电解电容器失效模式分类

失效模式
X 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 X X X 漏电流上升 漏电流上升 X X 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X X 防爆阀打开 蓋破裂 X / 端
阳极箔容量减小 频繁充放电 氧化膜劣化 电解液干涸 内部温度上升 内压增加 阳极箔容量减小 阴极箔容量减小 施加交流电 氧化膜劣化 电解液干涸 内压增加 阳极箔容量减小
使用原因／制造原因
内部温度上升 内压增加 施加过Hale Waihona Puke Baidu电压
失效现象
容量下降 X 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 X 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 X 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 损耗上升 X 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升 X 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升 X 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升
阳极箔容量减小 氧化膜劣化 电解液干涸 内部温度上升 内压增加
纹波电流过大
阳极箔容量减小 氧化膜劣化 电解液干涸 内部温度上升 内压增加 阳极箔容量减小
施加反向电压 氧化膜劣化 电解液干涸 内部温度上升
使用原因／制造原因
内压增加
失效现象
X 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 X 容量下降 X 容量下降 容量下降 X 容量下降 X 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升 X 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升 X 损耗上升
使用原因／制造原因
失效现象
氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 容量下降 损耗上升 损耗上升 损耗上升 损耗上升 X
失效模式
漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 X X X X X
氧化膜的缺陷
引出线与铝箔接触不充分 氧化膜劣化
电解液不足
氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏
X 容量下降 容量下降 容量下降 X 容量下降 容量下降 容量下降 X 容量下降 X 容量下降
X X X X X X X 损耗上升 X 损耗上升 X 损耗上升
漏电流上升 X X 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 X X 漏电流上升 漏电流上升
防爆阀打开/端蓋破裂 X 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X X X
失效模式
漏电流上升 X 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 X 漏电流上升 漏电流上升 X 漏电流上升 X 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 漏电流上升 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X 防爆阀打开/端蓋破裂 防爆阀打开/端蓋破裂 X X X 防爆阀打开/端蓋破裂
金属微粒附着
金属微粒附着
引出线与铝箔接触不充分 氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏
X 容量下降 容量下降 X 容量下降 容量下降
X 损耗上升 损耗上升 X 损耗上升 损耗上升
X 漏电流上升 漏电流上升 X 漏电流上升 漏电流上升
X X X X X X
铝箔，引线毛刺 引出线与铝箔接触不充分 引出线与铝箔铆接不良 机械应力的施加 引出线与铝箔接触不充分 引出线与铝箔接触不充分
使用原因／制造原因
氧化膜劣化
失效现象
容量下降 X X 损耗上升 X X
失效模式
漏电流上升 X X X X X
氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 使用温度过高 引出线与铝箔接触不充分
氧化膜劣化 氧化膜劣化 长时间使用 电解液干涸 氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 氧化膜,电解纸的绝缘作用受到破坏 引线受到异常外部应力 引出线与铝箔接触不充分 氯离子的侵入 腐蚀 使用含卤素的洗净剂 氯离子的侵入 氯离子的侵入 粘接剂,涂层剂的使用 腐蚀 氧化膜劣化