X射线衍射物相定量分析(精)
X射线衍射物相定量分析(精)
№.5陕西科技大学学报Oct.2005Vol.23JOURNALOFSHAANXIUNIVERSITYOFSCIENCE&TECHNOLOGY・55・3文章编号:1000-5811(2005)05-0055-04X射线衍射物相定量分析吴建鹏,杨长安,贺海燕(陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西咸阳712081)摘要:在RigakuD/max22200pc型X,2定量分析所用的内标曲线和外标曲线,2完全一致,。
关键词:物相定量分析;内标法;中图分类号:O723:A0引言X射线衍射物相定量分析已被广泛的应用于材料科学与工程的研究中。
X射线衍射物相定量分析有内标法〔1〕、外标法〔2〕、绝热法〔3〕、增量法〔4〕、无标样法〔5,6〕、基体冲洗法〔7〕和全谱拟合法〔8〕等常规分析方法。
内标法、绝热法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有的物相较多,谱线复杂,再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。
基体冲洗法、无标样法和全谱拟合法等分析方法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。
外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测相物质制作工作曲线,这在实际应用中也是极为不便的。
本研究在RigakuD/max22200pc型X射线衍射仪分析软件的基础上,开发了X射线衍射物相定量分析中最常用的内标法和外标法,并对这两种分析方法进行了实验验证。
1原理设样品由N个物相组成,采用衍射仪测定时,由Alexander和Klug导出的N相中第J相的衍射强度公式为:IJ=KJ(1)式中:IJ———试样中J相衍射峰的积分强度;KJ———强度表达式中与试样的种类、数量均无关的常数项;VJ———试样中J相所占的体积百分数;μ ———试样的平均吸收系数。
(1)式就是X射线衍射物相定量分析的基本方程。
该式说明试样中J相的衍射强度IJ和J相所占的体积百分数VJ成正比,和样品的平均吸收系数μ 成反比。
材料分析基础实验报告之X射线衍射(XRD)物相分析【范本模板】
实验一 X射线衍射仪的结构与测试方法一、实验目的1、掌握X射线衍射的基本原理；2、了解X射线衍射仪的基本结构和操作步骤;3、掌握X射线衍射分析的样品制备方法；4、了解X射线的辐射及其防护方法二、实验原理根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。
没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。
当X射线波长与晶体面间距值大致相当时就可以产生衍射。
因此，当X射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I1来表征。
其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I1是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。
三、实验设备丹东方圆仪器有限公司的D2700型X射线粉末衍射仪一台;玛瑙研体一个；化学药品或实际样品若干（Li4Ti5O12）。
四、实验内容1、采用玛瑙研体研磨样品，在玻璃样品架上制备一个合格试验样品;2、选择合适的试验参数，获得XRD图谱一张;3、理解样品、测试参数与XRD图谱特征的关系。
五、实验步骤1、开机1）打开总电源2）启动计算机3）将冷却水循环装置的机箱上的开关拨至运行位置，确认冷却水系统运行，水温正常（19—22℃）；4)按下衍射仪ON绿色按键打开衍射仪主机开关5）启动高压部分(a）必须逐渐提升高压，稳定后再提高电流。
电压不超过40kV,管电流上限是40mA，一般为30mA。
（b)当超过4天未使用X光管时,必须进行光管的预热。
在25kV高压，预热10分钟;30kV，预热5分钟;35kV，预热5分钟。
（c）预热结束关机后，至少间隔30分钟以上方可再次开机实验。
6）将制备好的样品放入衍射仪样品台上；7)关好衍射仪门.2、样品测试1）在电脑上启动操作程序2）进入程序界面后，鼠标左键点击“测量”菜单，再点击“样品测量”命令,进入样品测量命令3)等待仪器自检完成后，设定好右边的控制参数；4）鼠标左键点击“开始测量”，保存输出文件；5）此时仪器立即开始采集数据，并在控制界面显示；（a）工作电压与电流：一般设为40kV，40mA;（b）扫描范围:起始角度>5°，终止角度<80°；(c）步进角度：推荐0.02°，一般在0.02—0。
实验：X射线衍射法进行物相定性分析1
X射线衍射法进行物相定性分析实验目的及要求⏹了解X射线衍射仪的结构和工作原理；⏹掌握无机非金属材料X射线衍射分析的制样方法；⏹掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤。
物相定性分析的基本原理2dsinθ=λ晶胞中原子种类、数量、排列方式（1） 任何一种物相都有其特征的衍射谱；任何两种物相的衍射谱不可能完全相同；多相样品的衍射峰是各物相衍射峰的机械叠加。
（2）制备标准单相物质的衍射花样：PDF卡片待分析物质(样品)的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相实验设备与结构D/max-RB型X射线衍射仪D/Max-RB型X射线衍射仪构造示意图主要组成部分有X射线发生器、测角仪、探测器、计算机控制处理系统等。
一、X射线管1、X-ray产生原理凡是高速运动的电子流或其它高能辐射流（如γ射线，X射线，中子流等）被突然减速时均能产生X射线。
热能 + 电磁波2、X射线机X射线管是X射线机的核心部件。
封闭式热阴极X射线管：热阴极、阳极、窗口、聚焦座、管座等滤波片可以获得近似的纯的kα辐射源为避免样品强烈吸收入射X射线产生荧光幅射，对分析结果产生干扰。
必须根据所测样品的化学成分选用不同靶材的X 射线管。
原则是：靶材的Kα谱应位于试样元素K吸收限的右近邻或左面远离试样元素K吸收限的低质量吸收系数处。
二、测角仪测角仪是X射线衍射仪的核心部件梭拉光栏梭拉光栏防散射光栏衍射仪的光路图X射线经线状焦点S发出，经发散狭缝DS后，成为扇形光束照射在平板试样上，产生衍射，衍射线经接收狭缝RS进入探测器（即计数管）后被转换成电信号记录下来。
为了限制X射线的发散，在照射路径中加入S1梭拉光栏限制X射线在高度方向的发散，加入DS发散狭缝光栏限制X射线的照射宽度。
试样产生的衍射线也会发散，同样在试样到探测器的光路中也设置防散射光栏SS、梭拉光栏S2和接收狭缝光栏RS，这样限制后仅让聚焦照向探测器的衍射线进入探测器，其余杂散射线均被光栏遮挡。
◆工作时，试样与探测器同时转动，但转动的角速度为1 ： 2的比例关系。
XRD定量分析..
若被测试样含Ａ、Ｂ、Ｃ等n个相，欲测A相，可掺内标物质 S，此时Ａ相的体积分数分别为ＣA 和ＣA’ ，而Ｃｓ为标准 物质在复合试样中的体积分数，则在复合试样中： ＩＡ＝Ｋ２ＣA’ ／μ，
＝ K4xA ’ ＝ KSxA
ＩＳ ＝Ｋ３ＣＳ ／μ
因 xA’ = xA(1- xS)
IA / IS ＝Ｋ２ＣA’ ／Ｋ３ＣＳ ＝Ｋ２xA’ ρs ／Ｋ３xＳρA 此时A相含量 xA与IA / IS 线性相关。
KS的处理：
I A / I S K S xA
做出A相与标准物质复合试样的定标曲线，即，事先测量出一
套由已知A相浓度的原始试样和恒定浓度的表征物质（即xＳ不
变）组成的复合试样，做出定标曲线,测定其IA / IS ，则KS就可 以确定。
3、K值法
原理：由内标法可得 Ii/IS=(Cixi/ρ i)/(CSxS/ρ S), 令 Ki = (Ci/ρ i)/(CS/ρ S)， 则有 Ii/IS= Kixi/xS Ki的处理：纯待测物与参比物1：1混合。(以Al2O3为参比物质) 在待测样品中加入一定质量分数xS的参比物S，则任意相i和参比 物S而言有： xi = xS (Ii/IS)/Ki， 则i相在原始样品中的质量分数 Xi = xi/(1- xi)
外标法的特点
不必在试样中加入无关的相，可以定量计算 混合物中单相的含量。 需要配制不同α含量的样品做定标曲线，过程 较为复杂。
2、内标法
在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比，测定待测相含量。 标样：常用Al2O3, SiO2, NiO
β
，线吸收系数为μ
α
该公式表示了待测物相的在试样中的质量分数与衍射峰强度 之间的关系。
X射线衍射技术之四-物相分析
什么是物相?
物相是从结构角度对某一物质种类的描述. 化学组成相同但结构类型不同的物质视为不 同的物相,如方解石和文石.化学组成不同但结 构类似的物质也属不同的物相,因为二者在结 构参数方面存在差别.
物相分析分为定性分析和定量分析。定性分 析目的是确定待测物质成分及结构类型；定 量分析不仅确定物质成分及结构类型，而且 确定各物相质量分数。因此定性分析是定量 分析的基础和前提。
1．粉末衍射卡
粉未衍射卡(Power Diffraction File, 简称 PDF卡)是1941年美国道氏化学(Dow Chemical)公司从1938年起由哈那瓦尔物(J. D. Hanawalt)等人首创的标准衍射数据，在 美国材料试验协会(ASTM)的赞助下，以3 inch×5 inch (76.2 mm×127 mm)的卡片形 式发行，故也称ASTM卡。
I j Cj
Vj
Cj
fj
式中Cj──样品中与第j相有关的常数; μ ──混合样品的线吸收系数.
fj W j m m m Ij C 将 代入 V x j 变换为以xj和µ m表示的形式如下
fj
j
Ij
Cj xj
j m
Cj
'
xj
m
此式是Ｘ射线物相定量分析的基本公式。µm不是j相 的质量吸收系数，而是整个待测试样总的质量吸收 系数． n
第2节 XRD物相定量分析
一．定量分析法原理
X射线定量相分析方法是在完成了样品 的物相定性分析工作的基础上，利用衍射 花样中待测相衍射强度，分析每个相在样 品中的重量百分含量的技术。
XRD粉末衍射强度公式:
3 4 2 I e 1 c o s 2 1 2 2 2 M 0 I ( 2 ) ( ) ( F P N ) (2 ) ( e) () V h k l h k l h k l 4 3 2 m c R s i n c o s 2
X射线衍射物相分析
X射线衍射物相分析物相分析并不是一般的成份分析，一般的化学成份分析是分析组成物质的元素种类及其含量，并不涉及元素间的化学结合状态及聚集态结构，只有元素单独存在时该元素才是一个单独的物相。
物相分析是进行元素间的化学结合状态和聚集态结构的分析。
那些化学组成相同但晶型不同的物质，虽然其元素组成相同，属同种化合物，但其聚集态结构不同，属不同的物相。
已知，识别一个物质不但要知其元素组成，而且要知各元素间的化学结合状态和聚集态结构。
如只含Si和0二种元素的Si02,它有石英、方英石、鱗石英、白硅石和无定形硅胶等许多结构形态，分别属于不同物相。
而不同形态的Si02在性质上是差别很大的。
再如ZnO和Cr2O３在高温下焙烧可生成化学上稳定的尖晶石结构的ZnCr204。
但在多少温度下转化开始发生？转化程度如何？对此问题化学成份分析是很难解决的，因为在反应中化学成份并无改变。
对矿物、陶土、固熔体合金、新兴材料、多相催化剂以及混合物的分析更是如此，只知元素组成而不知物相结构是远远不够的。
X射线衍射物相分析在矿物分析中可确定物相组成以提供开发利用的方案；在冶金工业中可确定各元素的结合状态，了解热处理过程及性能的变化关系；在化学工业中可控制产品质量，确定合理的工艺流程；在材料科学中可确定材料的结构及性能，为新兴材料的开发指明方向；在理论研究中可帮助确定中间历程，研究催化反应及机理，指导新产品的合成等等。
因此，X射线衍射物相分析在许多部门和领域有着广泛的应用。
物相分析主要包括物相的定性识别，定量分析以及结构类型及晶格参数的测定。
本文主要介绍物相定性、定量分析，结构类型及晶格参数将在下一章介绍。
定性物相分析——物质的识别及鉴定定性物相分析的主要依据是衍射谱图的峰位及相对强度。
每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、晶胞大小、单胞中的原子数及原子（离子或分子）的种类和位置等。
这些参数的差别必反映出衍射谱图的差别，即每种物质都有其特定的峰位及相对强度，就象人的指纹一样，可作为鉴别的依据。
X射线衍射的定量物相分析
摘要X射线在晶体中的衍射，实质上是大量原子散射波互相干涉的结果。
每种晶体所产生的衍射花样都是其内部原子分布规律的反映。
研究X射线衍射，可归结为衍射方向和衍射强度两方面问题。
衍射方向由晶胞大小、晶胞类型和位向等因素决定，衍射强度主要与原子类型及其在晶胞中位置有关。
本文简单介绍了X射线衍射物相定量分析的基本原理以及几种典型的分析方法，即直接对比法、内标法和外标法。
0、引言X射线衍射物相定量分析已被广泛应用于材料科学与工程的研究中。
X射线衍射物相定量分析有内标法、外标法、绝热法、增量法、无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等常规分析方法。
内标法、绝热法和增量法都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线，如果样品含有物相较多，谱线较复杂，再加入参考标相会进一步增加谱线的重叠机会，给定量分析带来困难。
无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等分析方法，虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线，但需要烦琐的数学计算，其实际应用也受到了一定限制。
外标法虽然不需要在样品中加入参考标相，但需要用纯的待测物质制作工作曲线，这在实际应用中也是极为不便的。
1、X射线定量物相分析的基本原理物相分析与化学分析方法不同，化学分析仅仅是获得物质中的元素组分，物相分析则是得到这些元素所构成的物相，而且物相分析还是区分相同物质同素异构体的有效方法。
X射线定量物相分析，是在已知物相类别的情况下，通过测量这些物相的积分衍射强度，来测算它们的各自含量。
多相材料中某相的含量越多，则它的衍射强度就越高。
但由于衍射强度还受其它因素的影响，在利用衍射强度计算物相含量时必须进行适当修正。
定量分析的依据，是物质中各相的衍射强度。
设试样是由n 个相组成的混合物，则其中第j 相的衍射相对强度可表示为式中(2μl )-1对称衍射即入射角等于反射角时的吸收因子，μl 试样平均线吸收系数，V 试样被照射体积，V c 晶胞体积，P 多重因子，｜F｜2结构因子，L p 角因子，e-2M 温度因子。
关于XRD物相定量分析
关于XRD物相定量分析X射线衍射（XRD）是一种常用的分析技术，用于确定材料的物相组成，结构和晶体学信息。
XRD物相定量分析是通过测量样品对入射X射线的散射模式来分析样品中各组分的含量。
本文将详细介绍XRD物相定量分析的原理、方法和应用。
原理：XRD物相定量分析的原理基于布拉格方程：nλ = 2d sinθ，其中n 为整数，λ为入射X射线的波长，d为晶面间距，θ为散射角。
当X射线照射到晶体上时，会与晶体内的晶面相互作用，并产生散射。
不同晶面的晶面间距会导致不同散射角和散射强度的出现。
通过测量样品的散射模式，可以确定样品中的物相组成。
方法：XRD物相定量分析的方法主要有两种：定性分析和定量分析。
1.定性分析：通过比对实验测得的散射模式与已知标准样本的散射模式，可以确定样品中的物相种类。
这种方法常用于未知样品的初步分析和相的鉴定。
2.定量分析：通过测量散射峰的强度和位置，可以确定样品中各组分的含量。
定量分析需要建立标准曲线或参考曲线，以确定散射峰的位置和强度与物相含量之间的关系。
常用的定量分析方法有内标法、峰面积法和相对比例法等。
常用仪器：进行XRD物相定量分析需要使用X射线衍射仪。
X射线衍射仪由X射线源、样品台、衍射角度测量器和X射线探测器组成。
X射线源通常使用钴、铜或铬等发射入射X射线的金属。
应用：XRD物相定量分析在材料科学、地质学、矿物学、纺织业等领域具有广泛的应用。
1.材料科学：XRD物相定量分析可以用于研究材料的结构性质，例如晶胞参数、晶体结构和晶格畸变等。
它可以用于分析晶体中的杂质、晶形和晶轴取向等信息，并对材料的性能和性质进行评估和改善。
2.地质学和矿物学：XRD物相定量分析可用于矿石和岩石中矿物的鉴定和定量分析。
它可以确定矿物的种类、含量和分布情况，进而研究地质历史和矿床形成机制。
3.纺织业：XRD物相定量分析在纺织品中的应用主要用于分析纤维结构和纤维取向。
它可以评估纤维材料的质量和性能，并优化纺织工艺。
仪器分析实验 X射线衍射物相分析
X射线衍射物相分析开课实验室：环境资源楼105【实验目的】（1）了解Philips射线衍射仪的基本结构和工作原理；（2）基本掌握样品测试过程；（3）掌握利用衍射图进行物相分析的方法。
【基本原理】•原理概述：晶体晶面间距约为10-10m量级，与X射线波长范围（0.1-10埃）相符合，因此X射线在遇到晶体时，可能发生衍射现象，从而推测出其结构信息；•X射线与特征（或标识）X射线：X射线是一种波长很短的电磁波，穿透能力强；在用电子束轰击金属靶，如铜，产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线。
对铜靶来说，其中包含Kα1、Kα2及Kβ三种特征X射线；•X射线衍射：将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
但并不是所有情况下X射线都发生衍射，其必须满足的条件是布拉格方程：2d sin θ=nλ即当λ确定且n=1（一次衍射）时，则只有当θ角满足：θ=arcsin!!!"时才可发生衍射。
故根据布拉格方程，通过合理地转动样品、X光管和接收器，调整θ角，扫描一张谱图，则可以得到这一晶体样品的结构信息；•晶体X射线衍射图谱：由于每种晶体其X光衍射都有一组特定的d值，粉末线的分布是一定的；每种晶体内原子排列也是一定的，因此衍射线的相对强度也是一定的，每一个晶体都有一套特征的粉末衍射数据d-I 值，并可把它作为定性鉴定物质和物相的依据。
对晶体微观结构精细的形象变换，每种晶体结构与其X射线衍射图之间有着一一对应的关系，任何一种晶态物质都有自己独特的X射线衍射图，而且不会因为与其它物质混合在一起而发生变化，是X射线衍射法进行物相分析的依据。
规模最庞大的多晶衍射数据库是由JCPDS编篡的《粉末衍射卡片集》（PDF）。
•粉末衍射卡片索引：包括：粉末衍射卡片哈氏索引（Hanawalt），芬克索引（Fink Index）和戴维字母索引（Alphabetical Index）；1、哈氏数值索引：每一种的数据在索引中占一横行，依次有：八条强谱线晶面间距数值，化学式卡片顺序号，查阅时把晶体面间距按衍射峰强弱排列成d1,d2,d3----，找到d1再找d2值，一直顺序找到第八值，从而可查的对应八强线的卡片顺序号，但也可用前三强的d值，按下列排列方式查找：d1d2d3,d2d3d1, d3d1d2,在哈氏数值索引中出现三次；2、芬克索引：也属于数值索引，不过它是以每种物质的八条强线晶面间距d作为该物质特征，芬克索引的编制是按各种物质八条强线中第一个d值的递减次序划分成组。
关于XRD物相定量分析
关于XRD物相定量分析X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）是一种常见的物相分析技术，可以用于准确测定材料中的晶体结构、晶格参数和晶体取向。
它是通过将束缚在一个固定平面的晶体样品，用X射线进行照射，并测量和分析散射的X射线来实现的。
XRD物相定量分析是一种将XRD技术与定量分析方法相结合的技术，旨在确定材料中各种不同晶相的存在量。
这种分析方法在材料科学、地质学、矿物学和结构化学等领域具有重要的应用价值。
XRD物相定量分析主要分为两个步骤：第一步是通过X射线衍射图谱的处理和分析来确定各种晶相的存在和优先方向。
第二步是根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
下面将详细介绍这两个步骤。
在XRD物相定量分析的第一步中，需要进行X射线衍射图谱的处理和分析，以确定各种晶相的存在和优先方向。
通常使用的工具是X射线衍射图谱，可以通过它来获得物样品的晶格常数和相位辅助信息。
在这一步中，需要使用的方法包括傅立叶变换、谱分析和红外线色散等。
这些方法可以将衍射峰的波长与晶体结构的特征相结合，以确定晶体中晶格参数和晶相的存在。
在第二步中，根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
通常使用的方法是相对强度法和内部标定法。
相对强度法是通过比较不同晶相的强度峰来计算相对含量。
而内部标定法则是将一种已知晶相作为内部标定物质，通过测量其相对峰强来计算其他晶相的相对含量。
这种方法需要准确的内部标定物质来进行校准。
除了这两个步骤外，还需要考虑一些影响XRD物相定量分析的因素。
例如，样品制备和衍射仪的性能等。
样品制备需要保证样品的纯度、颗粒大小和十分的均匀性，以避免峰重叠和多相分析误差。
而衍射仪的性能则涉及到亮度、解析度和角度精确度等因素，对结果的准确性和精度有着重要的影响。
总体来说，XRD物相定量分析是一种重要的材料表征技术，可以准确测定材料中各种晶相的相对含量，并为材料的特性和性能提供重要的信息。
x射线衍射物相定量分析
x射线衍射物相定量分析X射线衍射物相定量分析（XRD）是一种利用X射线技术定量分析有机物质的分析方法。
它可以准确测量有机物质中不同元素的含量，以及有机物质的物相变化。
在定量分析后，可以得出分析结果，同时也可以依据定量结果，估算出物质中各种物相的质量分数比例。
X射线衍射物相定量分析是基于X射线衍射原理进行的分析法。
当X射线照射到样品上时，样品由于具有不同的密度、厚度和晶体结构，而会产生出不同的衍射现象。
而在相同的X射线源、同一距离处，不同物相的衍射特征是不同的，它们可以被量析出来。
此外，由于各物相的晶体结构也不同，因此，其衍射带特征也不同，如果能够对晶体结构进行分析，则可以更准确地分析 X线衍射物相定量分析的结果。
X射线衍射物相定量分析技术已经广泛应用于多个领域，如生物分析、化学分析、材料科学、分子结构分析以及金属物相组成分析等。
特别是在分析多元有机物质的物相及含量时，X射线衍射物相定量分析技术能够更加准确地获取有机物质的组成结构及元素含量比例。
X射线衍射物相定量分析技术具有良好的灵敏度，可以准确测量物质中微量元素的含量，并可以精确地分析有机物质物质中多种元素的含量。
此外，X射线衍射物相定量分析技术还具有良好的适应能力，可以测量不同种类、不同形式的有机物质，从而满足不同分析要求。
X射线衍射物相定量分析技术的应用范围很广，并且在科学技术领域中发挥着重要作用，被广泛应用于药物产生、食品安全检测、精细化学品组成分析等方面。
另外，X射线衍射物相定量分析技术还可以用于工业产品的质量控制，帮助企业更好地建立质量控制体系，从而提高产品质量和生产效率。
X射线衍射物相定量分析技术可以为企业提供更为准确有效的定量分析服务，为产品的质量管理提供科学的后盾。
未来，X射线衍射物相定量分析技术将会持续被广泛应用在各个领域，以服务更多的企业及科研领域。
实验一-X射线衍射技术及物相分析
实验一-X射线衍射技术及物相分析(总4页)--本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--实验一 X射线衍射技术及物相分析一、实验目的与要求1．学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理；2．掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；3．给定实验样品，设计实验方案，做出正确分析鉴定结果。
二、实验仪器本实验使用的仪器是Rigaku UltimaⅣX射线衍射仪。
主要由冷却循环水系统、X射线衍射仪和计算机控制处理系统三部分组成。
X射线衍射仪主要由X射线发生器即X射线管、测角仪、X射线探测器等构成。
射线管X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。
广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成,功率大部分在1～2千瓦。
可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为12～60千瓦。
常用的X射线靶材有W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。
X射线管线焦点为1×10平方毫米,取出角为3～6度。
此X射线管为密闭式，功率为2千瓦。
X射线靶材为Cu。
选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。
2．测角仪测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件，主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。
(1)衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。
如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规X射线管，出射角6°时，实际有效焦宽为毫米，成为×10平方毫米的线状X射线源。
(2)从S发射的X射线，其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后，照射试样。
这个狭缝称为发散狭缝(DS)，生产厂供给1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝和测角仪调整用0．05毫米宽的狭缝。
(3)从试样上衍射的X射线束，在F处聚焦，放在这个位置的第二个狭缝，称为接收狭缝(RS)．生产厂供给毫米、毫米、毫米宽的接收狭缝。
实验：X射线衍射法进行物相定性分析1
实验：X射线衍射法进行物相定性分析1
X射线衍射法是物相分析的一种重要手段，通过衍射图谱的分析可以确定样品的晶体结构和物相组成。
本实验选用了Cu管作为X射线管，通过旋转样品和测量X射线衍射的强度来获取样品的衍射图谱，并对其进行分析。
实验步骤：
1.制备样品：选用了两种不同晶体结构的样品，分别是纯Fe和无序的Fe-10Ni合金。
将样品研磨成细粉末，用细铜网包裹成小束，保持紧密。
2.测量样品的X射线衍射图谱：将Cu管电压设置为40kV，电流为30mA，使其发射X 射线，并将样品放置在样品台上，保持样品细铜网与X射线的垂直方向。
利用物理学中的蒙蒂卡洛法，通过许多随机数据点在样品和探测器间隔中计算出每个角度的强度数据。
在一定角度范围内旋转样品，利用计算机将每个角度的数据转化为强度数据，并绘制出样品的X射线衍射图谱。
分析结果：
分析纯Fe的衍射图谱，可以发现其峰位与标准铁的衍射图谱一致，证明其组成为纯Fe的晶体结构。
分析Fe-10Ni的衍射图谱，发现其具有明显的衍射峰，但是衍射峰的位置与标准Fe和Ni的衍射图谱均不一致，说明该样品为Fe-10Ni的无序合金，其晶体结构无规则分布。
总结：
本实验选用X射线衍射法对纯Fe和Fe-10Ni的样品进行了物相分析，并成功地确定了它们的晶体结构和物相组分。
X射线衍射法具有非破坏性、精度高、可重复性好等优点，是物相分析中重要的手段之一。
x射线衍射物相定量分析
x射线衍射物相定量分析X射线衍射物相定量分析是指以X射线衍射技术为手段，通过分析物质晶体衍射图中各种强度高低与衍射角获得的几何体参数，来实现物质晶体中各相的定量分析。
X射线衍射物相定量分析的基本原理是，在晶体系统内，分子和原子以一定的排列形式构成晶格，它们都具有一定的衍射力，当X射线照射到晶体表面时，晶格中的分子、原子会反射X射线，X射线经过晶格系统后折射到探测器上，探测器便会检测到衍射信号，由此可以根据衍射信号的强弱，推测出晶格结构的尺寸参数，从而完成物相定量分析。
X射线衍射物相定量分析的应用（1）物质成分分析：X射线衍射物相定量分析可以有效地检测物质的主要成分，它可以检测出金属晶体中的Fe，Al，Cr等元素，也可以检测出复杂的多相材料中的各种组分，从而实现对物质的成分分析。
（2）结构参数测定：X射线衍射物相定量分析可以检测出物质晶体的结构参数（晶体基轴长度、晶面间距等），从而实现对晶体结构参数的测定。
（3）物相定量分析：X射线衍射物相定量分析可以有效地检测复杂多相材料的物相及其所占的比例，它可以检测出金属材料中的各种组分以及占比，也可以检测出半导体材料中的各种组分和它们的体积比例，从而实现对物质的物相定量分析。
X射线衍射物相定量分析的优势（1）分析速度快：X射线衍射物相定量分析有较快的分析速度，可以快速准确地完成物质晶体结构参数、物质成分以及物相组成的定量分析。
（2）结果精确：X射线衍射物相定量分析可以实时反映物质晶体的结构参数、物质成分以及物相组成的情况，其结果的精确度较高。
（3）应用广泛：X射线衍射物相定量分析可以广泛应用于矿物学、金属材料、陶瓷材料、半导体材料和生物材料分析等领域，其应用非常广泛。
X射线衍射物相定量分析存在的缺陷（1）分析结果受环境影响较大：由于X射线衍射物相定量分析是将X射线作用于晶体表面，而X射线的传输受到环境的影响较为严重，因此其分析结果的准确性会受到影响。
（2）晶体尺寸要求较高：X射线衍射物相定量分析需要晶体在衍射时具有良好的晶体尺寸，否则衍射角可能会出现变形，从而影响结果的准确性。
实验3、X射线衍射定量分析讲义
实验十 X 射线衍射定量分析一、 实验目的熟悉X 射线衍射仪的使用，学会K 值法定量分析及Rietveld 定量分析方法。
二、 实验装置Brukey-axs D8 Advance 18KW X 射线粉末衍射仪三、 实验原理X 射线定量相分析的任务是用X 射线衍射技术，准确测定混合物中各相衍射强度，从而求出多相物质中各相含量。
X 射线定量相分析的理论基础是物质参与衍射的体积或重量与其所产生的衍射强度成正比。
因而，可通过衍射强度的大小求出混合物中某相参与衍射的体积分数或重量分数。
当不存在消光及微吸收时，均匀、无织构、无限厚、晶粒足够小的单相多晶物质所产生的积分强度 (并考虑原子热振动及吸收的影响) 为 :3222222()()()()32Mhkl oeI I N P F HKL e A V R mcλϕθθπ-= （1）式中I 0为入射光束强度，e ，m 分别为电子电量、质量、c 为光速。
λ为X 射线波长，N 为单位体积内的晶胞数，V 为试样被X 光照射体积，F hkl 为结构因子，P 为多重性因子，()ϕθ角因子，2Me-为温度因子，()A θ为吸收因子，对于平板试样，1()2lA θμ=；使用衍射仪测量时，R 为测角仪半径，l μ为样品的线吸收系数。
设多相物质含有N 个相，第j 相参加衍射的体积为V j ，当使用衍射仪测量时，第j 相某 (hkl) 衍射线的衍射强度：322222()()2322222()2()()[()()]3221()[()()]322.Kj Mj hkl o j hkl ljMoj hkl ljj hkl jlV eI I N P F H K L e R m c V eI N P F H K L eR m cV I C λϕθπμλϕθπμμ--=== (2)式中：32222221() ()()322Moj eC I K N P F HKL eR mcλϕθπ-== （3）在单位衍射体积的情况下，V ＝1, 体积分数j =V /V j ν,则(). (4)jj hkl jlI C Kνμ=多相物质线吸收系数l μ与质量吸收系数m μ的关系为1nl m j m j j W μρμρμ===∑，式中ρ是多相混合试样的密度。
X-射线粉末衍射法物相分析
X－射线粉末衍射法物相分析一、X-射线粉末衍射法物相分析原理X-射线衍射法物相分析，可分为定性分析和定量分析，本文主要介绍定性分析方法。
所谓X射线物相定性分析就是根据x射线对不同种晶体衍射而获得的衍射角、衍射强度数据，对晶体物相进行鉴定的方法。
晶体是由质点(原子、离子、分子)在空间周期地排列而构成的固体物质。
在粉末晶体或多晶样品中含有千千万万个小晶粒，它们杂乱无章、取向机遇地聚集在一起。
当一束单色x射线照射到某一个小晶粒上，由于晶体具有周期性的结构，当点阵面距d与X射线入射角θ之间应符合布拉格(Bragg)方程: 2 d(hkl)Sinθ＝λ时，就会产生衍射现象。
图1：晶体衍射示意图每一种结晶物质，都有其特定的结构参数，即点阵类型、晶胞大小、单胞中原子(离子或分子)的数目及其位置等等，而这些参数：在x射线的衍射图上均有所反映。
所以尽管物质的种类有千千万万，但却难以找到两种衍射图完全相同的物质。
粉末衍射线条的数目、位置及其强度，就象人的指纹一样，反映了每种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。
如果将几种物相混合进行x射线衍射，则所得到的衍射图将是各个单独物相的衍射图的简单迭加。
根据这一原理，就有可能从混合物的衍射图中将各个物相一个个鉴别出来。
混合物中某种物质的衍射强度与其在混合物中的含量成正比。
含量大，衍射强度大；否则变小。
二、X射线衍射仪为了获得晶体的x射线衍射图，目前多采用衍射仪法。
射仪法具有操作方便、速度快、衍射强度准确等优点。
1．基本结构。
X射线衍射仪基本包括三个部分：X射线发生器。
用于产生X射线，常用的阳极靶元素是Cu，入射X射线波长λ为1.54Å。
电子学系统。
将样品的衍射信号转换成一个与衍射强度成正比数字讯号用电脑记录下来。
测角仪。
测量X射线入射角，过滤入射线和衍射线，确定计数管位置。
三、结果处理1. 衍射图的标识。
样品标号，样品反应条件，如反应物、反应时间、反应温度等。
根据衍射峰位置及强度查索粉末衍射卡片确定样品物相，标出衍射峰对应衍射面的点阵面指数：hkl。
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№.5陕西科技大学学报Oct.2005Vol.23JOURNALOFSHAANXIUNIVERSITYOFSCIENCE&TECHNOLOGY・55・3文章编号:1000-5811(2005)05-0055-04X射线衍射物相定量分析吴建鹏,杨长安,贺海燕(陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西咸阳712081)摘要:在RigakuD/max22200pc型X,2定量分析所用的内标曲线和外标曲线,2完全一致,。
关键词:物相定量分析;内标法;中图分类号:O723:A0引言X射线衍射物相定量分析已被广泛的应用于材料科学与工程的研究中。
X射线衍射物相定量分析有内标法〔1〕、外标法〔2〕、绝热法〔3〕、增量法〔4〕、无标样法〔5,6〕、基体冲洗法〔7〕和全谱拟合法〔8〕等常规分析方法。
内标法、绝热法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有的物相较多,谱线复杂,再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。
基体冲洗法、无标样法和全谱拟合法等分析方法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。
外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测相物质制作工作曲线,这在实际应用中也是极为不便的。
本研究在RigakuD/max22200pc型X射线衍射仪分析软件的基础上,开发了X射线衍射物相定量分析中最常用的内标法和外标法,并对这两种分析方法进行了实验验证。
1原理设样品由N个物相组成,采用衍射仪测定时,由Alexander和Klug导出的N相中第J相的衍射强度公式为:IJ=KJ(1)式中:IJ———试样中J相衍射峰的积分强度;KJ———强度表达式中与试样的种类、数量均无关的常数项;VJ———试样中J相所占的体积百分数;μ ———试样的平均吸收系数。
(1)式就是X射线衍射物相定量分析的基本方程。
该式说明试样中J相的衍射强度IJ和J相所占的体积百分数VJ成正比,和样品的平均吸收系数μ 成反比。
μ若以VM和μM分别表示除J相外试样的体积百分数和平均线吸收系数,则:=μJVJ+μMVM,因VJ+VM=1,故(1)式可写成:IJ=VJ(μJ-μM)+μM(2)3收稿日期:2005-03-27作者简介:吴建鹏(1961-),男,陕西省武功县人,副教授,研究方向:无机非金属材料及XRD检测・56・陕西科技大学学报第23卷(2)式中的体积百分数VJ以WJ(质量分数)代入,得:WJ=ρMVJρJ+VM所以:IJ=ρJ[WJ(μJ/ρJ-μM/ρM)+μM/ρM](3)式中:WJ———J物质的质量分数;μ——除J相外试样的平均质量吸收系数。
M/ρM—)=(μ)JWJ+(μ)M(1-WJ),故(3)式可写成:因(μ /ρ/ρ/ρIJ=ρJ(μ) /ρ(μ) /ρ(4)因ρJ仅取决于被检的J物质,可视为常数,所以IJJ(5))N。
式中:(μ /ρ该式说明J相的衍射强度与J相在样品中的质量分数WJ,。
1.1内标法在样品中混入一定量的已知物质,测定已知物质和被测物相的衍射强度,以其强度比作图,可得样品的平均质量吸收系数的变化值。
现在m克样品中加入n克内标样(已知),那么混合样品中的内标物质和被检相(即J 相)的质量分数分别为n/(m+n)和mWJ/(m+n)。
若以IJ和IS分别表示J相和内标物质S的衍射线强度,代入(5)式得:IJ=KJIs=KS)/(μ /ρm+)/(μ /ρm+WJn(6)IJ/IS=KJS式中:KJS=KJ/KS。
若m/n为常数,即得出:IJ/IS=K1WJ。
该式表明,在待测样品中加入一定比例的内标物质时,不管待测样品的平均线吸收系n式中:K1=KJS数如何变化,被测相的浓度WJ与衍射线强度比IJ/IS呈线性关系。
若以这种方法作出定标曲线,则在被测样品中每次以一定的比例加入标样,以此法计算两衍射线的强度比,作出一系列对应的检量线,就可以作定量计算了。
1.2外标法外标法是用对比试样中待测的第J相的某条衍射线和纯J相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获得第J相含量的方法。
原则上它只能用于两相系统。
μμμ设试样中两相的质量吸收系数分别为(μm)1和(m)2,则μm=(m)1W1+(m)2W2,那么:I1=BCJ(μμm)1W1+(m)2W2因W1+W2=1,故I1=BCJW1[(μm)1μ-(μm)2]+(m)2(7)式中:B是一个只与实验条件有关的常数;而CJ只与第J相的结构和实验条件有关,一般为常数。
第5期吴建鹏等:X射线衍射物相定量分析・57・若以(I1)0表示纯的第一相物质(W2=0,W1=1)的某衍射线的强度,则:(I1)0=BCJ(μm)1于是I1/(I1)0=μμW1[(μm)1-(m)2]+(m)2(8)由此可见,在两相系统中若各相的质量吸收系数已知,则只要在相同实验条件下测定待测试样中某一相的某条衍射线强度I1,然后再测出该相的纯物质的同一条衍射线强度(I1)0数W1。
2实验2.1实验条件α辐射,闪烁计数器前加石墨单色器,用RigakuD/max2,CuK管压:40kV,,,光阑系统为DS=SS=1°,RS=0.3mm。
每个样品填入θ步进扫描方式,步长0.02°深度为0.5mm,。
采用θ～2,定时计数时间为2s。
,每个样品均经2次制样并重复测量,测量数据经计算机程序处理给出平滑、扣除背景和Kα剥离后的积分强度,对各次测定值进行统计平均得到实验强度2值。
2.2内标曲线的制作和验证测量本文以SiO2为例,制作了测定混合物中SiO2时的内标曲线。
以Si粉作为内标物,配制表1所示的4组样品,样品中各组分均采用分析纯试剂,采用电子天平称重,在玛瑙研钵中充分混合均匀,每个样品的质θ=20.56°)和(101)峰(2θ=量在1～2g之间。
按上述实验条件分别测量SiO2的(100)峰(2～21.20°)以及Si的(111)峰(2θ=27.88°)。
26.12°～27.12°～28.92°测量完成后即可按程序作出SiO2的内标曲线。
表1制作SiO2内标曲线的样品配比样品号1234SiO2/(wt%)20.0040.0060.0080.00其它物质3()80.0060.0040.0020.00Si/(wt%)20.0020.0020.0020.003由固定配比的Al2O3和Fe2O3组成。
按表2配制样品,仍以Si粉作为内标物。
按上述相同条件测量各样品SiO2的(100)峰和(101)峰以及Si的(111)峰,然后即可按程序算出各样品中SiO2的质量分数(见表2)。
表2验证样品的配比及SiO2的测量值SiO2/(wt%)样品号567配比值5.0025.0065.00实测值内部法5.6026.8465.47外标法6.1326.2163.66其它物质3/(wt%)95.0075.0035.00Si/(wt%)20.0020.0020.003同表1条件。
2.3外标曲线的制作和验证测量仍以SiO2为例,制作了测定混合物中SiO2时的外标曲线。
和表1制作SiO2内标曲线的样品配比完全一样配制4个样品,只是每个样品中不加内标物Si粉。
按照同样的方法测量各样品SiO2的(100)峰和・58・陕西科技大学学报第23卷(101)峰,然后即可按程序作出SiO2的外标曲线。
按表2一样的比例配制样品,每个样品也不加内标物Si粉。
以相同的测量条件测每个样品SiO2的(100)峰和(101)峰,然后即可按程序算出各样品中SiO2的质量分数(见表2)。
3分析讨论由表2的实验结果可知,无论是内标法还是外标法,各样品中的SiO2配比含量和测定含量都是比较接近的,说明这两种测定方法是可以用于待测样品的X,内标法的测定结果比外标法更接近于配比值,,。
虽然理论上内标法的测量误差小于外标法,样品中待测物相的衍射峰重叠,,但无须向样品中添加内标物,操作简单,,外标法适用于两相物质的测量,但经多次测量发现(),对于多相混合物的测量仍能满足材料科学与工程的研究需要。
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