现代分析测试技术_X射线物相分析
材料现代分析测试方法-rietveld
材料A的Rietveld分析
通过Rietveld分析确定了材料 A的晶格参数和晶体结构。对定量 分析,确定了多相材料的不 同相的含量。
应力分析中的Rietveld 分析
利用Rietveld分析和细致的晶 格参数测定,研究了材料内 部应力分布的变化。
材料现代分析测试方法rietveld
欢迎来到本次演讲,我们将介绍材料现代分析测试方法中的一种重要技术— —Rietveld分析。让我们一起探索这个引人入胜的领域。
什么是Rietveld分析
Rietveld分析是一种用于材料结构精确测定和相对定量分析的X射线衍射技术。它通过模拟实验光 谱与理论衍射谱之间的匹配,获得材料中的晶格参数、晶体结构和物相信息。
高分子材料
用于聚合物晶体结构、配位化合物和疏水 材料的分析。
Rietveld分析的优势和局限性
优势
• 高精度的结构测定 • 广泛适用于不同材料和结构类型 • 非破坏性分析
局限性
• 对样品质量和衍射数据的要求较高 • 无法解析非晶态或非结晶态样品 • 需要对实验结果进行仔细解释
Rietveld分析的实例和案例研究
总结和展望
Rietveld分析作为一种先进的材料现代分析测试方法,在材料科学和许多其他领域具有广泛应用前 景。希望本次演讲能为大家提供了对Rietveld分析的全面了解和启发。
3 模型优化
4 结构分析
通过最小二乘法将实验和计算的衍射谱 拟合。
从拟合结果中提取材料的晶格参数和晶 体结构信息。
Rietveld分析的应用领域
材料科学
用于研究材料的晶体结构、相变以及材料 表征。
地球科学
用于研究岩石、矿石和地质样品的晶体结 构和相组成。
药物化学
现代测试技术论文 -
现代测试技术论文 -X-射线单晶衍射法的原理及在测试技术中的应用-土木工程学院材料一班 080330110袁野摘要:X-射线衍射法的原理、优点及其在现代分析测试技术中的应用和重要意义。
关键词:XRD 布拉格方程物相分析点阵常数X射线衍射分析(X-ray diffraction,简称XRD),是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。
当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。
这就是X射线衍射的基本原理。
衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示:2dsinθ=nλ式中:λ是X射线的波长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。
波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。
将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照,即可确定试样结晶的物质结构,此即定性分析。
从衍射X射线强度的比较,可进行定量分析。
X射线分析的新发展,X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成晶体研究和材料测试的常规方法。
例如在如下领域,X射线都有着及其广泛的应用。
物相分析:晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换,每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系,其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化,这就是X射线衍射物相分析方法的依据。
现代材料测试技术试题答案
一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。
这是材料成分的化学分析。
一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。
X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。
X射线物相分析的基本原理是什么呢?每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。
因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。
其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
衍射花样有两个用途:一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的;二是用来测定物相。
所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。
X射线物相分析方法有:定性分析——只确定样品的物相是什么?包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。
二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为:①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样;②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值;③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。
1、标准物质的粉末衍射卡片标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。
为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。
由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。
因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。
现代材料测试技术测试方法1精选全文
4.1差热分析
4.1.1差热分析的基本原理
2、差热分析的基本理论
ΔH=KS
差热曲线的峰谷面积S和 反应热效应△H成正比, 反应热效应越大,峰谷 面积越大。
具有相同热效应的反应, 传热系数K越小,峰谷面 积越大,灵敏度越高。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
1、DTA曲线的特征 DTA曲线是将试样和参比物置于
2、DTA曲线的温度测定及标定:外推法(反应起点、转变点、 终点) 外延起始温度——表示反应的起始温度
3、DTA曲线的影响因素 差热分析是一种热动态技术,在测试过程中体系的温度不断变 化,引起物质热性能变化。因此,许多因素都可影响DTA曲 线的基线、峰形和温度。归纳起来,影响DTA曲线的主要因 素有下列几方面:
用相同质量的试样和升温速度对不同粒度的胆矾进 行研究(如图)。说明颗粒大小影响反应产物的扩散 速度,过大的颗粒和过小的颗粒都可能导致反应温 度改变,相邻峰谷合并,分辨率下降。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
试样用量的多少与颗粒大 小对DTA曲线有着类似的 影响,试样用量多,放热 效应大,峰顶温度滞后, 容易掩盖邻近小峰谷,特 别是对在反应过程中有气 体放出的热分解反应。
(1)仪器方面的因素:包括加热炉的形状和尺寸,坩埚材料及大 小,热电偶的位置等。
(2)试样因素:包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶 度或离子取代以及试样的颗粒度、用量及装填密度等。
(3)实验条件:包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速等。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
(1)热容和热导率的变化: 试样的热容和热导率的变化会引起 差热曲线的基线变化,一台性能良 好的差热仪的基线应是一条水平直 线,但试样差热曲线的基线在反应 的前后往往不会停留在同一水平上, 这是由于试样在反应前后热容或热 导率变化的缘故。
定量分析
《材料现代分析技术》课程实验实验项目名称:X 射线物相定量分析 实验类型:综合 学时:4学时 一、 实验目的(1)学习了解X 射线衍射仪的结构和工作原理;(2)掌握利用X 射线粉末衍射进行物相定量分析的原理; (3)练习用RIR 方法对物质进行定量分析。
二、 主要仪器设备及耗材本实验使用的仪器是日本理学SmartLab-2006型X 射线衍射仪,主要由X 射线发生器(即X 射线管)、测角仪、X 射线探测器、计算机控制处理系统等组成。
耗材:两相混合物 三、实验原理X 射线的定量分析目的是在物相鉴定基础上,测定物质中各相含量。
其任务是用X 射线衍射技术,准确测定混合物中各相衍射强度,从而求出多相物质中各相含量。
X 射线定量相分析的理论基础是物质参与衍射的体积或重量与其所产生的衍射强度成正比。
因而,可通过衍射强度的大小求出混合物中某相参与衍射的体积分数或重量分数。
当不存在消光及微吸收时,均匀、无织构、无限厚、晶粒足够小的单相多晶物质所产生的积分强度 (并考虑原子热振动及吸收的影响) 为式中I 0为入射光束强度,e ,m 分别为电子电量、质量、c 为光速。
λ为X 射线波长,V 0晶胞体积,V 为试样被X 光照射体积,F 为结构因子,P 为多重性因子,ϕ (θ)角因子, e -2M 为温度因子,A (θ)为吸收因子。
根据衍射强度与该物质参与衍射的体积或重量的增加而增加关系(非线性)。
表示为n 相混合物中,j 相某衍射线的强度与参与衍射的该相的体积V j 或重量分数W j 的关系式:()()2322202232M ce V I I P F A e R mc V λφθθπ-⎛⎫= ⎪⎝⎭mj nj j j j j j W V CK I μρ∑==1/mj nj j j j j j W W CK I μρ∑==1/为定量分析普适公式(Alexander 定量分析公式),其中常数213213424⋅=λπc m e I r C o强度因子Mhkl hklj e coa k P F K 222202sin 2cos 11-⋅⋅+=θθθν结构因子)(212i i i lz hy hx i ni i hkle f F ++-=∑=π(i 为晶胞中原子)● 外标法要纯标样,它不加到待测样中,该法实用于大批量试样中某相定量测量。
现代材料分析方法——四大分析方法的应用论文
四大分析方法及应用摘要:本文论述材料的X射线粉末衍射分析(XRD)、电子显微分析、能谱分析(XPS,UPS,AES)和热分析(TG,DTA, DSC)等测试原理、制样技术、影响因素、图谱解析以及它们在材料研究中的具体应用。
以一些常见的化合物为基质的各类复合或是掺杂的材料为例,来重点介绍XRD、电镜、热分析等在研究材料物相组成、结构特征、形貌等方面的应用。
关键词:TiO2,XRD,SEM,XPS,TG,DTA前言由于铝等一些金属和无机物的优良的性质,如铝的密度很小,仅为2.7 g/cm3,虽然它比较软,但可制成各种铝合金,如硬铝、超硬铝、防锈铝、铸铝等。
.铝的导电性仅次于银、铜,虽然它的导电率只有铜的2/3,但密度只有铜的1/3,所以输送同量的电,铝线的质量只有铜线的一半铝是热的良导体,它的导热能力比铁大3倍,工业上可用铝制造各种热交换器、散热材料和炊具等。
铝有较好的延展性(它的延展性仅次于金和银),在100 ℃~150 ℃时可制成薄于0.01 mm 的铝箔。
铝的表面因有致密的氧化物保护膜,不易受到腐蚀,常被用来制造化学反应器、医疗器械、冷冻装置、石油精炼装置、石油和天然气管道等。
铝热剂常用来熔炼难熔金属和焊接钢轨等。
铝还用做炼钢过程中的脱氧剂。
铝粉和石墨、二氧化钛(或其他高熔点金属的氧化物)按一定比率均匀混合后,涂在金属上,经高温煅烧而制成耐高温的金属陶瓷,它在火箭及导弹技术上有重要应用。
所以工业上应用非常广泛。
1 X射线衍射分析(XRD)1.1 X射线衍射仪仪器核心部件:光源---高压发生器与X 光管、精度测角仪、光学系统、探测器、控测,数据采集与数据处理软件、X射线衍射应用软件。
定性相分析(物相鉴定):目的:分析试样属何物质,那种晶体结构,并确定其化学式。
原理:任何结晶物质均具有特定结晶结构(结晶类型,晶胞大小及质点种类,数目分布)和组成元素。
一种物质有自已独特衍射谱与之对应,多相物质的衍射谱为各个物相行对谱的叠加。
材料现代分析与测试技术 考核方式
材料现代分析与测试技术考试大纲一、课程性质本课程是材料类专业的专业基础课,必修课程。
二、适用专业无机非金属材料工程材料化学材料物理电子科学与技术新能源材料与器件三、课程学分3.75学分四、试卷结构平时:10%,实验:10% ,期末考试:80%五、参考书目王晓春张希艳主编.材料现代分析与测试技术[M].北京:国防工业出版社2012六、考试内容与基本要求第一章X射线衍射分析[考试要求]本章要求考生掌握X射线物理基础、X射线衍射几何条件、单晶、多晶体的研究方法、衍射仪法及X射线物相分析。
[考试内容]1. X射线物理基础(1)X射线的性质(2)X射线的获得(3)X射线谱(4)X射线与物质的相互作用(5)X射线的吸收及应用2.X射线衍射几何条件3.单晶的研究方法4.多晶体的研究方法5.衍射仪法(1)粉末衍射仪的构造及衍射几何(2)衍射图分析处理6. X射线物相分析7.测定晶粒尺寸第二章电子显微分析[考试要求]本章要求学生掌握电子光学基础, 电子与固体物质的相互作用,透射电子显微镜分析,扫描电子显微镜分析,电子探针X射线显微分析,分析电子显微镜及电子显微分析在材料科学中的应用。
[考试内容]1. 电子光学基础(1)电子的波长和波性(2)电子在电磁场中的运动和电磁透镜(3)电磁透镜的像差和理论分辨率(4)电磁透镜的场深和焦深2. 电子与固体物质的相互作用(2)内层电子激发后的驰豫过程(3)自由载流子(4)各种电子信号(5)相互作用体积与信号产生的深度和广度3. 透射电子显微分析(1)透射电子显微镜(2)透射电镜样品制备(3)电子衍射(4)透射电子显微像及衬度(5)透射电子显微分析的应用4. 扫描电子显微分析(1)扫描电子显微镜(2)扫描电镜图像及衬度(3)扫描电镜样品制备5. 电子探针X射线显微分析(1)电子探针仪的构造和工作原理(2)X射线谱仪的类型及比较(3)电子探针分析方法及其应用6. 扫描探针显微分析(1)扫描隧道显微镜(2)原子力显微镜第三章热分析[考试要求]本章要求学生掌握热分析概念,差热分析,热重分析, 热膨胀法。
利用X射线衍射仪分析多晶体的物质相分析
实验报告课程名称:材料测试技术实验项目:用X-射线衍射仪进行多晶体物质相分析实验班级: 2012310204学号: 201231020414姓名:某某指导教师:某某某实验时间: 2015 年 11月 18日利用X射线衍射仪分析多晶体物质相分析一、实验目的概括了解X射线衍射仪的结构及使用。
二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。
自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。
入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。
衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。
操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。
信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。
脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。
控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样及探测器进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。
目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。
衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
物相定性分析是X射线衍射分析中最常用的一项测试,衍射仪可自动完成这一过程;首先,仪器按所给定的条件进行衍射数据自动采集,接着进行寻峰处理并自动启动程序。
当检索开始时,操作者要选择输出级别(扼要输出、标准输出或详细输出),选择所检索的数据库(在计算机硬盘上,存贮着物相数据库,约有物相46000种,并设有无机、有机、合金、矿物等多个分库),指出测试时所使用的靶,扫描范围,实验误差范围估计,并输入试样的元素信息等。
此后,系统将进行自动检索匹配,并将检索结果打印输出。
三、用衍射仪进行物相分析X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。
现代分析测试技术(XRF在地学中的应用)
X射线衍射技术在地学中的应用长安大学摘要:X射线衍射技术是现代分析测试物质组成和结构的基础手段之一,多种学科中都广泛应用,在地质学领域中的应用同样占重要地位。
本文综述了X射线衍射技术在岩石学、矿物学、矿床学、煤田、石油天然气、构造地质、地质灾害、宝石学以及与地质学相关的学科研究中的应用。
作为一种高效、准确、无损样品的测试分析手段X射线衍射技术在地质学中的应用领域将会不断扩展,发挥越来越重要的作用。
关键词:X射线衍射地质学应用引言1895年,德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴教授在研究阴极射线时意外发现X射线[1];1912年德国物理学家劳厄(von Laue M)发现了X射线通过晶体时产生衍射现象[2],证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性,并获得了劳厄晶体衍射公式;随后,小布拉格(Bragg WL)推导出著名的布拉格方程。
此后100余年间,作为19世纪末20世纪初物理学的三大发现之一,X射线的新理论和新应用不断产生,飞速发展。
劳厄的衍射理论与实验证明了X射线具有波动特性,是波长为几十到几百皮米的电磁波,并具有衍射的能力[3,4]。
在基础理论和科学技术的支持下,X射线衍射技术在物质定性和物相组成等方面的探测已经成为现代分析测试技术的基础组成部分,在材料、药物、金属、生物等领域的科学研究中均占有重要地位。
同样,X射线衍射在地质学领域中的应用也十分普遍。
1.基本原理和分析方法简介X射线是一种电磁辐射,波长(0.01—100埃,常用的为0.5—2.5埃)与物质晶体的原子间距(1埃)数量级相同。
利用晶体作为X射线的天然衍射光栅,当X射线入射时晶体原子的核外电子产生相干波彼此发生干涉,当发生波的加强就称之为衍射[5]。
晶体结构决定了X射线的衍射方向,通过测定衍射方向可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
地质学中的X射线衍射分析就是通过这个原理确定样品物质的组成和结构等(图1)。
图1 X射线衍射分析工作原理图一般的X射线衍射分析方法有:a.劳厄法:连续X射线照射固定的单晶体,用照相底片记录衍射斑点;b.转晶法:单色X射线照射转动的单晶体,用照相底片记录平行分布的衍射斑点;c.粉末法:准直的单色X射线照射多晶粉末样品,圆筒状底片记录衍射斑点;d.衍射仪法:用各种辐射探测器和辐射测量控制电路记录衍射信号。
材料现代分析与测试技术-各种原理及应用
XRD :1.X 射线产生机理:(1)连续X 射线的产生:任何高速运动的带电粒子突然减速时,都会产生电磁辐射。
①在X 射线管中,从阴极发出的带负电荷的电子在高电压的作用下以极大的速度向阳极运动,当撞到阳极突然减速,其大部分动能变为热能都损耗掉了,而一部分动能以电磁辐射—X 射线的形式放射出来。
②由于撞到阳极上的电子极多,碰撞的时间、次数及其他条件各不相同,导致产生的X 射线具有不同波长,即构成连续X 射线谱。
(2)特征X 射线:根本原因是原子内层电子的跃迁。
①阴极发出的热电子在高电压作用下高速撞击阳极;②若管电压超过某一临界值V k ,电子的动能(eV k )就大到足以将阳极物质原子中的K 层电子撞击出来,于是在K 层形成一个空位,这一过程称为激发。
V k 称为K 系激发电压。
③按照能量最低原理,电子具有尽量往低能级跑的趋势。
当K 层出现空位后,L 、M 、N……外层电子就会跃入此空位,同时将它们多余的能量以X 射线光子的形式释放出来。
④K 系:L, M, N, ...─→K ,产生K α、K β、 K r ... 标识X 射线L 系:M, N, O,...─→L ,产生L α、L β... 标识X 射线 特征X 射线谱 M 系: N, O, ....─→M ,产生M α... 标识X 射线 特征谱Moseley 定律 2)(1αλ-•=Z a Z:原子序数,a 、α:常数2.X 射线与物质相互作用的三个效应(1)光电效应•当 X 射线的波长足够短时,X 射线光子的能量就足够大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来,•X 射线光子本身被吸收,它的能量传给该电子,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。
(2)荧光效应①外层电子填补空位将多余能量ΔE 辐射次级特征X 射线,由X 射线激发出的X 射线称为荧光X 射线。
②衍射工作中,荧光X 射线增加衍射花样背影,是有害因素③荧光X 射线的波长只取决于物质中原子的种类(由Moseley 定律决定),利用荧光X 射线的波长和强度,可确定物质元素的组分及含量,这是X 射线荧光分析的基本原理。
X射线衍射应用-物相分析
复合样中各峰的强度,IM(120)=922, IC(101)=6660, 计算公式:
I Q (10 ) 8604
11
WM
M KA (
I M (120 )
M KA
I M (120 ) 922 17.3% I Q (1011) I C (101) 922 8604 6660 2 . 47 ) Q C 2.47 8.08 9.16 KA KA
WM (%)
IM
IM (%) IT I C
(7)
通常通过配制一系列不同比例的混合试样制作标定曲 线(强度比与含量的关系曲线),应用时根据强度比按此 曲线即可查出含量。此法也适用于吸收系数不同的两项混 合物的定量分析。
(2)被检测向与基体吸收系数不同: 1、内标法:
待测样为n(≥2)相的混合物,各项的质量吸收系数不 相等时,采用内标法作定量分析。
2)、粒径大的粉末(几十μm以上)衍射强度重现性差,强度的变化可达百 分之几十。 3)、试样中固溶体其它物质或试样加热膨胀时衍射线移向低角位臵(高角位 臵衍射线偏移量较大)。 4)测角仪偏心时,衍射线产生偏移(低角偏差大) 5)测角仪扫描速度快,计数率仪的时间常数大时因仪器反应滞后,衍射线向 扫描方向移动。 6)测角仪零位位移,导致全谱位移。
采用Hanawalt法定性相分析的要点:
采用Hanawalt 法作定性相分析时,由于试样制备方法、测定条件以及JCPDS 卡的数据本身的可靠性问题,使得JCPDS卡的数据与试样衍射线的d值或 I/I1值有些差别。
1)、粘土矿物或石墨粉末等易产生择优取向的试样以及具有择优位向的金属 箔,其衍射强度会发生变化,甚至出现倒臵的情况。
第五章、X射线衍射分析应用
现代分析测试技术-02X射线多晶衍射方法及应用综合练习精选全文
可编辑修改精选全文完整版第二章X射线多晶衍射方法及应用(红色的为选做,有下划线的为重点名词或术语或概念)1.名词、术语、概念:选靶,滤波,衍射花样的指数化,连续扫描法,步进扫描法,X射线物相分析,X射线物相定性分析,X射线物相定量分析。
2.X射线衍射方法分为多晶体衍射方法和单晶体衍射方法;多晶体衍射方法主要有()和();单晶体衍射方法主要有()、()和()等。
3.根据底片圆孔位置和开口所在位置不同,德拜法底片的安装方法有3种,即()、()和()。
4.德拜法测定点阵常数,系统误差主要来源于()、()、()、()等,校正的方法主要是采用()安装底片。
5.入射X射线的波长λ越长则可能产生的衍射线条越多。
这种说法()。
A.正确;B.不正确6.靶不同,同一干涉指数(HKL)晶面的衍射线出现的位置(2θ)不同。
这种说法()。
A.正确;B.不正确7.德拜法的样品是平板状的,而衍射仪法的样品是圆柱形的。
这种说法()。
A.正确;B.不正确8.德拜照相法衍射花样上,掠射角(θ)越大,则分辨率(φ)越高,故背反射衍射线条比前反射线条分辨率高。
这种说法()。
A.正确;B.不正确9.在物相定量分析方面,德拜法的结果比衍射仪法准确。
这种说法()。
A.正确;B.不正确10.多晶衍射仪法测得的衍射图上衍射峰的位置十分精确,没有误差。
这种说法()。
A.正确;B.不正确11.如果采用Mo靶(λKα=0.07093nm),那么晶面间距小于0.035nm的晶面也可能产生衍射线。
这种说法()。
A.正确;B.不正确12.在X射线物相定性分析过程中,主要是以d值为依据,而相对强度仅作为参考依据。
这种说法()。
A.正确;B.不正确13.X射线衍射法测定晶体的点阵常数是通过衍射线的位置(2θ)的测定而获得的,点阵常数测定时应尽量选用低角度衍射线。
这种说法()。
A.正确;B.不正确14.入射X射线的波长(λ)越长则可能产生的衍射线条()。
A.越少;B.越多15.靶不同,同一指数(HKL)干涉面的衍射线出现的位置2θ()。
现代材料测试技术试题答案
一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。
这是材料成分的化学分析。
一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。
X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。
X射线物相分析的基本原理是什么呢?每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。
因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。
其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
衍射花样有两个用途:一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的;二是用来测定物相。
所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。
X射线物相分析方法有:定性分析——只确定样品的物相是什么?包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。
二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为:①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样;②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值;③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。
1、标准物质的粉末衍射卡片标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。
为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。
由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。
因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。
现代分析测试方法XRD_8
3、二维探测器技术:探测不均匀衍射斑或整个得拜环;沿得拜环对强度数 据进行积分可获得精确的衍射图象;
Advanced Analysis & Computation Center
1、掠射入射(GID)技术:以很低的入射角度进行掠射分析,尽可能从薄膜层得 到最大的信号,从而分析相组分沿深度的分布→具有表面敏感性;
2、精确测角技术:X射线光学组件→要求入射角必须高度精确; 3、弱信号探测技术:二维探测器→薄膜的衍射信息很弱;
Advanced Analysis & Computation Center
1、可调beam stop技术:高强度、低发散度的平行点光源—交叉双Göbel 镜; 2、真空通道技术:高分辨率的针孔准直器、真空光路; 3、二维探测器技术:在透射光束附近观察试样的微弱的小角散射信息→以防止 受直射光和空气散射的影响; 4、纳米空间测量:分析在几十埃到1000埃的试样;
图3.1 铸态合金Al72.5Fe14.5Ni13 的X 射线(λCuK = 0.15406 nm)衍射谱 Figure 3.1 X-ray diffraction pattern of the as-cast Al72.5Fe14.5Ni13 alloy.
00ι 001 002 003 004 005 006 007 008 009 0010 0011 0012 0013 0014 0015 0016 0017 0018 0019 0020 0021 0022
21
2
--
--
--
55
3.526
24.682
80
射线物相分析
定性分析的基本原理
3701利用布拉格公式2dsinθ= λ ,通过计算机将图 谱中的衍射峰位和高度转换成d-I列表
0国际标准协会测量各种已知物质的d-I数据,并 存为数据库30(每一个物40相的数据46-1,52012>称Co为rund一um张- Al62P0O3DF 卡片)
将试样的d-I数据与数据库中的数据对比,可检 测出待测试样中的物相2-Theta(°
(012) (104)
(110) (006)
(113) (202)
(024) (116)
(211) (1(2021)8)
定性分析的历史ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
J.D.Hanawalt于1938年发起,以d-I数据组代替 衍射花样,制备衍射数据卡片的工作 1942年“美国材料试验协会”(ASTM)出版 了大约1300张衍射数据卡片,称为ASTM卡片 到1963年共出版13集,以后按每年1集的速度递 增
物相的分析方法
J-V法 数据库 包括正文件和反文件。正文件中包含所有 的标准衍射数据。反文件中包含标准谱中强 线数据,便于快速检索 为了检索和存贮方便,将衍射数据进行一 定的计算处理后,以整数形式存贮
物相的分析方法
J-V法 检索方法步骤: 输入检索参数 试样文件名 误差窗口 可能存在的化学元素符号 检测物相的类别 使用的数据库名 排除或强制匹配哪些PDF卡片
物相的分析方法
布尔检索法 检索方法
输入检索的布尔条件 布尔条件可以包括:3强线d值、包含元 素、矿物名、英文名、颜色等多项 在显示器上显示符合检索条件的卡片, 用户可打印和人工核对
物相的分析方法
图形对比法
衍射谱图(不是d-I数据)显示在屏幕上,选 择可能存在的元素或不选择任何条件,计算从 数据库中调出基本匹配的卡片,一张一张地叠 加在衍射谱图上,由用户根据匹配情况(位置、 高低和其它可能性)作出判断 此方法直接,由于最大限度地利用了人的判 断能力,效率比较高
材料现代分析方法复习-07
X射线复习(陈老师讲课内容)一、名词解释1、物相分析:是指确定材料由哪些相组成(即物相定性分析或称物相鉴定)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。
2、零层倒易面:属于同一[uvw]晶带的各(HKL)晶面对应的倒易矢量r*HKL处于一个平面内.这是一个通过倒易点阵原点的倒易面,称为零层倒易面。
3、X射线:一种波长介于紫外线和 射线之间的具有较短波长的电磁波。
4、Kα射线与Kβ射线:若K层产生空位,L层或M层或更外层电子向K层跃迁,产生的X射线统称为K系特征辐射,分别按顺序记为Kα,Kβ,…射线。
5、短波限:连续X射线谱中,波长连续分布的起点为短波限。
6、吸收限:产生光电效应可击出物质原子内层电子的入射X射线光子能量阈值相应的波长。
7、线吸收系数:因为μ表示X射线通过单位长度物质时强度的衰减.又因强度为(垂直于传播方向上)单位面积的能量,所以μ亦为X射线通过单位体积物质时能量的衰减.质量吸收系数:设μm= μ/ρ(ρ为物质密度),称μm为质量吸收系数,则:It = Iexp(- μ*t) = Iexp(- μm*ρ*t)∵ μ定义为X射线通过单位体积物质时能量的衰减.∴ μm为X射线通过单位质量物质时能量的衰减,亦称单位质量物质对X射线的吸收.8、晶带:在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。
10、二次特征辐射(X射线荧光辐射)二、简答,论述,计算题1、辨析点阵与阵胞、点阵与晶体结构、阵胞与晶胞的关系.点阵:为了描述晶体中原子的排列规则,将每一个原子(原子团等)抽象视为一个几何点(称为阵点),从而得到一个按一定规则排列分布的无数多个阵点组成的空间阵列,称为空间点阵或晶体点阵,简称点阵.阵胞(晶胞):在点阵中选择一个由阵点连接而成的几何图形(一般为平行六面体)作为点阵的基本单元来表达晶体结构的周期性,称为阵胞(晶胞)阵胞与点阵的关系: 阵胞在空间的重复堆砌 → 空间点阵晶体结构与空间点阵若将组成晶体的原子(离子、分子等,以下称为结构基元)置于点阵的各个阵点上,则将还原为晶体结构,即:晶体结构 = 空间点阵 + 结构基元.2、在面心立方晶胞中标明(001)、(002)和(003)面,并据此回答:干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布?为什么?3、判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(011),(123),(231),(211),(011),(331),(211),(213),(110),(212)。
现代材料测试技术(陶文宏)-第一章-x射线衍射分析
晶粒尺寸
通过X射线衍射数据计算陶瓷 材料中晶粒的平均尺寸。
残余应力
分析陶瓷材料中的残余应力, 评估其性能和使用寿命。
高分子材料
结晶度
测量高分子材料的结晶度,了解其物理和化 学性能。
取向研究
研究高分子材料中分子的取向情况,了解其 力学性能和加工性能。
晶体结构
分析高分子材料中晶体的结构类型和晶格常 数。
感谢您的观看
THANKS
晶体结构
分析金属材料的晶体结 构类型,如面心立方、
体心立方等。
晶格常数
内应力
测量金属材料的晶格常 数,了解晶体中原子的
排列情况。
通过分析X射线衍射数据, 计算金属材料中的内应
力大小和分布。
陶瓷材料
01
02
03
04
晶体结构
确定陶瓷材料的晶体结构,包 括氧化物、硅酸盐等。
相变研究
研究陶瓷材料在加热或冷却过 程中的相变行为。
热稳定性
通过X射线衍射分析高分子材料的热稳定性, 评估其在高温下的性能。
复合材料
界面研究
分析复合材料中不同组分之间的界面 结构和相互作用。
相分析
确定复合材料的相组成和各相的含量。
取向研究
研究复合材料中各组分的取向情况, 了解其力学性能和加工性能。
残余应力
分析复合材料中的残余应力,评估其 性能和使用寿命。
特点。
02 03
布拉格方程
当X射线照射到晶体时,会被晶体中的原子散射,形成特定的衍射图案。 布拉格方程是描述X射线衍射条件的基本公式,即nλ=2dsinθ,其中n 为整数,λ为X射线的波长,d为晶面间距,θ为入射角。
衍射峰的形成
当满足布拉格方程时,X射线会在特定角度上发生衍射,形成衍射峰。 衍射峰的位置、强度和形状与晶体的结构密切相关。
X射线衍射技术的原理与物相分析
X射线衍射技术的原理与物相分析摘要:现代多晶体X光线衍射解析法最通常使用的基础仪器设备是X光线粉状衍射仪,它也是许多研究所、试验室、高等院校和国家质量监督检查机关的必要设施,本篇主要阐述了X光线粉状衍射仪的基础原理,及其采用此仪器设备的现代多晶体X光线衍射物相稳定性解析法和定量分析。
关键词:X光线;布拉格衍射方程;物相解析;粉末衍射卡片集1 基本原理1.1 X射线衍射介绍多晶X射线衍射解析法也被叫做粉状X射线衍射解析法,在使用本法时要首先将试样做成非常细小的粉状,然后再对粉状进行压块制样。
它有许多好处,比如粉状X射线衍射解析法就是一个非破坏性的实验分析,尤其有利于:可以做物相研究;也能够计算一些晶态化合物的分子结构参数和晶体结构;同样也能够计算非晶体物,所以,它是化学物理学中一个十分重要的实验法。
使用的衍射性仪为BDX系统半自动粉末式X射线衍射仪,它是把传统衍射仪技术与计算机二者融合起来的一个先进的智能化和自动化的实验仪器设备,能够借助应用程序,直接在计算机上操控衍射仪,进行数据的收集、处理与分析,缩短了操作者与仪器设备之间的接触时间,也因而降低了X辐射对人体的损伤。
1.2 X射线衍射仪的基本原理X射线衍射分析方法是指运用晶格中形成的X光线衍射现象,对物体实现内部分子在空间分布状态下的结构解析。
当形成于特定波段的X辐射光照在结晶性物体上时,X辐射会因在晶体内出现规律顺序的原子或电离而形成散射,发散的X辐射光在特定方向上相位受到了强化。
该方法的主要优点,就是能够掌握元素中存在的物质态、以及原子间相互作用组合的方法,从而可开展价态分析,并进行对环境固体污染物质的物相鉴别,如大气颗粒物中的风沙和泥土成分、工业生产废气的金属及其物质(粉尘)、工业车辆排放中卤化铅的成分、土壤和水域沉积物,以及海洋悬浮液中金属存在的状况等。
因为X射线波长短,以及光子能力大的这二种特点,当X光线照射到物体上产生的效果,与当可见光照射到物体上所产生的效果,是完全不同的。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
一. 连续X射线(白色X射线)
连续X射线是由某一短波限开始的一系列连续波长组成。 它与可见光中的白光相似,故也称白色X射线。
X射线谱分为两类: 连续X射线 特征X射线
X射线管的效率:
η = 连续X射线的总强度/X射线管的功率 = IZUb/IU= ZU 当用钨靶(Z = 74),管压为100 KV,η≈1%。 X射线管的效率很低,要提高效率, 应采用高电压和重金属。
旋转阳极靶式X射线发生器有垂直和水平二种 18kW转靶
Rotating anode
38
Bruker Confidential
5/5/2015
38
X射线仪
包括: X 射线管 高压变压器 电压、电流调节稳定系统
40
3 X射线谱
X射线谱:用X射线分光光度计测量X射线管发射的各个波长的 X射线的强度,所得到的X射线强度与波长的曲线。
X射线的本质、产生及命名规则 1.X射线的性质
对X射线本质的争论,焦点集中在: 粒子流:亨利·布拉格 波动性:巴克拉 著名物理学家索末菲的一名研究生厄瓦耳向他请 教关于光在晶体中散射的数学分析问题 。 对X射线波动性最完美的研究是德国物理学家劳 厄(Laue)。
当光通过与其波 长相当的光栅时 会发生衍射作用
X射线物相分析
2
3
4
X射线的产生及其与物质的作用方式
X射线的波长范围 10~0.001nm
1895 年 11 月 8 日,德国物理 学家伦琴在研究真空管高压放 电现象时偶然发现。 由于对这种射线本质和特性 尚无了解,称x 射线,也叫伦琴 射线。
伦琴(1845---1923)
5
伦琴发现:不同物质对x 射线穿透能力是不同的。
2. 俄歇效应
photoeletron photoeletron K K L Auger electron L
俄歇效应和二次特征辐射(荧光辐射) KLL俄歇电子:
1 mm 的点状X射线束。
5 旋转阳极(转靶)X射线管
转靶X射线管:阳极不断旋转, 热量分布在一个环形面积上,增 加了散热面积;在相同的温度下 可以大大提高X射线管的功率。 一般的X射线管: 10~40 mA, 100 W/mm2 旋转阳极: 3000r/min 500 mA, 5000 W/mm2
发射电子
封闭式和旋转阳极靶式
3kW陶瓷X光管
30
Bruker Confidential
5/5/2015
30
32
4 焦点: 指阳极靶面被电子束轰击的面积。 焦点一般为1 mm 度向外发射。 线焦斑:0.1 点焦斑:1
10 mm的长方形。产生的X射线束以6°角
线焦斑
10 mm 的线状X射线束
点焦斑
50
X射线
由于K层电子缺失、电子跃迁形成的X射 线称K系X射线,即Kα、Kβ、及Kγ射线, 同理,还有L系、M系X射线。
方法之二:更高能级的M层向K层跃迁,β辐射 ΔEMK = EM-EK = hν=hc/λβ λβ=hc/ ΔEMK 显然λα >λβ 同理,由N K的跃迁形成的辐射叫γ辐射。
51
[14]1973年,威尔金森与费歇尔因对有机金属化学的研究卓有成效而共获诺贝尔化学 奖。 [15]1976年,利普斯科姆因用低温X射线衍射和核磁共振等方法研究硼化合物的结构 及成键规律的重大贡献获得诺贝尔化学奖。 [16]1979年,诺贝尔生理.医学奖破例地授给了对X射线断层成像仪(CT)作出特殊贡 献的豪斯菲尔德和科马克这两位没有专门医学经历的科学家。 [17]1980年,桑格借助于X射线分析法与吉尔伯特、·伯格因确定了胰岛素分子结构和 DNA核苷酸顺序以及基因结构而共获诺贝尔化学奖。 [18]1981年,凯.西格班由于在电子能谱学方面的开创性工作获得了诺贝尔物理学奖的 一半。 [19]1982年,克卢格因在测定生物物质的结构方面的突出贡献而获诺贝尔化学奖。 [20]1985年,豪普特曼与卡尔勒因发明晶体结构直接计算法,为探索新的分子结构和 化学反应作出开创性的贡献而分享了诺贝尔化学奖。 [21]1988年,戴森霍弗、胡伯尔、米歇尔因用X射线晶体分析法确定了光合成中能量 转换反应的反应中心复合物的立体结构,共享了诺贝尔化学奖。 [22]1997年,斯科与博耶和沃克因籍助同步辐射装置的X射线,在人体细胞内离子传 输酶方面的研究成就而共获诺贝尔化学奖。 [23]2002年,贾科尼因发现宇宙X射线源,与戴维斯、小柴昌俊共同分享了诺贝尔物 理学奖。 [24]2003年,阿格雷和麦金农因发现细胞膜水通道,以及对细胞膜离子通道结构和机 理研究作出的开创性贡献被授予诺贝尔化学奖(他们的成果用X射线晶体成像技术获 得)。 [25]2006年,科恩伯格被授予诺贝尔化学奖,以奖励他在“真核转录的分子基础”研究 14 领域作出的贡献(他将X射线衍射技术结合放射自显影技术开展研究)。
2. 连续谱产生原因-----经典电动理论
高速电子与阳极靶碰撞 到达阳极的电子数目多; 到达靶的时间和条件不同; 与靶碰撞情况复杂
电子损失能量
波长连续的X光子
电流为10 mA,6.25 х10l6个/秒
二. 特征X射线谱
1、特征X射线及其激发电压
当电压加到25 KV时, Mo 靶的连续 X 射线谱上出 现了二个尖锐峰: Kα(0.071nm) Kβ(0.063nm)
55
特征x射线的波长与管 压和管流无关。它与靶材有 关。对给定的靶材,它们的 这些谱线是特定的。因此, 称之为特征X射线谱或标识X 射线谱。 产生特征X射线的最低 电压称激发电压。
4 .X射线与物质的相互作用 散射
入射X射线
透射 吸收
4 X射线与物质的相互作用
康普顿效应 俄歇效应
1) X射线的散射
1. 相干散射 与原子中束缚较紧的内层电子相撞产生的,散射波与 入射波的频率相同,但方向改变。
ε=hυ= hc/ p=h/
X射线管
1 常用的靶材:Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Mo, Ag
X射线产生的基本条件:
2 冷却系统:水 3 窗口: X射线射出的通道;材料用Be或者林德曼玻璃(硼酸铍 锂)。
产生带电粒子 ; 带电粒子做定向高速运动; 高速运动的带电粒子突然在某种障碍物上减速。
对样品的损伤较小
X射线粒子性: X射线的粒子性表现在它是由大量的不连续的粒 子流构成的。它具有一定能量和动量。
(P:X光子的动量)
2. X射线的产生
产生机制:X射线是由高速运动的电子撞击物质后,与 该物质中的原子相互作用发生能量转移,损失的能力以 X射线的形式释放出来,可有两种形式: 1 )高能电子轰击出原子内层电子产生一空位,外壳层 电子跃入空位时,损失的能量以特征X射线释放; 2 )高能电子受到原子核的强电场作用被减速,损失的 能量以波长连续变化的X射线形式出现。
h
2)X射线的吸收
1.光电效应
光电子
x-ray
K
L
’
2
h '
荧光射线(二次标识X射线)
1 2 mv 2
当X射线的波长小于或等于λK时才能产生光电效应,使X射 线的能量被吸收; 荧光X射线增加衍射花样的背底,给衍射分析带来不利影响
不参与晶体对X射线的衍射,只形成连续背底,给衍 射分析带来不利影响
第一次X射线衍射实验所用的仪器, 所用的晶体是硫酸铜。
爱因期坦称,劳厄的实验 “ 物理学最美的实验”。它一箭 双雕地解决了 X 射线的波动性 和晶体结构的周期性。
劳厄法X射线衍射实验与所拍的照片
后来的科学证明,与可见光一样, X射线的本质 是一种电磁波。 它具有波粒二象性。 即,它既具波动性,又具有粒子性。 在X射线衍射分析中应用的主要是它的波动性,反 映在传播过程中发生干涉、衍射作用。 在与物质相互作用,进行能量交换时,则表现出它 的粒子性。
52
由: λ=h/ΔE 可知 不同的原子,各轨道间的能量差不同,因此, 所产生的Kα、Kβ、及Kγ波长不同且固定。 即波长取决于原子序数,称之为特征X射线光 谱。
在L→K跃迁产生Kα辐射时,由于L电子层有三 个亚层,三个亚层之间有微小的能量差异。能发生 电子跃迁的是第二和第三亚层。
53 54
ΔE1 = EL2-EK = hν= hc/λα1 ΔE2 = EL3-EK = hν= hc/λα2 所产生的Kα射线就分为Kα1和Kα2。其 波长有微小的差异。 比如Cu , λKα1 =1.5405Ǻ λKα2 =1.5443Ǻ 另外其β射线 λKβ =1.3921Ǻ
人们推测晶体内 部的质点是规则 排列的,间距在 10-10m
在伦琴的两名研究生弗里 德里希(W. Friedrich)和克 尼(Knipping)的帮助下,劳厄 进行了第一次X射线衍射实验, 并取得了成功。
如果x射线是一 种波,且波长与 晶体内部质点间 的距离相当,那 么用x射线…….
x射线衍射?!
医学透视 安检
7李鸿章9源自101901年,伦琴获得第一届 诺贝尔物理学奖金。 布拉格及其所用的试验装置
12
与X射线相关的诺贝尔奖
[1]1901年,诺贝尔奖第一次颁发,伦琴就由于发现X射线而获得了诺贝尔物理学奖。 [2]1914年,劳厄由于利用X射线通过晶体时的衍射,证明了晶体的原子点阵结构而 获得诺贝尔物理学奖。 [3]1915年,布拉格父子因在用X射线研究晶体结构方面所作出的杰出贡献分享了诺 贝尔物理学奖。 [4]1917年,巴克拉由于发现标识X射线获得诺贝尔物理学奖。 [5]1924年,西格班因在X射线光谱学方面的贡献获得了诺贝尔物理学奖。 [6]1927年,康普顿与威尔逊因发现X射线的粒子特性同获诺贝尔物理学奖。 [7]1936年,德拜因利用偶极矩、X射线和电子衍射法测定分子结构的成就而获诺贝 尔化学奖。 [8]1946年,缪勒因发现X射线能人为地诱发遗传突变而获诺贝尔生理学.医学奖。 [9]1954年,鲍林由于在化学键的研究以及用化学键的理论阐明复杂的物质结构而 获得诺贝尔化学奖(他的成就与X射线衍射研究密不可分)。 [10]1962年,沃森、克里克、威尔金斯因发现核酸的分子结构及其对生命物质信息 传递的重要性分享了诺贝尔生理学.医学奖(他们的研究成果是在X射线衍射实验的 基础上得到的)。 [11]1962年,佩鲁茨和肯德鲁用X射线衍射分析法首次精确地测定了蛋白质晶体结 构而分享了诺贝尔化学奖。 [12]1964年,霍奇金因在运用X射线衍射技术测定复杂晶体和大分子的空间结构取 得的重大成果获诺贝尔化学奖。 [13]1969年,哈塞尔与巴顿因提出“构象分析”的原理和方法,并应用在有机化学研 究而同获诺贝尔化学奖(他们用X射线衍射分析法开展研究)。 13