋ１ｃｈｉｐ，ｔｈｉｓｐａｐｅｒ
ａｄｏｐｔｓＢｕｉｌｔＩｎＳｅｌｆＴｅｓｔ（ＢＩＳＴ）ｍｅｔｈｏｄｂａｓｅｄｏｎＭａｒｃｈＣ＋ａｌｇｏｒｉｔｈｍ，ａｎｄｃａｌｌｓＭｂｉｓｔＡｒｃｈｉｔｅｃｔｔｏｏｌｗｉｔｈｐｅｒｌｌａｎｇｕａｇｅ．ＴｈｅＭａｒｃｈＣ＋ａｌｇｏｒｉｔｈｍｉｓａｕｔｏｍａｔｉｃａｌｌｙｇｅｎｅｒａｔｅｄ．Ｔｈｅｇｅｎｅｒａｔｉｏｎｔｉｍｅｉｓｏｎｌｙ３．５ｓｅｃｏｎｄｓ，ｗｈｉｃｈｓｈｏｒｔｅｎｓｔｈｅｔｅｓｔｔｉｍｅａｎｄｉｍｐｒｏｖｅｓｔｈｅｔｅｓｔｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙｃｏｍｐａｒｅｄｔｏｍａｎｕａｌｌｙｗｒｉｔｉｎｇｔｈｅａｌｇｏｒｉｔｈｍｃｏｄｅｆｏｒｓｃｏｒｅｓｏｆｍｉｎｕｔｅｓｏｒｅｖｅｎｈｏｕｒｓ．Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗｔｈａｔｔｈｅｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｐｒｏｐｏｓｅｄｉｎｔｈｉｓｐａｐｅｒｃａｎｅｆｆｅｃｔｉｖｅｌｙａｃｈｉｅｖｅｔｈｅｔｅｓｔｒｅｓｕｌｔｓ．Ｔｈｉｓｍｅｔｈｏｄｃａｎｂｅｅｘｔｅｎｄｅｄｔｏｏｔｈｅｒｃｈｉｐｓｔｅｓｔａｎｄｈａｓｓｔｒｏｎｇａｐｐｌｉｃａｂｉｌｉｔｙ．

fastmarching算法原理

fastmarching算法原理Fast marching algorithm (FMA) is a numerical technique used for solving the Eikonal equation, which describes the propagation of wavefronts. This algorithm is widely used in various fields such as computer graphics, medical imaging, and computational physics.The basic principle of the fast marching algorithm is to iteratively update the travel time (or distance) from a given starting point to all other points in the computational domain. This is done by considering the local characteristics of the wavefront and updating the travel time based on the minimum arrival time from neighboring points.The algorithm starts by initializing the travel time at the starting point to zero and setting the travel time at all other points to infinity. Then, it iteratively updates the travel time at each grid point based on the neighboring points, ensuring that the travel time decreasesmonotonically as the wavefront propagates outward.At each iteration, the algorithm selects the grid point with the minimum travel time among the set of points that have not been updated yet. It then updates the travel time at this point based on the local wavefront characteristics and the travel times of its neighboring points. This process is repeated until the travel times at all points have been computed.One of the key advantages of the fast marching algorithm is its computational efficiency. By exploiting the properties of the Eikonal equation and the characteristics of the wavefront, the algorithm can compute the travel times in a relatively short amount of time, making it suitable for real-time or interactive applications.In conclusion, the fast marching algorithm is a powerful numerical technique for solving the Eikonal equation and computing wavefront propagation. Itsefficiency and versatility make it a valuable tool invarious fields, enabling the simulation and analysis of wave propagation phenomena in a wide range of applications.。

March算法在BIST电路设计中的作用机制

文献标识码：Ａ
０引言
随着ＳｏＣ技术的发展，了弥补传统电路测为
试扫描技术效率低的不足，生了一种能够快速产并有效地对数字系统进行测试与诊断的方法，：即白测试技术．自测试技术常常是在软件中实现但
１２ＢＳ电路设计与Ｍａｃ．ＩＴｒｈ算法的作用机制
现的复杂度两方面进行综合考虑，选择Ｍａｃ来ｒｈ算法的故障覆盖率高于８％，杂度只有６．０复ｎ
Ｍａｃ法如下：ｒｈ算（）ｎ（０，１；（１Ｏ；ｌｒ）（）Ｏ；ｒｏ）ｒ，）Ｉ（０１Ｊ图２电路设计图中原理主要是依据式（）１的
对集成电路的测试技术应运而生，就是内建自这测试（ＩＴ）术．技术具有结构简单、效测ＢＳ技该有
试时间短、测试灵活性强、以实现在线经常性测可试等优点．本文基于ＭａｃＥ算法，计了一种基于ｒｈＣ设ＨＮＣ０１ｍ的多片单、口ＲＭ为测试对ＨＥ．３双Ａ象的串行 “ ＩＴ电路．电路内部自身生成测试ＢＳ ” 在
嵌入式存储器的测试需求，现对存储器的准确实
检验和故障定位．
ＲＭ的地址序列；数据生成器：生数据及其Ａ ③ 产 “ 反” 取的值； ④控制生成器：ＢＳ在ＩＴ控制器测试

常用的单片机系统RAM测试方法

常用的单片机系统RAM测试方法在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。

为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。

通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。

本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM 测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM 故障测试方法。

1 RAM 测试方法回顾(1)方法1 参考文献中给出了一种测试系统RAM 的方法。

该方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H 和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。

(2)方法2 方法1 并不能完全检查出RAM 的错误，在参考文献中分析介绍了一种进行RAM 检测的标准算法MARCHG。

MARCH 一G 算法能够提供非常出色的故障覆盖率，但是所需要的测试时间是很大的。

MARCHG 算法需要对全地址空间遍历3 次。

设地址线为根，则CPU 需对RAM 访问6 乘以2n 次。

(3)方法3 参考文献中给出了一种通过地址信号移位来完成测试的方法。

在地址信号为全O 的基础上，每次只使地址线Ai 的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持0 不变，这样从低位向高位逐位进行；接着在地址信号为全1 的基础上，每次只使地址线Ai 的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1 不变，同样从低位向高位逐位进行。

因此地址信号的移位其实就是按照2K(K 为整数，最大值为地址总线的宽度)非线性寻址，整个所需的地址范围可以看成是以全0 和全1 为背景再通过移位产生的。

在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。

在以上的写单元操作完成后，再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。

设地址线为n 根，则CPU 只对系统RAM 中的2n+2 个存储单元进行访问。

2 基于种子和逐位倒转的RAM 测试方法基于种子和逐位倒转的测试方法。

基于march c-算法的sram bist电路的设计

基于march c-算法的sram bist电路的设计SRAM BIST（Built-In Self-Test）电路是在静态随机存储器（SRAM）中集成的一个用于自测试的电路。

它可以在不需要外部测试设备的情况下对SRAM进行测试和诊断。

在设计SRAM BIST电路时，可以采用March C算法。

March C算法是SRAM 测试中经常使用的一种算法，它可以实现全面的SRAM测试和故障诊断。

以下是基于March C算法设计SRAM BIST电路的步骤：
1.确定SRAM的大小和位宽。

这将决定BIST电路的复杂度和测试时间。

2.根据SRAM的大小和位宽，设计SRAM测试模式生成器。

该模块生成March C测试序列，包括读取、写入和比较操作。

3.设计比较器模块，用于比较读取的SRAM数据和预期结果。

比较器可以使用位宽和诊断能力进行自定义。

4.设计控制器模块，用于控制测试模式和测试结果的生成。

该模块还可以包括故障诊断和报告功能。

5.验证SRAM BIST电路设计的正确性，并进行仿真和模拟。

6.将SRAM BIST电路集成到目标系统中进行测试。

总的来说，基于March C算法的SRAM BIST电路设计需要进行多方面的考虑和测试，以确保其正确性和可靠性。

基于March C-算法的单片机存储器测试

基于March C-算法的单片机存储器测试作者：于文考高成张栋来源：《现代电子技术》2010年第06期摘要:为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。

根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。

该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试。

关键词:单片机;March C-算法;存储器测试;故障覆盖率中图分类号:TP333文献标识码:B文章编号:1004-373X(2010)06-019-03Test of Single Chip Microcomputer′s Memory Based on March C- AlgorithmYU Wenkao,GAO Cheng,ZHANG Dong(Beihang University,Beijing,100191,China)Abstract:In order to ensure thereliability of single chip microcomputer system,test of the single chip microcomputer embedded memory is particularly important.In accordance with characteristics and fault model of MCS-51 embedded memory,selection of the test algorithm and the data background are researched,and the test program which based on March C- algorithm for MCS-51 single chip microcomputer embedded memory for the first time in user-level is presented.The test program can reach all of the SAF,TF,AF,CF failure and some of NPSF failure,has a high fault coverage,suitable for test of MCS-51 single chip microcomputer embedded memory in user-level.Keywords:single chip microcomputer;March C- algorithm;memory test;fault coverage0 引言存储器是单片机系统中的重要组成部分,其功能的正确性直接影响到单片机的可靠性。

ACM中的数学问题March总结

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欧几里德算法
• 欧几里德算法 (The Euclidean Algorithm) • 又称辗转相除法或者短除法 • 原理: gcd(a,b) = gcd(b,a mod b) • 证明： • 利用整除性质5(a=kb±c => a,b的公因数与b,c的公因数完全相同) • 辗转相除直到两数整除，其中的除数就是要求的最大公约数。
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请写出12，10共有的倍数
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请写出12，10共有的倍数
60,
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请写出12，10共有的倍数
60, 120,
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请写出12，10共有的倍数
60, 120, 180,
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请写出12，10共有的倍数
60, 120, 180, 240…
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整除的基本性质
• 性质1： • a|b,b|c => a|c
• 性质2 ： • a|b => a|bc
• 性质3 ： • a|b,a|c => a|kb±lc
• 性质4 ： • a|b,b|a => a=±b
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整除的基本性质
• 性质5 ： • a=kb±c => a,b的公因数与b,c的公因数完全相同 • 证明： • 假设d是b,c的公因数，即d|b, d|c。 • 利用整除性质3，d整除b,c的线性组合，故d|a。 • 所以d是a,b的公因数 • 反之，如果d是a,b的公因数，也能证出d是b,c的公因数
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扩展欧几里德算法
• 扩展欧几里德算法(递归实现):
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扩展欧几里德算法

基于March算法的三态内容寻址存储器的故障诊断及实现

文章编号:16711742(2011)01006105基于March 算法的三态内容寻址存储器的故障诊断及实现王莉1,黄洪1,刘海青2(1.西南交通大学信息科学与技术学院,四川成都610031;2.成都迈普通信有限公司路由产品开发部,四川成都610029)摘要:介绍了三态内容寻址存储器的硬件组成,分析了三态内容寻址存储器的工作原理,结合Mar ch 算法的理论设计了三态内容寻址存储器故障诊断的方法,并介绍了故障检测的流程,在VxWorks 的操作系统下以Tornado为开发平台实现了三态内容寻址存储器的故障诊断功能,最后给出了实验结果。

实际应用表明结果可靠性能高能满足用户的需求。

关键词:计算机应用技术;故障诊断;三态内容寻址存储器;内建自测中图分类号:TP399文献标识码:A 收稿日期1引言近年,随着信息网络知识与技术的不断发展和提高,越来越多的公司(例如:中国移动、中国电信、银行等)都使用网络办公,于是因特网和以太网等网络的使用量显著增加,因此很多运营商对于高速和高可靠性的数据处理性能的需求也日益增加。

三态内容寻址存储器(T ernary Content Addressable Memory,TCAM)作为数据传输过程中关键器件,能够实现数据目标等的快速查找,能很好地解决多业务中各种表项的高速查找问题。

为支持大量的路由信息,网络设备制造商往往会在路由器,三层交换机中扩展多个TCAM 器件,满足业务的需求。

由于TCAM 处于高频率被使用状态,避免不了会出现诸如读、写、查找功能出错的故障问题,导致网络阻塞,丢包现象,其故障排查与检测也就成了维修部门首先要考虑的问题。

传统情况下,维修部门对TCAM 故障检测是通过TCAM 厂家提供的专用检测仪并经人工观赏检测仪的指示灯判读T CAM 的故障状态,检测方式不仅提高了TCAM 的检测成本,而且也加大了维修人员的数量及工作量。

基于这种背景下,结合March 算法的理论和T CAM 的工作原理,设计了一种快速排查与检测TCAM 读、写、查找功能的一种方法,并给出了实验结果。

marchc原理

marchc原理"马尔科夫过程"（Markov Process，也叫马尔可夫链）最初是由俄国数学家安德烈·马尔科夫（Andrey Markov）在1906年提出的一种概率模型。

直观地说，它用来描述随机过程中某个状态的变化规律，具体来说，就是某一时刻的状态只与它的上一个状态有关。

马尔科夫过程的核心是状态和状态转移概率。

我们可以用一个简单的例子来说明：假设某人要从A地到B地，他有三种选择：步行、骑自行车或者开车。

每种选择都有它的概率，而这个概率又受到很多影响因素，比如天气，交通状况等等。

我们可以将这个过程抽象成一个马尔科夫过程。

在这个例子中，人的状态就是他所在的位置，即可以在A地、B地、还是在路上。

每个状态都有一个概率来表示这个状态的出现频率，此外，状态之间还有相应的转移概率，即人从一个状态到另一个状态的概率。

比如，假设这个人开始在A地，步行和骑自行车的概率都是0.3，而开车的概率是0.4。

当他选择步行前往B地时，步行的概率为1，即100%。

但在路上，他可能会被大雨浇湿，或者遇到了交通堵塞，这又会影响到下一步的选择，比如他可能会转而选择骑自行车或开车。

马尔科夫过程的核心就在于这些概率的推导和计算，需要针对具体的场景进行建模，而这个过程又叫做“马尔科夫链的建模”。

马尔科夫链的建模可以应用于很多实际领域中，比如自然语言处理、机器学习、金融风险模型等等。

其中最为著名的例子就是Google公司的PageRank算法，这个算法就是基于马尔科夫链的思想实现的，用来衡量网页的重要性。

通过计算网页之间的链接关系和点击率等信息，可以建立网页之间的转移概率矩阵，然后通过迭代计算，得到每个网页的PageRank值，从而实现搜索引擎排名的计算。

总之，马尔科夫过程是一种非常有用的概率模型，可以用来描述许多随机过程中的状态变化规律，具有广泛的应用前景。

[重点]MarchingCube算法原理

Marching Cube 算法原理1.1.1 Marching Cube 算法概述面绘制法则是根据设定的阈值，从体数据中提取出表面的三角面片集，再用光照模型对三角面片进行渲染，形成三维图像。

面绘制法主要分为基于断层轮廓线的方法和基于体素的方法。

基于断层轮廓线的方法是先在不同的断层上提取出感兴趣区的轮廓线，然后在相邻的断层的轮廓线间构造出三角面片的方法，这在同一断层上有多个轮廓线时会产生模糊性，上下两层的轮廓线不易对应。

用户干预可以避免一定的模糊性，但是这样大大增加了操作的复杂性。

因此不被广泛采纳使用。

基于体素的方法以移动立方体法（Marching Cube，MC）为代表。

Marching Cubes算法是面显示算法中的经典算法，它也被称为“等值面提取”（Iso-surface Extraction）。

本质是将一系列两维的切片数据看作是一个三维的数据场，从中将具有某种域值的物质抽取出来，以某种拓扑形式连接成三角面片。

算法的基本原理MC算法的基本思想是逐个处理体数据场中的各个体元,并根据体元各个顶点的值来决定该体元内部等值面的构造形式"算法实现过程中,体元内等值面构造要经过以下两个主要计算:1、体元中三角面片逼近等值面的计算;2、三角面片各顶点法向量的计算。

1.1.2预备知识介绍（体素模型和等值面介绍）1、体素模型的介绍体素一般有两种定义：一种与二维图像中像素定义相类似。

直接把体数据中的采样点作为体素，另一种是把八个相邻的采样点包含的区域定义为体素。

在三维空间某一个区域内进行采样，若采样点在x,y,z,三个方向上分布是均匀的。

采样间距分别为Δx,Δy,Δz，则体数据可以用三维数字矩阵来表示。

每八个相临的采样点相临的立方体区域就定义为一个体素。

而这八个采样点称为该体素的角点。

他们的坐标分别为：（i, j, k), (i+1,j,k), (i,j+1,k), (i+1,j+1,k), (i,j,k+1), (i,j,k+1), (i+1.j+k+1), (i,j+1,k+1) 和（i+1,j+1,k+1）如图-1所示这样的体素为边界体素。

基于March C+算法的SRAM BIST设计

基于March C+算法的SRAM BIST设计张志超;侯立刚;吴武臣【摘要】In order to increase controllability and ohservability in memory testing and to reduce the testing time, a BIST design hased on March C+ algorithm for a 32-bits SRAM in LEON processor is proposed, in which SRAM fault model and BIST implementation are discussed. The designed BIST circuit can well connect with system. and only increase few I/O ports. Simulation results prove that the BIST design has good fault coverage without increasing chip area.%为了增加存储器测试的可控性和可观测性,减少存储器测试的时间和成本开销,在此针对LEON处理器中的32位宽的SRAM进行BIST设计.采用March C+算法,讨论了SRAM的故障模型及BIST的实现.设计的BIST电路可以与系统很好的相连,并且仅增加很少的输入/输出端口.仿真结果证明,BIST的电路的加入在不影响面积开销的同时,能够达到很好的故障覆盖率.【期刊名称】《现代电子技术》【年(卷),期】2011(034)010【总页数】3页(P149-151)【关键词】SRAM;BIST;March C+算法;故障模型【作者】张志超;侯立刚;吴武臣【作者单位】北京工业大学集成电路与系统集成实验室,北京,100124;北京工业大学集成电路与系统集成实验室,北京,100124;北京工业大学集成电路与系统集成实验室,北京,100124【正文语种】中文【中图分类】TN402-340 引言当前集成电路的规模越来越大，片上存储设备也越来越重要。

mbist测试方法(一)

mbist测试方法(一)MBIST测试方法什么是MBIST测试？MBIST（Memory Built-In Self-Test）是一种用于测试集成电路（IC）中的存储器的方法。

通过在芯片内部嵌入测试逻辑来实现自我测试，MBIST可以帮助检测和修复存储器中的故障，从而提高芯片的可靠性和品质。

常见的MBIST测试方法1. March AlgorithmMarch Algorithm是一种基于脉冲序列的MBIST测试方法。

它通过在存储器中加载和操纵数据，然后将其与预期值进行比较，从而检测故障。

该算法可以通过反转输入和输出数据来测试存储器的不同部分，包括位线、字线和存储单元。

2. Checkerboard PatternCheckerboard Pattern是一种使用交错的数据模式进行MBIST测试的方法。

通过在存储器中交替加载1和0的数据模式，然后检查存储器中的每个位是否正确响应，可以发现存储器中的故障。

3. March C- AlgorithmMarch C- Algorithm是一种使用第三方压缩编码进行MBIST测试的方法。

该算法通过将数据压缩为更小的编码形式，从而减少测试时间和测试所需的存储器带宽。

通过在MBIST测试中使用更高效的数据编码，可以提高测试覆盖率并降低测试成本。

4. BIST with RepairBIST with Repair是一种结合MBIST和自动修复技术的测试方法。

使用BIST（Built-In Self-Test）技术可以在芯片级别检测存储器故障，而自动修复技术则可以自动在芯片制造过程中修复这些故障。

通过结合两种技术，可以大大提高芯片的品质和可靠性。

MBIST测试的优势和应用•提高芯片可靠性：MBIST测试可以在芯片制造过程中及时检测和修复存储器故障，提高芯片的可靠性和品质。

•降低测试成本：MBIST测试可以在芯片内部进行，减少对外部测试设备的依赖，降低测试成本。

•提高测试效率：MBIST测试可以在芯片内部进行并行测试，提高测试效率和覆盖率。

基于March算法的嵌入式存储器BIST技术

方法对于减少测试时间、降低测试成本至关重要.
度，为进一步构造高效的测试算法提供基础. 通常，存储器故障模型可进行如下划分(见图 1) : ) 1 根据敏化该故障需要同时进行的操作数，分
为单端口故障(5飞1 卯 f u t )和多端口 1 已 n al 故障(mu til port f u t . 例如， al ) 有些故障需要对单元同时施加多
关键词故障模型; Ma c 算法;数据背景; 内建自测试 r h
中图法分类号 T P302
为了满足各种应用的需要，片上系统( S C) 中 o 的存储器所占面积比重逐年不断增大，预期到 2008
年将达到8 %，年达到94%[’ 另一方面， 3 2014 ]. 随
着深亚微米工艺的发展，芯片集成度的大幅提高，嵌人式存储器的缺陷成为严重影响芯片成品率的因素. 新工艺的应用以及日益复杂的设计模式给存储器测试带来了极大的挑战. 优秀的故障模型和有效的测试
o fr
MBIST implementation currently . Various fault m dels and imP rtant march algorithms are intr duced in o o o this paper . S me implementation scheme f r MB1ST ar discus ed . Their trade一 s ar analyzed f m the o s o e s of e t o r
计算机研究与发展 Jo r l o C冶 o t e R~ u n f a nlp r
c n r h a d E地 velopme t n
ISSN 1000一 1239l CN l l 一 1777l TP 44( S ppl. ) : 17 一21， u 2007

编辑距离算法的原理及应用

编辑距离算法，也被称为Levenshtein距离算法，是一种用于衡量两个字符串之间相似度的方法。

它通过计算将一个字符串转换为另一个字符串所需的最少操作次数来衡量它们的相似程度。

这些操作包括插入、删除和替换字符。

编辑距离算法的原理可以通过动态规划来实现。

我们可以建立一个二维的矩阵来表示两个字符串的编辑距离。

矩阵的行表示一个字符串的每个字符，列表示另一个字符串的每个字符。

矩阵中的每个元素记录了从一个字符串的某个字符到另一个字符串的某个字符所需的最少操作次数。

下面我们以字符串”march”和”cart”为例来演示编辑距离算法的计算过程：| | c | a | r | t || 0 | 1 | 2 | 3 | 4 |m | 1 | | | | |a | 2 | | | | |r | 3 | | | | |c | 4 | | | | |h | 5 | | | | |我们可以将第一行和第一列的初始值设为从空字符串转换到对应字符串所需的操作次数：| | c | a | r | t || 0 | 1 | 2 | 3 | 4 |m | 1 | 1 | 2 | 3 | 4 |a | 2 | | | | |r | 3 | | | | |c | 4 | | | | |h | 5 | | | | |我们可以根据以下递推公式计算矩阵中其他位置的值：if s1[i] == s2[j]:dp[i][j] = dp[i-1][j-1]else:dp[i][j] = min(dp[i-1][j], dp[i][j-1], dp[i-1][j-1]) + 1其中，dp[i][j]表示矩阵中第i行第j列位置的值，s1和s2分别表示两个字符串。

按照上述公式计算，我们可以得到完整的编辑距离矩阵：| | c | a | r | t || 0 | 1 | 2 | 3 | 4 |m | 1 | 1 | 2 | 3 | 4 |a | 2 | 2 | 1 | 2 | 3 |r | 3 | 3 | 2 | 1 | 2 |c | 4 | 3 | 3 | 2 | 3 |h | 5 | 4 | 4 | 3 | 3 |我们可以通过读取矩阵的右下角元素，即dp[m][n]，来得到两个字符串的编辑距离。

基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析毕业论文

本科毕业论文(科研训练、毕业设计)题目：基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析姓名：学院：软件学院系：软件工程专业：软件工程年级：学号：指导教师：职称：年月摘要在当今工业，由于生产技术和产品设计提高等原因，每个晶体管的制造成本呈持续下降的趋势，而每个晶体管的测试成本却基本保持不变。

因而测试成本在快速追上制造成本，并且将很快超过其制造成本。

原因很简单，因为先进的测试设备的价格非常昂贵使得测试成本居高不下。

因此，对测试方法和测试算法的改进就成了重中之重。

本文从研究系统芯片的可测试性设计理论出发，对可测性设计中的内建自测试方法作了更为深入的研究，并对该领域的研究情况进行了介绍。

在此基础之上，本文分析了嵌入式存储器内建自测试技术的相关理论和方法，包括其故障模型与测试算法，重点剖析了March测试算法，并在己有算法(March-TB)的基础上分析了一种改进型的March测试算法March-TBA 算法。

该算法通过增加六步读(写)操作，不但覆盖了更多的测试过程中可区分的故障类型，增强了故障诊断能力，而且减少了测试所需要的时间。

改进后的算法的故障覆盖率更高，从而验证了该算法的有效性。

关键词：可测性设计(DFT) 内建自测试(BIST) 嵌入式存储器 March算法AbstractIn today's industry, due to production of technology and improve of product design, and other reasons, the manufacturing cost of transistor continues down, but the basic cost of the test of transistor remains unchanged. Thus the test’s cost is rapidly catching up with the manufacturing cost, and will exceed its manufacturing costs. The reason is very simple, because of the high price of advanced test equipment makes the cost high. Therefore, the test methods and test algorithm has become the top priority of improving.First of all，the thesis researches the testing design theory of system chips. Then，the thesis gives a deeper discussion of BIST in design-for-test and illuminates the research situation of this area. Besides，the thesis explains the related theories and methods of embedded memory BIST including the fault model of memory and the test algorithms of embedded memory，Particularly analyzes the March algorithm. and the thesis puts forward an improved March algorithm—March-TBA based on the existent algorithm. The algorithm not only covers more distinguishable fault kinds in the testing process and intensifies the fault一diagnosed capability，but also shortens the testing time. And the result shows that the improved algorithm can cover most faults. Accordingly，it testifies the validity of the algorithm.Keyword: Design-For-Test (DFT) Built-In Self-Test(BIST) Embedded Memory March Algorithm目录引言------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 1第一章存储器测试的发展--------------------------------------------------------------------------------------------------------- 2存储器测试发展动态 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 2 BIST的测试方法---------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 4第二章存储器的故障模型--------------------------------------------------------------------------------------------------------- 8存储器故障分类----------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 8存储单元的简化功能故障 ---------------------------------------------------------------------------------------------------- 9基于嵌入式存储器的故障模型---------------------------------------------------------------------------------------------10存储器故障诊断算法分析 ---------------------------------------------------------------------------------------------------122.4.1 Checkerboard算法（棋盘法） ---------------------------------------------------------------------------122.4.2 Gallop算法（奔跳法）-------------------------------------------------------------------------------------122.4.3 March算法（进行法） --------------------------------------------------------------------------------------132.4.4基于棋盘的改进 -----------------------------------------------------------------------------------------------13第三章March算法介绍 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------16 March算法简介 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------16 March算法演变 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------183.2.1 A TS和改进的ATS算法（MATS） --------------------------------------------------------------------183.2.2March A和March B算法----------------------------------------------------------------------------------183.2.3March C算法--------------------------------------------------------------------------------------------------183.2.4March C+算法-------------------------------------------------------------------------------------------------193.2.5March C-算法--------------------------------------------------------------------------------------------------19March算法处理的故障类型 ------------------------------------------------------------------------------------------------193.3.1单一内存单元故障（Stuck-At Fault，SAF）-----------------------------------------------------------203.3.2单一内存单元转换故障（Transition Fault，TF） -----------------------------------------------------203.3.3耦合故障（Coupling Fault，CF）-------------------------------------------------------------------------203.3.4相邻内存单元敏化故障（Neighborhood Pattern Sensitive Fault，NPSF） ----------------------203.3.5数据保留故障（Data Retention Fault，DRF） ---------------------------------------------------------20第四章March -TBA算法分析 ----------------------------------------------------------------------------------------------------21 March-TBA算法的前身 -------------------------------------------------------------------------------------------------------21 March-TBA算法的主要内容-------------------------------------------------------------------------------------------------23 March-TBA算法的检验成果-------------------------------------------------------------------------------------------------244.3.1 March-TBA算法对固定故障（SAF）的检测情况------------------------------------------------------254.3.2 March -TBA算法对状态转换故障（TF）的检测-------------------------------------------------------264.3.3 March C-算法对翻转耦合故障（CFin）的检测 ---------------------------------------------------------284.3.4 March C-算法对幂耦合故障（CFid）的检测 ------------------------------------------------------------304.3.5 March C-算法对状态耦合故障（CFst）的检测----------------------------------------------------------36March-TBA算法的故障覆盖率----------------------------------------------------------------------------------------------42第五章结论 --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------45致谢 -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------46参考文献 -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------47Contents引言------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 1第一章存储器测试的发展--------------------------------------------------------------------------------------------------------- 2存储器测试发展动态 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 2 BIST的测试方法---------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 4第二章存储器的故障模型--------------------------------------------------------------------------------------------------------- 8存储器故障分类----------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 8存储单元的简化功能故障 ---------------------------------------------------------------------------------------------------- 9基于嵌入式存储器的故障模型---------------------------------------------------------------------------------------------10存储器故障诊断算法分析 ---------------------------------------------------------------------------------------------------122.4.1 Checkerboard算法（棋盘法） ---------------------------------------------------------------------------122.4.2 Gallop算法（奔跳法）-------------------------------------------------------------------------------------122.4.3 March算法（进行法） --------------------------------------------------------------------------------------132.4.4基于棋盘的改进 -----------------------------------------------------------------------------------------------13第三章March算法介绍 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------16 March算法简介 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------16 March算法演变 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------183.2.1 A TS和改进的ATS算法（MATS） --------------------------------------------------------------------183.2.2March A和March B算法----------------------------------------------------------------------------------183.2.3March C算法--------------------------------------------------------------------------------------------------183.2.4March C+算法-------------------------------------------------------------------------------------------------193.2.5March C-算法--------------------------------------------------------------------------------------------------19March算法处理的故障类型 ------------------------------------------------------------------------------------------------193.3.1单一内存单元故障（Stuck-At Fault，SAF）-----------------------------------------------------------203.3.2单一内存单元转换故障（Transition Fault，TF） -----------------------------------------------------203.3.3耦合故障（Coupling Fault，CF）-------------------------------------------------------------------------203.3.4相邻内存单元敏化故障（Neighborhood Pattern Sensitive Fault，NPSF） ----------------------203.3.5数据保留故障（Data Retention Fault，DRF） ---------------------------------------------------------20第四章March -TBA算法分析 ----------------------------------------------------------------------------------------------------21 March-TBA算法的前身 -------------------------------------------------------------------------------------------------------21 March-TBA算法的主要内容-------------------------------------------------------------------------------------------------23 March-TBA算法的检验成果-------------------------------------------------------------------------------------------------244.3.1 March-TBA算法对固定故障（SAF）的检测情况------------------------------------------------------254.3.2 March -TBA算法对状态转换故障（TF）的检测-------------------------------------------------------264.3.3 March C-算法对翻转耦合故障（CFin）的检测 ---------------------------------------------------------284.3.4 March C-算法对幂耦合故障（CFid）的检测 ------------------------------------------------------------304.3.5 March C-算法对状态耦合故障（CFst）的检测----------------------------------------------------------36March-TBA算法的故障覆盖率----------------------------------------------------------------------------------------------42第五章结论 --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------45致谢 -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------46参考文献 -------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------47引言随着深亚微米VLSI技术的发展，大量的不同厂家的电路设计被核集成到一个芯片上。