光刻胶大全

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光刻胶及周边材料可修改文字

光刻胶及周边材料可修改文字
34
表面防反射膜(利用光干涉现象)
靠不同材料折射率不同来改善(含氟较多)
1. 厚度d调整相位: 2. 折射率调整最佳条件:
n2 n3
倍晶 35
无TARC
表面防反射膜(TARC<30-70nm)可以解决打洞不良
倍晶 36
有TARC
TFT制作
倍晶
光刻胶
37
液晶显示彩色和OLED
TFT: 液晶, OLED 彩胶: 液晶显示
②. Photo spacer
film
LTOC(Passivation)
Ti/Al/Ti SiNx
Ti/Al/Ti SiN
③. Organic Insulator
倍晶 8
光刻胶工艺需要整个高纯材料产业链支持
成膜材料
无机气体 涂膜型
光刻胶
正胶
树脂
光敏剂/光酸 高纯溶剂
酚醛树脂 g-h-i-
PHS 248nm 亚克力 193nm 聚酰亚胺 PI PAC (焦性没食子酸由来)
120C
81.0 19.7
140C
69.1 31.6
160C
CD (nm) 缩小量(纳米)
倍晶
140.0 -
125.0 15.0
124.5 15.5
122.3 17.7
烘烤工艺
显影 槽沟尺寸变小
40
防倒塌材料:光刻胶需要一定高度,尺寸变小后会倒塌
TMAH Developer
Photoresis t
倍晶
有機EL表示素子(TFT)の横断面概略 1.封止層 2.負極 3.有機半導体 4.正極 5.直流駆動回路 6.TFT
38
洞缩小及槽沟缩小材料(光刻胶性能延伸)AZ RELACS / TOK Saphire

光刻胶介绍模板

光刻胶介绍模板

````4. 光刻胶之宇文皓月创作光刻胶主要由树脂(Resin)、感光剂(Sensitizer)、溶剂(Solvent)及添加剂(Additive)等分歧的资料按一定比例配制而成。

其中树脂是粘合剂(Binder),感光剂是一种光活性(Photoactivity)极强的化合物,它在光刻胶内的含量与树脂相当,两者同时溶解在溶剂中,以液态形式保管,以便于使用。

4.1 光刻胶的分类⑴负胶1.特点·曝光部分会发生交联(Cross Linking),使其结构加强而不溶于现像液;·而未曝光部分溶于现像液;·经曝光、现像时,会有膨润现像,导致图形转移不良,故负胶一般不必于特征尺寸小于3um的制作中。

2.分类(按感光性树脂的化学结构分类)经常使用的负胶主要有以下两类:·聚肉桂酸酯类光刻胶这类光刻胶的特点,是在感光性树脂分子的侧链上带有肉桂酸基感光性官能团。

如聚乙烯醇肉桂酸酯(KPR胶)、聚乙烯氧乙基肉桂酸酯(OSR胶)等。

·聚烃类—双叠氮类光刻胶这种光刻胶又叫环化橡胶系光刻胶。

它由聚烃类树脂(主要是环化橡胶)、双叠氮型交联剂、增感剂和溶剂配制而成。

3.感光机理①肉桂酸酯类光刻胶KPR胶和OSR胶的感光性树脂分子结构如下:在紫外线作用下,它们侧链上的肉桂酰官能团里的炭-炭双键发生二聚反应,引起聚合物分子间的交联,转变成不溶于现像液的物质。

KPR胶的光化学交联反应式如下:这类光刻胶中的高分子聚合物,不但能在紫外线作用下发生交联,而且在一定温度以上也会发生交联,从而在现像时留下底膜,所以要严格控制前烘的温度与时间。

②聚烃类—双叠氮类光刻胶这类光刻胶的光化学反应机理与前者分歧,在紫外线作用下,环化橡胶分子中双键自己不克不及交联,必须有作为交联剂的双叠氮化合物介入才干发生交联反应。

交联剂在紫外线作用下发生双自由基,它和聚烃类树脂相作用,在聚合物分子之间形成桥键,变成三维结构的不溶性物质。

光刻胶知识简介

光刻胶知识简介

光刻胶知识简介光刻胶知识简介:一.光刻胶的定义(photoresist)又称光致抗蚀剂,由感光树脂、增感剂(见光谱增感染料)和溶剂三种主要成分组成的对光敏感的混合液体。

感光树脂经光照后,在曝光区能很快地发生光固化反应,使得这种材料的物理性能,特别是溶解性、亲合性等发生明显变化。

经适当的溶剂处理,溶去可溶性部分,得到所需图像(见图光致抗蚀剂成像制版过程)。

二.光刻胶的分类光刻胶的技术复杂,品种较多。

根据其化学反应机理和显影原理,可分负性胶和正性胶两类。

光照后形成不可溶物质的是负性胶;反之,对某些溶剂是不可溶的,经光照后变成可溶物质的即为正性胶。

利用这种性能,将光刻胶作涂层,就能在硅片表面刻蚀所需的电路图形。

基于感光树脂的化学结构,光刻胶可以分为三种类型。

①光聚合型采用烯类单体,在光作用下生成自由基,自由基再进一步引发单体聚合,最后生成聚合物,具有形成正像的特点。

②光分解型采用含有叠氮醌类化合物的材料,经光照后,会发生光分解反应,由油溶性变为水溶性,可以制成正性胶.③光交联型采用聚乙烯醇月桂酸酯等作为光敏材料,在光的作用下,其分子中的双键被打开,并使链与链之间发生交联,形成一种不溶性的网状结构,而起到抗蚀作用,这是一种典型的负性光刻胶。

柯达公司的产品KPR胶即属此类。

三.光刻胶的化学性质a、传统光刻胶:正胶和负胶。

光刻胶的组成:树脂(resin/polymer),光刻胶中不同材料的粘合剂,给与光刻胶的机械与化学性质(如粘附性、胶膜厚度、热稳定性等);感光剂,感光剂对光能发生光化学反应;溶剂(Solvent),保持光刻胶的液体状态,使之具有良好的流动性;添加剂(Additive),用以改变光刻胶的某些特性,如改善光刻胶发生反射而添加染色剂等。

负性光刻胶。

树脂是聚异戊二烯,一种天然的橡胶;溶剂是二甲苯;感光剂是一种经过曝光后释放出氮气的光敏剂,产生的自由基在橡胶分子间形成交联。

从而变得不溶于显影液。

负性光刻胶在曝光区由溶剂引起泡涨;曝光时光刻胶容易与氮气反应而抑制交联。

光刻胶常用型号

光刻胶常用型号

光刻胶常用型号
光刻胶是一种对光敏感的混合液体,广泛应用于微电子技术中的微细图形加工。

光刻胶的常用型号包括紫外正性光刻胶、紫外负性光刻胶、深紫外光刻胶、X射线胶、电子束胶、离子束胶等。

这些型号的光刻胶主要区别在于曝光光源和辐射源的不同。

1.紫外正性光刻胶:以日本合成橡胶、东京应化、住友化学、信越化学、陶
氏化学等企业为主,市场份额超过85%。

紫外正性光刻胶是通过紫外光的照射来溶解部分光刻胶,从而形成所需的图像。

这种光刻胶主要用于集成电路和印刷工业领域。

2.紫外负性光刻胶:在曝光部分被保留下来,未曝光部分则被溶解,因此主
要应用于半导体材料的加工。

3.深紫外光刻胶:以波长小于300nm的深紫外激光或电子束为曝光源,具
有更高的分辨率和更短的曝光时间。

4.X射线胶:以X射线为曝光源,具有更高的分辨率和更短的曝光时间,
主要用于高精度和高分辨率的微细图形加工。

5.电子束胶:以电子束为曝光源,具有更高的能量和更短的曝光时间,主要
用于高精度和高分辨率的微细图形加工。

6.离子束胶:以离子束为曝光源,具有更高的能量和更短的曝光时间,主要
用于高精度和高分辨率的微细图形加工。

光刻胶的生产技术较为复杂,品种规格较多,主要应用于电子工业和印刷工业领域。

在电子工业中,光刻胶主要用于集成电路和半导体分立器件的制造;在印刷工业中,光刻胶主要用于PCB(印制电路板)的制造。

总的来说,光刻胶是一种重要的微电子材料,其性能和品质对微细图形加工的质量和效率有着重要影响。

不同型号的光刻胶具有不同的特性和用途,需要根据具体的应用场景选择合适的光刻胶型号。

光刻胶photoresist性能及发展趋势简介

光刻胶photoresist性能及发展趋势简介

光刻胶成分:树脂(resin)、感光剂(photo active compound)和溶剂(solvent)。

树脂是一种有机聚合物,他的分子链长度决定了光刻胶的许多性质。

长链能增加热稳定性,增加抗腐蚀能力,降低曝光部分的显影速度,而短链能增加光刻胶和基底间的吸附,因此一般光刻胶树脂的长度为8-20个单体。

对于正性(positive tone)光刻胶,感光剂在曝光后发生化学反应,增加了树脂在显影液中的溶解度,从而使得曝光部分在显影过程中被冲洗掉;对于负性(negative tone)光刻胶,感光剂在曝光后诱导树脂分子发生交联(cross linking),使得曝光部分不被显影液溶解。

溶剂保持光刻胶的流动性,因此通过甩胶能够形成非常薄的光刻胶。

光刻胶的主要技术参数:1.分辨率(resolution)。

通常用关键尺寸(Critical Dimension)来衡量,CD越小,光刻胶的分辨率越高。

光刻胶的厚度会影响分辨率,当关键尺寸比光刻胶的厚度小很多时,光刻胶高台会塌陷,产生光刻图形的变形。

光刻胶中树脂的分子量会影响刻线的平整度,用小分子代替聚合物会得到更高的极限分辨率1。

另外,在化学放大光刻胶(CAR)中,光致产酸剂的扩散会导致图形的模糊,降低分辨率2。

2.对比度(contrast)。

指光刻胶曝光区到非曝光区侧壁的陡峭程度。

对比度越大,图形分辨率越高。

3.敏感度(sensitivity)。

对于某一波长的光,要在光刻胶上形成1/news177697613.html2G.M. Wallraff, D.R. Medeiros, Proc. SPIE 5753 (2005) 309.图像需要的最小能量密度值称为曝光的最小剂量,单位mJ/cm,通常用最小剂量的倒数也就是灵敏度来衡量光刻胶对光照的灵敏程度和曝光的速度。

灵敏度越高,曝光完成需要的时间越小。

通过曝光曲线,我们可以直观地看到对比度、分辨率和敏感度。

上图为ABC三种光刻胶的曝光曲线。

光刻胶

光刻胶

D100
对比度是图中对数坐标下对比度曲线的斜率,表示光刻胶
区分掩模上亮区和暗区的能力的大小,即对剂量变化的敏感程
度。灵敏度曲线越陡,D0 与 D100 的间距就越小,则 就越大,
这样有助于得到清晰的图形轮廓和高的分辨率。一般光刻胶的
对比度在 0.9 ~ 2.0 之间。对于亚微米图形,要求对比度大于 1。
感光分子吸收λ = 300 nm 的光能(88 Kcal)后,电子跃迁 到第二激发态 S2 ,此态的谷底势能恰好与 S1 态当 RN-N2 分解 时的势能相当,且 S2 与 S1 态的曲线在图左侧有相交之处,因此 电子可从 S2 态跃迁到 S1 态并立即反应。所以用λ = 300 nm 的光 曝光比用λ = 365 nm 的反应速度快。
2 光刻胶的特性
1、灵敏度 灵敏度的定义 单位面积上入射的使光刻胶全部发生反应的最小光能量或 最小电荷量(对电子束胶),称为光刻胶的灵敏度,记为 S , 也就是前面提到过的 D100 。S 越小,则灵敏度越高。 灵敏度太低会影响生产效率,所以通常希望光刻胶有较高 的灵敏度。但灵敏度太高会影响分辨率。
出现最低剂量时不少于规定剂量的 90%,也即 N N 10% 。
由此可得 Nmin 100 。因此对于小尺寸曝光区,必须满足
S q
(Lmin )2

N min
Lmin
Nminq 10 q
S
S
Lmin
Nminq 10 q
S
S
式中,Lmin 为最小尺寸,即分辨率。可见,若灵敏度越高(即 S 越小),则 Lmin 就越大,分辨率就越差。
1 TR
是无量纲常数,可见减薄胶膜厚度有利于提高对比度和分辨率。

光刻胶参数及光刻工艺

光刻胶参数及光刻工艺

光刻胶参数及光刻工艺1、正性光刻胶RZJ-304●规格RZJ-304:25mpa·s,50mpa·s(粘稠度),配用显影液:RZX-3038●匀胶曲线注:粉色为50cp,蓝色为25cp●推荐工艺条件①涂布:23℃,旋转涂布,膜厚1.0~3.5μm②前烘:热板100℃×90sec③曝光:50~75mj/cm2(计算方法:取能量60mj/cm2取光强400×102um/cm2,则60/40=1.5s)④显影:23℃,RZX-3038,1min,喷淋或浸渍⑤清洗:去离子水30sec⑤后烘:热板120℃×120sec●规格S1813,配用显影液为ZX-238●匀胶曲线●推荐工艺条件1(以具体工艺为参考)①涂布:23℃,旋转涂布,膜厚1.23um(1.1~1.9μm)②前烘:热板115℃×60sec③曝光:150mj/cm2④显影:21℃,ZX-238,65sec,喷淋或浸渍⑤清洗:去离子水30sec⑥后烘:热板125℃×120sec●规格AZ-5214,配用显影液AZ-300●匀胶表格(单位:微米)●推荐工艺条件1(以具体工艺为参考)①涂布:23℃,旋转涂布,膜厚1.47um(1.14~1.98μm)②前烘:热板100℃×90sec③曝光:240mj/cm2④后烘:115℃×120sec⑤泛曝光:>200mj/cm2⑥显影:21℃,AZ-300,60sec,喷淋或浸渍⑦清洗:去离子水30sec⑧坚膜:热板120℃×180sec注意:紧急救护措施(对于光刻胶)①吸入:转移至空气新鲜处,必要时进行人工呼吸或就医。

②皮肤接触:肥皂水清洗后自来水清洗。

③眼睛接触:流动清水清洗15分钟以上,必要时就医。

光刻胶大全

光刻胶大全

光刻胶产品前途无量(半导体技术天地)1前言光刻胶(又名光致抗蚀剂)是指通过紫外光、电子束、准分子激光束、X射线、离子束等曝光源的照射或辐射,使溶解度发生变化的耐蚀刻薄膜材料,主要用于集成电路和半导体分立器件的细微图形加工,近年来也逐步应用于光电子领域平板显示器(FPD)的制作。

由于光刻胶具有光化学敏感性,可利用其进行光化学反应,经曝光、显影等过程,将所需要的微细图形从掩模版转移至待加工的衬底上,然后进行刻蚀、扩散、离子注入等工艺加工,因此是电子信息产业中微电子行业和光电子行业微细加工技术的关键性基础加工材料。

作为经曝光和显影而使溶解度增加的正型光刻胶多用于制作IC,经曝光或显影使溶解度减小的负型光刻胶多用于制作分立器件。

2国外情况随着电子器件不断向高集成化和高速化方向发展,对微细图形加工技术的要求越来越高,为了适应亚微米微细图形加工的要求,国外先后开发了g线(436nm)、i线(365nm)、深紫外、准分子激光、化学增幅、电子束、X射线、离子束抗蚀剂等一系列新型光刻胶。

这些品种较有代表性的负性胶如美国柯达(Kodak)公司的KPR、KMER、KLER、KMR、KMPR等;联合碳化学(UCC)公司的KTI系列;日本东京应化(Tok)公司的TPR、SVR、OSR、OMR;合成橡胶(JSR)公司的CIR、CBR系列;瑞翁(Zeon)公司的ZPN系列;德国依默克(E.Merk)公司的Solect等。

正性胶如:美国西帕来(Shipely)公司的AZ系列、DuPont公司的Waycot系列、日本合成橡胶公司的PFR等等。

2000~2001年世界市场光刻胶生产商的收益及市场份额公司2001年收益2001年市场份额(%)2000年收益2000年市场份额(%)Tokyo Ohka Kogyo 150.122.6216.525.2Shipley 139.221.0174.620.3JSR117.617.7138.416.1Shin-Etsu Chemical 70.110.674.28.6Arch Chemicals 63.79.684.19.8其他122.218.5171.620.0总计662.9100.0859.4100.0Source:Gartner Dataquest目前,国际上主流的光刻胶产品是分辨率在0.25µm~0.18µm的深紫外正型光刻胶,主要的厂商包括美国Shipley、日本东京应化和瑞士的克莱恩等公司。

光刻胶分类

光刻胶分类

光刻胶分类光刻胶是一种在半导体制造过程中广泛应用的材料,其主要作用是在芯片制作过程中对光进行精确控制,从而实现微米级甚至纳米级的图形化。

根据不同的特性和用途,光刻胶可以分为不同的类型,下面将介绍几种常见的光刻胶分类。

一、紫外光刻胶紫外光刻胶是应用最为广泛的一类光刻胶,其特点是对紫外光具有很好的敏感性,可以在紫外光的照射下发生化学反应,形成所需的图形。

紫外光刻胶通常用于制作晶体管、集成电路等微米级器件。

二、电子束光刻胶电子束光刻胶是另一种常见的光刻胶类型,其特点是对电子束具有很好的敏感性,可以在电子束的照射下发生化学反应,实现微米级甚至纳米级的图形化。

电子束光刻胶通常用于制作高精度、高密度的微电子器件。

三、X射线光刻胶X射线光刻胶是一种对X射线具有很好敏感性的光刻胶,可以在X 射线的照射下发生化学反应,实现纳米级甚至更高分辨率的图形化。

X射线光刻胶通常用于制作特殊要求的微纳米器件,如MEMS器件、光子器件等。

四、多层光刻胶多层光刻胶是一种将不同类型的光刻胶层叠加在一起使用的光刻胶,通过控制不同层光刻胶的性质和厚度,可以实现复杂的器件结构和功能。

多层光刻胶通常用于制作具有多层次结构的微纳米器件,如光子晶体、纳米线阵列等。

五、化学增强光刻胶化学增强光刻胶是一种利用化学反应增强图形分辨率和形状控制的光刻胶,通过添加特定的化学试剂或催化剂,可以实现更高分辨率和更复杂的图形化。

化学增强光刻胶通常用于制作高分辨率、高精度的微纳米器件,如生物芯片、传感器等。

光刻胶的分类不仅仅是根据其对光或电子束的敏感性,还包括了其具体的应用领域和要求。

不同类型的光刻胶在半导体制造和微纳米器件制作中扮演着不同的角色,通过选择合适的光刻胶类型和工艺参数,可以实现更高效、更精确的器件制作。

在未来的微纳米制造中,光刻胶的分类和研究将继续发挥重要作用,推动着微电子技术和纳米技术的发展。

光刻胶知识大全

光刻胶知识大全

光刻胶知识大全光刻胶(Photo Resist)光刻胶的定义及主要作用光刻胶是一种有机化合物,它受紫外光曝光后,在显影液中的溶解度会发生变化。

一般光刻胶以液态涂覆在硅片表面上,曝光后烘烤成固态。

光刻胶的作用:a、将掩膜板上的图形转移到硅片表面的氧化层中;b、在后续工序中,保护下面的材料(刻蚀或离子注入)。

光刻胶起源光刻开始于一种称作光刻胶的感光性液体的应用。

图形能被映射到光刻胶上,然后用一个developer就能做出需要的模板图案。

光刻胶溶液通常被旋转式滴入wafer。

如图wafer被装到一个每分钟能转几千转的转盘上。

几滴光刻胶溶液就被滴到旋转中的wafer 的中心,离心力把溶液甩到表面的所有地方。

光刻胶溶液黏着在wafer上形成一层均匀的薄膜。

多余的溶液从旋转中的wafer上被甩掉。

薄膜在几秒钟之内就缩到它最终的厚度,溶剂很快就蒸发掉了,wafer上就留下了一薄层光刻胶。

最后通过烘焙去掉最后剩下的溶剂并使光刻胶变硬以便后续处理。

镀过膜的wafer对特定波成的光线很敏感,特别是紫外(UV)线。

相对来说他们仍旧对其他波长的,包括红,橙和黄光不太敏感。

所以大多数光刻车间有特殊的黄光系统。

光刻胶的主要技术参数a、分辨率(resolution)。

区别硅片表面相邻图形特征的能力。

一般用关键尺寸(CD,Critical Dimension)来衡量分辨率。

形成的关键尺寸越小,光刻胶的分辨率越好。

b、对比度(Contrast)。

指光刻胶从曝光区到非曝光区过渡的陡度。

对比度越好,形成图形的侧壁越陡峭,分辨率越好。

;c、敏感度(Sensitivity)。

光刻胶上产生一个良好的图形所需一定波长光的最小能量值(或最小曝光量)。

单位:毫焦/平方厘米或mJ/cm2。

光刻胶的敏感性对于波长更短的深紫外光(DUV)、极深紫外光(EUV)等尤为重要。

d、粘滞性/黏度(Viscosity)。

衡量光刻胶流动特性的参数。

粘滞性随着光刻胶中的溶剂的减少而增加;高的粘滞性会产生厚的光刻胶;越小的粘滞性,就有越均匀的光刻胶厚度。

光刻胶概念一览表

光刻胶概念一览表

光刻胶概念一览表
光刻胶是一种特殊的材料,用于制作微电子和微加工领域的器件。

它的主要作
用是用于印刷图形或电路模式,让电路图案可以被传输到硅片上。

光刻胶的定义
光刻胶是一种高分子化合物,常见于半导体制造工艺中,用于制造芯片、电路板、半导体元件等微型加工产品的过程中。

它主要作为一种遮盖层,在显影过程中会被去掉,然后在后续的加工过程中,通过对被保护的区域进行刻蚀或沉积等处理,得到我们所需要的所需的模式或装配。

光刻胶的分类
各种光刻胶类型
•喷雾光刻胶
•溶液光刻胶
•热致变色光刻胶
•电子束光刻胶
•紫外线光刻胶
光刻胶的性质
•光刻胶的敏感性和消光度
•光刻胶的分辨率
•光刻胶的粘附力和刚性
•光刻胶的耐化学性和耐热性
光刻胶的应用
•与硅片的结合
•完成常用的光阻工艺
•用于制作光学元器件和显示器组件
光刻胶的未来发展
由于半导体行业和移动设备市场的快速增长,越来越多的光刻胶技术得到了广
泛应用。

光刻胶一直在不断地发展和创新,未来将继续向更高的分辨率、更高的灵敏性、更快的曝光速度和更低的成本方面发展。

结论
光刻胶是一种非常重要的材料,广泛应用于微电子和微加工领域,随着新技术的出现,它的性能和应用范围也在不断提升。

虽然光刻胶已经成为了半导体器件和光学器件的主流材料之一,但是它在未来的发展过程中,仍然需要更多的技术创新和应用探索。

光刻胶的分类

光刻胶的分类

光刻胶的分类
光刻胶(Photoresist)是一种在光刻工艺中使用的化学物质,
主要用于半导体和微电子器件的制造中。

根据其化学特性和用途,光刻胶可以分为以下几类:
1. 乙烯基光刻胶(Evolvable Status Imaging Resist,ESIR):
使用持久性较强的光致溶解性实现图案转移。

2. 菲涅耳光刻胶(Fresnel Imaging Resist,FIR):主要用于X
射线和伪光学的光刻工艺中,可以实现高分辨率图案转移。

3. 改性聚苯乙烯光刻胶(Modified Polystyrene Resist,MSR):具有良好的光刻性能,适用于一般的光刻工艺。

4. 紫外光刻胶(Ultraviolet Photoresist,UVPR):适用于紫外
光刻工艺,通常用于半导体器件制造。

5. 电子束光刻胶(Electron Beam Resist,EBR):适用于电子
束光刻工艺,常用于微细图案的制备。

此外,根据光刻胶的性质和制备方式,还可以将其分为正胶(Positive Resist)和负胶(Negative Resist)两类。

正胶在光
照后,被光固化的部分会变得溶解性差,而未受光照的部分溶解性较好;负胶则相反,即光照后被固化的部分溶解性较好,未受光照的部分溶解性差。

光刻胶分类

光刻胶分类

光刻胶分类在平板显示行业;主要使用的光刻胶有彩色及黑色光刻胶、LCD触摸屏用光刻胶、TFT-LCD正性光刻胶等。

在光刻和蚀刻生产环节中,光刻胶涂覆于晶体薄膜表面,经曝光、显影和蚀刻等工序将光罩(掩膜版)上的图形转移到薄膜上,形成与掩膜版对应的几何图形。

在PCB行业;主要使用的光刻胶有干膜光刻胶、湿膜光刻胶、感光阻焊油墨等。

干膜是用特殊的薄膜贴在处理后的敷铜板上,进行曝光显影;湿膜和光成像阻焊油墨则是涂布在敷铜板上,待其干燥后进行曝光显影。

在半导体集成电路制造行业;主要使用g线光刻胶、i线光刻胶、KrF光刻胶、ArF光刻胶等。

在大规模集成电路的制造过程中,一般要对硅片进行超过十次光刻。

在每次的光刻和刻蚀工艺中,光刻胶都要通过预烘、涂胶、前烘、对准、曝光、后烘、显影和蚀刻等环节,将光罩(掩膜版)上的图形转移到硅片上。

光刻胶是集成电路制造的重要材料:光刻胶的质量和性能是影响集成电路性能、成品率及可靠性的关键因素。

光刻工艺的成本约为整个芯片制造工艺的35%,并且耗费时间约占整个芯片工艺的40%-50%。

光刻胶材料约占IC制造材料总成本的4%,市场巨大。

因此光刻胶是半导体集成电路制造的核心材料。

按显示效果分类;光刻胶可分为正性光刻胶和负性光刻胶。

负性光刻胶显影时形成的图形与光罩(掩膜版)相反;正性光刻胶形成的图形与掩膜版相同。

两者的生产工艺流程基本一致,区别在于主要原材料不同。

按照化学结构分类;光刻胶可以分为光聚合型,光分解型,光交联型和化学放大型。

光聚合型光刻胶采用烯类单体,在光作用下生成自由基,进一步引发单体聚合,最后生成聚合物;光聚合反应示意图光分解型光刻胶,采用含有重氮醌类化合物(DQN)材料作为感光剂,其经光照后,发生光分解反应,可以制成正性光刻胶;光交联型光刻胶采用聚乙烯醇月桂酸酯等作为光敏材料,在光的作用下,形成一种不溶性的网状结构,而起到抗蚀作用,可以制成负性光刻胶。

光分解示意图按照曝光波长分类;光刻胶可分为紫外光刻胶(300~450nm)、深紫外光刻胶(160~280nm)、极紫外光刻胶(EUV,13.5nm)、电子束光刻胶、离子束光刻胶、X射线光刻胶等。

负性光刻胶MSDS(BN308)

负性光刻胶MSDS(BN308)

第十四部分 运输信息
危险货物编号: 包装标志: 包装方法:
运输注意事项:
33647
UN 编号:
易燃液体
包装类别:
耐螺纹口玻璃瓶,纸板类外包装。
搬运时轻装轻卸,保持包装完整
第十五部分 法规信息
1992 Ⅲ类
项目
国内化学品安 全管理法规:
标准号
GB13690-1992 GB16483-2000 GB6944-2005 GB12268-2005
穿防毒物渗透工作服 戴橡胶耐油手套。
工作现场严禁吸烟。工作毕,淋浴更衣。
第九部分 理化特性
外观与性状:
棕黄色液体
PH 值:
无意义
熔点(℃):
-47.9
沸点(℃):
138.4
饱和蒸气压(kPa): 无资料
临界温度(℃): 无资料
辛醇/水分配系数的对数值:
闪点(℃):
27.2℃
引燃温度(℃): 525
溶解性:
1992第十五部分法规信息项目标准号gb136901992gb164832000法规名称常用危险化学品的分类及标志化学品安全技术说明书编写规定危险货物分类与品名编号危险货物品名表危险化学品名录危险化学品安全管理条例危险货物运输包装类别划分原则生效日期19930701200006012005110120111201国内化学品安gb122682005全管理法规
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半导体用的光刻胶

半导体用的光刻胶

半导体用的光刻胶
在半导体制造过程中,光刻技术是一种关键的步骤,而用于光刻的光刻胶(Photoresist)是其中的重要材料。

光刻胶主要用于半导体芯片制造中的图案转移过程,即将芯片上的设计图案转移到硅片上。

以下是一些常见用于半导体光刻的光刻胶类型:
正相光刻胶(Positive Photoresist):此类光刻胶在曝光后会变得更容易溶解。

光刻胶的曝光部分变得溶解性较强,而未曝光部分则相对固化。

这种胶适用于需要显影出曝光区域的情况。

负相光刻胶(Negative Photoresist):与正相光刻胶相反,负相光刻胶在曝光后未被曝光的区域变得更容易溶解。

这种胶适用于需要显影出未曝光区域的情况。

增感剂光刻胶(Chemically Amplified Photoresist,CAR):这种光刻胶利用化学放大的原理,通过在显影过程中引入酸或碱等增感剂,实现对图案的精确控制,提高分辨率。

环氧光刻胶:主要应用于一些高分辨率和高温要求的工艺,因其耐高温性能而在一些特定的半导体工艺中得到使用。

在选择光刻胶时,制造商会根据具体的工艺需求、分辨率要求和其他性能参数来选择合适的光刻胶类型。

这些光刻胶在制程中起到了至关重要的作用,确保了半导体芯片上精密图案的准确转移。

AZ_PR光刻胶的数据资料

AZ_PR光刻胶的数据资料

DUV光刻胶系列 AZ DX3200P系列 应用于通孔图形的KrF正型光刻胶
KrF Excimer Laser Positive-tone Photoresist for Contact Hole
12
AZ DX5200P系列 应用于沟槽及通孔图形的超高分辨率KrF正型光刻胶 厚膜光刻胶系列
KrF Excimer Laser Positive-tone Photoresist for Contace Hole and Trench
目录
G线/I线/G线I线通用光刻胶系列
AZ 1500系列
高感光度标准G线正型光刻胶
High Sensitivity Standard g-line Positive-tone Photoresist
5
AZ 6100系列 AZ 3100系列
高感光度高耐热性G线正型光刻胶 高感光度高附着性G线I线通用正型光刻胶
27
AZ CTP系列
应用于有机电致发光显示器阴极隔离的负型光刻胶
Negative-tone Resist for Cathode Separator on Organic EL Display
28
辅助化学品系列
显影液及其他相关化学品
Developers,and other ancillary chemicals
High Sensitivity & High Heat Stability g-line Positive-tone Photoresist
6
High Sensitivity & High Adhesion g/i Cross-over Positive-tone Photoresist
7

光刻胶大全

光刻胶大全

光刻胶产品前途无量(半导体技术天地)之南宫帮珍创作1 前言光刻胶(又名光致抗蚀剂)是指通过紫外光、电子束、准分子激光束、X射线、离子束等曝光源的照射或辐射,使溶解度发生变更的耐蚀刻薄膜资料,主要用于集成电路和半导体分立器件的细微图形加工,近年来也逐步应用于光电子领域平板显示器(FPD)的制作。

由于光刻胶具有光化学敏感性,可利用其进行光化学反应,经曝光、显影等过程,将所需要的微细图形从掩模版转移至待加工的衬底上,然后进行刻蚀、扩散、离子注入等工艺加工,因此是电子信息财产中微电子行业和光电子行业微细加工技术的关键性基础加工资料。

作为经曝光和显影而使溶解度增加的正型光刻胶多用于制作IC,经曝光或显影使溶解度减小的负型光刻胶多用于制作分立器件。

2 国外情况随着电子器件不竭向高集成化和高速化方向发展,对微细图形加工技术的要求越来越高,为了适应亚微米微细图形加工的要求,国外先后开发了g线(436nm)、i线(365nm)、深紫外、准分子激光、化学增幅、电子束、X射线、离子束抗蚀剂等一系列新型光刻胶。

这些品种较有代表性的负性胶如美国柯达(Kodak)公司的KPR、KMER、KLER、KMR、KMPR等;联合碳化学(UCC)公司的KTI系列;日本东京应化(Tok)公司的TPR、SVR、OSR、OMR;合成橡胶(JSR)公司的CIR、CBR系列;瑞翁(Zeon)公司的ZPN系列;德国依默克(E.Merk)公司的Solect等。

正性胶如:美国西帕来(Shipely)公司的AZ系列、DuPont公司的Waycot系列、日本合成橡胶公司的PFR等等。

2000~2001年世界市场光刻胶生产商的收益及市场份额公司2001年收益2001年市场份额(%) 2000年收益 2000年市场份额(%)Tokyo Ohka Kogyo 150.1 22.6 216.525.2Shipley 139.2 21.0 174.620.3JSR 117.6 17.7 138.416.1Shin-EtsuChemical 70.1 10.6 74.28.6ArchChemicals 63.7 9.6 84.19.8其他 122.2 18.5 171.620.0总计 662.9 100.0 859.4 100.0Source: Gartner Dataquest目前,国际上主流的光刻胶产品是分辨率在0.25µm~0.18µm的深紫外正型光刻胶,主要的厂商包含美国Shipley、日本东京应化和瑞士的克莱恩等公司。

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光刻胶产品前途无量(半导体技巧天地)之五兆芳芳创作1 前言光刻胶(又名光致抗蚀剂)是指通过紫外光、电子束、准份子激光束、X射线、离子束等曝光源的照射或辐射,使溶解度产生变更的耐蚀刻薄膜资料,主要用于集成电路和半导体分立器件的细微图形加工,近年来也逐步应用于光电子领域平板显示器(FPD)的制作.由于光刻胶具有光化学敏理性,可利用其进行光化学反响,经曝光、显影等进程,将所需要的微细图形从掩模版转移至待加工的衬底上,然落后行刻蚀、扩散、离子注入等工艺加工,因此是电子信息财产中微电子行业和光电子行业微细加工技巧的关头性根本加工资料.作为经曝光和显影而使溶解度增加的正型光刻胶多用于制作IC,经曝光或显影使溶解度减小的负型光刻胶多用于制作分立器件.2 国外情况随着电子器件不竭向高集成化和高速化标的目的成长,对微细图形加工技巧的要求越来越高,为了适应亚微米微细图形加工的要求,国外先后开发了g线(436nm)、i线(365nm)、深紫外、准份子激光、化学增幅、电子束、X射线、离子束抗蚀剂等一系列新型光刻胶.这些品种较有代表性的负性胶如美国柯达(Kodak)公司的KPR、KMER、KLER、KMR、KMPR等;联合碳化学(UCC)公司的KTI系列;日本东京应化(Tok)公司的TPR、SVR、OSR、OMR;分解橡胶(JSR)公司的CIR、CBR系列;瑞翁(Zeon)公司的ZPN系列;德国依默克(E.Merk)公司的Solect等.正性胶如:美国西帕来(Shipely)公司的AZ系列、DuPont公司的Waycot系列、日本分解橡胶公司的PFR等等.2000~2001年世界市场光刻胶生产商的收益及市场份额公司2001年收益2001年市场份额(%)2000年收益2000年市场份额(%)Tokyo Ohka Kogyo 150.1 22.6 216.5 25.2 Shipley 139.2 21.0 174.6 20.3JSR 117.6 17.7 138.4 16.1Shin-Etsu Chemical 70.1 10.6 74.2 8.6 Arch Chemicals 63.7 9.6 84.1 9.8其他122.2 18.5 171.6 20.0总计662.9 100.0 859.4 100.0 Source: Gartner Dataquest目前,国际上主流的光刻胶产品是分辩率在0.25µm~0.18µm 的深紫外正型光刻胶,主要的厂商包含美国Shipley、日本东京应化和瑞士的克莱恩等公司.中国专利CN1272637A2000年地下了国际商业机械公司创造的193nm光刻胶组合物,在无需相传递掩膜的情况下能够分辩尺寸小于150nm,更优选尺寸小于约115nm.2003年美国专利US2003/0082480又地下了Christian Eschbaumer等创造的157nm光刻胶.预计2004年全球光刻胶和助剂的市场范围约37亿美元.3 国际现状国际主要产品有聚乙烯醇肉桂酸酯(相当于美KPR胶)、聚肉桂叉丙二酸乙二醇酯聚酯胶、环化橡胶型购胶(相当于OMR-83胶)和重氮萘醌磺酰氯为感光剂主体的紫外正型光刻胶(相当于AZ-1350).其中紫外线负胶已国产化,紫外线正胶可满足2µm工艺要求,深紫外正负胶(聚甲基异丙烯基酮、氯甲基聚苯乙烯,分辩率0.5~0.3µm)、电子束正负胶(聚甲基丙烯酸甲酯一甲基丙烯酸缩水甘油酯一丙烯酸乙酯共聚)(分辩率0.25~0.1µm)、X射线正胶(聚丁烯砜聚1,2一二氯丙烯酸,分辩率0.2µm),可提供少量产品,用于IC制造的初级次正型胶仍全部依赖进口.光刻胶目前国产能力约为100多吨.据国度有关部分预测,到2005年微电子用光刻胶将超出200吨.国际光刻胶主要研制生产单位有北京化学试剂所、北京化工场、上海试剂一厂、苏州瑞红电子化学品公司、黄岩有机化工场、无锡化工研究设计院、北师大、上海交大等.近年来,北京化学试剂所和苏州瑞红电子化学品公司等单位在平板显示器(FPD)用光刻胶方面进行了大量任务,已研制成功并范围生产出液晶显示器(LCD)专用正型光刻胶,如北京化学试剂所的BP218系列正型光刻胶适用于TN/STNLCD的光刻制作.北京化学试剂研究所一直是国度重点科技攻关课题——光刻胶研究的组长单位.“十五”期间,科技部为了尽快缩小光刻技巧配套用资料与国际先进水平的差距,将新型高性能光刻胶列入了“863”重大专项筹划之中,并且跨过0.35µm和0.25µm工艺用i线正型光刻胶和248nm深紫外光刻胶两个台阶,直接开展0.1µm~0.13µm工艺用193nm光刻胶的研究.苏州瑞红则是微电子化学品行业中惟一一家中外合伙生产企业,曾作为国度“八五”科研攻关“南方基地”的组长单位,其光刻胶产品以用于LCD的正胶为主,负胶为辅.为放慢成长光刻胶财产的程序,北京化学试剂研究所的上级单位——北京化工团体有限责任公司正在做相关筹划,争取在“十五”期间,在大兴区兴建的化工基地实现年产光刻胶80吨至100吨的范围.在此筹划中,化工基地前期以生产紫外负型光刻胶及0.8µm~1.2µm技巧用紫外正胶为主,之后还要相继生产i线正胶、248nm深紫外光刻胶及0.1µm~0.13µm技巧用的193nm高性能光刻胶.而苏州瑞红也正积极地与国外著名的光刻胶厂商协作,进行248nm深紫外光刻胶的财产化任务,争取使其产品打入国际合伙或独资的集成电路生产企业.4 前途无量近年来,光刻胶在微电子行业中不竭开收回新的用途,如采取光敏性介质资料制作多芯片组件(MCM).MCM技巧可大幅度缩小电子系统体积,加重其质量,并提高其可靠性.近年来国外在初级军事电子和宇航电子装备中,已普遍地应用MCM技巧. 可以预见,成长微电子信息财产及光电财产中不成缺少的根本工艺资料——光刻胶产品在21世纪的应用将更普遍、更深入.光刻胶的定义及主要作用光刻胶是一种有机化合物,它受紫外光曝光后,在显影液中的溶解度会产生变更.一般光刻胶以液态涂覆在硅片概略上,曝光后烘烤成固态.光刻胶的作用:a、将掩膜板上的图形转移到硅片概略的氧化层中;b、在后续工序中,庇护下面的资料(刻蚀或离子注入).光刻胶起源光刻开始于一种称作光刻胶的感光性液体的应用.图形能被映射到光刻胶上,然后用一个developer就能做出需要的模板图案.光刻胶溶液通常被旋转式滴入wafer.如图wafer被装到一个每分钟能转几千转的转盘上.几滴光刻胶溶液就被滴到旋转中的wafer的中心,离心力把溶液甩到概略的所有地方.光刻胶溶液黏着在wafer上形成一层均匀的薄膜.多余的溶液从旋转中的wafer上被甩掉.薄膜在几秒钟之内就缩到它最终的厚度,溶剂很快就蒸发掉了,wafer上就留下了一薄层光刻胶.最后通过烘焙去掉最后剩下的溶剂并使光刻胶变硬以便后续处理.镀过膜的wafer对特定波成的光线很敏感,特别是紫外(UV)线.相对来说他们仍旧对其他波长的,包含红,橙和黄光不太敏感.所以大多数光刻车间有特殊的黄光系统.光刻胶的主要技巧参数a、分辩率(resolution).区别硅片概略相邻图形特征的能力.一般用关头尺寸(CD,Critical Dimension)来权衡分辩率.形成的关头尺寸越小,光刻胶的分辩率越好.b、对比度(Contrast).指光刻胶从曝光区到非曝光区过渡的陡度.对比度越好,形成图形的侧壁越陡峭,分辩率越好.c、敏感度(Sensitivity).光刻胶上产生一个良好的图形所需一定波长光的最小能量值(或最小曝光量).单位:毫焦/平方厘米或mJ/cm2.光刻胶的敏理性对于波长更短的深紫外光(DUV)、极深紫外光(EUV)等尤为重要.d、粘滞性/黏度(Viscosity).权衡光刻胶流动特性的参数.粘滞性随着光刻胶中的溶剂的削减而增加;高的粘滞性会产生厚的光刻胶;越小的粘滞性,就有越均匀的光刻胶厚度.光刻胶的比重(SG,Specific Gravity)是权衡光刻胶的密度的指标.它与光刻胶中的固体含量有关.较大的比重意味着光刻胶中含有更多的固体,粘滞性更高、流动性更差.粘度的单位:泊(poise),光刻胶一般用厘泊(cps,厘泊为1%泊)来度量.百分泊即厘泊为绝对粘滞率;运动粘滞率定义为:运动粘滞率=绝对粘滞率/比重. 单位:百分斯托克斯(cs)=cps/SG.e、粘附性(Adherence).表征光刻胶粘着于衬底的强度.光刻胶的粘附性缺乏会导致硅片概略的图形变形.光刻胶的粘附性必须经受住后续工艺(刻蚀、离子注入等).f、抗蚀性(Anti-etching).光刻胶必须保持它的粘附性,在后续的刻蚀工序中庇护衬底概略.耐热稳定性、抗刻蚀能力和抗离子轰击能力.g、概略张力(Surface Tension).液体中将概略份子拉向液体主体内的份子间吸引力.光刻胶应该具有比较小的概略张力,使光刻胶具有良好的流动性和笼盖.h、存储和传送(Storage and Transmission).能量(光和热)可以激活光刻胶.应该存储在密闭、低温、不透光的盒中.同时必须规则光刻胶的闲置期限和存贮温度情况.一旦超出存储时间或较高的温度范围,负胶会产生交联,正胶会产生感光延迟.光刻胶的分类a、按照光刻胶依照如何响应紫外光的特性可以分为两类:负性光刻胶和正性光刻胶.负性光刻胶(Negative Photo Resist).最早使用,一直到20世纪70年代.曝光区域产生交联,难溶于显影液.特性:良好的粘附能力、良好的阻挡作用、感光速度快;显影时产生变形和膨胀.所以只能用于2μm 的分辩率.正性光刻胶(Positive Photo Resist).20世纪70年代,有负性转用正性.正性光刻胶的曝光区域加倍容易溶解于显影液.特性:分辩率高、台阶笼盖好、对比度好;粘附性差、抗刻蚀能力差、高成本.b、按照光刻胶能形成图形的最小光刻尺寸来分:传统光刻胶和化学缩小光刻胶.传统光刻胶.适用于I线(365nm)、H线(405nm)和G线(436nm),关头尺寸在0.35μm及其以上.化学缩小光刻胶(CAR,Chemical Amplified Resist).适用于深紫外线(DUV)波长的光刻胶.KrF(248nm)和ArF(193nm). 光刻胶的化学性质a、传统光刻胶:正胶和负胶.光刻胶的组成:树脂(resin/polymer),光刻胶中不合伙料的粘合剂,授与光刻胶的机械与化学性质(如粘附性、胶膜厚度、热稳定性等);感光剂,感光剂对光能产生光化学反响;溶剂(Solvent),保持光刻胶的液体状态,使之具有良好的流动性;添加剂(Additive),用以改动光刻胶的某些特性,如改良光刻胶产生反射而添加染色剂等.负性光刻胶.树脂是聚异戊二烯,一种天然的橡胶;溶剂是二甲苯;感光剂是一种经过曝光后释放出氮气的光敏剂,产生的自由基在橡胶份子间形成交联.从而变得不溶于显影液.负性光刻胶在曝光区由溶剂引起泡涨;曝光时光刻胶容易与氮气反响而抑制交联.正性光刻胶.树脂是一种叫做线性酚醛树脂的酚醛甲醛,提供光刻胶的粘附性、化学抗蚀性,当没有溶解抑制剂存在时,线性酚醛树脂会溶解在显影液中;感光剂是光敏化合物(PAC,Photo Active Compound),最罕有的是重氮萘醌(DNQ),在曝光前,DNQ是一种强烈的溶解抑制剂,下降树脂的溶解速度.在紫外曝光后,DNQ在光刻胶中化学分化,成为溶解度增强剂,大幅提高显影液中的溶解度因子至100或更高.这种曝光反响会在DNQ中产生羧酸,它在显影液中溶解度很高.正性光刻胶具有很好的对比度,所以生成的图形具有良好的分辩率.b、化学缩小光刻胶(CAR,Chemical Amplified Resist).树脂是具有化学基团庇护(t-BOC)的聚乙烯(PHS).有庇护团的树脂不溶于水;感光剂是光酸产生剂(PAG,Photo Acid Generator),光刻胶曝光后,在曝光区的PAG产生光化学反响会产生一种酸.该酸在曝光后热烘(PEB,Post Exposure Baking)时,作为化学催化剂将树脂上的庇护基团移走,从而使曝光区域的光刻胶由原来不溶于水转变成高度溶于以水为主要成分的显影液.化学缩小光刻胶曝光速度很是快,大约是DNQ线性酚醛树脂光刻胶的10倍;对短波长光源具有很好的光学敏理性;提供陡直侧墙,具有高的对比度;具有0.25μm及其以下尺寸的高分辩率.光刻胶的主要应用领域模拟半导体(Analog Semiconductors)发光二极管(Light-Emitting Diodes LEDs)微电机系统(MEMS)太阳能光伏(Solar PV)微流道和生物芯片(Microfluidics & Biochips)光电子器件/光子器件(Optoelectronics/Photonics)封装(Packaging)光刻胶的成长趋势中国的微电子战争板显示财产成长迅速,带动了光刻胶资料与高纯试剂供给商等财产链中的相关配套企业的成立和成长.特别是2009年LED(发光二极管)的迅猛成长,加倍有力地推动了光刻胶财产的成长.中国的光刻胶财产市场在原有分立器件、IC、LCD(液晶显示器)的根本上,又参加了LED,再加上光伏的潜在市场,到2010年中国的光刻胶市场将超出20亿元,将占国际光刻胶市场比例的10%以上.从国际相关财产对光刻胶的需求量来看,目前主要仍是以紫外光刻胶的用量为主,其中的中小范围(5μm以上技巧)及大范围集成电路(5μm、2~3μm、0.8~1.2μm技巧)企业、分立器件生产企业对于紫外负型光刻胶的需求总量将辨别达到100吨/年~150吨/年;用于集成电路、液晶显示的紫外正性光刻胶及用于LED的紫外正负性光刻胶的需求总量在700吨/年~800吨/年之间.但是超大范围集成电路深紫外248nm(0.18-0.13um技巧)与193nm(90nm、65nm及45nm的技巧)光刻胶随着Intel大连等数条大尺寸线的成立,需求量也与日俱增.。

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