X射线衍射物相分析

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材料分析基础实验报告之X射线衍射(XRD)物相分析【范本模板】

材料分析基础实验报告之X射线衍射(XRD)物相分析【范本模板】

实验一 X射线衍射仪的结构与测试方法一、实验目的1、掌握X射线衍射的基本原理;2、了解X射线衍射仪的基本结构和操作步骤;3、掌握X射线衍射分析的样品制备方法;4、了解X射线的辐射及其防护方法二、实验原理根据晶体对X射线的衍射特征-衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法,就是X射线物相分析法。

每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。

没有任何两种物质,它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。

当X射线波长与晶体面间距值大致相当时就可以产生衍射。

因此,当X射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I/I1来表征。

其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I1是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。

三、实验设备丹东方圆仪器有限公司的D2700型X射线粉末衍射仪一台;玛瑙研体一个;化学药品或实际样品若干(Li4Ti5O12)。

四、实验内容1、采用玛瑙研体研磨样品,在玻璃样品架上制备一个合格试验样品;2、选择合适的试验参数,获得XRD图谱一张;3、理解样品、测试参数与XRD图谱特征的关系。

五、实验步骤1、开机1)打开总电源2)启动计算机3)将冷却水循环装置的机箱上的开关拨至运行位置,确认冷却水系统运行,水温正常(19—22℃);4)按下衍射仪ON绿色按键打开衍射仪主机开关5)启动高压部分(a)必须逐渐提升高压,稳定后再提高电流。

电压不超过40kV,管电流上限是40mA,一般为30mA。

(b)当超过4天未使用X光管时,必须进行光管的预热。

在25kV高压,预热10分钟;30kV,预热5分钟;35kV,预热5分钟。

(c)预热结束关机后,至少间隔30分钟以上方可再次开机实验。

6)将制备好的样品放入衍射仪样品台上;7)关好衍射仪门.2、样品测试1)在电脑上启动操作程序2)进入程序界面后,鼠标左键点击“测量”菜单,再点击“样品测量”命令,进入样品测量命令3)等待仪器自检完成后,设定好右边的控制参数;4)鼠标左键点击“开始测量”,保存输出文件;5)此时仪器立即开始采集数据,并在控制界面显示;(a)工作电压与电流:一般设为40kV,40mA;(b)扫描范围:起始角度>5°,终止角度<80°;(c)步进角度:推荐0.02°,一般在0.02—0。

第一篇5-物相分析

第一篇5-物相分析
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材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
College of MSE, CQU
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材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
芬克索引
芬克索引也是按d值的大小分组和排序,也是每行列出一种 物相的八根最强线的d值、卡片号和微缩胶片号。与哈氏索 引不同的是,它不是只按3强线的d值来分组和排序,而是按 8根强线的d值来分组和排序。这8根强线的d值均会排在首位 一次,每一物相可在索引中出现8次。在同一行中,它不是 按衍射线的强度大小排列,而是按d值递减的顺序排列。
X射线衍射物相分析
哈氏索引

I8

八强线按强度排d1,d2,…,d8,对应I1>I2>…>
用最强三条线进行组合排列,每种物相在索引中 出现3次。
d1d2d3d4-d8

d2d3d1d4-d8 d3d1d2d4-d8
哈氏索引按上述组合中的第一个d值分为若干组,
按d值范围从大到小依次排列,d值的数值范围写在 每一组的开头。
验者的经验有关。计算机自动检索可大大提高工作
效率,并且可以排除某些不必要的人为因素。

计算机自动检索的主要由建立数据库文件库和检
索匹配两部分组成。

MDI Jade软件目前在物相分析中得到广泛应用。
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材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
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College of MSE, CQU 12
材料现代测试方法
X射线衍射物相分析

(4) 晶体学数据
Sys.—晶系; S.G—空间群; a0、b0、c0,α、β、γ— 晶胞参数;

X射线衍射物相分析

X射线衍射物相分析

X射线衍射物相分析物相分析并不是一般的成份分析,一般的化学成份分析是分析组成物质的元素种类及其含量,并不涉及元素间的化学结合状态及聚集态结构,只有元素单独存在时该元素才是一个单独的物相。

物相分析是进行元素间的化学结合状态和聚集态结构的分析。

那些化学组成相同但晶型不同的物质,虽然其元素组成相同,属同种化合物,但其聚集态结构不同,属不同的物相。

已知,识别一个物质不但要知其元素组成,而且要知各元素间的化学结合状态和聚集态结构。

如只含Si和0二种元素的Si02,它有石英、方英石、鱗石英、白硅石和无定形硅胶等许多结构形态,分别属于不同物相。

而不同形态的Si02在性质上是差别很大的。

再如ZnO和Cr2O3在高温下焙烧可生成化学上稳定的尖晶石结构的ZnCr204。

但在多少温度下转化开始发生?转化程度如何?对此问题化学成份分析是很难解决的,因为在反应中化学成份并无改变。

对矿物、陶土、固熔体合金、新兴材料、多相催化剂以及混合物的分析更是如此,只知元素组成而不知物相结构是远远不够的。

X射线衍射物相分析在矿物分析中可确定物相组成以提供开发利用的方案;在冶金工业中可确定各元素的结合状态,了解热处理过程及性能的变化关系;在化学工业中可控制产品质量,确定合理的工艺流程;在材料科学中可确定材料的结构及性能,为新兴材料的开发指明方向;在理论研究中可帮助确定中间历程,研究催化反应及机理,指导新产品的合成等等。

因此,X射线衍射物相分析在许多部门和领域有着广泛的应用。

物相分析主要包括物相的定性识别,定量分析以及结构类型及晶格参数的测定。

本文主要介绍物相定性、定量分析,结构类型及晶格参数将在下一章介绍。

定性物相分析——物质的识别及鉴定定性物相分析的主要依据是衍射谱图的峰位及相对强度。

每种结晶物质都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞大小、单胞中的原子数及原子(离子或分子)的种类和位置等。

这些参数的差别必反映出衍射谱图的差别,即每种物质都有其特定的峰位及相对强度,就象人的指纹一样,可作为鉴别的依据。

X射线衍射的定量物相分析

X射线衍射的定量物相分析

摘要X射线在晶体中的衍射,实质上是大量原子散射波互相干涉的结果。

每种晶体所产生的衍射花样都是其内部原子分布规律的反映。

研究X射线衍射,可归结为衍射方向和衍射强度两方面问题。

衍射方向由晶胞大小、晶胞类型和位向等因素决定,衍射强度主要与原子类型及其在晶胞中位置有关。

本文简单介绍了X射线衍射物相定量分析的基本原理以及几种典型的分析方法,即直接对比法、内标法和外标法。

0、引言X射线衍射物相定量分析已被广泛应用于材料科学与工程的研究中。

X射线衍射物相定量分析有内标法、外标法、绝热法、增量法、无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等常规分析方法。

内标法、绝热法和增量法都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有物相较多,谱线较复杂,再加入参考标相会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。

无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等分析方法,虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。

外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测物质制作工作曲线,这在实际应用中也是极为不便的。

1、X射线定量物相分析的基本原理物相分析与化学分析方法不同,化学分析仅仅是获得物质中的元素组分,物相分析则是得到这些元素所构成的物相,而且物相分析还是区分相同物质同素异构体的有效方法。

X射线定量物相分析,是在已知物相类别的情况下,通过测量这些物相的积分衍射强度,来测算它们的各自含量。

多相材料中某相的含量越多,则它的衍射强度就越高。

但由于衍射强度还受其它因素的影响,在利用衍射强度计算物相含量时必须进行适当修正。

定量分析的依据,是物质中各相的衍射强度。

设试样是由n 个相组成的混合物,则其中第j 相的衍射相对强度可表示为式中(2μl )-1对称衍射即入射角等于反射角时的吸收因子,μl 试样平均线吸收系数,V 试样被照射体积,V c 晶胞体积,P 多重因子,|F|2结构因子,L p 角因子,e-2M 温度因子。

关于XRD物相定量分析

关于XRD物相定量分析

关于XRD物相定量分析X射线衍射(XRD)是一种常用的分析技术,用于确定材料的物相组成,结构和晶体学信息。

XRD物相定量分析是通过测量样品对入射X射线的散射模式来分析样品中各组分的含量。

本文将详细介绍XRD物相定量分析的原理、方法和应用。

原理:XRD物相定量分析的原理基于布拉格方程:nλ = 2d sinθ,其中n 为整数,λ为入射X射线的波长,d为晶面间距,θ为散射角。

当X射线照射到晶体上时,会与晶体内的晶面相互作用,并产生散射。

不同晶面的晶面间距会导致不同散射角和散射强度的出现。

通过测量样品的散射模式,可以确定样品中的物相组成。

方法:XRD物相定量分析的方法主要有两种:定性分析和定量分析。

1.定性分析:通过比对实验测得的散射模式与已知标准样本的散射模式,可以确定样品中的物相种类。

这种方法常用于未知样品的初步分析和相的鉴定。

2.定量分析:通过测量散射峰的强度和位置,可以确定样品中各组分的含量。

定量分析需要建立标准曲线或参考曲线,以确定散射峰的位置和强度与物相含量之间的关系。

常用的定量分析方法有内标法、峰面积法和相对比例法等。

常用仪器:进行XRD物相定量分析需要使用X射线衍射仪。

X射线衍射仪由X射线源、样品台、衍射角度测量器和X射线探测器组成。

X射线源通常使用钴、铜或铬等发射入射X射线的金属。

应用:XRD物相定量分析在材料科学、地质学、矿物学、纺织业等领域具有广泛的应用。

1.材料科学:XRD物相定量分析可以用于研究材料的结构性质,例如晶胞参数、晶体结构和晶格畸变等。

它可以用于分析晶体中的杂质、晶形和晶轴取向等信息,并对材料的性能和性质进行评估和改善。

2.地质学和矿物学:XRD物相定量分析可用于矿石和岩石中矿物的鉴定和定量分析。

它可以确定矿物的种类、含量和分布情况,进而研究地质历史和矿床形成机制。

3.纺织业:XRD物相定量分析在纺织品中的应用主要用于分析纤维结构和纤维取向。

它可以评估纤维材料的质量和性能,并优化纺织工艺。

X射线衍射应用-物相分析

X射线衍射应用-物相分析

复合样中各峰的强度,IM(120)=922, IC(101)=6660, 计算公式:
I Q (10 ) 8604
11
WM
M KA (
I M (120 )
M KA
I M (120 ) 922 17.3% I Q (1011) I C (101) 922 8604 6660 2 . 47 ) Q C 2.47 8.08 9.16 KA KA
WM (%)
IM
IM (%) IT I C
(7)
通常通过配制一系列不同比例的混合试样制作标定曲 线(强度比与含量的关系曲线),应用时根据强度比按此 曲线即可查出含量。此法也适用于吸收系数不同的两项混 合物的定量分析。
(2)被检测向与基体吸收系数不同: 1、内标法:
待测样为n(≥2)相的混合物,各项的质量吸收系数不 相等时,采用内标法作定量分析。
2)、粒径大的粉末(几十μm以上)衍射强度重现性差,强度的变化可达百 分之几十。 3)、试样中固溶体其它物质或试样加热膨胀时衍射线移向低角位臵(高角位 臵衍射线偏移量较大)。 4)测角仪偏心时,衍射线产生偏移(低角偏差大) 5)测角仪扫描速度快,计数率仪的时间常数大时因仪器反应滞后,衍射线向 扫描方向移动。 6)测角仪零位位移,导致全谱位移。
采用Hanawalt法定性相分析的要点:
采用Hanawalt 法作定性相分析时,由于试样制备方法、测定条件以及JCPDS 卡的数据本身的可靠性问题,使得JCPDS卡的数据与试样衍射线的d值或 I/I1值有些差别。
1)、粘土矿物或石墨粉末等易产生择优取向的试样以及具有择优位向的金属 箔,其衍射强度会发生变化,甚至出现倒臵的情况。
第五章、X射线衍射分析应用

仪器分析实验 X射线衍射物相分析

仪器分析实验 X射线衍射物相分析

X射线衍射物相分析开课实验室:环境资源楼105【实验目的】(1)了解Philips射线衍射仪的基本结构和工作原理;(2)基本掌握样品测试过程;(3)掌握利用衍射图进行物相分析的方法。

【基本原理】•原理概述:晶体晶面间距约为10-10m量级,与X射线波长范围(0.1-10埃)相符合,因此X射线在遇到晶体时,可能发生衍射现象,从而推测出其结构信息;•X射线与特征(或标识)X射线:X射线是一种波长很短的电磁波,穿透能力强;在用电子束轰击金属靶,如铜,产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线。

对铜靶来说,其中包含Kα1、Kα2及Kβ三种特征X射线;•X射线衍射:将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。

但并不是所有情况下X射线都发生衍射,其必须满足的条件是布拉格方程:2d sin θ=nλ即当λ确定且n=1(一次衍射)时,则只有当θ角满足:θ=arcsin!!!"时才可发生衍射。

故根据布拉格方程,通过合理地转动样品、X光管和接收器,调整θ角,扫描一张谱图,则可以得到这一晶体样品的结构信息;•晶体X射线衍射图谱:由于每种晶体其X光衍射都有一组特定的d值,粉末线的分布是一定的;每种晶体内原子排列也是一定的,因此衍射线的相对强度也是一定的,每一个晶体都有一套特征的粉末衍射数据d-I 值,并可把它作为定性鉴定物质和物相的依据。

对晶体微观结构精细的形象变换,每种晶体结构与其X射线衍射图之间有着一一对应的关系,任何一种晶态物质都有自己独特的X射线衍射图,而且不会因为与其它物质混合在一起而发生变化,是X射线衍射法进行物相分析的依据。

规模最庞大的多晶衍射数据库是由JCPDS编篡的《粉末衍射卡片集》(PDF)。

•粉末衍射卡片索引:包括:粉末衍射卡片哈氏索引(Hanawalt),芬克索引(Fink Index)和戴维字母索引(Alphabetical Index);1、哈氏数值索引:每一种的数据在索引中占一横行,依次有:八条强谱线晶面间距数值,化学式卡片顺序号,查阅时把晶体面间距按衍射峰强弱排列成d1,d2,d3----,找到d1再找d2值,一直顺序找到第八值,从而可查的对应八强线的卡片顺序号,但也可用前三强的d值,按下列排列方式查找:d1d2d3,d2d3d1, d3d1d2,在哈氏数值索引中出现三次;2、芬克索引:也属于数值索引,不过它是以每种物质的八条强线晶面间距d作为该物质特征,芬克索引的编制是按各种物质八条强线中第一个d值的递减次序划分成组。

实验一X射线衍射物相分析

实验一X射线衍射物相分析

《现代材料微观分析方法》
实验一:X射线衍射物相分析
一、实验目的:
1. 熟悉PDF卡片和三种索引。

2.根据衍射图谱或数据,学会单物相鉴定的方法。

二、实验原理:
物相分析的原理:X射线衍射及其衍射花样
三、实验步骤:
七步法进行单物相分析
四、实验结果与分析
根据衍射图谱,进行相应的计算,得到相关的数据,然后进行标定,得到最终的标定结果(物相、卡片号、干涉面指数)。

五、实验小结
总结实验中的一些注意事项和心得体会。

X射线源为CuKα: 波长λ=0.15406 nm
α
α
α
α
α
X射线源为CuKα: 波长λ=0.15406 nm
X射线源为CuKα: 波长λ=0.15406 nm。

x射线衍射物相定量分析

x射线衍射物相定量分析

x射线衍射物相定量分析X射线衍射物相定量分析(XRD)是一种利用X射线技术定量分析有机物质的分析方法。

它可以准确测量有机物质中不同元素的含量,以及有机物质的物相变化。

在定量分析后,可以得出分析结果,同时也可以依据定量结果,估算出物质中各种物相的质量分数比例。

X射线衍射物相定量分析是基于X射线衍射原理进行的分析法。

当X射线照射到样品上时,样品由于具有不同的密度、厚度和晶体结构,而会产生出不同的衍射现象。

而在相同的X射线源、同一距离处,不同物相的衍射特征是不同的,它们可以被量析出来。

此外,由于各物相的晶体结构也不同,因此,其衍射带特征也不同,如果能够对晶体结构进行分析,则可以更准确地分析 X线衍射物相定量分析的结果。

X射线衍射物相定量分析技术已经广泛应用于多个领域,如生物分析、化学分析、材料科学、分子结构分析以及金属物相组成分析等。

特别是在分析多元有机物质的物相及含量时,X射线衍射物相定量分析技术能够更加准确地获取有机物质的组成结构及元素含量比例。

X射线衍射物相定量分析技术具有良好的灵敏度,可以准确测量物质中微量元素的含量,并可以精确地分析有机物质物质中多种元素的含量。

此外,X射线衍射物相定量分析技术还具有良好的适应能力,可以测量不同种类、不同形式的有机物质,从而满足不同分析要求。

X射线衍射物相定量分析技术的应用范围很广,并且在科学技术领域中发挥着重要作用,被广泛应用于药物产生、食品安全检测、精细化学品组成分析等方面。

另外,X射线衍射物相定量分析技术还可以用于工业产品的质量控制,帮助企业更好地建立质量控制体系,从而提高产品质量和生产效率。

X射线衍射物相定量分析技术可以为企业提供更为准确有效的定量分析服务,为产品的质量管理提供科学的后盾。

未来,X射线衍射物相定量分析技术将会持续被广泛应用在各个领域,以服务更多的企业及科研领域。

第四章x射线衍射分析应用 3 物相分析和晶粒大小

第四章x射线衍射分析应用 3 物相分析和晶粒大小

一 X 射 线 物 相 分 析

X射线物相分析给出的结果,不是试样的化学 成分,而是由各种元素组成的具有固定结构的 物相。
3
定 性 相 分 析
1. 基本原理 2. PDF卡片 3. PDF卡片索引 4. 分析步骤 5.计算机自动检索

4

定性相分析的依据:
1 基 本 原 理
任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在
I j CK j
w'j 2 j w j (m ) j
j 1 n 1 j 1 n 1
I S CK S
wS
2 S w j (m ) j
Ij
K j s w' j w' j j Ks I s K s j ws ws
1 (cos2 ) 2 2 M 2 K j FHKL P 2 e sin cos

衍射分析应用的4个基本方面:
1. 衍射线的指标化 (sin 2 比值序列)
2. 点阵常数的精确测定(原理、途径和数据
处理方法)
3. 物性的定性、定量分析 4. 晶粒大小和点阵畸变的测定
1
4.3
X射线物相分析 定性分析 定量分析
2

利用X射线衍射的方法对试样中由各种元素形
成的具有确定结构的化合物(物相),进行定 性和定量分析。
相的选测衍射峰接近。
25
2 、
K 值 法 ( 基 体 冲 洗 法 )

K值法是在内标法的基础上发展起来的,主 要差别在于对比例常数K值的处理不同。
26
1.基本计算公式
设待测试样中含有几个相,要测j相的含量,含量为Wj ,
掺入的内标物质为S,加入量为Ws ,

X射线衍射物相结构分析

X射线衍射物相结构分析
朱承飞
2、衍射图的指标化
利用粉末样品衍射 图确定相应晶面的 晶面指面h k l的值 (又称米勒指数)就 称为指标化。
立方晶系(h2+k 2+l2)的可能值 P 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 24, 25,… (缺 7,15,23 等)
粉末平板状样品 :
I=G · · (θ) · C A V
L e4 3 式中: G I0 2 4 32R mc
1 cos2 2 2 M C N c2 nF 2 2 e sin cos
实验条件固定时,G为常数。A(θ)为吸收因子,
V是被 X 射线照射的样品体积。
朱承飞
从式 Ij / Is = C ·Xj 中知,常数C与标样物相的掺入量有关,
在式中令:
Ci s K Cs j
j s
则式可变为:
Ij
1 Xs Is K Xj Xs
j s
朱承飞
从上式中可看出,常数与 j 相和 S 相的 含量无关,也与试样中其他相的存在与否无 关。而且,与入射光束强度 I0 以及衍射仪圆 半径 R0 等实验条件无关,而只与j和S相的
以I10表示纯1相的某衍射线强度,此时,X2=0,X1=1则:
I10 G C1
朱承飞
1
1 m1
X 1m1 I1 I10 X 1 ( m1 m 2 ) m 2
在实验测试条件严格一致的情况下,分别测
试得某相的一衍射线强度及对应的该纯相相 同衍射线强度,即可获得待测试样中该相的 含量。
那么上式可写作:
Ij / Is=C · j X

2 X射线衍射物相分析

2 X射线衍射物相分析
用X射线探测器和测角仪探测衍射线的强度和位置。
基本原理: 表面与测角仪中心轴严格重合的试样绕测角仪中心轴 旋转。改变其表面与入射单色X射线的夹角,同时计数器 按2沿测角仪圆同向运动,从而使晶体中不同晶面产生的 衍射线被计数器探测并记录下来。最终得到试样的X射线衍 射谱(I-2)(衍射线的强度和位置)。
K 外圆? 试样台和探测器分别固定在两个同轴圆盘上。工作时按1∶2的角速度 联合驱动。
石英粉末的连续扫描衍射谱
由计算机输出的衍射谱
1.5 X射线衍射物相分析
对样品中的矿物组成进行种类和含量测定——定性定量
1.5.1
定性分析方法
将由衍射花样及计算获得的d -I 数据组与已知物质的d –I 数据组 (由PDF卡片提供)进行对比,从而鉴定出试样中存在的物相。即:
又: ∵
n≥1

≤2d; d ≥ /2; n≤2d/
于是有: 常用于X射线衍射的波长范围为 2.5~0.5 埃;
一定时,晶体中可能产生衍射的晶面族是有限的;
对于一定的晶体,其产生的衍射线数也是有限的。
(3)干涉面和干涉指数: 为了应用上的方便,常将布拉格方程简化:
d 2 sin n
1.2.2.1 布拉格方程的形式
布拉格方程(1913年由布拉格父子导出)是应用起来很方便的一 种衍射几何规律表达形式。其由下式描述:
2d sin n
式中:d 产生衍射的一组晶面的面间距;
(1.21)
入射X射线与该组晶面间的夹角,称为掠射角或半衍射角; 入射X射线的波长;
PDF卡片的样式
(《测试方法》P64图1-58)
PDF卡片各区内容
1. 三条最强线对应面间距和最大面间距(1d ) 2. 与上述4条衍射线对应的d 值(最强线强度为100) 3. 衍射实验条件 4. 结晶学数据 5. 部分光性和物性数据 6. 其它有关资料和数据,如试样来源等等 7. 物相的化学式和(英文)名称 8. 矿物学名称 9. 衍射数据:晶面间距、相对强度和干涉指数 10. 卡片序号

x射线衍射实验

x射线衍射实验

X—射线衍射法进行物相分析一. 实验题目X射线衍射物相定性分析二. 实验目的及要求学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理;掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤;给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果.三。

实验原理根据晶体对X射线的衍射特征-衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法,就是X射线物相分析法。

每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构.没有任何两种物质,它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的.因此,当X射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I/I0来表征。

其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I0是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。

四。

实验仪器图一X射线衍射仪本实验使用的仪器是Y—2000射线衍射仪( 丹东制造)。

X射线衍射仪主要由X射线发生器(X射线管)、测角仪、X射线探测器、计算机控制处理系统等组成。

衍射仪如图一所示.1.X射线管X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。

广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成,功率大部分在1~2千瓦。

可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为12~60千瓦。

常用的X射线靶材有W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。

X射线管线焦点为1×10平方毫米,取出角为3~6度。

选择阳极靶的基本要求:尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样的背底,使图样清晰。

测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件,主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成.(1)衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。

如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规X射线管,出射角6°时,实际有效焦宽为0.1毫米,成为0.1×10平方毫米的线状X射线源。

x射线衍射物相定量分析

x射线衍射物相定量分析

x射线衍射物相定量分析X射线衍射物相定量分析是指以X射线衍射技术为手段,通过分析物质晶体衍射图中各种强度高低与衍射角获得的几何体参数,来实现物质晶体中各相的定量分析。

X射线衍射物相定量分析的基本原理是,在晶体系统内,分子和原子以一定的排列形式构成晶格,它们都具有一定的衍射力,当X射线照射到晶体表面时,晶格中的分子、原子会反射X射线,X射线经过晶格系统后折射到探测器上,探测器便会检测到衍射信号,由此可以根据衍射信号的强弱,推测出晶格结构的尺寸参数,从而完成物相定量分析。

X射线衍射物相定量分析的应用(1)物质成分分析:X射线衍射物相定量分析可以有效地检测物质的主要成分,它可以检测出金属晶体中的Fe,Al,Cr等元素,也可以检测出复杂的多相材料中的各种组分,从而实现对物质的成分分析。

(2)结构参数测定:X射线衍射物相定量分析可以检测出物质晶体的结构参数(晶体基轴长度、晶面间距等),从而实现对晶体结构参数的测定。

(3)物相定量分析:X射线衍射物相定量分析可以有效地检测复杂多相材料的物相及其所占的比例,它可以检测出金属材料中的各种组分以及占比,也可以检测出半导体材料中的各种组分和它们的体积比例,从而实现对物质的物相定量分析。

X射线衍射物相定量分析的优势(1)分析速度快:X射线衍射物相定量分析有较快的分析速度,可以快速准确地完成物质晶体结构参数、物质成分以及物相组成的定量分析。

(2)结果精确:X射线衍射物相定量分析可以实时反映物质晶体的结构参数、物质成分以及物相组成的情况,其结果的精确度较高。

(3)应用广泛:X射线衍射物相定量分析可以广泛应用于矿物学、金属材料、陶瓷材料、半导体材料和生物材料分析等领域,其应用非常广泛。

X射线衍射物相定量分析存在的缺陷(1)分析结果受环境影响较大:由于X射线衍射物相定量分析是将X射线作用于晶体表面,而X射线的传输受到环境的影响较为严重,因此其分析结果的准确性会受到影响。

(2)晶体尺寸要求较高:X射线衍射物相定量分析需要晶体在衍射时具有良好的晶体尺寸,否则衍射角可能会出现变形,从而影响结果的准确性。

X射线衍射物相定性分析

X射线衍射物相定性分析

影响点阵常数精度的关键因素- sinθ
由图可见,当θ角位于低角 度时,若存在△θ的测量误 差,对应的△sinθ的误差 范围很大;当θ角位于高角 度时,若存在同样△θ的测 量误差,对应的△sinθ的 误差范围变小;当θ角趋近 于90°时,尽管存在同样大 小的△θ的测量误差,对应 的△sinθ的误差却趋近于 零。所以选用高角度谱线。
1.090 17 0.8083 8
剩余线条与Cu2O的衍射数据
待测试样中的剩余线条
d/Å
I/I1
观测值 归一值
5-667号的Cu2O衍射数据
d/Å I/I1
3.01
5
7
3.020 9
2.47
70 100
2.465 100
2.13
30 40
2.135 37
1.50
20 30
1.510 27
1.29
公式为:a d H 2 K 2 L2
根据布拉格方程2dsinθ=λ,则有:
H 2 K 2 L2
a
2 s in 在式中,λ是入射特征X射线的波长,是
经过精确测定的,有效数字可达7位数, 对于一般分析测定工作精度已经足够了。 干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点 阵常数精度的关键因素是sinθ。
粉末衍射卡的组成
粉末衍射卡(简称ASTM或PDF卡)卡 片的形式如下图所示:
( 1)1a,1b,1c 三数据为三 条最强衍射 线对应的面 间 距 ,1d 为 最 大面间距;
(2)2a,2b,2c, 2d 为 上 述 各 衍射线的相 对强度,其 中最强线的 强度为100;
(3)
辐射光源
波长
滤波片
当多种物质同时衍射时,其衍射花样也是各种 物质自身衍射花样的机械叠加。它们互不干扰, 相互独立,逐一比较就可以在重叠的衍射花样 中剥离出各自的衍射花样,分析标定后即可鉴 别出各自物相。

x射线衍射与物相分析

x射线衍射与物相分析

X射线衍射物相分析实验指导书材料科学与工程学院X射线衍射物相分析一、实验目的1、概括了解x射线衍射仪的结构及使用。

2、练习用FDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。

二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。

图1-1是目前常用的热电子密封式X射线管的示意图。

阴极由钨丝绕成螺线形,工作时通电至白热状态。

由于阴阳极间有几十千伏的电压,故热电子以高速撞击阳极靶面。

为防止灯丝氧化并保证电子流稳定,管内抽成 1.33x10-9~1.33x10-11的高真空。

为使电子束集中,在灯丝外设有聚焦罩。

阳极靶由熔点高、导热性好的铜制成,靶面上被一层纯金属。

常用的金属材料有Cr,Fe, Co, Ni, Cu, M O, W等。

当高速电子撞击阳极靶面时,便有部分动能转化为X 射线,但其中约有99%将转变为热。

为了保护阳极靶面,管子工作时需强制冷却。

为了使用流水冷却.也为了操作者的安全,应使X射线管的阳极接地,而阴极则由高压电缆加上负高压。

x射线管有相当厚的金属管套,使X射线只能从窗口射出。

窗口由吸收系数较低的Be片制成。

结构分析用X射线管通常有四个对称的窗口,靶面上被电子袭击的范围称为焦点,它是发射X射线的源泉。

用螺线形灯丝时,焦点的形状为长方形(面积常为1m m×10mm),此称为实际焦点。

窗口位置的设计,使得射出的X射线与靶面成60角(图1-2),从长方形的短边上的窗口所看到的焦点为1mm2正方形,称点焦点,在长边方向看则得到线焦点。

一般的照相多采用点焦点,而线焦点则多用在衍射仪上。

图1-2 在与靶面成60角的方向上接收X射线束的示意图自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。

图2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。

入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。

衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进人脉冲高度分析器。

X-射线粉末衍射法物相分析

X-射线粉末衍射法物相分析

X-射线粉末衍射法物相分析一、X-射线粉末衍射法物相分析原理X-射线衍射法物相分析,可分为定性分析和定量分析,本文主要介绍定性分析方法。

所谓X射线物相定性分析就是根据x射线对不同种晶体衍射而获得的衍射角、衍射强度数据,对晶体物相进行鉴定的方法。

晶体是由质点(原子、离子、分子)在空间周期地排列而构成的固体物质。

在粉末晶体或多晶样品中含有千千万万个小晶粒,它们杂乱无章、取向机遇地聚集在一起。

当一束单色x射线照射到某一个小晶粒上,由于晶体具有周期性的结构,当点阵面距d与X射线入射角θ之间应符合布拉格(Bragg)方程: 2 d(hkl)Sinθ=λ时,就会产生衍射现象。

图1:晶体衍射示意图每一种结晶物质,都有其特定的结构参数,即点阵类型、晶胞大小、单胞中原子(离子或分子)的数目及其位置等等,而这些参数:在x射线的衍射图上均有所反映。

所以尽管物质的种类有千千万万,但却难以找到两种衍射图完全相同的物质。

粉末衍射线条的数目、位置及其强度,就象人的指纹一样,反映了每种物质的特征,因而可以成为鉴别物相的标志。

如果将几种物相混合进行x射线衍射,则所得到的衍射图将是各个单独物相的衍射图的简单迭加。

根据这一原理,就有可能从混合物的衍射图中将各个物相一个个鉴别出来。

混合物中某种物质的衍射强度与其在混合物中的含量成正比。

含量大,衍射强度大;否则变小。

二、X射线衍射仪为了获得晶体的x射线衍射图,目前多采用衍射仪法。

射仪法具有操作方便、速度快、衍射强度准确等优点。

1.基本结构。

X射线衍射仪基本包括三个部分:X射线发生器。

用于产生X射线,常用的阳极靶元素是Cu,入射X射线波长λ为1.54Å。

电子学系统。

将样品的衍射信号转换成一个与衍射强度成正比数字讯号用电脑记录下来。

测角仪。

测量X射线入射角,过滤入射线和衍射线,确定计数管位置。

三、结果处理1. 衍射图的标识。

样品标号,样品反应条件,如反应物、反应时间、反应温度等。

根据衍射峰位置及强度查索粉末衍射卡片确定样品物相,标出衍射峰对应衍射面的点阵面指数:hkl。

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线强度与标准物质 s 的某衍射线强度之比是该相在原试样中的质量分数 xj 的线性函数。 由于常数 C 难以用计算方法定准,因此实际使用中是先用实验方法作出定标曲线,再进
行分析。具体方法是:先配制一系列标准样品,其中包含已知量的待测相 j 和恒定质量百分 比 ws 的标准物质。然后用衍射仪测量对应衍射线的强度比,作出 Ij/Is 与 wj 的关系曲线(定 标曲线)。在分析未知样品中的第 j 相含量时,只要对试样加入相同百分比的标准物质,然 后测量出相同衍射线的强度比 Ij/Is,查对定标曲线即可确定未知样品中第 j 相的含量。
在实用时,常以第 j 相的质量百分数 xj 代替体积百分数 fj,若设混合物的密度为ρ 、质 量吸收系数为μ m、参与衍射的混合试样的质量和体积分别为 W 和 V,第 j 相的对应物理量 分别为:ρ j、(μ m)j、Wj 和 Vj,则有:
vj
Vj V
1 Wj V j
W V
xj j
)

x
j
(1 xs )
由定量分析的基本公式可得,混入标准物质后第 j 相和标准物质 S 的衍射强度公式为:
I j BC j n
xj j
I s BCs n
xs s
[(m ) j xj ] xs (m )s
[(m ) j xj ] xs (m )s
索引中采用哈纳瓦尔特分组法:(1)按第一个 d 值的大小范围分组,整册索引共 51 组,按面间距范围从大到小的顺序排列,每组的面间距范围在该组的开头及每页的顶部; (2)在每一组中,以第二个 d 值的大小顺序排列,若第二个 d 值相同,则又以第一个 d 值 的大小次序排列;(3)在第二个 d 值和第一个 d 值相同时,按第三个 d 值的大小次序排 列;(4)为了排除吸收、择优取向等因素对相对强度的影响,每种物质在索引中至少重复 三次,且三次重复方式为:
第一次:d1 d2 d3 d4 d5 d6 d7 d8 第二次:d2 d3 d1 d4 d5 d6 d7 d8 第三次:d3 d1 d2 d4 d5 d6 d7 d8 (3)芬克索引(Fink Method)
芬克索引也是以八条最强线的 d 值作为分析依据,其分组法类似于哈纳瓦尔特方法,但排列 顺序与哈纳瓦尔特索引不同,不是以强度递减次序而是以 d 值递减次序列出八条最强线的 d 值、英文名称、卡片序号和微缩胶片号。若该物质的衍射线少于八根,则以 0.00 补足。每种 物质在索引中至少出现四次。若设八条最强线的 d 值顺次为 d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7,d8,其中假定 d2,d4,d5,d7 为八条强线中强度比其它四条强,则在索引中四次的 d 值排列为:
由于衍射仪测量衍射强度比照相法方便简单、速度快、精确度高,且现在衍射仪的普及 率已很高,因此定量相分析的工作基本上都用衍射仪进行。由§3 节已知,平板状单相多晶 体试样的衍射强度公式为:
I

I0

3 32R

e2 mc 2
2
V V02

F
2

P

1 sin
cos2 (2 ) 2 cos
第 6-7 讲
教学目的:使学生了解物相定性、定量两种型式,掌握物相概念及物相定性定量分析基 本原理,了解 PDF 卡片的基本内容,掌握哈氏索引检索方法,掌握定性分析方法,了解定性分 析的注意事项。 教学重点:定性相分析基本原理 ;PDF 卡片; 定性分析方法 ; 物相定量分析基本原理 教学难点:多相全谱拟合相定量分析法 教学拓展:人工检索及定性分析方法,定性分析的注意事项,定量分析基体冲洗法 作业: 1.粉晶 X 射线衍射卡片检索手册的基本类型有哪几种?每种手册的编排特点是什么? 2.X 射线粉末衍射法物相定性分析依据 3.物相定性分析步骤 4.对一张混合物相的 X 射线衍射图进行定性分析时,应注意哪几个问题?

3
F 2 P 1 cos2 (2 ) e2M V02 sin2 cos 2
则第 j 相的某条衍射线强度 Ij 可表示为:
Ij

BCj

fj
式中 B 是一个只与入射 X 射线强度 I0、X 射线波长λ 、衍射仪圆的半径 R 和受照射的试样体 积 V 等实验条件有关的常数;Cj 只与第 j 相的结构及实验条件有关,当该相的结构已知、实 验条件选定后,Cj 亦为可计算出的常数。
样中加入标准物质作为第 S 个相,它的质量为 Ws。如果以 xj 表示待测的第 j 相在原始试样中 质量百分数,以 xj’表示待测相在混入标准物质后的试样中的质量百分数,用 xs 表示标准物质 混入试样后该标准物质在试样中的质量百分数,则:
xj
Wj W Ws
Wj W

(1

Ws W Ws
5 为什么 d 总是可靠的依据,而 I 只是参考? 1.5.2.定量相分析 1.5.2.1 基本原理
∴定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量。衍射强度理论指出,各相衍射线条 的强度随着该相在混合物中相对含量的增加而增强。但不能直接用衍射峰的测量面积来求物 相浓度,因为所测得的衍射强度 Ia 是经试样吸收之后表现出来的,即衍射强度还强烈地依赖 于吸收系数μ,而吸收系数也依赖于相浓度 Ca,所以,要测 a 相含量首先必须明确 Ia、Ca、 μ之间的关系。
xj j
n
由于 m [(m ) x j ] ,因此可得: j 1
I j B C j
n
xj j [(m ) j
xj
]

BCj

xj m
j
j 1
于是,建立了第 j 相的某条衍射线强度 Ij 与该相的质量分数 xj 间的联系,这是定量分析 的基本公式。但值得注意的是,衍射强度还与混合物的总吸收系数μm 有关,而总吸收系数 又随浓度而变化,这是强度和相对含量之间一般并不是线性关系原因。
基本方法
X 射线衍射物相定性鉴定的基本方法是把晶体(几万种)全部进行衍射或照相,并将衍射 花样作为标准存档;再把实验获得的试样衍射花样与标准衍射花样对比,一旦试样的衍射衍 射花样的 d 值和 I/I0 均与标准物质相符,便完成了物相定性鉴定工作。
1.5.1.2 粉末衍射卡简介 (1)JCPDS 卡片的产生过程
1.5.2.2定量分析方法
(1)内标法
内标法是在待测试样中掺入一定含量的该试样所没有的纯标准物质 s,把试样中待测相 i 的某条衍射线强度 Ii 与掺入试样中含量已知的标准物质 s 的某条衍射线强度相比较,从而获 得待测相 i 的含量。
n
设原始试样由 n 相组成,它们的质量为 W1,W2,„,Wn,总质量为W Wi 。在试 i 1
必须注意是:(1)在制作定标曲线与分析未知样品时,标准物质的质量百分数 xs 应保 持恒定,通常取 xs 为 0.2 左右;(2)测量强度所选用的衍射线应选取内标物质和第 j 相的 衍射角相近、衍射强度较近的衍射线,且两条衍射线应不受其它衍射线干扰。
图 2.5.2 为在石英加碳酸钠的原始试样中,以萤石(CaF2)作为外标物质(wS=0.20)测 得的定标曲线。石英的衍射强度采用 d=3.34Å 的衍射线,萤石采用 d=23.16Å 的衍射线。每 一个实验点为十个测量数据的平均值。
为了提高物相定性鉴定的效率,必须掌握大量已知相的衍射花样。哈纳瓦尔特 (J.D.Hanawalt)于 1936 年开始进行将已知物相名称、该物相 X 射线衍射花样的 d 值数列和相 对衍射强度 I/I0 制成反映该物相特征的卡片工作。1941 年由美国材料试验协会(American Society for Testing Materials)接管,并将卡片命名为 ASTM 卡片,或称粉末衍射组(Powder Diffraction File,简称 PDF)。到 1985 年已出版 46000 张,平均每年有 2000 张问世。目前由 “粉末衍射标准联合会”(Joint Committee on Powder Diffraction Standards,简称 JCPDS)和 “国际衍射资料中心”(ICDD)联合出版。近期书刊也将此卡片称为 JCPDS 衍射数据卡片。 (2)JCPDS 卡片的组成( 教材P64-66)
第一次:d2 d3 d4 d5 d6 d7 d8 d1 第二次:d4 d5 d6 d7 d8 d1 d2 d3 第三次:d5 d6 d7 d8 d1 d2 d3 d4 第四次:d7 d8 d1 d2 d3 d4 d5 d6 1.5.1.4鉴定步骤
(1)粉末衍射图的获得;(2)衍射线 d 值的测量; (3)衍射线相对强度的测量;(4)查阅索引;(5)核对卡片 1.5.1.5注意事项
1.5.1.3粉末衍射卡索引 (1)字顺索引(Alphabetical Index)
按物质的英文名称的字母顺序排列。在每种物质的名称后,列出其化学分子式、三条最 强线的 d 值和相对强度数据,以及卡片号码。 (2)哈纳瓦尔特索引(Hanawalt Method)
又称三强线或数值索引。每种物质的数据在索引中列一行,依强弱顺序列出八条强线的 面间距 d、相对强度、化学式以及卡片的序号。
j 1
j 1
将上两式相比,即得:
Ij Is
Cj Cs
xj S xs A
Cj Cs
(1 xs ) s xs j
xj
由于在配制试样时,可控制 W 和加入的内标物质的质量 Ws,使得 xs 保持常数,故上式可简 化为:
I j Is C xj
其中 C C j (1 xs ) s 为常数,上式是内标法的基本公式,它表明待测相 j 的某一衍射 Cs xs j
第 5 节 X 射线衍射物相分析
1.5.1 定性相分析 1.5.1.1 基本原理及方法 (重点 ) X 射线物相分析的任务:对由多种结晶态组成的材料,是确定材料中结晶态的种类及其 含量;对于存在多种结晶状态的材料,是确定结晶状态的类型及其含量。 (1)X 射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小、衍射晶面的面间距,衍射线的相 对强度决定于晶胞内原子的种类、数目和排列方式。 (2)每种晶态物质都有其特有的结构,致使每种晶体的 X 射线衍射花样(衍射位置θ 和衍射强度 I)各异。这是 X 射线衍射定性物相分析的理论依据。 (3)当材料由多种结晶态组成时,在 X 射线衍射图谱中,各种结晶态的衍射花样将同 时出现,但只是机械叠加,不会互相干扰;各处结晶态的衍射线强度取决于它在试样中的相 对含量,测定各种结晶态的衍射线的强度比可推算出它们的相对含量。这是 X 射线衍射定量 物相分析的理论依据。
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