TFT-LCD表面缺陷检测方法PPT课件
TFT LCD 不良分析介绍 2
缺陷发生率
0.50% 0.40% 0.30% 0.20% 0.10% 0.00%
0.29% PRA005
8.1-8.21 QHL 不良与PI PR 号机差
0.43%
0.46%
PRA006
PR号机
PRA08
0.35% PRA013
四、不良解析与工作报告
PI short1(片状）不良与PI WET 存在号机差分布与QHL不良的号机差基本一致
8.1-8.21QHL不良与D1WE号机差
0.52%
0.50%
WED002
WED003
WED 号机
WED004
0.43% WED005
四、不良解析与工作报告
6．Map依存性：PI short1(片状)不良,占有率45.8%, 有map依存性，一 般发生在sheet的周边位置
image
全号机
#5
#6
占QHL的比重不大有关．
缺陷发生率
0.80% 0.60% 0.40% 0.20% 0.00%
0.48% DEI001
8.1-8.21 QHL不良与DEI 号机差
0.58%
0.51%
DEI002
DEI号机
DEI003
0.47% DEI004
缺陷发生率
0.63% 0.42% 0.21% 0.00%
0.57%
0.49%
WEI004
0.52%
WEI001
WEI002 WEI 号机
WEI003
WEI004
缺陷发生率
四、不良解析与工作报告
5、a-Si残留(片状)不良号机差：DEI 和WED工程均存在号机差
缺陷个数／Lot
a-si 残留１（片状）与DEI的号机差
TFT-LCD缺陷检测
TFT-LCD显示屏缺陷判定摘要：本文介绍了薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品的基础知识，LCD液晶屏工作原理，质检过程中屏缺陷专业术语，及相关标准。
1 TFT-LCD产品基础知识1.1 三基色原理大多数单色光也可以分解成红绿蓝三种色光，这是色度学的最基本原理，即三基色原理。
三种基色是相互独立的，任何一种基色都不能有其它两种颜色合成。
红、绿、蓝是三基色，这三种颜色合成的颜色范围最为广泛。
1.2 LCD液晶屏LCD一般代指薄膜液晶显示器，是利用液晶的特性“主动的”对屏幕上的各个独立的象素进行控制，以达到成像目的一种终端显示设备。
图像产生的基本原理很简单：显示屏由许多可以发出任意颜色的光线的点组成，只要控制各个点显示相应的颜色就能达到目的了。
在TFT-LCD中一般采用背光技术，为了能精确地控制每一个象素的颜色和亮度就需要在每一个象素之后安装一个类似百叶窗的开关，当“百叶窗”打开时光线可以透过来，而“百叶窗”关上后光线就无法透过来。
当外界环境变化它的分子结构也会变化，液晶从而具有不同的物理特性——就能够达到让光线通过或者阻挡光线的目的。
2 TFT-LCD工作原理简介一个成品TFT显示屏，一般由一个夹层组成，组成这个夹层的每一层大致是偏光板、彩色滤光片组成，这两层之间就是液晶层。
偏光板、彩色滤光片决定了多少光可以通过以及生成何种颜色的光。
这个夹层位于两层玻璃基板之间，在上层玻璃基板上有FED晶体管，而下层共同电极，他们共同作用可以生成能精确控制的电场，电场决定了液晶的排列方式和透光多少。
大家知道三基色，所以构成显示屏上的每个象素需上面介绍的三个类似的基本组件来构成，分别控制红、绿、蓝三种颜色，目前使用的最普遍的是扭曲向列TFT液晶显示器（Twisted Nematic TFT-LCD）工作原理如图1所示：图1 TFT-LCD工作原理3 常见缺陷分类在TFT-LCD 的后工序生产中，经常会遇到一些缺陷。
TFT-LCD特性与检测及常见不良定义
Contents1. TFT-LCD特性及專有名詞介紹 (2)1.1 Optical Design Rule (2)1.2 Electrical Design Rule (2)1.3 名詞說明 (3)1.4 Structure diagram (8)2.產品問題相關 (11)2.1特性與產品問題 (11)2.1.1 Different Regimes of Operation (11)2.1.2 Temperature effects on a-Si TFTs (13)2.1.3 C/F相關 (14)2.1.4 Cell Process 相關 (15)2.2 典型不良及成因 (20)2.2.1 亮線( Line Defect ) (20)2.2.2 G亮線( Gate Line Defect ) (21)2.2.3 亮點( Dot Defect ) (21)3. F/V測試 (22)4.畫面Defect之簡介 (25)4.1亮點 (25)4.2 點距 (29)4.3 亮線 (29)4.4暗線 (33)4.5漏光 (33)4.6 Cell Issue (35)4.7 CF Issue (35)4.8畫面異常 (37)4.9 Mura 類缺陷說明 (38)1. TFT-LCD特性及專有名詞介紹1.1 Optical Design Rule(1).亮度(Brightness) :現有規格多以五點平均亮度為主. 影響亮度的因素有:a. Inverter 之電流(電流越大, 亮度越亮, 但若是超過燈管之上限值, 則會影響Life Time) b. Inverter 之頻率(頻率越大, 亮度越亮, 但若是超過燈管之上限值, 則Power Consumption 則會增加, 但不會影響Life Time).(2).色座標(CIE):尤其是白光(Wx, Wy). 由於不同人種對顏色的感應不同. 根據瞭解, D65 (色溫6500, Wx=0.313;Wy=0.329) 是一般客戶較能接受的白光. LCD 色座標的產生主要來自背光之燈管及Color Filter混合而成. 欲改變色座標, 一般皆以調整燈管內之螢光粉成份來達成(3).色飽和度(Color Saturation) :為LCD CIE 對NTSC 色彩面積之百分比. 面積越大, 表示色彩越飽和.一般而言, NB LCD之色彩飽和度約為45%, Monitor LCD之色彩飽和度約為65%(4).對比(Contrast Ratio) :公式為(亮度最亮值/亮度最暗值). 對比值越高, 表示Display 越能顯示清析的影像. 尤其以文字為例, 對比不好, 則會使得文字有模糊現象. 一般而言, LCD 之對比約為300. 但對高解析度LCD (如SXGA+, UXGA, or QXGA), 對比就顯得異常重要了.(5).視角(Viewing Angle):由於液晶的物理現象, 視角先天上就成為LCD 顯示器的重大缺點之一. 以NB LCD 而言, 一般規格為(上/下/左/右: 20/30/40/40), Monitor LCD (上/下/左/右: 40/40/60/60). 隨著材料及製程技術的發展, 目前已有多種廣視角的產品上市, 例如MV A, IPS, 或SWV (Super Wide Viewing) film. 1.2 Electrical Design Rule(1).介面(Interface):目前的產品中, 介面主要有TTL, LVDS 及TMDS (全是數位信號). TTL 的優點是成本較低, 缺點則是EMI 較強, 訊號傳輸距離不可過長(約小於50 cm). 以NB 而言, LVDS 是主流, 其優點是抗干擾能力強, EMI 效果好, 及傳輸距離長(約至 2 m), 但缺點是成本較高(須LVDS ChipUSD$3/Chip). TMDS 則是新一代之數位傳輸標準. 其優點與LVDS 相似, 但傳輸距離更長(約至20 m). TMDS 的缺點也是成本較高(須TMDS Chip USD$5/Chip)(2).輸入電壓(Vdd):LCD 須要系統商提供電壓來驅動. 以NB LCD 而言, 一般皆是+3.3V. Monitor LCD, 則可能是+3.3V 或+5V 或+12V. 隨著我們電路板設計的不同而不同.(3).耗電量(Power Consumption):隨著可攜式的應用越來越普遍, 省電已是NB LCD 的重要指標之一. 而LCD 耗電量又以燈管為主(75% 左右).1.3 名詞說明a.有效顯示區域( Active Area)LCD Panel 的有效顯示區域，即可顯示文字圖形的總面積，參考下圖，白色區域即此片Panel 的有效顯示區域。
TFT液晶工作原理及常见不良分析 ppt课件
VGH,VGL没升压。
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2）花屏—显示不规则的花点，如下图。 有升压 （VGH,VGL电压正常），不能正常显示红绿蓝及 图片等。 一般是软件原因，常见于方案公司调程 序时。
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A. 数据位数不对。16/18位。 B. 送显示数据前没送显示指令。 一般IC: 22H指令。 C. 设置窗口指令有误。 D 显示图片的图片CODE 有误。 240*320——》241*320
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3）显示颜色淡 A. 初始化代码。部分淡，部分不淡，常见 GAMMA代码不对。GAMMA 代码需LCD供应 商提供。初始化代码不要改变GAMMA值。 B. FPC上元器件虚焊（倍压电容，虑波电 容），造成VGH,VHL电压过小。 C. 晶振电阻过小。选择的晶振电阻过小。 D. 一般情况下与二极管无关。
胶，离型膜，保护膜组成。PVA膜在经过延伸之 后，通常机械性质会降低，变得易碎裂。所以在 偏光基体(PVA)延伸完后，要在两侧贴上三醋酸纤 维(TAC)所组成的透明基板，一方面可做保护，一 方面则可防止膜的回缩。此外，在基板外层再加 一层感压胶、离型膜及保护膜(如图2)。
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2. 常见故障分析： 1）无触摸：触摸无反应 A. TP FPC断线。用万用表检测TP焊盘处电阻值。直 接量X+X-间电阻，Y+Y-间电阻值，其值应该在300~900 欧阳间。 B. 焊接虚焊，短接。用万用表检测主屏FPC金手指对 应脚间电阻值。 C. 程序问题。100% 2）触摸线性不良。左右，上下有偏位。 A． TP本身问题。 B. 程序问题。没校正程序，或校正程序做得不好。 3）触摸点上下左右巅倒。 A. 程序问题。 B. 设计问题。引线定义错误
TFT—LCD表面缺陷及其检测方法
摘要：当前薄膜晶体管液晶显示器(TFT—LCD)应用范围较广，但其面板缺陷问题对于整体显示质量影响较为突出，甚至对于面板生产效率产生负面影响，因此面板缺陷检测已成为当前TFT—LCD生产重要检测指标之一。
本文首先阐述TFT—LCD结构及表面缺陷，然后解析TFT—LCD表面缺陷检测方法，以期为减少TFT—LCD表面缺陷提供一定参考。
关键词：TFT—LCD；面板结构；表面缺陷；基板一、TFT—LCD结构及表面缺陷1.1TFT—LCD结构通常TFT—LCD面板结构具体包括上下两个基板，其中上基板主要安装彩色滤光片，这样会形成一定颜色，而下基板具体设有薄膜电晶体矩阵，其能够有效控制像素矩阵的灰阶显示，这两个基板之间具体是液晶层。
TFT—LCD面板具体显示区域具体包括大量独立性TFT元件控制的像素矩阵，而单一像素矩阵由水平栅极线以及垂直信号线构成，其内部区域包括薄膜晶体管、连接栅极线以及信号线。
根据CCD获取的低分辨率TFT—LCD面板表面图像可知，低分辨率面板图像表面存在栅极线及数据线，而高分辨率面板图像不仅具有栅极线、数据线，并有公共线，这样会大幅度增加高分辨率面板表面图像结构复杂程度[1]。
1.2TFT—LCD表面缺陷基于TFT—LCD生产工艺复杂程度，工艺环节多达300个，各个环节都极有可能出现缺陷，这些缺陷种类不同，这样致使面板生产效率遭受严重负面影响。
同时TFT—LCD表面缺陷大体包括宏观缺陷以及微观缺陷，其中宏观缺陷能够利用肉眼观察到，而微观缺陷要求采用电化学方法检测获得。
根据聚集状态不同，TFT—LCD面板缺陷具体细分为点缺陷、线缺陷以及Mura缺陷[2]。
二、TFT—LCD表面缺陷检测方法2.1图像识别法这种方法能够确认TFT—LCD面板存在缺陷，也可区分缺陷类别或缺陷等级，其面板图像数据主要利用降维方法或面板缺陷特征提取，控制整体缺陷识别速度及精确度，要求采用适当分类器，这样能够提升缺陷分类精度和速度[3]。
《多晶硅片外观检验》PPT课件
硅片正面
完整度
废片、缺角、缺口、裂纹、
侧面
表面
线痕、崩边、污片、穿孔、凹坑、色差
硅片正面、侧 面
2
1. 穿上工作服，按规定戴上手套、口罩、头罩。
按标准穿戴
戴两层手套
3
2. 翻转片盒，垂直提起片盒，取出硅片
•。
翻转片盒
取出硅片
4
3. 检查四边，挑选：缺口、缺角、碎片、废片、崩边、裂纹。
挑 出 不 良 品 检 查 四 边
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《多晶硅片外观检验》 PPT课件
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易检方位
晶体
微晶、雪花晶、分布晶
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9.300PCS归入一个泡沫盒，并称重确认数量
300PCS 称重、计数
10.确认好的硅片送至包装区包装.
11
小结
结合实际操作,个人总结出多晶硅片外观检验的动作要点为: 1提2取， 3看四边,4查边缘； 5检外表分正反； 6数二五〔25pcs)归入盒 ； 7要四个二五(25pcs)并成百 (100pcs) ； 8〔把〕好关口再复检(四边〕； 套好袋子再加袄(白卡加塑料袋〕； 最后称重并计数〔核对数据〕。
6.左手执片，右手撮动硅片数数，25PCS1个单位，数好 放置于备有太阳能级垫片纸的干净泡沫盒内。
数
数
25PCS放置
8
7.检验合格后4个25片，放一打，再整体检验四边，有无崩 边、缺口等，数量补齐放置盒中。
复检四边
挑 出崩 边
100PCS
TFt-LCD面板缺陷分类方法探索
TFt-LCD面板缺陷分类方法探索摘要：从面积、位置、聚集状态等角度尝试将TFt-LCD面板常见缺陷进行归类。
说明TFt-LCD面板缺陷的特点，即纹理背景呈现重复性特点、背光模组光照不均匀、缺陷的发现需要特定条件要求、缺陷具有不确定性等。
介绍TFt-LCD面板缺陷分类的基本方法，即缺陷检测，特征选择和特征抽取、分类器的设计等。
关键词：TFt-LCD面板；缺陷；分类方法前言：TFt-LCD技术是一种将微电子技术和液晶显示技术进行结合的技术。
TFt-LCD是对新材料和新工艺的巧妙运用，是一种大规模的半导体全集成电路的制造技术。
LC（液晶）、OEL （有机薄膜电致发光）以及EL（无机薄膜电致发光）都是以TFt-LCD技术为基础。
但是TFt-LCD面板自身也会出现各种缺陷。
一、TFt-LCD面板常见缺陷TFt-LCD面板常见缺陷包括点缺陷、线缺陷、画面缺陷以及出现色差和外观不良等，其中点缺陷和线缺陷是TFt-LCD面板缺陷问题中出现频率最高的问题，但是可以使用激光技术，对点缺陷和线缺陷进行必要的修补，修补后TFt-LCD面板一般可以正常使用。
（一）以面积为划分标准因为TFt-LCD面板缺陷本身具有不确定性，所以想要对其进行精确的划分，目前是不可能达成的目标。
如果从TFt-LCD面板缺陷的面积大小方面来对其进行划分，大致可分为宏观和微观两种缺陷。
如果TFt-LCD面板缺陷表现为颜色参差不统一，或者通过污点状态呈现出来，那么按此种分类方法，我们就可以把它称为宏观缺陷。
如果TFt-LCD面板缺陷是由于遭到刮擦、出现针孔或者是表现为粒子状态，那么按照这种分类方法，我们就可以称这种缺陷为微观上的缺陷。
（二）以位置为划分标准如果对TFt-LCD面板缺陷发生的位置来进行划分，可以将缺陷分为灌注口和角缺陷两种缺陷。
如果TFt-LCD面板缺陷发生在灌注口的位置，就是我们所说的灌注口缺陷。
如果TFt-LCD面板缺陷发生在角落中，我们就可以称其为角缺陷。
TFT-LCD微米级显示缺陷的自动检测算法的研究
TFT-LCD微米级显示缺陷的自动检测算法的研究目前绝大多数的薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)缺陷检测是针对肉眼看得到的比一个像素大的大缺陷(Macro defects)，但是对于远远小于一个像素的小缺陷(Micro defects，通常是微米级的)，这些方法是无法检测的。
本文主要是研究A rray工艺后玻璃基板TFT电路上肉眼无法观测到的微米级缺陷的检测算法。
通过分析TFT-LCD面板上电路的分布特点以及缺陷特征，提出了一种简单快速的适用于微米级缺陷的自动检测算法。
该方法针对TFT-LCD玻璃面板的缺陷特征，使用TDI-CCD ( Time Delay and Integration-Charge Coupled Devices)采集待检测图像，采用动态阈值技术，使用改进的差影法快速检测TFT-LCD玻璃基板上的缺陷。
1 TFT-LCD面板缺陷特征分析虽然TFT-LCD玻璃基板的大部分生产过程都是在无尘室里完成的，但仍不可避免地出现一些微小的缺陷。
造成这种缺陷的主要因素包括电气因素和非电气因素。
例如，在装配过程中，落在驱动芯片焊接面上的灰尘或异物，TFT的信号电极、扫描电极的短路或断路等.根据缺陷的形状和面积，可以分为点缺陷、线缺陷及面缺陷(块缺陷。
可根据缺陷位置像素比背景亮还是暗，分为亮点缺陷和暗点缺陷。
虽然TFT-LCD玻璃基板上的这种微米级缺陷是肉眼无法观测到的，但因每个像素的RGB分量分别是由一个TFT控制开关来控制的，而某些缺陷点会造成一个TFT控制开关失灵，因此，会导致相关像素的显示异常。
2 基于差影法的缺陷检测算法缺陷的基本特征是其与背景的灰度值不同。
差影法本质上就是图像的相减运算(又称减影技术)，是指把相似景物的拍摄图像或者同一景物在不同时间拍摄的图像相减。
图像的相减运算是指对两幅输入图像进行点对点的减法而得到输出图像的运算。
有了采集图像与模板图像的差影后，只要得到固定T就可以做缺陷检测。
用奇异值分解的方法自动检测LCD的缺陷ppt课件
a图就是人工画的纹理图像（最原始的图片），b1是用a1重新构建的图， b2是a2构建的图，b3是用a1,a2构建的图，c1是是用包括的a1的主要奇 异值构建的图，c2是包括a2构建的图，c3是用包括a1,a2构建的图。
选择合适的奇异值
用式子1可以分解然后得到一系列的奇异值，用式子2可以选择一些合适的奇异值 来充分的表示一些表面结构。在这次的研究中，我们用k这个值来决定2个相邻的 特征值的临界关系。由于一开始很难界定k的取值点，
2缺陷检测安排
Fig. 1. The schema of a single pixel of a TFT panel
左边图1就是表示了 单个TFT面板像素的 组织计划。
At each pixel, the gate of the TFT is connected to the gate line and the source is connected to the data line.
on the surface of TFT panels. The proposed method does not rely on textural features to detect local anomalies, and does
TFT液晶工作原理及常见不良分析 ppt课件
5）CROSSTALK (多见于黑底白字，白字两侧能见 到淡的横条，如下图)
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A. 晶振电阻过小。 B. 初始代码问题。帧频设置值过大。 C.元器件（倍压电容）虚焊，VGH,VGL 升压不够。 D. FPC压接问题。 E. IC压接问题。
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二、偏光片的构造
• 偏光片的构造如图2所示，主要由PVA膜，TAC膜，
TFT液晶工作原理及 常见不良分析方法
——LCM 范静提供
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一、TFT LCD 1 、什么叫TFT TFT-----Thin Film Transistor (薄膜晶体管) TFT LCD------薄膜晶体管液晶显示器
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2、TFT LCD 工作原理
在TFT-LCD中，TFT的功能就是一个开关管。常用的TFT 是三端器件。利用施加于栅极的电压来控制源、漏电极间 的电流。 对于显示屏来说，每个像素从结构上可以看作为像素电极 和共同电极之间夹一层液晶。更重要的是从电的角度可以 把它看作电容。其等效电路为图1所示。要对j行i列的像素 P（i，j）充电，就要把开关T（i，j）导通，对信号线D（i） 施加目标电压。当像素电极被充分充电后，即使开关断开， 电容中的电荷也得到保存，电极间的液晶分子继续有电场 作用。数据（列）驱动器的作用是对信号线施加目标电压， 而栅极（行）驱动器的作用是起开关的导通和断开。
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• 4.TFT LCD DRIVER 的作用 • 产生液晶显示所需各种电压，处理外部
CPU送过来的指令。 • 5. LCD, IC, FPC, POL 的结构关系：
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TFT―LCD表面缺陷及其检测方法
TFT―LCD表面缺陷及其检测方法液晶显示面板总括来说主要由TFT和CF两基板组成，其中ODF工艺是在TFT面板上滴注液晶和在CF基板涂覆Seal胶，通过真空贴合形成Cell。
LCD产品的显示主要是通过TFT电路来控制Cell内液晶的偏转，利用其对光线的各向异性选择光线通过，经过CF彩色滤光作用从而形成我们所看到的彩色画面。
1 TFT-LCD 表面缺陷由于TFT-LCD生产工艺复杂，涉及到300多个工，每个环节都有可能产生缺陷。
且主要为各种各样的表面缺陷，使面板生产效率受到了严重影响。
TFT-LCD表面缺陷粗略地分为两大类：宏观缺陷和微观缺陷。
其中宏观缺陷用肉眼能够识别，如Mura缺陷等；而微观缺陷难以用肉眼或电化学方法检测出来。
从聚集状态来看，TFT-LCD面板常见的缺陷又可以分为点缺陷、线缺陷和Mura缺陷。
点缺陷，一般是单个薄膜晶体管在生产制造过程中失效引起的；线缺陷，一般是有源器件与驱动IC连接不良造成的；导致产生Mura缺陷的原因很多，如背光源均匀性、TFT漏电均匀性以及液晶配向性等。
根据LCD产品显示特性，一般地，我们将显示区域简称为AA（Active Area）区，目前盛行的ADS（Address Display System）驱动产品在正常状态下为暗黑模式，不加信号的时候显示屏呈全黑的暗态，光线无法透过液晶显示屏。
这种暗黑状态下漏光的存在会严重降低整个显示屏的视觉效果，尤其是漏光区域越大，视觉效果越差，使消费者没有较好的视觉体验感。
因此漏光不良的消除和改善以提高LCD产品的视觉效果成为高品质显示屏的主流趋势。
从近年的LCD边角漏光研究文献来看漏光不良改善尚未提出较为详细和系统的文章，研究者大都对此寥寥数笔带过？一般情况下LCD 产品漏光风险，许多面板厂家通过后段Aging或是Sorting 出货来避免不良屏流入到市场，而这种改善措施不能从根本上有效的避免边角漏光的发生，同时也大大增加了生产成本。
TFT--LCDppt
5. 蚀刻(WET)
DNS
6. 光阻去除
DNS
7. 制程完成检查
KLA/ORBO
Contact Hole形成
A
A
A’
A’
1. 光阻涂布/曝光/显影 TEL/Nikon
2. 显影檢查/光阻寸检
Nikon/Hitachi
3. 蚀刻(DRY)
6. 显影检查
Nikon/ Hitachi
7. 蚀刻(DRY)
TEL/PSC
8. 光阻去除
DNS
9. 制程完成检查
KLA/ORBO
画素电极形成
A
A A’
A’
1. 成膜前洗净
SPC/芝蒲
2. 成膜ITO
ULVAC
3. 光阻涂布/曝光/显影 TEL/Nikon
4. 显影检查/光阻寸检
Nikon/Hitachi
(下偏光板)
(印刷電路板) (驅動IC) (擴散片)
(間隔劑) (導光板)
(反射片)
(背光源)
薄膜电晶体-液晶显示器结构
光源经液晶层 扭转90°
TFTTFTTuTrnurOnFOFFF
~
上上偏偏光光片片 彩色滤光片
液晶液层晶層
TTFFTTTTuurrnn OONN
~
TFT基板
下偏下光偏片光片 背光背源光源
• 平板荧光灯（VFD）是一种热阴级、低压、平板型荧光 灯，如果将阳极和荧光粉制作成像素状，就是平板荧光 显示器件，可用于电子称，DVD等显示用，做为背光源 可以将阳极连成一片，全部涂覆一层荧光粉，其亮度大 于150lm，寿命大于5000小时。
• 冷阴极荧光灯（CCF）是一种依靠冷阴极气体放电，激 发荧光粉的光源。掺有少量水银的衡薄蒸气在高电压下 会产生电离，被电离的气体二次电子发射，轰击水银蒸 气，使水银蒸气被激发，发射出紫外线，紫外线激发荧 光粉发光。亮度大于150lm，其特点是寿命达20000小时， 功耗在1~4W，有U形、M形和直管形
TFT-LCD点灯画面检查
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全绿画面 9
全蓝画面 10
中间调
11
低频 11MHZ 12
灰阶 80
ห้องสมุดไป่ตู้13
Windows 14
15 G-100
16 R-40
绿色 255 阶调
表示不良(CF 原材、点欠黑点等)
蓝色 255 阶调
表示不良(CF 原材、点欠黑点等)
灰色 120 阶调 低频 11MHZ
横、纵条纹，横、纵不均，不均 黑、白点、注入口偏白、PI 配向条纹、斜 Shot mura 偏光板异物、气泡，异物类等。
Flicker
-dot
24
Flicker -pixel
25
PHS 专用 26 全绿
画面名称 画面名称
白纵画面
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检查画面
V255 阶调
B/L 白点、B/L 黑点、B/L 异物。 B/L 不均等。
中间方块为 VO 阶调 串影 画面底接为 V120 阶 调
为黑白方形区块交叉 残像 画面与全黑画面二画 面所构成一检查画面
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白横画面 28
放射状
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放射状
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由左而右共分 256 阶 异常现象检视使用 (V0~V255) 75Hz
由外至内共分 256 阶 异常现象检视使用 (V0~V255) 75Hz
由内至外共分 256 阶 异常现象检视使用 (V0~V255) 75Hz
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(V0~V255)
2全阶调显示正常
3没有IC输出不良或线欠陷等发生
4 无明显画面变暗的现象
由上而下共分 256 阶 1.CF色不均
(V0~V255) 对 红 色 显 2.黑点总数
光学表面疵病标准 ppt课件
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二、麻点
（4）三个国家（军）标准均规定了麻点的最大允 许尺寸。我国标准没有给出可供设计师参考的任 何数据，仅仅给出了一个供检验人员对疵病级数 的换算表（表2） 俄标准的表4、表5中，不仅给设计师提供光学系 统中不同位置和不同尺寸光学零件表面的疵病级 数参考值，而且给检验人员提供了某一级别，某 一直径的光学表面上允许麻点的确切数值。 美军标准的表6中，给设计师提供光学系统中不 同位置光学零件表面的疵病级数参考值，标准内 容中给检验人提供了某一级别，某一直径的光学 表面上允许麻点的确切数值。
19
表5 0.02mm-3.0mm光学零件表面的疵病级数参考值
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二、麻点
（3）美军标规定表面疵病的第二个数字（如80-50）表示麻点 的级数（计量单位为 1%mm），是该光学表面允许麻点的最 大直径。任何一个光学表面上，每 20mm 直径上，最多只允 许有一个最大尺寸的麻点，该 20mm 直径上所有麻点的直径 总和，不得超过最大尺寸麻点直径的一倍。而直径小于 0.0025mm 的麻点可不作统计。同时还规定，若图样上未规定 表面疵病的极限尺寸时，应按表 6 求算。
（4）英国BS4301:1968规定表面疵病的标注 形式为:5/A x B x C
5—表面疵病的允许程度记号； A—允许疵病数量； B—检验条件等级； C—检验疵病用放大镜的倍数； A、B、C之间用“x”号隔开。
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一、表面疵病标注方法
（5）西德DIN3140一7规定表面疵病的标注形式有以下几种: 1、 5/A x S 5—表面疵病允许程度记号； A—允许疵病数量； S—疵病的尺寸等级(最大尺寸)。 当疵病的面积为F时，S值规定由下式计算:
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表 6 不同光束直径的表面对应表面疵病的极限尺寸
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产生原因：电气和非电气。
引起缺陷的几种电气故障
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
检测方法： 1）人工视觉检测法
人工视觉检测是最原始的表面缺陷检测手段，即采用肉眼 检测产品缺陷的方法。
缺点： 一 是检测速度慢 ，效率低 ，无法满足高速自动化生产线； 二是检测精度低，无法识别微米级尺寸的缺陷，误检漏检
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自动光学检测原理
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
根据对获取的图像的处理方式，自动光学检测法又可以分为 图像处理法和图像识别法。图像处理法又可分为边界模糊缺陷分 割、差影法和滤波法。
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
图像识别法：
图像识别法是根据获取的图像数据进行特征提取或维数降低， 再将提取的特征或降低维数后的数据输入到分类器中进行面板图 像分类，从而判定有无缺陷、缺陷的种类以及缺陷的等级等。
的概率高； 三是工人劳动强度大，工作环境差，容易受周围环境的影
响而导致误判； 四是监测数据不便于管理和保存。
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
2）电学参数检测法
电学参数检测是通过测定产品的电学性能来判定其是否合格。 由于电学检测法只能检测出由于电学因素导致的缺陷，仅能 用于TFT-LCD面板制造完成后的检测，对面板制造过程中出现的 各种缺陷无法检测，有很大的局限性，主要用于检测面板的功能 性缺陷。如TFT面板中数据线和栅极线之间的短路、数据线和栅 极线自身的断路等电气原因造成的缺陷，需要通过电学法进行检 测。 常用的电学检测方法有：全屏点亮法、 探针扫描法、电荷 读出法、 电压图像法、导纳电路检测法和电子束扫描像素电极法 等。
TFT-LCD表面缺陷检测 方法
14342080 王江涛 14342099 谢 超
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
定义：显示器工作时，像素矩阵表面可见的现实不完美。
特点：1 ） 重复性的纹理背景；
2 ） 光照不均的影响； 3 ） 缺陷的隐蔽性； 4 ） 难识别性 。
分类：
从缺陷的面积分，可分为宏观缺陷和微观缺陷； 从缺陷发生的位置分，可分为灌注口缺陷、角缺陷等； 从缺陷的聚集状态 ，可分为点缺陷、线缺陷和面缺陷 。
边界模糊缺陷分割
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
2）差影法
获取的TFT-LCD的面板图像大部分是无缺陷的，根据无缺陷 面板图像运用某种算法得到用于差影的模板图像，然后将待检测 面板图像与模板图像经过配准后，进行差分运算，获得残影图像， 根据预先设置的阈值进行缺陷判断， 或者将待检测面板与重构图 像进行差分运算，即可获得面板上的缺陷。
202Байду номын сангаас/3/24
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
3）自动光学检测法
自动光学检测技术集成运用光学传感技术、信号处理技术和 运动控制技术，进行工业生产过程中的测量、检测、识别和引导 等工作。与人工视觉检测法和电学法相比，自动光学法的TFTLCD面板缺陷检测速度快，准确率高， 效率成本低，且是非接触 检测，已经成为研究的热点。
关键词：缺陷特征提取、面板图像降维、分类器识别。 输入的图像数据有两类：一类是图像上每个像素数据，另 一类是能够代表图像像素的某些特征，如纹理特征、几何特征、 活度特征等。
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
图像处理法： 1）边界模糊缺陷分割法
对获取的图像依次进行去噪、图像周期性纹理背景去除、图 像不均匀度校正和边界模糊缺陷图像分割。
P146-152 . [3]王新新，徐江伟，邹伟金，刘永丰，王秀丽. TFT-LCD缺陷检测系 统的研究. 电子测量与仪器学报， 2014，第3期，P278-284 .
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这种检测算法的难点在于模板图像或重构图像的生成。
若g(x,y)是模板图像，f(x,y)为待检测的面板图像,h(x,y)是残影 图像，即差分图 像 。则
其20中20/3，/24 T是差分图像二值化的阈值。
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
3）滤波法
设计相应的滤波器（如卷积滤波器、Gabor滤波器等），通 过异常频率或脉冲响应来检测TFT-LCD的缺陷。
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TFT-LCD表面缺陷检测方法
举例：
算法设计流程
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缺陷处理效果
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参考文献：
[1]常随杰，王野. TFT-LCD表面缺陷及其检测方法. 科技创新与应 用， 2017 ，第17期 ，P15-16. [2]简川霞. TFT-LCD表面缺陷检测方法综述. 电视技术，2015，第9期，