数电实验报告：实验1-门电路的测试

广东海洋大学学生实验报告书（学生用表）

实验名称

课程名称 课程号 学院(系)

专业 班级 学生姓名 学号 实验地点 实验日期

实验1：集成逻辑门电路的测试

一、实验目的：

1． 学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法；

2． 掌握TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法；

二、实验仪器与器件：

3． 元器件：74LS20、74LS00(TTL 门电路)电阻、电位器若干；

4． 稳压电源、万用表、数字逻辑箱。

三、实验原理：

5．集成逻辑门电路的管脚排列：

（1）74LS20（4输入端双与非门）：ABCD Y =

V CC 2A 2B N C 2C 2D 2Y

1A 1B N C 1C 1D 1Y GND

V CC ：表示电源正极、GND ：表示电源负极、N C ：表示空脚。

（

2） 74LS00（2输入端4与非门）：AB Y =

V CC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y

1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND

GDOU-B-11-112

（3）4011（2输入端4与非门）：AB

Y

V CC4A 4B 4Y 3Y 3B 3A

1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND

集成门电路管脚的识别方法：将集成门电路的文字标注正对着自己，左下角为1，然后逆时针方向数管脚。

A）T TL与非门的主要参数有：

导通电源电流I CCL、低电平输入电流I IL、高电平输入电流I IH、输出高电平V OH、输出低电平V OL。

注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。

B）检测集成门电路的好坏的简易方法：

1）在未加电源时，利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象；

2）加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然后再利用门电路的逻辑功能检查电路。

例如：“与非”门逻辑功能是：“有低出高，全高出低”。

对于TTL与非门：若将全部输入端悬空测得输出电压为0.1V左右，将任一输入端接地测得输出电压为3V左右，则说明该门是好的。

四、实验内容和步骤：

（1）测试芯片的与非功能；

（2）TTL与非门的主要参数测试：

1导通电源电流I CCL= 。

测试条件：V CC=5V，输入端悬空，输出空载，如图（1）。

2导通电源电流I CCH= 。

测试条件：V CC=5V，输入端两个悬空，两个接地。输出空载，如图（2）。

3低电平输入电流I IL= 。

测试条件：V CC=5V，被测输入端通过电流表接地，其余输入端悬空，输出空载，如图（3），依次测量每个输入端。

注意：在测试中万用表应串入电路中，档位选择应由10mA档逐渐减小。

4高电平输入电流I IH= 微安。因为太小，实验条件有限，免测。

测试条件：V CC=5V，被测输入端通过电流表接V CC，其余输入端接地，输出空载，如图（4），。

（1）（2）（3）（4）五、实验报告要求：

（1）记录本次实验中所得到的各种数据。根据测试数据判断所测与非门的逻辑关系是否正确。

（2）思考并回答下列问题：

TTL与非门中不用的输入端可如何处理？