SN29500-1中文翻译 元器件失效率期望值及概述
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如有疑问，以德语原文为准。 为了与国际电工委员会（IEC）和国际标准化组织（ISO）发布的标准中的现行惯例保持 一致，十进制数字采用逗号隔开。
历史版本： 08.77；12.78；07.81；08.84；03.89；11.91；06.96。
修正案： 参考 1996 年 6 月的版本进行下列修订: a）第 4 条第 3 款:本文已被 1EC 61709 收录，并删减了部分内容。德文版本已作了相应 的修改。 b）以 SN 29500-1 H1(注释 1)代替原表 1。 c）更新参考文献。 d）编辑修改记录。
说明： 在西门子集团的大力支持下，在集团代表的大力协作下，本标准中的失效率得以确定和 应用。 本标准通过 SN29500 专家的评审。
1 范围
随着客户对产品的可靠性计算的精度要求越来越高，需要提供可靠性计算的范例。 失效率是设备部件或组件在频繁的应用中表现出的可靠性特征。 SN 29500-1 H1(注释 1)中的表 1 列出的部件失效率是西门子可靠性预计的基础。 本标准以器件的应用失效率作为基础条件(参考条件)。当描述失效率或不同情况下的失 效率数值进行比较时需描述其参考条件。参考条件的定义和基于应力的故障率转换模型均以 IEC 61709 为依据。本标准基于应力模型得出参考条件与应用条件的失效率计算模型。 本部分仅为一般性说明，在应用中还需结合表 1 中列出的各个部分。 注：
经验表明，在一些不合格的产品中找不到任何缺陷，最终失效率不考虑这些不合格品。 因此，在规划备件时，用户必须单独考虑这些因素。
期望值的置信区间是不合理的，因为它是根据样本寿命测试来估计的失效率。
3.2 时间间隔
所述的故障率仅适用于早期失效期（即恒定失效率期开始之前的时间段）之后。关于如 何处理早期失效期见本标准的各个部分相关描述。这些有助于：
3.1 期望值
本标准各个部分的故障率由现场确定，同时考虑外部来源的测试结果，然后根据参考条 件进行调整。可以预期，在相同使用条件下,失效率是一个平均值。
对于从现场获得的数据，所有的故障都包括在内，包括更换某一可替换单元（例如组件） 后的可复现故障。故障的个别原因在这里并不重要（例如，部件的制造故障、应力、在规定 值范围内的外部影响）。
图 1 测试平均环境温度举例
2.3 参考条件
本标准各个部分中所述期望值的参考条件，与所述组件的大多数应用一致。
2.4 操作模式
操作模式包括连续操作和间断操作，详述如下：
连续周期： 恒定负载情况下相对长时间工作，例如过程控制。 可变负载情况下相对长时间工作，例如电话交换设备。 恒定最小负载及短时最大负载情况下相对长时间工作，例如火警系统。
非连续周期： 运行阶段具有恒定负载，例如过程控制。 运行阶段具有可变负载，例如机械装置的控制单元、交通信号等。
2.5 环境描述
工作环境的描述定义了组件在工作过程中的气候环境和机械应力。 维修将由专业人员操作。
3 失效率
国际标准 IEC60050(191)中定义了理想失效率。一个部件的失效率指在给定环境和功能负 载下，在设定的时间间隔内，平均预期的失效数所占的比例。设备的组件和单元的失效率符 合随机分布，根据单个随机样本确定的失效率数值是没有用的。
继电器 取消 开关和按钮 信号和指示灯 接触器 光半导体信号接收器 发光二极管 LED，红外二极管 IRED 和半导体激光器 光耦和光栅
版本发行时间 2004-01 2004-12 2004-12 2004-03 2004-06 2005-11 2005-11 2005-12 1990-08 1994-03 1994-03 1994-03
西门子标准 SN29500-1
ICS 31.020 关键字：故障率，元器件，期望值，可靠性
版本：2005-12 废止版本：2005-11
元器件失效率 第一部分注释 1 预计值&概述&发行日期
元器件失效率
期望值及概述
SN29500-1 H1:2005-12 历史版本：
1996-12，1997-01，1999-04，1999-11，2004-01，2004-06，2004-12，2005-01，2005-11
由于制造商和用户使用不同的方式确定故障率，例如供应商采用最大公差的组件，而 用户为保持功能采用改变参数、使用错误的传输规律等，不变的情况下，仍能得到较 理想的结果。
判断老化/磨合方式的效果。 评估复杂产品在保修期服务需求的增加。 为了评估复杂的产品，可靠性特性的计算只适用于早期失效期之后的期望值，详见本标 准的各个部分所述。
3.3 与制造商参数的偏差
将本标准各部分估算的期望值与厂商提供的手册或厂商发布的其他相关信息的期望值比 较时，需注意以下内容：
如果制造商提供的值来自高加速应力试验，并通过无差异使用转换因子将其转换为长 期正常应力水平，则可能偏离实际值。
修正案： 更新第 10 部分的发行时间。 SN29500 各部分发行时间见表 1。 本标准任何部分的更新将导致表 1 和本注释的更新。
部分号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
表1 部件失效率 预计值，概述 集成电路 分离半导体 无源器件 电气连接，电气连接器和插座 取消；包含在第 5 和第 12 部分
当前可应用的有效版本见表 1。
2 定义和术语
2.1 环境温度
环境温度是设备关键部件不工作时，关键部件的周围介质温度。
2.2 平均环境温度
平均环境温度是在类似的应用环境中设备的平均环境温度。一般是长时间温度的平均值。 如图 1 描述了两种测试平均环境温度的实例。
a）测试点在两个部件中间
b）测试点在两个模块或 PCB 中间
本标准中所述的失效率λref 是在符合本标准 2.3 节中的应用条件下、且满足一定时间间 隔的大量应用的前提下得出的期望值值。也就是说，在后续的应用中，失效率是在给定的条 件下的平均值。所述的失效率是在给定的应用条件下获得的，因此本标准所述的失效率均有 对应的应用条件。
失效率还有一个时间维度，在本标准中定义为 FIT（Failures In Time，单位时间的失效数）， 即在 109 小时内的失效数。
如有疑问，以德语原文为准。 为了与国际电工委员会（IEC）和国际标准化组织（ISO）发布的标准中的现行惯例保持 一致，十进制数字采用逗号隔开。
历史版本： 08.77；12.78；07.81；08.84；03.89；11.91；06.96。
修正案： 参考 1996 年 6 月的版本进行下列修订: a）第 4 条第 3 款:本文已被 1EC 61709 收录，并删减了部分内容。德文版本已作了相应 的修改。 b）以 SN 29500-1 H1(注释 1)代替原表 1。 c）更新参考文献。 d）编辑修改记录。
说明： 在西门子集团的大力支持下，在集团代表的大力协作下，本标准中的失效率得以确定和 应用。 本标准通过 SN29500 专家的评审。
1 范围
随着客户对产品的可靠性计算的精度要求越来越高，需要提供可靠性计算的范例。 失效率是设备部件或组件在频繁的应用中表现出的可靠性特征。 SN 29500-1 H1(注释 1)中的表 1 列出的部件失效率是西门子可靠性预计的基础。 本标准以器件的应用失效率作为基础条件(参考条件)。当描述失效率或不同情况下的失 效率数值进行比较时需描述其参考条件。参考条件的定义和基于应力的故障率转换模型均以 IEC 61709 为依据。本标准基于应力模型得出参考条件与应用条件的失效率计算模型。 本部分仅为一般性说明，在应用中还需结合表 1 中列出的各个部分。 注：
经验表明，在一些不合格的产品中找不到任何缺陷，最终失效率不考虑这些不合格品。 因此，在规划备件时，用户必须单独考虑这些因素。
期望值的置信区间是不合理的，因为它是根据样本寿命测试来估计的失效率。
3.2 时间间隔
所述的故障率仅适用于早期失效期（即恒定失效率期开始之前的时间段）之后。关于如 何处理早期失效期见本标准的各个部分相关描述。这些有助于：
3.1 期望值
本标准各个部分的故障率由现场确定，同时考虑外部来源的测试结果，然后根据参考条 件进行调整。可以预期，在相同使用条件下,失效率是一个平均值。
对于从现场获得的数据，所有的故障都包括在内，包括更换某一可替换单元（例如组件） 后的可复现故障。故障的个别原因在这里并不重要（例如，部件的制造故障、应力、在规定 值范围内的外部影响）。
图 1 测试平均环境温度举例
2.3 参考条件
本标准各个部分中所述期望值的参考条件，与所述组件的大多数应用一致。
2.4 操作模式
操作模式包括连续操作和间断操作，详述如下：
连续周期： 恒定负载情况下相对长时间工作，例如过程控制。 可变负载情况下相对长时间工作，例如电话交换设备。 恒定最小负载及短时最大负载情况下相对长时间工作，例如火警系统。
非连续周期： 运行阶段具有恒定负载，例如过程控制。 运行阶段具有可变负载，例如机械装置的控制单元、交通信号等。
2.5 环境描述
工作环境的描述定义了组件在工作过程中的气候环境和机械应力。 维修将由专业人员操作。
3 失效率
国际标准 IEC60050(191)中定义了理想失效率。一个部件的失效率指在给定环境和功能负 载下，在设定的时间间隔内，平均预期的失效数所占的比例。设备的组件和单元的失效率符 合随机分布，根据单个随机样本确定的失效率数值是没有用的。
继电器 取消 开关和按钮 信号和指示灯 接触器 光半导体信号接收器 发光二极管 LED，红外二极管 IRED 和半导体激光器 光耦和光栅
版本发行时间 2004-01 2004-12 2004-12 2004-03 2004-06 2005-11 2005-11 2005-12 1990-08 1994-03 1994-03 1994-03
西门子标准 SN29500-1
ICS 31.020 关键字：故障率，元器件，期望值，可靠性
版本：2005-12 废止版本：2005-11
元器件失效率 第一部分注释 1 预计值&概述&发行日期
元器件失效率
期望值及概述
SN29500-1 H1:2005-12 历史版本：
1996-12，1997-01，1999-04，1999-11，2004-01，2004-06，2004-12，2005-01，2005-11
由于制造商和用户使用不同的方式确定故障率，例如供应商采用最大公差的组件，而 用户为保持功能采用改变参数、使用错误的传输规律等，不变的情况下，仍能得到较 理想的结果。
判断老化/磨合方式的效果。 评估复杂产品在保修期服务需求的增加。 为了评估复杂的产品，可靠性特性的计算只适用于早期失效期之后的期望值，详见本标 准的各个部分所述。
3.3 与制造商参数的偏差
将本标准各部分估算的期望值与厂商提供的手册或厂商发布的其他相关信息的期望值比 较时，需注意以下内容：
如果制造商提供的值来自高加速应力试验，并通过无差异使用转换因子将其转换为长 期正常应力水平，则可能偏离实际值。
修正案： 更新第 10 部分的发行时间。 SN29500 各部分发行时间见表 1。 本标准任何部分的更新将导致表 1 和本注释的更新。
部分号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
表1 部件失效率 预计值，概述 集成电路 分离半导体 无源器件 电气连接，电气连接器和插座 取消；包含在第 5 和第 12 部分
当前可应用的有效版本见表 1。
2 定义和术语
2.1 环境温度
环境温度是设备关键部件不工作时，关键部件的周围介质温度。
2.2 平均环境温度
平均环境温度是在类似的应用环境中设备的平均环境温度。一般是长时间温度的平均值。 如图 1 描述了两种测试平均环境温度的实例。
a）测试点在两个部件中间
b）测试点在两个模块或 PCB 中间
本标准中所述的失效率λref 是在符合本标准 2.3 节中的应用条件下、且满足一定时间间 隔的大量应用的前提下得出的期望值值。也就是说，在后续的应用中，失效率是在给定的条 件下的平均值。所述的失效率是在给定的应用条件下获得的，因此本标准所述的失效率均有 对应的应用条件。
失效率还有一个时间维度，在本标准中定义为 FIT（Failures In Time，单位时间的失效数）， 即在 109 小时内的失效数。