电子产品可靠性试验国家标准清单
电子行业电子产品可靠性测试标准
电子行业电子产品可靠性测试标准随着电子产品在现代社会中的广泛应用，人们对电子产品的可靠性要求也越来越高。
不同的电子产品具有不同的用途和功能，因此对它们的可靠性也有不同的测试标准。
本文将从电子产品的可靠性定义入手，介绍电子行业中常用的电子产品可靠性测试标准，包括环境适应性测试、可靠性指标测试、性能测试和可维修性测试等内容。
一、可靠性定义与环境适应性测试可靠性是电子产品保持其规定性能在所规定的时间内正常工作的能力。
环境适应性测试是评估电子产品在不同环境条件下的工作能力。
常见的环境适应性测试包括温度、湿度、气压和振动等。
1.1 温度测试温度测试是评估电子产品在不同温度条件下的工作能力。
常见的温度测试包括低温测试和高温测试。
低温测试主要评估电子产品在低温环境下的工作能力，如零下20℃；高温测试主要评估电子产品在高温环境下的工作能力，如60℃以上。
1.2 湿度测试湿度测试是评估电子产品在潮湿环境下的工作能力。
常见的湿度测试包括高湿度测试和恒温湿热测试。
高湿度测试主要评估电子产品在高湿度环境下的工作能力，如80%以上；恒温湿热测试主要评估电子产品在高温高湿度环境下的工作能力。
1.3 气压测试气压测试是评估电子产品在不同气压环境下的工作能力。
常见的气压测试包括高压测试和低压测试。
高压测试主要评估电子产品在高海拔环境下的工作能力，如3000米以上；低压测试主要评估电子产品在高原地区的工作能力。
1.4 振动测试振动测试是评估电子产品在振动环境下的工作能力。
常见的振动测试包括低频振动测试和高频振动测试。
低频振动测试主要评估电子产品在震动环境下的工作能力，如2~10Hz；高频振动测试主要评估电子产品在高频震动环境下的工作能力，如10~2000Hz。
二、可靠性指标测试可靠性指标是评估电子产品可靠性的关键指标，包括故障率、失效率、平均寿命和可用性等。
2.1 故障率测试故障率是在一定时间内电子产品发生故障的概率。
通过对大样本的电子产品进行长时间的运行测试，统计故障发生的频率，得到故障率的估计。
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值与测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量与允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用与类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频与脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器与电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器与电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095、1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095、2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095、3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095、4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095、5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定荷试验GB/T 5095、8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095、9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器与电阻器名词术语GB/T 11250、1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250、2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250、3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250、4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* 4875、1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体与非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质与多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7、5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子与通信设备用变压器与电感器测试方法与试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器与变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信与电子设备用变压器与电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信与电子设备用变压器与电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器与电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389、1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 3389、2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389、3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 3389、4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389、6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 3389、7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 3389、8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料与压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器与变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A与GB/T 9628-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯评定GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒与扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)GB/* 5819、1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范GB/* 9021、1-1988 SL10型视频连接器GB/* 9021、2-1988 SL12型视频连接器GB/* 9021、3-1988 SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则与制订详细规范的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验与测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范GB/* 11492-1989 FD08 FD12与FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 11449、1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 11449、2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范GB/T 11449、5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范GB/T 11450、1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求与测量方法GB/T 11450、2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 11450、3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范GB/T 11450、4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范GB/T 11450、5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 11450、6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范GB/T 13415-1992 射频混频器总规范GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 4588、1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588、2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件。
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T 设备可靠性试验总要求GB/T 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值和测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量和允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频和脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试验和电应力试GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定元件) 寿命试GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐蚀试验燃烧危电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器和电阻器名词术语GB/T 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用) GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用) GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用) GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值和功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值和功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子和通信设备用变压器和电感器测试方法和试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器和变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信和电子设备用变压器和电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器和电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器和变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A和GB/T 9628-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用)GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用)GB/* 11439-1989 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用) GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用) GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)GB/* 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范GB/* SL10型视频连接器GB/* SL12型视频连接器GB/* SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则和制订详细规范的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验和测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范GB/* 11492-1989 FD08 FD12和FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范GB/T 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范GB/T 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范GB/T 空心金属波导第一部分: 一般要求和测量方法GB/T 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范GB/T 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范GB/T 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范GB/T 13415-1992 射频混频器总规范GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 有金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 印制电路板设计和使用GB/T 多层印制板技术条件GB/T 印制板表层绝缘电阻测试方法GB/T 印制板拉脱强度测试方法GB/T 印制板抗剥强度测试方法GB/T 印制板翘曲度测试方法GB/T 金属和氧化覆盖层厚度测试方法截面金相法GB/T 印制板镀层附着力试验方法胶带法GB/T 印制板镀涂覆层厚度测试方法反向散射法GB/T 印制板镀层孔隙率电图象测试方法GB/T 印制板可焊性测试方法GB/T 印制板耐热冲击试验方法GB/T 印制板互连电阻测试方法GB/T 印制板金属化孔电阻的变化热循环测试方法GB/T 印制板蒸。
gjb-8041标准
gjb-8041标准
GJB-8041标准是中国国防工业标准的一部分，它是中国航空航
天领域的电子产品可靠性试验方法标准。
该标准主要用于评估和验
证航空航天电子产品在严苛环境下的可靠性，以确保其在实际使用
中能够稳定可靠地工作。
GJB-8041标准涵盖了多个方面的试验方法，包括高温、低温、温度循环、湿热、振动、冲击、恒定湿热、盐雾、高度、气压变化等多种试验项目，以全面评估电子产品的可靠性。
从技术角度来看，GJB-8041标准对电子产品的可靠性试验方法
做出了详细的规定，包括试验设备、试验条件、试验程序、试验结
果评定等方面的要求，以确保试验能够科学、准确地进行。
这有助
于制造商和使用者了解产品在不同环境条件下的性能表现，为产品
的设计、生产和使用提供参考依据。
另外，从应用角度来看，GJB-8041标准的实施对于提高航空航
天电子产品的可靠性和稳定性具有重要意义。
航空航天领域对产品
的可靠性要求非常高，一旦出现故障可能带来严重的后果，因此严
格执行GJB-8041标准有助于提高产品的质量和可靠性，确保其在极
端环境下仍然能够正常工作。
总的来说，GJB-8041标准作为中国航空航天领域的电子产品可靠性试验方法标准，对于评估和验证电子产品在严苛环境下的可靠性具有重要意义，有助于提高产品质量，保障航空航天领域的安全可靠运行。
可靠性试验标准目录
可靠性试验标准目录一、能实施的环境试验项目1.气候环境试验(GB2423，GJB150，GB4208，RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F)1.1温度试验：高温试验、低温试验、温度变化、温度冲击(热冲击、温度骤变)、温度循环(温度渐变)试验等；1.2湿度试验：防潮试验(湿度试验、恒定湿热、交变湿热)；1.3腐蚀试验：盐雾试验：中性盐雾试验NSS/铜盐加速乙酸盐雾试验CASS/铜盐加速醋酸盐雾试验CASS试验/铜加速醋酸盐雾试验CASS/酸性盐雾试验/醋酸盐雾试验ASS、霉菌试验(防霉试验、长霉试验)、大气腐蚀试验(气体腐蚀试验)：二氧化硫气体腐蚀试验(SO2)、硫化氢气体腐蚀试验(H2S)、丝状腐蚀试验/循环腐蚀试验；1.4其它：防尘防水(IP防护等级、IP等级、IP代码、外壳防护等级)、沙尘试验(扬尘试验、防尘试验)、浸水试验(防水试验)、淋雨试验、砂尘试验、冻雨试验、老化试验、低气压试验(低压试验、高度试验、高空试验、快速减压试验、快速气压变化)、爆炸性减压(快速减压、迅速减压)、高气压试验(过压试验、正压试验)、太阳辐照(太阳辐射、阳光辐射、日照试验、日照辐射、人工加速光老化试验、氙灯光老化试验)、风压试验(风载荷)、热真空试验、爆炸性大气、噪声试验等。
2.机械环境试验(动力学环境试验)(GB2423，GJB150，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)2.1振动试验：正弦振动、随机振动、复合振动、扫描振动、定频振动、飞机炮振试验(炮击振动试验)；2.2其它：冲击试验(高g值冲击如30000g、舰船冲击试验)、地震试验(地震模拟试验)、碰撞试验、跌落试验、包装运输、拉伸试验、倾斜摇摆、离心试验(恒定加速度试验)、颠振试验等。
3.综合环境试验(GB2423，GJB150,Mil-Std-810F)3.1温度高度试验、温度湿度高度试验、湿度高度试验、低温低气压试验；3.2温度湿度试验、温度湿度振动试验、温度振动试验；3.3振动噪声试验(声振联合试验、振声试验)【可靠性试验】：可靠性实验室(可靠性试验室) 老练试验(老炼试验)、环境应力筛选试验、可靠性增长试验、可靠性验收试验可靠性鉴定试验(特定环境下的产品平均无故障时间MTBF)、寿命试验、耐久性试验可靠性强化试验、高加速寿命试验HALT、高加速环境应力筛选试验HASS 综合应力试验：两综合试验(振动－温度、温度－湿度、振动-湿度)、三综合试验(振动－温度－湿度)、四综合试验(低气压－振动－温度－湿度、噪声－振动－温度－湿度) 可靠性试验策划、大纲制定、试验方案设计系统可靠性分析与试验结果综合评估产品可靠性故障分析与诊断产品贮存可靠性分析【包装运输试验】包装试验(GB/T4857，GB6543，GB6544，QB/T1649)：碰撞、跌落、倾斜、翻倒等。
可靠性、环境试验相关国家标准
国家标准（GB）可靠性、环境试验相关国家标准GB 2421—1999 电工电子产品环境试验规程总则GB 2422—1995 电工电子产品环境试验术语GB/T 2423.1—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB/T 2423.1—2001 电子电子产品环境试验第1部分：试验方法试验A：低温GB/T 2423.2—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB/T 2423.3—1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.4—1993 电工电子产品环基本境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB/T 2423.5—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.6—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒GB/T 2423.8—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.9—2001 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb：设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.9—2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cb：设备用恒定湿热GB/T 2423.10—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.15—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度GB/T 2423.16—1999 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验J和导则: 长霉GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法GB/T 2423.18—1985（2000）电工电子产品基本环境试验规程试验Kb：交变盐雾试验方法（氯化钠溶液）GB/T 2423.18—2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T 2423.21—1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB/T 2423.22—2002 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB/T 2423.23—1995 电工电子产品环境试验试验Q：密封GB/T 2423.24—1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T 2423.26—1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T 2423.27—1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB/T 2423.28—1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB/T 2423.30—1999 电工电子产品基本环境试验规程试验XA：在清洗剂中浸渍GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验XA和导则：在清洗剂中金字GB/T 2423.31—1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T 2423.32—1985 电工电子产品基本环境试验规程试验润湿称量法可焊性试验方法GB/T 2423.33—1982（1989）电工电子产品基本环境试验规程试验Kca：高浓度二氧化硫试验方法GB/T 2423.34—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD：温度/湿度综合循环试验方法GB/T 2423.35—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/Afc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.36—1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.37—1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L：沙尘试验方法GB/T 2423.38—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB/T 2423.39—1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法GB/T 2423.40—1997 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41—1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验GB/T 2423.42—1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动（正弦）综合试验方法GB/T 2423.43—1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法元件、设备和其他产品在冲击、碰撞、振动和稳态加速度等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea) 、碰撞(Eb) 、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eg: 撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fg: 声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ke 流动混合气体腐蚀试验GB/T 2424.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程湿热试验导则GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则GB/T 2424.11-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424.12-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则GB/T 2424.13-1981 电工电子产品基本环境试验规程温度变化试验导则GB/T 2424.14-1993 电工电子产品环境试验第2部份：试验方法太阳辐射试验导则GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.17-1995 电工电子产品环境试验锡焊试验导则GB/T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则GB/T 2424.20-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则GB/T 2424.21-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.23-1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424.24-1995 电工电子产品环境试验温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验第3部份：试验导则地震试验方法第2部分试验方法电工电子产品环境试验国家标准汇编GB 3836.11—1991 爆炸性环境用防爆电气设备最大试验安全间隙测定方法GB 3836.12—1991 爆炸性环境用防爆电气设备气体或蒸气混合物按照其最大试验安全间隙和最小点燃电流的分级GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB 4793.2-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持电流钳的特殊要求GB 4793.5-2001 测量、控制及实验室用电气设备的安全电工测量和试验用手持探头的特殊要求GB 7251.1-1997 低压成套开关设备和控制设备第一部分: 型式试验和部分型式试验成套设备GB/T 14598.13-1998 量度继电器和保护装置的电气干扰试验第1部分 1MHz脉冲群干扰试验GB/T 19183.5—2003 电子设备机械结构户外机壳第3部分：机柜和箱休的气候、机械试验及安全要求GB/T 2317.2—2000 电力金具电晕和无线电干扰试验GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 可靠性预计程序GB/T 7828-1987 可靠性设计评审GB/T 7829-1987 故障树分析程序GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分:通用要求GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用电动振动台GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦) 试验用液压振动台GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/湿度组合循环试验设备GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/振动(正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb:交变盐雾试验方法(氯化钠溶液)GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验U:引出端及整体安装强度GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验XA:在清洗剂中浸渍GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L:砂尘试验方法GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R:水试验方法GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee:弹跳试验方法GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdb:宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fdc:宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温／低气压综合试验GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法元件、设备和其他产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fb)和稳态加速度(Ca)等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eg:撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fg:声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ff:振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe:振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落仪器卷GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温／低气压综合试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验开关电器、旋转电机、电线电缆卷GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验J和导则：长霉GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ed:自由跌落。
电子行业电子产品可靠性试验与可靠性评估规范
电子行业电子产品可靠性试验与可靠性评估规范电子行业是现代工业的重要组成部分，电子产品的可靠性一直是电子行业的关注焦点。
为了确保电子产品的可靠性，需要进行可靠性试验与可靠性评估。
本文将阐述电子产品可靠性试验与可靠性评估的规范，包括试验方法、试验过程、数据分析等方面。
一、试验目的与依据电子产品可靠性试验与可靠性评估旨在验证产品的可靠性指标，确保产品在规定的工作环境下能够正常运行并满足设计寿命。
本规范参照国际标准ISO 9001以及相关的电子行业标准，包括ISO 14229、IEC 60068等，以确保试验结果的科学性和可靠性。
二、试验方法与环境要求1. 试验方法根据产品的特点和使用环境的要求，确定适合的试验方法。
试验方法包括加速寿命试验、环境应力试验、可靠性增长试验等。
根据产品的不同部件和功能，选择合适的试验参数，包括温度、湿度、振动、冲击等。
2. 试验环境要求根据产品的使用环境和可靠性要求，确定试验环境的要求。
试验环境包括温度、湿度、振动等参数。
根据产品的使用地区和应用场景，确定试验环境的范围和极限值。
在试验过程中，保持试验环境的稳定性和一致性，确保试验结果的可靠性和准确性。
三、试验过程与数据采集1. 试验计划编制在进行试验前，编制详细的试验计划。
试验计划包括试验目的、试验方法、试验环境、试验设备、试验样品等内容。
试验计划应根据产品的特点和可靠性要求，制定合理的试验方案，确保试验的全面性和可行性。
2. 试验过程控制在试验过程中，进行严格的试验过程控制。
确保试验设备的正常运行和试验环境的稳定性，按照试验计划进行试验操作。
在试验过程中，密切关注试验过程中的异常情况，并及时采取措施进行调整和修正。
3. 数据采集与分析试验过程中，对试验样品的运行状态、电气参数、物理特性等进行数据采集。
通过数据分析，评估产品的可靠性指标，包括失效率、故障率、寿命分布等。
分析试验数据，确定产品的可靠性评估结果，并根据评估结果进行相关的改进和优化。
电子产品可靠性测试
电子产品可靠性测试电子产品在现代社会中扮演着重要的角色，它们的可靠性是用户最为关注的问题之一。
因此，为了确保电子产品的质量和性能，各行业都将可靠性测试作为产品生产和开发过程中的重要环节。
本文将探讨电子产品可靠性测试的相关规范、规程和标准。
一、可靠性测试的概述可靠性测试是指通过一系列的实验和分析，评估电子产品在特定环境条件下的长期稳定性和质量可靠性。
它对产品的设计、制造和材料选择提出了高要求，旨在提高产品的性能和使用寿命，减少故障率，保证产品在各种工作环境下的正常运行。
可靠性测试通常包括以下几个方面的内容：1.环境适应性测试：测试产品在各种温度、湿度、振动、电磁辐射等不同环境条件下的性能表现和稳定性。
2.可靠性指标测试：如寿命测试、故障率测试、平均无故障时间测试等，通过对产品的长期运行和故障统计，评估产品的可靠性水平。
3.可靠性设计评估：对产品的设计方案进行可靠性评估和改进，提前发现潜在的问题，提高产品的可靠性。
二、可靠性测试的规范和标准为了统一可靠性测试的方法和标准，各行业都会制定相应的规范和标准。
以下为常见的一些规范和标准：1.国际电工委员会（IEC）：IEC制定了多项关于电子产品可靠性测试的国际标准，如IEC68、IEC60068等。
2.美国国家标准协会（ANSI）：ANSI制定了多项与电子产品可靠性测试相关的标准，如ANSI/IEEE 344、ANSI/ISA S2.27等。
3.制造业标准化协会（MESA）：MESA致力于制定和推广制造业的技术标准，其制定的MES模型可用于电子产品可靠性测试的信息管理和流程控制。
4.国际可靠性工程师协会（IREA）：IREA制定了一系列可靠性工程师的认证考试标准，包括可靠性测试的理论、方法和实践。
5.电子工业标准化协会（EIA）：EIA制定了多项与电子产品可靠性测试相关的标准和指南，如EIA-364、EIA-409等。
三、可靠性测试的方法和技术为了进行有效的可靠性测试，需要采用一系列科学的方法和先进的技术手段。
电子产品可靠性试验标准
电子产品可靠性试验标准引言：在现代社会中，电子产品已经渗透到各个行业和人们的日常生活中。
为了确保电子产品的可靠性和安全性，制定一套科学合理的可靠性试验标准是非常必要的。
本文将从电子产品可靠性试验的概念、意义、试验方法和标准等方面进行探讨，旨在为各行业提供参考和指导。
一、电子产品可靠性试验的概念与意义在电子产品设计、生产和使用过程中，为了保证其在预定时间内可靠地完成设计目标和用户需求，需要进行各种可靠性试验。
电子产品可靠性试验是通过对产品进行模拟或实际的环境、物理、电子等条件下的测试，以评估产品的可靠性、寿命和稳定性。
电子产品可靠性试验的意义在于：1. 提高产品的可靠性：通过可靠性试验，可以检测和发现产品在不同环境和使用条件下的潜在问题和缺陷，帮助生产厂家改进产品设计和制造过程，提高产品的可靠性水平。
2. 降低产品故障率和维修成本：通过可靠性试验，可以评估产品的故障率和寿命预测，为用户提供可信的使用寿命信息，降低产品的故障率和维修成本，提高用户满意度。
3. 增强用户信心和品牌形象：通过可靠性试验，可以提高产品的质量和可靠性，增强用户对产品的信心，提高品牌形象和市场竞争力。
4. 保障产品安全和可持续发展：通过可靠性试验，可以评估产品在各种极端情况下的安全性和稳定性，保障人身安全和环境保护，促进产品的可持续发展。
二、电子产品可靠性试验的方法电子产品可靠性试验的方法主要包括环境试验、物理试验和电子试验。
1. 环境试验环境试验主要是模拟或实际地对电子产品在各种自然和人为环境条件下的性能和可靠性进行测试，以评估产品在不同环境下的可靠性和稳定性，其中包括但不限于以下试验方法：- 高温试验：模拟电子产品在高温环境下的工作条件和稳定性，检测产品在高温条件下的性能退化和故障概率。
- 低温试验：模拟电子产品在低温环境下的工作条件和稳定性，检测产品在低温条件下的性能退化和故障概率。
- 湿热试验：模拟电子产品在高温高湿环境下的工作条件和稳定性，检测产品在湿热条件下的性能退化和故障概率。
电子电器产品 可靠性测试检验标准.
可靠性测试检验标准一.机械测试标准A卡通箱、投箱测试标准B随机振动测试标准试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试试验设备：振动仪试验样品：6SETS试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T .轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。
判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。
C包装振动测试标准试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响试验设备：振动测试仪试验样品：2 carton试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。
判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。
二．存储温度测试标准A高温贮存试验试验目的：检验产品在高温环境条件下贮存的适用性试验设备：恒温恒湿试验箱试验样品：6SETS试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到60±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，立即进行试验后检测。
判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。
B低温贮存试验试验目的：检验产品在低温环境条件下贮存的适用性试验设备：恒温恒湿试验箱试验样品：6SETS试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到-20±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，在正常大气条件下放置2H，放置期满，被测样机进行试验后的检查。
判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。
电子产品可靠性测试标准
电子产品可靠性测试标准引言电子产品的可靠性是指产品在设定的使用条件下，能够保持正常运行的能力。
对于用户来说，可靠性是评判一个产品好坏的重要标准之一。
为了保证电子产品的可靠性，制定一套标准的测试方法是必不可少的。
本文将介绍电子产品可靠性测试的标准和相应的测试方法。
1. 电子产品可靠性测试标准概述电子产品可靠性测试标准是指为了评估产品性能和可靠性而制定的一套规范和准则。
这些标准在制定过程中充分考虑了产品的设计、制造、测试等环节，以确保产品能够在正常使用条件下长期、稳定地工作。
1.1 国际标准国际电工委员会（IEC）是制定国际标准的权威机构之一，其发布的标准被广泛应用于电子产品可靠性测试中。
常见的国际标准有：•IEC 60068：环境试验•IEC 60749：半导体器件可靠性试验方法•IEC 61000：电磁兼容性测试1.2 行业标准除了国际标准，各个行业也会针对不同类型的电子产品制定相应的可靠性测试标准。
例如，汽车行业采用了AEC-Q100等标准，电信行业采用了GR-63-CORE等标准。
这些行业标准主要考虑了产品在特定应用环境下的可靠性需求。
2. 电子产品可靠性测试方法为了确保电子产品的可靠性，需要进行一系列的测试。
常见的可靠性测试方法包括：2.1 温度试验温度试验是通过暴露产品于高温和低温环境中，评估产品在极端温度条件下的可靠性表现。
常用的温度试验方法包括：•热老化试验：将产品置于高温环境下，持续一定时间，观察产品的性能变化情况。
•低温试验：将产品置于低温环境下，观察产品的性能变化情况。
•温度循环试验：将产品在高温和低温之间循环变化，观察产品的性能变化情况。
2.2 振动试验振动试验是通过施加不同频率和振幅的振动载荷，评估产品在振动环境下的可靠性表现。
常用的振动试验方法包括：•正弦振动试验：施加单一频率和振幅的正弦振动载荷，观察产品的性能变化情况。
•随机振动试验：施加随机频率和振幅的振动载荷，模拟实际使用环境中的振动情况。
5.可靠性GB标准清单(全)
GB/T 5080.5-1985
设备可靠性试验成功率的验证试验方案
15
GB/T 5080.6-1996
设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验
16
GB/T 5080.7-1986
设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
17
GB/T 5081-1985
电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南
可靠性增长大纲
39
GB/T 15647-1995
稳态可用性验证试验方法
寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）
5
GB/T 2689.4-1981
寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）
6
GB/T 3187-1994
可靠性、维修性术语
7
GB/T 4087.3-1985
数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限
8
GB/T 4885-1985
正态分布完全样本可靠度单侧置信下限
9
GB/T 4888-1985
故障树名词术语和符号
10
GB/T 5080.1-1986
设备可靠性试验总要求
11
GB/T 5080.2-1986
设备可靠性试验试验周期设计导则
13
GB/T 5080.4-1985
设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)
设备维修性导则第一部分:维修性导言
31
GB/T 9414.2-1988
设备维修性导则第二部分:规范与合同中的维修性要求
32
GB/T 9414.3-1988
设备维修性导则第三部分:维修性大纲
中华人民共和国电子产品质量检测标准
中华人民共和国电子产品质量检测标准1. 引言电子产品在现代社会中扮演着至关重要的角色，为了保障电子产品的质量和安全，中华人民共和国制定了一系列的电子产品质量检测标准。
本文将对这些标准进行详细介绍。
2. 设备分类根据功能和用途的不同，电子产品可以分为多个类别，例如：家用电器、通信设备、计算机设备、医疗设备等。
每个类别都有相应的质量检测标准，以确保产品的质量和安全性。
3. 质量检测标准3.1 功能性测试功能性测试是对电子产品的各项功能进行测试和验证，以确保产品可以正常运行。
这些测试包括但不限于：- 电源适配性测试：检测电子产品在不同电源输入条件下的适应性和稳定性。
- 通信功能测试：测试通信设备的信号强度、通话质量、数据传输速度等。
- 性能测试：验证电子产品的性能指标，例如计算机的处理能力、屏幕的分辨率等。
3.2 安全性测试安全性测试是为了确保电子产品在正常使用过程中不会对用户造成伤害或产生安全隐患。
这些测试包括但不限于：- 电池安全测试：检测电子产品内置电池的安全性能，例如过热、漏液等。
- 防火防爆测试：测试电子产品的防火和防爆性能，以确保产品在使用过程中不会引发火灾或爆炸。
- 辐射测试：检测电子产品的辐射水平，以确保产品不会对人体产生有害影响。
3.3 材料分析材料分析是为了确保电子产品所使用的材料符合国家相关标准和规定，不含有有害物质。
这些测试包括但不限于：- 布满测试：检测电子产品表面的有害物质含量。
- 材料成分检测：对电子产品中的材料进行组成分析，以确保符合相关标准。
- 有害物质检测：对电子产品材料中的有害物质进行检测和分析。
4. 检测流程电子产品质量检测的流程一般包括以下几个步骤：1. 确定产品分类：根据电子产品的功能和用途，将其划分到相应的分类。
2. 制定检测方案：制定相应的检测方案，根据具体的产品特点和标准要求。
3. 指定检测机构：选择合适的检测机构进行检测，确保其具备相关资质和设备。
4. 进行检测：按照制定的检测方案，对电子产品进行各项测试和分析。
GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)
GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)介绍本文档是关于GB2423标准系列的大全，主要涵盖了可靠性试验要求的内容。
GB2423标准系列是中国国家标准委员会发布的一系列关于电工电子产品的环境试验标准，旨在通过试验评定产品在各种条件下的可靠性能。
标准概述GB2423标准系列共包含9个标准，分别为GB2423.1-1989至GB2423.9-2010。
这些标准涵盖了不同环境条件下的试验要求，包括温度、湿度、振动、冲击等多种试验。
标准目的GB2423标准系列的目的是为了确保电工电子产品在正常使用条件下具有一定的可靠性，能够稳定运行并不受环境因素影响。
通过进行各种环境试验，可以评估产品在各种条件下的可靠性能，为产品设计、生产和使用提供参考依据。
标准内容GB2423标准系列的试验要求主要包括以下几个方面：1. 温度试验：包括高温试验、低温试验和温变试验，目的是测试产品在不同温度条件下的可靠性。
2. 湿度试验：包括湿热试验和湿变试验，目的是测试产品在高湿度环境中的可靠性。
3. 振动试验：包括固定振动试验和随机振动试验，目的是测试产品在振动环境中的可靠性。
4. 冲击试验：包括正弦冲击试验和半正弦冲击试验，目的是测试产品在冲击环境中的可靠性。
5. 电磁辐射试验：包括射频辐射试验和瞬变抗扰试验，目的是测试产品在电磁辐射环境下的可靠性。
标准应用GB2423标准系列适用于各种电工电子产品的可靠性试验，包括家用电器、通信设备、计算机设备、工业设备等。
各个行业的企业可以根据自身产品的特点和使用环境选择相应的标准进行试验评定，以确保产品的可靠性和稳定性。
结论GB2423标准系列大全涵盖了可靠性试验的各个方面，通过进行环境试验可以评估产品在不同条件下的可靠性能。
各个行业的企业应根据自身产品的特点，选择相应的标准进行试验评定，以提升产品的可靠性和稳定性。
以上为GB2423标准系列大全(可靠性试验要求)的文档，内容包括标准的概述、目的、内容、应用以及结论。
电子产品环境试验与可靠性评定标准
电子产品环境试验与可靠性评定标准一、引言电子产品在不同的环境条件下使用，如温度、湿度、振动、冲击等，其可靠性表现可能会有所差异。
因此，为了保证电子产品的质量和稳定性，需要制定相应的环境试验与可靠性评定标准。
本文将针对电子产品环境试验与可靠性评定标准进行系统的分析和论述，以期为相关行业提供参考和指导。
二、电子产品环境试验标准1. 温度试验温度试验是对电子产品在不同温度环境下的性能进行测试，常见的试验方法包括高温试验、低温试验和温循试验。
标准要求电子产品在不同温度条件下应能正常工作，并在温度变化时不发生失效等问题。
2. 湿度试验湿度试验是对电子产品在不同湿度环境下的性能进行测试，以确定产品的耐湿性和防潮性。
试验方法包括高湿试验和低湿试验，标准要求电子产品在湿度环境下能保持正常工作，并且不发生腐蚀、氧化等问题。
3. 振动试验振动试验是对电子产品在振动环境下的可靠性进行评定，以模拟产品在运输或使用过程中所受到的振动冲击。
标准要求电子产品能够在不同频率和振幅的振动条件下保持正常工作，并且不发生松动、断裂等问题。
4. 冲击试验冲击试验是对电子产品在冲击环境下的可靠性进行评定，以模拟产品在跌落或碰撞等突发情况下的表现。
标准要求电子产品能够承受一定程度的冲击力，并在冲击后能正常工作，不出现失效或损坏等问题。
5. 盐雾试验盐雾试验是对电子产品在盐雾环境下的耐腐蚀性进行评定，特别适用于海洋环境或有腐蚀性气体环境下的产品。
标准要求电子产品在盐雾环境下能保持正常工作，并且不出现腐蚀或氧化等问题。
三、电子产品可靠性评定标准1. 寿命评定寿命评定是对电子产品在正常使用过程中的使用寿命进行评估。
通过对产品进行长时间持续工作测试，标准要求产品能够在预定的时间范围内正常工作，不出现过早失效等问题。
2. 可靠性指标评定可靠性指标评定是对电子产品在各种环境条件下的可靠性参数进行测定和计算，如失效率、失效时间等指标。
标准要求电子产品的可靠性指标能够满足特定的要求，以确保产品在使用过程中能够稳定可靠地工作。
5.可靠性GB标准清单(全)
电子产品可靠性与维修性国家标准(共39项)序号国家标准号1GB/T 1772-1979标准名称电子元器件失效率试验方法2GB/T2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则（用于威布尔分布）3GB/T2689.2-1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）4GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）5GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）6GB/T 3187-19948GB/T 4885-19859GB/T 4888-1985可靠性、维修性术语正态分布完全样本可靠度单侧置信下限故障树名词术语和符号7GB/T4087.3-1985数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限10GB/T5080.1-1986设备可靠性试验总要求11GB/T5080.2-1986设备可靠性试验周期设计导则13GB/T5080.4-1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)14GB/T5080.5-1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案15GB/T5080.6-1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验16GB/T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案17GB/T 5081-198518GB/T 6990-198619GB/T 6991-198620电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南电子元器件可靠性数据表示方法GB/T6992.1-1995可信性管理第1部分:可信性大纲管理指南GB/T19000.4-1995质量管理和质量保证第4部分:可信性大纲管理指南系统和设备研制生产中的可靠性程序21GB/T6992.2-1997可信性管理第2部分:可信性大纲要素和工作项目22GB/T 6993-198623GB/T7288.1-1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟24GB/T7288.2-1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟25GB/T 7289-198726GB/T 7826-198727GB/T 7827-198728GB/T 7828-198729GB/T 7829-1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南系统可靠性分析技术-失效模式和效应分析(FMEA)程序可靠性预计程序可靠性设计评审故障树分析程序30GB/T9414.1-1988设备维修性导则第一部分:xx导言31GB/T9414.2-1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的xx要求32GB/T9414.3-1988设备维修性导则第三部分:xx大纲33GB/T9414.4-1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的xx研究34GB/T9414.5-1988设备维修性导则第六部分:xx检验35GB/T9414.6-1988设备维修性导则第七部分:xx数据的收集、分析与表示36GB/T9414.7-2000设备维修性导则第四部分:诊断测试37GB/T9414.8-2001设备维修性导则第九部分:xx评价的统计方法38GB/T 15174-1994可靠性增长大纲39GB/T 15647-1995稳态可用性验证试验方法。
电子产品可靠性测试检验标准
可靠性测试标准文件版本：V1.0拟定：审核：批准：日期：可靠性测试检验标准一机械测试标准试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试试验设备：振动仪试验样品：6SETS试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T .轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。
判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。
D包装振动测试标准试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响试验设备：振动测试仪试验样品：2 carton试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。
判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。
E自由跌落测试标准试验目的：检验产品在搬运期间由于粗造装卸遭到跌落的适应性试验设备：跌落实验机试验样品：6SETS试验内容：被测产品不包装，不带附件，处于导通状态。
从1M的高度（如果LCM面积超过产品表面积的60%，跌落高度为50CM），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落3次，6面共计18次，试验结束，取出样品进行试验后检查。
判定标准：测试后手机基本功能、性能正常，外观、结构正常。
马达振动无异常。
F裸机跌落测试标准试验目的：检验产品在使用生产轻微撞击的性应性试验设备：水泥地面试验样品：6SETS试验内容：产品跌落在水泥地面，跌落高度：85CM。
跌落方式：产品的六个面每面跌落1次为一个循环；总共6个循环，方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）跌落顺序：左侧面—右侧面---上侧面---下侧面---前侧面----后侧面，每个循环跌落测试后检验产品的外观结构及各项基本功能。
汽车电子可靠性测试各种标准
一、测试标准1.1SAE_J1939商用车控制系统局域网络（CAN 总线）通讯协议1.2KWP20001.3GB-13837-1997 声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法1.4GB/T9384-2011 广播收音机、广播电视接收机、磁带录音机、声频功率放大器（收音机）的环境实验要求和试验方法1.5GB4013-1995 数字音响技术术语1.6GB/T14277 音频组合设备通用技术条件1.7GB9374-88 声音广播接收机基本参数1.8GB2846-2011 调幅广播收音机测量方法1.9GB6163-2011 调频广播接收机测量方法1.10GB9883-88 广播接收机及有关设备的传导抗扰度特性测量方法1.11Publication315 收音接收机设备的测试方法1.12GB/T 液晶显示器测量方法1.13GB 液晶数字电视广播接收机通用技术规范1.14QCT-413-2002汽车电气设备基本技术条件1.15GB/T 191包装储运图示标志1.16GB/T 2423.17电工电子产品基本环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法1.17GB/T 2423.22电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验N:温度变化1.18GB/T 2423.34电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法1.19GB/T 2828.1计数抽样检验程序第一部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划1.20QC/T 238汽车零部件的储存和保管1.21QC/T 29106汽车用低压电线束技术条件1.22ISO16750-2：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：供电环境1.23ISO16750-3：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：机械环境1.24ISO16750-4：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：气候环境1.25ISO16750-5：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：化学环境1.26ISO20653汽车电子设备防护外物、水、接触的等级1.27ISO21848道路车辆-供电电压42V的电气和电子装备电源环境1.28GB 14023-2006 车辆、船和由内燃机驱动的装置无线电骚扰特性限值和测量方法1.29GB 18655-2002 用于保护车载接收机的无线电骚扰特性的限值和测量方法1.30GB/T 17619-1998机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法1.31GB/T 19951-2005 道路车辆静电放电产生的电骚扰试验方法1.32GB/T 21437.2-2008 道路车辆由传导和耦合引起的电骚扰1.33iso11452 道路车辆窄带发射的电磁能量进行的电子干扰1.34ISO7637-2道路车辆--来自传导和耦合的电气骚扰--第2部分：仅沿供电源线路的瞬时电传导1.35ISO 7637 – 3：Road vehicles -- Electrical disturbances from conductionand coupling -- Part 3: Electrical transient transmission by capacitive and inductive coupling via lines other than supply linesISOTR10605—道路车辆.静电放电产生的电气干扰二、测试项目2.1 SAE_J1939商用车控制系统局域网络（CAN 总线）通讯协议物理层—屏蔽双绞线(250K比特/秒)2.2 KWP2000诊断通信协议ISO 9141-2的基础上把数据交换系统扩展到了24V电压系统。
中国可靠性国家标准目录
GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛选与筛分试验术语GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 系统可靠性分析技术可靠性预计程序GB/T 7828-1987 系统可靠性分析技术可靠性设计评审GB/T 7829-1987 系统可靠性分析技术故障树分析程序GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 10593.1-1989 电工电子产品环境参数测量方法振动GB/T 10593.2-1990 电工电子产品环境参数测量方法盐雾GB/T 10593.3-1990 电工电子产品环境参数测量方法振动数据处理和归纳GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）GB/T 2423.8-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.9-1995 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb：设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fc和导则：振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fd：宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fda：宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fdb：宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fdc：宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ga和导则：稳态加速度GB/T 2423.16-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验J和导则：长霉试验方法GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法GB/T 2423.18-2000 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc：接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd：接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T 2423.21-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB/T 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品基本环境试验试验Q：密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热综合试验方法GB/T 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验U：引出端及整体安装强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Xa和导则：在清洗剂中浸渍GB/T 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB/T 2423.33-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca：高浓度二氧化硫试验方法GB/T 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD：温度/湿度组合试验方法GB/T 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc：散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L：砂尘试验方法GB/T 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB/T 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法GB/T 2423.40-1997电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品基本环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法元件、设备和其他产品在冲击（Ea）、碰撞（Eb）、振动（Fc和Fb）和稳态加速度（Ca）等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Eg：撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fg：声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ff：振动-时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fe：振动-正弦拍频法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验GB/T 2424.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程湿热试验导则GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则GB/T 2424.11-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424.12-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则GB/T 2424.13-1981 电工电子产品基本环境试验规程温度变化试验导则GB/T 2424.14-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法太阳辐射试验导则GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验第2部分温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.17-1995 电工电子产品基本环境试验锡焊试验导则GB/T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则GB/T 2424.20-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则GB/T 2424.21-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温/高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.23-1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424.24-1995 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温/高温）/低气压/振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验第3部分试验导则地震试验方法GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB/T 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用机械振动台GB/T 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用电动振动台GB/T 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用液压振动台GB/T 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB/T 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/湿度组合循环试验设备GB/T 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/振动(正弦)综合试验设备GB/T 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB/T 5169.1~GB/T 5169.31 电工电子产品着火危险试验（系列标准）。
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电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120。
1-1994 识别卡记录技术第1部分：凸印GB/T 14598.2—1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482—1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839—1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259—1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636—1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689。
1—1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689。
2—1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 2689。
4—1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080。
2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 5080。
5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.6—1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.7—1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081—1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件（或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991—1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993—1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288。
1—1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 7288。
2—1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289—1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414.1—1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414。
2—1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414。
3—1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分：设计阶段的维修性研究GB/T 9414。
5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分：维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993—1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7433—1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB 7495—1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254—1988 信息技术设备的无线电干扰极限值和测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776—1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量和允许值GB/* 9307—1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/＊ 9381—1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898—1988 电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频和脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078—1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095.1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095。
2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095.3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095.4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095。
5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件）静负荷试验（固负荷试验GB/T 5095。
8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095.9—1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591—1986 电子设备用电容器和电阻器名词术语GB/T 11250。
1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250。
2—1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250。
3—1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250。
4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472—1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473—1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474—1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693—1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874—1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/＊ 4875.1—1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875.2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875.3—1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875.4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875.5—1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966—1986 电子设备用固定电容器第八部分：分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E（可供认证用) GB/T 5968—1986 电子设备用固定电容器第九部分：分规范： 2 类瓷介固定电容器（可供认证用）GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分：空白详细规范： 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用GB/* 5970—1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用）GB/* 5971—1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E （可供认证用）GB/T 5993—1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体和非固体电解质铝电容器（可供认证用）GB/T 5994—1986电子设备用固定电容器第四部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E （可供认证GB/＊ 5995—1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器（可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253—1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254—1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分：分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分：空白详细规范固定云母电容器评定水平E （可供认证用）GB/* 6263—1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347—1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直E(可供认证用)GB/* 6348—1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/＊ 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/＊ 6350—1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/＊ 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器（可供认证用）GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器（可供认证用）GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器（可供认证用)GB/＊ 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用）GB/＊ 7211—1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器（可供认证用）GB/＊ 7212—1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器（可供认证用）GB/T 7214—1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E（GB/* 7215—1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用）GB/T 7332—1987 电子设备用固定电容器第二部分：分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用）GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分：空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E（GB/＊ 7334—1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E （可供认证用）GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E （可供认证用）GB/＊ 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器（可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7。