可靠性国家标准

电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值与测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量与允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用与类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频与脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器与电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器与电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095、1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095、2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095、3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095、4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095、5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定荷试验GB/T 5095、8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095、9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器与电阻器名词术语GB/T 11250、1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250、2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250、3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250、4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* 4875、1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体与非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质与多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7、5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子与通信设备用变压器与电感器测试方法与试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器与变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信与电子设备用变压器与电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信与电子设备用变压器与电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器与电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389、1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 3389、2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389、3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 3389、4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389、6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 3389、7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 3389、8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料与压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器与变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A与GB/T 9628-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯评定GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒与扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)GB/* 5819、1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范GB/* 9021、1-1988 SL10型视频连接器GB/* 9021、2-1988 SL12型视频连接器GB/* 9021、3-1988 SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则与制订详细规范的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验与测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范GB/* 11492-1989 FD08 FD12与FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 11449、1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 11449、2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范GB/T 11449、5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范GB/T 11450、1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求与测量方法GB/T 11450、2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 11450、3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范GB/T 11450、4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范GB/T 11450、5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 11450、6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范GB/T 13415-1992 射频混频器总规范GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 4588、1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588、2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件。

电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120。

1-1994 识别卡记录技术第1部分：凸印GB/T 14598.2—1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482—1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839—1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259—1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636—1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689。

1—1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689。

2—1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 2689。

4—1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080。

2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 5080。

5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.6—1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.7—1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081—1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件（或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991—1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993—1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288。

可靠性、环境试验相关国家标准

国家标准（GB）可靠性、环境试验相关国家标准GB 2421—1999 电工电子产品环境试验规程总则GB 2422—1995 电工电子产品环境试验术语GB/T 2423.1—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB/T 2423.1—2001 电子电子产品环境试验第1部分：试验方法试验A：低温GB/T 2423.2—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB/T 2423.3—1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.4—1993 电工电子产品环基本境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB/T 2423.5—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.6—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒GB/T 2423.8—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.9—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb：设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.9—2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cb：设备用恒定湿热GB/T 2423.10—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.15—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度GB/T 2423.16—1999 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验J和导则: 长霉GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.18—1985（2000）电工电子产品基本环境试验规程试验Kb：交变盐雾试验方法（氯化钠溶液）GB/T 2423.18—2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T 2423.21—1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB/T 2423.22—2002 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB/T 2423.23—1995 电工电子产品环境试验试验Q：密封GB/T 2423.24—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T 2423.26—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T 2423.27—1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB/T 2423.28—1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB/T 2423.30—1999 电工电子产品基本环境试验规程试验XA：在清洗剂中浸渍GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验XA和导则：在清洗剂中金字GB/T 2423.31—1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T 2423.32—1985 电工电子产品基本环境试验规程试验润湿称量法可焊性试验方法GB/T 2423.33—1982（1989）电工电子产品基本环境试验规程试验Kca：高浓度二氧化硫试验方法GB/T 2423.34—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD：温度/湿度综合循环试验方法GB/T 2423.35—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/Afc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.36—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.37—1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L：沙尘试验方法GB/T 2423.38—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB/T 2423.39—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法GB/T 2423.40—1997 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41—1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验GB/T 2423.42—1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.43—1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法元件、设备和其他产品在冲击、碰撞、振动和稳态加速度等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ke 流动混合气体腐蚀试验GB/T 2424.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程湿热试验导则GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则GB/T 2424.11-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424.12-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则GB/T 2424.13-1981 电工电子产品基本环境试验规程温度变化试验导则GB/T 2424.14-1993 电工电子产品环境试验第2部份：试验方法太阳辐射试验导则GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.17-1995 电工电子产品环境试验锡焊试验导则GB/T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则GB/T 2424.20-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则GB/T 2424.21-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.23-1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424.24-1995 电工电子产品环境试验温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验第3部份：试验导则地震试验方法第2部分试验方法电工电子产品环境试验国家标准汇编GB 3836.11—1991 爆炸性环境用防爆电气设备最大试验安全间隙测定方法GB 3836.12—1991 爆炸性环境用防爆电气设备气体或蒸气混合物按照其最大试验安全间隙和最小点燃电流的分级GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB 4793.2-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持电流钳的特殊要求GB 4793.5-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持探头的特殊要求GB 7251.1-1997 低压成套开关设备和控制设备第一部分: 型式试验和部分型式试验成套设备GB/T 14598.13-1998 量度继电器和保护装置的电气干扰试验第1部分 1MHz脉冲群干扰试验GB/T 19183.5—2003 电子设备机械结构户外机壳第3部分：机柜和箱休的气候、机械试验及安全要求GB/T 2317.2—2000 电力金具电晕和无线电干扰试验GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分:通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/振动(正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb:交变盐雾试验方法(氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA:在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L:砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R:水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee:弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdb:宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdc:宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eg:撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fg:声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ff:振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe:振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落。

中国可靠性国家标准中国可靠性国家标准GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分: 通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 振动 (正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb: 交变盐雾试验方法 (氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验 M: 低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA: 在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 L: 砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验 R: 水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee: 弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM: 高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落。

可靠性测试标准国标

可靠性测试标准国标可靠性测试是指对产品在特定条件下的可靠性进行验证和评估的过程，其目的是为了确保产品在使用过程中能够稳定可靠地工作。

国际上对于可靠性测试的标准有很多，而在中国，也有一系列的国家标准对可靠性测试进行了规范和要求。

首先，国家标准对于可靠性测试的范围和目的进行了明确的规定。

在GB/T 10561-2005《可靠性测试》标准中，明确指出了可靠性测试的目的是为了评估产品在规定条件下的可靠性水平，以便为产品的设计、制造和使用提供依据。

同时，该标准还对可靠性测试的范围进行了详细的描述，包括了测试对象、测试条件、测试方法等方面的要求。

其次，国家标准对于可靠性测试的基本要求进行了具体的规定。

在GB/T10561-2005标准中，对于可靠性测试的基本要求包括了测试的环境条件、测试的持续时间、测试的样本数量、测试的数据处理等方面的内容进行了详细的规定。

这些基本要求的制定，有利于统一测试的标准，确保测试结果的可比性和可靠性。

另外，国家标准还对于可靠性测试的方法和步骤进行了规范。

在GB/T 10561-2005标准中，对于可靠性测试的方法和步骤进行了详细的描述，包括了测试的准备工作、测试的实施过程、测试的数据分析和评估等方面的内容。

这些规范的方法和步骤的制定，有利于确保测试的科学性和全面性。

此外，国家标准还对于可靠性测试的结果进行了评定和分类。

在GB/T 10561-2005标准中，对于可靠性测试的结果进行了具体的评定和分类，包括了测试结果的分析和评估、可靠性指标的确定、可靠性等级的划分等方面的内容。

这些评定和分类的规定，有利于客观地评价产品的可靠性水平，为产品的设计和使用提供依据。

总的来说，国家标准对于可靠性测试进行了全面的规范和要求，从测试的范围和目的、基本要求、方法和步骤、结果的评定和分类等方面进行了详细的规定。

这些规范和要求的制定，有利于统一测试的标准，确保测试结果的可比性和可靠性，促进产品的可靠性水平的提高。

GB 35-93元器件可靠性降额准则国家标准.

根据 4.1 条的规定，对不同应用推荐的降额等级见表 1。表 1 不同应用的降额等级
应用范围
降额等级最高最低
航天器与运载火箭
Ⅰ
Ⅰ
战略导弹
Ⅰ
Ⅱ
战术导弹系统
Ⅰ
Ⅲ
飞机与舰船系统
Ⅰ
Ⅲ
通信电子系统
Ⅰ
Ⅲ
武器与车辆系统
Ⅰ
Ⅲ
地面保障设备
Ⅱ
Ⅲ
4.3 降额的限度降额可有效地提高元器件的使用可靠性，但降额是有限度的。通常，超过最
为：电流放大系数：±15％（适用于已经筛选的晶体管） ±30％（适用于未经筛选的晶体管）漏电流：＋200％开关时间：＋20％饱和压降：＋15％
5.2.3 降额准则（1）晶体管的反向电压、电流、功率从额定值降额；（2）最高结温、安全工作区的降额见附录；（3）由于分布参数的影响，微波晶体管不能按独立变量来考虑降额，但应
中、小规模集成电路降额的主要参数是电压、电流或功率，以及结温。大规模模集成电路主要是降低结温。 5.1.2 应用指南 5.1.2.1 所有为维持最低结温的措施都应考虑。可采取以下措施：
（1）器件应在尽可能小的实用功率下工作；（2）为减少瞬态电流冲击应采用去耦电路；（3）当工作频率接近器件的额定频率时，功耗将会迅速增加，因此器件的实际工作频率应低于器件的额定频率；（4）应实施最有效的热传递，保证与封装底座间的的热阻，避免选用高热阻底座的器件。 5.1.2.2 双极型数字电路电源电压须稳定，其容差范围如下：（1） Ⅰ级降额：±3％；（2） Ⅱ级降额：±5％；（3） Ⅲ级降额：按相关详细规范要求。 5.1.2.3 主要参数的设计容差为保证设备长期可靠的工作，设计应允许集成电路参数容差为：模拟电路：

GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)

GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)介绍本文档是关于GB2423标准系列的大全，主要涵盖了可靠性试验要求的内容。

GB2423标准系列是中国国家标准委员会发布的一系列关于电工电子产品的环境试验标准，旨在通过试验评定产品在各种条件下的可靠性能。

标准概述GB2423标准系列共包含9个标准，分别为GB2423.1-1989至GB2423.9-2010。

这些标准涵盖了不同环境条件下的试验要求，包括温度、湿度、振动、冲击等多种试验。

标准目的GB2423标准系列的目的是为了确保电工电子产品在正常使用条件下具有一定的可靠性，能够稳定运行并不受环境因素影响。

通过进行各种环境试验，可以评估产品在各种条件下的可靠性能，为产品设计、生产和使用提供参考依据。

标准内容GB2423标准系列的试验要求主要包括以下几个方面：1. 温度试验：包括高温试验、低温试验和温变试验，目的是测试产品在不同温度条件下的可靠性。

2. 湿度试验：包括湿热试验和湿变试验，目的是测试产品在高湿度环境中的可靠性。

3. 振动试验：包括固定振动试验和随机振动试验，目的是测试产品在振动环境中的可靠性。

4. 冲击试验：包括正弦冲击试验和半正弦冲击试验，目的是测试产品在冲击环境中的可靠性。

5. 电磁辐射试验：包括射频辐射试验和瞬变抗扰试验，目的是测试产品在电磁辐射环境下的可靠性。

标准应用GB2423标准系列适用于各种电工电子产品的可靠性试验，包括家用电器、通信设备、计算机设备、工业设备等。

各个行业的企业可以根据自身产品的特点和使用环境选择相应的标准进行试验评定，以确保产品的可靠性和稳定性。

结论GB2423标准系列大全涵盖了可靠性试验的各个方面，通过进行环境试验可以评估产品在不同条件下的可靠性能。

各个行业的企业应根据自身产品的特点，选择相应的标准进行试验评定，以提升产品的可靠性和稳定性。

以上为GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)的文档，内容包括标准的概述、目的、内容、应用以及结论。

《民用建筑可靠性鉴定标准》(Ⅱ)

6.2.4 当混凝土结构构件的使用性按其裂缝宽度检测结果评定时，应遵守下列规定：
1 当有计算值时：（1）若检测值小于计算值及现行设计规范限值时，可评为as级；（2）若检测值大于或等于计算值，但不大于现行设计规范限值时，可评为bs级；（3）若检测值大于现行设计规范限值时，应评为cs级； 2 若无计算值时，应按表6.2.4–1或表6.2.4–2的规定评级； 3 对沿主筋方向出现的锈迹或细裂缝，应直接评为cs级； 4 若一根构件同时出现两种或以上的裂缝，应分别评级，并取其中最低一级作为该构件的裂缝等级。
上部承重结构
7.3.1 上部承重结构子单元的安全性鉴定评级，应根据其结构承载功能等级、结构整体性等级以及结构侧向位移等级的评定结果进行确定。
7.3.2 上部结构承载功能的安全性评级，当有条件采用较精确的方法评定时，应在详细调查的基础上，根据结构体系的类型及其空间作用程度，按国家现行标准规定的结构分析方法和结构实际的构造确定合理的计算模型，通过对结构作用效应分析和抗力分析，并结合工程鉴定经验进行评定。
7.2.3 当地基基础的安全性按地基变形（建筑物沉降）观测资料或其上部结构反应的检查结果评定时，应按下列规定评级： Au级不均匀沉降小于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉降差；建筑物无沉降裂缝、变形或位移。 Bu级不均匀沉降不大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉降差；且连续两个月地基沉降量小于每月2mm；建筑物的上部结构虽有轻微裂缝，但无发展迹象。 Cu级不均匀沉降大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉降差；或连续两个月地基沉降量大于每个月2mm；或建筑物上部结构砌体部分出现宽度大于5mm的沉降裂缝，预制构件连接部位可能出现宽度大于1mm的沉降裂缝，且沉降裂缝短期内无终止趋势。 Du级不均匀沉降远大于现行国家标准《建筑地基基础设计规范》GB 50007规定的允许沉降差；连续两个月地基沉降量大于每月2mm，且尚有变快趋势；或建筑物上部结构的沉降裂缝发展显著；砌体的裂缝宽度大于10mm；预制构件连接部位的裂缝宽度大于3mm；现浇结构个别部分也已开始出现沉降裂缝。注：本条规定的沉降标准，仅适用于建成已2年以上、且建于一般地基土上的建筑物；对建在高压缩性粘性土或其他特殊性土地基上的建筑物，此年限宜根据当地经验适当加长。

民用建筑可靠性鉴定标准

民用建筑可靠性鉴定标准
• • • • • • • 一、基本规定详情二、安全性等级评定详情三、正常使用性等级评定详情四、可靠性等级评定详情五、民用建筑适修性评估详情六、民用建筑可靠性鉴定报告编写要求七、工程实例详情
详情
一、基本规定
•1、民用建筑可靠性鉴定分类 •2、鉴定程序及其工作内容 •3、鉴定评级层次、等级划分及工作内容 •4、鉴定评级标准
一般规定（续）
• 二、结构分析运用的设计规范 • 第4.1.2条第1点结构构件验算采用的结构分析方法，应符合国家现
行设计规范的规定。
• 过去在这个问题上，一直存在两种不同的观点：一种认为，鉴定应以原设计、施工规范国依据；另一种则认为，必须以现行设计、施工规范为依据。 • 国际标准《结构可靠性原则》（ISO/DIS2394—1996）中明确规定：对已有建筑物的鉴定，原设计规范只能作为参考性的指导文件使用。 • 本标准主编单位—四川省建筑科学研究院答复：对已有建筑物鉴定时，采用原设计规范进行承载力复算，再按本标准进行安全性等级评定；对已用建筑物进行加固设计时，应符合国家现行设计规范的规定。
2、鉴定程序及其工作内容
• 鉴定程序 • 工作内容
– 初步调查工作内容 – 详细调查工作内容
鉴定程序
委托初步调查确定鉴定目的、范围和内容成立鉴定组（委员会）详细调查补充调查安全性、使用性鉴定评级可靠性评级适修性评估
鉴定报告
初步调查基本工作内容
• 1、图纸资料：如岩土工程勘察报告、竣工图及设计变更记录、竣工质检及验收文件(包括隐蔽工程验收记录)、定点观测记录、事故处理报告、维修记录、历次加固改造图纸等 • 2 建筑物历史情况：如原始施工、历次修缮、改造、用途变更、使用条件改变以及受灾等情况。 • 3 考察现场：按资料核对实物，调查建筑物实际使用条件和内外环境、查看已出现的问题、听取有关人员的意见等。 • 4 制定鉴定方案：根据委托方提出的鉴定原因及要求，并结合已调查的原始资料及现场初步考察情况，制定详细调查计划及检测方案并提出需由委托方完成的准备工作。

GBS0038标准

GBS0038标准GBS0038标准是指中国国家标准化管理委员会发布的一项关于电子产品可靠性测试的标准。

该标准的发布旨在规范电子产品的可靠性测试方法，保障产品质量，提高产品的可靠性和稳定性，以满足用户的需求和期望。

GBS0038标准主要包括了电子产品可靠性测试的一般原则、测试方法、测试程序、测试要求等内容。

在实际应用中，遵循GBS0038标准进行可靠性测试可以有效地评估电子产品在特定条件下的可靠性水平，从而为产品设计、生产和使用提供科学依据。

首先，GBS0038标准明确了电子产品可靠性测试的基本原则，包括测试的目的、范围、对象、原则、方法和程序等。

这些原则的制定是为了确保测试结果的准确性和可靠性，为产品的可靠性设计提供指导。

其次，GBS0038标准详细描述了电子产品可靠性测试的方法和程序。

这些方法和程序涵盖了环境适应性测试、可靠性寿命测试、可靠性增长测试、可靠性稳定性测试等多个方面，可以全面评估产品在不同环境条件下的可靠性表现。

此外，GBS0038标准还规定了电子产品可靠性测试的具体要求，包括测试样本的选择、测试条件的确定、测试数据的采集和分析等内容。

这些要求的制定是为了确保测试过程的科学性和严谨性，从而得出客观可靠的测试结果。

总的来说，GBS0038标准的发布对于提高电子产品的可靠性和稳定性具有重要意义。

遵循该标准进行可靠性测试可以帮助企业提前发现产品存在的问题，及时进行改进和优化，从而提高产品的质量和可靠性，增强产品的市场竞争力。

在实际操作中，企业应当严格遵守GBS0038标准的要求，建立健全的可靠性测试体系，加强对产品可靠性的监控和评估，不断改进产品设计和生产工艺，提高产品的可靠性和稳定性，满足用户的需求和期望。

综上所述，GBS0038标准是一项关于电子产品可靠性测试的重要标准，对于提高产品的可靠性和稳定性具有重要意义。

企业应当认真遵守该标准的要求，加强对产品可靠性的测试和评估，不断提高产品的质量和可靠性水平，为用户提供更加可靠的电子产品。

5.可靠性GB标准清单(全)

电子产品可靠性与维修性国家标准(共39项)序号国家标准号1GB/T 1772-1979标准名称电子元器件失效率试验方法2GB/T2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则（用于威布尔分布）3GB/T2689.2-1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）4GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）5GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）6GB/T 3187-19948GB/T 4885-19859GB/T 4888-1985可靠性、维修性术语正态分布完全样本可靠度单侧置信下限故障树名词术语和符号7GB/T4087.3-1985数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限10GB/T5080.1-1986设备可靠性试验总要求11GB/T5080.2-1986设备可靠性试验周期设计导则13GB/T5080.4-1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)14GB/T5080.5-1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案15GB/T5080.6-1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验16GB/T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案17GB/T 5081-198518GB/T 6990-198619GB/T 6991-198620电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南电子元器件可靠性数据表示方法GB/T6992.1-1995可信性管理第1部分:可信性大纲管理指南GB/T19000.4-1995质量管理和质量保证第4部分:可信性大纲管理指南系统和设备研制生产中的可靠性程序21GB/T6992.2-1997可信性管理第2部分:可信性大纲要素和工作项目22GB/T 6993-198623GB/T7288.1-1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟24GB/T7288.2-1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟25GB/T 7289-198726GB/T 7826-198727GB/T 7827-198728GB/T 7828-198729GB/T 7829-1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南系统可靠性分析技术-失效模式和效应分析(FMEA)程序可靠性预计程序可靠性设计评审故障树分析程序30GB/T9414.1-1988设备维修性导则第一部分:xx导言31GB/T9414.2-1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的xx要求32GB/T9414.3-1988设备维修性导则第三部分:xx大纲33GB/T9414.4-1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的xx研究34GB/T9414.5-1988设备维修性导则第六部分:xx检验35GB/T9414.6-1988设备维修性导则第七部分:xx数据的收集、分析与表示36GB/T9414.7-2000设备维修性导则第四部分:诊断测试37GB/T9414.8-2001设备维修性导则第九部分:xx评价的统计方法38GB/T 15174-1994可靠性增长大纲39GB/T 15647-1995稳态可用性验证试验方法。

可靠性国家标准

中国可靠性国家标准中国可靠性国家标准GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分: 通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 振动 (正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb: 交变盐雾试验方法 (氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验 M: 低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA: 在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/ 振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 L: 砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验 R: 水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee: 弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM: 高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 B: 高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则: 冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落。

功能性、可靠性、易用性等的国标以及需求示例

功能性对应国标要点1准确性对应国标要点测试需求示例编号测试内容GNX-ZQX-01软件的输入输出数据在数据转换、储存、运算后，满足要求的精度GNX-ZQX-02时间控制精度、时间测量精度等达到系统预期的精确度统计结果，或输入数据的精度与预期结果精度相符GNX-ZQX-03数据查询结果准确测试用例示例测试过程编号操作步骤与测试数据期望结果实际结果GNX-ZQX-01-01点击职员管理，新增，录入职员信息，录入薪酬5000保存成功，薪酬数据保存无误同预期GNX-ZQX-02-01点击职员管理，新增，录入职员信合同结束时间不能早于同预期息，选择合同时间合同开始时间，保存成功GNX-ZQX-03-01点击职工管理，查询数据是17条，罗姓员工两人，身份证440开头的员工是两人数据显示成功。

罗姓员工为两人与身份证440开头的员工为4人同预期GNX-ZQX-03-02在姓名栏输入罗，点击查询查询出的结果应该是2人同预期GNX-ZQX-03-03在身份证栏录入440，点击查询查询出结果应该是4人同预期对于准确性功能涉及数字，特别是有小数，页面输入框输入测试数据：有包含小数的测试用例，没有小数的测试用例：不仅仅是输入保存，修改模块，查询模块，显示XX科目成绩：统计模块，显示结果精度功能模块设计查询操作，查询结果的准确性预置条件：准备好自己添加的待查询的数据，（有多少条符合XX特点的数据）设计用例输入数据，针对此特性进行查询预期结果很好的预测出查询结果的应该是XXX条T0305功能性用例1.针对学生信息统计模块专门设计测试用例考察统计结果准确性功能模块：班级成绩一班学生信息统计科目·化学操作步骤和输入数据：预置条件：选择一班输入数据：化学成绩添加：2个用例总成绩：总成绩不变总成绩增加（精简掉）；2个用例平均成绩：平均成绩增加和减少（不变）；2个用例及格人数：及格人数增加和不变；2个用例优秀人数：优秀人数增加和不变原有T0305功能用例+（2+2+2+2）2.对于查询模块测试用例原：输入数据和操作步骤：XX预期结果：在学生成绩详细列表中显示符合查询条件的记录现：预置条件：安装软件后，在一到五班中，均不增加学生信息，采用系统默认数据。

gjb 5023.2-2003

《GJB 5023.2-2003》是什么？它为什么如此重要？这是国家相关规范的一部分，对于相关行业的发展和国家安全具有重要意义。

本文将从不同的角度深入解析《GJB 5023.2-2003》，探讨其在相关行业中的应用和影响。

一、《GJB 5023.2-2003》是什么？1.1 《GJB 5023.2-2003》是一项国家标准，专门用于军事航空领域的电子元器件测试和可靠性评定。

1.2 该标准由国家相关部门制定并颁布，其内容涵盖了电子元器件的各项测试方法、评定标准以及可靠性要求等，是军事航空领域必须遵守的重要规定。

1.3 该标准的颁布和实施，标志着我国在军事航空领域的电子元器件测试和可靠性评定方面迈出了重要的一步，有利于提高我国军事航空产品的质量和可靠性，保障国家安全和国防利益。

二、《GJB 5023.2-2003》的重要性2.1 对于相关行业的发展《GJB 5023.2-2003》的实施，将推动相关行业的发展和进步。

在军事航空领域，电子元器件的质量和可靠性直接关系到作战效能和飞行安全，因此该标准的实施有助于提高相关产品的质量和性能，满足国防需求。

2.2 对于国家安全的影响《GJB 5023.2-2003》的颁布和实施，将对国家安全产生深远影响。

军事航空领域的产品和装备，直接关系到国家的安全和国防利益，而电子元器件作为其中重要的一部分，其可靠性和性能至关重要。

该标准的实施有助于提高电子元器件的可靠性和稳定性，保障国家安全和国防利益。

三、《GJB 5023.2-2003》的应用和影响3.1 在军事航空领域《GJB 5023.2-2003》主要应用于军事航空领域，对于该领域的电子元器件测试和可靠性评定具有重要意义。

该标准的实施，有助于提高军事航空产品的质量和可靠性，满足国防需求，保障国家安全。

3.2 在相关产业链《GJB 5023.2-2003》的实施，将对相关产业链产生深远影响。

在军事航空产品的生产和制造过程中，电子元器件是重要的组成部分，其质量和可靠性直接关系到产品的整体性能和安全性。

住房和城乡建设部公告第156号－－关于发布国家标准《工程结构可靠性设计统一标准》的公告

住房和城乡建设部公告第156号－－关于发布国家标准《工程结构可靠性设计统一标准》的公告
文章属性
•【制定机关】住房和城乡建设部
•【公布日期】2008.11.12
•【文号】住房和城乡建设部公告第156号
•【施行日期】2009.07.01
•【效力等级】部门规范性文件
•【时效性】部分失效
•【主题分类】标准定额
正文
该篇文件中第3.2.1、3.3.1条已被住房和城乡建设部关于发布国家标准《工程结构通用规范》的公告（中华人民共和国住房和城乡建设部公告2021年第70号）废止，自2022年1月1日起实施。

住房和城乡建设部公告
（第156号）
现批准《工程结构可靠性设计统一标准》为国家标准，编号为GB50153-2008，自2009年7月1日起实施。

其中，第3.2.1、3.3.1条为强制性条文，必须严格执行。

原《工程结构可靠度设计统一标准》GB50153-92同时废止。

本标准由我部标准定额研究所组织中国建筑工业出版社出版发行。

中华人民共和国住房和城乡建设部
二○○八年十一月十二日。

中华人民共和国isc2000标准

中华人民共和国isc2000标准一、概述ISC2000标准是由中国国家标准化管理委员会（SAC）发布的国家推荐性标准。

该标准规定了网络系统中信息传输的安全性、完整性和可靠性要求。

ISC2000标准适用于所有涉及信息传输的网络系统，包括但不限于互联网、局域网、广域网和物联网。

二、安全性要求ISC2000标准对网络系统的安全性提出了以下要求：1. 保密性：确保信息在传输过程中不被非法获取或泄露。

2. 完整性：保证信息在传输过程中不被篡改或损坏。

3. 可用性：确保信息在传输过程中可以正常接收和使用。

4. 可认证性：实现信息发送方的身份认证，防止伪造或冒充行为。

5. 不可抵赖性：实现信息发送方和接收方之间的不可抵赖性，即无法否认已发送或接收的信息。

6. 抗抵赖性：防止信息发送方对已发送的信息进行否认，确保信息的可信性。

7. 可靠性：确保网络系统的稳定性和可靠性，避免因系统故障或异常情况导致的信息传输中断或错误。

8. 隐私保护：保护用户个人信息的隐私，防止信息泄露和滥用。

三、完整性要求ISC2000标准对网络系统的完整性提出了以下要求：1. 数据完整性：保证数据在传输过程中不被篡改或损坏，包括数据的一致性和正确性。

2. 文件完整性：确保文件在传输过程中保持完整，包括文件的完整性校验和验证。

3. 记录完整性：保证记录在传输过程中不被篡改或损坏，包括记录的一致性和正确性。

4. 身份验证：实现用户身份的认证和授权，确保只有合法用户能够访问和使用网络系统中的数据和文件。

5. 数据源验证：实现数据源的验证，确保数据的可信性和来源的真实性。

6. 数据传输验证：实现数据传输的验证，确保数据在传输过程中不被篡改或损坏。

7. 数据存储验证：实现数据存储的验证，确保数据在存储过程中不被篡改或损坏。

8. 安全审计：实现对网络系统的安全审计，确保系统中的操作和事件符合规定的安全策略和要求。

9. 安全日志：实现安全日志的记录和管理，确保对系统中的操作和事件进行跟踪和监控。