近代仪器分析进展-XRD

合集下载

XRD XRD衍射仪

XRD  XRD衍射仪

12mol%CeO2/ZrO2复合陶瓷表面XRD
常用分析软件

XDR常用的分析软件: 1.pcpdgwin 2.search match 3.high score 4.jade
结束 Thank You !
(四)晶粒尺寸测定 谢乐(Scherrer)公式
k D B cos
D :所规定晶面族法向方向的晶粒尺寸(晶粒线度);
: x射线波长 B:半峰宽(因晶粒尺寸造成的衍射峰增宽量) K = 0.9
晶粒越小,衍射线就越宽
晶粒无限大时
晶粒尺寸有限时
衍射线宽化主要影响因素: 1、仪器因素引起增宽 2、K双线引起宽化 3、晶格畸变引起宽化
Fra bibliotek3 X射线的产生及X射线管
X射线是高速运 动的粒子与某种物 质相撞击后猝然减 速,且与该物质中 的内层电子相互作 用而产生的。
X射线管
二 X射线衍射原理
1.X射线衍射的原理 X射线在传播途中,与晶体中束缚较紧的电子相遇时,发 生经典散射。各电子所产生的经典散射线会相互干涉,使在 某些地方被加强,另一些地方被减弱。电子散射线干涉的总 结果被称为衍射。


定性判断结晶与取向
1.由照片判断
非晶无取向
弥散环
非晶取向
结晶无取向
赤道线上的弥散斑
有系列同心锐环
结晶取向
有系列对称弧
对称斑点
结晶高度取向
弗兰克林 (Franklin R) 所摄的DNA 的高质量X射线衍射图
晶体的第一个衍射 图: 五水合硫酸 铜晶体 (CuSO4· 2O) 5H
1x射线衍射的方法采用连续x射线照射不动的单晶体周转晶体法采用单色x射线照射转动的单晶体确定晶体的结构粉末法采用单色x射线照射多晶体用于测定晶体结构进行物相定性定量分析精确的测定晶体的点阵参数以及材料的应力结构晶粒大小的测定等

仪器分析课件X射线衍射分析XRDN

仪器分析课件X射线衍射分析XRDN
2021/2/2
P1 O P2
SS12
C1
F
C2 H1 H2
19
物相分析
每种晶体都有它自己的晶面间距d,而且其中原子按 照一定的方式排布着。这反映在衍射图上各种晶体的谱线 有它自己特定的位置、数目和强度I。因此,只须将未知 样品衍射图中各谱线测定的角度θ及强度I去和已知样品所 得的谱线进行比较就可以达到物相分析的目的。
4
2021/2/2
5
2021/2/2
6
晶体的对称性
固态物质按其原子(或分子、离子)在空间排列是否 长程有序分成晶态和无定形两类。所谓长程有序是指固态 物质的原子(或分子、离子)在空间按一定方式周期性的 重复排列。整个晶体是由晶胞按周期性在三维空间重复排 列而成。
理想的晶体结构可以用具有一定对称性的、周期的、 无限的三维点阵结构加以描述。晶体的理想外形和宏观物 理性质制约于32点群,而原子和分子水平上的空间结构的 对称性则分属于230个空间群。
平均晶粒度的测定
Scherrer方程: Dhkl k coshkl
注意:1.β为半峰宽度,即衍射强
度为极大值一半处的宽度,单位以
d
弧度表示;2. Dhkl只代表晶面法线 D
方向的晶粒大小,与其他方向的晶
粒大小无关;3. k为形状因子,对
球状粒子k=1.075,立方晶体k=0.9,
一般要求不高时就取k=1。
❖ Enough crystals, enough angles, get enough diffraction to determine mineralogy
2021/2/2
18
样品与计数器旋转速度的关系
若样品平面由S1位置绕O轴转 动角θ至S2位置,求满足衍射条件 的∠C1OC2=? ∠FOH1=∠H1OC1, ∠FOH2=∠H2OC2, 2(∠FOH1-∠FOH2)=2θ, ∠C1OC2=∠FOC1-∠FOC2, ∠FOC1=2∠FOH1, ∠FOC2=2∠FOH2, ∠C1OC2=2(∠FOH1-∠FOH2)=2θ

XRD分析方法介绍

XRD分析方法介绍

特征x射线的产生示意图
特征x射线的命名主要考虑以下几点: ①某层电子被激发,称某系激发。如k层电子被激发,称k系 激发。 ②某受激层电子空穴被外层电子填充后所产生的x射线辐射, 称某系辐射、某系谱线或某线系。如外层电子填k层的空 穴后所产生的特征x射线,称k系辐射、k系谱线或k线系。 ③当电子填空穴前处于近邻、次近邻、…、电子层,则在对 应谱线名称下方标上αβγ…,如L、M层电子跃至k层,对应 称Kα、Kβ系线。M层电子跃至L层,对应称L系线。 ④当电子填空穴前处于某电子层的各亚层电子层,则在该谱 线名称的下方再标上数字。如L层有3个亚电子层,根据量 子理论,L1能级稳定,不产生电子的跃迁,则电子从Lα2、 Lα1分能级跃至K能级,对应产生Kα1、 Kα2谱线。
如图所示,设一束波长为λ的 平行X射线以角度θ照射到晶 体中晶面指数为(hkl)的各原 子面上,各原子面产生反射。
布拉格方程的导出 任选两相邻面,反射线光程差 δ=ML+LN= 2dsinθ; 干涉一致加强的条件为: δ=nλ 即 2dsinθ=nλ —布拉格方程Bragg’slaw 式中:n——任意正整数,称反射级数。

非相干散射 当入射x射线光子与原子中束缚较弱的电子 (如外层电子)发生非弹性碰撞时,光子消耗一 部分能量作为电子的动能,于是电子撞出离子之 外,同时发出波长变长、能量降低的非相干散射 或康普顿散射。因其分布在各方向上,波长变长, 相位与入射线之间也没有固定的关系,故不产生 相互干涉,也就不能产生衍射,只会成为衍射谱 的背底,给衍射分析工作带来干扰和不利的影响。
x射线是一种具有较短波长的高能电磁波, 由原子内层轨道中电子跃迁或高能电子减速所 产生。X射线的波长范围为0.01~100Å,介于 紫外线和γ射线之间,并有部分重叠峰。 x射线是一种本质与可见光相同的电磁波, 具有类似于可见光、电子、质子、中子等的性 质——波粒二象性。x射线显示波动性时,有 一定的频率和波长,表现出衍射现象 x射线与可见光相比,除具有波粒二象性的 共性之外,还因其波长短、能量大而显示其特 性: ①穿透能力强;②折射率几乎等于1;③透 过晶体时发生衍射。

现代仪器分析——X射线衍射分析讲诉

现代仪器分析——X射线衍射分析讲诉

方法(method)
变化
不变化 变化 变化
单晶体
周转晶体法(rotating-crystal method) 单晶体 不变化
劳埃(Laue)法 粉末法 (power method) 多晶体 不变化 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪
5、X射线衍射的方向和强度
X射线衍射可归结为两方面的问题:衍射方向和衍射强度。
图 3.测角仪构造示意图及照片
精密光学系统
Bragg-Brentano衍射几何 设计原理: R1=R2,试样转θ 角,探测器转2θ 角( 2θ / θ 偶合), 或试样不动,光管转θ ,探测器转θ ( θ /θ 偶合)
探测器
作用是接收样品衍射线(光子)信号转变为电 (瞬时脉冲)信号。 NaI闪烁计数器具有低背底(0.4cps)、高线 性范围2x106 cps;新型YAP晶体闪烁计数器的 线性范围高达1x107cps Si(Li)固体探测器具有极佳的能量分辨率。 可选择特定能量的光子进行响应。背景小于 0.01cps。
1
条件: 1.产生自由电子; 2. 使电子作定向的高速 运动; 3. 在其运动的路径上设 置一个障碍物使电子突 然减速或停止。
3
4 6 5
7
2
1-高压变压器;2-钨丝变压器; 3-X射线管;4-阳极; 5-阴极;6-电子;7-X射线
3、X射线管
封闭式X射线管实质上就是一个大的真空 5 7 ( 10 ~ 10 mmHg )二极管。
二、基本原理
1、X射线的本质
• X射线的本质是电磁波,与可见光完全相 同,仅是波长短而已,因此具有波粒二像 性。
(1)波动性 (2)粒子性
X射线衍射本质:衍射的本质就是晶体中各原子相干散射波 叠加的结果。

仪器分析课件X射线衍射分析XRDN

仪器分析课件X射线衍射分析XRDN

定期校准仪器
定期更换易损件 严格按照操作规 程使用仪器
确保仪器无破损、污垢和 锈迹。
避免灰尘和污垢影响仪器 性能。
确保测量结果的准确性和 可靠性。
如阳极靶材、真空泵油等 。
避免因误操作导致仪器损 坏或测量误差。
03
X射线衍射分析(XRD )实验技术
样品制备技术
01
02
03
粉末样品
将待测物质研磨成粉末, 以便在XRD实验中获得更 准确的衍射数据。
XRD的基本原理
X射线衍射分析基于晶体对X射线的衍射现象进行物质结构分析。当X射线照射到晶体上时,晶体中的 原子或分子会对X射线产生散射,由于晶体具有周期性结构,散射波之间会产生干涉现象,形成特定 的衍射图形。通过对衍射图形的分析,可以推断出晶体的结构信息。
XRD的基本原理基于布拉格方程:nλ=2dsinθ(其中λ为X射线的波长,d为晶面间距,θ为入射角) 。通过测量不同角度下的衍射强度,可以计算晶面间距,从而确定晶体的晶格常数、晶格类型等结构 参数。
奥秘。
XRD的优缺点
优点
X射线衍射分析具有非破坏性、无损检测的优点,可以快速准确地测定晶体的 结构和相组成。此外,XRD具有较高的精度和可靠性,能够提供较为准确的结 构信息。
缺点
X射线衍射分析需要样品具有较高的结晶度,对于非晶态或无定形样品的分析存 在局限性。此外,对于复杂样品或纳米级样品的分析可能存在散射背景干扰和 峰宽化效应,影响分析结果的准确性。
02
X射线衍射分析(XRD )仪器
XRD仪器的结构
01
02
03
04
X射线发生器
产生X射线,通常采用阳极靶 材(如Cu、Cr、Fe等)在高
能电子束轰击下产生。

XRD分析

XRD分析

研究X射线波长和一般晶体晶格参数发现,两者的尺寸是数值相当或比较接近,从而有科学家断言,晶体晶格是X射线发生衍射现象的天然栅栏!后来果然得到了验证。

晶体是这样;非晶体的物质没有这种有规律的格子排列格局,当然就不能获得X射线衍射现象了。

物质有没有固定的熔点、沸点,并没有验证是一个纯净物、包括晶体的独有的予以可区别其它物质的测试属性。

晶体的熔点、沸点是相对比较固定,熔程也是比较窄,但拥有这一熔点、沸点的物质未必仅此一个;有些非晶体的纯净物,其熔点沸点也会在一定数值、熔程也会很窄。

总之,可能在二十世纪初期还可以这样做,但现在更科学的大型精密仪器分析法出现后,就不被认同了。

X射线衍射原理及应用介绍:特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短(约为20~0.06 nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。

考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10^(-8)cm)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射;衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱;分析在照相底片上获得的衍射花样,便可确定晶体结构。

这一预见随后为实验所验证。

1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中,λ为X射线的波长,衍射的级数n为任何正整数。

当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一具有d点阵平面间距的原子面上时,在满足布拉格方程时,会在反射方向上获得一组因叠加而加强的衍射线。

仪器分析(xrd、红外、拉曼等)

仪器分析(xrd、红外、拉曼等)

各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法——牛人总结,留着备用来源:刘艳的日志紫外吸收光谱UV分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结构的信息荧光光谱法FS分析原理:被电磁辐射激发后,从最低单线激发态回到单线基态,发射荧光谱图的表示方法:发射的荧光能量随光波长的变化提供的信息:荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息红外吸收光谱法IR分析原理:吸收红外光能量,引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁谱图的表示方法:相对透射光能量随透射光频率变化提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率拉曼光谱法Ram分析原理:吸收光能后,引起具有极化率变化的分子振动,产生拉曼散射谱图的表示方法:散射光能量随拉曼位移的变化提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率核磁共振波谱法NMR分析原理:在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁谱图的表示方法:吸收光能量随化学位移的变化提供的信息:峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数,提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息电子顺磁共振波谱法ESR分析原理:在外磁场中,分子中未成对电子吸收射频能量,产生电子自旋能级跃迁谱图的表示方法:吸收光能量或微分能量随磁场强度变化提供的信息:谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数,提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息质谱分析法MS分析原理:分子在真空中被电子轰击,形成离子,通过电磁场按不同m/e分离谱图的表示方法:以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化提供的信息:分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度,提供分子量,元素组成及结构的信息气相色谱法GC分析原理:样品中各组分在流动相和固定相之间,由于分配系数不同而分离谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息:峰的保留值与组分热力学参数有关,是定性依据;峰面积与组分含量有关反气相色谱法IGC分析原理:探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力谱图的表示方法:探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线提供的信息:探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数裂解气相色谱法PGC分析原理:高分子材料在一定条件下瞬间裂解,可获得具有一定特征的碎片谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息:谱图的指纹性或特征碎片峰,表征聚合物的化学结构和几何构型凝胶色谱法GPC分析原理:样品通过凝胶柱时,按分子的流体力学体积不同进行分离,大分子先流出谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化提供的信息:高聚物的平均分子量及其分布热重法TG分析原理:在控温环境中,样品重量随温度或时间变化谱图的表示方法:样品的重量分数随温度或时间的变化曲线提供的信息:曲线陡降处为样品失重区,平台区为样品的热稳定区热差分析DTA分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,由于二者导热系数不同产生温差,记录温度随环境温度或时间的变化谱图的表示方法:温差随环境温度或时间的变化曲线提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息示差扫描量热分析DSC分析原理:样品与参比物处于同一控温环境中,记录维持温差为零时,所需能量随环境温度或时间的变化谱图的表示方法:热量或其变化率随环境温度或时间的变化曲线提供的信息:提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息静态热―力分析TMA分析原理:样品在恒力作用下产生的形变随温度或时间变化谱图的表示方法:样品形变值随温度或时间变化曲线提供的信息:热转变温度和力学状态动态热―力分析DMA分析原理:样品在周期性变化的外力作用下产生的形变随温度的变化谱图的表示方法:模量或tgδ随温度变化曲线提供的信息:热转变温度模量和tgδ透射电子显微术TEM分析原理:高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成衬度,显示出图象谱图的表示方法:质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象提供的信息:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等扫描电子显微术SEM分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象谱图的表示方法:背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等提供的信息:断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等原子吸收AAS原理:通过原子化器将待测试样原子化,待测原子吸收待测元素空心阴极灯的光,从而使用检测器检测到的能量变低,从而得到吸光度。

现代仪器分析方法

现代仪器分析方法

现代仪器分析方法
现代仪器分析方法包括:
1. 液相色谱法(HPLC):用于分离和测定液体和溶液中的化学成分。

2. 气相色谱法(GC):用于分离和测定气体和挥发性液体中的化学成分。

3. 质谱法(MS):用于确定化合物的分子式、结构和质量。

可以与色谱法结合使用,例如气相色谱-质谱联用(GC-MS)。

4. 原子吸收光谱法(AAS):用于测定金属元素的含量和浓度。

5. 荧光光谱法:测量物质在吸收紫外或可见光后放射出的荧光。

6. 红外光谱法(IR):用于确定物质中的官能团和分子结构。

7. 核磁共振光谱法(NMR):用于确定物质的分子结构和官能团。

8. X射线衍射法(XRD):用于确定物质的结晶结构。

9. 表面分析技术(如扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)):用于观察和分析材料的表面形貌和结构。

10. 热分析技术(如差示扫描量热仪(DSC)和热重分析(TGA)):用于测量材料在不同温度下的热稳定性和热性质。

这些现代仪器分析方法在科学研究、环境监测、食品安全、制药和化工等领域广泛应用。

XRD常见问题解答

XRD常见问题解答

XRD常见问题“大杂烩”Q: XRD能做什么?A: XRD(X 射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布, 晶胞形状和大小等)最有力的方法。

XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。

晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度以至衍射峰形上就显现出差异。

通过检查样品的X 射线衍射图以及与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比,便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算, 可以完成样品物相组成的定量分析。

XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)以及材料中应力测量等,应用面十分普遍、广泛。

这是一个言简意赅的应用介绍:/mrl/centralfacilities/xray/xray-basics/index. htmlQ: 拿到XRD结果怎么分析? 求高手分析!A: 分析XRD图谱就是通过衍射现象找到样品晶体结构的定性和定量特征。

方法在材料学专业的课程中讲得很清楚, 你可以去借一本材料学必修的类似于“近代仪器分析”“材料分析方法”“材料表面界面及微结构表征”等的课程的教材来看, 里面一般都会有XRD一章的原理,用途,分析介绍。

总的来说,希望新手们能够主动去学习XRD,而不是光问问题,等着别人来解答。

如果实在懒得学,你也要明白你需要从这个谱中得到什么信息。

论坛上没有哪个"高手"比你更清楚你自己的样品,请描述清楚样品尽可能多的信息及实验谱数据和目的。

Q: 怎么判定XRD图谱是非晶还是晶体的结构?A: 三者并无严格明晰的分界。

晶体原子排列是短程(<10Å)有序, 长程(>10Å)也有序, 非晶体是短程有序, 长程无序. “晶态”物质的XRD 图谱包含若干个彼此独立的尖峰(最窄峰宽由衍射仪器几何和各种狭缝宽度决定)。

如果这些"峰"明显地变宽,则可以判定样品中晶粒尺寸变小。

现代仪器分析及应用

现代仪器分析及应用

XRD分析:是利用X射线的被动性和晶体内部构造的周期性进展晶体构造分析。

ICP分析法:采用电感耦合等离子体〔ICP〕为光源的原子发射光谱测定物质的化学成分的方法。

GC-MS分析法:将气相色谱仪器〔GC〕与质谱仪〔MS〕通过适当接口相连接,借助计算机技术,进展联用分析的方法。

TEM分析法〔透射电子显微镜〕:将加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射形成明暗不同的影像的分析方法。

原子吸收分光谱法(AAS):是基于被测元素基态原子在蒸汽状态对其原子共振辐射的吸收进展元素定量分析的一种方法,具有灵敏度高、准确度高、选择性高、分析速度块等优点,但不能多元素同时分析。

IR分析法:是根据不同物质会有选择性的吸收红外光区的电磁辐射来进展构造分析,对各种吸收红外光的化合物的定量和定性分析的一种方法,可以定性定量鉴定分析物质、进展物质构造分析。

BET分析:BET法是BET比外表积检测法的简称,比外表积是指每克物质中所有颗粒总外外表积之和。

SEM分析法〔扫描电子显微镜〕:扫描电子显微镜是利用细聚焦电子束在样品外表逐行扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的,主要用于观察固体厚试样的外表形貌,具有很高的分辨力和连续可调的放大倍数。

〔色谱分析中的〕标准参加回收:在测定样品的同时,于同一样品的子样中参加一定量的标准物质进展测定,将其测定结果扣除样品的测定值,以计算回收率通常回收率(记作R) 计算的定义公式:R = 〔加标试样测定值- 试样测定值〕/ 加标量×100原子发射光谱分析法:原子发射光谱法是是利用元素发射的特征谱线的位置和强度进展定性和定量分析的一种光学方法。

根据流动相与固定相极性的差异,将色谱分为正相色谱:流动相极性低,固定相极性高的分配色谱。

反相色谱:流动相极性高,固定相极性低的分配色谱。

制备Cu/ZrO2催化剂:催化剂的制备方法主要有共沉淀法、浸渍法、沉淀沉积法、溶胶-凝胶法、热熔融法和混合法等。

XRD的原理、方法及应用 ppt课件

XRD的原理、方法及应用 ppt课件
样品中晶体学取向与样品外坐 标系的位向关系。一般用劳厄 法单晶定向,其根据是底片上 劳埃斑点转换的极射赤面投影 与样品外坐标轴的极射赤面投 影之间的位置关系。(透射/ 背射)
X射线单晶衍射仪
XRD的应用
• 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织 构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。
• 为反映织构的概貌和确定织构指数,有三种方法描 述织构:极图、反极图和三维取向函数。
便携式XRD应力测试仪
XRD的应用
• 4、晶粒尺寸和点阵畸变的测定 • 在晶粒尺寸和点阵畸变测定过程中,需要做的工作
有两个:⑴ 从实验线形中得出纯衍射线形,最普 遍的方法是傅里叶变换法和重复连续卷积法。⑵ 从衍射花样适当的谱线中得出晶粒尺寸和缺陷的信 息。
XRD的应用
• 5、单晶取向和多晶织构测定 • 单晶取向的测定就是找出晶体
• 2. 1912年,德国,劳厄,第一张X射线衍射花样, 晶体结构,电磁波,原子间距,劳厄方程;
• 1913-1914年,英国,布拉格父子,布拉格方程( 2dsinθ=nλ),晶体结构分析;
• 3. 1916年,德拜、谢乐,粉末法,多晶体结构分析 ;
• 4. 1928年,盖格,弥勒,计数管,X射线衍射线强 度,衍射仪。
材料表征概述
• 以纳米粉体材料为例,常用的表征手法如下图所示 :
材料表征概述
• XRD即X-Ray Diffraction(X射线衍射)的缩写。通 过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得 材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等 信息的研究手段。
X射线衍射仪
材料表征概述
• 1. 1895年,德国,伦琴,发现,医疗,第一个诺贝 尔物理奖;
• 然而,如果为了研究样品的某一特征衍射,择优取 向却是十分有用的,此时,制样将力求使晶粒高度 取向,以得到某一晶面的最大强度。

XRD应用简介

XRD应用简介

仪器分析实验2006秋季
若一个探测器沿赤道转动, 当转到该2
角度时, 就可以探测到此衍射线.
仪器分析实验2006秋季
NaCl 的粉末衍射仪图谱(Cu K)
仪器分析实验2006秋季
粉末衍射仪系统示意图
平样品,对称衍射:当样品平面平行于入射X射线时,探测器与接收 狭缝处在2 零度。然后样品以S速度绕衍射仪轴转动,同时探测器与 接收狭缝以2S速度转动,依次探测记录各晶面的衍射线。这样记录下 来的是那些其 h k l 晶面平行于样品表面的晶粒的衍射线
数据 / 图形输出设备 控制和数据处理计算机
2 和 驱动系统 脉 冲 高 度 分 析 器
样品驱动机构
发散狭缝
水冷却系统 X光管
样品
入射X射线 2 0°
样品作转动
衍射X射线
入射Soller 狭缝
稳定的: 直流高压 灯丝电源 聚焦偏压
主 放 大 器
接收狭缝 接收狭缝 单 色 器 前置放大器
衍射Soller 狭缝
X射线衍射仪及其应用简介
覃 事 栋 博 士
吉首大学化学化工学院
2010-12
仪器分析实验2010冬
X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子 级结构进行研究和鉴定的基本手段
其最常用的目的如下
1. 确定物质和材料中各种化合物的各种原子的排列。 研究材料和物质的一些特殊性质与其原子排列的关系。 2. 确定物质和材料含有哪些化合物(物相)。 3. 确定各种化合物(物相)的百分比。 4. 测定纳米材料的晶粒大小、材料中的应力、织构、取向 度、结晶度等等。
在大学和研究单位中 , 下述这些系 ( 或学科 ) 都必须
大量或经常使用衍射仪:材料(无论是钢铁、陶瓷、建 材、半导体、高分子等或其他材料 )、物理、化学、 生物、化工、地质、核能、微电子、机械、环境、 医药等。尤其是在材料、物理、化学化工、生物几 个学科中, X射线衍射仪和电子显微镜是使用量最大 的两种大型分析仪器。

近代测试技术——XRD

近代测试技术——XRD

现代分析测试技术中国人的传统思维并不是这样的,我们一般会认为合理的就是可以被接受的。

因此我们的传统技术,比如中医,在往科学方向发展的时候会遇到很大的问题。

其哲学上的出发点是不同的。

我们并不是说其中哪一个XRDWilhelm Conrad Röntgen(1845-1923)1901 Nobel Prize射线波长为0.001~10nm。

根据能量的高低又可将X射线分为软、硬及超硬波长小于0.1埃的称超硬X射线,在0.1~1埃范围内的称硬X射线,1~10埃范围内的称射线。

在波长方面,实际上伽玛射线与X射线是有重叠的,那么他们的确别在什么地方伽玛射线源于放射性物质的衰变过程。

0.0713590.0709300.0620990.063229Mo 0.0790150.0785930.0689930.070173Zr 0.1544390.1540560.1381090.139222Cu/s/blog_4f183d960100dqd7.htmlMax von Laue (1879-1960)William HenryBragg (1862-1942)William LorentzBragg(1890-1971)2dsinθ= nλ஭ᄏஉ৩Ǚ૥ᏄLJ࢛ᑫ晶态的基本特征是原子或分子在三位空间的周期性排列,或者叫长程有序。

2θ(o)多晶衍射中的不同环代表晶体内不同晶面的晶面间距。

但环与环之间,存在着明hkl100*λ2/4a2S=h 2+k 2+l 2100sin2θθ2θLine#X-Ray Diffraction Peaks and Calculations for Nickel-Aluminum, PDF Card#20-0019.最大衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量指标及在混合物当中百分含量的函Moore and Reynolds,1989)这种方法并不十分准确,所以一般还是采用热分析的方法确定材料结晶度ࢅॊᔇ஭ᄏ঱ॊᔇ஭ᄏFocusing X-rayFocusing X-ray by full reflection on elliptical mirrorElliptical mirrorsource crystalElliptical mirrorOsmic’s Confocal Max-Flux systemᔝᒅᓺ࿛ĂඇखᅙൢĂڹኪཆି࿩ĂຬኪĂThanks。

现代仪器分析——XRD

现代仪器分析——XRD

2. 样品准备: 样品准备:
①粉体样品:粒度须小于75µm(200 目),样 品若为粗粒或不规则块状,则需粉碎,用玛 瑙研钵将样品磨细至200 目(试样通过200 目 分样筛)。 将样品均匀地洒入盲孔玻璃样品板内,比玻 璃板略高,用玻璃片轻压,使样品足够紧密, 要求压制完毕后表面光滑平整,样品粘附在 玻璃板上可立住且不会脱落。若是样品量较 少,可将样品用酒精分散后,滴在微量样品 板上进行测试。
②块状样品:尺寸要小于通孔样品板的孔径(长 a≤15mm, 宽b≤15mm,厚度h≤5mm),且样品 表面平整光洁。可通过切割、磨制、抛光来处 理样品的测试面。 ③薄膜样品:薄膜底衬尺寸小于通孔样品板的 孔径(长a≤15mm,宽b≤15mm)。也可直接用酒 精粘在微量样品板上测试。
3. 样品测试
实验原理
仪器设备
X射线衍射仪基本组成包括: X射线发生器、衍射测角仪、辐射探测器、测 量电路以及控制操作和运行软件的电子计算机 系统。 在衍射仪上配备各种不同功能的测角仪或硬附 件,并与相应的控制和计算软件配合,便可执 行各种特殊功能的衍射实验。
XRD结构 结构
变压器
循环水系统
主机 计算机系统
注意事项
1.实验室门应轻开轻关,尽量避免或减少人 员走动; 2.测试过程保持循环水一直处于正常工作状 态。 3. 操作时应注意以下几点:样品放在样品台的 正中心,测试时保证X射线正射在样品上。放 好样品后,将仪器门锁好。测试结束后,才能 打开仪器门,严禁测试过程中打开测试门。
在XG Operation面板中,将电压、电流设定为 20KV、2mA,点击Set,待电压电流达到设定 值后点击X-ray off关掉X射线。 待X射线关掉5min之后,关闭XRD主机电源、 循环水冷却系统电源。

现代仪器分析技术的新进展

现代仪器分析技术的新进展

现代仪器分析技术的新进展现代仪器分析技术在不断地推动着科学技术的进步和发展。

近年来,仪器分析技术在技术上有了许多新的进展。

本文将分析其中的一些主要新进展。

第一,分析技术与信息处理技术的结合。

随着电子计算机的普及和信息技术的发展,许多新的数据处理技术和算法在分析仪器中得到了应用。

这样,在数据获取和分析结果处理上,仪器分析技术的效率与精度得到了大幅度提高。

例如,随着人工智能技术的发展,机器学习和自动智能技术等应用,使分析结果更加快速和准确。

第二,纳米技术在分析技术中的应用。

随着纳米技术的发展,许多功能材料具有了很好的应用前景。

在纳米级别的材料中,一些物理和化学现象具有独特的特性。

此外,纳米技术使得元素的表面积增加,其可视化程度也更高,使得仪器分析技术更加准确和灵敏。

例如,纳米级别的材料可以被用于电化学传感器和分析化学领域的测量。

第三,新光源的出现。

随着激光、同步辐射和自由电子激光等新的光源的不断出现,分析仪器的光谱技术得到了很大的改善。

这些新光源不仅提高了仪器分析技术的分辨率和准确度,还大大提高了实验的效率。

例如,同步辐射光源是一种强度和频率均匀的光源,可用于X射线吸收谱(XAS)、X射线荧光谱(XRF)和X射线衍射谱(XRD)等分析技术。

第四,新型探测器的出现。

随着探测器技术的发展,新的探测器设计和材料开发出现,这些探测器具有更高的探测效率、更低的噪声和更好的空间分辨率等特点。

例如,新型的探测器包括光电倍增管、激光可视光谱仪和等离子体质谱仪等。

第五,新型的分析仪器。

随着新型仪器的发展,传统分析仪器得到了极大的改进,同时也产生了新的分析仪器。

例如,四极杆和离子阱质谱仪等新型质谱仪可以同时检测多种物质。

还有,新型的扫描电镜和聚焦离子束(FIB)等新型显微镜与其他分析技术相结合,可以在三维空间上实时可视化样品表面的性质,实现多元化的原位分析。

仪器分析XRD

仪器分析XRD

现代计算机应用: 现代计算机应用:
现代仪器均提供计算机检索的功能, 现代仪器均提供计算机检索的功能,这些 方法均以PDF为依据,将待鉴定的样品经 射 为依据, 方法均以 为依据 将待鉴定的样品经X射 线衍射所得的数据(面间距 和相对强度I/I 面间距d 线衍射所得的数据 面间距 hkl和相对强度 1与 一套事先存贮的PDF数据 hkl和I/I1)逐一进行 数据(d 一套事先存贮的 数据 逐一进行 匹配检索,以鉴定物相。 匹配检索,以鉴定物相。 计算机检索能给出鉴定物相可能性, 计算机检索能给出鉴定物相可能性,仍需 要研究者进行判断。 要研究者进行判断。
XRD的基本原理 的基本原理
当一束单色X射线入射到晶体时, 当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子有 规律排列成的晶胞所组成, 规律排列成的晶胞所组成, 而这些有规律排列的原子间的 距离与入射X射线波长具有相同的数量级。故由不同原子衍 距离与入射X射线波长具有相同的数量级。 射的X射线相互干涉叠加,可在某些特殊的方向上产生强的 射的X射线相互干涉叠加, X射线衍射。 射线衍射。 通过分析X射线衍射图样可以得到物质的类型、晶体结 通过分析X射线衍射图样可以得到物质的类型、 构和化学式。 构和化学式。
XRD怎样操作 怎样操作
1.将被测式样放在玛瑙研钵中磨至200~300目。 2.将样品放入试样板孔中,压平,紧贴平板玻璃 的一面作为X光照射面,将样品板插入样品台 架。 3.开机、选择参数,测量得到一张衍射图谱。 4.关机。 5.物相分析
物相分析
1.根据衍射图谱选出三条最强线。 2. 根据测得的面间距d1、 d2、d3和相对强度I/I1 与 国际粉末衍射标准联合会(JCPDS)收集发行的 粉末衍射图谱集卡片(PDF)相对照,符合者可 以断定这个未知样品就是卡片上注明了结构和 名称的物质,未知样中还有所载的物质。

近代仪器分析进展-XRD

近代仪器分析进展-XRD

对晶体的抽象: 对晶体的抽象:点阵
c a b
点阵有不同的类型
2. 晶胞(cell, crystal cell)——对不同类型点阵的抽象 由于各阵点的周围环境相同,空间点阵具有周期重复性 ——只研究一个周期即可。 晶胞: 晶胞:为说明点阵排列的规律和特点,在点阵中取出一 个具有代表性的基本单元(通常取最小的平行六面体) 作为点阵的组成单元,称为晶胞。
Z c
晶胞可以有不同的取法,一般 选取每个角上有一个阵点的平 每个角上有一个阵点的平 行六面体作为晶胞, 行六面体作为晶胞 , 称为初级 晶胞或简单晶胞。 晶胞或简单晶胞
b Y
β γ a X
α
晶胞可由其三个棱边长a, b, c 及晶轴X, Y, Z之间的夹角α、β、 γ表示,称为点阵常数(晶格常 数,lattice constant)。
e V 2 λ −2 M I = I0 2 4 ⋅ ⋅ 2 FHKL P ⋅ ϕ (θ ) ⋅ e ⋅ A(θ ) m c 32 πR v
4 3
I0:入射X射线的强度; e, m:电子电量和质量; c: 光速;λ:入射X射线的波长;R:试样到测量点 (底片或探测器)的距离,单位cm; V:试样被X 射线照射的体积,单位cm3;v:单胞体积,单位 cm3;FHKL:结构因子; P:多重性因数;ϕ(θ): 角因子;e-2M:温度因子;A(θ):吸收因数。
1
1. 28.383°, 0.31419nm, 100%; 2.47.275°, 0.19211nm,59.8%; 3.56.079°, 0.16386nm, 32.4%; 4.69.055°, 0.13590nm, 5.9%; 5.76.458°, 0.12448nm, 11.4%; 2 6. 88.014°, 0.11087nm, 18.4%。

XRD的原理及应用

XRD的原理及应用
λ----入射X射线波长 布拉格方程规定了X射线在晶体内产
生衍射的必要条件,只有d、θ、λ同时满足 布拉格方程时,晶体才能产生衍射
2021/2/4
10
三、X射线衍射方法
• X 射线的波长较短, 大约在10- 8~ 10- 10cm之 间。与晶体中的原子间距数量级相同, 因此 可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这 就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为 可能。在研究晶体材料时,X射线衍射方法 非常理想非常有效,而对于液体和非晶态 物固体,这种方法也能提供许多基本的重 要数据。所以X射线衍射法被认为是研究固 体最有效的工具。在各种衍射实验方法中, 基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。
2021/2/4
3
• X 射线的主要应用领域有: (1 )X 射线照相术; (2 )X 射线衍射结构分析; (3 )X 射线光谱分析; (4) X 射线 吸收谱分析;(5 )X 射线漫散射及广角非相干和小角 相干, 非相干散射; (6 )X 光电子能谱分析; (7 )X 射线 衍射貌相。在对物质结构进行分析时,可以采用 很多方法,如中子衍射、电子衍射、红外光谱等 分析方法。
2021/2/4
13
连续X射线的波长有一个范围,从λ0(短波限)到λm。下图 为零层倒易点阵以及两个极限波长反射球的截面
大球以B为中心,其半径 为λ0的倒数;小球以A为 中心,其半径为λm的倒 数。在这两个球之间,以 线段AB上的点为中心有 无限多个球,其半径从 (BO)连续变化到(AO)。凡 是落到这两个球面之间的
将同时出现,互不干扰的叠加在一起。因此可根
据各自的衍射数据来鉴定各种不同的物相。
2021/2/4
27
物相分析存在的主要问题
• ⑴ 待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线, 而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果。 这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片。
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

主要内容: 卡片编号, 物质的名称、 化学式、 布拉菲点阵、 空间群、 点阵常数、 物理性质(密度、熔点等), 所有晶面的指数、面间距、相对强度, 制作卡片的实验条件, 参考文献,数据的可靠性等级和其他有关性质。
多晶粉末晶体样品的物相定性分析 最适宜的样品:多晶体或粉末晶体的试样。 最适宜的样品:多晶体或粉末晶体的试样。 对晶相和非晶相混合的试样和某些已知的非晶样 品也可进行分析。 品也可进行分析。 最初:为卡片编制了数种索引,从名称、晶面间 距等方面查找。 图谱与卡片全部符合——样品中有卡片所代表的 相存在。 若样品为两种或多种物相的混合物,除去与一种 卡片对应的衍射峰后,还会有剩余的峰,要重复 上述步骤,定出其余的相,直到无剩余峰为止。
衍射仪圆 (测角仪圆)
二、衍射仪的应用
仪器名称
多功能多晶粉末X射线衍射仪 多功能多晶粉末 射线衍射仪
生产厂: 生产厂:株式会社理学 (Rigaku) 型号: 型号:D/max2500VB2+/PC 晶相定性分析 晶相半定量、 晶相半定量、定量分析 主要功能 高温物相分析 原位反应物相分析 晶体取向分析 小角散射
e V 2 λ −2 M I = I0 2 4 ⋅ ⋅ 2 FHKL P ⋅ ϕ (θ ) ⋅ e ⋅ A(θ ) m c 32 πR v
4 3
I0:入射X射线的强度; e, m:电子电量和质量; c: 光速;λ:入射X射线的波长;R:试样到测量点 (底片或探测器)的距离,单位cm; V:试样被X 射线照射的体积,单位cm3;v:单胞体积,单位 cm3;FHKL:结构因子; P:多重性因数;ϕ(θ): 角因子;e-2M:温度因子;A(θ):吸收因数。
对晶体的抽象: 对晶体的抽象:点阵
c a b
点阵有不同的类型
2. 晶胞(cell, crystal cell)——对不同类型点阵的抽象 由于各阵点的周围环境相同,空间点阵具有周期重复性 ——只研究一个周期即可。 晶胞: 晶胞:为说明点阵排列的规律和特点,在点阵中取出一 个具有代表性的基本单元(通常取最小的平行六面体) 作为点阵的组成单元,称为晶胞。
3
6
4
5
0
20
40
60
ο
80
2θ ( )
例:根据的衍射图谱的数据,从索引查出Si的卡 片,与卡片对照,其峰位、晶面间距、相对强度 顺序都与卡片符合,所以可以断定该样品是Si。
误差:实测图谱中无晶面间距为0.15667nm的峰 (卡片中的第四峰),且各峰位、晶面间距和相 对强度都与卡片有一定的偏差。 解释:卡片中的第四峰强度很低 解释:卡片中的第四峰强度很低(0.1),一般的实 , 验条件达不到制作卡片时的实验精度; 验条件达不到制作卡片时的实验精度; 制作卡片用的是CuKα1辐射 波长λ=0.15406nm), 制作卡片用的是 α 辐射(波长 , 实测时用的CuKα辐射 波长λ=0.15418nm),波长 实测时用的 α辐射(波长 , 有偏差; 有偏差; 晶面间距和相对强度的偏差可以从样品的纯度、 晶面间距和相对强度的偏差可以从样品的纯度、 仪器系统误差等去理解。 仪器系统误差等去理解。
1
1. 28.383°, 0.31419nm, 100%; 2.47.275°, 0.19211nm,59.8%; 3.56.079°, 0.16386nm, 32.4%; 4.69.055°, 0.13590nm, 5.9%; 5.76.458°, 0.12448nm, 11.4%; 2 6. 88.014°, 0.11087nm, 18.4%。
h 2 + hk + k 2 l 2 1 4 + 2 六方晶系 2 = c d 3 a2
布拉格定律
1 2 3
2dsinθ=nλ
θHale Waihona Puke Q P M R K N d 2′ 1′ 3′
θ
L
实质:对于一定波长X 实质:对于一定波长X射线,一定的面间距的晶 面只在特定的角度θ产生衍射——选择性反射。 产生衍射——选择性反射。
从衍射的布拉格角可以判断出晶系和晶格常数, 即晶胞的大小和形状。 但布拉格方程无法区分简单晶胞和体心晶胞,晶 胞中的原子是同种原子还是异种原子。
简单晶胞
体心晶胞
异类原子晶胞
三种晶胞形状和大小都是相同的,因此其衍射 的布拉格角都相同,从布拉格定律不能区分这 三种物质。
从衍射理论还可以推知多晶体衍射环上单位弧 长上的累积强度
简单三斜 简单单斜、 简单单斜、底心单斜 简单正交、底心正交、体心正交、 简单正交、底心正交、体心正交、面心正交 简单六方 菱形(三角) 菱形(三角) 简单四方、 简单四方、体心四方 简单立方、体心立方、 简单立方、体心立方、面心立方
三斜晶系和单斜晶系
三斜
简单单斜
底心单斜
a≠b≠c α≠β≠γ≠90° 90°
α≠β≠γ≠90° ° α=γ=90°≠β ° α=β=γ=90° ° α=β=γ≠90° ° α=β=γ=90° ° α=β=γ=90° °
° ° a 1=a2=a3≠c α=β=90°,γ=120° Zn, Mg, NiAs a =b=c a =b≠c a =b=c
14种布拉菲( 14种布拉菲(A. Bravais) 点阵
a≠b≠c α=γ=90°≠β 90°
正交晶系
a≠b≠c α=β=γ=90° 90°
简单正交
底心正交
体心正交
面心正交
四方(正方)和菱方(三方) 四方(正方)和菱方(三方)晶系
简单四方
体心四方
菱方
a =b≠c α=β=γ=90° 90°
a =b=c α= β = γ≠90° 90°
六方晶系
a 1=a2=a3≠c
(a)原子堆垛模型 (b)晶格 (c) 晶胞 原子(分子)排列与晶格和晶胞的关系
七种晶系类型
晶系 三斜 单斜 正交 六方 菱方 正方(四方) 正方(四方) 立方 点阵常数 a≠ b≠ c a≠ b≠ c a≠ b≠ c 晶轴夹角 举例 K2CrO7 β-S, CaSO4·2H2O α-S, Ga, Fe3C As, Sb, Bi β-Sn, Ti2O Sn Fe, Cr, Cu, Ag
X射线衍射分析的根本——布拉格定律: 2dsinθ=nλ 晶面间距d、入射角θ 、波长λ的关系 。n为整 数,称为反射级数。
几个基本概念
晶体
原子(或分子) 原子(或分子)在三维空间作有规则的 周期性重复排列的材料。 周期性重复排列的材料。
原子(分子) 原子(分子)在三维空间的两种紧密堆积
金(200)晶面的透射电镜(TEM)晶格像 (200)晶面的透射电镜(TEM)晶格像 晶面的透射电镜
可见衍射强度除与角度有关外,还与结构、温 度、原子位置、种类等多种因素有关。 对波长一定的入射X射线,每一种晶体都有特定 的衍射峰位(晶面间距d)和相对强度I/I1(各衍 射峰的相对强度比)。
X射线衍射仪原理
X射线发生器(一般为X光管) 测角仪 探测器 系列狭缝 灯丝:阴极 靶(纯金属)为阳极 在阴极和阳极间加高压,使电子束从阴极打到阳 极,激发出的X射线。 X射线的波长——靶的材料。
某 种 晶 体 在 Cu 靶 Kα辐射X射线(波长 λ=0.15418nm)照射 下出现衍射图谱 (花样)——衍射 峰位(角度)和相 对强度。
1
2
3
6
4
5
0
20
40
60
ο
80
2θ ( )
六个峰:1——28.383°, 0.31419nm, 100%; 2——47.275°, 0.19211nm,59.8%; 3——56.079°, 0.16386nm, 32.4%; 4——69.055°, 0.13590nm, 5.9%; 5——76.458°, 0.12448nm, 11.4%; 6——88.014°, 0.11087nm, 18.4%。
试样 与 探测 器 分别 以 ω s:ωc=1:2 的 角 速 度绕O轴转动。试 X 射线管 样表 面 始终 平 分入 O 0 射线 和 衍射 线 的夹 F 2θ 角2 θ ,当2 θ 符合某 ωs {hkl}晶面的布拉 R 格条 件 时, 探 测器 135 45 (计 数 管) 接 收到 G RS 那些{hkl}晶面平 90 ωc 行于 试 样表 面 的晶 聚焦圆 探测器 粒发出的衍射线。 2θ从低角度转到高角度,探测器接收到衍射信号的角度即 为各晶面满足布拉格条件的衍射角。 衍射图谱:探测器接收到衍射X射线的角度和强度
Z c
晶胞可以有不同的取法,一般 选取每个角上有一个阵点的平 每个角上有一个阵点的平 行六面体作为晶胞, 行六面体作为晶胞 , 称为初级 晶胞或简单晶胞。 晶胞或简单晶胞
b Y
β γ a X
α
晶胞可由其三个棱边长a, b, c 及晶轴X, Y, Z之间的夹角α、β、 γ表示,称为点阵常数(晶格常 数,lattice constant)。
仪器外观
广角测角仪和标准样品台
小角测角仪
多功能样品台
高温附件及其 安装状态
原位反应附件
IP读数装置
1、多晶粉末晶体样品的物相定性分析
多晶体——多个不同取向 的小晶体(晶粒)组成
晶界 取向随机, 伪等向性
实验原理
JCPDS(PDF)卡片 JCPDS(PDF)卡片 粉末衍射标准联合会( 粉末衍射标准联合会(Joint Committee on Powder Diffraction Standards) 所有已发现的晶体物质的结构及其衍射花样等 相关数据制成卡片,称为JCPDS或 PDF卡片。 相关数据制成卡片,称为JCPDS或 PDF卡片。 新发现的物质每年都增编。 新发现的物质每年都增编。 已出版了有机及无机物质的卡片5万余张。 已出版了有机及无机物质的卡片5万余张。近年 只出版光盘版卡片销售。 只出版光盘版卡片销售。
相关文档
最新文档