能量色散X荧光光谱仪操作指导书
能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-720操作指导书
操作流程 E 关机
1 结束
显示界面
图 16 2 5
3 4
操作说明
43、如果需要测试其它样品，重 复步骤 18~42。
44、所有测试完毕后，关闭除了 “EDX-主程序”外的所有窗口。 点击“EDX-主程序”窗口上的“维 护”，出现如图 4 窗口。点击“仪 器设置…”按钮，出现如图 2 窗 口。点击“启动/关闭”按钮，关 闭 X 光管。
B 保存测试图
选择测试曲 线
开始测试 测试完毕 制定标准
C
图8
图9 图 10 图 11
试规范》。
22、摆放好测试样品后，点击工 具列上的“ ”符号，出现 “Still Image Display”窗口。 此步骤是为了把现在的测试 样品的摆放情况用图片的形 式保存下来。
23、点击“Save As…”，为图片 命名，把图片保存在合适的地 方。
15、点击“开始”进行校正。校 正过程大约需要 10 分钟。
16、校正完毕后，关闭“仪器校 正”窗口，关闭“Maintenance （维护）”窗口。
17、此时回到“EDX-主程序”窗 口。
18、把需要测试的样品摆放在测 试孔上。可以放进专用测试容 器里的就放进测试容器里。不 可以放进去的尽量以与正面 成垂直的方式摆放。样品的具 体要求请参考《EDX-720 型荧 光光谱仪测试规范》。
35、点击“分析情报…”按钮， 出现如图 35 所示窗口。
36、点击“Layer1”，再点击“元 素信息…”按钮，出现如图 36 所 示窗口。
图 33
E 图 34
操作流程 E
设置 FP 定量 工作组参数
F
显示界面 图 35 图 36 图 37
操作说明
37、按照下表中的要求设置好各 项参数，设置好后点击“应用” 按钮。
X射线荧光光谱仪(EDX-LE能量色散)操作规程
X射线荧光光谱仪（EDX-LE）操作规程1.接通电源，启动筛选分析条件:双击桌面上的PCEDX Navi 软件，启动软件。
2.初始化仪器,单击初始化。
3.打开X射线管电源,单击[Xray ON]。
3.1.显示面板的X-RAYS ON灯和X射线显示灯点亮。
3.2.仪器稳定大约需要花费15分钟。
3.3.显示[管理分析]页面后，完成启动。
4.仪器校正4.1.按开盖按钮，将校正样品放置测试窗。
关上样品室盖。
4.2.进行能量检查:放入A750标准样品，单击能量检查下的[测试]按钮，进行能量检查，读取能量数值（单位：cps/uA）4.3.进行管理分析:放入7元素标准样品，单击管理分析下的[测试]按钮，进行管理分析，读取7元素标样数值（单位：ppm）。
4.4.取出校正样品：取出校正样品后，单击[正常分析]，完成分析准备。
5.测试5.1.放置样品，关上样品室盖：按开盖按钮，将样品放置在测试窗上。
确认画面上显示样品图像。
5.2.输入样品信息：选择分析条件后输入样品名称、注释、操作者等信息。
5.3.开始分析：单击[开始]，开始分析。
分析结束后，发出结束音，显示分析结果。
5.4.进行预测试：预测试的目的是仪器自动选定分析条件。
大约需15s。
5.5.测试并显示测试结果：测试并出结果，依照材料不同，大约需3~15分钟。
6.关机6.1.退出仪器，关闭X射线管：从[维护]菜单选择[关闭X-ray]；单击[OK]。
6.2.退出程序：筛选分析结束。
选[关机]，退出程序。
6.3.切断各电源：按照图中的号码顺序切断电源。
关闭X射线后，需要冷却X射线管。
等待5～10分后，关闭仪器的电源。
日立LAB-X5000能量色散X射线荧光光谱仪操作规程
日立LAB-X5000能量色散X射线荧光光谱仪操作规程1 适用范围1.1 本操作规程适用于日立仪器公司LAB-X5000能量色散X射线荧光测定仪的操作。
1.2 本操作规程适用于石油产品硫含量的测定。
1.3 本仪器所用分析方法符合方法标准GB/T 17040《石油和石油产品硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法》；ASTM D4294《能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫含量》。
2 仪器操作步骤2.1 日常样品分析操作步骤2.1.1 仪器开机：将仪器左侧的电源键开关切换到[丨]“开启”位置，并将钥匙插入仪器右侧的圆形锁中，转到“启用X射线”位置。
2.1.2 点触屏幕下方的“”按键，进入PIN码输入界面。
输入标准的操作员PIN码“0000”之后，即出现“就绪”屏幕。
这表示仪器已准备好执行分析。
2.1.3 用手指在屏幕上，从上往下滑，唤出主界面。
在下拉菜单中，点触“方法”按钮。
在跳转的子界面内，点触“选择校正”。
2.1.4 该仪器已建立了“0-150ppm”、“0-1000ppm”、“0.1-5%”三条标准工作曲线，根据预估样品硫含量，选择合适的标准工作曲线。
2.1.5 点触“”以接受输入，并返回“方法”菜单。
然后在点触屏幕下方“”，即出现“就绪”屏幕。
2.1.6 打开样品端口上的玻璃盖，并检查辅助安全窗膜是否干净、平坦、无破损。
2.1.7 将装好样品的样品杯插入仪器顶部的样品端口中，盖上样品端口玻璃盖，按下发光环为绿色的按钮。
在跳转的界面中输入样品名称，点触“”，仪器开始分析。
2.1.8 样品旋转离开样品端口并进入X射线的照射路径，开始按钮周围的发光环将熄灭，取消按钮红色发光环亮起，表示仪器正在分析样品。
若有必要，按“取消”按钮即可随时停止分析。
2.1.9 测量完成后，自动打印分析数据。
仪器会显示结果屏幕，向左或向右滑动可查看之前的结果，点触“”按钮将切换为结果的光谱视图。
点触“”可恢复显示数字结果。
岛津EDX能量色散型荧光X射线分析仪操作步骤指南
岛津EDX能量色散型荧光X射线分析仪操作步骤指南使用前，应首先检查EDX内的液态氮容量，（装满后总容量为3 L ,正常使用状态下每天消耗量约为1L , 平时应经常检查，及时补充，第一次加注液氮或是液氮耗尽后补加，均需要等待30分钟，以便机器充分冷却.）第1步：开机1、开启EDX电源开关2、启动电脑主机开关3、启动显示器开关4、OS运行后，点击“EDX-Software”启动分析软件，关闭“分析”窗口。
第2步：初始化单击“维护”图标，单击“初始化仪器”（对仪器进行初始化），等待数分钟，图示2中所有项目显示OK，进行下一步操作。
第3步：开启X射线单击“仪器设置”，单击右下角“执行设置”图标，查看EDX面板上“X-RAY”灯已亮，等待30分钟进行下一步操作。
第4步：能量校正在样品室中放置A750标样，单击“仪器校正”，在“能量/半峰宽FWHM 校正”框中点击“是”，单击“开始”，进行能量校正。
待能量校正后关闭校正窗口。
第5步：仪器检查单击“分析”窗口，单击分析组“分析组别”，选择点击“定性-定量”项目，选择“easy”，单击“确认”，输入样品名称（A750），单击“确认”，单击“开始”。
测试完成后，结果如果在下列范围内：A750：Al〉85%；Sn、Si、Cu有数值。
Si如果没有数据，可能是环境影响，可以继续进行。
否则必须重新进行步骤四。
第6步：漂移检查漂移检查:漂移检查做法：取标准样品用PE-PVC测试，当测试值中Cd，Pb，Br，Hg，Cr测试值超过标识值的15*％，需要进行漂移校正，做法见仪器说明书。
第7步：样品分析放置好样品后，单击“分析”窗口，单击“分析组别”，选择“定量”或“定性半定量”项目，选择“某某”组别，单击“确认”，输入样品名称，单击“确认”，单击“开始”。
测试完成后，放置好下一个样品，方法同上。
第8步：数据查找：单击“数据”在“数据”栏目中选择相对应的“定量”或“定性半定量”，查找已测量样品的数据第9步：关机顺序：首先关闭X光管。
Thick 800A型能量色散X荧光光谱仪操作规程
Thick800A型能量色散X荧光光谱仪操作规
程
NDJ/SG51-2017 1、为贯彻“安全第一，预防为主”的方针，确保试验设备、人身和试
品的安全，特制定本规程。
2、打开总电源，打开荧光光谱仪电源。
3、样品的放置。
抓住仪器盖把手往上推开，打开样品腔。
4、把待检测的样品放在样品腔中的测量台上。
对通道进行光路调
节。
关闭样品腔。
开始试验。
5、能量色散X荧光光谱仪能准确，快速地检测、分析出产品的组成
成分，有多种分析计算数学模型，方便对不同材料，不同样品的分析测量，可制作多条工作曲线，各个曲线独立测试条件，针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域：黄金、伯、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。
6、试验完成后关闭电源，保存试验数据，完成试验记录。
能量色散型X射线荧光分析仪(元素光谱分析仪)设备操作说明书
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商版本A2一﹑功能鍵說明主機﹕用于放置待測物計算機﹕用于控制周邊設備。
打印機﹕用于列印相關數據二﹑操作說明1.機器連接﹕將主機電源線插入穩壓器110V輸出端﹔將穩壓器輸出線插入UPS輸入端充電﹔將計算機電源線插入UPS輸出端﹔將打印機電源線插入主機輸出110V端﹔列印機﹑主機﹑鍵盤﹑鼠標與主機相連既可。
核准審核製作日期UPS﹕斷電后提供穩定的電源給計算機﹐避免計算機資料丟失。
穩壓器﹕用于提供110V電源給主機并提供給UPS充電。
設備型號EDX-720 廠商版本A22.開機﹕2.1確認連線無誤后﹐將穩壓器電源開關撥向“ON”狀況﹐且穩壓器指針指在110V時﹐既可按下圖步驟開啟設備。
2.3.按下計算機桌面上的“EDX Sofrware”圖標﹐計算機即出現下圖對話框。
2.4.按下上圖中的“維護”圖標﹐計算機彈出如下畫面。
點擊下圖“儀器初始化”圖標﹐可以聽到快門和瀘光片動作聲音。
校正正常“儀器狀態欄”均顯示OK﹐表示校正成功。
核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.5.按下上圖中的“儀器設置”圖標﹐計算機顯示儀器設置對話框如下畫面﹕按下下圖儀器設置對話框中的“執行啟動”圖標。
即對X光管進行預熱﹐此時需等待30分鐘。
以確保儀器工作于穩定狀態﹐否則測量值誤差大。
2.6.X光管預熱30分鐘后將樣品“A750”放入主機X光管窗口處﹐如下圖﹕2.7.點擊下圖“儀器校正”圖標﹐計算機顯示“儀器校正”對話框。
按下儀器校正對話框的“開始”圖標﹐儀器進行能量校正并顯示校正中﹐請稍等……核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.8. 校正完成后﹐在“分析組別”內選擇定性/定量easy組別測試A750﹐以判定校正是否成功。
若測試結果中AL>85%﹐且測出了Sn﹑CU﹑說明儀器校正OK。
已可以測待測物。
X射线荧光光谱仪操作指导书
插入图片处
三、注意事项
1、测试过程中不能打开防护罩。 2、每次测试开机，软件将按程序运行约15分钟时间完成升压管流。 3、如果关机没有超过1小时，在选择参数时不需要勾选“慢管升压、管流” 。 4、未经许可，不要擅自修改工作区“管压”和“管流”参数 5、在预热阶段，如不需要关机的情况下，尽量不要关测试软件和电源。 6、测试样品应尽量水平放置，样品之中心位置应与画面中之十字交叉处对准。 7、如不需要长时间测试时，可将仪器关闭休息一下，避免发光管受热时间太长影响使用寿命。
二、操作步骤
1、测试之前一定要把仪器预热30分钟，再放入“银校正片”后进行初始化。根据仪器当时的状态，初 始化过程要持续几百秒的时间。初始化成功后，状态栏的结果将显示为PASS，者可以开始测试，如不是 则必须重新初始化。。 2、开启软件将按设定程序运行，约花15分钟左右的时间完成升到指定的升压管流，看到3个全部为OK， 者升压管流完成 3、根据样品选择工作曲线进行测试，样品一定要放在薄膜的中心，可以从摄像头中看到是否对准。 4、在测试时应该根据被测物品的材质和表处，选择相应的工作曲线对样品进行测试。测试时间为（200 —600s）。 5、测试人必须知道型号、材质、供应商并如实记录于测试信息栏，测试人才能测试该样品。 6、准备就序，然后点击“开始测量”，待样品测试完毕后，程序将自动报告测试结果。 7、测试完成并输出报告并存档。 8、测试完成后拿出样品，盖上防护罩。 9、关机时，先要关闭测试软件，再关闭仪器电源。
设备操作指导书
机种 规格 站别 作业名称 文件编号 MWI-00-000 版本 B/0 制作日期 2012-0-00
线荧光光谱仪
一、使用前检查
XXXXXX
IQC
能量色散荧光分析仪安全操作及保养规程
能量色散荧光分析仪安全操作及保养规程[TOC]1. 引言能量色散荧光分析仪（Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analyzer，以下简称EDXRF）是一种广泛应用于材料分析和质量控制领域的仪器设备。
本文将从安全操作和保养角度出发，为用户提供一份合格的操作规程，以确保使用EDXRF仪器的安全性和准确性。
2. 安全操作规程2.1 仪器启动与关闭在启动EDXRF仪器之前，务必确保以下条件已满足：•电源接地可靠；•仪器连接正常；•仪器周围无易燃、易爆物品。
按照以下步骤进行仪器的启动和关闭操作：2.1.1 启动操作步骤1.检查仪器电源线是否连接良好；2.打开仪器电源开关；3.按照仪器说明文档操作步骤开启仪器软件。
2.1.2 关闭操作步骤1.关闭仪器软件；2.关闭仪器电源开关。
2.2 样品准备在进行样品准备前，请严格遵守以下规则：•确保样品不含易燃、易爆等危险物质；•样品操作区域要通风良好，以防止有害气体积累；•使用手套、护目镜等个人防护装备。
样品准备步骤如下：1.将样品按照仪器要求准备成适当的形状和尺寸；2.清洁并磨光样品表面，以确保分析的准确性；3.将样品放置在样品台上，并确保稳固。
2.3 仪器操作在操作EDXRF仪器时，需遵循以下操作规程：1.按照仪器说明文档，设置分析条件（如电流、加速电压等）；2.将样品放置在分析位置上，并保持稳固；3.按照仪器软件的指示，进行扫描和数据采集；4.扫描结束后，及时保存数据，并关闭仪器软件。
2.4 紧急情况处理在使用EDXRF仪器过程中，可能出现一些紧急情况，必须迅速采取应对措施，以保证人身安全和仪器设备的完整性。
2.4.1 火灾事故•火灾报警时，立即按下应急按钮，切断仪器电源；•在使用灭火器灭火时，请站在风向，并保持适当的距离；•如果火势无法控制，请立即撤离，并及时报警。
2.4.2 电气故障•在电气故障发生时，切勿用湿的物体触碰设备；•立即切断仪器电源，并联系维护人员进行维修。
X射线荧光光谱仪（EDX-LE能量色散）操作规程
X射线荧光光谱仪（EDX-LE能量色散）操作规程X射线荧光光谱仪（EDX-LE）操作规程1.接通电源，启动筛选分析条件:双击桌面上的PCEDX Navi 软件，启动软件。
2.初始化仪器,单击初始化。
3.打开X射线管电源,单击[Xray ON]。
3.1.显示面板的X-RAYS ON灯和X射线显示灯点亮。
3.2.仪器稳定大约需要花费15分钟。
3.3.显示[管理分析]页面后，完成启动。
4.仪器校正4.1.按开盖按钮，将校正样品放置测试窗。
关上样品室盖。
4.2.进行能量检查:放入A750标准样品，单击能量检查下的[测试]按钮，进行能量检查，读取能量数值（单位：cps/uA）4.3.进行管理分析:放入7元素标准样品，单击管理分析下的[测试]按钮，进行管理分析，读取7元素标样数值（单位：ppm）。
4.4.取出校正样品：取出校正样品后，单击[正常分析]，完成分析准备。
5.测试5.1.放置样品，关上样品室盖：按开盖按钮，将样品放置在测试窗上。
确认画面上显示样品图像。
5.2.输入样品信息：选择分析条件后输入样品名称、注释、操作者等信息。
5.3.开始分析：单击[开始]，开始分析。
分析结束后，发出结束音，显示分析结果。
5.4.进行预测试：预测试的目的是仪器自动选定分析条件。
大约需15s。
5.5.测试并显示测试结果：测试并出结果，依照材料不同，大约需3~15分钟。
6.关机6.1.退出仪器，关闭X射线管：从[维护]菜单选择[关闭X-ray]；单击[OK]。
6.2.退出程序：筛选分析结束。
选[关机]，退出程序。
6.3.切断各电源：按照图中的号码顺序切断电源。
关闭X射线后，需要冷却X射线管。
等待5～10分后，关闭仪器的电源。
能量色散X荧光光谱仪操作指导书
能量色散X荧光光谱仪操作规范1.0目的使能量色散X荧光光谱仪操作标准化2.0使用范围所有能量色散X荧光光谱仪仪器操作人员3.0责任3.1品保部负责公司所有仪器的管理；3.2 使谈情部门负责申请、借用、领用、维护和保管。
4.0参考文件无5.0定义XRF测试员: ROHS测试行业一年以上工作经验，高中以上学历经，仪器原厂培训考试合格，并获得相应证书，对仪器操作熟练。
XRF测试仪代理人：必须经过仪器原厂培训，并获得原厂发的证书，对仪器操作熟练。
6.0内容6.一般数据：6.1所需设备及工具﹕6.1.1能量色散X荧光光谱仪6.1.2主机及打印机6.2作业程序：6.2.1首先,按照《能量色散X荧光光谱点检表》中项目依次进行点检，点检完毕填写《能量色散X荧光光谱点检表》。
其次，检查电源，计算器，仪器之间的联机，确定正确无误。
将ROHS 测试插入电脑USB（如图一）接口处。
6.2.2打开电源—打开X荧光分析仪主机的电源—打印机的电源—打开计算器主机电源。
在电脑桌面上找到相应测试软件名为：ROHS3（如图二）,点击进行测试页面。
6.2.3仪器预热6.2.3.1开机，放入纯银片(如图三)，测试页面左上角：点击参数设置—测量时间，输入1800 ，点击确定即可（如图四）。
点击确定后，系统会自动跳出对话框，点击OK（如图五）。
在测试过程中进行预热。
（如图六）预热线束后，系统会自动跳出一个对话框，点击OK（如图七）6.2.4.初始化6.2.4.1选择菜单“参数设置”中的“初始化”或点击快捷键。
6.2.4.2放入银样正片，点击OK,系统会再次弹出对话框（同图五），点击OK,即可进行初始化,这时页面上会出现“正在初始化仪器”字样。
（如图八）6.2.4.3初始化结束后状态区峰信道将显示为1105道,同时弹出对话框，点击OK.(否则重新进行初始化)(如图九)6.2.5校正6.2.5.1.设置测量时间：选择菜单“参数设置”下的“测量时间”项，输入预设时间（200秒），按下OK即可。
X射线荧光光谱仪使用方法说明书
X射线荧光光谱仪使用方法说明书一、引言X射线荧光光谱仪是一种常用的分析工具，广泛应用于材料科学、地质学、环境监测等领域。
本说明书旨在详细介绍X射线荧光光谱仪的使用方法，以帮助操作人员正确地进行实验操作和数据分析。
二、X射线荧光光谱仪的基本原理X射线荧光光谱仪通过照射样品，利用样品中原子的X射线荧光信号进行元素分析。
当样品受到X射线的照射时，样品中的原子吸收X 射线能量并转化为内层电子的激发能量，随后这些电子会跃迁到低能级的壳层，释放出特定的能量。
光谱仪收集并分析这些荧光信号，得出样品中各种元素的含量和种类。
三、仪器的准备工作1. 确保X射线荧光光谱仪处于稳定的电源供应下；2. 清洁检查样品台面，确保无任何污染物；3. 放置待测样品，并确保其处于稳定的位置；4. 确保X射线管、样品间的距离适当。
四、实验步骤1. 打开X射线荧光光谱仪的电源，并预热10分钟；2. 校准仪器，包括峰位校准、能量刻度等，以保证实验结果的准确性；3. 设置工作模式和参数，如选择连续测量模式或单元素测量模式，并设置相应的参数；4. 确定测量范围和时间，根据待测样品的特性进行相应设置，以保证测量结果的准确性和稳定性；5. 点击开始测量按钮，启动测量程序；6. 测量完成后，关闭X射线荧光光谱仪的电源。
五、数据处理和分析1. 根据测量结果生成相应的光谱图，观察各峰位的位置和强度；2. 利用光谱软件进行数据分析，包括计算元素含量、元素比例等；3. 对数据进行统计和比对，与相关标准进行对比，以确定样品的性质和成分；4. 进行结果的解读和报告，提供详细的分析结果和结论。
六、安全注意事项1. 在实验操作中，严禁直接观察或照射X射线，以免对人体产生伤害；2. 使用符合规定的防护装备，如防护眼镜、防护服等；3. 严禁将样品与裸露的皮肤直接接触，以免造成污染或伤害；4. 遵守实验室安全操作规范，注意仪器的正常使用和维护；5. 定期检查X射线荧光光谱仪的安全性能，确保仪器正常工作。
X-射线荧光测试作业指导书
能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)作业指导书1.0目的规范ED-XRF的定性测试过程，避免由于不规范操作引起设备故障及分析误差。
2.0适用范围本测试规定了用X射线荧光仪对电子信息产品中规定的有害元素铅、镉、铬、汞、溴的筛选测定方法。
3.0职责本仪器操作人员应严格依本作业指引对有害元素进行定性测试。
4.0样品制备X射线荧光分析对试料有很严格的要求，这些要求因样品形态不同而异。
4.1.1块状匀质试料：对各种块、板或铸件等不定形试样，可用切割机、研磨机等加工成一定尺寸的试料，试料的照射面应能代表试料整体。
4.1.2膜状材料：用薄膜制备膜状试料时要特别注意薄膜厚度的一致性及组成的均匀性，测量时为使薄膜平整铺开，可加内衬物作为支撑物，尽量选用背景低的内衬材料。
4.1.3电子专用材料(非匀质材料)：对电子专用材料可用切割机将样品切割破碎，用研磨机将破碎后的样品研磨成粒径不超过1mm的粉末状样品；也可用剪刀、剪钳等工具对样品进行剪碎，粒径不超过1mm。
4.1.4液体试料：测定液体样品时要定量分取试液装入液杯，测定时要注意避免试液挥发、泄漏、产生气泡或沉淀等现象。
5.0测试步骤5.1.1仪器准备:按仪器厂家提供的说明书安装仪器，只要有可能，仪器应连续运转以保持最佳的稳定性。
每周做一次MCA校正(使用MCACAL校正片，有字体一面向上，校正时要选用Mca-9017方法)。
5.1.2样品测试：5.1.2.1打开电脑进入WINDOW窗口后，再开荧光分析仪电源和打印机电源，然后在电脑桌面上双击Routine Dialog软件进入仪器操作界面。
5.1.2.2 试验前先根据需要设定仪器参数，并建立相应的试验方法(本仪器已经内置了一个Wee-9017方法，可直接调用)。
5.1.2.3将样品盘安装在样品室里(1号位对应射线入口)，并拧紧中间旋钮螺钉，将剪碎的样品放至塑料杯里(样品尽量在半杯以上，且对有毒物质、挥发性物质或液体类物质要合上杯盖)，按顺序将样品放到样品盘位置上，(对平板试样可裁取一块约φ30mm 的样品，一般塑胶类样品要求厚度在3mm以上，此时要取出样品盘，在样品室的射线入口处垫上一块金属圆环，样品放在金属圆环上)，然后合上样品室门。
牛津仪器 Lab-X3500 能量色散 X 射线荧光光谱仪 使用手册说明书
X射线荧光光谱仪X射线硫含量试验仪Lab-X3500SClGB/T 17040ASTM D4294、D6445、D6481X 射线荧光 (XRF) 仪器的工作原理是将样品通过X荧光射线进行激发，样品吸收 X 射线能量，进入激发状态，然后发射出二次 X 射线。
每个化学元素发射出的 X 射线都有其特有的能量。
通过测量由此发射的 X 射线强度和特征能量，一台 X 射线荧光光谱仪 (XRF) 能够对被测材料的物质成分进行定性和定量分析。
牛津仪器 (Oxford Instruments) 所提供的全套产品系列包括手持式和台式 X 射线荧光光谱仪。
X-MET 型手持式 X 射线荧光光谱仪专为材料可靠性鉴定、合金分析和鉴定及有害物质分析（RoHS 指令）而设计。
这些光谱仪也可用于分析污染土地和矿物中含有的重金属。
X-Supreme8000、Lab-X 和 MDX1000 XRF 实验室分析仪可供各种常规化学分析，应用范围广泛。
从成品油中的硫到石灰岩分析均可使用，我们可根据客户的需求提供最优化的解决方案。
利用 XRF 技术分析样品具有很多优势，例如：只需少量或无需样品制备，快速无损分析，操作简单，可由生产人员操作，不会产生有害的化学物质，浓度范围从 ppm 到 % ，元素分析范围由元素周期表中的钠到铀。
分析的样品种类有：固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等。
Lab-X3500：移动式和实验室型的能量色散型 X 射线荧光光谱仪MDX1000：结合波长色散和能量色散技术的 X 射线荧光光谱仪，配有可选的 72 位自动样品器 X-Supreme8000：带有多样品杯操作台的实验式型 X 射线荧光光谱仪Lab-X3500(X射线荧光光谱仪)2000年8月，在Lab-X3000取得巨大成功的基础上，牛津仪器公司推出最新型的台式能量色散X射线荧光光谱仪Lab-X3500。
它把牛津仪器多年来设计生产X射线荧光光谱仪的经验和最新的硬件、软件技术的进展结合起来，是一种独特的、高性能的多元素台式X射线荧光光谱仪。
三维偏振能量色散X射线荧光光谱仪 说明书
三维偏振能量色散X射线荧光光谱仪 Epsilon5 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）仪器描述仪器说明仪器标签随着全球经济的快速一体化,各种行业标准或商业标准应运而生,尤其是环境保护方面，中国的第十一个五年计划加大了对环境保护方面的投入，一系列相关的环境标准对土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析要求越来越高,而传统的分析方法（如原子吸收等）由于样品制备复杂、某些元素的检出限达不到标准要求而导致分析速度和结果已远远不能满足环保行业的要求。
为了满足全球对这类分析要求的需要,全球专业级X射线生产制造商—帕纳科公司最近向市场推出了用于环境分析的顶级能量色散X射线荧光光谱仪—Epsilon 5.该仪器采用了一系列最新的、帕纳科独械募际酰╔光管功率可达600W,X光管最高管压可达100KV。
）使其成为目前世界上最顶级的能量色散X射线荧光光谱仪。
该仪器有两大特点：制样简单，可以直接对固体、液体、粉末等进行分析，与传统的ICP、AAS分析方法相比，无须对样品进行前处理，大大提高了分析速度；重金属元素的检出限可以降低到亚ppm级,使其满足全球的任何标准都没有问题(如EPA IO-3.3、Weee & RoHS、ELV EN71等),并且将来标准进一步提高,也无需增加任何投资即可满足，一次投资,一步到位。
帕纳科自2006年向中国市场推出Epsilon 5以来,在环境监测及检测机构等行业都得到客户较好的评价,知名用户如大连环境监测中心、西宁环境监测中心(主要用于环境土壤及空气滤膜分析),深圳天祥质量服务技术有限公司(ITS)(用于RoHS & Weee的样品分析)。
主要特点：• 专利Gd靶材——采用稀土元素钆Gd为靶材，对于重元素的K系线激发效率非常高.• 独有600W高压发生器——工作电压可达100kV，可以测量重金属的K线，从而使重金属的灵敏度大大提高。
(传统的能谱仪和现有的波长色散型都只能测量重金属的L线,而K线的强度要比L线的强度高一个数量级)• ——X。
X荧光光谱仪操作指导书
EDX1800能量色散光谱仪操作指导书文件编号：CF/WI0708-QC版次：A/0生效日期：2008.03.17更改日期：受控状态：1.总则正确使用监视测量设备是确保监视测量结果准确性的前提条件，为指导本仪器得到正确的操作使用，特作此书。
2.工作标准2.1欧盟R O H S指令检测标准2.2射频同轴连接器检验规范3.3检验作业指导书3.工作职责3.1严格执行工作标准，完成R O H S规定要求的检测、建立规范化质量记录；3.2认真做好测试前后标识，防止混淆，做到检测不合格的材料不生产、不使用，不合格的零部件不转序、不装配，不合格的成品不出厂；3.3随时监督仪器示值正确度，发现失效及时调校。
4.工作程序4.1R O H S检测开机操作顺序4.1.1首先检查电源，计算机，仪器之间的连线，确定正确无误。
4.1.2开机：打开总电源开关→打开X荧光分析仪主机的电源开关→打开打印机的电源开关→打开计算机主机电源开关→打开计算机显示屏完成以上步骤，使仪器处于工作状态。
4.2对仪器预热开机，放入纯银片，将测量时间设定为1500秒左右，在测试过程中进行预热。
4.3初始化用鼠标左键双击桌面上的R O H S软件的快捷图标，运行软件。
→选择菜单“参数设置”中的“初始化”。
→按照提示，并放入银校正片，点击“O K”即可。
根据仪器当时的状态，初始化过程要持续几秒到十几秒的时间。
初始化成功后，状态栏的峰通道将显示为1105道，否则重新进行初始化。
4.4设置测量时间选择菜单“参数设置”中的“测量时间”项，在出现的对话框中输入预设时间，一般情况下，R O H S测试的时间设置为200秒。
4.5选择测量曲线界面左边的程序栏中的六种程序，根据当前测量需要进行选择，单击相应的选项栏即可。
选择完后，被选中选项栏的颜色为蓝色，在曲线的状态栏里也将会出现默认的测量曲线名称。
4.6开始测量单击工具栏的开始按钮，会有一个窗口提示更换上合适的准直器，按照提示换上合适的准直器（检测塑料中的C r C l和测量焊锡中的C r C d P b H g要用1#准直器；而检测钢铁中的C r C d P b H g和测铜锌中的C r C d P b H g需要用3#准直器；检测塑料及其它要用2#准直器），按下“O K”即可。
日立LAB-X5000能量色散X射线荧光光谱仪操作规程
日立LAB-X5000能量色散X射线荧光光谱仪操作规程1 适用范围1.1 本操作规程适用于日立仪器公司LAB-X5000能量色散X射线荧光测定仪的操作。
1.2 本操作规程适用于石油产品硫含量的测定。
1.3 本仪器所用分析方法符合方法标准GB/T 17040《石油和石油产品硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法》；ASTM D4294《能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫含量》。
2 仪器操作步骤2.1 日常样品分析操作步骤2.1.1 仪器开机：将仪器左侧的电源键开关切换到[丨]“开启”位置，并将钥匙插入仪器右侧的圆形锁中，转到“启用X射线”位置。
2.1.2 点触屏幕下方的“”按键，进入PIN码输入界面。
输入标准的操作员PIN码“0000”之后，即出现“就绪”屏幕。
这表示仪器已准备好执行分析。
2.1.3 用手指在屏幕上，从上往下滑，唤出主界面。
在下拉菜单中，点触“方法”按钮。
在跳转的子界面内，点触“选择校正”。
2.1.4 该仪器已建立了“0-150ppm”、“0-1000ppm”、“0.1-5%”三条标准工作曲线，根据预估样品硫含量，选择合适的标准工作曲线。
2.1.5 点触“”以接受输入，并返回“方法”菜单。
然后在点触屏幕下方“”，即出现“就绪”屏幕。
2.1.6 打开样品端口上的玻璃盖，并检查辅助安全窗膜是否干净、平坦、无破损。
2.1.7 将装好样品的样品杯插入仪器顶部的样品端口中，盖上样品端口玻璃盖，按下发光环为绿色的按钮。
在跳转的界面中输入样品名称，点触“”，仪器开始分析。
2.1.8 样品旋转离开样品端口并进入X射线的照射路径，开始按钮周围的发光环将熄灭，取消按钮红色发光环亮起，表示仪器正在分析样品。
若有必要，按“取消”按钮即可随时停止分析。
2.1.9 测量完成后，自动打印分析数据。
仪器会显示结果屏幕，向左或向右滑动可查看之前的结果，点触“”按钮将切换为结果的光谱视图。
点触“”可恢复显示数字结果。
荧光能量色散光谱仪操作规程
1 环境要求：1.1 确保系统现场远离强烈机械震动、噪声，远离电弧焊设备、感应炉、粗的供电电缆等产生强电场的环境。
1.2 确保仪器不要置于高温、阳光直射、潮湿的环境。
温度：18~30℃。
湿度：20%~80%。
1.3 确保仪器周围干净无尘。
1.4 避免急热和急冷的温度。
1.5 岛津仪器的房间需要充分通风，在特别狭小的房间操作时，蒸发的氮气有可能引发重大的缺氧事故。
2 电源要求：电源：220V±5% 10A 单项，设备应有良好的保护性接地。
电压不稳定的地区需配置净化滤波稳压电压。
3 仪器的使用3.1 斯派克仪器的使用3.1.1接通仪器的主电源开关，再接通计算机、显示器、打印机电源。
进入测试程序对仪器进行预热，至少30分钟，使用校准样片选择自校程序进行仪器自检。
3.1.2 将样品放在升降台上，打开激光，调节升降台使两束激光对焦在样品需测试的部位，选择适当的测试程序，点击测试图标进行测试，测试结束及时关闭激光。
3.1.3 工作日保证仪器24小时正常通电。
每天下班前点击“STANDBY”使光管保持待机状态。
每周五和节假日要关闭仪器，先退出主程序，切断计算机和外围设备的电源，断开主电源开关。
3.2 岛津仪器的使用3.2.1 接通仪器的主电源开关之前先补充液氮，过5分钟左右待检测器温度恒定后接通仪器的主电源，再接通计算机、显示器、打印机电源。
进入测试程序对仪器进行预热，至少30分钟，使用校准样片选择自校程序进行仪器自检。
3.2.2 将样品放进样品室，选择样品需测试的部位摆放在测试位置，如果样品比测量窗小要用胶带固定或使用样品杯。
选择适当的测试程序，点击测试图标进行测试。
3.2.3 工作日保证仪器24小时正常通电。
每天下班前使仪器进入待机状态，但不要关闭检测的软件程序。
每周五和节假日要关闭仪器，先关闭X光管，切断计算机和外围设备的电源，等待5分钟左右使检测器温度恒定后，关闭仪器开关并断开主电源开关。
3.3 仪器使用开始前和结束后，操作人员应对仪器的状态进行检查，并认真填写使用记录。
偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS X 说明书
偏振能量色散X射线荧光光谱仪 XEPOS X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪）仪器描述仪器说明仪器标签光源：SPECTRO XEPOS采用端窗钯靶50W射线管。
最多可装8个偏振靶和次级靶，可设定各种不同的激发条件，以确保对从Na到U的元素进行最佳测定。
光闸系统：可以确保在更换样品时无需关闭光管，从而提高了系统的稳定性。
检测器：检测器采用目前最先进的硅飘逸计数器。
无论计数率如何变化，分辨率均保持一致。
特别设计的准直器可显著改善信噪比。
光谱分辨率小于160eV（以Mn ka线计）。
最大计数率为120,000cps。
在高计数率下仍有较高的分辨率，可缩短分析时间、提高分析准确度。
样品室SPECTRO XEPOS独特的分析性能不仅取决于它采用了功能强大的分析部件及先进的偏振技术，而且还取决于其精准的进样设计。
德国斯派克分析仪器公司在开发SPECTRO XEPOS时就专门考虑到进样的问题。
高精度样品交换器、新型样品盘的采用可大大减少机械和物力波动对测定的影响，改善分析结果。
仪器配备样品旋转装置，可进一步改善测定不均匀样品以及表面不平整样品的分析结果。
不间断电源：可以消除电源波动的影响，保证长期的稳定性和持久的X光管性能。
软件SPECTRO XEPOS软件提供了一个简单明了、使用简便的操作界面。
选定方法，输入样品识别信息，即可进行测定。
通过完备的引导程序，操作者只需通过5个简单步骤即可创建新的分析方法。
采用基本参数法或采用专门的SPECTRO TurboQuant软件，即可轻而易举的完成未知样品的分析。
SPECTRO XEPOS可搭载预制的应用软件包。
该应用软件包括一套在出厂前就安装和校正好的硬件和分析方法。
适用于分析ROHS，废渣，垃圾，油，水泥，炉渣等，SPECTRO XEPOS一机多用，是真正的多功能分析仪器。
主要特点：偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS：主要特点：。
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6.2.8.1金属类别测试物品厚度在0.1mm以上，长宽大于等于8mm即大于等于X光管最大面积。
6.2.8.2塑料及其它类别测试物品厚度在3mm以上，长宽大于等于8mm即大于等于X光管最大面
积。
6.2.
7.3单击“设置ROHS标准”按钮，可根据正圆有害物质（HSF）技术标准设置元素限量标准。
6.2.9材料拆解原则
6.2.9.1为了精确测试材料中有害物质或元素的浓度，达到有效控制有害物质或元素在材料中使
用的目的，应该在测试前将材料(有毒有害物质或元素检测对象)拆解至基本的构成单元或
检测单元，且拆解后材料需是均一质的。
(见附件一检测方法流程图)
6.2.9.2.我司入料与成品均为硅胶或橡胶产品，都为均质产品，一般情况不需要拆解。
6.2.10所有样品及相关记录保存期限为3年以上。
图一图二图三
图四图五图六
图七图八
图九图十
图十一图十二图十三
图十四图十五图十六
图十七图十八
7.0注意事项：
7.1此仪器为精密仪器，测量中要避免受到干扰。
如电机、振动、电焊、电磁、高压等
7.2温差不要过大
7.3放样品时要注意清洁，不可使样品尘料掉到测试窗口内，操作设备要轻拿轻放。
7.4探测器窗口为铍金属，厚度在微米级，受外力极易损坏。
探测器铍窗损坏，有空气进入，打直接导
致探测器废。
因此不得用任何物品接触探测器窗口
7.5 .操作XRF必须具备：1.其相关测试员必須通過儀器原廠培訓合格，並獲得相應證書上。
2.對IEC62321
中提到此儀器相關知識有一定了解。
3.知悉歐盟對鹵素，有害物質管控標准，未具备此条件不得进行XRF操作。
7.6在XRF测试员因请假或其它原因不在岗位时，测试由XRF测试仪代理人进行。
7.7所有关于ROHS测试必须由XRF测试员完成，其它无相关知识人员不得进行测试。
8.0附件
8.2附件二：
9.0相关窗体
9.1《X-RF环境物质检测仪校正记录表》9.2《能量色散X荧光光谱仪点检记录表》。