万用表测量晶振
晶振频率测量方法
晶振频率测量方法嘿，咱今儿就来聊聊晶振频率测量方法这档子事儿。
你知道不，晶振就好比电子设备的心跳，那频率可重要啦！要是这频率出了岔子，那整个设备都可能乱了套。
要说测量晶振频率啊，有好几种办法呢。
就像咱挑水果，得看看它红不红、甜不甜。
比如说，可以用计数器来测。
这就好像是个细心的记数员，一下一下地数着晶振发出的脉冲，然后算出频率来。
你想想，是不是挺形象的？还有示波器也能派上用场。
它就像个超级眼睛，能把晶振的信号看得清清楚楚，通过观察波形的变化，也能知道频率是多少。
那这些方法容易不？嘿嘿，其实也没那么难。
就跟你学骑自行车似的，一开始可能会晃悠几下，但多练几次不就会啦？测量晶振频率的时候可得细心点，不能马马虎虎的。
这可不是闹着玩的，要是测错了，那后面的事儿可就麻烦啦！咱再打个比方，晶振频率就像是一首歌的节奏，你得准确抓住那个节拍，才能跟着一起摇摆。
要是节奏都错了，那还怎么摇摆得起来呢？而且不同的晶振可能需要不同的测量方法哦，就像不同的人有不同的性格，得用不同的方法去对待。
你说，要是咱不把晶振频率搞清楚，那电子设备会不会发脾气罢工呀？在实际操作中，还得注意一些小细节呢。
比如说环境要稳定，不能有太多干扰，不然测出来的结果能准吗？总之呢，测量晶振频率可不是一件随随便便的事儿，得认真对待，选对方法，注意细节。
这样才能准确地知道晶振的频率，让电子设备好好地工作。
咱普通人可能觉得晶振频率挺神秘的，但只要咱去了解，去尝试，就会发现也没那么难理解嘛。
就像解开一道谜题，刚开始觉得摸不着头脑，等找到了线索，不就豁然开朗啦？所以啊，别害怕晶振频率测量，大胆去尝试吧！你难道不想知道那些小小的晶振里藏着怎样的秘密频率吗？。
万用表测晶振起振的方法
万用表测晶振起振的方法万用表是电工中常用的工具，其功能和使用范围非常广泛。
其中，测量晶振的起振频率也是日常工作中经常需要用到的一项技能。
今天我们就来探讨一下万用表测晶振起振的方法。
1. 确定测量方案晶振起振是指晶体振荡器在正常工作时，输出一定的稳定频率。
而测量起振频率常常需要将晶振与外部电路连接起来。
因此，在测量之前，需要思考测量方案。
一般来说，如果晶振输出为正弦波，则可以将晶振输出端连接到万用表上进行测量。
如果输出为方波或矩形波，则需要使用频率计进行测量。
2. 连接晶振与万用表在连接晶振与万用表时，需要先将万用表设置到交流电压档位，并选择量程。
将晶振的输出端连接到万用表的电压钳子上，注意连接的稳定性，避免测量间隙、测量器具损坏或读数不稳定。
同时，若晶振有多个输出端，需要选择合适的输出端，以确保正常测量。
3. 设置万用表显示万用表的电压档位设置影响测量的灵敏度，选择较高的电压档位则对测量精度影响较大。
选择较低的档位对测量但读数影响较大。
因此，在连接晶振与万用表时，需要根据晶振输出的电压范围和万用表的电压档位设置合适的电压档位，以保证测量结果的准确性。
4. 开始测量连接好万用表和晶振之后，就可以开始测量了。
打开电源，观察万用表指针或显示屏的读数，可以获得晶振的起振频率。
如果显示屏显示的数值不稳定，可以将量程调整到较低档位，再进行测量。
此外，如果发现测量结果异常，可以进行多次测量，并将结果取平均值，以提高测量精度。
总之，测量晶振起振频率是电工中不可避免的一项技能。
合理的测量方案、稳定的连接和合适的仪器操作都是保证测量结果准确的前提条件。
希望本文能为大家提供一些有用的参考呢！。
用万用表测量晶体振荡器是否工作的方法
用万用表测量晶体振荡器是否工作的方法：测量两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是51单片机的+5V则是否是2.5V左右。
另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的。
这只是证明晶振是在工作的，另外晶振的频率及频差等参数就要专业的仪器测量了。
在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。
晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高，因此技术人员又开发了几种负载谐振频率测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。
我们下面先对各种方法作一比较。
负载谐振频率测量法1. 计算法根据IEC 444规定，被测器件(DUT)在约±45°对其动态参数进行测量，负载谐振频率根据±45°数据“计算”得到。
该方法的优点在于被测器件在相对较低阻抗即接近25Ω处进行测量，因此测试对寄生分量的软件补偿要求相对简单。
它的缺点在于被测器件不是在最终使用条件下进行测试，即不在相移等于规定的CL/FL处进行测试，如果晶振性能严格遵循四器件模型(图1)，那么这个方法也是可以接受的，但当晶振是非线性时(即不符合四器件模型)，FL的测量就不够精确(图2)。
如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。
那么晶振的线性度究竟有什么影响呢？从电路应用观点来看，只要晶振有一稳定(可重复)明确的阻抗-频率曲线，并且在振荡器中功能正常，它就是一个好晶振，是不是线性没有关系，非线性晶振并不意味着是一个坏晶振。
晶振好坏的判定方法
晶振好坏的判定方法晶振是现代电子设备中常用的一种元器件，它具有稳定输出频率的特点，因此在数字电路、计算机、通信等领域得到广泛应用。
那么如何判定一个晶振的好坏呢？下面就介绍几种晶振好坏的判定方法。
1. 观察晶振外观和标识晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数如频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
如果测量值过大或过小，就说明晶振质量有问题。
特别注意的是，万用表测试时应选择合适的档位防止烧毁。
3. 应用软件测试在实际应用中，可以使用适当的测试软件对晶振进行测试。
例如，可以用示波器观察晶振产生的波形是否稳定、周期是否准确；也可以使用频率计测量晶振输出的频率是否稳定等。
如果测试结果不符合要求，说明晶振有问题。
4. 参考经验在行业内，有一些经验可以用来判断晶振的好坏。
例如，看晶振品牌是否有口碑，看晶振的产地和生产厂家是否有认证等。
这些信息可以从官方网站、相关论坛等渠道获取。
总之，判断晶振是否好坏需要综合考虑多方面因素，同时需要具备一定的专业知识和实践经验。
如果不确定自己的判断结果，可以向专业人士咨询。
晶振的好坏直接影响到整个电路的稳定性，因此在使用晶振时需要对其质量进行判断。
以下详细介绍几种判断方法：1. 观察晶振外观和标识在购买晶振时，首先要仔细观察晶振的外观和标识。
晶振一般有明显的型号、频率等标识，这些标识应清晰可见，没有模糊或掉色现象。
此外，晶振的体积、形状、引脚排列等方面也应符合规格要求。
如果外观和标识存在问题，那么很可能是质量不好的产品。
2. 用万用表测试参数用万用表测试晶振的参数也是一种常见的判断方法。
万用表测试时可以选择阻抗档、电容档或者电压档进行测试。
测试晶振的频率、阻抗、寄生电容等，这些参数的测量值应该在规定范围内。
如何判断晶振好坏
如何判断晶振好坏1 用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电；再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的；若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
(引自网上,请注意安全,未经证实)2.用数字电容表（或数字万用表的电容档）测量其电容，一般损坏的晶振容量明显减小（不同的晶振其正常容量具有一定的范围，可测量好的得到，一般在几十到几百PF3 贴近耳朵轻摇，有声音就一定是坏的（内部的晶体已经碎了，还能用的话频率也变了）4 测试输出脚电压。
一般正常情况下，大约是电源电压的一半。
因为输出的是正弦波（峰峰值接近源电压），用万用表测试时，就差不多是一半啦。
5 用代换法或示波器测量。
晶振在应用具体起到什么作用微控制器的时钟源可以分为两类：基于机械谐振器件的时钟源，如晶振、陶瓷谐振槽路；RC（电阻、电容）振荡器。
一种是皮尔斯振荡器配置，适用于晶振和陶瓷谐振槽路。
另一种为简单的分立RC振荡器。
基于晶振与陶瓷谐振槽路的振荡器通常能提供非常高的初始精度和较低的温度系数。
RC振荡器能够快速启动，成本也比较低，但通常在整个温度和工作电源电压范围内精度较差，会在标称输出频率的5%至50%范围内变化。
但其性能受环境条件和电路元件选择的影响。
需认真对待振荡器电路的元件选择和线路板布局。
在使用时，陶瓷谐振槽路和相应的负载电容必须根据特定的逻辑系列进行优化。
具有高Q 值的晶振对放大器的选择并不敏感，但在过驱动时很容易产生频率漂移（甚至可能损坏）。
影响振荡器工作的环境因素有：电磁干扰（EMI）、机械震动与冲击、湿度和温度。
这些因素会增大输出频率的变化，增加不稳定性，并且在有些情况下，还会造成振荡器停振。
上述大部分问题都可以通过使用振荡器模块避免。
这些模块自带振荡器、提供低阻方波输出，并且能够在一定条件下保证运行。
最常用的两种类型是晶振模块和集成RC振荡器（硅振荡器）。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是一种电子元件，广泛应用于各种电子设备中，如电子钟、计算机、通信设备等。
为了确保晶振的质量和性能符合要求，需要进行晶振的检验工作。
本文将介绍晶振检验的作业指导，包括检验的目的、检验的方法和步骤，以及检验结果的判定标准。
二、检验目的晶振检验的目的是验证晶振的质量和性能是否符合产品要求，以确保晶振在实际使用中的稳定性和可靠性。
通过检验，可以排除不合格产品，提高产品质量，减少故障率，提升用户满意度。
三、检验方法和步骤1. 外观检验1.1 检查晶振的外观是否完整，无明显损伤或变形。
1.2 检查晶振的焊接是否牢固，无焊接异常或焊点断裂。
1.3 检查晶振的引脚是否正常，无弯曲或断裂。
1.4 检查晶振的标识是否清晰可见，无模糊或脱落。
2. 电性能检验2.1 使用万用表测量晶振的静态电阻，应符合产品规格要求。
2.2 使用示波器测量晶振的振荡频率，应符合产品规格要求。
2.3 使用频谱仪测量晶振的谐波失真和杂散频率，应符合产品规格要求。
3. 温度特性检验3.1 将晶振置于温度控制箱中，逐渐升高或降低温度。
3.2 在每个温度点上，使用示波器测量晶振的振荡频率。
3.3 将测得的振荡频率与产品规格要求进行比较，判断晶振的温度特性是否符合要求。
4. 震动和冲击检验4.1 将晶振固定在振动台上，进行不同频率和幅度的振动测试。
4.2 将晶振固定在冲击试验机上，进行不同冲击强度的冲击测试。
4.3 检查晶振在振动和冲击测试过程中是否出现异常，如频率偏移、断裂等。
四、检验结果的判定标准根据产品的规格要求，对晶振的检验结果进行评判。
一般来说，晶振的外观应完整无损，焊接牢固，引脚正常；电性能应符合规格要求，如静态电阻、振荡频率等；温度特性应在规定的温度范围内稳定；震动和冲击测试应无异常。
若晶振在任何一个方面不符合规格要求，则判定为不合格产品。
五、注意事项1. 检验过程中要保证操作人员的安全，避免电击、烫伤等事故。
万用表检测电子元件经验技巧
8.电位器的好坏判别
先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点)，其读数应为电位器的标称值，如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，此时电阻应越小越好，再徐徐顺时钟旋转轴柄，电阻应逐渐增大，旋至极端位置时，阻值应接近电位器的标称值。如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象，描踢活动触』点接触不良。
电解电容器极性的判断方法：指针万用表测量电解电容器的漏电电阻，并记下这个阻值的大小，然后将表笔对调，在测电容器的漏电电阻，将两次所测的阻值对比，漏电电阻小的一次黑表笔所接触的就是正极。
10.判别红外接收头引脚
万用表置R×1k挡，先假设接收头的某脚为接地端，将其与黑表笔相接，用红表笔分别测量另两脚电阻，对比两次所测阻值(一般在4～7k Q范围)，电阻较小的一次其红表笔所接为+5V电源引脚，另一阻值较大的则为信号引脚。反之，若用红表笔接已知地脚，黑表笔分别测已知电源脚及信号脚，则阻值都在15kΩ以上，阻值小的引脚为+5V端，阻值偏大的引脚为信号端。如果测量结果符合上述阻值则可判断该接收头完好。
万用表检测常见电子元器件经验技巧
1.测整流电桥各脚的极性
万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kΩ，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
2.判断晶振的好坏
取一个容量大于100“F的电解电容器(容量越大，现象越明显)，先用万用表R×100挡对其充电，黑表笔接电容正极，红表笔接负极，充电完毕后，黑表笔改接电容负极，将被测发光二极管接于红表笔和电容正极之间。如果发光二极管亮后逐渐熄灭，表明它是好的。此时红表笔接的是发光二极管的负极，电容正极接的是发光二极管的正极。如果发光二极管不亮，将其两端对调重新接上测试，还不亮，表明发光二极管已损坏。
晶振简介
晶振的类型
怎样判断晶振是好的?
1.用万用表直接测量晶振阻值,阻值为零或 者比较小,肯定坏了. 2.接入工作电路.如果晶振两引脚间的电压 为工作电压的一半,说明晶振起振了,但它是 实际频率是否正常,是无法确定的. 3.用示波器测量.同步得到其振荡曲线,从而 得到晶振频率的粗略数值,大致可以确定晶 振是否正常工作.
晶振简介
报告人
2019/5/31
晶振全称晶体整荡器.以下是其实物图:
晶振结构图
当晶体的切割 面受到应力时 ,两个相对面 会产生电势差 ,这就是压电 效应.
同样,当给晶体两个面加上电压是,也会引起晶 体的机械形变. 不妨看做晶体是一个储能器,可以实现机械能 与电能的相互转换.
晶振的等效电路
晶振等效于一个LC与电容的并联,其中电阻R用 于代替晶体振动因摩擦而引发的损耗. 晶振与LC电路类似, 当外加交变电压的频率为某 一特定值时,振幅明显加大,比其他频率下的振幅 大得多,这种现象称为压电谐振.这个频率也就是 晶体的谐振频率. 基于这一特性,晶振可用于提供稳定的时钟信号.
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晶振应用到哪些地方?
晶振实际中如何工作?
石英表的动力源是电池,时间频率由石英振荡器提供, 一类是控制步进马达,再由齿轮机构传递到指针机构 指示时间;一类是直接控制电子线路,由显示器显示数 字指示时间.
晶振最重要的应用
CPU主频:即CPU内核工作的时钟频率. 举个例子,某个CPU的主频为1MHz,表示其时钟周 期为10-6 s(T=1/f),此CPU最短可在10-6 s执行一 条指令,理论上,此CPU可以在1s内执行106 指令. 因此不要求太精确的话,可用CPU主频来衡量 CPU的性能. 有人可能会问:为啥需要个时钟周期 来限定指令 执行呢?一条接一条地执行指令效率不是更高吗?
万用表测晶振的方法
万用表测晶振的方法
1. 首先需要将万用表拨至电阻档位，选择200欧姆档位。
2. 将晶振两端的引脚与多用表的两个探头分别接触，注意不要触碰到晶振外壳。
3. 读取显示屏上的电阻值，晶振的电阻值通常在数十欧姆到几百欧姆之间。
4. 如果测出的电阻值超出了晶振的正常范围，说明晶振可能已经损坏，需要更换。
5. 如果测出的电阻值在正常范围内，可以继续进行震荡测试。
6. 将万用表拨至交流电压档位，选择2V或20V档位。
7. 将晶振两端的引脚与多用表的两个探头分别接触，注意万用表的正负极也需要对应。
如果测试不清楚根据晶振型号进行测试时需要查看晶振型号的数据手册。
8. 读取显示屏上的电压值，晶振的电压通常在几V到几十V 之间。
9. 如果测出的电压值超出了晶振的正常范围，说明晶振可能已经损坏，需要更换。
10. 如果测出的电压值在正常范围内，说明晶振正常工作，数据可以被信号调制解析。
判断晶振好坏的简单方法
判断晶振好坏的简单方法晶振是电子电路设计中常用的元器件之一，它的作用是提供一个稳定的时钟信号，使整个电路能够按照一定的节奏正常工作。
由于晶振的重要性，因此在电路设计和维修过程中，如何判断晶振的好坏就成为了一个必须要掌握的技能。
本文将介绍一些简单的方法来判断晶振的好坏。
一、使用万用表测量万用表是电子工程师必备的工具之一，可以用来测量电路中的各种参数。
在判断晶振好坏时，我们可以使用万用表的电阻档位来测量晶振的电阻值。
一般来说，晶振的电阻值应该在几十千欧姆左右，如果测量的电阻值偏离这个范围太多，那么就说明晶振可能存在问题。
二、使用示波器观察波形示波器是一种用来观察电信号波形的仪器，可以用来判断晶振的好坏。
我们可以将示波器的探头连接到晶振的引脚上，然后观察晶振输出的波形。
正常情况下，晶振输出的波形应该是一个稳定的方波信号，如果波形不稳定或者出现了明显的畸变，那么就说明晶振可能存在问题。
三、使用频率计测量频率频率计是一种用来测量信号频率的仪器，可以用来判断晶振的好坏。
我们可以将频率计的探头连接到晶振的输出引脚上，然后测量晶振输出的频率。
正常情况下，晶振的输出频率应该和规格书上的频率相符，如果频率偏离太多，那么就说明晶振可能存在问题。
四、使用电容测量电容值晶振内部一般会有一个或多个电容，这些电容对晶振的正常工作起着重要的作用。
在判断晶振好坏时，我们可以使用电容表来测量晶振内部的电容值。
如果测量的电容值偏离规格书上的值太多，那么就说明晶振可能存在问题。
五、使用烙铁短接晶振这是一种比较极端的方法，需要注意安全。
我们可以使用烙铁将晶振的两个引脚短接在一起，然后观察电路的反应。
如果电路无法正常工作，那么就说明晶振可能存在问题。
总之，以上这些方法都可以用来判断晶振的好坏，但是每种方法都有其局限性和风险，需要根据具体情况选择合适的方法。
此外，判断晶振的好坏需要一定的专业知识和经验，如果没有足够的技术水平，最好不要随意尝试，以免造成不必要的损失。
晶振的检测技巧
晶振的检测技巧
晶振是电子设备中重要的元器件之一，其功用主要是提供稳定的振荡信号。
晶振在电路板的使用中，可能会遇到一些故障，因此需要进行检测。
以下是几个晶振的检测技巧。
1. 用万用表检测晶振的电阻值：将万用表转到电阻档，将晶振的两个脚分别与万用表的两个探针接触。
正常情况下，晶振的电阻值应该是无穷大，如果电阻值为0或非常小，可能是晶振损坏。
2. 用示波器检测晶振的振荡波形：将示波器的探头接到晶振的两个脚上，观察示波器显示的波形是否为正弦波，频率是否正确。
如果波形不正常，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。
3. 用震荡电路板检测晶振的工作状态：将晶振连接到震荡电路板上，观察震荡电路板上的指示灯是否闪烁。
如果指示灯不亮或者灯亮但不闪烁，可能是晶振损坏或者晶振周围的电路出现故障。
在检测晶振时，需要注意以下几点：
1. 检测前必须切断电源，避免电路板上的其他元器件受到电流的干扰。
2. 检测时应该使用正确的工具和设备，例如万用表、示波器、震荡电路板等。
3. 如果发现晶振损坏，应该及时更换，避免影响整个电路板的正常工作。
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晶振测试标准
晶振测试标准
晶振（晶体振荡器）是电子设备中常用的一种时钟源，它的主要功能是产生稳定和精确的时钟信号。
晶振的测试标准主要涉及到其频率的稳定性、准确度、温度系数、负载电容等因素。
1. 频率稳定性：这是晶振最重要的性能指标之一，通常用频率的长期漂移来衡量。
好的晶振其频率稳定性应该在每年小于100ppm（百万分比一）。
2. 频率准确度：这是衡量晶振频率与标称值差异的指标，常用的单位是ppm。
好的晶振其频率准确度应该在±50ppm以内。
3. 温度系数：这是衡量晶振频率随温度变化量的指标，常用的单位是ppm/摄氏度。
好的晶振其温度系数应该在每年小于100ppm/摄氏度。
4. 负载电容：这是衡量晶振带负载能力的指标，常用的单位是pf。
好的晶振其负载电容应该在100pf以内。
5. 电压温度系数：这是衡量晶振电压变化时频率变化的指标，常用的单位是ppm/摄氏度。
好的晶振其电压温度系数应该在每年小于100ppm/摄氏度。
以上这些指标都是在特定的测试条件下测得的，具体的测试标准和方法可以参考国际电工委员会（IEC）的标准或者其他相关的国家标准。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是电子产品中常见的元器件之一，用于提供稳定的时钟信号。
在电子制造过程中，为了确保产品的质量和性能，需要对晶振进行检验。
本文将详细介绍晶振检验的步骤和要求，以帮助您正确完成晶振检验作业。
二、检验步骤1. 准备工作在进行晶振检验之前，需要准备以下工作：- 检验设备：万用表、示波器等。
- 检验环境：确保检验环境静电防护良好，避免静电对晶振产生影响。
- 检验样品：准备待检验的晶振样品。
2. 外观检验外观检验是对晶振外观进行检查，主要包括以下几个方面：- 确认晶振外壳是否完整，无裂纹或损伤。
- 检查晶振引脚是否弯曲或断裂。
- 观察晶振焊接是否牢固，无焊接虚焊或短路现象。
3. 电性能检验电性能检验是对晶振的电性能进行测试，主要包括以下几个方面：- 静态电阻测量：使用万用表测量晶振的静态电阻，确保其符合规定范围。
- 频率测量：使用示波器或频率计测量晶振的输出频率，确保其符合规定频率范围。
- 起振电压测量：使用示波器测量晶振的起振电压，确保其符合规定电压范围。
4. 动态性能检验动态性能检验是对晶振的振荡特性进行测试，主要包括以下几个方面：- 启动时间测量：使用示波器测量晶振从加电到稳定输出的时间，确保其符合规定时间范围。
- 衰减测量：使用示波器测量晶振的输出信号在一定时间内的衰减情况，确保其符合规定衰减范围。
- 相位噪声测量：使用频谱仪测量晶振的相位噪声水平，确保其符合规定要求。
5. 结果记录与分析在进行晶振检验时，需要记录每个样品的检验结果，包括外观检验结果、电性能检验结果和动态性能检验结果。
对于不合格的样品，需要进行分析，找出问题的原因，并采取相应的措施进行修复或替换。
三、检验要求在进行晶振检验时，需要注意以下要求：- 检验设备的准确性和可靠性，确保测试结果的准确性。
- 检验环境的静电防护，避免静电对晶振的影响。
- 检验样品的选择，确保样品具有代表性。
- 检验过程的严谨性，按照标准的步骤进行检验。
晶振的驱动功率测量方法
晶振的驱动功率测量方法
《晶振驱动功率的测量方法》
晶振是一种常见的电子元器件，其驱动功率的测量对于电子设备的设计和调试来说至关重要。
晶振的驱动功率是指晶振在工作时所消耗的功率，也是晶振的一个重要参数。
测量晶振的驱动功率一般使用功率计来完成。
首先需要将晶振连接到功率计上，通过适当的电路设计将晶振的工作电压输入到功率计的输入端。
然后将功率计设置为适当的工作模式，如直流功率模式或交流功率模式，选择适当的测量频率范围和测量范围。
接下来启动晶振工作，记录功率计上显示的功率数值即为晶振的驱动功率。
在测量晶振的驱动功率时需要注意一些问题。
首先要根据晶振的工作频率和功率范围选择合适的功率计，确保功率计的测量范围和精度能够满足测量要求。
其次在连接晶振和功率计时要注意接线的良好性，避免因为线路接触不良而导致测量误差。
最后在测量过程中要确保晶振的工作状态稳定，避免因为晶振工作不稳定而导致功率测量结果的误差。
总之，测量晶振的驱动功率是一项重要的工作，需要使用专门的功率计并注意一些细节问题。
只有准确测量了晶振的驱动功率，才能确保晶振在工作中能够正常工作，并能够为电子设备的正常运行提供稳定可靠的时钟信号。
判断晶振好坏的简单方法
判断晶振好坏的简单方法晶振是电子产品中常用的元件之一，它能够提供稳定的时钟信号，为电子产品的工作提供准确的时序。
但是，晶振也有可能出现故障或质量不佳的情况，这将会对电子产品的工作造成不良影响。
因此，如何判断晶振的好坏是非常重要的。
本文将介绍一些简单的方法，帮助大家判断晶振的质量。
一、外观检查首先，我们可以通过外观检查来初步判断晶振的好坏。
首先看晶振的外形是否整齐，焊盘是否齐全，有无变形和损坏等情况。
如果外形整齐，焊盘齐全，没有明显的变形和损坏，那么这个晶振的质量就比较有保障。
二、测量频率其次，我们可以通过测量晶振的频率来判断其好坏。
测量晶振的频率的方法有很多种，其中比较简单的方法是使用示波器。
将示波器的探头分别接在晶振的两端，就可以测量晶振的频率了。
如果测量出来的频率与晶振规格书上标注的频率相差不大，那么这个晶振的质量就比较可靠。
三、测量启动时间另外，我们还可以通过测量晶振的启动时间来判断其好坏。
启动时间是指晶振从加电到开始产生振荡信号所需的时间。
测量启动时间的方法也比较简单，只需要使用示波器或者逻辑分析仪等设备，将其接在晶振的两端，然后观察晶振产生振荡信号的时间即可。
如果晶振的启动时间比较短，那么这个晶振的质量就比较好。
四、测量阻抗最后，我们还可以通过测量晶振的阻抗来判断其好坏。
晶振的阻抗是指晶振对外界电路的电阻和电容的总和。
阻抗的大小直接影响晶振的振荡稳定性和频率精度。
因此，测量晶振的阻抗也是判断晶振质量的一个重要方法。
总结综上所述，判断晶振好坏的方法有很多种，其中比较简单的方法包括外观检查、测量频率、测量启动时间和测量阻抗等。
通过这些方法，我们可以初步判断晶振的质量，从而保证电子产品的工作稳定性和可靠性。
当然，这些方法仅仅是初步判断，如果需要更加准确的判断，还需要使用更加专业的测试设备和方法。
实验4 石英晶体振荡器
实验4 石英晶体振荡器—、实验准备1．做本实验时应具备的知识点：●石英晶体振荡器●串联型晶体振荡器●静态工作点、微调电容、负载电阻对晶体振荡器工作的影响2．做本实验时所用到的仪器：●晶体振荡器模块●双踪示波器●频率计●万用表二、实验目的1．熟悉电子元器件和高频电子线路实验系统。
2．掌握石英晶体振荡器、串联型晶体振荡器的基本工作原理，熟悉其各元件功能。
3．熟悉静态工作点、微调电容、负载电阻对晶体振荡器工作的影响。
4．感受晶体振荡器频率稳定度高的特点，了解晶体振荡器工作频率微调的方法。
三、实验内容1．用万用表进行静态工作点测量。
2．用示波器观察振荡器输出波形，测量振荡电压峰-峰值V p-p，并以频率计测量振荡频率。
3．观察并测量静态工作点、微调电容、负载电阻等因素对晶体振荡器振荡幅度和频率的影响。
五、实验步骤1．实验准备在实验箱主板上插好晶振模块，接通实验箱上电源开关，按下开关4K01，此时电源指示灯点亮。
2．静态工作点测量改变电位器4W01可改变4Q01的基极电压V B，并改变其发射极电压V E。
记下V E的最大、最小值，并计算相应的I Emax、I Emin值（发射极电阻4R04=1KΩ）。
V E max=3.10V V E min=1.83V由Ie=Ve/4R04得，I E max=3.10mV、I E min=1.83mV3．静态工作点变化对振荡器工作的影响⑴实验初始条件：V EQ=2.5V（调4W01达到）。
⑵调节电位器4W01以改变晶体管静态工作点I E，使其分别为表4.1所示各值，且把示波器探头接到4TP02端，观察振荡波形，测量相应的振荡电压峰-峰值V p-p，并以频率计读取相应的频率值，填入表4.1。
表4.14．微调电容4C1变化对振荡器工作的影响⑴实验初始条件：同3⑴。
⑵用改锥（螺丝刀、起子）平缓地调节微调电容4C1。
与此同时，把示波器探头接到4TP02端，观察振荡波形，并以频率计测量其频率,看振荡频率有无变化。
晶振测量方法范文
晶振测量方法范文晶振是指晶体振荡器，它是一种能产生高精度的稳定频率信号的器件。
晶振广泛应用于各种电子设备中，例如计算机、手机、电视等。
在电路设计和维修中，经常需要对晶振进行测量，以确保其正常工作。
本文将介绍晶振的测量方法。
晶振的测量方法可以分为频率测量和阻抗测量两种。
一、频率测量方法：频率测量是指通过测量晶振的振荡频率来判断其工作状态是否正常。
常用的频率测量方法有以下几种：1.使用示波器测量法：通过将示波器的探头连接到晶振的输出引脚，观察并测量示波器的显示频率。
这种方法简单直观，但需要专用的示波器设备，并且测量结果受示波器的性能影响。
2.使用计数器测量法：通过将计数器的输入引脚连接到晶振的输出引脚，设置计数器的测量范围和精度，然后启动计数器进行测量。
这种方法适用于对频率的高精度要求，但需要专用的计数器设备。
3.使用频率计测量法：通过将频率计的输入引脚连接到晶振的输出引脚，然后启动频率计进行测量。
这种方法简单易行，适用于对频率精度要求不高的场合。
二、阻抗测量方法：阻抗测量是指通过测量晶振的输入和输出端的阻抗来判断其工作状态是否正常。
常用的阻抗测量方法有以下几种：1.使用阻抗分析仪测量法：通过将阻抗分析仪的测量端连接到晶振的输入或输出引脚，然后启动阻抗分析仪进行测量。
这种方法可以直观地了解晶振的输入输出特性，但需要专用的阻抗分析仪设备。
2.使用LCR表测量法：通过将LCR表的两个测试夹具分别连接到晶振的输入和输出端，然后启动LCR表进行测量。
这种方法适用于对阻抗精度要求高的场合，但需要专用的LCR表设备。
3.使用万用表测量法：通过将万用表的电阻测量端连接到晶振的输入或输出引脚，然后启动万用表进行测量。
这种方法简单易行，适用于对阻抗精度要求不高的场合。
综上所述，晶振的测量方法主要包括频率测量和阻抗测量两种。
具体选择何种方法取决于测量需求和设备条件。
无论哪种方法，都需要注意测量仪器的精度和测量环境的稳定性，以保证测量结果的准确性。
晶振检验作业指导
晶振检验作业指导一、任务背景晶振是电子设备中常用的元器件之一，用于产生稳定的时钟信号。
在电子制造过程中，对晶振的质量进行检验是非常重要的，以确保设备的正常运行。
本文将详细介绍晶振检验的作业指导，包括检验步骤、所需工具和设备，以及常见问题和解决方法。
二、检验步骤1. 准备工作a. 确保工作环境清洁、整齐，并具备良好的静电防护措施。
b. 准备所需工具和设备，包括万用表、示波器、测试夹具等。
2. 外观检查a. 检查晶振外壳是否完整，无裂纹、划痕或变形。
b. 检查引脚是否完好，无弯曲或损坏。
3. 电性能检验a. 使用万用表测量晶振的电阻值，确保在正常范围内。
b. 使用示波器观察晶振的波形，确保波形稳定且频率准确。
4. 频率测量a. 将晶振连接到测试夹具上，并将测试夹具连接到频率计。
b. 打开频率计，记录晶振的频率值。
c. 将测得的频率值与晶振规格书上的标准值进行比较，确保在允许误差范围内。
5. 温度特性测试a. 将晶振放置在恒温箱中，并设置温度范围。
b. 在每个温度点上，测量晶振的频率，并记录下来。
c. 将测得的频率值与晶振规格书上的标准值进行比较，确保在允许误差范围内。
三、所需工具和设备1. 万用表：用于测量晶振的电阻值。
2. 示波器：用于观察晶振的波形。
3. 测试夹具：用于连接晶振并测量频率。
4. 频率计：用于测量晶振的频率。
5. 恒温箱：用于测试晶振的温度特性。
四、常见问题和解决方法1. 外观检查中发现晶振外壳有裂纹或划痕。
解决方法：更换晶振，确保外壳完好。
2. 电性能检验中测量到的电阻值异常。
解决方法：检查测量连接是否正确，如果连接正常仍有异常值，可能是晶振本身存在问题，建议更换晶振。
3. 示波器观察到的晶振波形不稳定。
解决方法：检查示波器设置是否正确，确保采样率和触发方式正确。
如果问题仍存在，可能是晶振本身存在问题，建议更换晶振。
4. 频率测量结果与标准值存在较大偏差。
解决方法：检查测试夹具和连接是否正确，确保没有松动或接触不良。
万用表针对晶振的检测
万用表针对晶振的检测
一个质量完好的晶振，外观应整洁、无裂纹、引脚牢固可靠、其电阻值应为无穷大，用数字表最大电阻挡检测则显示溢出符号“0.L”，如图1所示。
图1 用数字式万用表最大电阻挡检测晶振示意图
若用万用表测得阻值很小或为0，可以断定晶振已损坏。
但反过来则不能成立，即若用万用表测得阻值为无穷大，并不能完全断定晶振良好。
此时，可使用一只试电笔，将其刀头插入市电插座的火线孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚触碰试电笔顶端的金属部分。
若试电笔氖泡发红，一般说明晶振是好的；若氖泡不亮，说明晶振是坏的。
在更换晶振时通常都要用相同型号的新品，后缀字母尽量也要一致，否则很可能无法正常工作。
不过对于一些要求不高的电路，可以用频率相近的进行代换，如遥控器中455kHz的晶振损坏后，若找不到同型号的晶振，可以用收音机中常用的450kHz晶振进行替换，对使用效果无影响，只是此时发射的载波频率稍有偏差，这是因为电视机中遥控接收头对于误差频率在1kHz内的载波信号可以正常接收、解码。
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万用表测量晶振
2009-07-20 22:00
小技巧：没有示波器情况下如何测量晶振是否起振?
可以用万用表测量晶振两个引脚电压是否是芯片工作电压的一半，比如工作电压是5V则测出的是否是2.5V左右。
另外如果用镊子碰晶体另外一个脚，这个电压有明显变化，证明是起振了的. 小窍门：就是弄一节1.5V的电池接在晶振的两端把晶振放到耳边仔细的听，当听到哒哒的声音那就说明它起振了，就是好的嘛！
1.电阻法
把万用表拨在R×10K挡，测量石英晶体两引脚间的电阻值应为无穷大。
如果测量出的电阻值不是无穷大甚至接近于零，则说明被测晶体漏电或击穿。
这种办法只能测晶体是否漏电，如果晶体内部出现断路，电阻法就无能为力了，此时必须采用下面介绍的方法
2 .自制测试器
按图所示电路，焊接一个简易石英晶体测试器，就可以准确地测试出晶体的好坏。
图中XS1、XS2两个测试插口可用小七脚或小九脚电子管管座中拆下来的插口。
LED发光管选择高亮度的较好。
检测石英晶体时，把石英晶体的两个管脚插入到XS1和XS2两个插口中，按下开关SB，如果石英晶体是好的则由三极管VT1、C1、C2等元器件构成的震荡电路产生震荡，震荡信号经C3耦合至VD2检波，检波后的直流信号电压使VT2导通，于是接在VT2集电极回路中的LED发光，指示被测石英晶体是好的，如果LED不亮，则说明被测石英晶体是坏的.本测试器测试石英晶体的频率很宽，但最佳工作频率为几百千赫至几十兆赫。
晶振原理（转载）
2008-08-19 18:08
振原理作者 louguofa 日期 2006-11-28 23:00:00
今天调电路碰到了一些关于晶振的问题，又重新翻了一遍晶振的相关知识：
无源晶体与有源晶振的区别、应用范围及用法：
1、无源晶体——无源晶体需要用DSP片内的振荡器，在datasheet上有建议的连接方法。
无源晶体没有电压的问题，信号电平是可变的，也就是说是根据起振电路来决定的，同样的晶体可以适用于多种电压，可用于多种不同时钟信号电压要求的 DSP，而且价格通常也较低，因此对于一般的应用如果条件许可建议用晶体，这尤其适合于产品线丰富批量大的生产者。
无源晶体相对于晶振而言其缺陷是信号质量较差，通常需要精确匹配外围电路（用于信号匹配的电容、电感、电阻等），更换不同频率的晶体时周边配置电路需要做相应的调整。
建议采用精度较高的石英晶体，尽可能不要采用精度低的陶瓷警惕。
2、有源晶振——有源晶振不需要DSP的内部振荡器，信号质量好，比较稳定，而且连接方式相对简单（主要是做好电源滤波，通常使用一个电容和电感构成的PI型滤波网络，输出端用一个小阻值的电阻过滤信号即可），不需要复杂的配置电路。
有源晶振通常的用法：一脚悬空，二脚接地，三脚接输出，四脚接电压。
相对于无源晶体，有源晶振的缺陷是其信号电平是固定的，需要选择好合适输出电平，灵活性较差，而且价格高。
对于时序要求敏感的应用，个人认为还是有源的晶振好，因为可以选用比较精密的晶振，甚至是高档的温度补偿晶振。
有些DSP内部没有起振电路，只能使用有源的晶振，如TI 的6000系列等。
有源晶振相比于无源晶体通常体积较大，但现在许多有源晶振是表贴的，体积和晶体相当，有的甚至比许多晶体还要小。
几点注意事项：
1、需要倍频的DSP需要配置好PLL周边配置电路，主要是隔离和滤波；
2、20MHz以下的晶体晶振基本上都是基频的器件，稳定度好，20MHz以上的大多是谐波的（如3次谐波、5次谐波等等），稳定度差，因此强烈建议使用低频的器件，毕竟倍频用的PLL电路需要的周边配置主要是电容、电阻、电感，其稳定度和价格方面远远好于晶体晶振器件；
3、时钟信号走线长度尽可能短，线宽尽可能大，与其它印制线间距尽可能大，紧靠器件布局布线，必要时可以走内层，以及用地线包围；
4、通过背板从外部引入时钟信号时有特殊的设计要求，需要详细参考相关的资料。
此外还要做一些说明：
总体来说晶振的稳定度等方面好于晶体，尤其是精密测量等领域，绝大多数用的都是高档的晶振，这样就可以把各种补偿技术集成在一起，减少了设计的复杂性。
试想，如果采用晶体，然后自己设计波形整形、抗干扰、温度补偿，那样的话设计的复杂性将是什么样的呢？我们这里设计射频电路等对时钟要求高的场合，就是采用高精度温补晶振的，工业级的要好几百元一个。
特殊领域的应用如果找不到合适的晶振，也就是说设计的复杂性超出了市场上成品晶振水平，就必须自己设计了，这种情况下就要选用晶体了，不过这些晶体肯定不是市场上的普通晶体，而是特殊的高端晶体，如红宝石晶体等等。
更高要求的领域情况更特殊，我们这里在高精度测试时采用的时钟甚至是原子钟、铷钟等设备提供的，通过专用的射频接插件连接，是个大型设备，相当笨重。
、晶振：即所谓石英晶体谐振器和石英晶体时钟振荡器的统称。
不过由于在消费类电子产品中，谐振器用的更多，所以一般的概念中把晶振就等同于谐振器理解了。
后者就是通常所指钟振。
2、分类。
首先说一下谐振器。
谐振器一般分为插件（Dip）和贴片（SMD）。
插件中又分为HC-49U、HC-49U/S、音叉型（圆柱）。
HC-49U一般称49U，有些采购俗称“高型”，而HC-49U/S一般称49S，俗称“矮型”。
音叉型按照体积分可分为3*8，2*6，1*5，1*4等等。
贴片型是按大小和脚位来分类。
例如7*5（0705）、6*3.5（0603），5*3.2（5032）等等。
脚位有4pin和2pin之分。
而振荡器也是可以分为插件和贴片。
插件的可以按大小和脚位来分。
例如所谓全尺寸的，又称长方形或者14pin，半尺寸的又称为正方形或者8pin。
不过要注意的是，这里的14pin和 8pin都是指振荡器内部核心IC的脚位数，振荡器本身是4pin。
而从不同的应用层面来分，又可分为OSC(普通钟振)， TCXO（温度补偿），VCXO（压控），OCXO（恒温）等等。
3、基本术语。
我想这也是很多采购同学比较模糊的地方。
这里我选了一些常用的谐振器术语拿来做一下解释。
Frequency Tolerance（调整频差）：在规定条件下，在基准温度（25±2℃）与标称频率允许的偏差。
一般用PPm（百万分之）表示。
Frequency Stability(温度频差)：指在规定的工作温度范围内，与标称频率允许的偏差。
用PPm 表示。
Aging（年老化率）：在规定条件下，晶体工作频率随时间而允许的相对变化。
以年为时间单位衡量时称为年老化率。
Shunt Capacitance（静电容）：等效电路中与串联臂并接的电容，也叫并电容，通常用C0表示。
Load Capacitance（负载电容）：与晶体一起决定负载谐振频率fL的有效外界电容，通常用CL
表示。
晶振的负载电容=[(Cd*Cg)/(Cd+Cg)]+Cic+△C式中Cd,Cg为分别接在晶振的两个脚上和对地的电容,Cic（集成电路内部电容）+△C（PCB上电容）经验值为3至5pf。
一般最关注的参数有2个，即调整频差，负载电容。
有一部分对温度频差有要求。
如果工作温度范围比较广，则会对工作温度范围有所要求，即所谓宽温。
4、选用。
主要讲讲谐振器。
理论上来说，只要参数确定，选任何一种型号都是可以正常使用的。
例如49U和49S替换，49S和圆柱以及和贴片替换，都是没有问题的。
但在实际选择中会根据电路特点，成本以及便利性来考量和选择。
一般来说，简单的应用中主要都是从成本在考虑。
但是有些产品或者电路会对晶振的等效电阻，激励功率等等提出要求，所以就会在不同的型号中加以选择。
另外，贴片则主要是为了适应产品日益小型化和提高生产效率的要求。
听到有些采购朋友说，只能选49S而不能用49U或者反之，这是一个小误区。
呵呵。
而钟振的选择则主要决定产品电路的特性的要求，一般来说钟振在精密性以及需要达到相关应用的要求会更好。
例如手机，通信机站，卫星等等。
晚上才回来看到你的问题。
先回答一个，呵呵
1谐振器和钟振他们的却别在于谐振器是最简单的没有任何补偿的振荡器，而我们通常说的钟振是由一个谐振器加上ic组成一个回路而实现其自身的功能。
以 vcxo为例：压控晶体振荡器（VCXO）是通过红外加控制电压使振荡效率可变或是可以调制的石英晶体振荡器。
VCXO主要由石英谐振器、变容二极管和振荡电路组成，其工作原理是通过控制电压来改变变容二极管的电容，从而“牵引”石英谐振器的频率，以达到频率调制的目的。
VCXO大多用于锁相技术、频率负反馈调制的目的。
而决定如何选用也应该很清楚了吧？。