门电路逻辑功能及测试(完成版)
实验一、门电路逻辑功能及测试
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉门电路逻辑功能并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。
2.熟悉RXB-1B数字电路实验箱及V252示波器使用方法。
二、实验仪器及材料1.V252双踪示波器2.RXB-1B数字电路实验箱3.万用表4.器件74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片三、实验任务任务一：异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕2B，3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如下图。
它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。
〔1〕将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。
〔2〕按图接线测试其逻辑功能。
芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。
14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的“+5V〞插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥〞插孔。
〔3〕将电平开关按表设置，观察输出端A、B、Y所连接的电平显示器的发光二极管的状态，测量输出端Y的电压值。
发光二极管亮表示输出为高电平〔H〕，发光二极管不亮表示输出为低电平〔L〕。
把实验结果填入表中。
图 四2输入异或门74LS86外引线排列图图 异或门逻辑功能测试连接图表 异或门逻辑功能测试的实验数据将表中的实验结果与异或门的真值表比照，判断74LS86是否实现了异或逻辑功能。
根据测量的V Z 电压值，写出逻辑电平0和1的电压范围。
任务二：利用与非门控制输出1A 1B 1Y 2A 2B 2YV CC 4B 4A 4Y 3B 4A 3YY选一片四2输入与非门电路74LS00，按图接线。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路，用于实现布尔逻辑运算和控制功能。
门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型，通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。
本实验旨在通过实际操作和测试，深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。
二、实验内容1.与门的测试：使用与门芯片（74LS08），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
2.或门的测试：使用或门芯片（74LS32），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
3.非门的测试：使用非门芯片（74LS04），接入一个输入A，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
4.异或门的测试：使用异或门芯片（74LS86），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
三、实验结果与分析1.与门测试结果分析：根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性，可以得到与门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， lohigh， low ， lohigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明与门的逻辑功能正常。
2.或门测试结果分析：根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性，可以得到或门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， highigh， low ， highigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明或门的逻辑功能正常。
实验十四 门电路逻辑功能及测试
实验十四门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉DICE-3型数字逻辑实验系统的使用方法。
2.熟悉门电路逻辑性功能。
二、实验仪器及材料3. 1.DICE-3型数字逻辑实验系统，万用表。
4. 2.74LS00两片、74LS20、74LS86、74LS02、74LS54各一片。
三、芯片内部电路及引脚功能74ls00 74ls0274ls20 74ls5474ls86四、实验内容及步骤(一)学习使用DICE-3型数字逻辑实验系统1、熟悉该实验系统的总体结构及各试验区分布，特别是舒徐系统电源输出区，输入逻辑电平区，输出电平显示区，IC插座区及开关旋钮等。
2、使用本实验系统应注意以下几点：⑴实验前应先检查系统电源是否正常。
⑵将实验所用的IC 电路缺口向左插入相应的IC 插座里，注意一定要插紧插正确。
⑶合理选择导线，专用的锁紧式导线插入叠针时，顺时针转20-30度，拆除时逆时针转20-30度，不能直接拉导线。
⑷每测试完一项参数后，或要改接电路前，一定要先关掉电源开关，再继续进行，等改接好电路再次开启电源开关。
(二)门电路逻辑功能的测试1、四输入端双与非门74LS20逻辑功能的测试（1）选用双四输入端双与非门74LS20一只，插入DLS-B 实验板，按图3.14.2接线，输入端接K1-K4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（L1-L16任意一个） （2）将电平开关按表3.14.11置位，分别测输出电压及逻辑状态并记录。
表3.14.11Vcc&2、二输入端或非门74LS02逻辑功能的测试（1）二输入端或非门74LS02一只，插入DLS-B 实验板，按图3.14.3接线，输入端接K1-K4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（L1-L16任意一个）Vcc+1/4 74LS02图3.14.33、与非门74LS54逻辑功能测试(1) 选用二-三-三-二输入端或非门74LS54一只，插入DLS-B 实验板按图3.14.4接线输入端1、2、12、13 分别接K1-K4(电平开关输入插口)，其余输入端接地（不允许输入端悬空），输出端接电平显示发光二极管（L1-L16任意一个）。
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试
实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试逻辑门电路是数字电子电路中常用的一种电路，用于实现逻辑运算。
逻辑门电路由逻辑门和逻辑门之间的连接组成。
不同的逻辑门具有不同的逻辑功能，如与门、或门、非门等。
下面将对常见的逻辑门电路的逻辑功能和测试方法进行详细介绍。
一、与门（AND Gate）与门是最基本的逻辑门之一，它的逻辑功能是输入信号同时为高电平时输出高电平，否则输出低电平。
与门的通用符号是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
常用的与门有两输入与门、三输入与门等。
测试方法：1.连接电路：将与门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当输入引脚都为高电平时，LED灯应该亮起；否则，LED灯应该熄灭。
二、或门（OR Gate）或门是另一种常见的逻辑门，它的逻辑功能是只要有一个输入信号为高电平，输出就为高电平；只有所有输入信号都为低电平时，输出才为低电平。
或门的通用符号也是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
测试方法：1.连接电路：将或门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当任意一个输入引脚为高电平时，LED灯应该亮起；否则，LED灯应该熄灭。
三、非门（NOT Gate）非门是较为简单的逻辑门之一，它的逻辑功能是输出与输入相反的电平信号。
非门的通用符号是一个带有一个输入引脚和一个输出引脚的长方形。
测试方法：1.连接电路：将非门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接，将输出引脚连接到一个LED灯。
2.输入测试：将输入引脚分别连接到电源和接地，检查LED灯的亮灭情况。
当输入引脚为高电平时，LED灯应该熄灭；否则，LED灯应该亮起。
以上是常见的逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。
通过对逻辑门的测试，可以确保电路正常工作并实现所需的逻辑功能。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告实验目的：1、理解门电路逻辑功能的基本知识和实现方法；2、掌握门电路逻辑功能测试实验的方法和步骤；3、培养实验操作能力和实验数据处理能力。
实验原理：门电路是逻辑电路的基础，其逻辑功能有常用的与门、或门、非门等。
门电路具有输入端和输出端，输入端接受信号，输出端输出运算结果。
门电路由电子器件组成，一般常用的是晶体管。
门电路的测试方法主要是通过检测输入和输出的电平状态，以及关键节点其它信号状态变化。
可以通过观察电压电流示波图、结合实测数据进行逻辑功能的验证。
实验器材和连接图：1、集成电路芯片：7400 门电路。
2、直流电源。
3、万用表。
4、示波器。
5、面包板、电缆、电阻等辅助器材。
实验步骤：1、按照连接图搭建门电路实验线路；2、开启直流电源，测试电路各个节点的电压、电流值，并记录数据；3、输入不同的高低电平信号，观察输出端的电平状态变化；4、观察电压电流示波图，验证门电路的逻辑功能；5、根据实测数据，分析电路中可能出现的故障原因和处理办法。
实验结果：在本次门电路测试实验中，我们按照实验步骤搭建好了门电路实验线路，开启直流电源，测试了电路各节点的电压、电流值，并记录了数据。
在输入不同的高低电平信号时，观察输出端的电平状态变化，发现门电路具有良好的逻辑功能。
通过观察电压电流示波图，验证了门电路的逻辑功能。
在实验中，我们还发现电路中可能存在的故障原因和处理办法。
实验结论：本次门电路测试实验，通过搭建门电路实验线路、开启直流电源、测试电路各节点的电压、电流值、记录数据，验证了门电路的逻辑功能。
本次实验对我们加深了对门电路逻辑功能和测试实验的认识和理解，提高了我们的实验操作能力和实验数据处理能力。
门电路的逻辑功能测试实验报告
门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解门电路的逻辑功能，通过实际测试和观察，掌握与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本逻辑门的工作原理和特性。
同时，培养我们的实验操作能力、数据分析能力以及对逻辑电路的综合应用能力。
二、实验设备与器材1、数字电路实验箱2、 74LS00（四 2 输入与非门）芯片3、 74LS08（四 2 输入与门）芯片4、 74LS32（四 2 输入或门）芯片5、 74LS04（六反相器）芯片6、 74LS20（双 4 输入与非门）芯片7、 74LS28（四或非门）芯片8、 74LS86（四 2 输入异或门）芯片9、数字万用表10、导线若干三、实验原理1、与门（AND Gate）逻辑表达式：Y ＝ A · B功能：只有当输入 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 才为 1；否则，输出为 0。
2、或门（OR Gate）逻辑表达式：Y ＝ A ＋ B功能：只要输入 A 或 B 中有一个为 1，输出 Y 就为 1；只有当 A 和 B 都为 0 时，输出为 0。
3、非门（NOT Gate）逻辑表达式：Y ＝ ¬A功能：输入为 1 时，输出为 0；输入为 0 时，输出为 1。
4、与非门（NAND Gate）逻辑表达式：Y ＝ ¬（A · B)功能：当输入 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 为 0；否则，输出为 1。
5、或非门（NOR Gate）逻辑表达式：Y ＝ ¬（A ＋ B)功能：当输入 A 或 B 中有一个为 1 时，输出 Y 为 0；只有当 A 和B 都为 0 时，输出为 1。
6、异或门（Exclusive OR Gate）逻辑表达式：Y ＝ A ⊕ B ＝ A · ¬B ＋ ¬A · B功能：当输入 A 和 B 不同时，输出 Y 为 1；当 A 和 B 相同时，输出为 0。
门电路逻辑功能及测试
门电路逻辑功能及测试介绍门电路是数字电路中的基本组建之一，它用于实现逻辑功能。
门电路有多种类型，包括与门、或门、非门、与非门、或非门等等。
本文将详细探讨门电路的逻辑功能以及测试方法。
门电路的逻辑功能门电路的逻辑功能是指根据输入信号的不同组合，产生特定的输出信号。
不同类型的门电路具有不同的逻辑功能。
与门（AND Gate）与门是最简单的门电路之一，采用逻辑与运算。
它有两个或多个输入，只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
与门的真值表如下：输入A 输入B 输出0 0 00 1 01 0 01 1 1或门（OR Gate）或门是另一个常见的门电路，采用逻辑或运算。
它也有两个或多个输入，只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；只有所有输入都为低电平时，输出才为低电平。
或门的真值表如下：输入A 输入B 输出0 0 00 1 11 0 11 1 1非门（NOT Gate）非门是最简单的门电路之一，采用逻辑非运算。
它只有一个输入，当输入为低电平时，输出为高电平；当输入为高电平时，输出为低电平。
非门的真值表如下：输入输出0 11 0与非门（NAND Gate）与非门是与门和非门的组合，采用逻辑与非运算。
它有两个或多个输入，只有所有输入都为高电平时，输出为低电平；否则输出为高电平。
与非门的真值表如下：输入A 输入B 输出0 0 10 1 11 0 11 1 0或非门（NOR Gate）或非门是或门和非门的组合，采用逻辑或非运算。
它有两个或多个输入，只有所有输入都为低电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
或非门的真值表如下：输入A 输入B 输出0 0 10 1 01 0 01 1 0门电路的测试方法为了确保门电路的正确性和稳定性，需要对其进行测试。
下面介绍几种常用的门电路测试方法：真值表法真值表法是一种最基本的测试方法，通过列出所有可能的输入组合，计算得出对应的输出，并与预期结果进行比较。
门电路逻辑功能及测试实验报告
K3，K2，K1，K0 都设置为绿灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3 为红灯，K2，K1，K0 都设置为绿灯，A，Y 为红灯，B 为绿灯。 K3，K2 为红灯，K1，K0 都为绿灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3，K2，K1 为红灯，K0 为绿灯，A 为绿灯，B，Y 都为红灯。 K3，K2，K1，K0 为红灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3，K1 都为绿灯，K2,，K0 都为红灯，A，B 为红灯，Y 为绿灯。
芯片74ls86的输入端1245号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意个电平开关的插孔输出端368分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意光二极管的插口14号引脚接至数字电路实验箱的5v电源的5v插孔7引脚接至数字电路试验箱5v电源的gnd插孔
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深圳大学实验报告
课程名称：
数字逻辑与数字系统
实验项目名称：
方法、步骤：
任务一 异或门逻辑功能测试
（1） 将一片 74LS86 插入 RXS-1B 数字电路试验箱。 （2） 芯片 74LS86 的输入端 1,2,4,5 号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意 4 个电
平开关的插孔，输出端 3,6,8 分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意 3 个发光二极管的插口，14 号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的+5V 插孔，7 号引脚接至数字电路试验箱+5V 电源的 GND 插孔。 （3） 设置信号灯红 1 绿 0。
任务二 利用与非门控制输出 S 为红灯时
Y 在绿灯和红灯中反复切换。 S 为绿灯时 Y 始终为红灯
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数据处理分析：
任务一 异或门逻辑功能测试
A=（K3⊕K2）
B=（K1⊕K0）
门电路逻辑功能及测试-实验报告(有数据)
实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。
二、实验仪器及器件1、示波器；2、实验用元器件：74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS20 四输入端双与非门 1 片 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析实验前检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v ，地线实验箱上备有)。
实验中改动接线须先断开电源，接好后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。
⑵ 将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
表 1.1A 表1.1B 表1.1 A B C D LV A (V) V B (V) V C (V) V D (V) V L (V) A B C DL 0 X X X 1 0.024 5.020 5.020 5.020 4.163 0 1 1 1 1 X 0 X X 1 5.020 0.010 5.020 5.020 4.163 1 0 1 1 1 X X 0 X 1 5.020 5.020 0.001 5.020 4.163 1 1 0 1 1 X X X 0 1 5.020 5.020 5.020 0.009 4.163 1 1 1 0 1 1 1 1 1 05.0205.0205.0205.0200.18411 1 1将逻辑电平开关按表1.1A 要求加入到IC 的输入端，采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.1B 所示，转换为真值表如表1.1。
门电路逻辑功能及测试（完成版）
门电路逻辑功能及测试（完成版）实验⼀门电路逻辑功能及测试计算机⼀班组员：2014217009仁杰⼀、实验⽬的1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。
2. 掌握数字电路实验箱及⽰波器的使⽤⽅法。
3、学会检测基本门电路的⽅法。
⼆、实验仪器及材料1、仪器设备：双踪⽰波器、数字万⽤表、数字电路实验箱2. 器件：74LS00 ⼆输⼊端四与⾮门2⽚74LS20 四输⼊端双与⾮门1⽚74LS86 ⼆输⼊端四异或门1⽚三、预习要求1. 预习门电路相应的逻辑表达式。
2. 熟悉所⽤集成电路的引脚排列及⽤途。
四、实验容及步骤实验前按数字电路实验箱使⽤说明书先检查电源是否正常，然后选择实验⽤的集成块芯⽚插⼊实验箱中对应的IC座，按⾃⼰设计的实验接线图接好连线。
注意集成块芯⽚不能插反。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
每个芯⽚的电源和GND引脚，分别和实验台的+5V 和“地（GND）”连接。
芯⽚不给它供电，芯⽚是不⼯作的。
⽤实验台的逻辑开关作为被测器件的输⼊。
拨动开关，则改变器件的输⼊电平。
开关向上，输⼊为1，开关向下，输⼊为0。
将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指⽰灯连接。
指⽰灯亮表⽰输出电平为1，指⽰灯灭表⽰输出电平为0。
1.与⾮门电路逻辑功能的测试（1）选⽤双四输⼊与⾮门74LS20⼀⽚，插⼊数字电路实验箱中对应的IC座，按图1.1接线、输⼊端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插⼝，输出端接电平显⽰发光⼆极管D1~D4中任意⼀个。
注意：芯⽚74LS20的14号引脚要接试验箱下⽅的+5V电源，7号引脚要接试验箱下⽅的地（GND）。
⽤万⽤表测电压时，万⽤表要调到直流20V档位，因为芯⽚接的电源是直流+5V。
表1.1输⼊输出1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值H H H H L 0.16L H H H H 4.38L L H H H 4.38L L L H H 4.38L L L L H 4.38图 1.1（2）按表1.1的状态改变逻辑开关的值，分别测出逻辑状态及输出电压。
门电路逻辑功能及测试
门电路逻辑功能及测试门电路是一种最基本的数字逻辑电路，它是由一系列的逻辑门组成的。
逻辑门可以是与门（AND gate）、或门（OR gate）、非门（NOT gate）等。
与门是指只有当所有的输入信号都是高电平（1）时，输出信号才为高电平。
与门有两个或多个输入端和一个输出端。
或门是指只要有一个或多个输入信号为高电平（1），输出信号就为高电平。
或门也有两个或多个输入端和一个输出端。
非门是指输出信号与输入信号相反，即输入为高电平时输出为低电平，输入为低电平时输出为高电平。
非门只有一个输入端和一个输出端。
门电路的逻辑功能是根据不同的输入信号，产生不同的输出信号。
例如，对于与门，只有当所有的输入信号都是高电平（1）时，输出信号才为高电平；对于或门，只要有一个或多个输入信号为高电平（1），输出信号就为高电平；对于非门，输入信号为高电平时输出为低电平，输入信号为低电平时输出为高电平。
门电路的测试是为了验证门电路的逻辑功能是否正常。
测试时需要对门电路的各个输入端输入不同的输入信号，然后观察输出端的输出信号是否符合逻辑功能的要求。
例如，对于与门，可以输入所有的输入信号都是高电平（1），然后观察输出信号是否为高电平；对于或门，可以输入有一个或多个输入信号为高电平（1），然后观察输出信号是否为高电平；对于非门，可以输入高电平（1）和低电平（0），然后观察输出信号是否符合相反的关系。
在门电路的测试中，还可以使用真值表来验证门电路的逻辑功能。
真值表是一种用来列举输入信号和输出信号之间关系的表格。
通过将不同的输入信号输入门电路，然后记录输出信号，最后将输入信号和输出信号列在一起，就可以得到真值表。
然后与门电路的逻辑功能进行比对，验证门电路是否符合要求。
总之，门电路是一种最基本的数字逻辑电路，它的逻辑功能包括与门、或门、非门等，测试门电路的方法包括观察输出信号和使用真值表进行验证。
门电路的正常工作是数字电子系统中的基础，对于设计和实现数字电子系统具有重要意义。
门电路逻辑功能及测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。
3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。
3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。
4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。
2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。
3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。
门电路逻辑功能及测试实验
门电路逻辑功能及测试实验一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1所示。
图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL和高电平输入电流I iH。
I iL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
I iH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。
图2－4 传输特性测试电路(3)电压传输特性门的输出电压v O随输入电压v i而变化的曲线v o＝f(v i) 称为门的电压传输特性。
测试电路如图2－4所示，采用逐点测试法，即调节R W，逐点测得V i及V O，然后绘成曲线。
74LS20主要电参数规范如表2－1所示参数名称和符号规范值单位测试条件直流参数通导电源电流I CCL＜14 mAV CC＝5V，输入端悬空，输出端空载截止电源电流I CCH＜7 mAV CC＝5V，输入端接地，输出端空载三、实验设备与器件1、数字电路实验箱2、数字万用表3、74LS20一块、10K电位器一个四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。
1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图2－6接线，门的四个输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。
门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器（又称0－1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。
门电路的逻辑功能及测试
整理课件
10
ห้องสมุดไป่ตู้
报告要求
1. 实验目的、内容、画出逻辑电路图。 2. 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，
作为实验接线图。 3. 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好
测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验 结论。 4. 在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体 会、建议等，要求简洁、务实，不用套话。
电子技术实验（Ⅱ） （50403007）
实验一 门电路的逻辑功能及测试
整理课件
1
① 门电路逻辑功能测试 ② 异或门逻辑功能测试 ③ 逻辑门传输延迟时间测量 ④ 利用与非门控制输出
实验内容
整理课件
2
实验芯片介绍
实验原理
整理课件
3
1、测试门电路逻辑功能
与非门的功能测试
123
电压（V）
LL
LH
HL
HH
路
控制端状 态 S=0
S=1
S=0
S=1
输出 Y
分析解释实验结果
整理课件
9
注意事项
每次实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择 实验用的集成电路芯片，按自己设计的实验接线图 接好连线，特别注意Vcc(电源)及GND(地线)不能 接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中 改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
整理课件
实验操作
4
操作说明
实验操作
整理课件
5
2、异或门逻辑功能测试
实验操作
选用74LS86两只按图接线， 测量并记录数据：
1 2 4 5 A B Y Y电压(V)
LL L L
HL L L
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能，并通过实际测试掌握其工作特性和应用。
具体目标包括：1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。
2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。
3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。
二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与门、或门、非门等。
与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门则是输入与输出相反。
2、逻辑表达式和真值表与门：Y ＝ A·B或门：Y ＝ A ＋ B非门：Y ＝ A'与非门：Y ＝（A·B)＇或非门：Y ＝（A ＋ B)＇异或门：Y ＝ A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。
3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。
三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试（1）在实验箱上选取与门芯片（如 74LS08），按照芯片引脚图正确连接电路。
（2）将两个输入分别接逻辑电平开关，输出接逻辑电平指示灯。
（3）改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。
2、或门逻辑功能测试（1）选取或门芯片（如 74LS32），按照引脚图连接电路。
（2）同样将输入接逻辑电平开关，输出接指示灯，改变输入电平组合进行测试并记录。
3、非门逻辑功能测试（1）使用非门芯片（如 74LS04）进行连接。
（2）输入接电平开关，输出接指示灯，测试并记录。
4、与非门逻辑功能测试（1）选择与非门芯片（如 74LS00）进行电路连接。
（2）设置输入电平，观察并记录输出。
5、或非门逻辑功能测试（1）采用或非门芯片（如 74LS02）搭建电路。
（2）改变输入电平，记录输出结果。
6、异或门逻辑功能测试（1）找到异或门芯片（如 74LS86）并连接电路。
实验01门电路逻辑功能及参数测试
实验01门电路逻辑功能及参数测试实验01门电路逻辑功能及参数测试是一种常见的数字电路实验，旨在了解门电路的逻辑功能和参数测试方法。
本实验主要涉及与门、非门、或门、异或门以及与非门电路的测试。
下面将对每个门电路的逻辑功能和参数测试进行详细介绍。
一、与门（AND gate）与门是最常见的逻辑门之一，它具有两个输入和一个输出。
当两个输入同时为高电平（1）时，输出为高电平；否则，输出为低电平（0）。
逻辑功能测试：1.输入全为0，验证输出是否为0。
2.输入全为1，验证输出是否为13.输入一个为0，一个为1，验证输出是否为0。
参数测试：1.输入电压的最小值测试：逐渐减小输入电压，观察输出是否保持为低电平。
2.输入电压的最大值测试：逐渐增大输入电压，观察输出是否保持为高电平。
3.输入电流的最小值测试：逐渐减小输入电流，观察输出电压的变化。
4.输入电流的最大值测试：逐渐增大输入电流，观察输出电压的变化。
二、非门（NOT gate）非门也叫反相器，只有一个输入和一个输出。
当输入为高电平时，输出为低电平；当输入为低电平时，输出为高电平。
逻辑功能测试：1.输入为0，验证输出是否为12.输入为1，验证输出是否为0。
参数测试：1.输入电压的最小值测试：逐渐减小输入电压，观察输出是否保持为高电平。
2.输入电压的最大值测试：逐渐增大输入电压，观察输出是否保持为低电平。
3.输入电流的最小值测试：逐渐减小输入电流，观察输出电压的变化。
4.输入电流的最大值测试：逐渐增大输入电流，观察输出电压的变化。
三、或门（OR gate）或门具有两个输入和一个输出。
当两个输入中至少有一个为高电平时，输出为高电平；否则，输出为低电平。
逻辑功能测试：1.输入全为0，验证输出是否为0。
2.输入全为1，验证输出是否为13.输入一个为0，一个为1，验证输出是否为1参数测试：1.输入电压的最小值测试：逐渐减小输入电压，观察输出是否保持为低电平。
2.输入电压的最大值测试：逐渐增大输入电压，观察输出是否保持为高电平。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告门电路是数字电路中常见的一种基本逻辑电路，它能够实现逻辑运算，控制信号的传输和处理。
本实验旨在通过对门电路的逻辑功能及测试实验进行研究，深入理解门电路的工作原理和应用。
一、门电路的基本概念。
门电路是数字电路中的基本组成单元，它根据输入信号的不同组合产生相应的输出信号。
常见的门电路有与门、或门、非门等。
与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时输出高电平，否则输出低电平；非门的逻辑功能是对输入信号取反输出。
门电路的逻辑功能由其逻辑门电路图和真值表来描述。
二、门电路的逻辑功能测试。
1. 与门的逻辑功能测试。
通过搭建与门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，需要注意输入信号的稳定性和准确性，以确保测试结果的可靠性。
2. 或门的逻辑功能测试。
同样地，通过搭建或门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，需要注意输入信号的稳定性和准确性，以确保测试结果的可靠性。
3. 非门的逻辑功能测试。
搭建非门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，同样需要注意输入信号的稳定性和准确性。
三、门电路的测试实验报告。
通过以上逻辑功能测试，我们得出了门电路的真值表和逻辑功能描述。
与门、或门、非门均能够按照预期的逻辑功能进行工作，输出信号符合逻辑运算的规律。
在测试过程中，输入信号的稳定性和准确性对于测试结果的可靠性至关重要。
通过本实验，我们深入了解了门电路的基本概念和逻辑功能，掌握了门电路的测试方法和技巧。
门电路作为数字电路中的基本组成单元，在数字系统设计和应用中具有重要的作用。
掌握门电路的逻辑功能及测试方法对于数字电路的设计和应用具有重要的意义。
门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]
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门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]一、实验目的1.学习和掌握门电路的基本逻辑功能和特点。
2.通过实际操作，增强对数字电路的感性认识，提高实践动手能力。
3.了解和掌握基本逻辑门电路（与门、或门、非门）的功能及测试方法。
二、实验原理1.逻辑门电路：逻辑门电路是数字电路的基本组成部分，它们按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理，产生相应的输出信号。
主要的逻辑门电路有与门、或门、非门等。
2.逻辑功能：逻辑门电路具有特定的逻辑功能，可以通过对输入信号的处理得到预期的输出信号。
与门实现逻辑与运算，或门实现逻辑或运算，非门实现逻辑非运算。
3.测试方法：对于每种逻辑门电路，需要设计合适的测试方案，通过对输入信号的调整和观察输出信号的变化，验证其逻辑功能的正确性。
三、实验步骤1.准备实验材料：数字万用表、逻辑门电路实验箱、与门、或门、非门各一个，以及适当的连接线和输入输出设备。
2.设计测试方案：分别针对与门、或门、非门设计测试方案，包括输入信号的选择、预期输出结果的预测以及如何使用万用表进行实际测量。
3.进行测试：按照设计的测试方案，逐一进行实验测试，记录实际测量结果。
4.结果分析：对比预期输出结果与实际测量结果，分析差异及原因，总结各种逻辑门电路的功能及特点。
5.撰写实验报告：整理实验过程和结果，撰写实验报告。
四、实验结果及分析1.与门测试：（1）设计测试方案：给与门的输入端分别接入高电平和低电平，观察输出结果的变化。
并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。
（2）进行测试：使用万用表测量与门的输出电压，记录下不同输入情况下的输出结果。
（3）结果分析：当两个输入端都为低电平时，输出端为高电平；其他情况下，输出端为低电平。
与预期结果相符，验证了与门的正确功能。
2.或门测试：（1）设计测试方案：给或门的输入端分别接入高电平和低电平，观察输出结果的变化。
并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。
（2）进行测试：使用万用表测量或门的输出电压，记录下不同输入情况下的输出结果。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能：
门电路是现代电子学中最基本的逻辑元件。
它可以把输入信号处理成输出信号，根据不同的输入信号情况，采取不同的逻辑处理方式。
常见的门电路有与门、或门、非门、异或门、NAND门、NOR门等等，它们都是由晶体管、反相器或其它电子器件组成的一种特殊的电路。
测试实验报告：
1.实验目的：
本实验旨在验证和研究门电路的基本原理和功能，掌握用于判断门电路的正确性的方法，并掌握制作门电路的方法。
2.实验材料：
晶体管、反相器、电阻、电容、电感、继电器、电池、面包板等。
3.实验过程：
（1）绘制电路图：根据门电路的功能要求，绘制电路图，指明所用元件型号，确定输入输出端口；
（2）调试电路：根据电路图，将每个元件安装到面包板上，接好电池，接通电源，然后按照输入的控制电路，对门电路进行调试；
（3）测试电路：根据调试的情况，调整电路，使之达到所需要的功能，然后进行各种可能的输入情况下的测试，记录输入输出的结果；
（4）编写实验报告：根据实验过程，编写实验报告，描述实验过程，分析实验结果，得出结论。
4.实验结果：
实验结果表明，门电路可以按照预定的功能，在不同输入情况下，正确的输出信号，实现了预定的逻辑功能。
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实验一 门电路逻辑功能及测试
计算机一班 组员：2014217009赵仁杰
、实验目的
1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。
2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。
3. 学会检测基本门电路的方法。
、实验仪器及材料
1、仪器设备：双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件:
74LS00 二输入端四与非门 2片 74LS20 四输入端双与非门 1片 74LS86
二输入端四异或门
1片
% 4B 4A 4¥ 3 日 JA 3Y
7+LS00四2输人与菲门
2D 2C NC 2B 2A 3Y
74LS20取4输入与非门
¥优4B 4A 4Y 3B 1A 3Y
uJ uTEI LI U LI UJ
IA IB 1Y 2A 2B 2Y GND
74LS86四2输入异或门
三、预习要求
1. 预习门电路相应的逻辑表达式。
2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。
四、实验内容及步骤
实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座，按自己设计的实验接线图接好连线。
注意集成块芯片不能插反。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
每个芯片的电源和GND引脚，分别和实验台的+5V和“地GND )”连接。
芯片不给它供电，芯片是不工作的。
用实验台的逻辑开关作为被测器件的
输入。
拨动开关，则改变器件的输入电平。
开关向上，输入为1,开关向下，输
入为0。
将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。
指示灯亮表示输出电平
为1，指示灯灭表示输出电平为0。
1. 与非门电路逻辑功能的测试
(1 )选用双四输入与非门 74LS20 —片，插入数字电路实验箱中对应的IC座,
按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K I~K4的逻辑开关输出插口，输出端接电平显示发光二极管D1~D4中任意一个。
注意：芯片74LS20的14号
引脚要接试验箱下方的 +5V电源，7号引脚要接试验箱下方的地( GND )。
用万用表测电压时，万用表要调到直流 20V档位，因为芯片接的电源是直流 +5V。
14
14IS20
图1.1
(2)按表1.1的状态改变逻辑开关的值，分别测出逻辑状态及输出电压。
2. 异或门逻辑功能的测试
（1 ）选二输入四异或门电路 74LS86，按图1.2接线，输入端1、2、4、 5接逻辑开关（K I~K4），输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
注意：芯片 74LS86的14号引脚要接试验箱下方的 +5V电源，7号引脚要接试验箱下方的地（ GND ）。
图 1.2
（2）按表1.2的状态，拨动逻辑开关，将输出值的结果填入表中。
表1.2
输入输出
1(K1 2(K2) 4(K3 5(K4 A B Y 电压（V）L L L L L L L 0.66
H L L L H L H 3.49
H H L L L L L 0.71
H H H L L H H 3.48
出Y接实验箱上方的电平显示发光二极管。
引脚都要接实验箱下方的+5V电源，7号引脚
-f
10
&
X
t3&
表1.3
土打-fy r/VTTT L、、）、＞—j人/W ——|*■/ j r [ :卩都要接实验输入方的地( - 1GN D输出
A B Y
L L H
L H H
H L L
H H L
输入输出
A B Y Z
L L H L
L H H L
H L H L
H H L H
H H H H H H H 3.48
L H L H H H L 0.72
3. 逻辑电路的逻辑关系测试
(1 )图1.3中需要用到两片 74LS00芯片。
图1.4中也需要用到两片
74LS00芯片。
其中虚线框内是第一片74LS00芯片部分，虚线框外的是第二片74LS00芯片部分。
用两片 74LS00芯片，分别按图1.3，1.4接线，将输入
输出逻辑关系分别填入表 1.3、表1.4中。
A、B接实验箱下方的逻辑开关。
输
图1.3
表1.4
图1.4
（2）写出上面两个电路对应的输出量的逻辑表达式，并画出等效逻辑图。
4. 禾I」用与非门控制输出
（1 ）用一片74LS00按图1.5接线，1号引脚接实验箱左下方的脉冲源输出孔，将频率档位调到 1KHZ位置。
2号引脚接一逻辑开关，将 Y输出（3号引脚）送到示波器上，用示波器观察 Y输出脉冲的波形。
理解S对Y的控制作用。
记录下，当 S=1时，波形的特点是：与 1号引脚波形反相。
当 S=0时，波形的特点是：一条丫=1的线段。
TLTL —
图1.5
注意：芯片74LS00的14号引脚要接试验箱下方的 +5V电源，7号引脚要接试验箱下方的地（GND ）。
示波器的电源开关在左下方，信号送到 CH1通道上，对应的示波器上 CH1通道按键要按下。
也可以同时将两个信号分别送到
CH1和CH2上，这时CH1和CH2通道按键都要按下。
最后按下示波器右上方的autoset ”按键稍等片刻就可以在示波器的屏幕上看到对应的脉冲波形了。
通过旋转频率调节旋钮，可以增大或者减小实际输出脉冲的频率值。
（2）将1号引脚和Y输出用两个探头分别连接到示波器的CH1和CH2
通道上，用示波器进行观察两个波形的高低变化特点。
记录下示波器上的两种波形。
如果1号引脚的波形如下图所示，请画出与之对应的 Y输出端的波形图。
1号引脚的波形：
JUUlRTUm
Y输出端的波形:
根据图 1.5 写出输出 Y 的函数表达式，分析根据表达式得到的结果和示波器显示的结果是否一致。
五、实验报告
1. 按各步聚要求填表并画逻辑图。
2. 回答问题。
（1）怎样判断门电路逻辑功能是否正常？
答：门电路功能正常与否的判断：
1）按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。
2）按真值表输入电平，查看它的输出是否符合真值表。
3）所有真值表输入状态时，它的输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。
（ 2）与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？
答：与非门的逻辑特点：只有当全部输入端都处于高电平时，输出才呈现低电平；只要有一个输入端处于低电平，输出端就输出高电平。
若要输出高电平，一个输入端输入连续脉冲，其余端接低电平。
0 则输出， 1 的时候，
若要禁止脉冲输出，其余端接高电平。
（3）异或门又称可控反相门，为什么？
答：异或门有两个输入端，其中一个作为控制端，当控制端为 与另一输入端输入相同，即异或门不改变逻辑值；但控制端为 输出端与另一输入端输入反向，这时异或门相当于一个反向门。
因此，异或门又称可控反向门。
3. 预习实验 2。
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