PDP可靠性测试规范(中英文)

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PDP测试(简易版)

PDP测试(简易版)

PDP性格测试(简易版)PDP是行为风格测试的一项工具,英文简称Professional Dynamitic Program。

行为风格是指一个人天赋中最擅长的做事风格,并且区分了天生本我、工作中的我及他人眼中的我。

PDP由美国南加州大学统计科学研究所、英国Rtcatch行为科学研究所共同发明:它可以测量出个人的「基本行为」、「对环境的反应」、和「可预测的行为模式」。

25年来全球已累积有1,600万人次有效计算机案例,5,000余家企业、研究机构与政府组织持续追踪其有效性。

其有效性已经透过4种研究方法被证实:结构、促成因素、预测能力及内容有效性,所有形容词的分辨可靠性超过86%。

经过研究机构的调查显示当PDP所建议的程序被采用执行时,则其误差率低于4%。

使用PDP系统来激励员工,会使员工对创造工作的价值产生热情,进而也降低不良的人事流动率和减少不满意度的现象;在某些情况下,员工会感受到自己被公司关怀和了解。

PDP 被赞誉为现今全球涵盖范围最广、精确度最高的『人力资源诊断系统』。

PDP简易版则通过较直观的形式把人的性格大致分成了老虎型、孔雀型、无尾熊型、猫头鹰型、变色龙型等5种。

不难看出PDP(简易版)其实和MBTI和DISC有很多似曾相识的维度。

不过比较形象,让人容易想象:这几个动物性格实在是太明显和有独特个性了。

比如孔雀好比MBTI中的E,外向型,好表现。

比如老虎好比DISC中的D型,支配欲强,好胜心强。

比如变色龙好比MBTI中的P型,适应能力强。

比如猫头鹰好比MBTI中的S型,精确,细致,重视实实在在的数据。

比如无尾熊好比DISC中的C型,敦厚老实,善良淳朴。

是稳定的跟随者。

不过无论如何,相对而言,PDP简易量表有其独特的直观特性,也方便记忆。

以下是简易版测试,若有兴趣,您可直接参与PDP正版(完整版)测试(亦称Rtcatch)。

来源:/pdp/。

可 靠 度 测 试 规 范

可 靠 度 测 试 规 范

修订日期Amendment Date编号 No. WI7308版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范Reliability Test Specification页次 Page1发行日期Release Date90.11.12可 靠 度 测 试 项 目 目 录NOEvaluation Test Items 评价项目1 Temperature Distribution 温度分布2 Component Temperature Rise 组件温度上升3 Parts Derating 组件余裕度4 Thermal Runaway 热击穿(失控)5 High Temperature Short Circuit 高温短路6 Life of Electrolytic Capacitor 电解电容算出寿命7 Noise Immunity 噪声免疫能力8 Electro Static Discharge 静电气9 Lightning Surge 雷击10 Input ON/OFF At High Temperature 高温输入ON/OFF 11 Low Temperature Operation 低温动作确认 12 Dynamic Source Effect 动态输入变动 13 Fan Abnormal Operation FAN FAN 异常动作 14 Vibration 振动 15 Shock 冲击 16 Abnormal Ripple 异常纹波确认 17 High Temperature Test 高温测试 18 Low Temperature Test 低温测试 19 Temperature /humidity Test 温湿度循环测试 20 Strife Test 压力测试 21 PLD Test 输入瞬断测试 常温、常湿:定义湿温度5℃~35℃,相对湿度 45﹪~85﹪RH修订日期Amendment Date编号No.WI7308版本 VersionV.01 可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page3发行日期Release Date90.11.121.5 温度Derating 率 NO 组件名称 温度判定标准备注1 电阻 电阻最高耐温之80﹪2电容 电容最高耐温减5℃3半导体 1.Schotty Diode 取Tj 之90﹪ 2.其它半导体(晶体管MOSFET 取Tj之80﹪)热暴走高温短路测试Ta :55℃ Load :100﹪ Ta :65℃ Load :70﹪Input :85V/265V 时(Tj*80﹪)+5℃为判定基 础4基板 1.FR-4 : 115℃2.CEM-3 : 110℃3.CEM-1 : 100℃4.XPC-FR : 100℃5.判定:PCB 最大耐温减10℃与基板板厚无关5变压器 (含电感)绝缘区分: A 种 E种 B种 标准温度: 105℃ 120℃ 130℃ 热偶式 : 90℃ 105℃ 110℃ Abnormal : 150℃ 165℃ 175℃Specification 页次Page 14发行日期Release Date90.11.1211. Low temperature operation低温动作确认:11.1目的:为确保待测产品可靠度,确认周围温度下限之动作余裕度。

通用可靠性测试指引(General reliability test instruction)

通用可靠性测试指引(General reliability test instruction)

通用可靠性测试指引(General reliability test instruction)制作人(Prepare By) :David Tsang批准人(Approve By):Carrie Chueng发出日期(Issue Date):Aug. 05, 20101. 目的(Purpose)根据一般行业标准的可靠性测试要求及判定基准, 本文件旨在建立可靠性的一些测试项目、要求和操作说明来规范和指导PDP业务的可靠性。

(Basing on the general reliability test requirements and judgment criteria in industrial standard, this document aims to set up the some test items, requirements and operation instruction forstandardization of reliability test of PDP business).2. 适用范围(Scope)本程序文件适用于与PDP有业务的产品. 如顾客没有提供测试标准或产品本身无特别安全测试要求,PDP及生产商可根据本程序内文的测试标准或指定的文件来进行可靠性测试。

(This document is applicable to the products which related to PDP business. PDP and subcontractor can conduct reliability test referring to this instruction if no specified testing instruction supplied by customer.)3. 参考文件(Reference)3.1 产品规格(Product specification)3.2 电气规格(Available electrical specification)3.3 QP-RTI-002 (NOA Accessory Testing Guideline)4. 操作程序(Operation Procedure)4.1 首先根据产品的物料特性、设计的要求选取下面合适的测试项目进行测试。

PQP中英对照

PQP中英对照

5
Customer Aspects 问题跟踪报告状态说明:4未清楚原因;3知道问题原因,未能明确解决方案;2知道问题
原因解决方案,未大量验证;1已小批量试验(100台以下);0已批量试验OK(100台以上)
- General / External appearance 常规及外观方面 - Quality Feel 品质方面 - Functional Check (incl. System Matching) 功能检测
2.4
2.5
USB / SD / MMC card USB/SD/MMC card测试(可参照Ceneric CTQ for MAM-Car Audio) - Playability USB / SD / MMC card播放不能出现跳曲、什音类,
# # # 0 -#
--Compatibility
2.6 2.7 2.8 ESD (UAN-D1724) 静电测试 EM test (ISO 7637) 由PHILIPS提供ESD (UAN-D1724)标准测试方法 Power supply 电源部分 -Line Voltage Variation [operation voltage range] 工作电压要求10.5~15.8V -Current consumption (ACC off/on) ACC off主机消耗电流 - Engine start 发动机启动测试 - Micro cuts 供电瞬间中断及变化测试,需送外部验证 - Ignition cuts 打火干扰测试,需送外部验证 EMC Interference Cansed by intemal soudce EMC所有测试项需送外部验证:本机干扰 - European Standards EN-55013 & 55020 按欧洲标准EN-55013 & 55020 - CE MARK E-Mark认证 - Conducted & Radiated immunity 抗干扰能力 - Conducted & Radiated emission 对外幅射强度 Durability of Amplifiers & LSB 功放性能 -Stability with inductive/capacitive load 容感抗对功放稳定性的测试(用带分频器的喇叭),输出不能出现明显的失真 或异常现象 - Stability with different resistive load [2/3.2/8ohm] 变换2Ω/3.2Ω/8Ω的负载,输出不能出现明显的失真或异常现象 - Loundspeaker connection short circuit 喇叭线相互短路测试 - Loundspeaker connection shorted to GROUND 喇叭线接地测试 - Loundspeaker connection shorted to SUPPLY VOLTAGE

IPTV常用术语中英文对照表

IPTV常用术语中英文对照表

IPTV常用术语中英文对照表AAAC(Advanced Audio Coding):高级音频编码。

AAC是i-mode 所指定的音档格式,相对于MP3格式,AAC在原音质量和压缩效率上有绝对的优势。

AAC作为MPEG 4与3GPP的核心规格,也是MPEG规格的一部分。

AAC可以真实呈现立体声的高质量原音、更逼近CD音质,且能够达到很高的压缩率,可帮助减少许多储存空间,档案也远比MP3格式来得小。

AAC_LC(Low Complexity AAC):低复杂度AAC音频编码。

ABR(Average Bit Rate):平均比特率,一种编码方式,是CBR和VBR编码方式的结合,它支持BR(Bit Reservoir,比特储存)技术,在信息量少的情况下降低比特率,把多余的可用数据量放到Bit Reservoir中储存起来,在信息量大的情况下再从Bit Reservoir中提取出来,这样就在结合了CBR和VBR的优点。

AC3(Audio Coding3):音频编码3,即杜比数码。

ADSL(Asymmetrical Digital Subscriber Looper):非对称数字用户环线。

AGP(Accelerate Graphical Port):加速图形接口。

AVC(Advanced Video Coding):MEPG-4 Part10,也称H.264(ITU)。

AVS――AVS(AdvancedAudio-VideoCoding/DecodingStandard)是数字音视频编解码技术标准的英文简称。

AVS标准包括系统、视频、音频、数字版权管理等四个主要技术标准和一致性测试等支撑标准。

其核心是把数字视频和音频数据压缩为原来的几十分之一甚至百分之一以下,试图解决数字音视频海量数据的编码压缩问题,故也称数字音视频编解码技术。

它是数字信息传输、存储、播放等环节的前提,故此AVS成为了数字音视频产业的共性基础标准。

pdp测试结果分析

pdp测试结果分析

PDP测试结果分析1. 引言本文旨在对所进行的PDP测试结果进行分析和解读。

PDP(Parallel Data Processing)是一种并行数据处理的技术,在大数据处理中具有重要的应用价值。

通过对PDP测试结果的分析,我们可以评估系统的性能表现,发现潜在的问题,并提出相应的优化措施。

2. 测试环境为了保证测试结果的可靠性,我们在以下环境中进行了PDP测试:•操作系统:Ubuntu 18.04 LTS•处理器:Intel Core i7-8700K•内存:16GB•软件版本:PDP v1.2.03. 测试指标在进行PDP测试时,我们主要考察了以下几个指标:•处理速度:即PDP系统在处理给定数据集时所花费的时间。

该指标反映了系统的处理效率和性能。

•数据吞吐量:表示系统在单位时间内能够处理的数据量。

该指标与处理速度密切相关,是衡量系统性能的重要指标。

•资源利用率:衡量系统在进行数据处理过程中所占用的资源,如CPU利用率、内存利用率等。

资源利用率的高低直接影响系统的性能表现。

4. 测试结果经过一系列的PDP测试,我们得到了如下测试结果:测试编号处理速度(条/秒)数据吞吐量(GB/秒)CPU利用率(%)内存利用率(%)Test1 10000 2.5 80% 60% Test2 15000 3.8 85% 65% Test3 12000 3.0 70% 55%根据上述测试结果,我们可以得出以下几点结论:1.处理速度:从表中可以看出,Test1和Test3的处理速度相对较低,而Test2的处理速度相对较高。

这可能是由于数据集的大小和复杂性不同所导致的。

2.数据吞吐量:可见,Test2的数据吞吐量最高,达到了3.8GB/秒,而Test1和Test3的数据吞吐量相对较低。

这表明系统在处理大数据集时能够更高效地进行数据处理。

3.资源利用率:与处理速度和数据吞吐量相对应,从CPU利用率和内存利用率来看,Test2的资源利用率最高,Test1次之,Test3最低。

第一阶段中英文对照

第一阶段中英文对照

RUP (rational unified process)统一软件开发过程IPD(intergratied product developement)集成项目开发PDT(product developement team)项目开发团队IPMT(integrated product management team)集成项目管理团队SRS(software requiment specification)软件需求说明书HLD(high level design)概要设计LLD(low level design)详细设计UT(unit testing)单元测试IT(intergrated testing)集成测试ST(system testing)系统测试RT(regression testing)回归测试UA T(user accept testing)用户接受测试water full瀑布v&v verfication(验证)&vallidation(确认)CMM (capability maturty model)能力成熟度模型cmm1 initial初始级cmm2 repeatable可重复级cmm3 defined已定义级cmm4 managed已管理级cmm5 optimizing优化级OSSP organization standard software process组织标准软件过程PDP(product developement process)项目开发过程EPG(engineering process group)工程过程组ISO(international organazation for standardization)国际标准组织QA(quality assurace)质量保证QC(quality contral)质量控制KPA(key process area)关键过程域ERP(enterprise resource planning)企业资源计划CCB(change control board)变更控制委员会(configuration control board)配置控制中心SCM(software configuration management)软件配置管理CMO(configuration management officer)配置管理员SDLC(software development life cycle)软件开发生命周期SLC(software life cycle)软件生命周期RDBMS(relational database management system)关系型数据库系统SQA(software quality assurance)软件质量保证5C correct正确clear清晰concise简洁complete完整consistent一致SC(statement coverage)语句覆盖bc(branch coveage)判定/分支覆盖cc(condition coverage)条件覆盖bcc(branch-condition coverage)分支-条件覆盖pc(path coverage)路径覆盖fc(function coverage)功能覆盖FC(function coverage)函数覆盖IBC(instraction blocks coverage)指令块覆盖isolation unit testing孤立的单元测试策略top-down unit testing自顶向下的单元测试策略botton-top unit testing自底向上的单元测试策略big bang intergrated testing大爆炸的集成测试策略up-down intergrated testing自顶向下的集成测试策略bottton-up intergrated testing 自底向上的集成测试策略sandwich intergrated testing 三明治集成测试策略layer intergrated testing 分层集成测试策略GUI(graphic user interface)图形化界面测试PM(project manager)项目经理SWE(software development engineer)软件开发工程师STE(software testing engineer)软件测试工程师CMI(fconfiguration mangement item)配置项/CICR(change requirment)变更请求。

PD数据完整性行为守则要素

PD数据完整性行为守则要素

PDA-数据完整性行为守则要素(中/英对照版)Parenteral Drug Association Points to Consider注射剂协会考虑要点Elements of a Code of Conduct for Data Integrity数据完整性行为守则要素Introduction简介Data Integrity has been and currently is a major global concern of Health Authorities and the pharmaceutical not a new issue, numerous recent Health Authority enforcement actions such as Warning Letters, Import Alerts, Product Detentions, and suspension or revocation of Marketing Authorizations has focused attention on Data Integrity can result from lack of awareness of regulatory requirements, employee errors, failure to check accuracy of data, software or system malfunction, or configuration problems with electronic data handling, or malfeasance by holistically address Data Integrity, the Parenteral Drug Association (PDA) is developing a set of tools in the form of PDA Technical Reports, PDA Training Program, Data Integrity Workshops, and Points to Consider documents that can be used by industry to address this serious document presents the views of the Parenteral Drug Association (PDA) on the benefits for companies to voluntarily adopt a Code of Conduct for assuring data integrity.数据完整性目前已经成为全球卫生机构与制药行业所关注的重点。

PQP中英对照

PQP中英对照

7
7.1 7.2 7.3 7.4
Other Tests 其它测试
Standard dimensions - Car system 标准尺寸,不能超出160CM,常规155CM Appearance / finishings / Quality look / feeling / Lighting 外观/装饰/丝印方式/灯光等,PHILIPS提供资料 Connector block 标准连接线及颜色,暂用ISO插 Antenna connector 天线连接插,按PHILIPS要求 - Passive / Active aerial 外接天线,按PHILIPS要求 Loundspeaker connections 喇叭连接方式,按PHILIPS要求 Wiring color 喇线颜色,按PHILIPS要求 Over-voltage - 16.5V, 0.5W, 1hr; 24V, minimum, 1minutes 过载电压18V试验1小时; 24V试验1分钟,主机不能出现损坏。 Reverse supply voltage - 3times, 3minutes, -12.6V 反接电压试验(12.6V),试验3次,每次3分钟,主机不能出现损坏。 Bluetooth 蓝牙功能 - Connective 连接可靠性:必须稳定,不能出现断接现象 - Compatibility 根据PHILIPS提供的手机清单上内容 Setting-up time - Tuner/CD/USB 开机时间,Tuner/CD/USB Lifetime 寿命测试: 参见测试表Switching Lifetime Test Plan Key/Knob/Hacndle - Disc [Rotating/Load/Eject/Search] 光碟:转动、读碟、出入碟、搜索状态,不得刮花碟 - Front panel 前咀:开合、装拆测试 - USB/SD/MMC plug & unplug USB/SD/MMC插拔测试 Decoration test 外观测试: Mounting 安装配件、实际安装测试 Environmental regulations - RoHS 所有用料符合环保规则——ROHS # # # #

可靠性实验测试作业规范(含表格)

可靠性实验测试作业规范(含表格)

可靠性实验测试作业规范(含表格)可靠性实验测试作业规范(ISO9001-2015)1.0 目的指导QA/IQC对产品可靠性测试实验要求及标准。

2.0 范围此文件适用于所有生产可靠性测试实验。

3.0 职责3.1 QA/IQC负责产品的可靠性测试实验工作执行。

4.0 定义无5.0 作业内容5.1 橡筋条拉力测试:(5PCS)5.1.1 试验条件:拉力测试机一端固定皮套,另一端分别固定皮套四个橡筋角,测试各角拉断a或拉脱车缝线时的拉力。

5.1.2 产品判定标准:≥10KG。

5.2 皮套翻折测试:(2PCS)5.2.1 试验条件:将对应的电子产品或模型机装入皮套,模拟实际使用的状态:打开皮套,后翻皮套,皮套后幅顶在前幅扣位上,使皮套直立在台面上2-3S(一个循环);循环2000次。

5.2.2 产品判定标准:扣位与后幅接触面无破损,无明显变形,扣位平贴皮套。

皮套功能正常(如有效支撑电子产品)。

5.3 温湿度存储测试:(5PCS)5.3.1 试验条件:产品平铺在恒温恒湿箱内(表面无任何物品),温湿度条件:0.5小时升至60±2℃,90-95%RH,持续8小时;1小时降至-20±2℃,持续8小时;0.5升温至室温。

5.3.2 产品判定标准:外观良好,无变形、起泡现象,表面无化学变化;功能正常,能有效支撑对应的电子产品。

5.4 角位橡筋扣合测试:(2PCS)5.4.1 试验条件:皮套套好产品或对应的产品模型,手拉角位橡筋使其扣在皮套后幅上。

20次/分钟,重复1000次。

5.4.2 产品判定标准:角位橡筋弹力良好,车缝线无脱线现象,能正常扣住后幅,后幅皮面没有明显压痕。

5.5 包装温湿度储存测试:(2箱)5.5.1 试验条件:产品平铺在恒温恒湿箱内(表面无任何物品),温湿度条件:0.5小时升至60±2℃,90-95%RH,持续24小时;1小时降至-20±2℃,持续24小时;0.5升温至室温。

液晶显示器行业内中英文对照表

液晶显示器行业内中英文对照表

附:缩略语中英文对照表AACF Anisotropic Conductive Film 各向异性导电薄膜ADC Analog-Digital Converter 模数转换器AES Auger Electron Spectrometer 俄歇电子能谱仪AFFS Advanced FFSAFLC Anti-Ferroelectric Liquid Crystal 反铁电液晶AMLCD Active Matrix Liquid Crystal Display 有源矩阵液晶显示器件AMOLED Active Matrix Organic Light Emitting Display 有源矩阵有机电致发光二极管APCVD Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition常压化学气相沉积AP Plasma Atmospheric Pressure Plasma 常压等离子清洗AQK Aqua Knife 水刀清洗a-Si Amorphous Silicon 非晶硅AS—IPS Advanced—Super-In-Plane Switching 超高级面内切换宽视角技术BBCE Back Channel Etched 背沟道刻蚀型BEF Brightness Enhancement Film 增亮膜BEW Blurred Edge width 边界模糊区域宽度B/L Back Light 背光源BM Black Matrix 黑色矩阵或黑矩阵BS Back Channel Stop 背沟道保护型BJ Bubble Jet 气泡清洗方法,又被称为CJCCCD Charge Coupled Device 电荷耦合器件CCFL Cold Cathode Fluorescent Lamp(Light) 冷阴极荧光灯CD Critical Dimension 显影后或刻蚀后的图形尺寸CF Color Filter 彩色滤光片CFI Color Filter Integration 彩色滤光片集成CIE Commission Internationale de l’Eclairage 国际照明委员会CJ Cabitation Jet 用加了高压的去离子水与空气混合后所产生的大量气泡来去除灰尘的一种清洗方法COA Color Filter on Array 阵列上彩色滤光片COF Chip On Film 薄膜芯片集成COG Chip On Glass 玻璃芯片集成COP Cycio Olefins Polymer 环烯烃聚合物CRT Cathode Ray Tube 阴极射线管CVD Chemical Vapor Deposition 化学气相沉积CSTN Color STN 彩色超扭曲向列型DDAP Depth AES Profiles 俄歇深度剖面分析D。

行业平板电脑整机可靠性测试规范

行业平板电脑整机可靠性测试规范
3、样机标示卡贴于样机右上角,须与该样机管制流程卡相同,如标示卡位置影响到实验样机时,得以撕除贴纸并于实验前复制一张,于实验完成后再将序号贴上,后续会依此机台编号做登记并追踪纪录;
4、执行测试前,确认每项实验项目执行状况及进度;
5、测试中如遇测试异常时需填写「异常清单汇整表」,以利机台异常追踪;
6、测试完成后出具可靠性测试报告;
B.Chamber设定参照1-5-3测试条件;
C.待测物关机裸置存储约25H;
D.测试结束之后将温箱降至常温,拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试;
E.测试中每两小时确认测试状况,检查系统状态;
F.检查机构外观时,需拆下塑料外壳检验;
G.执行下个测试前,需更换新的塑料外壳。
二、适用范围:
适用于所有深圳市汉普电子技术开发有限公司研发和生产的行业平板电脑。
三、参考标准:
YD/T 1539-2006:移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法;
GB/T 2423.XX:电子电工产品环境试验标准;
GB/T 9286:色漆和清漆、漆膜的划格试验;
GB 4208-2008:外壳防护等级(IP代码);
B.Chamber设定参照1-3-3测试条件;
C.待测物关机裸置存储48H;
D.测试结束之后将温箱降至常温,拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试;
E.测试中每两小时确认测试状况,检查系统状态;
F.检查机构外观时,需拆下塑料外壳检验;
G.执行下个测试前,需更换新的塑料外壳。
1-3-6判定标准:
1-6-6判定标准:
检验判定标准(系统功能)
项目
内容
CR
MA
MI

产品可靠性试验规范

产品可靠性试验规范

产品可靠性试验规范随着科技的不断进步和商品生产的快速发展,产品的可靠性成为了厂商和消费者关注的热点。

可靠性是指产品在规定的条件下,达到所要求性能的能力,也就是说产品在使用过程中能够持续稳定地工作。

为确保产品的可靠性,企业需要制定相应的试验规范来进行可靠性试验。

一、可靠性试验的重要性可靠性试验是确保产品质量的重要手段。

通过对产品进行严格的可靠性试验,可以发现潜在的问题,提前解决可能的质量隐患,降低产品故障率,增强产品的可靠性和稳定性,提高用户的满意度和信赖度。

同时,合理的可靠性试验规范也能够有效规范企业的生产流程,降低生产成本,提高企业竞争力。

二、可靠性试验的目标和指标1. 目标:可靠性试验的主要目标是评估产品的可靠性和耐久性,检验其在规定条件下运行的情况,确定其性能是否能够满足预期要求。

2. 指标:可靠性试验的指标主要包括故障率、平均无故障时间(MTBF),平均寿命(MTTF)等。

故障率是指单位时间内发生故障的次数,即单位时间故障数。

MTBF是指平均无故障时间,即产品在试验过程中平均无故障持续运行的时间。

MTTF是指平均无故障寿命,即产品在试验过程中平均无故障运行的总时间。

这些指标能够反映产品的可靠性和耐久性水平,以及产品的寿命预测。

三、可靠性试验规范的制定1. 试验环境:制定可靠性试验规范时需要明确试验的环境条件,包括温度、湿度、气压等。

应根据产品的使用环境和要求,确定试验的温度范围、湿度范围等,以保证试验结果的可靠性和实用性。

2. 试验方法:根据产品的特点和使用条件,选择合适的试验方法。

常用的试验方法包括寿命试验、可靠性加速试验等。

寿命试验是指产品按照规定的负载和工作条件进行长时间运行,观察其故障情况。

可靠性加速试验是在一定条件下,通过对产品进行加速运行或模拟环境的方式来提前暴露产品的潜在问题,从而评估产品的可靠性。

3. 试验标准:制定可靠性试验规范时,应参考相关标准和行业规范。

可以参考国家相关标准、国际标准以及行业协会的规范。

PDS测试标准

PDS测试标准

系统性能指标1.系统测试综合布线系统测试包括:水平双绞线链路测试、垂直干线铜缆链测试、垂直干线光缆链测试。

系统测试完毕后,即组织相关技术及管理人员对整个系统进行验收。

1.1 6类水平双绞线的测试说明6类水平双绞线系统的测试指标主要包括:1).长度、连续性、短路、断路测试2).信号全程衰减测试3).信号近、远串音衰耗测试4).特性阻抗5).传输延时6).屏蔽线缆的连通性ISO/IEC ClassE 6类布线标准草案中规定的信道性指标值衰减(Atten)表示一个信号沿电缆传输时振幅减弱或降低的程度,由铜缆或介质损耗引起。

衰减值越小越好。

近端串扰(Next)是指传输线对感应到接收线对上的干扰信号。

Next隔离度用dB表示,用来衡量电缆中的线对彼此隔离的程度。

Next隔离度越大,表示感应到其它线对上的干扰信号越小,隔离程度越高,电缆质量也就越好。

线对间近端串扰(pr-pr Next)表示在线对数少的电缆中(4对或4对以下),假设其中有一个干扰线对,那这个干扰线对与其它任意一个线对间的Next值中最差就是线对间近端串扰。

同样pr-pr Next越大越好。

功率累加的近端串扰(PSNext)表示在线对数大于4对的电缆中,所有的干扰线对与受扰线对间的Next值之和。

同样PSNext越大越好。

远端串扰(Fext)是指由近端别的线对上的信号引起的、感应到远端线对上的信号。

Fext隔离度用dB表示。

同样Fext隔离度越大,电缆质量也就越好。

等级远端串扰(ELFext)与Fext基本相同,不同点在于:ELfext中远端感应的信号是相对于别的线对上的信号经过衰减后到达远端的信号。

ELFext隔离度用dB表示。

同样ELFext隔离度越大,电缆质量也就越好。

pr-pr ELFext与pr-pr Next一样,考虑两对线对间的影响,同样pr-pr ELFext 值越大越好。

PSELFext与PSNext一样,考虑多线对间的影响,同样PSELFext值越大越好。

尼奥库珀手机可靠性测试规范

尼奥库珀手机可靠性测试规范
可靠性测试主要是通过模拟产品在运输过程中和使用环境下可能出现的情况来验证产品的品质信赖度,寻找产品在量产前存在的品质缺陷,在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,评估产品的质量和可靠性以改善与提高产品的品质,降低市场的返修率。
2.适用范围
适用于深圳尼奥库珀数字科技有限公司生产的各种型号的产品及物料。
4.主要职责
4.1.可靠性测试技术员
4.1.1定义项目/产品可靠性测试计划
4.1.2产品可靠性具体测试任务的执行、跟踪
4.1.3完成可靠性测试原始记录并整理测试报告
4.1.4实验机器(测试设备)的日常维护
4.1.5实验室数据的管理
4.2可靠性测试员
4.2.1负责产品可靠性项目的测试
4.2.2负责软件升级的手机全功能测试,以及负责给客户送样手机品质检测
电池盖拆装试验…………………………………………………………8
手写笔插拔试验…………………………………………………………8
翻盖试验…………………………………………………………………9
滑盖试验…………………………………………………………………9
……………………………………………………9
触摸屏划线点屏…………………………………………………………9
触摸屏点屏试验…………………………………………………………9
摄像头拍照强度试验……………………………………………………9
粉尘测试…………………………………………………………………9
螺钉的测试………………………………………………………………9
钢球冲击实验………………………………………………………………10
控制文件持有人必须确保此控制文件传阅有关人员,并在需要时提供此文件作参考。

可靠性试验条件 (中英文最新版)

可靠性试验条件 (中英文最新版)

13
零件故障計數
壽命

14 試驗 加速壽命試驗
30℃/60%RH, 192 +5/-0小時; 加速條件: 60℃/60%RH, 40 +1/-0小時 MTBF=1/λtotal
加速溫度: 70℃/85℃
高溫箱 高溫箱
MIL-STD-781C GB/T29309-2012
15 各可靠性試驗條件若客戶有特殊要求的,則按客戶提供之試驗條件執行,公司無法完成的可靠性試驗項目送第三方進行檢測。
可焊性測試儀
(IPC J-STD-002C [G](setA2) [美国连接电子学工业标准])

10
一級防潮試驗
85℃/85%RH; 時間: 168 +5/-0小時
11
二級防潮試驗
85℃/60%RH; 時間: 168 +5/-0小時
可程式恒溫恒濕箱 IPC/JEDEC J-STD-020D.1
12
三級防潮試驗
6
振動試驗
掃頻方向:三個互相垂直的方向(X,Y,Z); 掃頻:2小時/方向
振動試驗台
GB/T2423.1-2008 GB/T 2423.17-2008 GB/T 2423.3-2006 GB/T2423.22-2002
特殊要求
MIL-STD-202G METHOD 201A
7
跌落試驗 跌落高度:由包裝重量決定; 次數:各2次; 跌落方式:六個面﹑三棱線﹑一角線 雙翼落下試驗機

ISTA 1A (2001)
8 靠 耐焊接試驗
溫度: 260℃±5℃; 浸漬時間: 10±1秒
錫爐
பைடு நூலகம்
GB/T2423.28-2005

可靠度试测规范.

可靠度试测规范.

附件2:可靠度測試規範可靠度測試項目目錄1. Component temperature rise 元件溫度上升:1.1 目的:確保待測物之可靠度,確認各元件均在溫度規格內使用.1.2 適用:所有機種適用.1.3 測試條件:a.輸入電壓:規格範圍之最小、額定、最大. b.負 載:規格範圍之最大. c. 輸出電壓:額定. d. 周圍溫度:常溫. e. 接 線 圖:1.4 測試方法:a.依測試條件設定,當溫度達到熱平衡後,以熱電偶測定元件溫度,基板上之元件 焊點需測量溫度.b.參考溫度Derating 計算出最大溫升規格值△t.(i.e. Derating Curve 在100% Load 100%下最高至50℃,則以附表ADerating 率之溫度減去50得100%之LOAD 下之△t,60℃時,Derating 率為70%, 則減去60得到70%之△t.)實際負載在100%時依減50℃之△t.為規格值. c.元件之選擇以R-1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定. d.元件實際溫升不能超過計算得出之△t.INPUT SOURCE待測物負 載溫度記錄器2.High temperature shoty circuit 高溫短路:2.1 目的: 確認輸出短路放置後,待測物之可靠度.2.2 適用: 除未加短路保護機種外所有機種適用.2.3 測試條件:a. 輸入電壓: 規格範圍之最大輸入電壓.(實測取最大,例265V)b. 輸出電壓: 額定值.C. 周圍溫度: 動作溫度上限┼5℃(例65℃). d. 接 線 圖:2.4 測試方法:a.待測物在設定測試條件下,輸出短路2小時以上.b.記錄溫度上升之情形,參照溫度Derating,不能超過規定溫度. C.解除短路狀態後確認輸出仍正常,部品不能有損壞. INPUT SOURCE待測物負 載示波器3. Life of electrolytic capacitor 電解電容算出壽命: 3.1 目的:推定待測物之壽命,並確認其可靠度.3.2 適用:所有機種適用.3.3 測試條件:a. 輸入電壓:額定值.b. 輸出電壓:額定值.c. 負 載:額定.d. 周圍溫度:40℃.e. 接 線 圖:3.4 測試方法:a.額定之輸出、輸入時,在規定之周圍溫度下,依下式計算:T 1-T 2L 1=L S ·2 10L 1:實際之有效壽命L S :部品使用溫度範圍上限下之有效壽命 T 1:部品之使用溫度範圍上限 T 2:實際使用溫度b.算出之壽命時間應≧規格所示.INPUT SOURCE待測物 負 載示波器 實效值4. Lightning Surge 雷擊:4.1 目的:確認輸入端加入 Lightning Surge 之耐受能力.4.2 適用:規格有規定之機種.4.3 測試條件:a.規格書有規定依規格條件.b.輸入電壓:額定(實測AC115V).c.輸出電壓:額定.d.負 載:額定.e.周圍環境: 常溫、常濕.f.施加波形:JEC 212規定,波頭長1.2μs,波尾長50μs 之電壓,波形3KV*110%(限 流電阻100Ω).g.接線圖:4.4 測試方法:a.依規定測試條件,施加Surge 電壓於輸入—輸入,輸入—Ground±極各3回確認元件無破損,無絕緣破壞,Flashover Arc 及保護回路誤動作情形發生. INPUT SOURCE待測物 電阻負載5. Input ON/OFF at high temperature高溫輸入 ON/OFF:5.1目的:高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加,確認産品之信賴性.5.2適用:所有機種適用.5.3 測試條件:a.輸入電壓:規格之輸入電壓範圍最大值(例:265V).b.負載:額定100% LOAD.c.輸出電壓:額定.d.周圍溫度:動作可能溫度範圍┼5℃(例65℃).e.接線圖:5.4 測試方法:a.待測物置於恒溫槽內,依條件之溫度設定,到達設定溫度後放置12小時,同時電源ON/OFF至少500 cycle於輸入端,結束後確認元件無破損,輸出電壓與機能正常(ON 5S,OFF 30S)6. Dynamic source effect 動的輸入變動:6.1目的: 確認待測産品在動的輸入變動下能正常動作.6.2適用:交流輸入之所有機種適用.6.3測試條件:a. 規格書有規定者,依規格條件.b. 負 荷:額定100%.c. 周圍溫度:常溫.d. 輸出電壓: 額定.e. 輸入變動條件:額定 最小,額定 最大.最大電壓額定電壓6.4測試方法:a.在基准動作狀態下(額定輸入電壓100%Load),測定輸出電壓值Vs.b.計算電壓變動率:%100%100⨯-⨯-SSL S S H V V V V V Vc.計算之變動率,應在總和變動之規格範圍內.INPUTSOURCE 待測物 負 載 示波器7.2適用:所有機種適用.7.3測試條件: a.溫度:T H70 Temp(deg C) 25functional inspection0 1 2 74 75 76 T H :産品規格所列之儲存溫度上限.b.輸入電壓:額定.c. 輸入頻率:50Hz.d. 負 載:100% LOAD.e. 接 線 圖:7.4測試方法:a.産品置於恒溫槽內,依上述之條件進行測試.b.溫度在達到預定之高溫T H 前後一小時之前於常溫下,須先進行功能測試,確認産品之功能;測試後産品須無任何損傷.8.2適用:所有機種適用.8.3測試條件: a.溫度:25 Temp(deg C) -40Tfunctional inspection0 1 2 74 75 76b.負 載:100% LOAD. c. 輸入電壓:額定. d. 頻 率:50Hz.e. TL :規格所列之儲存溫度下限.f. 接 線 圖:8.4測試方法:a.産品置於恒溫槽內,依上述之溫度設定及接線圖進行測試.b.溫度到達預定之低溫,前後一小時前須進行功能測試,確認産品能正常動作;且無任何損傷.9. Temperature/Humidity Test 溫、濕度循環測試: 9.1目的: 確認産品對周圍溫、濕度之適應能力.9.2適用:所有機種適用.9.3測試條件:a.Temp ℃ 40RelativeHumiditv(%) 50Funcion test Power onTime(hour) b.負 載:100% LOAD. c. 輸入電壓:額定. d. 頻 率: e. 接 線 圖:9.4測試方法:a.依上所列之測試條件及接線方式,執行測試.b.測試結束後,待測物需功能正常,零件無損壞情形.10. PLD test(輸入瞬斷測試):A. An undervoltage of 25% below the minimum inputvoltage, applied for two seconds, repeated 10 times : error free with a 10% duty cycle.B. An undervoltage of 35% below the minimum nominalinput voltage, but not less than 68V, applied for 30 : error free cycles of the input frequency, repeated 10 times witha 10% duty cycle.C. An undervoltage of 100% below the minimum nominal inputvoltage, applied for 20 milli-seconds repeated 10 times : error free with a 10% duty cycle.D. An overvoltage of 20% above the maximum nominal inputvoltage applied for two seconds,repeated 10 times with : error freea 10% duty cycle.E. When either of the following waveforms are applied toeither polarity peak of the input voltage waveform.The waveforms shall consist of 400Hz± 50Hz or800Hz± 100Hz exponentially decaying sinusoid with apeak voltage equal to the peak nominal line volage : error free and decay time constant such that the fifth half-cycleof the disturbance is between 15 and 25% of the firsthalf-cycle. The total duration of the disturbanceshall not exceed one cycle of the line voltage. Thistest shall be repeated 320 times (80 positive ringsand 80 negative rings at 400Hz; 80 positive rings and80 negative rings at 800Hz) a three(3) second intervals.F. Differential mode(line-to-line) and common mode(line-to-ground) voltage surges with open circuit voltagesof 2.5KV peak± 10% and 2KV peak± 10% respectively.The source impedance of the surge generator shall be : error free2 ohm± 20%. The surge wave shall be defined inANSI/IEEEC62.41(1980) and IEC 60-2(1973). threepositive and three negative surges shall be appliedat 0,90,180, and 270 degrees(24 total).The timeinterval between surges shall be 18 seconds.G. A 100 nanosecond pulse with an amplitude of 400volts shall be superimposed on the peak of the : error free nominal input voltage and repeated at the linefrequency for the(10) minutes.H. The power supply shall suffer no physical damageunder the following disurbances in AC line voltage.Repeat each test five times, returning the power supply : damage free to its normal running conditions between tests.Acomplete line outage for any duration.I. The power supply shall suffer no physical damageunder the following disturbances in AC line voltage.Repeat each test five times, returning the power supply : damage free to its normal running conditions between tests. A lineinput undervoltage of 65% below the nominal of anyduration of 5 seconds of less.J. The power supply shall not latch up with the followingline conditions:80% under voltage below the nominal : error free for 60 milliseconds or longer.K. The power supply shall not latch up with the followingline conditions:100% under voltage below the nominal : error free for 60 milliseconds or longer.。

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PDP可靠性测试规范
1. 目的(Purpose)
根据一般行业标准的可靠性测试要求及判定基准, 本文件旨在建立可靠性的一些测试项目、要求和操作说明来规范和指导PDP业务的可靠性。

(Basing on the general reliability test requirements and judgment criteria in industrial standard, this document aims to set up the some test items, requirements and operation instruction for
standardization of reliability test of PDP business).
2. 适用范围(Scope)
本程序文件适用于与PDP有业务的产品. 如顾客没有提供测试标准或产品本身无特别安全测试要求,PDP及生产商可根据本程序内文的测试标准或指定的文件来进行可靠性测试。

(This document is applicable to the products which related to PDP business. PDP and subcontractor can conduct reliability test referring to this instruction if no specified testing instruction supplied by customer.)
3. 参考文件(Reference)
3.1 产品规格 (Product specification)
3.2 电气规格(Available electrical specification)
3.3 QP-RTI-002 (NOA Accessory Testing Guideline)
4. 操作程序(Operation Procedure)
行测试。

(First select suitable reliability test items in this document
to fulfill the reliability test according to the material
feature and design requirement of products)
4.2 部分测试项目只需要某个部件即可,不需整个产品或配件。

(Some test items may need a certain component/parts only, not
whole product or accessory to achieve)
4.3 对于部分测试项目,除了产品要达到最低要求以外,还需提高测试
要求去测试,反映产品的实际情况,特别是在设计试产阶段。

(For some test items, the products not only meet the low limit
requirement, but also test them with tightened requirements
of reliability test to show the actual quality of the products
for monitoring, especially the products are in initial
development and pilot run stage)
4.4 测试员记录有关测试数据,完成可靠性测试后,发出测试报告。

(Operator obtain and record relative test data and release
reliability test report after completed test)
5. 可靠性测试项目及要求( Reliability test items and requirements)
5.1 环境测试(Environment test)
a. 低温储存测试(Low temp storage test)
温度条件(Temp condition): -20℃±5℃
稳定时间(Duration): 8hrs per cycle
次数(Cycles): 3cycles
测试(Test)每循环之后常温条件下2小时,完成3个循环后
测试产品功能和外观(2hrs of breaking time
under normal condition, complete three
cycles and then test functions and cosmetic
of products)
要求(Requirement):无任何功能/外观不良(No any abnormal
function and cosmetic found)
b. 高温高湿储存测试(Hi-temp&Hi Humi storage test)
条件(Temp. condition): 60℃±5℃&85%~90%RH 稳定时间(Duration): 8hrs per cycle
次数(Cycles): 3cycles
测试(Test):每循环之后常温条件下2小时,完成3个循环后
测试产品功能和外观(2hrs of breaking time
under normal condition, complete three cycles
and then test functions and cosmetic of
products)
要求(Requirement):无任何功能/外观不良
(No any abnormal function and cosmetic found)
c. 运输包装低温储存试验(Low temp storage test for packing)
温度条件(Temp condition): -20℃±5℃
稳定时间(Duration): 24hrs (for the
first ship)
8hrs (for MP) 测试(test):取出回复常温条件下2小时,测试包装和产品外观
(Take out carton which packed with products from
chamber, and recover to normal condition for
2hrs and then check packing and products’
cosmetic)
d. 运输包装高温储存试验(Hi temp storage test for
transportation packing)
温度条件(Temp condition): 60℃±5℃
稳定时间(Duration): 24hrs (for the first ship)
8hrs (for MP)
测试(Check):取出回复常温条件下2小时,测试包装和产品
外观
(Take products out from chamber and recover to
normal condition for 2hrs and then check
packing and products’ cosmetic)
5.2 跌落测试(Drop test)
a. 裸机跌落测试(Bare unit drop test)
高度(Height):
reference)
台式产品(Stationary): 70cm (Low limit), 80cm, 100cm (for reference)
头戴式产品(Headset): 180cm (Low limit), 200cm for reference
设施条件(Facility):3cm厚木板(3cm thickness of wooden board)
次数(times):6面(six faces)
要求(Requirement):在手执式产品在92cm, 台式产品在70cm或者头戴式产品在180cm高度做跌落测试,不能有功能性问题、崩裂和内有物。

(The test units shouldn’t be functional and
cosmetic defect, shaking thing in unit when drop with height 92cm(for protable), 70cm (for stationary), or 180cm( for
headset).
在设计试产阶段,除了在各自的基本高度下测试要合格,手执式产品在更高的110cm高度, 台式产品80cm或头戴式产品在200cm
高度下做跌落测试,结果失败并比例占1/3以上,必须反馈相关部门
分析及提升抗跌落能力
(In design /pilot run stage, besides the products must be pass the drop test at low limit of height. And if failure rate is over 1/3 at height 110cm(for protable products), at
height 80cm (for stationary products), or height 200cm (for
headset products), need to feed back the result to relative
departments/ company to enhance the capability of anti-drop)。

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