MCVD+OVD光纤预制棒制造技术

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may become the rival of those manufactured by other processes such as OVD and VAD in fiber parameters.
Key words:optical fiber preform:optical fiber:MCVD process;OVD process
实心的预制棒。工艺简图如图I所示。
庐答
喷灯 图l MCVD工艺简图
OVID工艺是目前生产光纤预制棒的主要方法之一,相对于MCVD工艺要复杂得多, 而且设备独特,目前只有OVD工艺的发明者康宁公司使用,并且已经实现了工业化和 生产自动化,所生产光纤的各项性能指标非常稳定。OVD工艺中Si02的获得是利用火 焰水解法,即使用一只或多只燃烧器(独特设计)对着一根在车床上旋转的靶棒(石英、 陶瓷或石墨)燃烧,使SiCh、GeCh等蒸汽水解.形成Si02、Oe02等烟灰状颗粒后沉 积在靶棒上,此沉积层为多孔结构.随后第二层、第三层…….各种材料组分及沉积量 由设计者决定;之后,将这种疏松结构的预制棒(soot体)慢慢地放入烧结炉中,通入 干燥的气体在1400"C以上的温度下烧结.同时用氦气避免形成气泡,使疏松体内的气体 能通过预制棒未烧结部分逃逸(见图2)。
3.外包层沉积(OVD)工艺
OVD工艺(包wk.baidu.comVAD工艺)一直是国内光纤预制棒生产厂家追求的工艺方法,也 因为技术壁垒(专利保护)和国外不愿意把先进的制棒技术传入国内,从而制约了我国 光纤特别是预制棒的生产。江苏法尔胜光子有限公司采用MCVD芯棒+OVD沉积外包 层的工艺方法.生产O.652光纤的预制棒。解决的主要技术问题有:①芯棒和外包层界
MCVD+OVD光纤预制棒制造技术
(孙建军卞进良唐凤再查健江严微江苏法尔胜光子有限公司214434)
摘要t本文简要介绍了MCVD工艺和OVD工艺,论述了采用MCVD芯棒、OVD沉积外包层的生
产光纤预制棒的工艺方法(两步法);对生产的预制棒及光纤参数进行了分析讨论.采用两步法生产预
制棒,技术先进,所生产的G.652单模光纤(各项指标)可以和OVD、VAD等工艺生产的光纤相媲
MCVD工艺是在旋转的石英管内通入用氧气载带的高纯SiCl4、GeCl4蒸汽等反应 物,外部使用H2/02喷灯加热,反应后的Si02、Ge02等受热泳机理沉积在石英管的下 游,喷灯在触及下限位后快速返回,触及上限位后开始沉积。周而复始,按工艺设计完
成内包层和芯层的沉积后,降低管内的压力,升高温度和喷灯的压力·把石英管烧缩成
要参数指标进行了比较,见下表所示。
信越预制棒和MCVD芯棒+OVD包层法生产的预制棒所拉光纤性能的对比
项目
模场直径(1310nm)。u m 包层直径.p m 包层不圆度.% 甚,包层同心度误差。la m 包层,涂覆层同心度误差.“- 衰减系数最大值
(1310/1550nm).dB/km
衰减点不连续性.dB 衰减波长特性.dB/km OTDR蛸差.dB/lan 零色散波长范围.nm 零色散斜率最大值.
pPsM/ D系(数am最’大km值) 。ps/侗
抗拉强度
(10m.6 0.5/6 0.15),GPa
宏弯附加损耗(100圈m 75mm),
(13lo,1550am).dB
衰减温度特性
(-60—+85℃).dB/kin
熔接损耗.dB
技术指标(国标) (8.6-9.5)士0.7
125±l ≤2
≤0.8 ≤12.S
new fabrication method of preform with the MCVD fabricated core plus OVD fabricated
cladding(Two-step process),and also analyzes the parameters offinal preform and the optical fiber.The two-step process is so advanced that the single mode fiber produced by the process
有鉴于此,我们开发并掌握了具有自主知识产权的光纤预制棒制造技术。即MCVD 芯棒+OVD包层工艺方法,采用此工艺生产的G.652光纤预制棒,所拉制的光纤各项指 标均符合国家标准。
2.芯棒设计及制造技术
MCvD设备的生产能力一直被业内人士所关注。随着MCVD工艺的不断完善,再 与其它技术取长补短,如:阿尔卡特的MCVD+等离子火焰水解技术、法尔胜的 MCVD+OVD技术等,其生产能力也不断提高,单棒可拉纤长度已超过250公里。预制 棒制造流程如下:


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4.光纤拉制

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、位置
+芯径 图4项制棒及光纤各参数均匀性 .-.ira-外径 一截止波长—,}模场直径
目前,光纤的拉制技术已经非常成熟、稳定。而且为了提高生产效率、降低生产成 本都采用了高速拉丝技术,配备高精度的丝径监控系统和He冷却装置。对于OVD法 沉积的棒而言,外径还是有一定的波动,要精确控制光纤直径在125±1 p m,需要拉丝
b/a值也随着工艺的成熟逐渐变小,MCVD工艺的生产能力也随之提高。 芯棒纵向均匀性的控制:预制棒的锥度是MCVD工艺最难解决的问题.它直接影
响光纤各项参数的稳定(产品的稳定)。我们从以下几个方面进行控制.①喷灯的移动 速度:②原料的进料量(SiCh、GcCl4等);③沉积温度:④管内压力。纵向均匀性需要 检测的参数包括:①芯径(2a):②内包层直径(2b):③内包层折射率:④芯层折射率: b/a值作为一般关注。
soot体
soot体
炉体
预制棒
(a)
(b)
图2 OVD工艺简图 (a)沉积 (b)烧结
67
众所周知,我国的光通信行业发展迅速,光纤的需求量2001年超过了1200万公里。 比2000年增长近50%。根据专家预测,今后10年(2001"-'2010)问,我国光纤光缆需 求的年增长率在20%左右。光纤来源已由过去的主要依赖进口,发展为部分进口预制棒 国内拉丝。核心的预制棒生产技术掌握在康宁、阿尔卡特、日本的藤仓、古河等国外几 家大公司手里;国内只有长飞光纤光缆有限公司具有一定的制棒技术。
1.引言
1974年贝尔首先采用MCVD工艺制造光纤预制棒.之后又诞生了OVD(美国康宁 公司)、VAD(日本NrT等公司)、PCVD等制棒技术,但随着技术的不断进步及生产 的规模化和追求低制造成本等,各种制造技术的优缺点逐渐显现.MCVD工艺具有操作 简便、设备成熟、可以制造复杂的折射率剖面等优点,但也存在着沉积效率低.预制棒 尺寸受石英管尺寸所限,生产成本较高的缺点:OVD、VAD技术沉积效率高,预制棒 的尺寸大,具有较好的成本优势。
炉温度场分布和炉内气流稳定,以保证预制棒锥度的稳定,也使拉制光纤具有较好的光 学性能。这种预制棒具有良好的各向同性,在拉丝时不需要进行偏振模色散(PMD)的 补偿。
5.结果讨论
光纤的各项参数能真实地反映各公司的制棒水平,我们随机抽取相同拉丝塔拉制的
信越棒(VAD法)和MCVD芯棒+OVD包层法生产的棒的光纤(G.652),对它们的主
7I
MCVD+OVD光纤预制棒制造技术
作者: 作者单位:
孙建军, 卞进良, 唐凤再, 查健江, 严微 江苏法尔胜光子有限公司
本文链接:http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_4300383.aspx
荧.
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关键词。光纤预制棒;光纤:设进向化学气相沉积法;管外气相沉积法

、啊’
Fabrication technology for optical fiber preform
with MCV叶oVD process
Abstract:This article inU-oducas the technology of MCVD and OVD simply,presents the
McvD工艺制造芯棒是预制棒的核心技术。我们通过折射率剖面的合理优化和芯棒 纵向均匀性的控制。使预制棒及光纤参数稳定可靠,同时缩短生产周期,提高生产效率, 降低生产成本。
芯棒折射率剖面:包括①芯径(2a):②内包层直径(2b):③芯棒直径;④内包层 折射率;⑤芯层折射率;还有芯不圆度、棒(包层)不圆度、芯,包同心度等。我们采用 Hemeus公司的F.300石英管(基管),其折射率为1.4572:内包层组分为 Si02.P205.F.Ge02,各种掺杂剂有利于沉积状态的稳定和调整折射率,与基管保持一致。 芯层组分为Si02.Ge02,外层与内层设计了合适的折射率梯度,为了保证芯部折射率的 完整.缩棒时用Ge02补芯。另外,设计合适的b/a值,对光纤的参数非常重要,同时,
图3为芯棒各参数的纵向均匀性,通过调整各个系数,使芯棒的纵向均匀性得到极 大的改善,芯径波动在l%以内,内包层直径为2%.芯/包折射率差(△n)在0.0049~ O.0051之间,芯棒的有效长度达到950ram左右。因此,光纤的参数如:截止波长、模 场直径(1310nm、1550nm)损耗(1310nm、1550nm)、色散系数等均匀、可靠。
0.OI,o.06
0.01 ≤0.03
信越(VAD) (平均值) 9.2土O.2
125±0.20 0 J5 0.19 2 83 ≤
0.33/0.193 ≤0.03 ≤0.05 ≤0.04
1306.1316
0 086
0.08
≥4 5l,4 37
0 0I/006
0 0I
≤0 03
图4是整根棒上光纤的模场直径(MFD)(1310nm)和截止波长的分布,其偏差值 在2%以内.由表中的数据比较可见.MCVD芯棒+OVD沉积外包层方法生产的光纤预 制棒可以拉制出符合国标和市场要求的光纤,其各项性能指标与采用VAD、OVD等方 法的相当,并且解决了光纤各参数的均匀性等关键问题;我们认为此生产方法优于 MCVD+套管法,是目前国内可以得到的比较先进的工艺方法。
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图3修正后芯棒各参数纵向均匀性
+芯棒外径 +内包层直径
芯层直径 —÷一芯层折射率

注;50ram位置不在有效范围内.
面的气泡和杂质:②预制棒表面的波纹:@预制棒的锥度等。
OVD沉积的是未玻璃化的si02颗粒(soot体),芯棒和soot体是截然不同的两个 状态,通过烧结使soot体完全玻璃化,在芯棒和OVD外包层的界面上不产生柱状模糊 层和气泡杂质等,这些缺陷会造成光纤拉制时丝径的异常波动。以及使光纤存在大量的 低强度点等。解决方法有:①沉积之前芯棒的清洁;②oVD沉积的温度、SiCl4流量、 芯棒移动速度,特别是沉积最初的几层非常关键;③烧结工艺,烧结的温度、速度、He 的流量等。Soot体是有单个或多个喷灯将水解的Si02颗粒沉积在旋转且移动的芯棒上, 通过周而复始的过程.由沉积重量决定是否终止沉积。这种沉积方法肯定会形成螺纹状 的表面,如果不加弥补,表面波纹越来.越大采用起始点位移式沉积方法可以改善,另 外,喷灯的位置、结构、及安装的角度也直接影响soot体表面.预制棒的锥度包括有效 长度上直径的变化率和OVD沉积形成的棒两端不均匀段的大小。图4为我们研制的预 制棒及光纤的各种参数的均匀性。从图中可以看到,预制棒的几何尺寸非常均匀,芯径、 外径纵向的波动在2%以内,从而保证了整根棒拉制成光纤后其光纤的几何参数和光学 参数的均匀稳定。
03∞22
0.1 0.05

1300·1324 0093
0.3
3.45/2.76
无,0.S
0.05
0.08
MCVD+OVD(平均值)
92±0.2 125±0.23
0。11 0.19 1.82
≤0.33/o.193 ≤O.03 ≤O.05 ≤0.04
1302.1315 0.087
0.07
≥4.51/4.37
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