纯氧化物中的缺陷平衡(陈春华)
改性沸石负载Fe3O4催化H2O2去除亚甲基蓝染料废水
改性沸石负载Fe3O4催化H2O2去除亚甲基蓝染料废水刘徽;晏井春;陈云;陈梦舫;张雪峰【期刊名称】《应用化工》【年(卷),期】2016(045)012【摘要】利用改性沸石负载Fe3O4活化H2O2非均相Fenton体系氧化降解有机污染物亚甲基蓝.考察了催化剂改性沸石负载Fe3O4投加量、溶液初始pH和H2O2初始浓度对亚甲基蓝降解效果的影响,进而讨论Fe3O4/改性沸石-H2O2非均相Fenton体系的催化机理.结果表明,当催化剂投加量为2.40 g/L,初始溶液pH 为5.33,H2O2浓度为5.93 mmol/L时,反应30 min后,9.60 mol/L的亚甲基蓝去除率可达到98.52%.通过自由基捕获剂抗坏血酸和羟基自由基捕获剂甲醇,证明了Fe3O4/改性沸石-H2O2体系的氧化物种为羟基自由基和过氧自由基.【总页数】6页(P2207-2211,2216)【作者】刘徽;晏井春;陈云;陈梦舫;张雪峰【作者单位】中国科学院土壤环境与污染修复重点实验室南京土壤研究所,江苏南京210008;内蒙古科技大学能源与环境学院,内蒙古包头014000;中国科学院土壤环境与污染修复重点实验室南京土壤研究所,江苏南京210008;中国科学院土壤环境与污染修复重点实验室南京土壤研究所,江苏南京210008;中国科学院土壤环境与污染修复重点实验室南京土壤研究所,江苏南京210008;内蒙古科技大学能源与环境学院,内蒙古包头014000【正文语种】中文【中图分类】TQ085+4.19;X703【相关文献】1.凹凸棒土负载CeO2催化氧化处理亚甲基蓝染料废水 [J], 陈志刚;郭亭亭;李霞章;陈丰;陆晓旺;张跃2.Fe/TiO2-Al2O3催化H2O2降解亚甲基蓝废水的研究 [J], 胡伟强;王英;黎先财;杨沂凤3.新型钒氧簇-氮杂配体配合物的合成及光催化降解亚甲基蓝染料废水 [J], 白凯鹏; 周利君; 曹孟雪; 张思锐; 徐杰4.金属有机框架材料UiO-66-(COOH)2吸附去除染料废水中的亚甲基蓝和罗丹明B [J], 生森森;刘佳祥;李卓5.改性秸秆-Fe3O4复合材料对染料废水中亚甲基蓝的去除研究 [J], 李林璇;廖云开;范世锁因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
Ti3+或者氧空位自掺杂二氧化钛化学缺陷的新视角
学年论文题目:Ti3+或者氧空位自掺杂二氧化钛:化学缺陷的新视角学院:物理与电子工程学院专业:物理学学生姓名:学号:指导教师:简短评语成绩:指导教师签名:Ti3+或者氧空位自掺杂二氧化钛:化学缺陷的新视角作者:Juan Su,Xiaoxin Zou和Jie-Sheng Chen翻译123摘要:金属氧化物的化学缺陷是一个无机电晶体材料的重要研究方向。
这是因为(i)相当一部分缺陷或瑕疵存在于金属氧化物材料中(ii)出现的缺陷有时甚至决定了材料的物理、化学特性;(iii)更重要的,缺陷不可避免的对材料的特性产生不利影响:正确地认识 " 缺陷工程学 " 使能改良为所需的特性,甚至是在自然材料中不是可得的一些新型有用的功能特性。
基于这些观点,我们了解钛氧化物化学缺陷(例如Ti,TiO2),并在研究多功能的金属氧化物方向努力进行研究,并在这方面特意给予高度重视。
经讨论,把部分精力放于合成氧空位/Ti3+自掺杂TiO2材料和受欢迎的的缺陷对材料的特性及应用的影响。
在这个评论中,把重心集中在代表性的金属制的氧化物(也就是,TiO2), 按预期提出一些新视角在金属氧化物的常见化学缺陷,并促进金属氧化物材料的“缺陷工程学”的发展。
1. 引言钛(Ti)是地壳中的第九大元素(0.63%) ,它的含量仅次于大量存在的 O 、Si 、Al 、Fe 、Ca 、Na 、K和Mg。
[1]二氧化钛(TiO2)作为钛的最重要的氧化物,它主要以三种晶型(锐钛矿、金红石和板钛矿)存在, 是一种多功能的金属氧化物材料2-8。
二十的世纪初期以来,TiO2已经在商业中被当作白色染料,防晒添加剂等等。
,这些传统的应用主要是基于它特殊的物理化学性质,例如:高的折射率,强的紫外线吸收的能力、优越的化学稳定性和丰富的含量。
[2-8]在1972 年, Fujishima 和Honda发现在紫外线的照射下TiO2电极上发生了水的电解。
生物现象中的几个力学问题
1. 生物材料的缺陷非敏感尺度 2. 细胞方向重新排列 3. 生物分子对环境变化的敏感性(2D及3D模型) 4. 壁虎、蚱蜢等昆虫的可逆黏附 5. 小结
中国力学学会青年学术沙龙第32次活动
3、生物分子或细胞的环境变化敏感性
研究背景
Receptor–ligand binding can be affected by protein deformation. (a) A good conformational match between the receptor and ligand leads to strong binding and reaction. (b) When the receptor deforms under force, the binding affinity decreases due to poor conformational match.
C. Neidlinger-Wilke, et al., J. of Orthopaedic Research, 2001, 19, 286
2、细胞方向重列问题
研究背景
中国力学学会青年学术沙龙第32次活动
After 3 h of 10% pure uniaxial stretching, the cells reoriented perpendicular to the initial stretching direction
位移连续条件:
ux1 ux2 ex
u
y1
uy2
x2 2R
x a
1/ R 1/ R1 1/ R2
1 2
格林方程:
1
a Q(s) ds P(x) E*e
晶体结构缺陷(陈春华)
“完美晶体”只是一种想象,缺陷晶体则是绝对的。
结构缺陷显著影响材料的各种物理、化学性质: 力学性质、扩散特性、反应活性、烧结活性、光电 特性等。 结构缺陷的调控是材料科学的“焦点”。
References: 1. “Basic Solid State Chemistry” Anthony R. West, 2th
vacancy pair
interstitial anion
Anion vacancy
第二节:结构缺陷形成热力学和 缺陷结构的绝对性
Perfect crystals are built up of regular arrangements of atoms in three dimensions; in a perfect crystal, all the atoms at rest on their correct lattice positions.
ΔH ≈ const. and ΔSvib ≈ const. Not true!
ΔSconf
= k lnW
= k ln (N + nV )! N !nV !
⎛ ⎜W ⎝
=
(
N + nV ) N !nV !
!
⎞ ⎟ ⎠
considering N >> 1 and nV >> 1 (N >> nV ) and applying Stirling ' s Approximation : ln x! = x ln x + x (x >> 1)
Cl Na Cl Na Cl Na Na Cl Na Cl Na Cl Cl Na e’ Na Cl Na Na Cl Na Cl Na Cl Cl Na Cl Na Cl Na
Ti-Al-Fe-O熔体中氧化铝析出行为的研究
第15卷第1期2024年2月有色金属科学与工程Nonferrous Metals Science and EngineeringVol.15,No.1Feb. 2024Ti-Al-Fe-O 熔体中氧化铝析出行为的研究戎宇航1,2, 朱翔鹰*1,2, 陈军修1,2, 吴长军1,2,涂浩1,2, 王建华1,2, 苏旭平1,2(1.江苏省材料表面科学与技术重点实验室,江苏 常州 213164; 2.常州大学材料科学与工程学院,江苏 常州 213164)摘要:铝热法制备的高钛铁(ω(Ti )>65%,质量分数,下同)由于ω(O )和ω(Al )都大于5%而无法工业应用。
Ti-Al-Fe-O 系熔体中ω(Al )和ω(Ti )关系决定铝脱氧极限。
本文用真空非自耗电弧炉在1 800~2 000 ℃范围内充分熔炼Ti-Al-Fe-O 系(ω(Ti )=30%~75%,ω(Al ) =5%~20%,ω(O )=5%)样品,然后在水冷铜模中快速冷却,采用XRD 、SEM 和EDS 进行了样品检测。
实验结果表明,成分为60Ti20Al15Fe5O 的熔体中快冷相的析出顺序为Al 2O 3相、钛氧相、钛铝相、钛铁氧相、钛铁相,而且析出相的ω(O )按照析出顺序逐步降低。
达到同样的脱氧极限前提下,Ti-Al-Fe-O 系熔体中ω(Ti )越高,平衡所需的ω(Al )越高。
当脱氧极限为5%且ω(Ti )>50%时, Al 2O 3析出曲线上的ω(Al )和ω(Ti )关系遵循:ω(Al ) = 0.017 635 + 0.176 35ω(Ti )。
关键词:高钛铁;铝热法;氧化铝;析出;脱氧极限中图分类号:TF82 文献标志码:AStudy on alumina precipitation behavior in Ti-Al-Fe-O meltsRONG Yuhang 1, 2, ZHU Xiangying *1, 2, CHEN Junxiu 1, 2, WU Changjun 1, 2,TU Hao 1, 2, WANG Jianhua 1, 2, SU Xuping 1, 2(1. Jiangsu Key Laboratory of Material Surface Science and Technology , Changzhou University , Changzhou 213164,Jiangsu , China ;2. School of Materials Science and Engineering , Changzhou University , Changzhou 213164,Jiangsu , China )Abstract: High ferrotitanium (ω(Ti)>65%, in mass fraction, same below) prepared by aluminothermy is not applicable for industrial use due to ω(O) and ω(Al) being greater than 5%. The deoxidation limit in melts of Ti-Al-Fe-O system is determined by the relationship between ω(Al) and ω(Ti). In this paper, the samples (ω(Ti)=30%-75%, ω(Al)=5%-20%, ω(O)=5%) were fully melted in a vacuum non-consumable arc furnace in the range of 1 800 ℃ to 2 000 ℃, rapidly cooled in a water-cooled copper mold, and detected by XRD, SEM and EDS. The experimental results show that the phase precipitation order in the melt with 60Ti20Al15Fe5O under fast cooling conditions is the Al 2O 3 phase, Ti-O phase, Ti-Al phase, Ti-Fe-O phase and Ti-Fe phase, and the ω (O) content of the precipitation phase sequentially decreases. Under the same deoxidation limit, the higher the ω (Ti) content in Ti-Al-Fe-O melt, the higher the ω(Al) content required for equilibrium. When the deoxidation limit is 5% and ω(Ti) is greater than 50% in Ti-Al-Fe-O melts, the relationship between ω(Al) and ω(Ti) on the Al 2O 3 precipitation curve follows ω(Al) =0.017 635+0.176 35ω(Ti).Keywords: high ferrotitanium ; aluminothermy ; alumina ; precipitation ; deoxidation limit收稿日期:2022-12-24;修回日期:2023-04-11基金项目:国家自然科学基金资助项目(52071032)通信作者:朱翔鹰(1977— ),讲师,主要从事有色金属资源循环利用及铁合金研究。
低温(热)固相反应(陈春华)
低温固相反应规律
(1) 潜伏期。固体反应物间的扩散及产物成核过程便构成了固相反应 特有的潜伏期。这两种过程均受温度的显著影响, 温度越高, 扩散 越快, 产物成核越快, 反应的潜伏期就越短; 反之, 则潜伏期就越长。 当低于成核温度Tn 时, 固相反应就不能发生。
(2) 无化学平衡。当反应中有气态物质参与时, 如果这些气体组分作 为产物的话,随着气体的逸出, 这些气体组分的分压较小, 因而反 应一旦开始, 便可一直维持到所有反应物全部消耗, 亦即反应进行 到底。
暴露在空气中易风化,表面变为白色粉末,在湿空气中易
氧化,表面生成棕黄色的碱式硫酸铁,溶于水和甘油不溶 于醇。有还原作用,在56.6℃由七水合成物转变为四水合 物,在64.6℃变为一水合物,在90℃时失去六个结晶水, 在300℃时失去全部结晶水而成无水物,红热时则分解放 出SO2、SO3。
低温固相反应种类
ΔG
=
Hm
Tm − T Tm
+
Δc p (Tm
−T
−T
ln Tm T
)
≈
Hm
Tm − T Tm
冷熔点的理论推导
所以:
F = ρ ⋅ H m (Tm − T )
M
Tm
∴T
= (1 −
M
ρ
⋅
F Hm
)T m
= (1 − kF
)T m
则冷熔因子:
k= M
ρH m
在F 作用下,质点熔化所需的温度T 比其正常的熔点Tm要低,我们称这个温度 T 为冷熔点。k 称为冷熔因子,与晶体的物种及结构有关。熔化热和密度 越大-分子量越小,则k 值越小, 从而使外来作用力对晶体熔点的影响小, 如 陶瓷-硅酸盐和大部分金属氧化物。 而对于熔化热小、密度小、分子量大
掺杂氧化物中的缺陷平衡(陈春华)
KMi −1/ 2 KMi = [M ]n p ⇒ [M ] = p O2 • 2 [Mf M ]
•• i
2
1/ 2 O2
•• i
7.1.6 M1+xO 的低价阳离子掺杂 (acceptor dopants): 1 × •• M M = M i + 2e '+ O2 ( gas) 2 •• •• 2 1/ 2 •• M ¾ 本征区: KMi = [M i ]n pO 2 and n = 2[M i ] i and e '
KMi = [M ]n p
2
•• i
1/ 2 O2
⎛ 2KMi ⎞ ⇒ n=⎜ ' ⎟ ⎝ [Mf M ] ⎠
1/ 2 −1/ 4 pO 2
7.1.7 M1-xO 的低价阳离子掺杂 (acceptor dopant):
1 × • '' O2 ( gas) = OO + VM + 2h 2 '' • ¾ 本征区: K = [V '' ] p2 p−1/ 2 and p = 2[V '' ] VM and h VM M O2 M
' • • • ' [VX ] + [Mf M ] = [VM ] ⇒ [VM ] ≈ [Mf M ] = Constant
KS [V ][V ] = Ks ⇒ [V ] = • [Mf M ]
' M • X
• X
Schottky缺陷浓度受掺杂量控制,随掺杂量的增加而降低。
Brouwer diagram
• i
Frenkel缺陷浓度随掺杂量增加而降低。
7.1.3 MO2-x 的低价阳离子掺杂 (acceptor dopants)
典型缺陷反应(陈春华)
第五章典型缺陷反应¾化学整比化合物(本征)缺陷反应¾非化学整比化合物(本征)缺陷反应¾非本征缺陷(掺杂缺陷)反应主要参考书:“Defects and Transport in Crystalline Solids”Truls Norby, University of Oslo, Spring 2004点缺陷的分类:)本证缺陷和非本征缺陷:(intrinsic defects and extrinsic defects)本征缺陷——非外来杂质晶体缺陷,缺陷形成源自晶体(化合物)的本来属性(整比或非整比化合物,组成元素不变)。
非本征缺陷——缺陷源自外来杂质(impurities) 或掺杂(dopants)(组成元素变化)。
)化学计量(整比)和非化学计量(非整比)化合物中的结构缺陷Defects in stoichiometric-and non-stoichiometric compounds¾整比化合物结构缺陷:缺陷形成,不破坏化合物元素组成的“整比性”,不与环境不发生元素交换,缺陷成对出现(Schottky’s, Frenkel’s and Electronic Defects)。
¾非整比化合物结构缺陷:缺陷形成,破坏化合物组成元素的“整比性”⇒非化学计量化合物,与环境发生组成元素物质交换。
整比化合物结构缺陷形成及浓度,仅与物性和温度有关。
而非整比化合物结构缺陷形成及浓度,除与物性和温度有关,还与环境组元活度(分压)有关。
''M i MM M V ו•=+2)Frenkel Defect Reaction:Frenkel 缺陷是阳离子或阴离子进入晶体的次格子间隙位,生成等数量的正常格子空位和间隙离子(原子)缺陷对(Frenkel 缺陷对缺陷对)。
反应过程没有正常格位数的变化。
如果缺陷是双电荷离子化双电荷离子化的,则缺陷反应可写为:上述Frenkel 缺陷反应是生成间隙阳离子和阳离子空位缺陷对,也可以形成间隙阴离子和阴离子空位对,称为anti -Frenkel 缺陷结构(如CaF 2结构中)。
结晶化学简介(陈春华).
Trigonal (R) a=b=c α=β=γ ≠90o < 120o
晶体结构的描述:
晶胞:高度抽象,但不够形像(3-D结构特征)。 3-D结构描述方法: ¾ 等径球密堆 (close packing) :导向因素是结构中球形粒子 堆积密度最大化。金属结构描述(hcp,fcc,bcc等) ¾ 配位多面体堆积 (space-filling polyhedra) :强调结构中阳 离子与阴离子的配位关系,3D堆砌配位多面体(离子晶体、 共价键晶体结构描述)。 ¾ 价键网络 (covalent network) :突出中心原子与相邻原子 之间的价键连接关系(共价键晶体结构描述)。
2rA−O t= , 1 < t ≤ 1.06 2rB −O
Case III: 12配位A离子更小,但满足:
t=
2 R A− O 2 RB − O
, 0 .85 ≤ t < 0 .9
——稳定的正交或单斜结构。
如果 t<0.85 或 t > 1.06, ABO3将不再呈钙钛矿型结构。 例如:LiNbO3和FeTiO3,结构为O=-hcp,两种阳离子 都是6配位,占据2/3的八面体空隙。
第 3 章:结晶化学(回顾)
第1节:几个基本概念
1. 晶体(Crystal):原子、离子、分子三维周期排 列所构 成的集合体。 2. 点阵、晶格 (Lattice) 、格点( Lattice point) 点阵、 3. 晶胞(Unit cell): The smallest repeatingunit which shows the full symmetry of the crystal structure.格位 (Lattice site)原子坐标(a,b,c)晶面指数[ h k l ]晶向指数(h k l) 4. 晶体的宏观对称性:7个晶系,14种平移群,32点群 5. 晶体的微观对称性:230 space groups 6. 结构: Structure and Texture
缺陷识别反问题的研究状况与若干进展
第28卷 第3期力 学 进 展Vol 28 No 31998年8月25日ADVANCES IN MECHANICS Aug 25, 1998缺陷识别反问题的研究状况与若干进展收稿日期:1996-06-13,修回日期:1997-05-10柳春图 陈卫江中国科学院力学研究所,北京 100080摘 要 简要回顾了缺陷识别反问题的发展状况,评述了几类典型识别方法:基于势函数理论的电学法,静态BEM 优化迭代法,射线法,T 矩阵法,Born 近似法,边界积分方程及边界元法.介绍了作者建立的裂纹及夹杂识别的迭代优化法.指出了缺陷识别反问题需要研究的主要问题.关键词 断裂力学,缺陷识别,缺陷识别反问题,反演方法1 引 言断裂力学及其相关学科是本世纪固体力学发展的重要分支,它们的研究成果将古典强度理论向前推进了一大步.按照现代工程技术的要求,对于含裂纹或缺陷的结构,必须由断裂力学等学科的理论作强度分析和校核.由于工程应用的强烈需求,四十年来断裂力学等学科一直是固体力学研究的重要研究方向,并已取得丰硕成果,然而应用这些成果有一个明显的前提条件,即必须事先已知裂纹或缺陷在结构中的位置和几何参数,因此缺陷识别问题几乎在同时就引起了关注,并在近十多年成为力学和工程界的研究热点.缺陷识别在技术上是无损探伤的主要任务,在理论上则属于固体力学或断裂力学反问题的研究内容.无损探伤也称无损检测,它是指在不损害材料或构件的情况下,采用物理、化学等方法和手段,探测被检对象内部和表面的各种缺陷.据统计已有的检测方法多达七十余种[1],在已有的无损探伤技术中,几乎所有形式的能量都曾用于确定结构的内部性质,其中射线检测、电磁检测和超声检测等技术已有广泛应用.从原理上讲,这些方法都是首先由探头测量出缺陷对外界激励的响应,再使用适当的方法作识别分析.探伤技术的发展经历了由定性分析到定量分析两个阶段,早期的探伤主要是定性检测,其作法是依靠经验和半经验方法,结合使用最基本的物理公式分析测量信号,这对于发现缺陷是有效的,但由于对信号缺乏深层次的解释和破译,因此无法对缺陷作进一步的几何定性分析.随着现代工业技术的不断提高,特别是航空航天、核和微电子等工业的进步,定性检测的结果已不能满足实际需要,这就对探伤技术提出了新的挑战,检测技术的发展重点已转向定量检测,即在发现缺陷的基础上,进一步精确确 361定其位置和形状参数.定量检测目前还面临重重困难,究其原因,除了在测量技术上的难点外,主要是对测量信息的利用率还不高,缺少破译信息的强大软件.对此工程和学术界一致认为,一方面需要改进探伤设备的硬件水平,提高信号测量的精度;另一方面则需要深入研究反问题理论,提高对信息的破译水平.理论上反问题有多种描述方式,现在通常归结为微分方程反问题.我们知道微分方程的正问题是寻求其定解问题的解,即寻求满足特定辅助条件的微分方程的解.相对正问题,微分方程的反问题则是由微分方程解的某种泛函,来确定方程的系数、右端或解的定义域.工程中的大多数问题可以归结为微分控制方程L u =0,X / f (X ),X力学其中,f (X )是源函数,L 通常为二阶微分算子,其系数取决于源及其周围介质的物理特性.则反问题一般可表述为如下两种类型[2]:(1)给定方程解的部分信息,要求反推方程的右端或定解域的形状;(2)给定方程解的部分信息,要求重建方程的系数.应当强调指出,反问题的理论虽然与正问题有密切联系,但又有其自身的特点,其中反问题的高度非线性和解答所固有的不适定性,使反问题的求解通常比正问题困难得多,目前还没有完备的理论体系[1~4].本文关心的缺陷识别是未定边界问题,因此属于第一种反问题,限于篇幅和作者的水平,本文重点介绍缺陷识别反问题的几类理论方法和作者的部分工作,并就实验方法作简单介绍,最后就此类反问题理论上存在的困难和问题作分析及讨论.2 基于势函数理论的电学法电测法是探伤技术中发展最早的方法之一,它在工业和医学等领域中有较广泛的应用.理论上,可归结为求解如下Laplace 或Possion 方程的反问题=0 或 +Q =0(1a ,1b )由于控制方程比较简单,在方法的研究上已有大量工作,其中具有代表性的是阻抗CT 法[5~7]和电势CT 法[8~10],以下作简单介绍.2 1 阻抗CT 法阻抗CT 法(Impedance CT)提出于70年代末[11],其基本思想是通过对介质表面的阻抗(电阻)测量,重建介质的内部构形,M urai 首先研究了医学中的人体器官检测阻抗CT 法[7],目的是检查病变引起的器官变形,这实际上相当于缺陷识别或两种介质的界面识别问题.如图1所示,假定 与 2具有不同的电导率 1和 2,将一对低频电流加在电极(A ,B )上,而在另一对测点(C,D)上测量电势差 CD .当施加电流I 时,电极对(A ,B )与(C,D )之间的传递阻抗为Z i = CD /I ,i =1,2, ,N (2)式中,下标i 对应于第i 对测点(C,D ).问题的控制方程为Laplace 方程(1a),因此其正问题可由常规BEM 求解.Murai 使用了间接方法求解反问题,具体作法是首先假定初始近似的界面,再使用BEM 正问题解法,计算得到对应的传递阻抗 Z i ,如果条件 Ni =1|Z i - Z i | 得到 362满足,则已获解答(一般不会这样巧合),否则通过BEM算法反复迭代修正近似的界面,直到上述条件得到满足,由此确定所求界面.Murai的方法从算例看是有意义的,但应具备两个前提,其一是对界面的初始猜测必须十分精确;其二是必须有足够多的测点.图1 阻抗CT法识别人体器官界面2 2 电势CT法当电流通过带裂纹的导体时,电势分布的变化与裂纹的位置和形状有直接关系,电势法正是由此为前提的[12].80年代后期,Kubo等人又进一步提出了电势CT法[8~10],该方法结合使用电势法和边界元法,在裂纹识别问题上取得了一定进展.按照Kubo的作法,问题的控制方程仍为Laplace方程.从物理学原理可明显看出,裂纹面的法向不能通过电流,因此裂纹的表面应满足齐次通量条件 / n|crack=0.一般边界上只能给定Dirichlet或Neumann条件,假定通过测量在部分边界上同时已知两种条件,便得到了所谓的超定边界(Over-prescribedboundary),Kubo证明以此作补充条件,当裂纹为直线型(二维)和平片型(三维)时,可由两至三种不同加电方式的测量结果唯一识别裂纹.在求解上,Kubo将其转化为裂纹几何参数的优化问题,目标函数如下R= S3W[ (C)- (M)]2d S(3)其中,W为选定的权因子, (C)是由计算得到的, (M)则是由测量得到的.当R足够小时,即得到识别的裂纹参数.3 基于静态弹性力学的识别方法上节介绍的电学法对介质的电学性质有较高要求,因此适用范围受到了一定的限制,而固体力学的方法在近十年中被学术界看好,并显示了较好的发展前景.静态弹性力学理论曾在结构的外形优化设计和残余应力识别等反问题中得到应用[13];Benzerra和Saig al首先结合使用BEM和优化方法研究了缺陷的识别问题[14],本文作者则进一步研究了裂纹和夹杂的识别问题,使用边界积分方程方法和迭代优化技术,建立了一种以静态边界位移和应变测量为补充条件的缺陷和裂纹识别方法[15],迭代中正问题的数值求解分别采用了常规BEM和由作者提出的新型裂纹边界积分方程算法[16],结果表明在测量点充分、选位合理的前提下,该方法具有收敛快、识别精度好的特点.3 1 正问题的求解方法对于如图2(a)所示的平面裂纹问题,作者在文[16]中导出了如下一组混合型边界积分方程,其中,在裂纹线上满足以位错密度为未知量的Cauchy型积分方程,在外边界仍采用363常规边界积分方程12u k (y )= S [t i ( )U ik ( ,y )-u i ( )T ik ( ,y)d S( )- b a b 1T +ik ( *,y)d *方法u i,1( 1)d 1k =1,2,y S (4)S [t i ( )T +ki ( ,y 1)+K ik ( ,y 1)u i ( )]d S( )+Ab a u k ,1 1-y 1d 1=q k (y 1)k =1,2,y 1 (a,b)其中U ik ,T ik 是问题的基本解,q k = k 2|crack 是裂纹面上的载荷,A = /2(1- ),K ik 为已知可积性积分核,该方程组可结合使用边界元及奇异积分方程算法离散为一组线性方程求解,详细过程这里不再罗列.这种方法的优点是求解精度高,避免了常规BEM 算法需沿裂纹线切割的不便,更适于裂纹识别反问题.图2对于如图2(b)所示的平面弹性夹杂问题,假定两种介质界面上满足位移和应力连续的条件,则可分别在子区域 和 1建立方程,再结合使用界面连续性条件,导出如下一组常规边界积分方程12u k(y)= S+ [t i ( )U ik ( ,y )-u i ( )T ik ( ,y)d S( ),k =1,2,y S + 12u k (y)=- [t i ( )U *ik ( ,y )-u i ( )T *ik ( ,y )]d S( ),k =1,2,y(5)其中U *k ,T *ik 为区域 1对应的基本解,积分是关于弧长的,边界 的法向已统一取为内法向.上述方程可由常规的边界单元算法,离散成以边界S + 上的位移或力为未知量的线性方程组求解.3 2反问题的迭代优化方法}直接借用优化迭代方法,可将反问题归结为关于缺陷和裂纹有关几何参数的标准非线性优化问题,具体作法如下:假定在部分已知力的外边界上通过测量得到了一些离散点的位移(或应变),则这些点成为超定边界点.我们的研究表明以此作为补充信息,对于识别具有有限几何参数的缺陷及裂纹效果良好.迭代优化的无量纲目标函数可简单取为R = N k=1 2i=1[u i (x k )-u *i (x k )]2 N k=1 2i=1[u *i (x k )]2 或 R = N k=1 2i=1[ i (x k )- *i (x k )]2 N k =1 2i=1[ *i (x k )]2(6)364式中,N为测量点的数目,u*i和 *i是经测量得到的真实位移和应变(沿切线方向),u i和 i则是由计算得到的近似位移和应变(沿切线方向).如果 =( 1, 2, , m)表示待识别的缺陷或裂纹参数,则反问题就归结为寻求最优参数 ,使目标函数R取最小.优化参数 ,可按以下步骤作修正迭代(n+1)= (n)+l d(n)(7)其中,l为优化步长,d(n)是第n步参数搜索方向,可由最速下降法确定[15](8)d=-grad(R)|grad(R)|式中,梯度是关于参数 的.另外我们使用以下判别式,作为迭代的收敛标准R(n)< 1,|R(n)-R(n-1)|< 2(9)其中, 1, 2是给定的小正数,第一式表示无量纲目标函数小于预定尺度,第二式则表示收敛的一致性条件.3 3 算例与讨论假定一2 0m 1 0m的矩形结构中含有一未知的直线裂纹,材料参数分别取为 =8 1010Pa, =0 29, =7800kg/m3.此时,待定裂纹可由4个独立参数确定,即 =(x0,y0, ,a0),其中(x0,y0)是裂纹中心的坐标, 为裂纹倾角,a0则是裂纹半长.优化计算时,外边界划分为40个单元,裂纹线取7个积分插值点,测量点取为矩形上方10个单元的中点.表1和图3给出了识别过程及结果.表1 无量纲目标函数值n123456R(n)9 3 10-46 7 10-45 8 10-45 0 10-43 9 10-42 7 10-4n7891011R(n)1 6 10-45 6 10-51 7 10-58 9 10-66 4 10-6图3 静态BEM优化迭代法识别裂纹由该算例结果可以看出,在测量点充分的前提下,这种方法收敛速度快,识别效果良好,加之测量易于实现,因此有一定实用意义.作者经验,为进一步提高识别效果可结合以下方法:(1)合理配置测量点,使其位于位移梯度变化最大处;(2)尽可能增加测量点的数目;(3)以若干不同载荷下的测量结果作为补充信息.3654 基于动力学的缺陷识别方法动态缺陷识别的基础是动力学的各种理论,因此在难度上明显高于静态反问题,但是以超声和射线探伤为代表的检测技术的蓬勃发展和广泛应用表明,动态探伤技术是未来的主要发展方向,因此动态缺陷识别方法成为研究热点[18,19].理论上动力学反问题的发展经历3个逐步深入的阶段:(1)射线理论;(2)声波理论;(3)弹性波理论.本节首先简要讨论弹性动力学反问题的几种理论方法,然后介绍作者的有关工作.4 1 射线理论高频情况下,障碍物对弹性波的散射,可由弹性动力学射线理论进行分析,这种分析与几何光学原理类似.对于稳态弹性波,射线理论提供了一种沿射线路径追踪扰动波幅值的方法,它将波动方程中的势函数取为级数形式,该级数具有未知的振幅和相位函数,在高频下得到相位函数满足程函方程(eikonal equation),而振幅函数满足输运方程(transport equation).在具体应用时,射线法必须以某些规范的精确解为前提(例如半无限长裂纹对弹性波散射的Kirch hoff解).基于标量波的几何散射理论是Keller[20]于1958年提出的,Resende[21]则在1963年首次将射线理论推广用于光滑障碍物和裂纹的散射问题,弹性体的射线理论的发展中,Achen bach和Gautesen等[22~27]做了重要的工作,根据他们的分析,当入射波于裂纹尖端相互作用时,散射出两个沿锥形面前进的散射波,其中一个是纵波,另一个则是横波,在此基础上他们详细研究了半无限长裂纹对各种入射波的散射情况,并由此提出了按射线追踪原理确定裂纹长度的方法.射线法作为探伤方法的主要理论依据曾发挥重大作用,但是目前射线法对测量信息的利用率还很低,大量测量识别只是利用了波动走时差的原理,这对于缺陷定位十分有效,而对缺陷形状的识别则困难很大,如何进一步提高识别精度,成为关注的焦点,有关的工作也不少[28,29],不过从效果看问题的困难极大、进展缓慢.4 2 T矩阵法声波散射的一般理论是以Huygen原理为依据的,散射体外部的散射场与其表面的Helmhotz积分有关.1970年Waterm an首先提出了声波[30]和电磁波[31]散射的转换矩阵法,即T矩阵法.具体作法是,从Helmhotz积分公式出发,将入射波和反射波通过基函数展开, Waterman[32]证明了散射波的未知系数矩阵可通过转换矩阵与入射波的系数矩阵联系在一起.以后Pao[33]根据Betti第三互等定律,导出了含任意夹杂散射波的T矩阵.从反问题的角度看,通过测出的散射波可得到T矩阵,由此反过来便可确定散射体的几何参数.不过使用T 矩阵法仍面临许多困难,例如:计算量极其庞大;对于裂纹型缺陷还需作特别处理等困难.有关T矩阵法的详细发展状况可参考Pao的综述论文[34].4 3 Born近似法对于光滑夹杂物的散射问题,Mal和Knopoff[35]首先导出了直接体积分公式,散射位移场被表示为散射体上关于位移和应变函数的体积分.受量子力学中Born摄动法的启示,1969年Wolf[36]提出了在弱散射途径下的波动方程反演问题,Gubernatis等则给出了弱散射条件下三维散射问题的远场Born近似解[37~39].Born近似法源于Born迭代级数方法(Born Series),而BornSeries的具体作法是首先将入射波对应位移代替体积分中真实位移,得到的近似解答再作反复迭代,直到结果收敛为止,Born近似法则只取初次迭代的对应结果,由于这种方法的过程简单,在弱散射的条件下精度良好,因此在反问题中得到了一定的发展[40,41].马兴瑞和黄文虎等使用逆Born近似法,在缺陷识别问题上也开展了研究[42~44],他们的结果表明Born近366似法在强散射条件下仍具有良好精度.4 4 边界积分方程及边界元法边界积分方程(BIEM)及边界元法(BEM)是70年代兴起的,并在最近20年中迅速发展的一门数值和理论学科.积分方程法是从弹性动力学互等原理入手,将问题转换为积分方程的求解.以积分方程作为正问题的解法基础,再通过迭代修正技术求解反问题的间接法,被认为很有前途,此方法在缺陷识别问题中已有一些工作,代表性的有Nishimura [45,46]、Kress [47,48]、Tanaka [49,50]、Chen [51,52]等,其中Nishimura 从声波Helmhotz 方程出发,研究了直线裂纹的识别问题;Kress 则由声波方程出发研究了散射体的重建问题.一般情况下弹性体内纵波和横波同时传播,因此T anaka 和Chen 等完全由弹性动力学出发研究了不同的反问题.其中,Tanaka [49,50]在稳态弹性波作用的前提下,结合使用优化迭代方法,讨论了孔洞和裂纹的识别问题.Chen [51,52]在研究弹性介质模量的识别问题中,提出了脉冲频谱法,具体求解在Laplace 频域上进行.由于瞬态弹性波包含极为丰富的信息,因此,以瞬态弹性力学理论为基础的研究更有潜力.本文作者从弹性动力学一般理论出发,以动态边界积分方程理论为基础,借鉴脉冲频谱法的思想,在Laplace 变换域上建立了一种裂纹及夹杂识别的迭代优化方法[53],其中,正问题的求解使用了作者提出的新型边界积分方程.为了克服反问题解答所固有的不适定性,我们还提出了高敏感区频谱选择法,结果证明该方法取得了较好的效果,有利于提高识别精度.以下简要给出此方法的过程.4 4 1 正问题的边界积分方程解法使用优化方法对未知裂纹或缺陷参数作反演的成功与否,关键之一取决于准确快速的正演算法.这里动态裂纹问题的求解,使用了作者提出的混合型边界积分方程算法[54,55].含夹杂的动态问题的求解,则使用了边界积分方程子域法.对如图2(a)所示的平面裂纹问题,如果部分外边界上作用有动载荷,则该问题可归结为求解如下Laplace 变换域上的混合型边界积分方程12 u k(y,p )= S [ t i ( ,p ) U ik ( -y,p )- u i ( ,p ) T i k ( ,y ,p )]d S( )- b a b1 T +ik ( *,y,p )d *展状 u i ,1( 1,p )d 1,k =1,2,y S[ t i ( ,p ) T +i k ( ,y 1,p )+ K i k ( ,y 1,p ) u i ( ,p )]d S( )+Ab a u k ,1( 1,p ) 1-y 1d 1+ ba M k ( 1,y 1,p ) u k,1( 1,p )d 1= q k (y 1,p ),k =1,2,y 1 (a,b)(10)其中 U ik , T ik 为基本解, T +ik = T |n(0,-1), t i 和 u i 分别是S 上的牵引力和位移, u i ,k 是沿裂纹位密度函数, q k = k 2|crack 是作用在裂纹上的载荷,常数A = /2(1- ), K ik 和 M k 为已知的可积性积分核.与文献中常见的普通型积分方程不同的是裂纹线上的边界积分方程是应力型的,它是以裂纹位错密度为未知量的典型Cauchy 奇异积分方程.可结合使用边界元算法及奇异积分的Gauss-Chebyshev 求积公式,离散为一组线性方程进行求解,详细过程可见文[54].有关计算结果表明,本方法计算量小且精度高,十分适用于反问题的迭代求解.对于图2(b)所示的平面夹杂问题,假定两种介质界面上动态位移和应力满足连续性条 367件,分别在区域 和 1建立方程,可导出如下一组常规边界积分方程12u k(y,p)= S+ [ t i( ,p) U ik( ,y,p)- u i( ,p) T ik( ,y,p)d S( ),k=1,2,y S+12u k(y,p)=- [ t i( ,p) U*ik( ,y,p)- u i( ,p) T*i k( ,y,p)]d S( ),k=1,2,y (11)其中 U*k, T*ik为区域 1对应的基本解,积分是关于弧长的,边界 的法向统一取为内法向,另外方程的推导使用了界面连续性条件.上述方程可由常规的边界单元算法,离散成以边界S + 上的位移或力为未知量的线性方程组求解.4 4 2反问题的迭代优化方法对于裂纹或缺陷识别反问题,直接由积分方程(10)或(11)求解,很明显是几乎不可能的,因此这里仍然结合使用正问题算法和迭代优化方法.具体作法上与上面3 2节中的类似,过程不再罗列.应该指出的是,由于动态载荷的频率分布在极宽的范围内,这就意味着,在任意测量点得到的信息都将十分丰富,因此,与静态识别法不同的是,可选取若干不同频率值对应的测量结果以增加信息量.如果测量的是位移响应,则无量纲目标函数可选为R= Pl=1Nk=12i=1[ u i(x k,p l)- u*i(x k,p l)]2Pl=1Nk=12i=1[ u*i(x k,p l)]2(12)其中P是选定的频率点数目,p l则是选定的频率值,N为测量点的数目, u*i是经测量得到的真实位移, u i则是由计算得到的近似位移.4 4 3高敏感区频谱选择法与算例由上述方法不难看出,识别精度与测量点和频率选择有直接关系.测量点的数目及位置受检测设备的限制,这里不作讨论;而就频率值p l的选择而言,虽然其数目越大,信息量越丰富,但由此耗费的计算机时将大幅度增加,此外,如果选择方法不合理,仍然难以收到良好的识别效果.显然如何合理利用已知的响应频谱,从中选出较少的频率值p l,同时又能实现良好的识别效果,是方法成功的另一个关键,对此作者提出了高敏感区频谱选择法,该方法的基本思想是,在实频域中找出最敏感的响应区,集中在此区域上选取若干频率值p l和对应的响应u*i(x k,p l)作为识别信息.这种作法的优点是:(1)合理有效地利用了测量信息,大大减小每次迭代的运算量;(2)计算只在实空间中进行,避免了复运算;(3)有利于消除解答的不适定性,并提高识别精度.算例1 假定一尺寸为2 0m 1 0m的矩形结构中心含有一长0 1m的未知直线裂纹,待定裂纹可由4个独立参数确定,因此 =(x0,y0, ,a0),其中(x0,y0)是裂纹中心的坐标, 为裂纹倾角,a0则是裂纹半长.外边界划分为40个单元,裂纹线取7个积分插值点,测量点取为矩形上方第7和14两个单元的中点.频率点取为p k=kc2/2,k=1,2,3,4,5,识别结果由表2和图4,图5给出.算例2 假定一尺寸为2 0m 1 0m的矩形结构中心含有一半径为0 1m的未知圆形夹杂,368表2 无量纲目标函数值n a0(n) (n)x0(n)y0(n)R(n)(%)00 2 0 0 0 5 0 3 5 06840 1081-0 06880 94250 32850 121780 1059-0 04000 96930 36730 0614120 1045-0 03390 97450 41450 0261160 1027-0 02380 97910 46980 0084F inal0 1008-0 02070 98290 48320 0042Real0 10 01 00 5 /图4图5 图6夹杂的有关材料参数为 1=1 0 1010Pa, 1=0 33, 1=1000kg/m3,待定夹杂可由3个独立参数确定,因此 =(x0,y0,a0),其中(x0,y0)是夹杂中心的坐标,a0则是夹杂半径.识别结果由图6和表3给出.5 实验方法简介由于反问题的研究有强烈的应用背景,因此实验研究的重要性是不言而喻的.从某种意义上讲,验证一类理论方法的成功与否,必须有相应的实验作基础,甚至还需要在工程应用中加以检验.此外,从理论上讲,反问题的内在特性至今还不十分清楚,由纯理论和数值的方法显然无法解决这些难点,只有通过反复实验观察和分析,才有可能认识反问题的内在机理.实验369方法的研究与探伤技术的发展是同步进行的,对众多的探伤技术本文不作逐一介绍,而重点介绍声波和超声波实验.传统实验技术一直沿用至今的射线和超声波检测等方法原理十分简单,它以光学射线法为基础,结合走时差原理,分析由材料得到缺陷体反射波,从而确定缺陷及其大致几何构形,有关详细情况可参考Thompson的综述论文[56].表3 无量纲目标函数值y(n)0Z(n)(%)n a(n)0x(n)00 150 80 611576750 06940 84030 4986132100 07720 88720 465355150 07990 94400 465429200 09870 96440 471918250 09080 98380 48496 51300 10000 99280 49331 26Final0 09660 99610 49630 98Real0 11 00 5/70年代初,Hounsfield[57]研制出X-射线CT装置,它是基于对射线能量的吸收借助古典Radon变换实现反演.由于CT技术在医学诊断中的成功,80年代固体介质CT层析成像技术的研究受到了高度重视[58],该技术以射线理论的旅行时间延迟借助古典Radon变换实现反演.近十年来,又发展了以波动方程为基础的层析成像方法,其中投影重建图形CT的一系列具体技术得到了发展,如:在反射型CT应用上,Norton[59]导出了圆形积分路径的广义Radon变换.在地质方面,Wong[60]通过CT技术实现了孔间成像;Neson等[61]用旅行时间层析成像研究了地震方位确定问题;其它工作还有Morse[62]、Vidale[63]、Qin[64]、Lan[65]等,他们在最短路径追踪、有限差分射线追踪等方面取得了一些进展.在缺陷检测领域,70年代以来也产生了许多新技术,例如:利用首波延时作反投影的孔径聚焦技术[66];振幅-传播时间动态曲线搜索法[67];声全息成像技术[68]等.以弹性动力学和逆Born近似法为基础,Achenbach首先尝试了裂纹的声波衍射实验[69],他对金属中的钱币形裂纹的方位、大小进行了反演实验,取得较好识别结果.最近,马兴瑞等又在Born近似法的基础上,提出了投影密度补偿反演法[70],它们的模拟实验表明该方法可能有助于裂纹型缺陷的识别.6 需深入研究的若干问题缺陷识别反问题包含极其丰富的内容,它在地质勘探、无损探伤等众多领域有明显的实用价值.但从发展现状看,其研究尚处于起步阶段,理论上远未成熟,加上各类方法的适用面很窄,因此,将在相当长的时间里吸引大批研究者的关注,根据学术界的一般看法,值得注意的主要问题有:(1)深入进行正问题的研究 由于反问题的解决必须以正问题的理论为基础,而工程中的实际介质通常是各向异性、非均匀,甚至是非弹性的(例如,流变体),如何建立更为合理的模型,并提出准确和方便的正问题解法,是进一步求解反问题成功的前提和关键.370。
一种改性正极材料及其制备方法[发明专利]
专利名称:一种改性正极材料及其制备方法专利类型:发明专利
发明人:陈春华,杨雪琴,唐仲丰
申请号:CN201610097353.7
申请日:20160222
公开号:CN105762339A
公开日:
20160713
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明提供了一种改性正极材料及其制备方法,包括正极材料;所述正极材料的表面包覆有两层或两层以上金属氧化物层;所述金属氧化物层由金属氧化物形成;所述金属氧化物为金属锂氧化物、金属铝氧化物、金属镧氧化物、金属锆氧化物与金属钛氧化物中的一种或多种。
与现有技术相比,本发明在正极材料的表面形成多层金属氧化保护层,可有效降低电解液与正极材料的反应,减缓金属粒子在电解液中的溶解,并且提供三维的锂离子扩散通道,从而提高了改性正极材料的电化学性能,表现出优异的循环性能和倍率性能。
申请人:中国科学技术大学
地址:230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
国籍:CN
代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司
代理人:赵青朵
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纯氧化物中的缺陷平衡(陈春华)
平衡缺陷浓度: [V ] = [V ] = ( KS )
' ' M •• O
1/ 2
ΔS ΔH K = exp( ) exp(− ) T RT
⇒ [V ] = [V ] = K
'' M
•• O
1/ 2 S
⎛ ΔSS = exp ⎜ ⎝ 2R
⎞ ⎛ ΔΗ S ⎞ ⎟ exp ⎜ − ⎟ 2 RT ⎠ ⎝ ⎠
a) Schottky defect pairs in MO
× × '' •• × × + OO = VM + VO + (M M + OO ) surface 缺陷反应: M M '' •• or 0 = VM + VO
缺陷反应平衡常数(质量作用定律):
'' •• [VM ][VO ] ' ' •• × × = KS = [ V ][ V ] ([ M ] = [ O M O M O ] ≈ 1) × × [M M ][OO ]
1 缺陷反应: O = V + 2e '+ O2 ( gas) 2
× O •• O
•• 2 [ V ] n ' 1/ 2 •• 2 1/ 2 O p = [VO ] n pO2 缺陷反应平衡常数:KVO = × × 2 O2 [OO ][M M ]
电中性条件: n = 2[V ] 所以, •• ' n = 2[VO ] = 2KV O
222oionvmv??????222121316inserting2inandthen22ovoooovoonvkvnpnvkp????????216?onp222131622323inserting22inandthen2ovoomiioimivoonvkpkmnpmkkp??????????223iomp???oxygenpressureatom110?10logvomin10?2010?30216oovp???223iomp???n216oovp??213iomp???rbrouwerdiagramm并且可以预见随氧分压继续降低间隙金属缺陷将占主导
掺杂氧化物中的缺陷平衡(陈春华)
7.1.8 M1-xO 的高价阳离子掺杂 (donor dopants):
1 × ' O2 ( gas) = OO + VM + h• 2 −1/ 2 ' ' ' KVM = p[VM p V ] pO and [ = M] 2 VM and h• 1/ 2 1/ 4 ' ⇒ p = [VM ] = ( KVM ) pO 2
' • • • ' [VX ] + [Mf M ] = [VM ] ⇒ [VM ] ≈ [Mf M ] = Constant
KS [V ][V ] = Ks ⇒ [V ] = • [Mf M ]
' M • X
• X
Schottky缺陷浓度受掺杂量控制,随掺杂量的增加而降低。
Brouwer diagram
KMi = [M ]n p
2
•• i
1/ 2 O2
⎛ 2KMi ⎞ ⇒ n=⎜ ' ⎟ ⎝ [Mf M ] ⎠
1/ 2 −1/ 4 pO 2
7.1.7 M1-xO 的低价阳离子掺杂 (acceptor dopant):
1 × • '' O2 ( gas) = OO + VM + 2h 2 '' • ¾ 本征区: K = [V '' ] p2 p−1/ 2 and p = 2[V '' ] VM and h VM M O2 M
• i
ห้องสมุดไป่ตู้
Frenkel缺陷浓度随掺杂量增加而降低。
7.1.3 MO2-x 的低价阳离子掺杂 (acceptor dopants)
(例如:YSZ,SDC等): ¾ MO2-x的非化学计量缺陷及平衡常数: 1 × •• •• 1/ 2 ] pO OO = VO + 2e '+ O2 ( gas) ⇒ K = n2 [VO 2 2 ¾ 低价掺杂缺陷反应: 1 ' × •• Mf 2O3 = 2Mf M + 3OO + VO + O2 ( gas) 2 ' 2 •• 1/ 2 ⇒ K = [Mf M ] [VO ] pO 2
典型缺陷反应(陈春华)
第五章典型缺陷反应¾化学整比化合物(本征)缺陷反应¾非化学整比化合物(本征)缺陷反应¾非本征缺陷(掺杂缺陷)反应主要参考书:“Defects and Transport in Crystalline Solids”Truls Norby, University of Oslo, Spring 2004点缺陷的分类:)本证缺陷和非本征缺陷:(intrinsic defects and extrinsic defects)本征缺陷——非外来杂质晶体缺陷,缺陷形成源自晶体(化合物)的本来属性(整比或非整比化合物,组成元素不变)。
非本征缺陷——缺陷源自外来杂质(impurities) 或掺杂(dopants)(组成元素变化)。
)化学计量(整比)和非化学计量(非整比)化合物中的结构缺陷Defects in stoichiometric-and non-stoichiometric compounds¾整比化合物结构缺陷:缺陷形成,不破坏化合物元素组成的“整比性”,不与环境不发生元素交换,缺陷成对出现(Schottky’s, Frenkel’s and Electronic Defects)。
¾非整比化合物结构缺陷:缺陷形成,破坏化合物组成元素的“整比性”⇒非化学计量化合物,与环境发生组成元素物质交换。
整比化合物结构缺陷形成及浓度,仅与物性和温度有关。
而非整比化合物结构缺陷形成及浓度,除与物性和温度有关,还与环境组元活度(分压)有关。
''M i MM M V ו•=+2)Frenkel Defect Reaction:Frenkel 缺陷是阳离子或阴离子进入晶体的次格子间隙位,生成等数量的正常格子空位和间隙离子(原子)缺陷对(Frenkel 缺陷对缺陷对)。
反应过程没有正常格位数的变化。
如果缺陷是双电荷离子化双电荷离子化的,则缺陷反应可写为:上述Frenkel 缺陷反应是生成间隙阳离子和阳离子空位缺陷对,也可以形成间隙阴离子和阴离子空位对,称为anti -Frenkel 缺陷结构(如CaF 2结构中)。
氧化还原反应教学及其反思
氧化还原反应教学及其反思
陈金春
【期刊名称】《数理化解题研究:高中版》
【年(卷),期】2017(000)010
【摘要】有效的高中化学教学,是建立在重视学生知识基础,并做好学生学习过程中的思维点拨的基础之上的.氧化还原反应是高中化学的重点内容,可以从知识基础、学生思维与教师作用三个角度来进行分析,以帮助学生形成一个完整的知识构建过程.
【总页数】2页(P90-91)
【作者】陈金春
【作者单位】江苏省启东中学,江苏南通226200
【正文语种】中文
【中图分类】G632
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草酸诱导不同铁氧化物光化学活性差异性研究进展
草酸诱导不同铁氧化物光化学活性差异性研究进展
陈振华;王清林;徐天缘
【期刊名称】《环境污染与防治》
【年(卷),期】2024(46)2
【摘要】铁氧化物(IOs)和草酸非均相光化学体系作为传统Fenton和非均相Fenton法的进一步拓展,有助于激发矿物的潜在本能,发挥天然自净化的优势,改善日益严重的水体污染问题。
然而自然界中IOs种类繁多且各有差异,导致各IOs-草酸光化学体系降解性能也存在不同。
在总结IOs结构性质的基础上,对比了不同IOs-草酸光化学体系的降解性能,并从草酸吸附、铁溶出、活性氧物种生成3个方面对体系光化学机理差异进一步展开论述,同时对后续研究做出展望,旨在通过调控IOs自身性质,打造出行之有效、性能更强的新模式。
【总页数】7页(P240-246)
【作者】陈振华;王清林;徐天缘
【作者单位】中国矿业大学资源与地球科学学院
【正文语种】中文
【中图分类】TP3
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1/ 3
•• O
(
)
1/ 3
p
−1/ 6 O2
⎞ ⎛ ΔHVO ⎟ exp ⎜ − ⎠ ⎝ 3RT
⎞ −1/ 6 ⎟ pO2 ⎠
为区别于价 电子缺陷补 偿机制的 KVO,这里用 KVO’ 表示。
又问,(定域)价电子缺陷和(离域)电子缺陷区别何在?
A Plot of log n ~ pO2 (or log [VO] ~ pO2 ) ——Brouwer diagramm
4.3.1 氧缺损金属氧化物(MO1-x)
MO1-x的主缺陷:V and e ' 缺陷反应: I)局域电子缺陷电中性补偿:
•• O
1 O + 2M = V + 2M + O2 ( gas) 2
× O × M •• O ' M
II)离域电子缺陷电中性补偿:
1 O = V + 2e '+ O2 ( gas) 2
× O × M •• O ' M
' •• [ M ] = 2[ V 电中性条件: M O ]
⇒ [M ] = 2[V ] = 2KVO
' M
•• O
(
)
1/3
−1/ 6 pO 2
实验研究技术:示踪氧离子自扩散系数、氧离子电导 率、或电子电导率,与环境氧分压的关系;价态分析。
缺陷平衡浓度与温度、环境氧分压的关系:
' ' •• ] = [VO ] 电中性条件:[VM
平衡缺陷浓度: [V ] = [V ] = ( KS )
' ' M •• O
1/ 2
ΔS ΔH K = exp( ) exp(− ) T RT
⇒ [V ] = [V ] = K
'' M
•• O
1/ 2 S
⎛ ΔSS = exp ⎜ ⎝ 2R
⎞ ⎛ ΔΗ S ⎞ ⎟ exp ⎜ − ⎟ 2 RT ⎠ ⎝ ⎠
n = 2K1K2 K3 p
3
× O •• O
−1/ 2 O2
or n = 2[V ] = ( 2K1K2 K3 )
•• O
1/3
p
−1/ 6 O2
1 ' •• O = V + 2e '+ O2 ( gas) ⇒ n = 2[VO ] = 2K0, VO 2
(
)
1/ 3
⎛ ΔHVO exp ⎜ − ⎝ 3RT
'' •• [ V ] = [ M 电中性条件: M i ]
⇒ [V ] = [M ] = K F
'' M
•• i
1/ 2
⎛ ΔSF = exp ⎜ ⎝ 2R
⎞ ⎛ ΔΗ F ⎞ ⎟ exp ⎜ − ⎟ ⎠ ⎝ 2RT ⎠
c) Equilibria of electronic defect reactions
¾ 整比化合物中的离域电子缺陷平衡:
电子缺陷反应: 0 = h• + e '
• K = [ e '][ h ] = np 电子缺陷反应平衡常数: i
电中性条件: n = p
([e '] = n and [h• ] = p)
1/ 2 i
⇒n= p= K
注意:电子缺陷平衡,统计热力学原理不再适用,取 而代之的是能带理论,并电子浓度用体积浓度表示。
[M i• ] K2 = × n [M i ] [M i•• ] K3 = n • [M i ] [M i••• ] K4 = n •• [M i ] n=[M i• ] + 2[M i2• ] + 3[M i3• ]
第六章, 纯氧化物中的缺陷平衡
缺陷、缺陷反应和缺陷反应平衡。下面首先讨论 本征缺陷反应平衡问题,将平衡缺陷浓度与温度、 环境气氛等因素相联系。 ¾ ¾ ¾ ¾ ¾ 缺陷平衡热力学 化学计量氧化物的缺陷平衡 非化学计量氧化物的缺陷平衡 掺杂氧化物的缺陷平衡 缺陷缔合平衡
第一节,(点)缺陷平衡热力学
(Thermodynamics for defect equilibria) “点缺陷系统⇒溶液”
⎞ −1/ 6 ⎟ pO2 ⎠
结论:完全电离的氧空位缺陷主导,自由电子和氧空 −1/ 6 p 位缺陷浓度正比于 O ,与前面的结论相一致。
2
实验研究:电导率与氧分压关系。
−1/ 2 n3 = K1K2 (2K3 + n) pO 2
Case II:n >> 2 K 3 ([VO• ] >> [VO•• ]), and then,
ΔG0 = − RT ln K ⇒ ΔH − T ΔS = − RT ln K
ΔH ΔS ΔS ΔH ⇒ K = exp(− + ) = exp( ) exp(− ) RT T T RT
缺陷浓度 : 缺陷化学习惯用摩尔分数 (site fraction)
表示,而半导体物理习惯用体积浓度(defect number per cm3)。 如果把缺陷缔合和解理平衡视为一种缺陷反应平衡, 在讨论其他缺陷平衡时,可以不考虑缺陷缔合问题。
四种缺陷,四个 独立的关系式。
•• ⎛ ⎞ • [ V • •• O ] (4) 电中性条件: n = [VO ] + 2[VO ] or n = ⎜1 + 2 • ⎟ [VO ] [VO ] ⎠ ⎝ ⎛ 2 K3 ⎞ • 2 • ⇒ = + [ V ] n ( n 2 K )[ V (5) K3代入(4) 得,n = ⎜1 + O] 3 ⎟ O n ⎠ ⎝ 3 n × ] = (6) (5)代入(2)得, [VO ( n + 2 K3 ) K 2
⎛ ΔS ⎞ ⎛ ΔH ⎞ Ki = exp ⎜ ⎟ exp ⎜ − ⎟ R RT ⎝ ⎠ ⎝ ⎠ ΔS = 0 and ΔHi ≈ Eg (ΔHi,离子化能; Eg,带隙宽度) R
⎛ Eg ⎞ ⇒ Ki = exp ⎜ − ⎟ ⎝ RT ⎠
n = p = ( Ki )
1/ 2
⎛ Eg ⎞ = exp ⎜ − ⎟ ⎝ 2RT ⎠
Mi× 分布电离 缺陷平衡:
× × (1) 2M M + 3OO = 2M i× + 3 2 O2 ( gas) 3/ 4 K1' = [M i× ] pO 2
(2) M i× = M i• + e ' (3) M i• = M i•• + e ' (4) M i•• = M i••• + e ' (5)Electroneutrality condition:
ΔG = ΔH − T ΔS (dT = 0, dP = 0, W ' = 0)
μi = μi0 + RT ln ai (or fi )(real solution)
or μi = μi0 + RT ln X i (or pi )(ideal solution)
ΔG = ∑ μi =ΔG0 + RT ln ∏ aivi (real solution)
1 缺陷反应: O = V + 2e '+ O2 ( gas) 2
× O •• O
•• 2 [ V ] n ' 1/ 2 •• 2 1/ 2 O p = [VO ] n pO2 缺陷反应平衡常数:KVO = × × 2 O2 [OO ][M M ]
电中性条件: n = 2[V ] 所以, •• ' n = 2[VO ] = 2KV O
Schottky’s 缺陷浓度仅与温度和材料本性有关。
b) Frenkel defect pairห้องสมุดไป่ตู้ in MO
× '' •• [ M ] = [ V ] + [ M 缺陷反应: M M i ]
缺陷反应平衡常数: '' •• [VM ][M i ] '' •• × KF = [ V ][ M ] = ([M M ] ≈ 1) M i × [M M ]
第二节:整比(纯)金属氧化物的缺陷反应平衡
(Defect equilibria in pure and stoichiometric metal oxides)
整比纯金属氧化物中的缺陷,包括:Sckottky, Frenkel 和 Electronic defects。 下面以MO为例,讨论相关缺陷的平衡。
' • [ M ] = [ M 电中性条件: M M]
所以, [M ] = [M ] = K
' M
• M
1/ 2 i
⎛ ΔΗi ⎞ = exp ⎜ − ⎟ 2 RT ⎝ ⎠
忽略温度对ΔHi 的影响。 如何理解温度对ΔHi 的影响???
4.3 非化学计量金属氧化物中的缺陷平衡
(Defect equilibria in nonstoichiometric metal oxides) 化学计量化合物的本征缺陷浓度仅与温度和 材料有关。但实际涉及更多的是非化学计量(非 整比)化合物的缺陷和缺陷平衡问题,尤其是各 种功能材料。
[M ] = 2[V ] = 2KVO
' M •• O
(
)
1/3
p
−1/ 6 O2
⇒
⎛ ΔSVO [M ] = 2[V ] = 2 exp ⎜ ⎝ 3R
' M •• O 1/3
⎞ ⎛ ΔHVO ⎟ exp ⎜ − ⎠ ⎝ 3RT
⎞ −1/ 6 ⎟ pO2 ⎠
II) 电子缺陷补偿时的MO1-x的缺陷平衡:
一般温度对带隙宽度Eg的影响很小。但如果考虑温度 的影响,则: